JP5441315B2 - Display panel inspection device - Google Patents

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Description

本発明は表示パネルの検査装置に関し、特に検査工程の検出精度を向上させることができる表示パネルの検査装置に関する。 The present invention relates to the inspection device for a display panel that can be related to the inspection device for a display panel, thereby particularly improving the detection accuracy of the inspection process.

通常、液晶表示装置（ＬＣＤ）は、液晶表示パネルにマトリックス状に配列された液晶セルのそれぞれがビデオ信号を受信することによって光透過率を調節し画像を表示する。   In general, in a liquid crystal display (LCD), each of liquid crystal cells arranged in a matrix on a liquid crystal display panel receives a video signal to adjust light transmittance and display an image.

このような液晶表示パネルは、液晶を間に置き、接着剤によって取り付けられる薄膜トランジスタ基板及びカラーフィルタ基板を具備する。   Such a liquid crystal display panel includes a thin film transistor substrate and a color filter substrate which are attached with an adhesive with a liquid crystal interposed therebetween.

カラーフィルタ基板には、光漏れ防止のためのブラックマトリックス、色具現のためのカラーフィルタ、画素電極と垂直電界を成す共通電極、及びそれらの上に液晶配向のために塗布された上部配向膜を含むカラーフィルタアレイが形成される。   The color filter substrate is provided with a black matrix for preventing light leakage, a color filter for realizing color, a common electrode that forms a vertical electric field with the pixel electrode, and an upper alignment film coated thereon for liquid crystal alignment. A color filter array containing is formed.

薄膜トランジスタ基板には、下部基板上に互いに交差されるように形成されたゲートライン及びデータライン、それらの交差部に形成された薄膜トランジスタＴＦＴ、薄膜トランジスタと接続された画素電極、及びそれらの上に液晶配向のために塗布された下部配向膜を含む薄膜トランジスタアレイが形成される。   The thin film transistor substrate includes a gate line and a data line formed on the lower substrate so as to intersect with each other, a thin film transistor TFT formed at the intersection, a pixel electrode connected to the thin film transistor, and a liquid crystal alignment thereon. A thin film transistor array including a lower alignment layer applied for the purpose is formed.

このような従来の液晶表示パネルを製造するための製造工程は、薄膜トランジスタアレイのそれぞれとカラーフィルタアレイのそれぞれが形成されるパターニング工程、薄膜トランジスタ基板とカラーフィルタ基板が液晶を間において接着される接着工程、不良液晶表示パネルを検出する検査工程などに分けられる。   A manufacturing process for manufacturing such a conventional liquid crystal display panel includes a patterning process in which each of the thin film transistor array and the color filter array is formed, and an adhesion process in which the thin film transistor substrate and the color filter substrate are bonded to each other between the liquid crystals. It is divided into an inspection process for detecting a defective liquid crystal display panel.

このうち、検査工程では、液晶表示パネルに駆動集積回路を取り付ける前の状態で液晶表示パネルの不良の有無を検査するようになる。具体的には、検査工程はバックライトユニット及び駆動集積回路が組み立てられた完製品の液晶表示モジュールと同一の環境で組み立てられた検査装置に液晶表示パネルを移動させる。検査装置に移動された液晶表示パネルには液晶表示モジュールを駆動させる時と同一の駆動信号である検査信号が印加され画像が具現される。この際、液晶表示パネルの信号ラインに不良が生じている場合、その不良が生じている信号ラインと接続された画素は正常な信号ラインと接続された画素とは異なる画像を具現するようになるので、液晶表示パネルの不良状態を容易に確認することができる。   Among these, in the inspection process, the liquid crystal display panel is inspected for defects before the drive integrated circuit is attached to the liquid crystal display panel. Specifically, in the inspection process, the liquid crystal display panel is moved to an inspection apparatus assembled in the same environment as the completed liquid crystal display module in which the backlight unit and the driving integrated circuit are assembled. The liquid crystal display panel moved to the inspection apparatus is applied with an inspection signal, which is the same drive signal as when the liquid crystal display module is driven, and an image is realized. At this time, when a defect occurs in the signal line of the liquid crystal display panel, the pixel connected to the signal line in which the defect occurs causes a different image from the pixel connected to the normal signal line. Therefore, the defective state of the liquid crystal display panel can be easily confirmed.

このような検査工程の際、信号ラインに検査信号を供給するために、信号ラインと接続された信号パッドのそれぞれはプローブピンと一対一で接続される。   In such an inspection process, in order to supply an inspection signal to the signal line, each signal pad connected to the signal line is connected to the probe pin on a one-to-one basis.

しかし、信号パッドに異物が付着しているかプローブピンに損傷が発生される場合または信号パッドとプローブピンとの間にミスアラインが発生される場合、液晶表示パネルに具現される画像が同一となる場合があるので、このような場合には、作業者は信号パッドの断線による不良であるのかプローブピンによる不良であるのかを容易に判別できないという問題点があった。   However, if foreign matter adheres to the signal pad or the probe pin is damaged, or if misalignment occurs between the signal pad and the probe pin, the images embodied on the liquid crystal display panel may be the same. Therefore, in such a case, there is a problem that the operator cannot easily determine whether the failure is caused by the disconnection of the signal pad or the probe pin.

従って、本発明の達成しようとする技術的課題は、検査工程の検出精度を向上させることができる表示パネルの検査装置及び検査方法を提供することにある。   Therefore, the technical problem to be achieved by the present invention is to provide a display panel inspection apparatus and inspection method capable of improving the detection accuracy of the inspection process.

前記問題点を達成するために、本発明による表示パネルの検査装置は、表示パネルに形成された複数の信号パッドに電気的信号を供給する複数のプローブピンを有するプローブユニットと、前記プローブユニット下端で前後に移動可能な導電フィルムと、前記導電フィルムを前方に移動させて前記複数の信号パッドと前記プローブピンとの間に前記導電フィルムを介在させた状態において、前記複数の信号パッドに電気的信号を供給する１次検査信号供給部と、前記導電フィルムを後方に移動させて前記複数の信号パッドに前記プローブピンを直接接続させた状態において、前記複数の信号パッドに電気的信号を供給する２次検査信号供給部と、前記１次検査信号供給部と前記２次検査信号供給部によるいずれの検査によっても前記表示パネルの不良画素が検出された場合には、前記信号パッド側の不良と判定し、前記１次検査信号供給部による検査では前記表示パネルの不良画素は検出されず前記２次検査信号供給部による検査により前記表示パネルの不良画素が検出された場合には、前記プローブピンの不良と判定する不良判定部と、を有することを特徴とする。
In order to achieve the above problems, a display panel inspection apparatus according to the present invention includes a probe unit having a plurality of probe pins for supplying electrical signals to a plurality of signal pads formed on the display panel, and a lower end of the probe unit. In the state where the conductive film is movable forward and backward, and the conductive film is moved forward to interpose the conductive film between the plurality of signal pads and the probe pins, an electrical signal is supplied to the plurality of signal pads. A primary inspection signal supply unit that supplies the electrical signal to the plurality of signal pads in a state in which the conductive film is moved backward and the probe pins are directly connected to the plurality of signal pads. and the next inspection signal supply section, the display either by examination by said primary inspection signal supply unit and the secondary inspection signal supply section panel If a defective pixel is detected, it is determined that the signal pad side is defective. In the inspection by the primary inspection signal supply unit, the defective pixel of the display panel is not detected, and the inspection by the secondary inspection signal supply unit is performed. When a defective pixel of the display panel is detected, a defect determination unit that determines that the probe pin is defective is provided.

前記導電フィルムの第１実施形態はベースフィルムと、前記ベースフィルム上に形成され前記信号パッドと接続される導電膜と、を含むことを特徴とする。   The first embodiment of the conductive film includes a base film and a conductive film formed on the base film and connected to the signal pad.

前記導電フィルムの第２実施形態は、ベースフィルムと、前記信号パッドと接続される領域の前記ベースフィルム上に形成される導電性ゴムと、前記ベースフィルムの残りの領域上に形成される導電膜と、を含むことを特徴とする。   The second embodiment of the conductive film includes a base film, a conductive rubber formed on the base film in a region connected to the signal pad, and a conductive film formed on the remaining region of the base film. It is characterized by including these.

ここで、前記導電膜はＢｅＣｕで形成されることを特徴とする。   Here, the conductive film is formed of BeCu.

一方、本発明による表示パネルの検査装置は、前記導電フィルムの位置を調整すると同時に導電フィルムを固定させるフィルムブロックユニットを追加的に具備することを特徴とする。   Meanwhile, the display panel inspection apparatus according to the present invention further includes a film block unit that adjusts the position of the conductive film and simultaneously fixes the conductive film.

ここで、前記フィルムブロックユニットは前記導電フィルムが安着される段差面を有するフィルム固定バーと、前記段差面上に安着される導電フィルムを固定させる固定ブロックと、前記フィルムブロックユニットの位置を調節するシリンダと、を含むことを特徴とする。   Here, the film block unit includes a film fixing bar having a step surface on which the conductive film is seated, a fixing block for fixing the conductive film seated on the step surface, and a position of the film block unit. And a cylinder to be adjusted.

前記導電フィルムは各駆動集積回路に対して対応される複数の信号パッド別に区分されて接続されることを特徴とする。   The conductive film is divided and connected to a plurality of signal pads corresponding to each driving integrated circuit.

前記第１モードでは前記プローブピンに同一の電気的信号が印加され、前記第２モードでは前記プローブピンに少なくとも２以上の互いに異なる電気的信号が印加されることを特徴とする。   In the first mode, the same electrical signal is applied to the probe pin, and in the second mode, at least two or more different electrical signals are applied to the probe pin.

前記問題点を達成するために、本発明による表示パネルの検査方法は表示パネルに形成された複数の信号パッドと前記プローブピンの間に導電フィルムが介在されるように前記導電フィルムを前方に移動させる段階と、前記導電フィルムと接続された複数の信号パッドに前記プローブピンを用いて１次電気的信号を供給する段階と、前記導電フィルムを後方に移動させ前記複数の信号パッドに前記プローブピンを直接接続させる段階と、前記複数の信号パッドそれぞれに前記プローブピンを用いて２次電気的信号を供給する段階と、を含むことを特徴とする。   In order to achieve the above problems, the display panel inspection method according to the present invention moves the conductive film forward so that the conductive film is interposed between the plurality of signal pads formed on the display panel and the probe pins. Supplying a primary electrical signal to the plurality of signal pads connected to the conductive film using the probe pins, and moving the conductive film rearward to the plurality of signal pads. And a step of supplying a secondary electrical signal to each of the plurality of signal pads using the probe pins.

ここで、前記１次電気的信号を供給する段階は、前記プローブピンを用いて前記複数の信号パッドに同一の検査信号を供給する段階を含むことを特徴とする。   Here, supplying the primary electrical signal includes supplying the same inspection signal to the plurality of signal pads using the probe pin.

そして、前記２次電気的信号を供給する段階は、前記プローブピンを用いて前記複数の信号パッドに少なくとも２以上の互いに異なる検査信号を供給する段階を含むことを特徴とする。   The supplying the secondary electrical signal includes supplying at least two or more different inspection signals to the plurality of signal pads using the probe pins.

一方、前記導電フィルムは、フィルムブロックユニットに固定され前記前後に移動可能であることを特徴とする。   Meanwhile, the conductive film is fixed to a film block unit and is movable forward and backward.

また、前記導電フィルムは、各駆動集積回路に対して対応される複数の信号パッド別に区分され接続されることを特徴とする。   The conductive film may be divided and connected to a plurality of signal pads corresponding to each driving integrated circuit.

本発明に係る表示パネルの検査装置によれば、表示パネルの検査工程の検出精度を向上させることができる。 The display panel inspection apparatus according to the present invention can improve the detection accuracy of the display panel inspection process .

以下、図面を参照して本発明の望ましい一実施例を図１乃至図１０を参照してより詳細に説明する。   Hereinafter, a preferred embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS.

図１は本発明による表示パネルの検査装置を示す斜視図である。   FIG. 1 is a perspective view showing a display panel inspection apparatus according to the present invention.

図１を参照すると、本発明による表示パネルの検査装置は信号パッド１０６、選択的に接続される導電フィルム１１０、信号パッド１０６に検査信号を供給するプローブユニット１２０を具備する。   Referring to FIG. 1, the display panel inspection apparatus according to the present invention includes a signal pad 106, a conductive film 110 that is selectively connected, and a probe unit 120 that supplies an inspection signal to the signal pad 106.

導電フィルム１１０は図２に示されたように各集積回路に対して対応される複数の信号パッド１０６からなる２個以下のブロック単位に形成されるか図３に示されたように複数の信号パッド１０６と全部接続されるように一体的に形成される。ブロック単位または一体的に形成された導電フィルム１１０は信号パッド１０６とプローブピン１２２との間でこれらを接触させる。これにより、プローブピン１２２を介してブラック検査信号は導電フィルム１１０と接続された信号パッド１０６に供給される。この場合、正常信号パッド１０６及び正常信号ライン１０８と接続された画素はブラックを具現する反面、不良信号パッド１０６または不良信号ライン１０８の少なくともいずれか一方と接続された画素は該当画素の色を具現するようになる。このように、導電フィルム１１０は信号パッド１０６及びその信号パッド１０６と接続された信号ライン１０８の断線を検出するために用いられる。   As shown in FIG. 2, the conductive film 110 is formed in units of two or less blocks including a plurality of signal pads 106 corresponding to each integrated circuit, or a plurality of signals as shown in FIG. It is integrally formed so as to be connected to the entire pad 106. The conductive film 110 formed as a block unit or integrally makes contact between the signal pad 106 and the probe pin 122. Accordingly, the black inspection signal is supplied to the signal pad 106 connected to the conductive film 110 through the probe pin 122. In this case, the pixels connected to the normal signal pad 106 and the normal signal line 108 realize black, but the pixels connected to at least one of the defective signal pad 106 and the defective signal line 108 realize the color of the corresponding pixel. To come. As described above, the conductive film 110 is used to detect disconnection of the signal pad 106 and the signal line 108 connected to the signal pad 106.

このような導電フィルム１１０は図４に示されたフィルムブロックユニット１３０に安着され固定される。フィルムブロックユニット１３０は段差面１３４を有するフィルム固定バー１３２と、段差面１３４上に安着される導電フィルム１１０を固定させる固定ブロック１３６を含む。また、フィルムブロックユニット１３０に形成されたシリンダ（図示せず）はフィルムブロックユニット１３０を水平または垂直方向に直線運動させる。このようなシリンダによってフィルムブロックユニット１３０に固定された導電フィルム１１０は自動に信号パッド１０６に接続されるか非接続される。   Such a conductive film 110 is seated and fixed to the film block unit 130 shown in FIG. The film block unit 130 includes a film fixing bar 132 having a step surface 134 and a fixing block 136 for fixing the conductive film 110 seated on the step surface 134. Also, a cylinder (not shown) formed on the film block unit 130 moves the film block unit 130 linearly in the horizontal or vertical direction. The conductive film 110 fixed to the film block unit 130 by such a cylinder is automatically connected to or disconnected from the signal pad 106.

一方、導電フィルム１１０は図５に示されたようにベースフィルム１１２上に導電性材質で形成された導電膜１１４からなる。または、図６に示されたように信号パッド１０６と接続される領域のベースフィルム１１２上に形成された導電性ゴム１１６と、信号パッド１０６と非接続される領域のベースフィルム１１２上に導電性材質で形成された導電膜１１４からなる。ここで、導電膜１１４は、例えば、約２０〜１００μｍの厚さのＢｅＣｕから形成される。導電性ゴム１１６は信号パッド１０６との接触力を向上させるために弾性を有する材質から形成される。   On the other hand, the conductive film 110 includes a conductive film 114 formed of a conductive material on the base film 112 as shown in FIG. Alternatively, as shown in FIG. 6, the conductive rubber 116 formed on the base film 112 in the region connected to the signal pad 106 and the conductive rubber on the base film 112 in the region not connected to the signal pad 106. The conductive film 114 is made of a material. Here, the conductive film 114 is formed of, for example, BeCu having a thickness of about 20 to 100 μm. The conductive rubber 116 is formed of a material having elasticity in order to improve the contact force with the signal pad 106.

プローブユニット１２０はプローブ本体１２４と、プローブ本体１２４から突出されたプローブピンを含む。   The probe unit 120 includes a probe body 124 and probe pins protruding from the probe body 124.

プローブ本体１２４にはプローブピン１２２が固定され、プローブ本体１２４に固定されたプローブピン１２２はプローブ本体１２４の移動によって位置が調整される。   A probe pin 122 is fixed to the probe main body 124, and the position of the probe pin 122 fixed to the probe main body 124 is adjusted by the movement of the probe main body 124.

プローブピン１２０は、信号パッド１０６とまたは信号ライン１０８の不良検査の際導電フィルム１１０を通じて信号パッド１０６と、ブロック単位または一体的に接続される。そして、プローブピン１２０はそのプローブピン１２０自体の不良検査の際信号パッド１０６と一対一で直接接続される。このようなプローブピン１２０はプローブユニットと接続された検査装置（図示せず）からのブラック検査信号を信号パッド１０６に供給する。   The probe pin 120 is connected to the signal pad 106 or the signal pad 106 through the conductive film 110 in a block unit or integrally with the signal pad 106 or the signal line 108 for defect inspection. The probe pins 120 are directly connected to the signal pads 106 on a one-to-one basis when the probe pins 120 themselves are inspected for defects. Such a probe pin 120 supplies a black inspection signal from an inspection device (not shown) connected to the probe unit to the signal pad 106.

一方、信号パッド１０６及び信号ライン１０８が形成された表示パネル１００は、液晶を間に置いて接着された薄膜トランジスタ基板１０４及びカラーフィルタ基板１０２からなる液晶表示パネル１００に適用可能である。この液晶表示パネル１００のゲートラインにゲート信号を供給するゲート集積回路はゲートテープキャリアパッケージＴＣＰ上に実装される。または、複数の薄膜トランジスタＴＦＴを含むシフトレジスタで構成されるので液晶表示パネル１００の各画素と接続された薄膜トランジスタＴＦＴ及び複数の信号ラインと共に形成され非表示領域に内蔵される。   On the other hand, the display panel 100 in which the signal pads 106 and the signal lines 108 are formed can be applied to the liquid crystal display panel 100 including the thin film transistor substrate 104 and the color filter substrate 102 which are bonded with the liquid crystal interposed therebetween. A gate integrated circuit for supplying a gate signal to the gate line of the liquid crystal display panel 100 is mounted on a gate tape carrier package TCP. Alternatively, since it includes a shift register including a plurality of thin film transistors TFT, the thin film transistor TFT connected to each pixel of the liquid crystal display panel 100 and a plurality of signal lines are formed and incorporated in a non-display area.

また、図１に示された表示パネルは液晶表示パネルだけではなくプラズマ表示パネルＰＤＰ、電界発光素子ＥＬ、及び電界放出素子ＦＥＤなどにも適用可能である。   The display panel shown in FIG. 1 is applicable not only to a liquid crystal display panel but also to a plasma display panel PDP, an electroluminescence element EL, a field emission element FED, and the like.

図７及び図１０は本発明による表示パネルの検査方法を説明するための斜視図及び断面図である。   7 and 10 are a perspective view and a cross-sectional view for explaining a display panel inspection method according to the present invention.

まず、フィルムブロックユニット１３０に固定された導電フィルム１１０はフィルムブロックユニット１３０のシリンダによって液晶表示パネル１００の信号パッド１０６の方である前方に移動するようになる。その後、液晶表示パネル１００は図示されていないローディング装置によって導電フィルム１１０の方に上昇してその液晶表示パネル１００の信号パッド１０６と導電フィルム１１０が接続するようになる。この際、導電フィルム１１０は少なくとも一つのブロックそれぞれに含まれた複数個の信号パッド１０６を電気的に短絡される。   First, the conductive film 110 fixed to the film block unit 130 is moved forward by the cylinder of the film block unit 130 toward the signal pad 106 of the liquid crystal display panel 100. Thereafter, the liquid crystal display panel 100 is raised toward the conductive film 110 by a loading device (not shown) so that the signal pads 106 of the liquid crystal display panel 100 and the conductive film 110 are connected. At this time, the conductive film 110 is electrically short-circuited with the plurality of signal pads 106 included in each of at least one block.

導電フィルム１１０を通じて短絡された信号パッド１０６は図７及び図８に示すように導電フィルム１１０の方に下降するプローブユニット１２０のプローブピン１２２と接続するようになる。プローブピン１２２はプローブユニット１２０と接続された検査装置（図示せず）からのブラック信号である１次検査信号をブロック単位で短絡された信号パッド１０６に供給する。この際、各ブロックに含まれた信号パッド１０６のうち少なくともいずれか一つまたは各ブロックと対応されるプローブピン１２２のうち少なくともいずれか一つに損傷が発生されても導電フィルム１１０を通じて各ブロックの信号パッド１０６に同一の検査信号を供給することができる。これにより、プローブピン１２２と信号パッド１０６との接触不良を防止することができる。信号パッド１０６に供給された検査信号はその信号パッド１０６と接続された信号ライン１０８を通じて信号ライン１０８と接続された画素に供給される。   The signal pads 106 short-circuited through the conductive film 110 are connected to the probe pins 122 of the probe unit 120 descending toward the conductive film 110 as shown in FIGS. The probe pin 122 supplies a primary inspection signal which is a black signal from an inspection apparatus (not shown) connected to the probe unit 120 to the signal pad 106 short-circuited in units of blocks. At this time, even if at least one of the signal pads 106 included in each block or at least one of the probe pins 122 corresponding to each block is damaged, each block is connected through the conductive film 110. The same inspection signal can be supplied to the signal pad 106. As a result, poor contact between the probe pin 122 and the signal pad 106 can be prevented. The inspection signal supplied to the signal pad 106 is supplied to the pixel connected to the signal line 108 through the signal line 108 connected to the signal pad 106.

その後、作業者は肉眼検査または光学器具による自動検査を通じて液晶表示パネル１００に表示された画像によって液晶表示パネル１００の不良を判別するようになる。即ち、正常信号パッド１０６及び正常信号ライン１０８と接続された画素はブラック画像を具現する反面、不良信号パッド１０６または不良信号ライン１０８の少なくともいずれか一方と接続された画素は該当画素の色を具現する。このように、導電フィルム１１０を通じて不良信号パッド１０６、不良信号ライン１０８及び不良画素を検出することができる。   Thereafter, the operator determines a defect of the liquid crystal display panel 100 based on an image displayed on the liquid crystal display panel 100 through a visual inspection or an automatic inspection using an optical instrument. That is, a pixel connected to the normal signal pad 106 and the normal signal line 108 realizes a black image, whereas a pixel connected to at least one of the defective signal pad 106 and the defective signal line 108 realizes the color of the corresponding pixel. To do. Thus, the defective signal pad 106, the defective signal line 108, and the defective pixel can be detected through the conductive film 110.

その後、液晶表示パネル１００はローディング装置（図示せず）によって導電フィルム１１０と反対方向側に下降するようになる。導電フィルム１１０は図９及び図１０に示すようにフィルムブロックユニット１３０のシリンダによって液晶表示パネル１００の信号パッド１０６と遠くなるように後方に移動するようになる。   Thereafter, the liquid crystal display panel 100 is lowered in the direction opposite to the conductive film 110 by a loading device (not shown). As shown in FIGS. 9 and 10, the conductive film 110 moves backward so as to be far from the signal pad 106 of the liquid crystal display panel 100 by the cylinder of the film block unit 130.

以後、液晶表示パネル１００の信号パッド１０６はその信号パッド１０６の方に下降するようになるプローブユニット１２０を通じてプローブピン１２２と接続する。この際、プローブピン１２２は信号パッド１０６それぞれと一対一に対応される。プローブピン１２２と一対一で接続された信号パッド１０６はプローブユニット１２０と接続された検査装置（図示せず）からブラック信号である２次検査信号が供給される。ここで、２次検査信号は１次検査信号と同一であるか異なることができ、２次検査信号は少なくとも２以上の互いに異なる検査信号であることもできる。この２次検査信号は信号パッド１０６と接続された信号ライン１０８を通じて信号ライン１０８と接続された画素に供給される。   Thereafter, the signal pad 106 of the liquid crystal display panel 100 is connected to the probe pin 122 through the probe unit 120 that descends toward the signal pad 106. At this time, the probe pins 122 correspond to the signal pads 106 on a one-to-one basis. The signal pads 106 connected to the probe pins 122 on a one-to-one basis are supplied with a secondary inspection signal that is a black signal from an inspection device (not shown) connected to the probe unit 120. Here, the secondary inspection signal may be the same as or different from the primary inspection signal, and the secondary inspection signal may be at least two or more different inspection signals. The secondary inspection signal is supplied to the pixel connected to the signal line 108 through the signal line 108 connected to the signal pad 106.

その後作業者は肉眼検査または光学器具による自動検査を通じて液晶表示パネル１００に表示された画像によって液晶表示パネル１００の不良を判別するようになる。即ち、正常信号パッド１０６及び正常信号ライン１０８と接続された画素はブラック画像を具現する反面、不良信号パッド１０６または不良信号ライン１０８の少なくともいずれか一方と接続された画素は該当画素の色を具現するようになる。   Thereafter, the operator discriminates a defect of the liquid crystal display panel 100 based on an image displayed on the liquid crystal display panel 100 through a visual inspection or an automatic inspection using an optical instrument. That is, a pixel connected to the normal signal pad 106 and the normal signal line 108 realizes a black image, whereas a pixel connected to at least one of the defective signal pad 106 and the defective signal line 108 realizes the color of the corresponding pixel. To come.

この際、１次検査工程と２次検査工程の際、重複検出された信号パッド１０６及び信号ライン１０８は断線が発生されるか異物が発生された信号パッド１０６及び信号ライン１０８である。反面、１次検査工程の際検出されなく２次検査工程の際検出された信号パッド１０６及び信号ライン１０８は信号パッド１０６と対応されるプローブピン１２２の不良である。このように、２次検査工程ではプローブピン１２２と信号パッド１０６を一対一対応させてプローブピン１２２の不良を検出することができる。   At this time, in the primary inspection process and the secondary inspection process, the signal pad 106 and the signal line 108 that are detected in duplicate are the signal pad 106 and the signal line 108 in which disconnection is generated or foreign matter is generated. On the other hand, the signal pad 106 and the signal line 108 which are not detected in the primary inspection process but detected in the secondary inspection process are defective in the probe pins 122 corresponding to the signal pad 106. As described above, in the secondary inspection process, the probe pin 122 and the signal pad 106 are made to correspond one-to-one to detect a defect in the probe pin 122.

上述したように、本発明による表示パネルの検査装置及び検査方法は、少なくとも一つのブロックからなる複数の信号パッドを電気的に短絡させて複数の信号パッドに同一の１次検査信号を供給した後複数の信号パッドそれぞれに２次検査信号を供給する。   As described above, according to the display panel inspection apparatus and the inspection method of the present invention, after the plurality of signal pads including at least one block are electrically short-circuited and the same primary inspection signal is supplied to the plurality of signal pads. A secondary inspection signal is supplied to each of the plurality of signal pads.

これにより、本発明による表示パネルの検査装置及び検査方法は１及び２次検査信号を用いた検査工程によって信号ライン、信号パッド、画素の不良有無判断の正確性が高くなる。また、本発明による表示パネルの検査装置及び検査方法は信号パッドと接続されるプローブピンの不良有無を判断することもできる。   Accordingly, the display panel inspection apparatus and inspection method according to the present invention increases the accuracy of determining the presence / absence of defects in signal lines, signal pads, and pixels by an inspection process using primary and secondary inspection signals. In addition, the display panel inspection apparatus and method according to the present invention can also determine whether or not the probe pin connected to the signal pad is defective.

以上、本発明の実施形態によって詳細に説明したが、本発明はこれに限定されず、本発明が属する技術分野において通常の知識を有する者であれば、本発明の思想と精神を離れることなく、本発明を修正または変更できる。   As described above, the embodiments of the present invention have been described in detail. However, the present invention is not limited thereto, and those who have ordinary knowledge in the technical field to which the present invention belongs can be used without departing from the spirit and spirit of the present invention. The present invention can be modified or changed.

本発明は、表示パネルの検査に利用することができる。   The present invention can be used for inspection of a display panel.

本発明による表示パネルの検査装置を示す斜視図である。1 is a perspective view showing a display panel inspection apparatus according to the present invention. 図１に示された導電フィルムがブロック形に形成された図面である。FIG. 2 is a diagram in which the conductive film shown in FIG. 1 is formed in a block shape. 図１に示された導電フィルムが一体形に形成された図面である。FIG. 2 is a view in which the conductive film shown in FIG. 1 is integrally formed. 図１に示された導電フィルムを固定させるためのフィルム固定ユニットを示す斜視図である。It is a perspective view which shows the film fixing unit for fixing the electrically conductive film shown by FIG. 図１に示された導電フィルムの第１及び第２実施形態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows 1st and 2nd embodiment of the electrically conductive film shown by FIG. 図１に示された導電フィルムの第１及び第２実施形態を示す斜視図である。It is a perspective view which shows 1st and 2nd embodiment of the electrically conductive film shown by FIG. 本発明による表示パネルの信号ライン及び信号パッドの不良を検出する方法を説明するための図面である。3 is a diagram illustrating a method for detecting a defect in a signal line and a signal pad of a display panel according to the present invention. 本発明による表示パネルの信号ライン及び信号パッドの不良を検出する方法を説明するための図面である。3 is a diagram illustrating a method for detecting a defect in a signal line and a signal pad of a display panel according to the present invention. 本発明による検査装置の不良を検出する方法を説明するための図面である。3 is a diagram for explaining a method of detecting a defect in an inspection apparatus according to the present invention. 本発明による検査装置の不良を検出する方法を説明するための図面である。3 is a diagram for explaining a method of detecting a defect in an inspection apparatus according to the present invention.

符号の説明Explanation of symbols

１００ 液晶表示パネル、
１０２ カラーフィルタ基板、
１０４ 薄膜トランジスタ基板、
１０６ 信号パッド、
１０８ 信号ライン、
１１０ 導電フィルム、
１１２ ベースフィルム、
１１４ 導電膜、
１１６ 導電性ゴム、
１２０ プローブユニット、
１２２ プローブピン、
１２４ プローブ本体、
１３０ フィルムブロックユニット。 100 liquid crystal display panel,
102 color filter substrate,
104 thin film transistor substrate,
106 signal pads,
108 signal lines,
110 conductive film,
112 base film,
114 conductive film,
116 conductive rubber,
120 probe unit,
122 probe pins,
124 probe body,
130 Film block unit.

１３２ フィルム固定バー、
１３４ 段差面、
１３６ 固定ブロック。 132 film fixing bar,
134 Step surface,
136 Fixed block.

Claims (8)

表示パネルに形成された複数の信号パッドに電気的信号を供給する複数のプローブピンを有するプローブユニットと、
前記プローブユニット下端で前後に移動可能な導電フィルムと、
前記導電フィルムを前方に移動させて前記複数の信号パッドと前記プローブピンとの間に前記導電フィルムを介在させた状態において、前記複数の信号パッドに電気的信号を供給する１次検査信号供給部と、
前記導電フィルムを後方に移動させて前記複数の信号パッドに前記プローブピンを直接接続させた状態において、前記複数の信号パッドに電気的信号を供給する２次検査信号供給部と、
前記１次検査信号供給部と前記２次検査信号供給部によるいずれの検査によっても前記表示パネルの不良画素が検出された場合には、前記信号パッド側の不良と判定し、前記１次検査信号供給部による検査では前記表示パネルの不良画素は検出されず前記２次検査信号供給部による検査により前記表示パネルの不良画素が検出された場合には、前記プローブピンの不良と判定する不良判定部と、
を有することを特徴とする表示パネルの検査装置。 A probe unit having a plurality of probe pins for supplying electrical signals to a plurality of signal pads formed on the display panel;
A conductive film movable back and forth at the lower end of the probe unit;
A primary inspection signal supply unit that supplies an electrical signal to the plurality of signal pads in a state where the conductive film is moved forward and the conductive film is interposed between the plurality of signal pads and the probe pins; ,
In a state where the probe pins are directly connected to the plurality of signal pads by moving the conductive film backward, a secondary inspection signal supply unit that supplies an electrical signal to the plurality of signal pads;
When a defective pixel of the display panel is detected by any inspection by the primary inspection signal supply unit and the secondary inspection signal supply unit, it is determined that the signal pad side is defective, and the primary inspection signal If a defective pixel of the display panel is not detected by the inspection by the supply unit and a defective pixel of the display panel is detected by the inspection by the secondary inspection signal supply unit, the defect determination unit determines that the probe pin is defective. When,
A display panel inspection apparatus comprising: 前記導電フィルムは、
ベースフィルムと、
前記ベースフィルム上に形成され前記信号パッドと接続される導電膜と、
を含むことを特徴とする請求項１記載の表示パネルの検査装置。 The conductive film is
A base film,
A conductive film formed on the base film and connected to the signal pad;
The display panel inspection apparatus according to claim 1, further comprising: 前記導電フィルムは、
ベースフィルムと、
前記信号パッドと接続される領域の前記ベースフィルム上に形成される導電性ゴムと、
前記ベースフィルムの残りの領域上に形成される導電膜と、
を含むことを特徴とする請求項１記載の表示パネルの検査装置。 The conductive film is
A base film,
A conductive rubber formed on the base film in a region connected to the signal pad;
A conductive film formed on the remaining region of the base film;
The display panel inspection apparatus according to claim 1, further comprising: 前記導電膜は、ＢｅＣｕで形成されることを特徴とする請求項２及び３のうちいずれかに記載の表示パネルの検査装置。   4. The display panel inspection apparatus according to claim 2, wherein the conductive film is made of BeCu. 前記導電フィルムの位置を調整すると同時に導電フィルムを固定させるフィルムブロックユニットを追加的に具備することを特徴とする請求項１記載の表示パネルの検査装置。   2. The display panel inspection apparatus according to claim 1, further comprising a film block unit for fixing the conductive film at the same time as adjusting the position of the conductive film. 前記フィルムブロックユニットは、
前記導電フィルムが安着される段差面を有するフィルム固定バーと、
前記段差面上に安着される導電フィルムを固定させる固定ブロックと、
前記フィルムブロックユニットの位置を調整するシリンダと、
を含むことを特徴とする請求項５記載の表示パネルの検査装置。 The film block unit is
A film fixing bar having a stepped surface on which the conductive film is seated;
A fixing block for fixing a conductive film seated on the step surface;
A cylinder for adjusting the position of the film block unit;
The display panel inspection apparatus according to claim 5, further comprising: 前記導電フィルムは各駆動集積回路に対して対応される複数の信号パッド別に区分されて接続されることを特徴とする請求項１記載の表示パネルの検査装置。   2. The display panel inspection apparatus according to claim 1, wherein the conductive film is divided and connected to a plurality of signal pads corresponding to each driving integrated circuit. 前記１次検査信号供給部は、
前記プローブピンに同一の電気的信号を供給し、
前記２次検査信号供給部は、
前記プローブピンに少なくとも２以上の互いに異なる電気的信号を供給する、
ことを特徴とする請求項１に記載の表示パネルの検査装置。 The primary inspection signal supply unit includes:
Supplying the same electrical signal to the probe pin;
The secondary inspection signal supply unit includes:
Supplying at least two different electrical signal to the probe pins,
The display panel inspection apparatus according to claim 1.
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