JP5463299B2 - 細長い、交差指型のエミッタ領域およびベース領域をうら側に有する裏面電極型太陽電池ならびにその製造方法 - Google Patents

細長い、交差指型のエミッタ領域およびベース領域をうら側に有する裏面電極型太陽電池ならびにその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5463299B2
JP5463299B2 JP2010537371A JP2010537371A JP5463299B2 JP 5463299 B2 JP5463299 B2 JP 5463299B2 JP 2010537371 A JP2010537371 A JP 2010537371A JP 2010537371 A JP2010537371 A JP 2010537371A JP 5463299 B2 JP5463299 B2 JP 5463299B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
emitter
base
region
elongated
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2010537371A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2011507245A (ja
Inventor
ニルス−ペーター ハーダー
Original Assignee
インスティトュート フィュル ゾラールエネルギーフォルシュング ゲーエムベーハー
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by インスティトュート フィュル ゾラールエネルギーフォルシュング ゲーエムベーハー filed Critical インスティトュート フィュル ゾラールエネルギーフォルシュング ゲーエムベーハー
Publication of JP2011507245A publication Critical patent/JP2011507245A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5463299B2 publication Critical patent/JP5463299B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier
    • H01L31/068Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier the potential barriers being only of the PN homojunction type, e.g. bulk silicon PN homojunction solar cells or thin film polycrystalline silicon PN homojunction solar cells
    • H01L31/0682Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by at least one potential-jump barrier or surface barrier the potential barriers being only of the PN homojunction type, e.g. bulk silicon PN homojunction solar cells or thin film polycrystalline silicon PN homojunction solar cells back-junction, i.e. rearside emitter, solar cells, e.g. interdigitated base-emitter regions back-junction cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0224Electrodes
    • H01L31/022408Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/022425Electrodes for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • H01L31/022441Electrode arrangements specially adapted for back-contact solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/0352Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions
    • H01L31/035272Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/03529Shape of the potential jump barrier or surface barrier
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/547Monocrystalline silicon PV cells

Description

本発明は細長い、交差指型のエミッタ領域およびベース領域をうら側に有する裏面電極型太陽電池に、ならびにこのタイプの裏面電極型太陽電池の製造方法に関する。
従来の太陽電池はおもて側の電極、すなわち、光が当たる、太陽電池のおもて側に配置された電極、および、光が当たらない、うら側の電極を有する。これら従来の太陽電池では、光を吸収する半導体基板の最大の体積部分が、まさにうら側の電極に接触される半導体型(例えば、p型)である。この体積部分は慣習的にベースと呼ばれ、それゆえ、うら側の電極は慣習的にベース電極と呼ばれる。反対側の半導体型(例えば、n型)の薄い層は、半導体基板のおもて側の表面領域に位置する。この層は慣習的にエミッタと呼ばれ、それに接触する電極はエミッタ電極と呼ばれる。
したがって、このタイプの従来の太陽電池では、電流の収集に極めて重要なpn接合は太陽電池のおもて側表面のすぐ下に位置する。電荷キャリアペアの最高生成速度は太陽電池の光が当たる側で示され、そのためほとんどの光生成(少数)電荷キャリアはpn接合までのほんの短い距離を進めばよいので、pn接合のこの位置は、特に低〜中程度の品質の半導体材料を使用する際に、電流の効率的な収集のために有利である。
しかし、太陽電池のおもて側に配置されるエミッタ電極は、おもて側のそれに関係する部分的な影のおかげで、効率の損失を招く。太陽電池の効率を増加するためには、ベース電極およびエミッタ電極を太陽電池のうら側に配置することが基本的に有利である。この目的のために、対応するエミッタ領域が太陽電池のうら側に形成されなければならない。エミッタ領域およびベース領域の両方が使用中に光が当たらない側に位置し、エミッタ電極およびベース電極がうら側に形成される太陽電池は、裏面電極型太陽電池(裏面コンタクト型太陽電池)と呼ばれる。
電流を収集するpn接合が少なくとも部分的に太陽電池のうら側に配置された、このタイプの裏面電極型太陽電池は、エミッタ領域およびベース領域が太陽電池のうら側に交互に配置されるという問題に対処しなければならない。従って、pn接合はもはや太陽電池の表面全体に形成され得ない;そのかわり、大きなベース領域とともにpn接合を形成するうら側のエミッタ領域は、今や、太陽電池のうら側表面の一部にのみ形成し得る。うら側のベース領域は、ベースに接触するために、それらの間に提供されなければならない。
従来の裏面電極型太陽電池の一例が図7に断面図で示される。半導体基板101はその体積中に、例えばp型半導体の、ベース領域を形成する。エミッタ領域105はうら側表面103に形成される。エミッタ領域105はうら側表面103の大部分を覆う。半導体基板101のベース領域107がうら側表面103にまで到達する、幅の狭い、線状の領域は、細長い、指型のエミッタ領域105の間にフリーのまま残される。うら側表面103は、例えば、太陽電池のうら側の反射面に使うことができるように、低屈折率を持ち得る誘電体保護層109でおおわれ、例えば、二酸化ケイ素から形成されることができる。保護層109は、エミッタ電極113がエミッタ領域105に接触することができる局所的な開口部111を有する。さらに、誘電体層109はベース電極117が局所的にうら側表面に達するベース領域107と接触することができるベース開口部115を有する。エミッタ電極113およびベース電極117は、幅の狭いギャップ119によって相互に分離され、かくして電気的に絶縁される。
図8は、図7に示した従来の裏面電極型太陽電池のうら側の平面図である。細長い、指型のエミッタおよびベース電極113、117がクシのような形でどのように交互に配置されているかがわかる。エミッタ電極113は、この場合、ベース電極117よりもかなり広い幅を有する。それらの左右の端では、エミッタ電極113が、エミッタ金属被覆を拡大するものとして太陽電池の端に形成された、エミッタ電流を収集するエミッタブスバー121に接続する。したがって、ベース電極117はベースブスバー123に、電池のうら側の反対側の端に到達する。
記載された従来の裏面電極型太陽電池には、以下の最適化の問題がある:光によってベース基板101に生成された電荷キャリアの効率的な収集のためには、生成された少数電荷キャリアがpn接合までの短い距離を有し、それらが再結合する前に収集されるようにするために、できるだけ広いエミッタ領域105、すなわち、できるだけ広いpn接合が有利である。しかし、この従来の太陽電池のデザインでは、広いエミッタのために、ベース基板101中の多数電荷キャリアにとって長距離を伴う。これは、特に、低導電性を示す低濃度でドープされたベース基板では、抵抗損失につながり得る。それゆえ、太陽電池の最適化は電流収集および直列抵抗の最小化の間のトレードオフで行われなければならない。
これらの問題は、指形電極(フィンガー形電極113,117が組み合わせられた太陽電池の太陽電池のブスバー121,123の下で激しくなる。この場合には、ブスバーは、電流ピックアップ点、「はんだパッド」までの複数の極の電流の合計を運ぶ。ここでは電流強度が高いので、ブスバーは、図8に表されるように、極よりも広くなるように設計されなければならない。特に、エミッタブスバー121の下では、それゆえ、直列抵抗の問題が大いに増大し、かくして全体として太陽電池の効率を低下させ得る。電流収集容量の減少は、この従来の太陽電池デザインではエミッタがない、ブスバー123の領域でも起こり得る。これによって、全体として、太陽電池の効率に負の影響をもたらし得る。さらに、エミッタブスバーおよびベースブスバーについて言及された損失は、はんだパッドとして使えるブスバーの広げられた領域の下から、強烈な形で発生する。
裏面電極型太陽電池の最適化において、考慮されるさらなる態様は、製造コストを最小化するために、エミッタ電極113およびベース電極117は、共通の方法工程において、例えば、金属の真空蒸着によって、一般的に形成されるという事実である。両方の電極タイプはかくして実質的に同一の厚みとなる。ところが、図7および8に表される裏面電極型太陽電池では、ベース電極117はエミッタ電極113よりもずっと狭い。しかし、電極113,117の両方は、同じ電流を放電しなければならないので、ベースからのベース電極を通った電流の効率的な消散にとって十分な電極の金属層の厚みを適用するとき、エミッタ電極は要求されるよりもずっと厚いといえる。別の言葉では、ベースおよびエミッタ電極が共通のプロセス工程で堆積されるとき、不必要に大量の材料がより広いエミッタ電極に堆積される。しかし、電極への金属コーティングの適用および関連する材料コストは、太陽電池の全コストの相当部分である。
それゆえ、エミッタ電極およびベース電極の両方に対して、だいたい同じ幅で、金属電極を形成すること、および、この場合には、金属電極の電気抵抗ができるだけ低く、かつ、薄い金属層の厚みで達成できるように、好ましくは両方の電極タイプを可能な限り広くすることが望ましい。
図9に概要が図示されるような裏面電極型太陽電池が、裏面電極型太陽電池に負わせられた、上述の、部分的に矛盾する要求を満たすことを意図して、開発された。これらの裏面電極型太陽電池は、非常に微細な構造をエミッタ領域205およびベース領域207ならびにエミッタ電極213およびベース電極217の両方に有する。この場合には、指の幅は、典型的には、5μmと100μmの間である。
図示された太陽電池タイプは電流を収集するpn接合を形成する狭いエミッタ領域205を有する。狭いベース領域207は、どちらの場合でも、それらの間に位置する。このようにして、多数電荷キャリアが半導体基板201の内部で、ベース領域207までおよびそれからベース電極217までの、ほんの短い距離しか進む必要がないことを確実にすることができる。同時に、隣接するエミッタ領域205の間の短い距離は、少数電荷キャリアが電流を収集するpn接合までのほんの短い距離を移動すればよいことを確実し、それにより良好な電流収集効率が保証される。
それでもやはり、特に、広い裏面電極型太陽電池の費用効率の高い大量生産にとって、エミッタ領域およびベース領域ならびにエミッタ電極およびベース電極の両方を、5μmから100μmの幅を有するそのような細かい構造で正確に製造することは大きな技術的挑戦であろうということが気づかれている。研究室スケールでは、例えば、フォトリソグラフィのような高精度な方法が頻繁にこの目的のために使用される。これらの製造方法は、個別のエラーであっても、特にエミッタ電極およびベース電極の隣接する指(フィンガー間の電極分離においては、太陽電池に深刻なダメージを引き起こし得るため、非常に高い信頼性で実施されなければならない。関連して、微細に構造化された裏面電極型太陽電池は、それゆえ、安価な太陽電池の工業的な大量生産には一般に適さない。
図9に示される、微細構造を有する裏面電極型太陽電池に関するさらなる問題は、小さな指の幅のせいで、隣接するエミッタ電極およびベース電極213,217の間に、電気的絶縁のために必ず設置されなければならないギャップ219が太陽電池のうら側表面積のかなりの部分を占めるという事実である。したがって、極の厚みは、低直列電気抵抗が電流の水平伝導によって達成されることができるように、十分に大量の金属を提供するように、対応して厚くなるように選択されなければならない。特に、スパッタリングまたはエレクトロプレーティングのようなコーティング方法では、そのような狭く、同時に厚い金属電極は、技術的に困難であるか、またはコストの増大を伴う。
それゆえ、従来の裏面電極型太陽電池の上述の問題点が少なくとも部分的に解決される、裏面電極型太陽電池および裏面電極型太陽電池を製造する方法に対する要求がある。特に、一方では、良好な電流収集特性を示し、他方では、ベース内での低直列抵抗を可能とする裏面電極型太陽電池に対する要求がある。この場合において、このタイプの太陽電池は技術的にシンプルで、再現性があり、信頼性の高い方法で、かつ、低コストで製造されることができることが望ましい。
この要求は、本発明の独立請求項の主題によって満たされる。本発明の好適な実施態様が従属請求項、および以下の説明に記載される。
すべての図は模式化されたものにすぎず、スケール通りではない。図では、類似または同一の要素が同じ符号で表される。
図1は本発明の一実施態様の裏面電極型太陽電池のうら側からみた平面図である。 図2は図1に示される実施態様の電極構造の平面図である。 図3は図1のA−A面での断面図である。 図4は図1のB−B面での断面図である。 図5は本発明の別の実施態様の裏面電極型太陽電池のうら側からみた平面図である。 図6は本発明の別の実施態様の裏面電極型太陽電池のうら側からみた平面図である。 図7は従来の裏面電極型太陽電池の断面図である。 図8は図7の従来の裏面電極型太陽電池のうら側からみた平面図である。 図9は別の従来の裏面電極型太陽電池の断面図である。
本発明の第一の態様は、半導体基板、当該半導体基板のうら側表面上の細長いエミッタ領域、当該半導体基板のうら側表面上の細長いベース領域、当該エミッタ領域を電気的に接続するための当該細長いエミッタ領域を横断する細長いエミッタ電極、および当該ベース領域を電気的に接続するための当該細長いベース領域を横断する細長いベース電極を有する裏面電極型太陽電池を記載する。半導体基板は好ましくは、n半導体型またはp半導体型のいずれかのベースの半導体型をもつ。うら側表面上の細長いベース領域もまたベースの半導体型をもつ。エミッタ領域はベースの半導体型とは反対のエミッタの半導体型をもつ。細長いエミッタ領域は細長いエミッタ電極よりも小さい指の幅をもち、細長いベース領域は細長いベース電極よりも小さい指の幅をもつ。
この本発明の第一の態様は、以下の思想に基づくものと認定されてもよい:狭くて細長いベース領域と狭くて細長いエミッタ領域の両方が太陽電池のうら側表面に形成され、ベースおよびエミッタ領域は相互に隣接して配置され、かつ、相互にクシのように噛み合うように形成され得る。細長いエミッタ電極およびベース電極はそれぞれのエミッタ領域およびベース領域と電気的に接触するために提供される。エミッタ電極およびベース電極はそれぞれエミッタ領域およびベース領域を横断するように走り、太陽電池のうら側の少なくとも部分的な領域におけるエミッタ領域およびベース領域を横断し得る。例示によってまたは好適な実施態様を参照して、以下にさらに詳細に示されるように、適当な方法によって、エミッタ電極が排他的にエミッタ領域に接触するがベース領域に接触しないこと、および、反対に、ベース電極が排他的にベース領域に接触するが、エミッタ領域に接触しないことを確実にすることができる。
提案された太陽電池のデザインは、とりわけ、エミッタ電極およびベース電極の指の幅がエミッタ領域およびベース領域の指の幅とは独立に選択されることを許容する。この方法では、太陽電池の最適化は、ジオメトリカルな配置ならびに、一方ではエミッタ領域およびベース領域の、他方ではエミッタ電極およびベース電極の指の幅に課された部分的に矛盾する要求を考慮することができる。いまや、エミッタ領域およびベース領域の指の幅を、エミッタ電極およびベース電極の指の幅よりも小さくするように選択することが有利であると証明されている。他方では、ベース中の良好な電流収集特性および低直列抵抗損失の両方が、狭く、近接して隣接したエミッタ領域およびその間に走る狭くて同様に近接して隣接したベース領域の結果として達成され得る。他方では、電極のシンプルかつ信頼性の高い製造が比較的幅広のエミッタ電極およびベース電極の結果として達成され得る。さらに、エミッタ電極およびベース電極は、電極タイプの一方がその部分に無駄に厚い厚みを有しないで、および、そうでない場合には、一方の電極タイプが金属コーティングの所定の厚みで、その幅が小さいために過度に高い電気抵抗を有することにならないように、両方の電極タイプが、共通のプロセス工程で同じ厚みで形成されるように、面積に関しておおよそ同じサイズで形成され得る。
本発明の裏面電極型太陽電池の実施態様のさらなる特徴、詳細および可能性のある利点は、以下に説明される。
裏面電極型太陽電池のために使用される半導体基板は、例えば、単結晶または多結晶のシリコンウェハーであってもよい。あるいは、アモルファスもしくは結晶性のシリコンまたは他の半導体材料でできた薄い層が基板として使用され得る。
細長いエミッタ領域はドーパントの半導体基板への拡散によって製造されることができる。例えば、n型のエミッタ領域は、p型の半導体基板に、リンの局所的拡散によって形成され得る。しかし、他方、エミッタ領域は、例えば、イオン注入法または合金化法のような他の方法によって製造されてもよく、かくして、ホモ接合として知られるもの、すなわち、例えばシリコンのような、同じ半導体基礎材料の反対にドーピングされた領域でのpn接合を形成する。あるいは、エミッタ領域もまた、例えば、ホモ接合またはヘテロ接合として知られるもの、すなわち、後者の場合においてはベースの半導体型の第一の半導体材料とエミッタの半導体型の第二の半導体材料との間のpn接合、を形成する真空蒸着またはスパッタリングによって、エピタキシャルに堆積され得る。可能な例は、結晶性シリコン(c−Si)からなる半導体基板上にPECVD技術によって形成されたアモルファスシリコン(a−Si)の層からなるエミッタ領域である。
半導体基板のうら側表面上の細長いベース領域のいずれかは、エミッタ領域を半導体基板に製造する際に除かれ、そのためにベースの半導体型のままである領域であってもよいか、または、それらはエミッタ領域を形成するための上述の製造方法のうちの一つによって形成されることができる。
フォトリソグラフィ法が、例えば、微細なエミッタ領域およびベース領域を形成するために使用されることができる。あるいは、例えば、レーザーストラクチャリングによって製造され得る、対応したマスクが使用されることができる。
細長いエミッタ領域および/または細長いベース領域は、例えばITO(インジウムスズ酸化物)からなる層を、水平方向の導電性を向上させるために、さらに有することができる。
ベース領域およびエミッタ領域を太陽電池のうら側に配置する、太陽電池の動作のモードに有益である、相補的な形態は、以下に示す技術的にシンプルな方法で製造されることができる。つまり、エミッタ(またはベース)が最初に太陽電池のうら側の全面に最初に形成され、次いで、全面にわたって形成された前者のエミッタ(またはベース)層に対して局所的に過剰補償する、ベース(またはエミッタ)領域が、例えばイオン注入法または構造化拡散マスクを通したドーピング材料の拡散によって局所的にドーピング材料を導入することによって、所望の点に製造される。
さらに別のものは、例えば、広い面積に最初にエミッタ領域を形成し、その次に、そこで、エミッタ領域が、レーザーによるなどして、部分的領域の局所的除去の結果としてより細かい指の幅に形成されることができる。
エミッタ領域およびベース領域は、それぞれ、上から半導体基板のうら側表面に向かってみて、どちらの場合でも、指(フィンガー状の直線のエミッタ領域(エミッタ指領域)状の直線のベース領域(ベース指領域)に隣接して近接する、クシ状構造として形成されることができる。このタイプの入れ子状構造は、「交差指型」ともいわれる。クシ状構造は太陽電池の全表面にわたって同じ方法で形成される必要がない。それは、太陽電池表面の特定の領域において特定の機能に適合されることができる。例えば、ベースブスバーの下の領域でエミッタブスバーの下の領域と異なる構造が選択され得る。さらに、この構造は、純粋に排他的に太陽電池の特定の場所、例えば、ブスバーまたははんだパッドの領域に、存在してもよい。
エミッタ電極およびベース電極の両方は、それぞれ、局所的な金属コーティングの形で、例えば、状のグリッドの形で、形成されることができる。この目的のため、例えば銀またはアルミニウムのような金属が太陽電池のうら側表面に、例えば、マスクを通してまたはフォトリソグラフィを使用して、例えば、真空蒸着またはスパッタリングまたはスクリーン印刷もしくはディスペンサー法その他の方法によって、局所的に堆積されることができる。一般に、例えば、電極を基板のうら側表面に形またはグリッド形にするには、次工程でその一部を除去することによって構造化される全面にわたった金属層を形成することの可能性を含む、電極を局所的に形成することができるあらゆる方法を使用することができる。エミッタ電極とベース電極との間のショートを避けるために、この2つの間に電気絶縁ギャップが提供されることができる。
本発明の一実施態様では、細長いエミッタ領域および/または細長いベース領域の平均の指の幅は、細長いエミッタ電極および/または細長いベース電極の平均の指の幅よりも、少なくとも10%、好ましくは少なくとも20%、より好ましくは少なくとも50%少ない。例えば、エミッタ領域およびベース領域は5から500μmの範囲の指の幅をもつことができ、エミッタ電極およびベース電極は、200μmから2mmの範囲でそれに対応して大きな指の幅をもつことができる。
エミッタ領域およびベース領域の指の幅は、例えば、隣接するエミッタ領域間の平均距離が、これは入れ子状の場合にはベース領域の指の幅におおよそ対応するが、光によって生成した電荷キャリアがエミッタ領域によって形成されるpn接合で効率的に収集され得るように、半導体基板の有効少数電荷キャリア拡散長よりも短いかまたは実質的に等しいような方法で選択されることができる。一方では、エミッタ領域の平均の指の幅は、隣接するベース領域間の距離に実質的に対応し、ベース領域に運ばれる多数電荷キャリアに関して、直列抵抗ができるだけ低く維持されるような方法で選択されることができる。
エミッタ電極およびベース電極の指の幅は、一方では、電極が技術的にシンプルな方法でおよび特にエミッタ電極およびベース電極の間の電極の分離が信頼性高く確実にされるような方法で製造されるように、ならびに、他方では、隣接する細長いエミッタ電極間またはベース電極間の距離が、電荷キャリアが低濃度でドーピングされたベース領域を通って電極まで長い水平距離を移動する必要がないように、かつ、少なくとも部分的に細長い、比較的高濃度でドーピングされたエミッタ領域およびベース領域に沿ってのそれぞれの電極までの電荷キャリアの伝達がいかなる実質的な直列抵抗損失を生じないように、十分に小さくなるように選択されることができる。
本発明の別の実施態様では、複数の細長いエミッタ領域および複数の細長いベース領域が、それぞれ、互いに交互に隣接し、かつ、互いに平行して配置され、複数の細長いエミッタ電極および複数の細長いベース電極が、それぞれ、互い違いにかつお互い平行に配置される。隣接するエミッタ領域およびベース領域間の中心間距離は、隣接するエミッタ電極およびベース電極間の中心間距離よりも小さい。
言い換えれば、エミッタ領域およびベース領域は、エミッタ電極およびベース電極と同様に、それぞれ、互いに噛み合う構造として形成され得るが、噛み合いの程度は、単位面積あたりの隣接する領域または電極の数として定義され、エミッタ領域およびベース領域に対しては、エミッタ電極およびベース電極に対してよりも大きい。
本発明の別の実施態様では、細長いエミッタ電極は細長いベース領域を横切るが、その細長いベース領域は、それを横切る細長いエミッタ電極から、電気的絶縁層によって絶縁されている。
言い換えれば、細長いエミッタ電極のうちの少なくともいくつかは、少なくとも一部の領域で、その下に位置するベース領域を超えて、横に、例えば直角に、走ることができる。この場合に、太陽電池内の局所的な短絡回路を防止するために、エミッタ電極は、電気絶縁層によって、その下を走るベース領域から絶縁される。電気絶縁層は、例えば、半導体基板のうら側表面に形成される、窒化ケイ素や酸化ケイ素からなる誘電体層や有機レジスト製の層その他であってもよい。層は、例えば、最初にうら側表面の全体に形成され、その後局所的に、電気的接続が電極とその下に位置するエミッタ領域またはベース領域との間に形成される場所で空いていてもよい。
本発明の別の実施態様では、裏面電極型太陽電池は、半導体基板のうら側表面上の細長いベース領域が、半導体基板の内部のベース領域よりも、電気伝導性が高いような方法で製造される。
言い換えれば、細長いベース領域は、エミッタのドーピングが行われていないおよびそれゆえオリジナルの半導体基板と同じドーピングがされている、単なる領域ではない。そのかわり、ベース領域は、半導体基板と比較して、例えば、1×1018cm−3超の、好ましくは1×1019cm−3超の、より好ましくは5×1019cm−3超の、さらに好ましくは1×1020cm−3超の、高いドーピング濃度およびそれによる高い伝導性を示す。例えば、細長いベース領域は、ベース半導体型を製造するためにドーパントが半導体基板のうら側に局所的に拡散される、追加の拡散プロセス工程によって製造され得る。
細長いベース領域中での導電性の増大によって、多数電荷キャリアが、わずかの低直列抵抗損失で、または実質的な抵抗損失なく比較的長距離を越えて、高導電性の細長いベース領域を通ってそれを横断するベース電極まで伝わることができる。
特に、さらに好ましい実施態様に一致して、エミッタ領域およびベース領域が、半導体基板のうら側表面に実質的に均一に分散しているとき、すなわち、例えば、比較的高濃度でドーピングされたうら側のベース領域間の距離が、好ましくは太陽電池のうら側表面全域にわたって、短いように細かく分散されているとき、これは、半導体基板のベースのような主体積中の多数電荷キャリアが、それらがその後さらなる実質的な直列抵抗損失なくベース電極に伝えられ得る、高伝導性の細長いベース領域に到着するまでに、ほんの短い距離を移動すればよいということを意味する。これによって、太陽電池の全体的な直列抵抗を低減することができる。「微細な細長いベース領域またはエミッタ領域の好ましい均一な分布」の用語は、この場合には、太陽電池の予想される短絡電流密度ならびに基層の厚み、ドーピングおよび電荷移動度によって規定される基層の抵抗において、電圧の実質的な降下が半導体基板のうら側のベース領域間で発生しないように、うら側の比較的高濃度にドーピングされたベース領域間の距離が十分に短い、という事実をいう。エミッタ領域およびベース領域の指の幅は、この場合には、同じサイズである;しかし、その代わり、できるだけ広い電荷キャリア収集pn接合を形成するために、エミッタ領域はベース領域よりも幅広に選択されることもができる。
本発明の別の態様は、以下の工程を有する裏面電極型太陽電池を製造する方法を示す:ベースの半導体型の半導体基板を用意する;上記半導体基板のうら側表面上にエミッタの半導体型の細長いエミッタ領域を形成する;上記半導体基板のうら側表面上にベースの半導体型の細長いベース領域を形成する;エミッタ領域を電気的に接続するために細長いエミッタ電極を細長いエミッタ領域を横断するように形成する;ベース領域を電気的に接続するために細長いベース電極を細長いベース領域を横断するように形成する。細長いエミッタ領域はこの場合細長いエミッタ電極よりも小さな指の幅をもち、細長いベース領域は細長いベース電極よりも小さな指の幅をもつ。
エミッタ領域およびベース領域は、異なる方法、例えば、マスクやリソグラフィなどを使用して局所的に拡散注入する方法によって、イオン注入法によって、局所的合金化法、対応する層のエピタキシャル形成によって、またはその他の方法によって、製造されてもよい。
エミッタ電極およびベース電極は、種々の方法によって、例えば、局所的真空蒸着によって、例えば、マスクまたはリソグラフィを使用して、または、スパッタリングによって、さもなくば、スクリーン印刷またはディスペンサー法によって形成することができる。一般に、例えば、基板のうら側に、電極を形またはグリッド形にする方法において、全表面積にわたって金属層を適用し、次いで局所的にはく離することによって構造を作る方法を含む、局所的に電極を形成することができるいかなる方法を使用してもよい。それは、なかんずく、電極が、最初にうら側表面全体を覆う共有の金属層として形成されることができ、次にエミッタ領域およびベース領域の間の電極分離が、例えば、金属の局所的除去によって、例えば、エッチング除去またはレーザー除去によって、なされることができる、ということを意味する。
実施態様、発明の特徴および利点は、主に本発明の裏面電極型太陽電池に主に関連して記載されていることが認められるべきである。しかし、当業者は、上述および後述の説明から、他の事項を示されなくても、実施態様および本発明の特徴は太陽電池を製造するための発明の方法に同様に変形可能であることを理解できよう。特に、種々の実施態様の特徴は相互に望ましい方法で組み合わせられてもよい。
本発明のさらなる特徴および利点は、(発明を限定するものと解釈されるべきではないが、)以下の代表的な実施例の記載からおよびそれに付随する図面を参照することによって当業者に明らかになる。
図1は裏面電極型太陽電池の一実施態様をそのうら側からみた平面図で表す。説明上の理由から、エミッタ電極およびベース電極11,13は、その下に位置するエミッタ領域およびベース領域5,7が見えるように、破線の境界線によって、透過状態で示される。明確にするため、エミッタおよびベース電極11,13の構造は、再度、図2に別途示される。4つのエミッタ極(フィンガー電極)が表されているが、現実の太陽電池はこのタイプの多数のエミッタ極を有していることおよび図中でその大きさがスケール通りに表されていないことはいうまでもない。
図1にみられるように、実質的にうら側表面の全長にわたって互いに平行に走る、細長い、指形のエミッタ電極11が、半導体基板1のうら側表面に配置される。エミッタ極(エミッタ電極)11は、太陽電池の端で、エミッタ指電極11と交差するように走るエミッタブスバー21に接続する。
エミッタ指電極11からオフセットして、複数のベース極(ベース電極)13が互いに平行に、かつ、エミッタ極とかみ合うように広がる。ベース極はベースブスバー23に太陽電池の反対側の端で接続する。
図でy軸方向に走るエミッタ指電極およびベース極11,13と交差するように、細長いエミッタ領域5および細長いベース領域7が半導体基板1のうら側表面3上を走る。互いに平行に走る細長いエミッタ領域5および互いに平行に走るベース領域7は、それらの中央で、領域5,7と交差するように走る接続部分25,27によって、それぞれ接続され、それぞれで矢筈(ヘリンボーン)模様が形成される。細長いエミッタおよびベース領域は、図中で、x方向、すなわち、エミッタ指電極およびベース極11,13の方向と直行するように走る。
エミッタ指電極およびベース極の指の幅W,Wは、それぞれ、それらと交差するようにそれぞれ走るエミッタ領域およびベース領域5,7の指の幅W,Wのだいたい3から4倍広い。
図2および3にみられるように、エミッタ電極およびベース電極11,13は、うら側表面3の広範囲な領域において、エミッタ領域5およびベース領域7から、誘電層の形態の電気絶縁層9によって、分離されている。電極11,13は、それらの下側に位置する領域5,7と、絶縁層9の開口部15,17だけで、局所的に接続することができる。
エミッタ領域5およびベース領域7の両方は、そのうら側で、半導体基板1に拡散し、ドーパント濃度の増大による導電性の増加を示す。エミッタ領域5は、x軸方向に、その上に位置するエミッタ電極11に覆われる範囲を越え、それに隣接するベース電極13の領域にまで、水平に突き出しているので、低い直列抵抗損失をもつ高濃度にドーピングされたエミッタ領域5に沿ってエミッタ電極11に向けて形成され、そして導通するpn接合のおかげで、電荷は、効率的に収集され得る。同じことがベース電極13およびベース領域7にもあてはまる。双方の良好な収集特性および低直列抵抗は、したがって、エミッタおよびベース領域5,7の細かな噛み合いによって達成され得る。
エミッタ領域およびベース領域5,7と比べると、エミッタ電極およびベース電極11,13は、より粗い噛み合いを有する。例えば1mm超の範囲の大きさを有する、メタリゼーションのそのような粗い構造は、技術的にシンプルで信頼性の高い方法で製造されることができる。特に、エミッタ電極11およびベース電極13の間のギャップ29はそれゆえ比較的広く、例えば数百μmの幅を有するように、実質的な金属被覆エリアの損失なく形成することができ、これによって電極間の信頼性の高い絶縁を確実にする。
図5は本発明の太陽電池の別の実施態様をそのうら側からみた平面図で表す。この実施態様では、エミッタ領域5およびベース領域7からなるパターンは、少なくともブスバー21,23の外側の領域において非常にシンプルに、すなわち、横断歩道を連想させる、交互に配列された細長く、狭い領域5,7の形態に保たれている。相互に隣接するエミッタ領域およびベース領域5,7は、それぞれ、この場合には、もはや半導体基板中の追加された接続領域によってy方向で接合することはない。そのかわり、このタイプの電気的接続は、それぞれ、それらに対して横に走り、個々のエミッタ領域およびベース領域5,7にそれぞれ局所的に接続するエミッタ電極およびベース電極11,13の結果としてだけ起こる。
図6は、エミッタがうら側表面の大部分を覆い、エミッタ電極11の下の領域にまで伸びる細長いベース領域7がベース電極13の端の領域の中のわずかな領域だけに設置される、別の実施態様を表す。高濃度にドーピングされたベース領域7はかくして、エミッタ電極11の領域で発生された大部分の電荷をベース電極13に実質的な直列抵抗損失なく放電することができる。細長いベース領域7の間に細長いエミッタ領域5が同じ様に伸びる。ベース電極13のの先端の領域において、細長いエミッタ域(エミッタ領域)7がエミッタブスバー21の領域の下のウェルに、電荷を低損失で放電すること可能にするために、やや斜めに突き出す。
図6で説明される実施態様において、細長い電極11,13に対して横に走る細長いエミッタ領域およびベース領域5,7は、特に最適化された方法で実施されている。一方では、細長いベース領域のうち少数だけが必要であり、そのため、これらの領域の製造は実施するのに容易である。他方では、これらの領域は、エミッタ電極11およびエミッタブスバー21の下の領域からの電荷の効率よい、低損失放電をそれらが目的とする方法で提供するように、それらのエリアで精密に設けられる。細長いベース領域7の間に走る細長いエミッタ領域5は、この場合において、同時に、エミッタ領域に対する効率的に導電性の接続であり、ベース電極13およびベースブスバー23の下で、pn接合を形成し、かくして電流を収集する。
本発明の基礎にある原理が非常に多数の具体的な形態によって実施されることができるということは、上述の説明から当業者にとって明らかであろう。特に、エミッタ領域およびベース領域ならびにエミッタ電極およびベース電極の配置は、それらのジオメトリおよびアレンジメントに関してならびにそれらの製造に関して、例えば、独立請求項に記載されるように、本発明の基本思想から外れることなく著しく変更されることができる。
最後に、「含む」、「有する」等の用語は、さらなる構成要件の存在を除外しないという事実について言及する。「一(一つ)」の用語は複数のものの存在を除外しない。請求項に記載された参照番号は見やすさを向上させるためだけに提供され、いかなる点でも請求項に係る発明の保護の範囲を限定するものではない。
1 半導体基板
3 うら側表面
5 エミッタ領域(エミッタ指領域)
7 ベース領域(ベース指領域)
9 電気絶縁層
11 エミッタ電極(エミッタ指電極)
13 ベース電極(ベース指電極)
21 エミッタブスバー
23 ベースブスバー

Claims (8)

  1. 半導体基板(1);
    該半導体基板(1)のうら側表面(3)上の細長いベース領域(7)であって、ベースの半導体型をもつ該ベース領域(7);
    該半導体基板(1)のうら側表面(3)上の細長いエミッタ領域(5)であって、ベースの半導体型とは反対のエミッタの半導体型をもつ該エミッタ領域(5);
    該細長いエミッタ領域(5)を横断する、エミッタ領域(5)と電気的に接触するための細長いエミッタ電極(11);および
    該細長いベース領域(7)を横断する、ベース領域(7)と電気的に接触するための細長いベース電極(13);を有する裏面電極型太陽電池であって、
    前記半導体基板(1)の前記うら側表面(3)の少なくとも一部において、前記細長いエミッタ領域(5)と前記細長いベース領域(7)とは相互に噛み合う第1の交差指型構造を備え、
    前記細長いエミッタ電極(11)と前記細長いベース電極(13)とは相互に噛み合う第2の交差指型構造を備え、
    前記細長いエミッタ領域(5)と前記細長いベース電極(13)とが電気絶縁層(9)によって絶縁され、前記細長いベース領域(7)と前記細長いエミッタ電極(11)とが電気絶縁層(9)によって絶縁され、
    前記第1の交差指型構造の前記細長いエミッタ領域(5)の指の幅W は、前記第2の交差指型構造の前記細長いエミッタ電極(11)の指の幅W よりも小さく、前記第1の交差指型構造の前記細長いベース領域(7)の指の幅W は、前記第2の交差指型構造の前記細長いベース電極(13)の指の幅W よりも小さく、
    前記半導体基板(1)の前記うら側表面(3)の少なくとも一部において、複数の細長いエミッタ領域(5)および複数の細長いベース領域(7)が、それぞれ、互いに互い違いに隣接して配置され、
    複数の細長いエミッタ電極(11)および複数の細長いベース電極(13)がそれぞれ、互いに互い違いに隣接して配置され、
    隣接するエミッタ領域およびベース領域の間の中心間距離が隣接するエミッタ電極およびベース電極の間の中心間距離よりも小さいことを特徴とする裏面電極型太陽電池。
  2. 前記細長いエミッタ領域(5)および/または前記細長いベース領域(7)の前記指のの平均が太陽電池の同じ領域の前記細長いエミッタ電極(11)および/または前記細長いベース電極(13)の前記指のの平均よりも少なくとも10%少ない、請求項1に記載の裏面電極型太陽電池。
  3. 前記細長いエミッタ電極(11)が前記細長いベース領域(7)を横断し、前記細長いベース電極(13)が細長いエミッタ領域(5)を横断する、請求項1または2に記載の裏面電極型太陽電池。
  4. 前記半導体基板(1)のうら側表面(3)上の前記細長いベース領域(7)において、該半導体基板(1)の内部のベース領域よりも電気伝導性が高い、請求項1〜のいずれかに記載の裏面電極型太陽電池。
  5. 前記エミッタ領域および前記ベース領域(5,7)が前記半導体基板(1)のうら側表面(3)に沿って実質的に均一に分散されている、請求項1〜のいずれかに記載の裏面電極型太陽電池。
  6. 前記細長いベース領域(7)がエミッタブスバー(21)によって覆われる領域に突き出している、請求項1〜のいずれかに記載の裏面電極型太陽電池。
  7. 前記細長いエミッタ領域(5)がベースブスバー(23)によって覆われる領域に突き出している、請求項1〜のいずれかに記載の裏面電極型太陽電池。
  8. 半導体基板(1)を用意する;
    該半導体基板(1)のうら側表面(3)上に細長いベース領域(7)であって、ベースの半導体型をもつベース領域(7)を形成する;
    該半導体基板(1)のうら側表面(3)上に細長いエミッタ領域(5)であって、ベースの半導体型とは反対のエミッタの半導体型をもつエミッタ領域(5)を形成する;
    該細長いエミッタ領域(5)を横断する、該エミッタ領域(5)に接触するための細長いエミッタ電極(11)を形成する;および
    該細長いベース領域(7)を横断する、該ベース領域(7)に接触するための細長いベース電極(13)を形成する;工程を含む太陽電池を製造する方法であって、
    前記半導体基板(1)の前記うら側表面(3)の少なくとも一部において、前記細長いエミッタ領域(5)と前記細長いベース領域(7)とは相互に噛み合う第1の交差指型構造を備え、
    前記細長いエミッタ電極(11)と前記細長いベース電極(13)とは相互に噛み合う第2の交差指型構造を備え、
    前記細長いエミッタ領域(5)と前記細長いベース電極(13)とが電気絶縁層(9)によって絶縁され、前記細長いベース領域(7)と前記細長いエミッタ電極(11)とが電気絶縁層(9)によって絶縁され、
    前記第1の交差指型構造の前記細長いエミッタ領域(5)の指の幅W は、前記第2の交差指型構造の前記細長いエミッタ電極(11)の指の幅W よりも小さく、
    前記第1の交差指型構造の前記細長いベース領域(7)の指の幅W は、前記第2の交差指型構造の前記細長いベース電極(13)の指の幅W よりも小さく、
    前記半導体基板(1)の前記うら側表面(3)の少なくとも一部において、複数の細長いエミッタ領域(5)および複数の細長いベース領域(7)が、それぞれ、互いに互い違いに隣接して配置され、
    複数の細長いエミッタ電極(11)および複数の細長いベース電極(13)が、それぞれ、互いに互い違いに隣接して配置され、
    隣接するエミッタ領域およびベース領域の間の中心間距離が隣接するエミッタ電極およびベース電極の間の中心間距離よりも小さいことを特徴とする裏面電極型太陽電池を製造する方法。
JP2010537371A 2007-12-11 2008-11-28 細長い、交差指型のエミッタ領域およびベース領域をうら側に有する裏面電極型太陽電池ならびにその製造方法 Active JP5463299B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102007059486.2 2007-12-11
DE102007059486A DE102007059486A1 (de) 2007-12-11 2007-12-11 Rückkontaktsolarzelle mit länglichen, ineinander verschachtelten Emitter- und Basisbereichen an der Rückseite und Herstellungsverfahren hierfür
PCT/EP2008/066432 WO2009074466A1 (de) 2007-12-11 2008-11-28 Rückkontaktsolarzelle mit länglichen, ineinander verschachtelten emitter- und basisbereichen an der rückseite und herstellungsverfahren hierfür

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2011507245A JP2011507245A (ja) 2011-03-03
JP5463299B2 true JP5463299B2 (ja) 2014-04-09

Family

ID=40578544

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010537371A Active JP5463299B2 (ja) 2007-12-11 2008-11-28 細長い、交差指型のエミッタ領域およびベース領域をうら側に有する裏面電極型太陽電池ならびにその製造方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US20110041908A1 (ja)
EP (1) EP2218107B1 (ja)
JP (1) JP5463299B2 (ja)
CN (1) CN101952972B (ja)
DE (1) DE102007059486A1 (ja)
WO (1) WO2009074466A1 (ja)

Families Citing this family (56)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE10239845C1 (de) 2002-08-29 2003-12-24 Day4 Energy Inc Elektrode für fotovoltaische Zellen, fotovoltaische Zelle und fotovoltaischer Modul
US8008575B2 (en) 2006-07-24 2011-08-30 Sunpower Corporation Solar cell with reduced base diffusion area
EP2308100A1 (en) 2008-07-28 2011-04-13 Day4 Energy Inc. Crystalline silicon pv cell with selective emitter produced with low temperature precision etch back and passivation process
DE102008038184A1 (de) * 2008-08-19 2010-02-25 Suss Microtec Test Systems Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur temporären elektrischen Kontaktierung einer Solarzelle
US20130233378A1 (en) 2009-12-09 2013-09-12 Solexel, Inc. High-efficiency photovoltaic back-contact solar cell structures and manufacturing methods using semiconductor wafers
US8084293B2 (en) * 2010-04-06 2011-12-27 Varian Semiconductor Equipment Associates, Inc. Continuously optimized solar cell metallization design through feed-forward process
DE102010028189B4 (de) 2010-04-26 2018-09-27 Solarworld Industries Gmbh Solarzelle
JP5213188B2 (ja) * 2010-04-27 2013-06-19 シャープ株式会社 裏面電極型太陽電池、および裏面電極型太陽電池の製造方法
CN101976692B (zh) * 2010-07-28 2012-08-08 常州天合光能有限公司 一种n型背接触电池
WO2013055307A2 (en) 2010-08-05 2013-04-18 Solexel, Inc. Backplane reinforcement and interconnects for solar cells
KR101098813B1 (ko) * 2010-08-26 2011-12-26 엘지전자 주식회사 태양 전지
JP4944240B1 (ja) * 2010-11-30 2012-05-30 シャープ株式会社 裏面電極型太陽電池セル、配線シート付き裏面電極型太陽電池セル、太陽電池モジュール、配線シート付き裏面電極型太陽電池セルの製造方法および太陽電池モジュールの製造方法
US8586403B2 (en) 2011-02-15 2013-11-19 Sunpower Corporation Process and structures for fabrication of solar cells with laser ablation steps to form contact holes
US10011920B2 (en) 2011-02-23 2018-07-03 International Business Machines Corporation Low-temperature selective epitaxial growth of silicon for device integration
WO2012128284A1 (ja) * 2011-03-24 2012-09-27 三洋電機株式会社 裏面電極型太陽電池、裏面電極型太陽電池の製造方法及び太陽電池モジュール
GB2491209B (en) * 2011-05-27 2013-08-21 Renewable Energy Corp Asa Solar cell and method for producing same
US8692111B2 (en) 2011-08-23 2014-04-08 Sunpower Corporation High throughput laser ablation processes and structures for forming contact holes in solar cells
JP6172461B2 (ja) * 2011-09-23 2017-08-02 パナソニックIpマネジメント株式会社 太陽電池モジュール及び太陽電池
KR101923658B1 (ko) * 2011-12-13 2018-11-30 인텔렉츄얼 키스톤 테크놀로지 엘엘씨 태양전지 모듈
JP5583196B2 (ja) * 2011-12-21 2014-09-03 パナソニック株式会社 薄膜太陽電池およびその製造方法
CN102544130B (zh) * 2012-02-07 2014-03-26 西安航谷微波光电科技有限公司 GaAs激光电池的电极结构
JP2015515257A (ja) * 2012-04-23 2015-05-21 ソレクセル、インコーポレイテッド 裏面コンタクト裏面接合ソーラーセルの抵抗構成要素の取り出し方法
WO2013184244A1 (en) * 2012-04-24 2013-12-12 Solexel, Inc. Manufacturing methods and structures for large-area thin-film solar cells and other semiconductor devices
CN102646728B (zh) * 2012-05-02 2015-11-11 苏州阿特斯阳光电力科技有限公司 一种背接触硅太阳能电池片的背面电极结构及其制备方法
KR101528447B1 (ko) * 2012-05-29 2015-06-11 솔렉셀, 인크. 고효율 후면 접촉 태양 전지의 인접 및 비인접 베이스 영역의 형성 방법 및 구조체
EP2709162A1 (en) 2012-09-13 2014-03-19 Roth & Rau AG Photovoltaic cell and photovoltaic cell module based thereon
US9059212B2 (en) 2012-10-31 2015-06-16 International Business Machines Corporation Back-end transistors with highly doped low-temperature contacts
US8912071B2 (en) 2012-12-06 2014-12-16 International Business Machines Corporation Selective emitter photovoltaic device
CN103872185B (zh) * 2012-12-18 2016-06-29 国际商业机器公司 场效应叉指背接触光伏器件及其形成方法
US8642378B1 (en) * 2012-12-18 2014-02-04 International Business Machines Corporation Field-effect inter-digitated back contact photovoltaic device
CN103208538A (zh) * 2013-03-20 2013-07-17 晶澳太阳能有限公司 一种高性能太阳能电池的制备方法
CN103426940B (zh) * 2013-03-22 2016-08-10 连云港神舟新能源有限公司 一种交错背接触ibc太阳能电池片电极结构
US9911875B2 (en) * 2013-04-23 2018-03-06 Beamreach-Solexel Assets LLC Solar cell metallization
CN103346211B (zh) * 2013-06-26 2015-12-23 英利集团有限公司 一种背接触太阳能电池及其制作方法
TWI626757B (zh) * 2013-07-09 2018-06-11 英穩達科技股份有限公司 背面接觸型太陽能電池
CN104282771B (zh) * 2013-07-09 2017-04-12 英稳达科技股份有限公司 背面接触型太阳能电池
JPWO2015072241A1 (ja) * 2013-11-15 2017-03-16 三菱電機株式会社 光電変換素子モジュール及び光電変換素子モジュールの製造方法
US9577134B2 (en) 2013-12-09 2017-02-21 Sunpower Corporation Solar cell emitter region fabrication using self-aligned implant and cap
CN103985772A (zh) * 2014-04-10 2014-08-13 晶澳太阳能有限公司 一种高性能晶体硅电池的制备方法
US10249775B2 (en) 2014-06-11 2019-04-02 Shin-Etsu Chemical Co., Ltd. Solar cell and method for producing solar cell
JP6199839B2 (ja) 2014-09-30 2017-09-20 信越化学工業株式会社 太陽電池及びその製造方法
CN104362190B (zh) * 2014-10-13 2016-11-16 山东力诺太阳能电力股份有限公司 一种太阳电池用叉指状电极
CN105742375B (zh) * 2014-12-10 2017-09-22 北京创昱科技有限公司 一种背接触晶硅电池及其制备方法
US20160284913A1 (en) 2015-03-27 2016-09-29 Staffan WESTERBERG Solar cell emitter region fabrication using substrate-level ion implantation
CN105514179A (zh) * 2016-02-23 2016-04-20 深圳市创益科技发展有限公司 由背接触式太阳能电池加工成电池芯片的电极引出结构及方法
CN106129133A (zh) * 2016-06-27 2016-11-16 泰州乐叶光伏科技有限公司 一种全背电极接触晶硅太阳能电池结构及其制备方法
US10084098B2 (en) 2016-09-30 2018-09-25 Sunpower Corporation Metallization of conductive wires for solar cells
WO2018078668A1 (ja) * 2016-10-25 2018-05-03 信越化学工業株式会社 高光電変換効率太陽電池及び高光電変換効率太陽電池の製造方法
US11908958B2 (en) * 2016-12-30 2024-02-20 Maxeon Solar Pte. Ltd. Metallization structures for solar cells
KR102622743B1 (ko) 2017-02-13 2024-01-10 상라오 신위안 웨동 테크놀러지 디벨롭먼트 컴퍼니, 리미티드 태양전지 및 태양전지 모듈
CN110870081A (zh) * 2017-07-03 2020-03-06 株式会社钟化 太阳能电池以及太阳能电池模块
CN111937162A (zh) 2018-03-29 2020-11-13 太阳能公司 太阳能电池的基于导线的金属化和串接
CN108987503A (zh) * 2018-07-11 2018-12-11 泰州隆基乐叶光伏科技有限公司 一种具有隔离区域的指状交叉背接触太阳电池及其制备方法
DE102019122222A1 (de) * 2019-08-19 2021-02-25 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Photovoltaische Solarzelle und Solarzellenmodul
CN112018196B (zh) * 2020-08-04 2022-11-29 隆基绿能科技股份有限公司 背接触太阳电池及生产方法、背接触电池组件
CN117253934A (zh) * 2023-11-20 2023-12-19 隆基绿能科技股份有限公司 一种背接触电池及光伏组件

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63287077A (ja) * 1987-05-20 1988-11-24 Hitachi Ltd 光電変換デバイス
JP2732524B2 (ja) * 1987-07-08 1998-03-30 株式会社日立製作所 光電変換デバイス
US4927770A (en) * 1988-11-14 1990-05-22 Electric Power Research Inst. Corp. Of District Of Columbia Method of fabricating back surface point contact solar cells
US6034321A (en) * 1998-03-24 2000-03-07 Essential Research, Inc. Dot-junction photovoltaic cells using high-absorption semiconductors
US20050126620A1 (en) * 2002-03-06 2005-06-16 Sharp Kabushiki Kaisha Photoelectric converting device and its production method
JP2003298078A (ja) * 2002-03-29 2003-10-17 Ebara Corp 光起電力素子
JP2004071828A (ja) * 2002-08-06 2004-03-04 Toyota Motor Corp 太陽電池
JP4660642B2 (ja) * 2003-10-17 2011-03-30 信越化学工業株式会社 太陽電池及びその製造方法
JP2005175399A (ja) * 2003-12-15 2005-06-30 Hitachi Ltd 太陽電池セルの製造方法及び太陽電池セル
US20050172996A1 (en) * 2004-02-05 2005-08-11 Advent Solar, Inc. Contact fabrication of emitter wrap-through back contact silicon solar cells
JP4334455B2 (ja) * 2004-10-22 2009-09-30 シャープ株式会社 太陽電池モジュール
EP1905100B1 (en) * 2005-06-07 2017-04-26 Newsouth Innovations Pty Limited Contacts for silicon solar cells
DE102006052018A1 (de) * 2006-11-03 2008-05-15 Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. Solarzelle und Solarzellenmodul mit verbesserten Rückseiten-Elektroden sowie Verfahren und Herstellung

Also Published As

Publication number Publication date
CN101952972B (zh) 2012-02-15
WO2009074466A1 (de) 2009-06-18
US20110041908A1 (en) 2011-02-24
JP2011507245A (ja) 2011-03-03
CN101952972A (zh) 2011-01-19
EP2218107B1 (de) 2016-10-19
DE102007059486A1 (de) 2009-06-18
EP2218107A1 (de) 2010-08-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5463299B2 (ja) 細長い、交差指型のエミッタ領域およびベース領域をうら側に有する裏面電極型太陽電池ならびにその製造方法
US10181540B2 (en) Solar cell and method of manufacturing the same
KR100993511B1 (ko) 태양 전지 및 그 제조 방법
JP5270658B2 (ja) 互いに噛み合う不連続のヘテロ接合構造を有する光起電装置
KR101070199B1 (ko) 박막형 태양전지 및 그 제조방법
JP6422426B2 (ja) 太陽電池
KR101570881B1 (ko) 태양 전지 및 그 제조 방법
JP2011507246A (ja) 広いうら側エミッタ領域を有する裏面電極型太陽電池およびその製造方法
KR20100098993A (ko) 태양 전지 및 그 제조 방법
US20100252109A1 (en) Thin film type solar cell and method for manufacturing the same
KR20130058497A (ko) 태양전지 및 그 제조 방법
KR101838278B1 (ko) 태양 전지
JP2014504026A (ja) 太陽電池用非接触バスバー及び非接触バスバーを製造する方法
EP2605285B1 (en) Photovoltaic device
KR101699312B1 (ko) 태양 전지 및 그 제조 방법
US20110308599A1 (en) Method for producing a wafer-based, rear-contacted hetero solar cells and hetero solar cell produced by the method
KR101714779B1 (ko) 태양전지 및 이의 제조 방법
KR101038967B1 (ko) 태양 전지 및 그 제조 방법
JP2004228281A (ja) 光起電力装置
KR20100068947A (ko) 태양전지
KR101363328B1 (ko) 박막형 태양전지 및 그 제조방법
JP2003224289A (ja) 太陽電池、太陽電池の接続方法、及び太陽電池モジュール
JPWO2015189878A1 (ja) 太陽電池及びその製造方法
KR101661364B1 (ko) 태양 전지의 제조 방법
KR101397159B1 (ko) 박막형 태양전지 및 그 제조방법

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110803

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20121112

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121120

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20130122

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20130130

A601 Written request for extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601

Effective date: 20130412

A602 Written permission of extension of time

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602

Effective date: 20130422

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130520

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A821

Effective date: 20130520

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20130710

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20130806

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20131206

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20131213

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140107

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140120

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5463299

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

RD02 Notification of acceptance of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R3D02

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250