JP5497241B1 - 室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物および電気・電子機器 - Google Patents

室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物および電気・電子機器 Download PDF

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Abstract

この室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物は、(A1)両末端アルコキシシリル基封鎖ポリオリガノシロキサン10〜80質量部と、(A2)一般式:R Si(OR4−bで表されるシラン化合物の部分加水分解縮合物(Si数10〜200)90〜20質量部からなるポリオルガノシロキサン(A)100質量部に対して、架橋剤である(B)シラン化合物またはその部分加水分解縮合物(Si数1以上10未満)0.1〜15質量部、および(C)硬化触媒として有機チタン化合物0.1〜15質量部を含有する。低粘度、無溶剤で塗布性が良く、かつ耐スクラッチ性に優れた硬化被膜を形成する。

Description

本発明は、室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物と電気・電子機器に係り、特に、耐スクラッチ性に優れた硬化被膜を形成し、電気・電子機器用コーティング材等として有用な室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物と、この室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物の硬化被膜を有する電気・電子機器に関する。
従来から、室温で硬化してゴム状等の硬化物を生じる種々の室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物が知られている。それらのうちで、電気・電子部品のコーティング材やポッティング材等の用途には、空気中の水分と接触することにより硬化反応を生起するタイプのもので、硬化時に金属類に対する腐食の小さいアルコールやアセトン等を放出するものが、作業性が良好であるうえ、電極や配線の腐食のおそれが少なく、また接着性等にも優れることから、一般に用いられている。
特に、電気・電子部品やそれらを搭載した回路基板の表面を使用環境から保護するために施されるコンフォーマルコーティング剤としては、低粘度の室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物からなるコーティング材(例えば、特許文献1、2参照。)や、シリコーンレジンを溶剤に溶解させたタイプのコーティング材が使用されている。
しかしながら、低粘度の室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物からなるコーティング材では、得られる硬化物(被膜)が脆くて硬度が低く、耐スクラッチ性のような引っかき強度が十分ではなかった。
また、シリコーンレジンを含む溶剤タイプのコーティング材においては、硬化時に加熱による溶剤の除去を必要とし、溶剤の揮発により、作業環境の悪化や、電気・電子部品およびそれらを搭載した回路基板の腐食や劣化を引き起こすおそれがあった。さらに、作業環境を改善するために、溶剤を大気中に放出せずに回収しようとすると、高額の投資を必要とした。
特開平7−173435号公報 特開平7−238259号公報
本発明はこのような従来からの問題を解決するためになされたもので、低粘度、無溶剤で塗布性が良く、かつ硬度が高く、耐スクラッチ性に優れた硬化被膜を形成する室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物を提供することを目的とする。
本発明の室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物は、(A1)一般式:
Figure 0005497241
(式中、Rは、アルキル基、またはアルキル基の水素原子の一部がアルコキシ基で置換されたアルコキシ置換アルキル基、RおよびRは、非置換の一価炭化水素基、もしくは水素原子の一部がハロゲン原子またはシアノアルキル基で置換された一価炭化水素基、Xは二価の酸素(オキシ基)または二価炭化水素基である。また、aは0または1であり、nは1≦n<20の整数である。)
で表される、分子の両末端がアルコキシシリル基で封鎖されたポリオリガノシロキサン10〜80質量部と、
(A2)一般式:R Si(OR4−b………(2)
(式中、Rは非置換の一価炭化水素基、もしくは水素原子の一部がハロゲン原子またはシアノアルキル基で置換された一価炭化水素基、Rは、アルキル基、またはアルキル基の水素原子の一部がアルコキシ基で置換されたアルコキシ置換アルキル基である。また、bは0、1または2であり、bの平均値は0.8〜1.2である。)で表されるシラン化合物の部分加水分解縮合物(ただし、1分子中のSi数は10〜200である。)90〜20質量部
との混合物であるポリオルガノシロキサン(A)100質量部に対して、
(B)一般式:R Si(OR4−c………(3)
(式中、Rは非置換の一価炭化水素基、もしくは水素原子の一部がハロゲン原子またはシアノアルキル基で置換された一価炭化水素基置換、Rは、アルキル基、またはアルキル基の水素原子の一部がアルコキシ基で置換されたアルコキシ置換アルキル基であり、cは0、1または2である。)で表されるシラン化合物またはその部分加水分解縮合物(ただし、1分子中のSi数は1以上10未満である。)0.1〜15質量部、および
(C)硬化触媒として有機チタン化合物0.1〜15質量部
を含有することを特徴とする。
本発明の電気・電子機器は、電極および/または配線の表面に、前記本発明の室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物の硬化物からなる被膜を有することを特徴とする。
なお、本明細書において、「アルコキシシリル基」は、ケイ素原子に少なくとも1個のアルコキシ基が結合された基をいう。また、本明細書において、「ジアルコキシシリル基」を、2官能性基あるいは2官能のシリル基ともいう。同様に、「トリアルコキシシリル基」を、3官能性基あるいは3官能のシリル基ともいう。
本発明の室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物は、低粘度で塗布性が良く、溶剤で希釈することなくそのまま通常の塗布方法で塗布することができる。そして、塗布膜は室温で速やかに硬化し、硬度(Type A)が60以上と高く、耐スクラッチ性に優れた硬化被膜を形成する。したがって、電気・電子機器のコーティング材、ポッティング材等の用途に有用であり、特に、コンフォーマルコーティング剤のような、電気・電子部品をコーティングする用途に好適する。
本発明の電気・電子機器の一例を示す断面図である。
以下、本発明の実施の形態について説明する。
本発明の実施形態の室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物は、
(A1)分子の両末端がアルコキシシリル基で封鎖されたポリオリガノシロキサン(以下、両末端アルコキシシリル基封鎖ポリオリガノシロキサンと示す。)と、(A2)シラン化合物の部分加水分解縮合物(1分子中のSi数は10〜200)とを所定の割合で含有するポリオルガノシロキサン(A)100質量部に対して、
(B)シラン化合物またはその部分加水分解縮合物(1分子中のSi数は1以上10未満)0.1〜15質量部と、
(C)硬化触媒として有機チタン化合物0.1〜15質量部
を含有することを特徴とする。以下、各成分について説明する。
本発明の実施形態において、(A)成分であるポリオルガノシロキサンは、本組成物のベースポリマーとなるものであり、(A1)両末端アルコキシシリル基封鎖ポリオリガノシロキサンと(A2)シラン化合物の部分加水分解縮合物(Si数10〜200)とからなる。
(A1)成分である両末端アルコキシシリル基封鎖ポリオリガノシロキサンは、下記一般式(1)で表される実質的に直鎖状のポリオルガノシロキサンである。
Figure 0005497241
式(1)中、Rは、アルキル基、またはアルキル基の水素原子の一部がアルコキシ基で置換されたアルコキシ置換アルキル基である。複数のRは、互いに同一であっても異なっていてもよい。上記Rのアルキル基として具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基等が例示され、アルコキシ置換アルキル基として具体的には、2−メトキシエチル基、2−エトキシエチル基、3−メトキシプロピル基等が例示される。Rは好ましくはメチル基である。
は、非置換の一価炭化水素基、もしくは水素原子の一部がハロゲン原子またはシアノアルキル基で置換された一価炭化水素基である。複数のRは、互いに同一であっても異なっていてもよい。Rも、非置換の一価炭化水素基、もしくは水素原子の一部がハロゲン原子またはシアノアルキル基で置換された一価炭化水素基である。複数のRは、互いに同一であっても異なっていてもよい。
上記RおよびRの非置換の一価炭化水素基として具体的には、メチル基、エチル基、プロピル基、ブチル基、ペンチル基、ヘキシル基、オクチル基、デシル基、ドデシル基等のアルキル基;シクロヘキシル基等のシクロアルキル基;ビニル基、アリル基のようなアルケニル基、フェニル基、トリル基、キシリル基等のアリール基;ベンジル基、2−フェニルエチル基、2−フェニルプロピル基等のアラルキル基等が挙げられる。置換された一価炭化水素基としては、上記一価炭化水素基の水素原子の一部がハロゲン原子で置換された、例えばクロロメチル基、3−クロロプロピル基、3,3,3−トリフルオロプロピル基のようなハロゲン化アルキル基や、前記一価炭化水素基の水素原子の一部がシアノアルキル基で置換された、例えば3−シアノプロピル基等が例示される。合成が容易で、分子量の割に低い粘度を有し、かつ硬化物(硬化被膜)に良好な物理的性質を与えることから、RおよびRはメチル基であることが好ましい。ただし、硬化被膜に耐熱性や耐寒性を付与する必要がある場合には、Rおよび/またはRの一部を、フェニル基のようなアリール基とすることが好ましい。
また、Xは、二価の酸素(オキシ基)または二価炭化水素基である。2個のXは同一であっても異なっていてもよい。二価炭化水素としては、メチレン基、エチレン基、プロピレン基、トリメチレン基等のアルキレン基、フェニレン基等のアリーレン基が例示される。合成の容易さから、二価の酸素原子(オキシ基)またはエチレン基が好ましく、特にオキシ基が好ましい。
式(1)中、aは0または1であり、nは1≦n<20の整数である。nの値が20以上であると、後述する(A2)成分との相溶性が悪く、均一な組成物が得られない。nの値は3〜15の整数であることが好ましい。
(A1)成分である両末端アルコキシシリル基封鎖ポリオリガノシロキサンは、例えば、オクタメチルシロキサンのような環状ジオルガノシロキサン低量体を、水の存在下に酸性触媒またはアルカリ性触媒によって開環重合または開環共重合させることにより得られる両末端水酸基含有ジオリガノポリシロキサンに、メチルトリメトキシシラン等を反応させ、両末端水酸基をメトキシ基等で封鎖することにより得ることができる。
(A2)成分は、一般式:R Si(OR4−b………(2)
で表されるシラン化合物の部分加水分解縮合物である。
式(2)中、Rは非置換の一価炭化水素基、もしくは水素原子の一部がハロゲン原子またはシアノアルキル基で置換された一価炭化水素基であり、前記した(A1)成分のRと同様の基が例示される。メチル基であることが好ましい。また、Rは、アルキル基またはアルコキシ置換アルキル基であり、前記した(A1)成分のRと同様の基が例示される。メチル基であることが好ましい。
さらに、bは0、1または2であり、bの平均値は0.8〜1.2である。bの平均値は、好ましくは0.9〜1.1である。
なお、bの値は、式(2)で表されるシラン化合物において、ケイ素原子に結合したRの数(整数)を表す。そして、この数bの平均値が0.8〜1.2であるとは、Rの結合数であるbの値が0、1または2である1種または2種以上のシラン化合物が、各シラン化合物のモル比が調整されることで、bの値の平均値が0.8〜1.2となるように配合されていることを意味する。
例えば、bの平均値が0.8〜1.0の範囲では、式(2)におけるbが0である化合物:Si(ORと、bが1である化合物:RSi(ORとが配合されており、この2種のシラン化合物の混合物における、bが1である化合物:RSi(ORの配合割合(モル比)が、bの平均値に相当する。
また、例えば、bの平均値が1.0〜1.2の範囲では、式(2)におけるbが1である化合物:RSi(ORと、bが2である化合物:R Si(ORとが配合されており、この2種のシラン化合物の混合物における、bが2である化合物:R Si(ORの配合割合(モル比)に1を加えたものが、bの平均値となる。
このように、(A2)成分である部分加水分解縮合物の元となるシラン化合物は、一般式(2)におけるbの値が0であるテトラアルコキシシラン、bの値が1であるオルガノトリアルコキシシラン、およびbの値が2であるオルガノジアルコキシシランの1種または2種以上を含み、これらの含有割合(モル比)を調整することで、前記したbの平均値を0.8〜1.2の範囲としたものである。
(A2)成分は、前記シラン化合物の部分加水分解縮合物で、例えば、メチルトリメトキシシラン等を水の存在化、酸性触媒またはアルカリ性触媒によって部分加水分解することにより得られる。また、部分加水分解で生じたシラノール基を、メチルトリメトキシシラン等でエンキャップすることにより得られる。(A2)成分は、1分子中のSi数が10〜200のものである。(A2)成分のSi数が10未満では、十分な耐スクラッチ性を有する硬化被膜が得られない、また、(A2)成分のSi数が200を超えると、塗布性や硬化被膜の機械的特性が低下する。(A2)成分のSi数は、20〜150であることが好ましい。
(A2)成分であるシラン化合物の部分加水分解縮合物は、1種を単独で使用してもよく、2種以上を混合して使用してもよい。
本発明の室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物のベースポリマーである(A)成分は、前記(A1)両末端アルコキシシリル基封鎖ポリオリガノシロキサンと、前記(A2)シラン化合物の部分加水分解縮合物とから構成される。(A1)成分と(A2)成分との配合割合は、(A)成分全体を100質量部として、(A1)成分を10〜80質量部とし、(A2)成分を90〜20質量部とする。(A1)成分の配合量が10質量部未満であり(A2)成分の配合量が90質量部を超えると、無溶剤でそのままコーティング材として使用可能な組成物を得ることができない。また、(A1)成分の配合量が80質量部を超え(A2)成分の配合量が20質量部未満の場合には、十分な耐スクラッチ性を有する硬化被膜が得られない。(A1)成分と(A2)成分とのより好ましい配合割合は、(A1)成分が30〜70質量部、(A2)成分が70〜30質量部である。
本発明の実施形態において、(B)成分は、一般式:R Si(OR4−c………(3)で表されるシラン化合物、またはその部分加水分解縮合物であり、前記(A)成分であるベースポリマーの架橋剤として働く。
式(3)中、Rは非置換の一価炭化水素基、もしくは水素原子の一部がハロゲン原子またはシアノアルキル基で置換された一価炭化水素基であり、前記した(B)成分のRおよび(A1)成分のRと同様の基が例示される。メチル基、ビニル基等が好ましい。また、Rは、アルキル基またはアルコキシ置換アルキル基であり、前記した(B)成分のRおよび(A1)成分のRと同様の基が例示される。メチル基、エチル基等が好ましい。さらに、cは0、1または2である。
(B)成分のシラン化合物またはその部分加水分解縮合物の1分子中のSi数は、1以上10未満である。すなわち、(B)成分であるシラン化合物は、1分子中に1個のSi原子を有し、その部分加水分解縮合物は、1分子中に2〜9個のSi原子を有する。
このような(B)成分のうちで、シラン化合物としては、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、メチルトリメトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、フェニルトリメトキシシラン、メチルトリエトキシシラン、ビニルトリエトキシシラン、フェニルトリエトキシシラン、テトラプロポキシシラン、テトライソプロポキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、ジフェニルジメトキシシラン、ビニルメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシラン等が例示される。これらのシラン化合物またはその部分加水分解縮合物は、1種を単独で使用してもよく2種以上を混合して使用してもよい。
合成が容易で、組成物の保存安定性を損なうことがなく、金属類に対する腐食性が少ないこと、かつ大きな架橋反応速度すなわち硬化速度が得られることから、架橋剤である(B)成分としては、テトラメトキシシラン、テトラエトキシシラン、メチルトリメトキシシラン、ビニルトリメトキシシラン、ジメチルジメトキシシラン、ビニルメチルジメトキシシラン、ジメチルジエトキシシランを用いることが好ましく、特にメチルトリメトキシシランの使用が好ましい。
(B)成分の配合量は、前記(A)成分100質量部に対して0.1〜15質量部であり、好ましくは0.5〜10質量部である。(B)成分の配合量が0.1質量部未満では、架橋が十分に行われず、十分な耐スクラッチ性を有する硬化物(硬化被膜)が得られないおそれがあるうえ、組成物の保存安定性が不良となる。反対に、(B)成分が15質量部を超えると、硬化の際の収縮率が大きくなり、硬化後の物性が低下する。また、硬化速度が著しく遅くなり、経済的に不利である。
本発明の室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物において、(C)成分である有機チタン化合物は、(A1)成分と(A2)成分からなる(A)成分のアルコキシ基同士、および/または(A)成分のアルコキシ基と(B)成分である架橋剤のアルコキシ基とを、水分の存在下に反応させて架橋構造を形成させるための硬化触媒である。
(C)硬化触媒である有機チタン化合物としては、テトラエトキシチタン、テトラプロポキシチタン、テトラブトキシチタン、ジイソプロポキシ−ビス(アセト酢酸エチル)チタン、ジイソプロポキシ−ビス(アセト酢酸メチル)チタン、ジイソプロポキシ−ビス(アセチルアセトン)チタン、ジブトキシ−ビス(アセト酢酸エチル)チタン、ジメトキシ−ビス(アセト酢酸エチル)チタン等を挙げることができる。これらの有機チタン化合物は、1種を単独で使用してもよく、2種以上を混合して使用してもよい。微量の存在で大きな触媒能を持ち、かつ不純物の少ない組成物が得られることから、これらのなかでも特に、ジイソプロポキシ−ビス(アセト酢酸エチル)チタン等のチタンキレート類が好ましい。
なお、室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物においては、ベース成分のアルコキシ基同士の反応や、ベース成分のアルコキシ基と架橋剤のアルコキシ基との反応を促進するための硬化触媒として、ジブチルスズジオクトエートやジブチルスズジラウレートのような有機スズ化合物が使用されることがあるが、前記(A)成分および(B)成分とともに硬化触媒として有機スズ化合物を使用した場合には、硬化に時間がかかり過ぎ好ましくない。本発明においては、組成物の硬化性(硬化の速さ)と硬化被膜の耐スクラッチ性の両方の観点から、前記有機チタン化合物が使用される。
(C)成分である有機チタン化合物の配合量は、前記(A)成分100質量部に対して0.1〜15質量部、好ましくは0.1〜10質量部である。0.1質量部未満では、硬化触媒として十分に機能せず、硬化に長い時間がかかるばかりでなく、特に空気との接触面から遠い深部における硬化が不十分となる。反対に15質量部を超えると、その配合量に見合う効果がなく無意味であるばかりか非経済的である。また、保存安定性も低下する。
本発明の実施形態においては、塗布性および硬化後の物性を調整する目的で、(D)下記一般式(4)で表される両末端アルコキシシリル基封鎖ポリオリガノシロキサンを、さらに配合することができる。
Figure 0005497241
式(4)中、Rは、アルキル基またはアルコキシ置換アルキル基である。複数のRは、互いに同一であっても異なっていてもよい。Rとしては、前記(A1)成分のRと同様の基が例示される。好ましい基も同じである。RおよびR10は、非置換の一価炭化水素基、もしくは水素原子の一部がハロゲン原子またはシアノアルキル基で置換された一価炭化水素基である。複数のRおよび複数のR10は、互いに同一であっても異なっていてもよい。Rとしては、前記(A1)成分のRと同様の基が例示される。好ましい基も同じである。また、R10としては、前記(A1)成分のRと同様の基が例示される。好ましい基も同じである。
式(4)中、Yは二価の酸素(オキシ基)または二価炭化水素基である。2個のYは同一であっても異なっていてもよい。Yとしては、前記(A1)成分のXと同様の基が例示される。好ましい基も同じである。
dは0または1であり、mは20≦n<200の正数である。mの値が200以上であると、相溶性が悪く(D)成分が分離してしまうため、好ましくない。より好ましいmの値は20〜100の整数である。
(D)成分の配合量は、前記(A)成分100質量部に対して1〜100質量部とすることが好ましく、より好ましくは10〜80質量部である。(D)成分の配合量が100質量部を超えると、保存中にその一部が系より分離し、また硬化後の耐スクラッチ性が低下する。
本発明の室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物には、(E)接着性付与剤として、トリス(N−トリアルコキシシリルプロピル)イソシアヌレートのようなイソシアヌレート化合物を使用することができる。イソシアヌレート化合物としては、1,3,5−トリス(N−トリメトキシシリルプロピル)イソシアヌレート等が挙げられる。
組成物への相溶性の観点から、(E)成分である接着性付与剤の配合量は、(A)成分100質量部に対して0.01〜5質量部とすることが好ましい。0.01質量部未満では接着性を向上させる効果が少なく、またその発現が遅い。5質量部を超えて配合すると、保存中の分離や硬化物の収縮が生じるばかりでなく、保存安定性と作業性が悪くなり、また黄変現象が生じるおそれがある。0.1〜2質量部の範囲がより好ましい。
また、本発明の室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物には、この種の組成物に通常配合されている無機充填剤、顔料、チクソトロピー性付与剤、押出作業性を改良するための粘度調整剤、紫外線吸収剤、防かび剤、耐熱性向上剤、難燃剤等の各種添加剤を、本発明の効果を阻害しない範囲で、必要に応じて配合することができる。無機充填剤の例としては、煙霧質シリカ、焼成シリカ、沈澱シリカ、煙霧質チタンおよびこれらの表面をオルガノクロロシラン類、ポリオルガノシロキサン類、ヘキサメチルジシラザン等で疎水化したもの等が挙げられる。その他、炭酸カルシウム、有機酸表面処理炭酸カルシウム、けいそう土、粉砕シリカ、アルミノケイ酸塩、マグネシア、アルミナ等も使用可能である。無機充填剤の配合量は、(A)成分100質量部に対して1〜100質量部が好ましく、3〜50質量部がより好ましい。
本発明の室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物は、上記(A)〜(C)成分および必要に応じて配合される各種成分を、湿気を遮断した状態で混合することにより得られる。得られた組成物は、23℃で0.05〜0.5Pa・sの粘度を有する。そして、密閉容器中でそのまま保存し、使用時に空気中の水分に曝すことによってはじめて硬化する、いわゆる1包装型室温硬化性組成物として使用することができる。また、本発明の組成物を、例えば架橋剤と硬化触媒を別に分けて調製し、適宜2〜3個の別々の容器に分けて保存し、使用時にこれらを混合する、いわゆる多包装型室温硬化性組成物として使用することもできる。なお、各成分の混合の順序は特に限定されるものではない。
本発明の室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物は、前記したように23℃で0.05〜0.5Pa・sの十分に低い粘度を有するので、塗布性が良好であり、溶剤で希釈することなくそのまま通常のコーティング方法で塗布することができる。塗布膜は、空気中の水分と接触することにより室温で速やかに硬化する。硬化被膜の硬度(Type A)は60以上と高く、電気的・機械的特性、とりわけ耐スクラッチ性に優れている。
したがって、本発明の組成物は、電気・電子機器のコーティング材、ポッティング材等の用途に有用であり、特にコンフォーマルコーティング剤のような、電気・電子部品やこれらを搭載した回路基板の表面を保護する用途に好適する。具体的には、例えば、エポキシ樹脂、フェノール樹脂、ポリイミド樹脂等からなる基板やアルミナ等のセラミックからなる基板上に、ITO、銅、アルミニウム、銀、金等からなる電極および配線を形成した配線基板上に、IC等の半導体装置、抵抗体、コンデンサ等の電子部品を搭載した電気・電子機器において、電極や配線等のコーティング材として好適に使用される。
本発明の室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物を配線基板の電極や配線のコーティング材として使用する場合、塗布方法としては、ディップ法、刷毛塗り法、スプレー法、ディスペンス法等を用いることができ、塗布層の厚さは、通常0.01〜3mm、好ましくは0.05〜2mmである。厚さが0.01mmに満たないと、耐スクラッチ性が十分に得られないおそれがある。また、3mmを超えると、それ以上の効果が得られないばかりでなく、内部が硬化するのに時間がかかり不経済である。
次に、本発明の電気・電子機器について図面を参照して説明する。図1は、本発明に係る電気・電子機器(装置)の一例を示す断面図である。
実施形態の電気・電子機器1は、ガラスエポキシ基板のような絶縁基板2aの上に、銅箔のような導電体からなる配線2bが形成された配線基板2を備えている。そして、このような配線基板2の一方の主面の所定の位置に、ICパッケージ3やコンデンサ4のような電気・電子部品が搭載され、前記配線2bと電気的に接続されている。なお、ICパッケージ3やコンデンサ4と配線2bとの接続は、これらの部品のリード端子3a、4aが配線基板2の部品孔(図示を省略する。)に挿入され、はんだ等を介して接合されることで行われている。
また、配線基板2の部品搭載面には、前記した本発明の室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物の硬化物からなる硬化被膜5が、ICパッケージ3およびコンデンサ4の上面を覆うように形成されている。
このような実施形態の電気・電子機器1においては、配線基板2およびその主面に搭載された電気・電子部品が、耐スクラッチ性に優れ、摩擦によって剥がれやめくれが生じにくい硬化被膜5で覆われているので、信頼性が高い。
以下、本発明を実施例により具体的に説明するが、これらの実施例は本発明の範囲を限定するものではない。なお、実施例中、「部」とあるのはいずれも「質量部」を表し、粘度は全て23℃、相対湿度50%での値を示す。
実施例1
(A1-1)分子鎖両末端がメチルジメトキシシリル基で封鎖されたポリジメチルシロキサン(粘度0.013Pa・s、分子中のSi数10)50部に、(A2-1)式:(CH)Si(OCHで表されるシラン化合物の部分加水分解縮合物(Si数120)50部、(B-1)メチルトリメトキシシラン5部、(C-1)ジイソプロポキシ−ビス(アセト酢酸エチル)チタン2部、および(E)1,3,5−トリス(N−トリメトキシシリルプロピル)イソシアヌレート0.2部をそれぞれ配合し、湿気遮断下で均一に混合してポリオルガノシロキサン組成物を得た。
実施例2
(A1-1)分子鎖両末端がメチルジメトキシシリル基で封鎖されたポリジメチルシロキサン(粘度0.013Pa・s、分子中のSi数10)40部に、(A2-2)式:(CH)Si(OCHで表されるシラン化合物の部分加水分解縮合物(Si数70)60部、(D-1)分子鎖両末端がメチルジメトキシシリル基で封鎖されたポリジメチルシロキサン(粘度0.09Pa・s、分子中のSi数80)30部、(B-1)メチルトリメトキシシラン6部、(C-1)ジイソプロポキシ−ビス(アセト酢酸エチル)チタン2部、および(E)1,3,5−トリス(N−トリメトキシシリルプロピル)イソシアヌレート0.2部をそれぞれ配合し、実施例1と同様に混合してポリオルガノシロキサン組成物を得た。
実施例3
(A1-1)分子鎖両末端がメチルジメトキシシリル基で封鎖されたポリジメチルシロキサン(粘度0.013Pa・s、分子中のSi数10)60部に、(A2-3)式:(CH)Si(OCHで表されるシラン化合物の部分加水分解縮合物(Si数30)40部、(D-1)分子鎖両末端がメチルジメトキシシリル基で封鎖されたポリジメチルシロキサン(粘度0.09Pa・s、分子中のSi数80)30部、(B-1)メチルトリメトキシシラン5部、および(C-1)ジイソプロポキシ−ビス(アセト酢酸エチル)チタン2部をそれぞれ配合し、実施例1と同様に混合してポリオルガノシロキサン組成物を得た。
実施例4〜6
表1に示す各成分を同表に示す組成でそれぞれ配合し、実施例1と同様に混合してポリオルガノシロキサン組成物を得た。
なお、表1において、(A1-2)は、分子鎖両末端がメチルジメトキシシリル基で封鎖されたポリジメチルシロキサン(粘度0.017Pa・s、分子中のSi数15)を、(D-2)は、分子鎖両末端がメチルジメトキシシリル基で封鎖されたポリジメチルシロキサン(粘度0.07Pa・s、分子中のSi数60)を、(B-2)は、メチルトリメトキシシランの部分加水分解縮合物(分子中のSi数7)を、(C-2)はジブチルスズジラウレートを、それぞれ示している。
比較例1〜4
表2に示す各成分を同表に示す組成でそれぞれ配合し、実施例1と同様に混合してポリオルガノシロキサン組成物を得た。
なお、表2において、(D-3)は、分子鎖両末端がメチルジメトキシシリル基で封鎖されたポリジメチルシロキサン(粘度:0.7Pa・s、分子中のSi数300)を示している。また、比較例4においては、硬化触媒として、(C-2)ジブチルスズジラウレートを使用した。
実施例1〜6および比較例1〜4で得られたポリオルガノシロキサン組成物について、下記に示す方法で各種特性を測定し評価した。これらの結果を組成とともに、実施例1〜6については表1に、比較例1〜4については表2にそれぞれ示す。
[外観]
上記ポリオルガノシロキサン組成物の外観を目視で観察し、成分が均一に混合されているかどうかを調べた。
[粘度]
上記ポリオルガノシロキサン組成物の粘度を、JIS K6249に拠って測定した。回転粘度計(芝浦セムテック株式会社製、製品名:ビスメトロンVDA−2)を使用し、回転速度30rpm、回転子No.2で測定を行った。
[タックフリータイム]
上記ポリオルガノシロキサン組成物のタックフリータイムを、JIS K6249に拠って測定した。試料を、泡が入らないようにアルミシャーレに平らに入れた(試料の厚みは3mm)後、エチルアルコールで洗浄した指先で表面に軽く触れた。試料が指先に付着しなくなる時間を、タックフリータイムとした。
[硬度]
上記ポリオルガノシロキサン組成物の硬度を、JIS K6249に拠り、以下に示すようにして測定した。すなわち、ポリオルガノシロキサン組成物を厚さ2mmのシート状に成形した後、23℃、50%RHで3日間放置して硬化させた。次いで、得られた硬化シートを3枚重ね、デュロメータ(Type A)により硬度を測定した。
[耐スクラッチ性]
上記ポリオルガノシロキサン組成物を、JIS Z3197(ISO9455)で規定されたくし形電極基板(銅電極、パターン幅0.316mm)上に100μmの厚さで塗布し、23℃、50%RHで3日間放置して硬化させた。次いで、形成された硬化被膜に、JIS K5600−5−4に準じて鉛筆硬度試験を行い、耐スクラッチ性を評価した。鉛筆硬度試験では、2Bおよび4Bの鉛筆を用い、750g荷重で線を引き、硬化被膜のその後の状態を目視し、下記の基準に従って評価した。
<評価基準>
評価○:硬化被膜のめくれなし。
評価×:硬化被膜が破壊。めくれ有り。
Figure 0005497241
Figure 0005497241
表1から、実施例1〜6で得られたポリオルガノシロキサン組成物は、均一で薄膜塗布に適した粘度を有しているうえに、硬度(Type A)が60以上と高く、耐スクラッチ性に優れた硬化被膜を形成することがわかった。
それに対して、表2からわかるように、比較例1および2では、均一で薄膜塗布に適した粘度を有するポリオルガノシロキサン組成物は得られなかった、また、比較例3で得られたポリオルガノシロキサン組成物は、薄膜塗布が可能な粘度ではあるが、得られた硬化被膜は硬度が低く、耐スクラッチ性も不良であった。さらに、比較例4で得られたポリオルガノシロキサン組成物は、タックフリータイムが長く、硬化に時間がかかり過ぎことがわかった。
本発明の室温硬化性ポリオルガノシロキサンは、電気・電子機器のコーティング材、ポッティング材等の用途に有用であり、特に、基板上に電子部品等が搭載された電気・電子機器におけるコンフォーマルコーティング剤として好適する。
1…電気・電子機器、2…配線基板、3…ICパッケージ、4…コンデンサ、5…室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物の硬化被膜。

Claims (4)

  1. (A1)一般式:
    Figure 0005497241
    (式中、Rは、アルキル基、またはアルキル基の水素原子の一部がアルコキシ基で置換されたアルコキシ置換アルキル基、RおよびRは、非置換の一価炭化水素基、もしくは水素原子の一部がハロゲン原子またはシアノアルキル基で置換された一価炭化水素基、Xは二価の酸素(オキシ基)または二価炭化水素基である。また、aは0または1であり、nは1≦n<20の整数である。)
    で表される、分子の両末端がアルコキシシリル基で封鎖されたポリオリガノシロキサン10〜80質量部と、
    (A2)一般式:R Si(OR4−b………(2)
    (式中、Rは非置換の一価炭化水素基、もしくは水素原子の一部がハロゲン原子またはシアノアルキル基で置換された一価炭化水素基、Rは、アルキル基、またはアルキル基の水素原子の一部がアルコキシ基で置換されたアルコキシ置換アルキル基である。また、bは0、1または2であり、bの平均値は0.8〜1.2である。)で表されるシラン化合物の部分加水分解縮合物(ただし、1分子中のSi数は10〜200である。)90〜20質量部
    との混合物であるポリオルガノシロキサン(A)100質量部に対して、
    (B)一般式:R Si(OR4−c………(3)
    (式中、Rは非置換の一価炭化水素基、もしくは水素原子の一部がハロゲン原子またはシアノアルキル基で置換された一価炭化水素基置換、Rは、アルキル基、またはアルキル基の水素原子の一部がアルコキシ基で置換されたアルコキシ置換アルキル基であり、cは0、1または2である。)で表されるシラン化合物またはその部分加水分解縮合物(ただし、1分子中のSi数は1以上10未満である。)0.1〜15質量部、および
    (C)硬化触媒として有機チタン化合物0.1〜15質量部
    を含有することを特徴とする室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物。
  2. さらに、(D)一般式:
    Figure 0005497241
    (式中、Rは、アルキル基、またはアルキル基の水素原子の一部がアルコキシ基で置換されたアルコキシ置換アルキル基、RおよびR10は、非置換の一価炭化水素基、もしくは水素原子の一部がハロゲン原子またはシアノアルキル基で置換された一価炭化水素基、Yは二価の酸素(オキシ基)または二価炭化水素基である。また、dは0または1であり、mは20≦n<200の整数である。)で表される分子の両末端がアルコキシシリル基で封鎖されたポリオリガノシロキサン1〜100質量部を含有することを特徴とする請求項1記載の室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物。
  3. 電気・電子機器の電極および/または配線のコーティング用組成物であることを特徴とする請求項1または2記載の室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物。
  4. 電極および/または配線の表面に、請求項1乃至3のいずれか1項記載の室温硬化性ポリオルガノシロキサン組成物の硬化物からなる被膜を有することを特徴とする電気・電子機器。
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