JP5559142B2 - 位相測定装置、および周波数測定装置 - Google Patents
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Description
図1は本実施形態の位相測定装置および当該位相測定装置に各種の信号を与える各装置の主要構成を示すブロック図である。なお、以下の説明では、GPSを用いた例を示すが、他のGNSSを用いてもよく、さらには、外部装置から位相測定装置1および基準信号発生装置3に対してサンプリング基準信号やリファレンス信号を与える構成であってもよい。
図2(A)は位相測定装置1のバッファ遅延測定回路110の主要構成を示すブロック図であり、図2(B)はバッファ遅延測定回路110の測定原理を示すタイミングチャートである。
図3は位相差測定回路120の回路構成を示すブロック図であり、図4は位相差測定原理を示すタイミングチャートである。
図5(A)は周波数測定装置および当該周波数測定装置に各種の信号を与える各装置の主要構成を示すブロック図である。図5(B)は、周波数測定装置の他の構成例を示す図である。なお、本実施形態に示すGPS受信機2および基準信号発生装置1は第1の実施形態に示したものと同じであり、説明は省略する。
Claims (4)
- 測位演算より算出されるリファレンス信号に同期したクロック信号が一定の遅延時間によりそれぞれ異なるタイミングで入力されるとともに、該クロック信号よりも低周波数のサンプリング基準信号が同時に入力され、該サンプリング基準信号の遷移タイミングでの前記クロック信号のレベルに応じた状態データをそれぞれに発生する複数のバッファを備え、該複数のバッファからの状態データ群からなる遅延測定用データを出力するバッファ遅延量測定回路と、
測定対象となる位相差を生じる第1被測定対象信号と第2被測定対象信号の内の前記第1被測定対象信号が入力されるとともに、前記遅延量による互いに異なるタイミングの前記クロック信号が入力され、前記第1被測定対象信号の遷移タイミングでの前記クロック信号のレベルに応じた状態データをそれぞれに発生する複数のバッファを備え、該複数のバッファからの状態データ群からなる第1位相差測定用データを出力する第1部分位相差測定回路と、前記第2被測定対象信号が入力されるとともに、前記遅延量による互いに異なるタイミングの前記クロック信号が入力され、前記第2被対象信号の遷移タイミングでの前記クロック信号のレベルに応じた状態データをそれぞれに発生する複数のバッファを備え、該複数のバッファからの状態データ群からなる第2位相差測定用データを出力する第2位相差測定用回路と、を備えた位相差測定回路と、
前記遅延測定用データに基づいて各バッファ間の前記遅延量を算出し、前記第1位相差測定用データおよび前記第2位相差測定用データの前記クロック信号の遷移タイミングに対する差分値と前記遅延量とに基づいて前記位相差を算出する位相差演算部と、
を備えた位相測定装置。 - 前記位相差測定回路は、前記クロック信号の1周期単位の個数を測定する開始タイミングと終了タイミングとを前記第1測定被対象信号と前記第2測定被対象信号によって与えることで、前記位相差に含まれる前記クロック信号の1周期単位の個数を算出する第3部分位相差測定回路を備え、
前記位相差演算部は、前記クロック信号の1周期単位の個数に応じた時間長をも含んで、前記位相差の算出を行う、請求項1に記載の位相測定装置。 - 測位演算より算出されるリファレンス信号に同期したクロック信号が一定の遅延時間によりそれぞれ異なるタイミングで入力されるとともに、該クロック信号よりも低周波数のサンプリング基準信号が同時に入力され、該サンプリング基準信号の遷移タイミングでの前記クロック信号のレベルに応じた状態データをそれぞれに発生する複数のバッファを備え、該複数のバッファからの状態データ群からなる遅延測定用データを出力するバッファ遅延量測定回路と、
第3被測定対象信号が一定の遅延時間によりそれぞれ異なるタイミングで入力されるとともに、該第3被測定対象信号よりも低周波数のサンプリング基準信号が同時に入力され、該サンプリング基準信号の遷移タイミングでの前記第3被測定対象信号のレベルに応じた状態データをそれぞれに発生する複数のバッファを備え、該複数のバッファからの状態データ群からなる周波数測定用データを出力する周波数測定回路と、
前記遅延測定用データに基づいて各バッファ間の前記遅延量を算出し、前記周波数測定用データと前記遅延量とに基づいて前記第3被測定対象信号の周波数または周期を算出する周波数演算部と、
を備えた周波数測定装置。 - 測位演算より算出されるリファレンス信号に同期したクロック信号もしくは第3被測定対象信号のいずれか一方が一定の遅延時間によりそれぞれ異なるタイミングで入力されるとともに、前記クロック信号および前記第3被測定対象信号よりも低周波数のサンプリング基準信号が同時に入力され、前記サンプリング基準信号の遷移タイミングでの前記クロック信号または前記第3被測定対象信号のレベルに応じた状態データをそれぞれに発生する複数のバッファを備え、前記クロック信号が入力された場合には複数のバッファからの状態データ群からなる遅延測定用データを出力し、前記第3被測定対象信号が入力された場合には前記複数のバッファからの状態データ群からなる周波数測定用データを出力する測定回路と、
前記遅延測定用データに基づいて各バッファ間の前記遅延量を算出し、前記周波数測定用データと前記遅延量とに基づいて前記第3被測定対象信号の周波数または周期を算出する周波数演算部と、
を備えた周波数測定装置。
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