JP2013205092A - 時間測定装置 - Google Patents

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Abstract

【課題】レーザ光の飛行時間の測定等に好適な時間測定回路を提供する。
【解決手段】被測定信号の信号レベルの第1の変化時点から第2の変化時点までの期間に含まれる基準クロック信号のパルス数をカウントして第1の時間幅を測定する第1の時間測定部と、被測定信号の第1の変化時点における位相シフトクロック信号の各々の信号レベルに基づいて、被測定信号の第1の変化時点から第1の時間測定部でカウントされた基準クロック信号の最初のパルスのエッジまでの第2の時間幅を測定すると共に、被測定信号の第2の変化時点における位相シフトクロック信号の各々の信号レベルに基づいて第1の時間測定部においてカウントされた基準クロック信号の最後のパルスの次に生じるパルスのエッジから被測定信号の第2の変化時点までの第3の時間幅を測定する第2の時間測定部と、第1の時間幅と第2の時間幅と第3の時間幅とを合算する合算部と、を含む。
【選択図】図1

Description

本発明は、被測定信号の信号レベルの変化点の間の時間幅を測定する時間測定回路に関する。
被測定信号のパルス幅によって示される時間幅を測定する方法としてカウンタ回路が広く用いられている。カウンタ回路は、被測定信号の立ち上がり時点から立下り時点の間に発生するクロックパルスの数をカウントして出力する回路である。しかしながら、このようなカウンタ回路によれば、時間の測定精度(分解能)は、クロックパルスの周波数によって制限されてしまうため、光の飛行時間(TOF: Time of Flight)のように非常に短い時間を測定するのが困難となる。例えば、レーザレーダを用いて前方の物体との距離を測定する場合において、cmオーダの測定精度が必要とされる場合には、カウンタ回路のクロック周波数を10GHzオーダとする必要がある。しかしながら、現状最も周波数の高いカウンタ回路でも1GHzオーダであり、既存のテクノロジーでは10GHzオーダのクロック周波数を実現することは困難である。
特許文献1には、基準クロックを用いた時間測定(粗測定)と、基準クロックの周期よりも短い基準時間を用いた時間計測(密測定)とを同時に行うことで、高精度な時間測定を実現し得る時間測定装置が記載されている。
特開2002−214369号公報
上記した特許文献1に記載の時間測定装置によれば、構成が複雑となることに加え、被測定信号が擬似ランダム雑音符号(PN符号)によるパルス列を構成しており、測定不能時間(デッドタイム)が長くなってしまうという問題がある。
レーザレーダにおいては、出射されたレーザ光が互いに距離の異なる複数のターゲットで反射される場合があり(マルチエコー)、1番目のみならず2番目および3番目に到来する反射光についても飛行時間を測定しておく必要がある。すなわち、レーザ光は、雨粒や霧によって反射される場合があり、1番目に到来する反射光しか捕捉しないと、雨粒までの距離を測定してしまうことになり、目標物までの距離を測定することができない。このような場合には、最後に到来する反射光の飛行時間を測定することにより目標物までの距離を測定することができる。しかしながら、反射光を検出した時点では、それが最終の反射光であるかどうかを判断することはできないため、全ての反射光について一旦は飛行時間を測定しておく必要がある。このため、測定不能時間(デッドタイム)を完全に排除するか可能な限り短くしておく必要がある。
本発明は、上記した事情に鑑みてなされたものであり、簡便な構成でありながらクロック信号の1周期よりも短い時間分解能を有し、レーザ光の飛行時間の測定等に好適な時間測定回路を提供することを目的とする。
本発明に係る時間測定回路は、互いに同一の周期を有し且つ1/N周期ずつの位相差を有するN個のクロック信号を生成し、前記N個のクロック信号のうちの1つを基準クロック信号として出力すると共に前記基準クロック信号以外の(N−1)個のクロック信号を位相シフトクロック信号として出力する多相クロック生成部と、被測定信号の信号レベルの第1の変化時点から第2の変化時点までの期間に含まれる前記基準クロック信号のパルス数をカウントして得たカウント値を第1の時間幅として測定する第1の時間測定部と、前記被測定信号の第1の変化時点における前記位相シフトクロック信号の各々の信号レベルに基づいて、前記被測定信号の第1の変化時点から前記第1の時間測定部においてカウントされた前記基準クロック信号の最初のパルスのエッジまでの期間に相当する第2の時間幅を測定すると共に、前記被測定信号の第2の変化時点における前記位相シフトクロック信号の各々の信号レベルに基づいて、前記第1の時間測定部においてカウントされた前記基準クロック信号の最後のパルスの次に生じるパルスのエッジから前記被測定信号の第2の変化時点までの期間に相当する第3の時間幅を測定する第2の時間測定部と、前記第1の時間幅と、前記第2の時間幅と、前記第3の時間幅とを合算して、前記被測定信号の前記第1の変化時点から前記第2の変化時点までの時間幅として出力する合算部と、を含む。
また、本発明に係る他の時間測定回路は、被測定信号の信号レベルの最初の変化時点から2番目以降の変化時点の各々までの各時間幅を測定する時間測定回路であって、互いに異なる時間にパルスが生じる複数のパルス信号のパルス毎に立ち上がりエッジと立ち下がりエッジが交互に生じるように前記被測定信号を生成する信号生成部と、互いに同一の周期を有し且つ1/N周期ずつの位相差を有するN個のクロック信号を生成し、前記N個のクロック信号のうちの1つを基準クロック信号として出力すると共に前記基準クロック信号以外の(N−1)個のクロック信号を位相シフトクロック信号として出力する多相クロック生成部と、前記被測定信号の信号レベルの最初の変化時点から2番目以降の変化時点の各々までの期間に含まれる前記基準クロック信号のパルス数を各々カウントして得たカウント値の各々を第1の時間幅として測定する第1の時間測定部と、前記被測定信号の最初の変化時点における前記位相シフトクロック信号の各々の信号レベルに基づいて、前記被測定信号の最初の変化時点から前記第1の時間測定部においてカウントされた前記基準クロック信号の最初のパルスのエッジまでの期間に相当する第2の時間幅を測定すると共に、前記被測定信号の信号レベルの2番目以降の変化時点の各々について、該変化時点における前記位相シフトクロック信号の各々の信号レベルに基づいて、前記第1の時間測定部においてカウントされた該変化時点までの期間に含まれる前記基準クロック信号の最後のパルスの次に生じるパルスのエッジから前記被測定信号の該変化時点までの期間に相当する第3の時間幅を各々測定する第2の時間測定部と、前記2番目以降の変化時点の各々について、前記第1の時間幅と、前記第2の時間幅と、前記第3の時間幅とを合算して前記被測定信号の信号レベルの最初の変化時点から該変化時点までの時間幅として出力する合算部と、を含む。
本発明に係る時間測定回路によれば、簡便な構成でありながら、クロック信号の1周期よりも短い時間分解能を有し、レーザ光の飛行時間の測定等に好適な時間測定回路を提供することが可能となる。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る時間測定回路の構成を示すブロック図である。 図2は、本発明の第1の実施形態に係る時間測定回路による時間測定の概要を示す図である。 図3は、本発明の実施形態に係る第1の時間測定部の構成を示す図である。 図4は、本発明の実施形態に係る第1の時間測定部の動作を示すタイミングチャートである。 図5は、本発明の実施形態に係る第2の時間測定部の構成を示すブロック図である。 図6(a)および(b)は、本発明の実施形態に係る第2の時間測定部の動作を示すタイミングチャートである。 図7は、本発明の第1の実施形態に係る時間測定回路の全体の動作を示すタイミングチャートである。 図8は、本発明の実施形態に係る合算部における加算処理を例示する図である。 図9は、本発明の第2の実施形態に係る時間測定回路の構成を示すブロック図である。 図10(a)は、本発明の第2の実施形態に係る被測定信号生成部の構成を示す図、図10(b)は、その動作を示すタイミングチャートである。 図11は、本発明の第3の実施形態に係る時間測定回路の構成を示すブロック図である。 図12(a)は、本発明の第3の実施形態に係る被測定信号生成部の構成を示す図、図12(b)は、その動作を示すタイミングチャートである。 図13は、本発明の第3の実施形態に係る時間測定回路の全体の動作を示すタイミングチャートである。 図14(a)および(b)は、本発明の実施形態に係る合算部における加算処理を例示する図である。
以下、本発明の実施形態について図面を参照しつつ説明する。尚、各図面において、実質的に同一又は等価な構成要素又は部分には同一の参照符号を付している。
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態に係る時間測定回路1の全体構成を示すブロック図、図2は、本発明の第1の実施形態に係る時間測定回路1による被測定信号Sの時間幅測定の概要を示した図である。
時間測定回路1は、多相クロック生成部30において生成される基準クロック信号φ0および基準クロック信号に対して位相がシフトした複数の位相シフトクロック信号φ1〜φ3を用いて被測定信号Sの立ち上がりエッジから立ち下りエッジまでの時間幅Tを測定する回路である。より具体的には、時間測定回路1は、第1の時間測定部10と、第2の時間測定部20と、を有し、第1の時間測定部10が基準クロック信号φ0を用いて測定した第1の時間幅tと、第2の時間測定部20が基準クロック信号φ0および位相シフトクロック信号φ1〜φ3を用いて測定した第2の時間幅tおよび第3の時間幅tとを合算することにより、被測定信号Sの立ち上がりエッジから立ち下りエッジまでの全体の時間幅Tを出力する。
第1の時間測定部10は、被測定信号Sの立ち上がりエッジから立ち下がりエッジに含まれる基準クロック信号φ0のパルス数をカウントし、そのカウント値を第1の時間幅tとして出力する。図2に示す例では、第1の時間測定部10は、第1の時間幅tとしてカウント値“7”を出力する。すなわち、第1の時間幅tは基準クロック信号の7周期分であると測定される。
第2の時間測定部20は、被測定信号Sの立ち上がり時点における位相シフトクロック信号φ1〜φ3の各信号レベルを特定することにより被測定信号Sの立ち上がりエッジから第1の時間測定部10においてカウントされた基準クロック信号φ0の最初のパルスの立ち上がりエッジまでの期間に相当する第2の時間幅tを測定する。図2に示す例では、被測定信号Sの立ち上がりエッジは、位相シフトクロック信号φ2の立ち上がりエッジと位相シフトクロック信号φ3の立ち上がりエッジの間に生じていることから、第2の時間測定部20は、第2の時間幅tとして“0.25”を出力する。すなわち、第2の時間幅tは基準クロック信号φ0の0.25周期分であると測定される。
また、第2の時間測定部20は、被測定信号Sの立ち下がり時点における位相シフトクロック信号φ1〜φ3の各信号レベルを特定することにより第1の時間測定部10においてカウントされた基準クロック信号φ0の最後のパルスの次に生じるパルスのエッジから被測定信号Sの立ち下りエッジまでの期間に相当する第3の時間幅tを測定する。図2に示す例では、被測定信号Sの立ち下がりエッジは、位相シフトクロック信号φ2の立ち上がりエッジと位相シフトクロック信号φ3の立ち上がりエッジの間に生じていることから、第2の時間測定部20は、第3の時間幅tとして“0.5”を出力する。すなわち、第3の時間幅tは基準クロック信号φ0の0.5周期分であると測定される。
第1の時間測定部10において測定された第1の時間幅tと、第2の時間測定部20において測定された第2の時間幅tおよび第3の時間幅tは、加算回路81、82およびレジスタ90によって構成される合算部で合算されて、被測定信号Sの全体の時間幅Tがレジスタ90より出力される。図2に示す例では、加算回路81、82および出力段レジスタ90によって0.25+7+0.5の演算がなされ、被測定信号Sの全体の時間幅Tは、基準クロック信号φ0の7.75周期分であると測定される。このように、時間測定回路1によれば、被測定信号Sの全体の時間幅Tをクロック信号の1周期分よりも短い時間分解能で測定することができる。尚、以下の説明において、本発明の実施形態に係る時間測定回路は、被測定信号の全体の時間幅Tをクロック信号の周期に換算して出力する場合を例示するが、これを[秒]などに換算して出力することも可能である。
以下、本発明の第1の実施形態に係る時間測定回路1について詳述する。
多相クロック生成部30は、一定周波数(例えば周波数625MHz)の基準クロック信号φ0を生成するとともに、この基準クロック信号φ0と同一周期(同一周波数)であり且つ基準クロック信号φ0に対して4分の1周期ずつの位相差を有する3つの位相シフトクロック信号φ1、φ2、φ3を生成する。すなわち、位相シフトクロック信号φ1は、基準クロック信号φ0と同一周期(同一周波数)であり且つ基準クロック信号φ0に対して90°の位相差を有する。位相シフトクロック信号φ2は、基準クロック信号φ0と同一周期(同一周波数)であり且つ基準クロック信号φ0に対して180°の位相差を有する。位相シフトクロック信号φ3は、基準クロック信号φ0と同一周期(同一周波数)であり且つ基準クロック信号φ0に対して270°の位相差を有する。多相クロック生成部30は、基準クロック信号φ0を第1の時間測定部10、第2の時間測定部20、タイミング信号生成部40、遅延部50を構成するレジスタ群、第1のレジスタ60、第2のレジスタ70および出力段レジスタ90に供給する。すなわち、これらの回路は、基準クロック信号φ0に同期して動作する。また、多相クロック生成部30は、位相シフトクロック信号φ1〜φ3を第2の時間測定部20に供給する。多相クロック生成部30は、位相シフトクロック信号φ1〜φ3と基準クロック信号φ0とを生成するためのPLL(Phase Locked Loop)回路などを含んで構成されている。
タイミング信号生成部40は、被測定信号Sと基準クロック信号φ0とに基づいて第1のレジスタ60、第2のレジスタ70、出力段レジスタ90が入力値をラッチするタイミング等を定めるための第1ラッチタイミング信号A、第2ラッチタイミング信号A、計算タイミング信号A、出力タイミング信号Aを生成する回路である。タイミング信号生成部40は、第1ラッチタイミング信号Aを第1のレジスタ60に供給し、第2ラッチタイミング信号Aを第2のレジスタ70に供給し、計算タイミング信号Aを出力段レジスタ90に供給する。タイミング信号生成部40は、出力段レジスタ90の出力とともに出力タイミング信号Aを出力することにより、出力段レジスタ90の出力値が有効な値であることを表示する。
遅延部50は、各々が基準クロック信号φ0に同期して動作する5つのレジスタが縦列接続されて構成されている。遅延部50は、第1の時間測定部10の出力値を基準クロック信号φ0の5周期分だけ遅延させて加算回路81に供給する。
第1のレジスタ60は、基準クロック信号φ0に同期して第2の時間測定部20の出力値を取り込むとともに、タイミング信号生成部40から供給される第1ラッチタイミング信号Aに応じて取り込んだ値をラッチして出力する。
第2のレジスタ70は、基準クロック信号φ0に同期して第2の時間測定部20の出力値を取り込むとともに、タイミング信号生成部40から供給される第2ラッチタイミング信号Aに応じて取り込んだ値をラッチして出力する。
加算回路82は、第1のレジスタ60と第2のレジスタ70の出力値を加算して得た値を出力段レジスタ90に供給する。加算回路82は、第1のレジスタ60と第2のレジスタ70の出力値を加算した結果、キャリー(桁上げ)が生じた場合には、第1の時間測定部10によるカウント値に1を加算するべく、キャリー信号を加算回路81に供給する。加算回路82は、被測定信号Sの全体の時間幅Tの小数部を出力する。
加算回路81は、遅延部50から供給される第1の時間測定部10の出力値と、第2の時間測定部20の加算処理において桁上げが生じた場合に供給されるキャリー信号とを加算して得た値を出力段レジスタ90に供給する。加算回路81は、被測定信号Sの全体の時間幅Tの整数部を出力する。
出力段レジスタ90は、基準クロック信号φ0に同期して、加算回路81および82の出力値を取り込むとともに、タイミング信号生成部40から供給される計算タイミング信号Aに応じて取り込んだ値をラッチして出力する。出力段レジスタ90は、加算回路81から供給される被測定信号Sの全体の時間幅Tの整数部と、加算回路81から供給される被測定信号Sの全体の時間幅Tの小数部とを合算する。
図3は、第1の時間測定部10のより詳細な構成を示すブロック図である。第1の時間測定部10は、被測定信号Sを受信するための入力端子INを有し、この入力端子INに入力される被測定信号Sの立ち上がりエッジから立ち下りエッジの間に含まれる基準クロック信号φ0のパルス数をカウントして、そのカウント値を出力する回路である。第1の時間測定部10は、加算回路11と、レジスタ12と、を含んで構成されている。
加算回路11は、入力側の信号線a、a・・・aを介して供給される2進数nビットで表示される値と、入力端子INを介して供給される被測定信号Sの値を加算して、その結果を出力側の信号線b、b・・・bに出力する回路である。すなわち、加算回路11は、被測定信号Sの信号レベルが“1”である場合、信号線a、a・・・aから供給される入力値に1を加算して得た値を信号線b、b・・・bに出力し、被測定信号Sの信号レベルが“0”である場合、信号線a、a・・・aから供給される入力値をそのまま信号線b、b・・・bに出力する。
レジスタ12は、信号線b、b・・・bを介して供給される加算回路11の出力値を、基準クロック信号φ0に応じて保持して信号線c、c・・・cに出力する回路である。信号線c、c・・・cは、第1の時間測定部10の出力端子D、D・・・Dに接続されると共に、信号線a、a・・・aに接続されている。すなわち、レジスタ12の出力値は、加算回路11の入力値として与えられる。
図4は、第1の時間測定部10の動作を例示するタイミングチャートである。第1の時間測定部10は、被測定信号Sの立ち上がりエッジの直後に生じる基準クロック信号φ0のパルスからカウントを開始し、以降被測定信号Sの立ち下がり時点まで、基準クロック信号φ0のパルス数をカウントし、カウント値を逐次出力端子D、D・・・Dから出力する。尚、図4において、理解を容易にするためにカウント値は、10進数で表示されている。第1の時間測定部10の出力値(カウント値)は、遅延部50に供給される。尚、図4に示す例においては、第1の時間測定部10は、パルス数を“8”までカウントすることになるが、最後のパルスは、第1の時間幅tに含まれない。すなわち、図4に示す例において、第1の時間幅tとして出力されるべきカウント値は“7”(“111”)である。そこで、本実施形態に係る時間測定回路1においては、遅延部50を用いて第1の時間測定部10の出力を遅延させ、第2の時間測定部20によって測定される時間幅tおよびtとの合算のタイミングを調整することにより、実質的に第1の時間幅tとして“7”(“111”)を得ている。尚、被測定信号Sの立下り時点におけるカウント値“8”から1を減算する回路を設け、第1の時間幅tとして“7”を得るようにしてもよい。また、−1からカウントを開始することにより第1の時間幅tとして“7”を得るようにしてもよい。これらの場合、遅延部50は不要となる。
図5は、第2の時間測定部20の構成を示すブロック図である。第2の時間測定部20は、3個の初段フリップフロップ(以下、初段FFと称する。)21a、21b、21cと、初段FF21a、21b、21cにそれぞれ縦列接続された複数の後段フリップフロップ(以下、後段FFと称する。)22a〜24a、22b〜24b、22c〜24cと、後段FF24a、24b、24cに接続されたエンコーダ25と、を含んで構成されている。
初段FFおよび後段FFの各々は、D型フリップフロップであり、データ入力端子Dに入力される入力信号の値をクロック入力端子CKに入力されるクロック信号に応じて保持し、その保持値を出力端子Qにおいて出力する回路である。初段FF21a、21b、21cのそれぞれのデータ入力端子Dには、被測定信号Sが供給されている。初段FF21aのクロック入力端子CKには位相シフトクロック信号φ1が入力されている。初段FF21bのクロック入力端子CKには位相シフトクロック信号φ2が入力されている。初段FF21cのクロック入力端子CKには位相シフトクロック信号φ3が入力されている。
後段FF22a、23a、24aは、初段FF21aに縦列接続され、それぞれのクロック入力端子CKには基準クロック信号φ0が入力されている。後段FF22b、23b、24bは、初段FF21bに縦列接続され、後段FF22bのクロック入力端子CKには位相シフトクロック信号φ1が入力され、後段FF23bおよび24bのクロック入力端子CKには基準クロック信号φ0が入力されている。後段FF22c、23c、24cは、初段FF21cに縦列接続され、後段FF22bのクロック入力端子CKには位相シフトクロック信号φ2が入力され、後段FF23cのクロック入力端子CKには位相シフトクロック信号φ1が入力され、後段FF24cのクロック入力端子CKには基準クロック信号φ0が入力されている。
エンコーダ25は、最終段を構成する後段FF24a、24b、24cの各々の出力端子Qから出力される出力値のうち “1”の個数をカウントし、そのカウント値を2進数にコード化して出力する回路である。
図6(a)および(b)は、第2の時間測定部20の動作を例示するタイミングチャートである。図6(a)は、被測定信号Sの立ち上がりエッジ近傍の時間帯を示し、図6(b)は、被測定信号Sの立ち下がりエッジ近傍の時間帯を示している。
位相シフトクロック信号φ1〜φ3は、基準クロック信号φ0に対して互いに4分の1周期ずつの位相差をもってそれぞれ初段FF21a、21b、21cに供給される。図6(a)に示す例において、被測定信号Sの立ち上がりエッジは、位相シフトクロック信号φ2の立ち上がりエッジと位相シフトクロック信号φ3の立ち上がりエッジの間に生じている。すなわち、被測定信号Sの立ち上がり直後における位相シフトクロック信号φ3の立ち上がり時点において、初段FF21aの出力値は“0”、初段FF21bの出力値は“0”、初段FF21cの出力値は“1”である。従って、このタイミングにおいて信号線e〜eには初段FF21a、21b、21cの出力値に対応する3ビットの値“001”が現れる。この値“001”は、第2の時間幅tに対応する値である。信号線e〜eに現れる“001”の各ビットの値は、2段目の後段FF22a、22b、22cのデータ入力端子に供給される。2段目の後段FF22a、22b、22cは、各々に与えられた基準クロック信号φ0または位相シフトクロック信号φ1、φ2に同期して“001”を保持して出力する。このようにして、3ビットの値“001”は最終段を構成する後段FF24a、24b、24cまで伝送される。最終段を構成する後段FF24a、24b、24cのクロック入力端子CKには、それぞれ、共通の基準クロック信号φ0が与えられているので、信号線f〜fには、それぞれ “0”“0”“1”が同一時刻tに出力される。
このように、初段FF21a、21b、21cは、位相シフトクロックφ1〜φ3に応じて互いに異なるタイミングで被測定信号Sのサンプリングを行って被測定信号Sの立ち上がりエッジのタイミングを検出する。後段FFの各々は、互いに異なるタイミングで出力される初段FF21a、21b、21cの各々の出力値を、同一時刻tに一斉に出力する役割を担う。本実施形態においては、初段から最終段まで4つのフリップフロップを縦列接続させる4段構成としている。これは初段FF21cには位相シフトクロック信号φ3が入力されていることから、仮に2段目を構成する後段FF22cに位相シフトクロック信号φ0を入力した場合には、初段FF21cの動作タイミングと、2段目の後段FF22cの動作タイミングが近接してしまい。データ伝送が適切に行われないおそれがあるからである。2段目の後段FF22cに位相シフトクロック信号φ2を入力し、さらにこれに従属する3段目の後段FF23cに位相シフトクロック信号φ1を入力することにより、フリップフロップ間の動作タイミングの近接を防止することができるので、データ伝送が適切に行われないという問題を回避することが可能となる。しかしながら、動作安定性が確保される場合には、2段目および3段目を構成する後段FF22a、23a、22b、23b、22c、23cを省略することができる。
エンコーダ25は、最終段を構成する後段FF24a、24b、24cの各々から出力される出力値のうち“1”の個数をカウントして、そのカウント値を2進数にコード化して出力する。図6(a)に示す例において、エンコーダ25は、時刻tにおいて信号線f〜fに現れる値 “0”“0”“1”のうち“1”の個数をカウントして、カウント値“1”を2進数にコード化して“01”出力する。尚、図6(a)においては、理解を容易にするために、エンコーダ25の出力値は10進数で表示されている。かかるエンコーダ25の出力値“1”(“01”)は、第1ラッチタイミング信号Aに応じて動作する第1のレジスタ60によってラッチされる。
ここで、エンコーダ25の出力値は、0〜3のいずれかとなる。エンコーダ25の出力値が0(“00”)のとき、第2の時間幅tが0であると測定される。エンコーダ25の出力値が1(“01”)のとき第2の時間幅tが基準クロック信号φ0の0.25周期分であると測定される。エンコーダ25の出力値が2(“10”)のとき時間幅tが基準クロック信号φ0の0.5周期分であると測定される。エンコーダ25の出力値が3(“11”)のとき時間幅tが基準クロック信号φ0の0.75周期分であると測定される。図6(a)に示す例においては、エンコーダ25の出力値は“1”(“01”)であるので時間幅tは、基準クロック信号φ0の0.25周期分であると測定される。
一方、図6(b)に示す例において、被測定信号Sの立ち上がりエッジは、位相シフトクロック信号φ2の立ち上がりエッジと位相シフトクロック信号φ3の立ち上がりエッジの間に生じている。すなわち、被測定信号Sの立ち下がり直後における位相シフトクロック信号φ3の立ち上がり時点において、初段FF21aの出力値は“1”、初段FF21bの出力値は“1”、初段FF21cの出力値は“0”である。従って、このタイミングにおいて信号線e〜eには初段FF21a〜21cの出力値に対応する3ビットの値“110”が現れる。この値“110”は、第3の時間幅tに対応する値である。信号線e〜eに現れる“110”の各ビットの値は、最終段を構成する後段FF24a、24b、24cまで伝送される。後段FF24a、24b、24cのクロック入力端子CKには、それぞれ、共通の基準クロック信号φ0が供給されているので、信号線f〜fには、それぞれ “1”“1”“0”が同一時刻tに出力される。
このように、初段FF21a、21b、21cは、位相シフトクロックφ1〜φ3に応じて互いに異なるタイミングで被測定信号Sのサンプリングを行って被測定信号Sの立ち下がりエッジのタイミングも検出する。後段FFの各々は、互いに異なるタイミングで出力される初段FF21a、21b、21cの各々の出力値を、同一時刻tに一斉に出力する役割を担う。
エンコーダ25は、最終段を構成する後段FF24a、24b、24cの各々から出力される出力値のうち“1”の個数をカウントして、そのカウント値を2進数にコード化して出力する。従って、エンコーダ25は、時刻tにおいて信号線f〜fに現れる値 “1”“1”“0”のうち“1”の個数をカウントして、カウント値“2”を2進数にコード化して“10”出力する。尚、図6(b)においては、理解を容易にするために、エンコーダ25の出力値は10進数で表示されている。かかるエンコーダ25の出力値“2”(“10”)は、第2ラッチタイミング信号Aに応じて動作する第2のレジスタ70によって保持される。図6(b)に示す例においては、エンコーダ25の出力値は“2”(“10”)であるので第3の時間幅tは、基準クロック信号φ0の0.5周期分であると測定される。
図7は、本発明の第1の実施形態に係る時間測定回路1の全体的な動作を例示するタイミングチャートである。
第1の時間測定部10は、被測定信号Sの立ち上がりエッジが生じると、基準クロック信号φ0のパルス数のカウントを開始する。第1の時間測定部10は、被測定信号Sの立ち下がりエッジが生じるまで、基準クロック信号φ0の立ち上がりエッジ毎にカウントアップを行う。遅延部50は、第1の時間測定部10の出力値を基準クロック信号φ0の5周期分だけ遅延させる。
タイミング信号生成部40は、以下のようにして各種タイミング信号A〜Aを生成する。タイミング信号生成部40は、基準クロック信号φ0の立ち上がりエッジで被測定信号Sをサンプリングしてサンプリング信号Ss1を生成し、さらに、サンプリング信号Ss1に対して基準クロック信号φ0の1周期分だけ遅延させた遅延サンプリング信号Ss2を生成する。
また、タイミング信号生成部40は、サンプリング信号Ss1 の値が“1”であり且つ遅延サンプリング信号Ss2の値が“0”の時に“1”となる立ち上がりエッジ検出信号Sを生成して、被測定信号Sの立ち上がりエッジを検出する。タイミング信号生成部40は、この立ち上がりエッジ検出信号Sを基準クロック信号φ0の2周期分だけ遅延させることにより第1ラッチタイミング信号Aを生成する。
また、タイミング信号生成部40は、サンプリング信号Ss1 の値が“0”であり且つ遅延サンプリング信号Ss2の値が“1”の時に“1”となる立ち下がりエッジ検出信号Sを生成して、被測定信号Sの立ち下がりエッジを検出する。タイミング信号生成部40は、この立ち上がりエッジ検出信号Sを基準クロック信号φ0の2周期分だけ遅延させることにより第2ラッチタイミング信号Aを生成する。
また、タイミング信号生成部40は、立ち下がりエッジ検出信号Sを基準クロック信号φ0の3周期分だけ遅延させることにより計算タイミング信号Aを生成する。また、タイミング信号生成部40は、立ち下がりエッジ検出信号Sを基準クロック信号φ0の4周期分だけ遅延させることにより出力タイミング信号Aを生成する。
図7に示す例において、被測定信号Sの立ち上がりエッジは、図6(a)における例示と同様、位相シフトクロック信号φ2の立ち上がりエッジと位相シフトクロック信号φ3の立ち上がりエッジの間に生じている。第2の時間測定部20の初段FF21a、21b、21cは、それぞれ、被測定信号Sを位相シフトクロック信号φ1〜φ3に応じてサンプリングすることにより信号線e〜e上に3ビットの値“001”を出力する。この3ビットの値“001”は、最終段を構成する後段FF24a、24b、24cまで伝送され、エンコーダ25に入力される。エンコーダ25は、“001”の“1”の数をカウントして、カウント値“1”(“01”)を出力する。第1ラッチタイミング信号Aは、エンコーダ25が第2の時間幅tを示す値“1” (“01”)を出力するタイミングで出力されるので、第1のレジスタ60は、このエンコーダ25の出力値“1” (“01”)をラッチする。
図7に示す例において、被測定信号Sの立ち下がりエッジは、図6(b)における例示と同様、位相シフトクロック信号φ2の立ち上がりエッジと位相シフトクロック信号φ3の立ち上がりエッジの間に生じている。第2の時間測定部20の初段FF21a、21b、21cは、それぞれ、被測定信号Sを位相シフトクロック信号φ1〜φ3に応じてサンプリングすることにより信号線e〜e上に3ビットの値“110”を出力する。この3ビットの値“110”は、最終段を構成する後段FF24a、24b、24cまで伝送され、エンコーダ25に入力される。エンコーダ25は、“110”の“1”の数をカウントして、カウント値“2”(“10”)を出力する。第2ラッチタイミング信号Aは、エンコーダ25が第3の時間幅tを示す値“2” (“10”)を出力するタイミングで出力されるので、第2のレジスタ70は、このエンコーダ25の出力値“2” (“10”)をラッチする。
加算回路82は、第1のレジスタ60と第2のレジスタ70の出力値を加算して得た値を出力段レジスタ90に供給する。加算回路82は、第1のレジスタ60と第2のレジスタ70の出力値を加算した結果、キャリー(桁上げ)が生じた場合には、第1の時間測定部10によるカウント値に1を加算するべく、キャリー信号を加算回路81に供給する。尚、図7に示す例では、キャリー(桁上げ)は生じない。
加算回路81は、遅延部50から供給される第1の時間測定部10の出力値と、第2の時間測定部20の加算処理において桁上げが生じた場合に供給されるキャリー信号とを加算し、それによって得られた値を出力段レジスタ90に供給する。
加算回路81、82および出力段レジスタ90により構成される合算部は、計算タイミング信号Aが“1”となるタイミングで、遅延部50によって5周期分の遅延時間が付加された第1の時間測定部10によるカウント値と、第1のレジスタ60の出力値と、第2のレジスタ70の出力値と、を合算する。図7に示す例において、計算タイミング信号Aが“1”となるタイミングでの遅延部50の出力は“7”(“111”)であり、第1のレジスタ60の出力値は“1”(“01”)であり、第2のレジスタ70の出力値は“2”(“10”)であるので、加算回路81、82および出力段レジスタ90からなる合算部は、図8に示す如き加算を行う。すなわち、出力段レジスタ90は加算回路81より供給される被測定信号Sの時間幅Tの整数部に対応するビットと、加算回路82より供給される被測定信号Sの時間幅Tの小数部に対応するビットとを混合することにより、被測定信号Sの時間幅Tを得る。出力段レジスタ90は、被測定信号Sの全体の時間幅Tとして、7.75[周期]を出力する。タイミング信号生成部40は、出力段レジスタ90が出力値7.75[周期]を出力するタイミングで、出力タイミング信号Aを出力することにより、この出力値が有効な値であることを表示する。このようにして、被測定信号Sの全体の時間幅Tが基準クロック信号φ0の7.75周期に相当することが測定される。
以上の説明から明らかなように、本発明の第1の実施形態に係る時間測定回路1においては、第1の時間測定部10は、被測定信号Sの立ち上がり時点から立ち下り時点までの期間に含まれる基準クロック信号φ0のパルスの数をカウントすることにより第1の時間幅tを測定する。すなわち、第1の時間測定部10は、基準クロック信号φ0を用いて、被測定信号Sの立ち上がりエッジおよび立下りエッジにかからない部分の時間幅を測定する。
第2の時間測定部20は、被測定信号Sの立ち上がり時点における位相シフトクロック信号φ1〜φ3の各信号レベルに基づいて、被測定信号Sの立ち上がり時点から第1の時間測定部10においてカウントされた基準クロック信号φ0の最初のパルスのエッジまでの期間に相当する第2の時間幅tを基準クロック信号φ0の1/4周期の時間分解能で測定する。また、第2の時間測定部20は、被測定信号の立ち下がり時点における位相シフトクロック信号φ1〜φ3の各信号レベルに基づいて、第1の時間測定部10においてカウントされた基準クロック信号φ0の最後のパルスの次に生じるパルスのエッジから被測定信号Sの立ち下り時点までの期間に相当する第3の時間幅tを基準クロック信号φ0の1/4周期の時間分解能で測定する。
このように、本発明の第1の実施形態に係る時間測定回路1によれば、単純な構成でありながら被測定信号Sの立ち上がり時点から立ち下り時点までの時間幅Tをクロック信号の1周期よりも短い時間分解能で測定することが可能となる。これにより、レーザ光の飛行時間の測定等に好適な時間測定回路を提供することが可能となる。
尚、上記の説明においては、互いに4分の1周期ずつの位相差を有する3相の位相シフトクロック信号φ1〜φ3と、これらの位相シフトクロック信号φ1〜φ3をクロック入力とする3つの初段FF21a〜21cとを用いて、被測定信号Sの立ち上がりおよび立下りのタイミングを検出する場合を例示したが、クロック信号の相数および初段FFの数を適宜増減することが可能である。クロック信号の相数および初段FFの数を増加させることにより、被測定信号Sの時間幅の測定精度を更に向上させることが可能である。すなわち、互いに1/N周期ずつの位相差を有する(N−1)個の位相シフトクロック信号と、(N−1)個の初段FFを用いることで、基準クロックパルスの1周期の1/Nに相当する時間分解能で被測定信号Sの時間幅の測定を行うことが可能となる。
また、第2の時間測定部20を構成する初段FFに縦列接続される後段FFの段数を適宜増減することが可能である。これに応じて、タイミング信号生成部40によって生成される各種のタイミング信号、遅延部50によって付加される遅延時間を適宜変更することも可能である。
また、上記の説明においては、被測定信号の立ち上がりエッジから立ち下がりエッジまでの時間幅を測定する場合を例示したが、立ち下がりエッジから立ち上がりエッジまでの時間幅を測定するように構成してもよい。また、上記の説明においては、時間測定回路を構成する各回路部がクロック信号の立ち上がりエッジをトリガとする場合を例示したが、立ち下がりエッジをトリガとして動作させることも可能である。
(第2の実施形態)
図9は、本発明の第2の実施形態に係る時間測定回路2の構成を示すブロック図である。時間測定回路2は、被測定信号生成部100を更に有する点において上記した第1の実施形態に係る時間測定回路1と異なる。
レーザレーザにおいては、レーザ光を出射してから当該レーザ光の反射光を受光するまでの時間幅に基づいて対象物までの距離を測定する。従って、レーザレーダにおいては、レーザ光の出射タイミングを示すスタートパルスと、当該レーザ光の反射光の検出タイミングを示すストップパルスの2つの独立したパルスをから光の飛行時間TOFを測定する。これに対処するべく被測定信号生成部100は、互いに異なる時刻に到来するスタートパルスおよびストップパルスを受信して、スタートパルスの受信時点からストップパルスの受信時点までの時間幅に相当するパルス幅を有する被測定信号Sを生成する。
図10(a)は、被測定信号生成部100の構成を示す図、図10(b)は、被測定信号生成部100の動作を示すタイミングチャートである。
被測定信号生成部100は、例えば、単一のD型のフリップフロップ(以下D−FFと称する)101で構成されている。D−FF101のデータ入力端子Dには、デジタル値“1”に対応する例えば5Vの電位が入力されている。D−FF101のクロック入力端子CKにはスタートパルスを受信するための信号線gが接続されている。D−FF101のリセット入力端子Rには、ストップパルスを受信するための信号線hが接続されている。尚、このリセット入力は、非同期リセットである。D−FF101は、受信したスタートパルスおよびストップパルスに基づいて被測定信号Sを生成し、これを出力端子Qから出力する。
図10(b)に示すように、信号線gを介してクロック入力端子CKにスタートパルスが入力されると、出力端子Qから出力される被測定信号Sの信号レベルはハイレベル“1”となる。その後、信号線hを介してリセット入力端子Rにストップパルスが入力されると、出力端子Qから出力される被測定信号Sの信号レベルはローレベル“0”となる。すなわち、被測定信号生成部100は、スタートパルスの受信時点からストップパルスの受信時点までの時間幅に相当するパルス幅を有する被測定信号Sを生成し、生成した被測定信号Sを出力端子Qから出力する。
被測定信号生成部100以外の他の構成部分については、上記した第1の実施形態に係る時間測定回路1と同様である。すなわち、被測定信号生成部100によって生成された被測定信号Sの立ち上がり時点から立ち下り時点までの時間幅Tは、第1の実施形態に係る時間測定回路1と同様の手順で測定されることとなる。測定された時間幅Tは、スタートパルス受信時点からストップパルス受信時点までの時間幅、すなわち光の飛行距離TOFに相当する。
以上の説明から明らかなように、本発明の第2の実施形態に係る時間測定回路2によれば、被測定信号生成部100が、互いに異なる時刻に到来するスタートパルスおよびストップパルスを受信し、スタートパルスの受信に応じて立ち上がりエッジを形成し、ストップパルスの受信に応じて立ち下がりエッジを形成することにより単一のパルスからなる被測定信号Sを生成するので、レーザレーダにおける光の飛行時間TOFの測定にも対応することが可能となる。
(第3の実施形態)
図11は、本発明の第3の実施形態に係る時間測定回路3の構成を示すブロック図である。時間測定回路3は、互いに異なる時刻に到来するスタートパルスおよびストップパルスを受信し、スタートパルス受信時点からストップパルス受信時点までの時間幅に相当するパルス幅を有する被測定信号Sを生成する構成を有する点において上記した本発明の第2の実施形態に係る時間測定回路2と同様である。
レーザレーダにおいては、出射されたレーザ光が互いに距離の異なる複数のターゲットで反射される場合があり(マルチエコー)、1つのスタートパルスに対して、複数のストップパルスが到来する場合がある。時間測定回路3においては、1つのスタートパルスの受信時点から複数のストップパルスの各々の受信時点までの複数の時間幅を測定し得る構成を有する。
図12(a)は、被測定信号生成部110の構成図、図12(b)は、被測定信号生成部110の動作を示すタイミングチャートである。
被測定信号生成部110は、例えば、D型のフリップフロップ(以下D−FFと称する)111と、インバータ112とを含んで構成されている。インバータ112の入力端は、D−FF111の出力端子Qに接続され、インバータ112の出力端はD−FF111のデータ入力端子Dに接続されている。D−FF111のクロック入力端子CKにはストップパルスを受信するための信号線iが接続されている。D−FF111のプリセット入力端子Pにはスタートパルスを受信するための信号線jが接続されている。D−FF111のリセット入力端子Rには、リセット信号を受信するための信号線kが接続されている。尚、プリセット入力およびリセット入力は、それぞれ非同期である。D−FF111は、受信したスタートパルスおよびストップパルスに基づいて被測定信号Sを生成し、これを出力端子Qから出力する。
図12(b)に示すように、信号線jを介してプリセット入力端子Pにスタートパルスが入力されると、出力端子Qから出力される被測定信号Sの信号レベルはハイレベル“1”となる。このとき、出力端子Qの出力値“1”はインバータ112によって反転され、D−FF111のデータ入力端子Dには“0”が入力される。その後、信号線iを介してクロック入力端子CKに1番目のストップパルスが入力されると、出力端子Qから出力される被測定信号Sの信号レベルはローレベル“0”となる。このとき、出力端子Qの出力値“0”はインバータ112によって反転され、D−FF111のデータ入力端子Dには“1”が入力される。続いて、信号線iを介してクロック入力端子CKに2番目のストップパルスが入力されると、出力端子Qから出力される被測定信号Sの信号レベルはハイレベル“1”となる。このとき、出力端子Qの出力値“1”はインバータ112によって反転され、D−FF111のデータ入力端子Dには“0”が入力される。続いて、信号線iを介してクロック入力端子CKに3番目のストップパルスが入力されると、出力端子Qから出力される被測定信号Sの信号レベルはローレベル“0”となる。D−FF111は、信号線kを介してリセット端子Rにリセット信号が入力されると、上記の動作をリセットする。リセット信号は、例えば、全てのストップパルスが受信されたものと想定される所定時間毎に供給され得る。
このように、被測定信号生成部110は、スタートパルスの受信時点において立ち上がりエッジを生じさせ、その後複数のストップパルスを受信する度に立ち下がりエッジと立ち上がりを交互に生じさせることにより被測定信号Sを生成する。被測定信号Sをこのような方法で生成することにより、1番目のストップパルスを受信してから2番目のストップパルスを受信するまでの間に被測定信号Sの信号レベルをハイレベル“1”に戻すことを要しない。1番目のストップパルスを受信した後、被測定信号Sの信号レベルを“1”に戻す構成とした場合、“1”に戻すタイミングが2番目のストップパルスの受信時点よりも遅れると、2番目のストップパルスに反応することできなくなり測定不能時間(デッドタイム)を生じてしまうことになる。本実施形態に係る被測定信号生成部110よれば、被測定信号Sの信号レベルをハイレベル“1”に戻さないので、そのような測定不能時間が生じることを防止することができる。時間測定回路3は、このような、立ち下がりエッジと立ち上がりを交互に生じる形態の被測定信号Sの最初の立ち上がり時点を基準として、その後に生じる信号の各変化点(立ち下りエッジまたは立ち上がりエッジ)までの時間T、T、T・・・を測定する。
時間測定回路3は、被測定信号Sの最初の立ち上がり時点を基準として、その後に生じる信号の各変化点(立ち下りエッジまたは立ち上がりエッジ)までの時間T、T、T・・・を測定するために、第2の時間測定部20と第2のレジスタ70との間に補正回路120を有する。
補正回路120は、タイミング信号生成部40aにおいて生成される補正タイミング信号Aに応じて第2の時間測定部20のエンコーダ25の出力値Xに対して“3−X”の演算を行い、演算によって得られた値を補正値として第2のレジスタ70に供給する回路である。第2の時間測定部20は、被測定信号Sの立ち下がりエッジまでの時間を測定することを前提に、最終段を構成する後段FF24a、24b、24cの出力値の“1”の数をカウントしている。本実施形態に係る時間測定回路においては、被測定信号の最初の立ち上がりエッジから2回目以降の立ち上がりエッジまでの時間を測定する必要がある。被測定信号Sの2回目以降の立ち上がりエッジまでの時間を測定するには、“1”ではなく“0”の数をカウントする必要がある。補正回路120は、被測定信号Sに2回目以降の立ち上がりエッジが生じた場合に、エンコーダ25において“1”の数をカウントして得たカウント値Xを“0”の数のカウント値に補正するべく“3−X”の演算を行う。尚、補正回路120は、エンコーダ25の出力値の各ビットを独立に反転させることによって補正値を得るものであってもよい。いずれにしても同様の補正値を得ることができる。
第1の時間測定部10aは、被測定信号Sの最初の立ち上がりエッジから基準クロック信号φ0のカウントを開始し、以降全てのストップパルスが受信されたものと想定される所定時間までカウントを継続する点が上記した第1の実施形態に係る第1の時間測定部10と異なる。これにより、スタートパルスの受信時点から複数のストップパルスの各々の受信時点までの複数の時間幅の測定に対応することが可能となる。
タイミング信号生成部40aは、補正回路120による補正のタイミングを定める補正タイミング信号Aを更に生成する点が、上記した第1の実施形態に係るタイミング信号生成部40と異なる。また、複数の時間測定に対応するべく第2ラッチタイミング信号A、計算タイミング信号A、出力タイミング信号Aも上記した第1の実施形態に係るタイミング信号生成部40と異なる方法で生成される。
図13は、本発明の第3の実施形態に係る時間測定回路3の全体的な動作を例示するタイミングチャートである。
第1の時間測定部10aは、被測定信号Sの最初の立ち上がりエッジが生じると、基準クロック信号φ0のパルス数のカウントを開始する。第1の時間測定部10aは、全てのストップパルスが受信されたものと想定される所定時間が経過するまで基準クロック信号φ0の立ち上がりエッジ毎にカウントアップを行う。遅延部50は、第1の時間測定部10aの出力値を基準クロック信号φ0の5周期分だけ遅延させる。
タイミング信号生成部40aは、以下のようにして各種タイミング信号A〜Aを生成する。タイミング信号生成部40aは、基準クロック信号φ0の立ち上がりエッジで被測定信号Sをサンプリングしてサンプリング信号Ss1を生成し、さらに、サンプリング信号Ss1に対して基準クロック信号φ0の1周期分だけ遅延させた遅延サンプリング信号Ss2を生成する。
タイミング信号生成部40aは、サンプリング信号Ss1 の値が最初に“1”を呈し且つ遅延サンプリング信号Ss2の値が“0”となる時に“1”となる立ち上がりエッジ検出信号Sr1を生成して、被測定信号Sの最初の立ち上がりエッジを検出する。タイミング信号生成部40aは、この立ち上がりエッジ検出信号Sr1を基準クロック信号φ0の2周期分だけ遅延させることにより第1ラッチタイミング信号Aを生成する。
タイミング信号生成部40aは、サンプリング信号Ss1 の値が“0”であり且つ遅延サンプリング信号Ss2の値が“1”の時に“1”となる立ち下がりエッジ検出信号Sを生成して、被測定信号Sの立ち下がりエッジを検出する。タイミング信号生成部40aは、この立ち上がりエッジ検出信号Sを基準クロック信号φ0の2周期分だけ遅延させることにより第2ラッチタイミング信号Aを生成ための信号αを生成する。
タイミング信号生成部40aは、立ち下がりエッジ検出信号Sを基準クロック信号φ0の3周期分だけ遅延させることにより計算タイミング信号Aを生成するための信号βを生成する。また、タイミング信号生成部40aは、立ち下がりエッジ検出信号Sを基準クロック信号φ0の4周期分だけ遅延させることにより出力タイミング信号Aを生成するための信号γを生成する。
タイミング信号生成部40aは、サンプリング信号Ss1 の値が2回目以降に“1”を呈し且つ遅延サンプリング信号Ss2の値が“0”の時に“1”となる立ち上がりエッジ検出信号Sr2を生成して、被測定信号Sの2回目以降の立ち上がりエッジを検出する。タイミング信号生成部40aは、この立ち上がりエッジ検出信号Sr2を基準クロック信号φ0の2周期分だけ遅延させることにより第2ラッチタイミング信号Aを生成するための信号αを生成する。
タイミング信号生成部40aは、立ち上がりエッジ検出信号Sr2を基準クロック信号φ0の3周期分だけ遅延させることにより計算タイミング信号Aを生成するための信号βを生成する。また、タイミング信号生成部40aは、立ち上がりエッジ検出信号Sr2を基準クロック信号φ0の4周期分だけ遅延させることにより出力タイミング信号Aを生成するための信号γを生成する。
タイミング信号生成部40aは、信号αと信号αの論理和をとることにより第2ラッチタイミング信号Aを生成し、信号βと信号βの論理和をとることにより計算タイミング信号Aを生成し、信号γと信号γの論理和をとることにより出力タイミング信号Aを生成する。また、タイミング信号生成部40aは、信号αを補正タイミング信号Aとして出力し、これを補正回路120に供給する。
図13に示す例において、被測定信号Sの最初の立ち上がりエッジは、位相シフトクロック信号φ1の立ち上がりエッジと位相シフトクロック信号φ2の立ち上がりエッジの間に生じている。第2の時間測定部20の初段FF21a、21b、21cは、それぞれ、被測定信号Sを位相シフトクロック信号φ1〜φ3に応じてサンプリングすることにより信号線e〜e上に3ビットの値“011”を出力する。この3ビットの値“011”は、最終段を構成する後段FF24a、24b、24cまで伝送され、エンコーダ25に入力される。エンコーダ25は、“011”の“1”の数をカウントして、カウント値“2”(“10”)を出力する。第1ラッチタイミング信号Aは、エンコーダ25が“2” (“10”)を出力するタイミングで出力されるので、第1のレジスタ60は、このエンコーダ25の出力値“2” (“10”)をラッチする。
図13に示す例において、被測定信号Sの最初の立ち下がりエッジは、位相シフトクロック信号φ2の立ち上がりエッジと位相シフトクロック信号φ3の立ち上がりエッジの間に生じている。第2の時間測定部20の初段FF21a、21b、21cは、それぞれ、被測定信号Sを位相シフトクロック信号φ1〜φ3に応じてサンプリングすることにより信号線e〜e上に3ビットの値“110”を出力する。この3ビットの値“110”は、最終段を構成する後段FF24a、24b、24cまで伝送され、エンコーダ25に入力される。エンコーダ25は、“110”の“1”の数をカウントして、カウント値“2”(“10”)を出力する。第2ラッチタイミング信号Aは、エンコーダ25が“2” (“10”)を出力するタイミングで出力されるので、第2のレジスタ70は、このエンコーダ25の出力値“2” (“10”)をラッチする。
加算回路81、82および出力段レジスタ90により構成される合算部は、計算タイミング信号Aが最初に“1”となるタイミングで、遅延部50によって5周期分の遅延時間が付加された第1の時間測定部10によるカウント値と、第1のレジスタ60の出力値と、第2のレジスタ70の出力値と、を合算する。図13に示す例において、計算タイミング信号Aが最初に“1”となるタイミングでの遅延部50の出力は“2”(“010”)であり、第1のレジスタ60の出力値は“2”(“10”)であり、第2のレジスタ70の出力値は“2”(“10”)であるので、加算回路81、82および出力段レジスタ90からなる合算部は、図14(a)に示す如き加算を行う。すなわち、出力段レジスタ90は加算回路81より供給される被測定信号Sの時間幅Tの整数部に対応するビットと、加算回路82より供給される被測定信号Sの時間幅Tの小数部に対応するビットとを混合することにより、被測定信号Sの時間幅Tを得る。出力段レジスタ90は、被測定信号Sの最初の立ち上がりエッジから最初の立ち下がりエッジまでの時間幅Tとして、3.00[周期]を出力する。タイミング信号生成部40aは、出力段レジスタ90が出力値3.00[周期]を出力するタイミングで、出力タイミング信号Aを出力することにより、この出力値が有効な値であることを表示する。このようにして、被測定信号Sの最初の立ち上がりエッジから最初の立ち下がりエッジまでの時間幅Tが基準クロック信号φ0の3.00周期に相当することが測定される。
図13に示す例において、被測定信号Sの2番目の立ち上がりエッジは、基準クロック信号φ0の立ち上がりエッジと位相シフトクロック信号φ1の立ち上がりエッジの間に生じている。第2の時間測定部20の初段FF21a、21b、21cは、それぞれ、被測定信号Sを位相シフトクロック信号φ1〜φ3に応じてサンプリングすることにより信号線e〜e上に3ビットの値“111”を出力する。この3ビットの値“111”は、最終段を構成する後段FF24a、24b、24cまで伝送され、エンコーダ25に入力される。エンコーダ25は、“111”の“1”の数をカウントして、カウント値“3”(“11”)を出力する。補正タイミング信号Aは、エンコーダ25が“3” (“11”)を出力するタイミングで出力されるので、エンコーダ25の出力値“3”(“11”)に対して“3−3”の演算を行って“0”(“00”)を得る。第2ラッチタイミング信号Aは、エンコーダ25が“3” (“11”)を出力するタイミングで出力されるので、第2のレジスタ70は、補正回路120の出力値“0” (“00”)をラッチする。
加算回路81、82および出力段レジスタ90により構成される合算部は、計算タイミング信号Aが2回目に“1”となるタイミングで、遅延部50によって5周期分の遅延時間が付加された第1の時間測定部10によるカウント値と、第1のレジスタ60の出力値と、第2のレジスタ70の出力値と、を合算する。図13に示す例において、計算タイミング信号Aが2回目に“1”となるタイミングでの遅延部50の出力は“4”(“100”)であり、第1のレジスタ60の出力値は“2”(“10”)であり、第2のレジスタ70の出力値は“0”(“00”)であるので、加算回路81、82および出力段レジスタ90からなる合算部は、図14(b)に示す如き加算を行う。すなわち、出力段レジスタ90は加算回路81より供給される被測定信号Sの時間幅Tの整数部に対応するビットと、加算回路82より供給される被測定信号Sの時間幅Tの小数部に対応するビットとを混合することにより、被測定信号Sの時間幅Tを得る。出力段レジスタ90は、被測定信号Sの最初の立ち上がりエッジから2回目の立ち上がりエッジまでの時間幅Tとして、4.50[周期]を出力する。タイミング信号生成部40aは、出力段レジスタ90が出力値4.50[周期]を出力するタイミングで、出力タイミング信号Aを出力することにより、この出力値が有効な値であることを表示する。このようにして、被測定信号Sの最初の立ち上がりエッジから2回目の立ち上がりエッジまでの時間幅Tが基準クロック信号φ0の4.50周期に相当することが測定される。
被測定信号Sの最初の立ち上がりエッジから2回目の立ち下がりエッジまでの時間T、3回目の立ち上がりエッジまでの時間Tも同様にして測定される。
このように、本発明の第3の実施形態に係る時間測定回路3によれば、1つのスタートパルスに対して複数のストップパルスが到来した場合であってもスタートパルスの受信時点から複数のストップパルスの各々の受信時点までの複数の時間幅をクロック信号の1周期よりも短い時間分解能で測定することが可能となる。従って、レーザ光の飛行時間の測定等に好適な時間測定回路を提供することが可能となる。
1、2、3 時間測定回路
10、10a 第1の時間測定部
20 第2の時間測定部
21a、21b、21c 初段フリップフロップ
22a〜24a、22b〜24b、22c〜24c 後段フリップフロップ
30 多相クロック生成部
40 タイミング信号生成部
50 遅延部
60 第1のレジスタ
70 第2のレジスタ
81、82 加算回路
90 出力段レジスタ

Claims (9)

  1. 互いに同一の周期を有し且つ1/N周期ずつの位相差を有するN個のクロック信号を生成し、前記N個のクロック信号のうちの1つを基準クロック信号として出力すると共に前記基準クロック信号以外の(N−1)個のクロック信号を位相シフトクロック信号として出力する多相クロック生成部と、
    被測定信号の信号レベルの第1の変化時点から第2の変化時点までの期間に含まれる前記基準クロック信号のパルス数をカウントして得たカウント値を第1の時間幅として測定する第1の時間測定部と、
    前記被測定信号の第1の変化時点における前記位相シフトクロック信号の各々の信号レベルに基づいて、前記被測定信号の第1の変化時点から前記第1の時間測定部においてカウントされた前記基準クロック信号の最初のパルスのエッジまでの期間に相当する第2の時間幅を測定すると共に、前記被測定信号の第2の変化時点における前記位相シフトクロック信号の各々の信号レベルに基づいて、前記第1の時間測定部においてカウントされた前記基準クロック信号の最後のパルスの次に生じるパルスのエッジから前記被測定信号の第2の変化時点までの期間に相当する第3の時間幅を測定する第2の時間測定部と、
    前記第1の時間幅と、前記第2の時間幅と、前記第3の時間幅とを合算して、前記被測定信号の前記第1の変化時点から前記第2の変化時点までの時間幅として出力する合算部と、を含む時間測定回路。
  2. 前記第2の時間測定部は、
    各々が、前記(N−1)個の位相シフトクロック信号のいずれかを入力クロックとして与えられ且つ前記被測定信号を入力データとして与えられた(N−1)個の初段フリップフロップと、
    前記初段フリップフロップの各々に少なくとも1つずつ縦列接続され、且つ、各々に共通のクロック信号が入力クロックとして与えられた複数の後段フリップフロップと、
    前記複数の後段フリップフロップのうちの最も後段の(N−1)個の後段フリップフロップの各々の出力値のうち所定の値を呈するものの個数をカウントし、そのカウント値を前記第2および第3の時間幅として出力するエンコーダと、
    を含む時間測定回路。
  3. 互いに異なる時間にパルスが生じる複数のパルス信号に基づいて前記被測定信号を生成する信号生成部を更に含み、
    前記信号生成部は、最初にパルスが生じるパルス信号のパルスに応じて前記被測定信号の信号レベルの第1の変化点を形成し、2番目にパルスが生じるパルス信号のパルスに応じて前記被測定信号の信号レベルの第2の変化点を形成する請求項1または2に記載の時間測定回路。
  4. 前記合算部は、前記第1の時間幅を、前記被測定信号の信号レベルの第1の変化時点から第2の変化時点までの時間幅の整数部とし、前記第2の時間幅及び前記第3の時間幅を、前記被測定信号の信号レベルの前記第1の変化時点から前記第2の変化時点までの時間幅の小数部として合算する請求項1乃至3のいずれか1つに記載の時間測定回路。
  5. 被測定信号の信号レベルの最初の変化時点から2番目以降の変化時点の各々までの各時間幅を測定する時間測定回路であって、
    互いに異なる時間にパルスが生じる複数のパルス信号のパルス毎に立ち上がりエッジと立ち下がりエッジが交互に生じるように前記被測定信号を生成する信号生成部と、
    互いに同一の周期を有し且つ1/N周期ずつの位相差を有するN個のクロック信号を生成し、前記N個のクロック信号のうちの1つを基準クロック信号として出力すると共に前記基準クロック信号以外の(N−1)個のクロック信号を位相シフトクロック信号として出力する多相クロック生成部と、
    前記被測定信号の信号レベルの最初の変化時点から2番目以降の変化時点の各々までの期間に含まれる前記基準クロック信号のパルス数を各々カウントして得たカウント値の各々を第1の時間幅として測定する第1の時間測定部と、
    前記被測定信号の最初の変化時点における前記位相シフトクロック信号の各々の信号レベルに基づいて、前記被測定信号の最初の変化時点から前記第1の時間測定部においてカウントされた前記基準クロック信号の最初のパルスのエッジまでの期間に相当する第2の時間幅を測定すると共に、前記被測定信号の信号レベルの2番目以降の変化時点の各々について、該変化時点における前記位相シフトクロック信号の各々の信号レベルに基づいて、前記第1の時間測定部においてカウントされた該変化時点までの期間に含まれる前記基準クロック信号の最後のパルスの次に生じるパルスのエッジから前記被測定信号の該変化時点までの期間に相当する第3の時間幅を各々測定する第2の時間測定部と、
    前記2番目以降の変化時点の各々について、前記第1の時間幅と、前記第2の時間幅と、前記第3の時間幅とを合算して前記被測定信号の信号レベルの最初の変化時点から該変化時点までの時間幅として出力する合算部と、
    を含む時間測定回路。
  6. 前記第2の時間測定部は、
    各々が、前記(N−1)個の位相シフトクロック信号のいずれかを入力クロックとして与えられ且つ前記被測定信号を入力データとして与えられた(N−1)個の初段フリップフロップと、
    前記初段フリップフロップの各々に少なくとも1つずつ縦列接続され、且つ、各々に共通のクロック信号が入力クロックとして与えられた複数の後段フリップフロップと、
    前記後段フリップフロップのうちの最も後段の(N−1)個の後段フリップフロップの各々の出力値のうち所定の値を呈するものの個数をカウントし、そのカウント値を前記第2および第3の時間幅として出力するエンコーダと、
    を含み、
    前記時間測定回路は、
    前記被測定信号の信号レベルの2番目以降の変化時点における変化が最初の変化時点における変化と同じであるとき、前記エンコーダの出力値に基づいて、前記最も後段の(N−1)個の後段フリップフロップの各々の出力値のうち前記所定の値とは異なる値を呈するものの個数を表わすカウント値に補正する補正部を含む請求項5に記載の時間測定回路。
  7. 前記補正部は、前記被測定信号の信号レベルの2番目以降の変化時点における変化が最初の変化時点における変化と同じであるとき、前記エンコーダの出力値を(N−1)から減算して得た値を補正値として出力する請求項6に記載の時間測定回路。
  8. 前記補正部は、前記被測定信号の信号レベルの2番目以降の変化時点における変化が最初の変化時点における変化と同じであるとき、前記エンコーダの出力値の各ビットを反転させて得た値を補正値として出力する請求項6に記載の時間測定回路。
  9. 前記合算部は、前記第1の時間幅を、前記被測定信号の信号レベルの最初の変化時点から該変化時点までの時間幅の整数部とし、前記第2の時間幅及び前記第3の時間幅を、前記被測定信号の信号レベルの最初の変化時点から該変化時点までの時間幅の小数部として合算する請求項5乃至8のいずれか1つに記載の時間測定回路。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN104111601A (zh) * 2014-07-30 2014-10-22 中国科学院测量与地球物理研究所 一种基于延时环缩减法的时间数字转换器及其时间间隔测量方法
JP2015143642A (ja) * 2014-01-31 2015-08-06 アンリツ株式会社 信号解析装置および信号解析方法
CN105353212A (zh) * 2015-10-13 2016-02-24 珠海格力电器股份有限公司 一种检测信号频率的方法及装置
US11385336B2 (en) * 2018-07-31 2022-07-12 Maxim Integrated Products, Inc. Time of flight sensors and sensing methods

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