KR101920224B1 - test apparatus for liquid crystal panel and test method using the same - Google Patents
test apparatus for liquid crystal panel and test method using the same Download PDFInfo
- Publication number
- KR101920224B1 KR101920224B1 KR1020120082457A KR20120082457A KR101920224B1 KR 101920224 B1 KR101920224 B1 KR 101920224B1 KR 1020120082457 A KR1020120082457 A KR 1020120082457A KR 20120082457 A KR20120082457 A KR 20120082457A KR 101920224 B1 KR101920224 B1 KR 101920224B1
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- probe
- liquid crystal
- distance
- crystal panel
- probe block
- Prior art date
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2832—Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
- G01R31/2836—Fault-finding or characterising
- G01R31/2844—Fault-finding or characterising using test interfaces, e.g. adapters, test boxes, switches, PIN drivers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
- G01R1/07364—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card with provisions for altering position, number or connection of probe tips; Adapting to differences in pitch
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
- G01R1/07392—Multiple probes manipulating each probe element or tip individually
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
Abstract
본 발명은 액정패널 검사장비에 관한 것으로, 본 발명의 액정패널 검사장비는 둘 사이의 거리 조절이 가능한 제1 및 제2 프로브 블록과; 각각은 상기 제1 및 제2 프로브 블록과 체결되며, 상기 제2 프로브 블록에 대응하는 n개(n은 자연수)의 체결공을 포함하는 다수의 브라켓을 포함한다.The present invention relates to a liquid crystal panel inspection equipment, and a liquid crystal panel inspection equipment of the present invention includes first and second probe blocks capable of adjusting the distance between the two; Each of the first and second probe blocks includes a plurality of brackets coupled to the first and second probe blocks and including n (n is a natural number) fastening holes corresponding to the second probe block.
Description
본 발명은 액정패널 검사장비 및 검사방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 프루브 콘택에 의한 전기신호를 통해 액정패널로부터 구현된 테스트 화상을 시각적으로 검사하기 위한 검사장비 및 이를 이용한 액정패널의 검사방법에 관한 것이다.
More particularly, the present invention relates to an inspection apparatus for visually inspecting a test image implemented from a liquid crystal panel through an electrical signal by a probe contact, and a method of inspecting a liquid crystal panel using the same. .
근래에 들어 사회가 본격적인 정보화 시대로 접어듦에 따라 대량의 정보를 처리 및 표시하는 디스플레이(display) 분야가 급속도로 발전해 왔고, 이에 부응하여 여러 가지 다양한 평판표시장치가 개발되어 각광받고 있다.In recent years, as the society has become a full-fledged information age, a display field for processing and displaying a large amount of information has rapidly developed, and various flat panel display devices have been developed in response to this.
이 같은 평판표시장치의 구체적인 예로는 액정표시장치(Liquid Crystal Display device: LCD), 플라즈마표시장치(Plasma Display Panel device: PDP), 전계방출표시장치(Field Emission Display device: FED), 전기발광표시장치(Electroluminescence Display device: ELD) 등을 들 수 있는데, 이들 평판표시장치는 박형화, 경량화, 저소비전력화의 우수한 성능을 보여 기존의 브라운관(Cathode Ray Tube: CRT)을 빠르게 대체하고 있다.Specific examples of such flat panel display devices include a liquid crystal display device (LCD), a plasma display panel (PDP), a field emission display (FED) And electroluminescence display device (ELD). These flat panel display devices are excellent in performance of thinning, light weight, and low power consumption, and are rapidly replacing existing cathode ray tubes (CRTs).
이중 특히 액정표시장치는 콘트라스트 비(contrast ratio)가 크고 동화상 표시에 적합하며 소비전력이 적다는 특징을 보여 노트북, 모니터, TV 등의 다양한 분야에서 활용되고 있는데, 이의 화상구현원리는 액정의 광학적 이방성과 분극성질을 이용하는 것으로, 액정은 분자구조가 가늘고 길며 배열에 방향성을 갖는 광학적 이방성과, 전기장 내에 놓일 경우 그 크기에 따라 분자배열 방향이 변화되는 분극성질을 띤다.In particular, a liquid crystal display device is characterized in that it has a large contrast ratio, is suitable for moving picture display, and has low power consumption, and is utilized in various fields such as a notebook computer, a monitor, and a TV. And the liquid crystal has an optical anisotropy in which the molecular structure is thin and long and has a direction in the arrangement and a polarizing property in which the direction of the molecular arrangement is changed according to the size when the liquid crystal is placed in the electric field.
일반적으로, 액정표시장치는 제1기판과 제2기판 사이로 액정층을 개재해서 합착시킨 액정패널을 포함하며, 제1기판과 제2기판의 내면에는 전극이 형성되어, 두 전극에 인가되는 전기장에 의해 액정분자의 배열방향을 변화시켜 투과율 차이를 발생시키게 된다. Generally, a liquid crystal display device includes a liquid crystal panel in which a liquid crystal layer is interposed between a first substrate and a second substrate, and electrodes are formed on the inner surfaces of the first substrate and the second substrate, and an electric field Thereby changing the alignment direction of the liquid crystal molecules and causing a difference in transmittance.
이러한 액정패널의 투과율 차이는 그 배면에 놓인 백라이트(backlight)로부터 공급되는 빛이 컬러필터를 통과하면서 색 조합이 반영되어 컬러화상의 형태로 디스플레이 된다.The difference in transmittance of the liquid crystal panel is reflected by the color combination of the light supplied from the backlight placed on the backside of the liquid crystal panel and displayed in the form of a color image.
한편, 일반적인 액정표시장치 제조공정은 제 1 및 제 2 기판을 형성하기 위하 기판제조공정과, 액정패널을 완성하는 셀(cell)공정, 그리고 액정패널과 백라이트를 일체화시키는 모듈(module)공정으로 구분될 수 있다.A general LCD manufacturing process is divided into a substrate manufacturing process for forming the first and second substrates, a cell process for completing the liquid crystal panel, and a module process for integrating the liquid crystal panel and the backlight. .
이중 기판제조공정에서는 박막증착(thin film deposition), 포토리소그라피(photo-lithography), 식각(etching) 등의 과정을 수 차례 반복해서 각 기판에 어레이층과 컬러필터층을 구현하고, 셀 공정에서는 제 1 또는 제 2 기판 중 어느 하나에 합착을 위한 씰패턴(seal pattern)을 형성한 후 액정층을 사이에 두고 두 기판을 대면 합착시켜 액정패널을 완성하며, 이렇게 완성된 액정패널은 모듈공정에서 편광판과 구동회로 등이 부착된 후 백라이트와 일체화되어 액정표시장치를 이룬다.In the dual-substrate manufacturing process, an array layer and a color filter layer are formed on each substrate by repeating processes such as thin film deposition, photo-lithography, and etching several times. In the cell process, Or a second substrate, a seal pattern is formed on the first substrate and the second substrate to form a seal pattern, and then the two substrates are bonded to each other with the liquid crystal layer interposed therebetween to complete the liquid crystal panel. A driving circuit and the like are attached and integrated with the backlight to form a liquid crystal display device.
이때, 셀 공정의 최종단계로서, 구동회로를 부착하기 전에, 액정패널에 오토 프로브(auto probe)라 일컬어지는 프로브 블록(probe block)을 통한 접촉에 의한 전기신호를 인가하여 테스트화상을 구현토록 하고, 이를 작업자의 육안으로 확인하는 비쥬얼 테스트를 통해 불량여부를 판정하는 액정패널 검사단계가 진행된다. At this time, as a final step of the cell process, an electrical signal by contact through a probe block called an auto probe is applied to the liquid crystal panel to attach a test image before attaching the driving circuit , And a liquid crystal panel inspection step of judging whether or not a defect is caused through a visual test in which the operator visually confirms the defect.
그런데, 이러한 검사단계 시 검사 대상인 액정패널의 모델 또는 액정패널에 실장되는 구동회로의 종류에 따라 액정패널에 형성된 접속패드의 개수, 간격 및 배열이 달라지게 된다. However, the number, spacing, and arrangement of the connection pads formed on the liquid crystal panel vary depending on the model of the liquid crystal panel to be inspected or the type of the driver circuit mounted on the liquid crystal panel.
따라서, 검사 대상에 따라 적합한 프로브 블록이 실장된 오토 프로브로 교체하여 검사를 진행해야 하는데, 이로 인해 교체에 의한 공정상의 불편함을 초래하게 되며, 공정시간 증가 및 비용 상승의 문제점을 야기하게 된다.Therefore, the inspection must be performed by replacing the probe with an auto-probe having an appropriate probe block mounted thereon depending on the object to be inspected. This causes inconveniences in the process due to the replacement, which increases the process time and increases the cost.
또한, 액정패널의 크기가 커질수록 프로브 블록의 개수가 증가하여 장비 내부 구조가 복잡해지므로, 비용이 더 상승하는 문제가 있다.
In addition, as the size of the liquid crystal panel increases, the number of probe blocks increases and the internal structure of the apparatus becomes complicated.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 검사 대상에 따라 적합함 프로브 블록이 실장된 오토 프로브의 교체에 따른 번거로움을 해소하고, 보다 간단하고 편리하게 다양한 모델의 액정패널에 사용할 수 있는 검사 장비를 제공하고자 하는 것을 목적으로 한다.
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and it is an object of the present invention to provide a probe card that can be used in various models of liquid crystal panels in a simpler and more convenient manner, It is intended to provide inspection equipment.
상기의 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 액정패널 검사장비는 둘 사이의 거리 조절이 가능한 제1 및 제2 프로브 블록과; 각각은 상기 제1 및 제2 프로브 블록과 체결되며, 상기 제2 프로브 블록에 대응하는 n개(n은 자연수)의 체결공을 포함하는 다수의 브라켓을 포함한다.In order to achieve the above object, the liquid crystal panel inspection equipment of the present invention comprises: first and second probe blocks capable of adjusting the distance between two; Each of the first and second probe blocks includes a plurality of brackets coupled to the first and second probe blocks and including n (n is a natural number) fastening holes corresponding to the second probe block.
상기 제1 프로브 블록은 상기 브라켓에 고정되고, 상기 제2 프로브 블록은 상기 브라켓 상에서 위치 변경이 가능하다.The first probe block is fixed to the bracket, and the second probe block is positionable on the bracket.
상기 체결공은 3개 이상이며, 상기 제2 프로브 블록은 상기 체결공 중 두 개와 체결된다.The number of the fastening holes is three or more, and the second probe block is fastened to two of the fastening holes.
여기서, 상기 체결공은 4개일 수 있다.Here, the number of the fastening holes may be four.
본 발명의 액정패널 검사장비는 상기 제1 및 제2 프로브 블록의 각각은 탐침을 포함하는 제1부분과 상기 브라켓에 체결되는 제2부분을 포함하고, 상기 제1 프로브 블록의 제1부분과 제2부분은 일직선 상에 놓이며, 상기 제2 프로브 블록의 제1 부분과 제2부분은 일직선 상에 놓이지 않는다.The liquid crystal panel inspection equipment of the present invention is characterized in that each of the first and second probe blocks includes a first portion including a probe and a second portion fastened to the bracket, The second portion is placed in a straight line, and the first portion and the second portion of the second probe block do not lie on a straight line.
상기 제1 프로브 블록의 제1부분과 상기 제2 프로브 블록의 제1부분 사이의 거리는 상기 제1 프로브 블록의 제2부분과 상기 제2 프로브 블록의 제2부분 사이의 거리보다 넓다.The distance between the first portion of the first probe block and the first portion of the second probe block is wider than the distance between the second portion of the first probe block and the second portion of the second probe block.
본 발명의 액정패널 검사장비는 상기 제1 및 제2 프로브 블록을 제어하기 위한 제어부와; 상기 제1 및 제2 프로브 블록과 상기 제어부 사이의 연결을 위한 제1 및 제2 체결 케이블을 더 포함하며, 상기 제2 체결 케이블은 상기 제1 및 제2 프로브 블록 사이의 거리가 최소인 경우를 기준으로 설계된다.
The liquid crystal panel inspection equipment of the present invention includes a controller for controlling the first and second probe blocks; And a first and a second fastening cables for connection between the first and second probe blocks and the control unit, wherein the second fastening cable has a minimum distance between the first and second probe blocks, .
위에 상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 검사 장비에서는, 하나의 브라켓에 거리 조절이 가능한 두 개의 프로브 블록을 체결하고, 브라켓을 이동할 수 있도록 함으로써, 액정패널의 종류 또는 액정패널에 실장되는 구동회로의 종류에 따라 접속패드의 개수, 간격 및 배열이 다른 다양한 종류의 액정패널에 대해 검사공정을 진행할 수 있다.As described above, in the inspection apparatus according to the present invention, two probe blocks capable of adjusting the distance can be fastened to one bracket and the bracket can be moved, so that the kind of the liquid crystal panel or the driving circuit mounted on the liquid crystal panel The inspection process can be performed on various types of liquid crystal panels having different numbers, spacing, and arrangements of connection pads according to the types.
따라서, 장비 구조가 단순해지며, 브라켓의 수량 및 브라켓의 이동에 필요한 모터의 개수를 줄일 수 있어, 제작 비용 절감 및 유지 비용 저감에 유리하다. Accordingly, the structure of the apparatus is simplified, and the number of motors required for the number of brackets and the movement of the bracket can be reduced, which is advantageous in reducing manufacturing costs and maintenance costs.
또한, 프로브 유닛을 교체할 필요가 없어 검사 공정시 공정상의 편리함을 가져올 수 있으며, 공정시간 줄일 수 있는 효과가 있다.
In addition, since it is not necessary to replace the probe unit, it is possible to provide a convenient process in the inspecting process and reduce the process time.
도 1은 액정표시장치용 액정패널의 제조공정을 단계별로 나타낸 공정 흐름도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정패널 검사장비를 개략적으로 도시한 도면이다.
도 3a 내지 도 3c는 본 발명에 따른 본 발명의 프로브 유닛의 프로브 블록과 브라켓의 구조를 도시한 도면이다.
도 4a와 도 4b는 본 발명의 프로브 유닛을 서로 다른 크기의 모델에 적용한 경우를 도시한 도면이다.FIG. 1 is a process flow chart showing steps of manufacturing a liquid crystal panel for a liquid crystal display device.
2 is a schematic view illustrating a liquid crystal panel inspection equipment according to an embodiment of the present invention.
3A to 3C are views showing the structure of a probe block and a bracket of a probe unit according to the present invention.
FIGS. 4A and 4B are views showing the case where the probe unit of the present invention is applied to models of different sizes. FIG.
이하, 도면을 참조하여 본 발명에 따른 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, embodiments according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.
도 1은 액정표시장치용 액정패널의 제조공정을 단계별로 나타낸 공정 흐름도이다. FIG. 1 is a process flow chart showing steps of manufacturing a liquid crystal panel for a liquid crystal display device.
도 1에 도시한 바와 같이, 제 1 단계(st1)는, 적, 녹, 청의 컬러필터를 포함하는 컬러필터기판과 박막트랜지스터를 포함하는 어레이기판을 각각 형성한 후, 기판 상에 존재할 수 있는 이물질을 제거하기 위한 세정단계이다. 여기서, 어레이기판은 박막을 증착하고 패터닝하는 과정을 여러 회 반복함으로써 형성되며, 컬러필터 기판의 컬러필터는 염색법, 인쇄법, 안료 분산법, 전착법 등을 이용하여 형성된다.As shown in Fig. 1, the first step (st1) is a step of forming an array substrate including a color filter substrate including red, green and blue color filters and a thin film transistor, In the cleaning step. Here, the array substrate is formed by repeating the process of depositing and patterning the thin film several times, and the color filter of the color filter substrate is formed using a dyeing method, a printing method, a pigment dispersion method, an electrodeposition method, or the like.
제 2 단계(st2)는, 컬러필터기판과 어레이기판 상에 각각 배향막을 형성하는 단계로, 배향막은 액정 분자의 초기 배열 방향을 결정한다.The second step (st2) is a step of forming an alignment film on the color filter substrate and the array substrate, respectively, and the orientation film determines the initial alignment direction of the liquid crystal molecules.
제 3 단계(st3)는, 컬러필터기판과 어레이기판 사이에 개재될 액정의 누설을 방지하도록 씰패턴을 인쇄하고, 컬러필터기판과 어레이기판 사이의 갭을 정밀하고 균일하게 유지하기 위해 일정한 크기의 스페이서를 산포하는 공정이다. In the third step st3, a seal pattern is printed so as to prevent leakage of the liquid crystal interposed between the color filter substrate and the array substrate, and the seal pattern is formed to have a constant size It is a step of dispersing the spacer.
제 4 단계(st4)는 두 기판 중 선택된 한 기판 상에 액정을 적하하는 단계이고, 제 5 단계(st5)는 컬러필터기판과 어레이기판의 합착공정 단계이며, 이후, 합착된 기판 상태로 보조 검사 공정을 실시하는 제 6 단계(st6)를 진행한다. The fourth step (st4) is a step of dropping liquid crystal on a selected one of the two substrates, the fifth step (st5) is a step of laminating the color filter substrate and the array substrate, The process proceeds to the sixth step (st6).
보조 검사 공정은 액정셀에 구성된 게이트 및 데이터라인에 셀 외곽부에 형성된 검사패드를 통해 전압을 인가하면서 육안관측 또는 현미경관측을 통해 진행된다. The auxiliary inspection process proceeds through a visual observation or a microscopic observation while applying a voltage to a gate and a data line formed in a liquid crystal cell through a test pad formed in a cell outer portion.
여기서, 보조 검사 공정은 화면상에 나타나는 얼룩 등을 관찰하는 목시검사로, 대형이물질이나 러빙불량에 의한 화면상에 발생될 수 있는 얼룩을 검사할 수 있다. Here, the auxiliary inspection process is a visual inspection for observing the dirt appearing on the screen, and it is possible to inspect the dirt that may occur on the screen due to large foreign matter or rubbing failure.
그러나, 보조 검사 공정을 통해 검출될 수 있는 불량요인은 한계가 있다. 예를 들면 단락 및 단선과 같은 선결함(Line defect) 및 점결함(Point defect) 등은 검출이 불가능하다. However, there is a limit to the defect factors that can be detected through the auxiliary inspection process. For example, line defects and point defects such as shorting and disconnection can not be detected.
제 7 단계(st7)는 기판을 셀 단위로 절단하는 단계이며, 마지막으로 제 8 단계(st8)는 액정패널의 주 검사 공정으로, 제 6 단계(st6)에서의 보조 검사 공정보다 좀더 정밀한 검사 공정으로 전기신호를 인가하는 방식의 오토 프로브(auto probe) 검사가 이루어진다. The seventh step (st7) is a step of cutting the substrate in units of cells. Finally, the eighth step (st8) is a main inspection step of the liquid crystal panel. In the sixth step (st6) An auto probe test is performed in which an electric signal is applied.
오토 프로브 검사는 보조 검사 공정에서 검출되지 못한 선결함(Line defect) 및 점결함(Point defect)등을 검출하기 위한 공정으로 외부로 노출된 패드에 프로브 콘택(probe contact)에 의한 전기신호를 인가하여 실질적으로 액정패널을 모의로 구동시킴으로써 각각의 불량을 검출하게 된다. Auto-probe inspection is a process for detecting line defects and point defects which are not detected in the auxiliary inspection process. It is a method of applying an electric signal by probe contact to the pad exposed to the outside, The liquid crystal panel is driven simulatively to detect the respective defects.
따라서, 오토 프로브 검사 공정을 거쳐 양질의 액정셀을 선별하게 되며, 이를 위해 프로브 유닛라 일컬어지는 액정패널 검사장비가 동원된다.Therefore, a liquid crystal cell inspection apparatus called a probe unit is used for selecting a liquid crystal cell of good quality through an auto-probe inspection process.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 액정패널 검사장비를 개략적으로 도시한 도면으로, 액정패널을 포함하여 도시한다.FIG. 2 is a schematic view of a liquid crystal panel inspection equipment according to an embodiment of the present invention, including a liquid crystal panel.
도 2에 도시한 바와 같이, 액정패널(110)은 제1기판(112)과 제2기판(114) 및 두 기판(112, 114) 사이에 개재된 액정층(도시하지 않음)을 포함한다. 제1기판(112)은 제2기판(114)보다 넓은 면적을 가지며, 노출된 제1기판(112) 상에는 다수의 접속패드(118)가 형성된다. 이러한 접속패드(118)는 검사 신호를 입력하기 위한 것으로, 구동회로(drive IC)에 일대일 대응하도록 형성될 수 있다. 액정패널(110) 상에는 점선으로 표시된 부분과 같이 화상을 표시하는 액티브영역이 정의된다. 2, the
이러한 액정패널(110)의 오토 프로브 검사를 위해 사용되는 본 발명의 프로브 유닛(120)은 다수의 프로브 블록(122, 124)과, 다수의 브라켓(126) 및 리니어가이드(128)를 포함한다. 도시하지 않았지만 프로브 유닛(120)은 각 구성요소들의 위치 조정을 위한 얼라인부와 각 구성요소를 제어하기 위한 제어부를 더 포함한다. The
각 프로브 블록(122, 124)은 접속패드(118)에 대응하며, 프로브 블록(122, 124)의 탐침(도시하지 않음)이 접속패드(118)에 접촉하여 전기신호를 인가한다. 이때, 하나의 브라켓(126)에는 두 개의 프로브 블록(122, 124)이 연결되며, 브라켓(126)은 리니어가이드(128)에 의해 선형 이동될 수 있다. Each of the
본 발명에 따른 프로브 유닛의 프로브 블록과 브라켓의 구조에 대하여 도 3a 내지 도 3c를 참조하여 보다 상세하게 설명한다. The structure of the probe block and the bracket of the probe unit according to the present invention will be described in more detail with reference to FIGS. 3A to 3C. FIG.
도 3a 내지 도 3c에 도시한 바와 같이, 본 발명에 따른 프로브 유닛은, 하나의 브라켓(126)에 제1 및 제2 프로브 블록(122, 124)이 체결된다. 여기서, 제1 프로브 블록(122)은 브라켓(126) 상에 고정되며, 제2 프로브 블록(124)은 브라켓(126) 상에서 위치 변경이 가능하다. As shown in FIGS. 3A to 3C, in the probe unit according to the present invention, the first and second probe blocks 122 and 124 are fastened to one
브라켓(126)은 제2 프로브 블록(124)에 대응하는 위치에 다수의 체결공, 예를 들어, 제1 내지 제4 체결공(126a, 126b, 126c, 126d)을 포함한다. 제1 내지 제4 체결공(126a, 126b, 126c, 126d)은 제1프로브 블록(122)과 브라켓(126)이 체결되는 영역으로부터 일정간격을 가지고 이격되어 순차적으로 위치한다. 제2프로브 블록(124)은 제1 내지 제4 체결공(126a, 126b, 126c, 126d) 중 인접한 두 개와 연결된다. The
여기서, 제1 및 제2 프로브 블록(122, 124)의 각각은 탐침을 포함하여 액정패널(도 2의 110)의 접속패드(도 2의 118)와 접촉하는 제1부분(122a, 124a)과 브라켓(126)에 체결되는 제2부분(122b, 124b)을 포함한다. 제1 프로브 블록(122)의 제1부분(122a)과 제2부분(124b)은 일직선 상에 놓이나, 제2 프로브 블록(124)의 제1부분(124a)과 제2부분(124b)은 일직선 상에 놓이지 않는다. 따라서, 제1 프로브 블록(122)의 제1부분(122a)과 제2 프로브 블록(124)의 제1부분(124a) 사이의 거리는 제1 프로브 블록(122)의 제2부분(122b)과 제2 프로브 블록(124)의 제2부분(124b) 사이의 거리보다 넓다. 이는 제1 및 제2 프로브 블록(124) 사이의 간섭을 피하기 위함이다. Here, each of the first and second probe blocks 122 and 124 includes a
도시하지 않았지만, 제1 프로브 블록(122)과 제2 프로브 블록(124)은 브라켓(126)과 체결을 위한 체결수단을 제2부분(122b, 124b) 하면에 포함하며, 제2 프로브 블록(124)의 체결수단은 제1 내지 제2 체결공(126a, 126b, 126c, 126d)에 대응하는 형상을 가진다. Although not shown, the
접속패드(도 2의 118) 사이의 거리가 비교적 짧은 제1액정패널의 검사를 위해, 도 3a에 도시한 바와 같이, 제2 프로브 블록(124)은 제1 프로브 블록(122)에 인접한 제1 및 제2 체결공(126a, 126b)을 통해 브라켓(126)과 체결된다. 따라서, 제1 프로브 블록(122)과 제2 프로브 블록(124) 사이의 거리는 최소가 된다. For inspection of the first liquid crystal panel having a relatively short distance between the connection pads (118 in Fig. 2), as shown in Fig. 3A, the
제1액정패널보다 큰 제2액정패널의 검사를 위해, 도 3b에 도시한 바와 같이, 제2 프로브 블록(124)은 제2 및 제3 체결공(126b, 126c)을 통해 브라켓(126)과 체결되며, 제1 프로브 블록(122)과 제2 프로브 블록(124) 사이의 거리는 도 3a에서 보다 넓어진다. 3B, the
제2액정패널보다 큰 제3액정패널의 검사를 위해, 도 3c에 도시한 바와 같이, 제2 프로브 블록(124)은 제3 및 제4 체결공(126c, 126d)을 통해 브라켓(126)과 체결된다. 따라서, 제1 프로브 블록(122)과 제2 프로브 블록(124) 사이의 거리는 도 3b에서 보다 넓어진다.The
따라서, 본 발명에 따른 프로브 유닛 하나로 적어도 세 개의 크기가 다른 모델에 적용할 수 있다. Therefore, one probe unit according to the present invention can be applied to at least three different size models.
한편, 도시하지 않았지만, 본 발명의 프로브 유닛은 제1 및 제2 프로브 블록(122, 124)과 브라켓(126) 등의 구성요소를 제어하기 위한 제어부와, 제1 및 제2 프로브 블록(122, 124)과 제어부 사이의 연결을 위한 제1 및 제2 체결 케이블을 더 포함한다. 제어부는 인쇄회로기판(printed circuit board: PCB)으로 이루어질 수 있으며, 제1 및 제2 체결 케이블은 필름 형태로 유연성을 가지는 물질로 형성된다. 이때, 제2 체결 케이블은 제1 및 제2 프로브 블록(122, 124) 사이의 거리가 최소인 경우를 기준으로 설계된다. 즉, 도 3a에서와 같이 제2 프로브 블록(124)이 제1 및 제2 체결공(126a, 126b)을 통해 브라켓(126)에 체결된 경우를 기준으로 제2 체결 케이블이 설계되며, 제2 프로브 블록(124)의 위치를 변경하더라도 문제가 발생하지 않도록 유연성을 가지는 것이 바람직하다. Although not shown, the probe unit of the present invention includes a control unit for controlling components such as the first and second probe blocks 122 and 124 and the
이와 같이, 본 발명에서는 하나의 브라켓에 두 개의 프로브 블록을 연결하여, 각 브라켓마다의 이동에 필요한 모터의 개수를 줄일 수 있다. 따라서, 구조를 단순화하고 제작 비용 절감 및 유지 비용 저감에 유리하다. As described above, in the present invention, two probe blocks are connected to one bracket to reduce the number of motors required for each bracket. Therefore, it is advantageous to simplify the structure, reduce manufacturing cost, and reduce maintenance cost.
또한, 브라켓을 이동하면서 브라켓 내에서 프로브 블록 사이의 거리 또한 조절이 가능하도록 함으로써, 하나의 장비로 다양한 크기의 모델에 적용 가능하다.
In addition, the distance between the probe blocks in the bracket can be adjusted while moving the bracket, so that it can be applied to various sizes of models with one equipment.
구체적으로 본 발명의 프로브 유닛을 서로 다른 크기의 모델에 적용한 경우를 도 4a와 도 4b에 도시한다. 여기서, 도 4a의 액정패널이 도 4b의 액정패널보다 크며, 접속패드 간 간격도 넓다. Specifically, FIGS. 4A and 4B show the case where the probe unit of the present invention is applied to models of different sizes. Here, the liquid crystal panel of Fig. 4A is larger than that of the liquid crystal panel of Fig. 4B, and the interval between the connection pads is also wide.
먼저, 도 4a에 도시한 바와 같이, 제1액정패널에 대하여 인접한 브라켓(126)은 제1거리(d11)를 가지고 배치되며, 제1 및 제2 프로브 블록(122, 124)은 제2거리(d12)를 가지고 배치된다. First, as shown in FIG. 4A, the
제1액정패널보다 작은 제2액정패널에 대하여, 도 4b에 도시한 바와 같이, 인접한 브라켓(126)은 제1거리(d11)보다 좁은 제3거리(d21)를 가지고 배치되며, 제2 프로브 블록(124)의 위치를 변경하여 제1 및 제2 프로브 블록(122, 124)은 제2거리(d12)보다 좁은 제4거리(d22)를 가지고 배치된다. 여기서, 제1거리(d11) 및 제3거리(d21)는 인접한 브라켓(126)의 중심 사이의 거리로 정의되며, 제2거리(d12) 및 제4거리(d22)는 제1 및 제2 프로브 블록(122, 124)의 중심 사이의 거리로 정의된다. As shown in Fig. 4B, the
일례로, 도 4a의 제1액정패널은 55인치 모델이고, 도 4b의 제2액정패널은 47인치 모델일 경우, 제1거리(d11)는 약 169.7mm이고 제2거리(d12)는 약 78.1mm이며, 제3거리(d21)는 약 138.4mm이고, 제4거리(d22)는 약 59.1mm일 수 있다. 이때, 인접한 브라켓(126)의 제2 프로브 블록(124)과 제1 프로브 블록(122) 사이의 거리는, 도 4a의 경우 약 84.84mm이고, 도 4b의 경우 약 69.2mm일 수 있다.For example, if the first liquid crystal panel of FIG. 4A is a 55 inch model and the second liquid crystal panel of FIG. 4B is a 47 inch model, the first distance d11 is about 169.7 mm and the second distance d12 is about 78.1 mm, the third distance d21 is about 138.4 mm, and the fourth distance d22 is about 59.1 mm. In this case, the distance between the
이와 같이, 본 발명에서는 하나의 프로브 유닛을 다양한 모델에 적용할 수 있다.
As described above, in the present invention, one probe unit can be applied to various models.
본 발명은 상기한 실시예에 한정되지 아니하며, 본 발명의 정신을 벗어나지 않는 이상 다양한 변화와 변형이 가능하다.
The present invention is not limited to the above-described embodiments, and various changes and modifications may be made without departing from the spirit of the present invention.
122: 제1 프로브 블록 124: 제2 프로브 블록
122a, 124a: 제1부분 122b, 124b: 제2부분
126: 브라켓 128: 리니어 가이드
126a, 126b, 126c, 126d: 제1 내지 제4 체결공122: first probe block 124: second probe block
122a, 124a:
126: Bracket 128: Linear guide
126a, 126b, 126c, 126d: first to fourth fastening holes
Claims (9)
각각은 상기 제1 및 제2 프로브 블록과 체결되며, 상기 제2 프로브 블록에 대응하는 n개(n은 자연수)의 체결공을 포함하고, 상기 제1 방향을 따라 배열되는 다수의 브라켓
을 포함하고,
상기 다수의 브라켓은 상기 제1 방향을 따라 인접한 둘 사이의 거리 조절이 가능하며,
상기 제1 및 제2 프로브 블록의 각각은 탐침을 포함하는 제1부분과 상기 브라켓에 체결되는 제2부분을 포함하고, 상기 제1 프로브 블록의 제1부분의 중심과 제2부분의 중심은 일직선 상에 놓이며, 상기 제2 프로브 블록의 제1 부분의 중심과 제2부분의 중심은 일직선 상에 놓이지 않고,
상기 제1 프로브 블록의 제1부분의 중심과 상기 제2 프로브 블록의 제1부분의 중심 사이의 거리는 상기 제1 프로브 블록의 제2부분의 중심과 상기 제2 프로브 블록의 제2부분의 중심 사이의 거리보다 넓은 액정패널 검사장비.
First and second probe blocks capable of adjusting a distance between the first and second probe blocks along a first direction;
(N is a natural number) fastening holes corresponding to the first and second probe blocks, respectively, and a plurality of brackets
/ RTI >
The plurality of brackets are capable of adjusting a distance between two adjacent ones along the first direction,
Wherein each of the first and second probe blocks includes a first portion including a probe and a second portion coupled to the bracket, wherein a center of the first portion and a center of the second portion of the first probe block are straight The center of the first portion of the second probe block and the center of the second portion are not on a straight line,
The distance between the center of the first portion of the first probe block and the center of the first portion of the second probe block is less than the distance between the center of the second portion of the first probe block and the center of the second portion of the second probe block LCD panel inspection equipment wider than the distance of.
상기 제1 프로브 블록은 상기 브라켓에 고정되고, 상기 제2 프로브 블록은 상기 브라켓 상에서 위치 변경이 가능한 액정패널 검사장비.
The method according to claim 1,
Wherein the first probe block is fixed to the bracket and the second probe block is positionally changeable on the bracket.
상기 체결공은 3개 이상이며, 상기 제2 프로브 블록은 상기 체결공 중 두 개와 체결되는 액정패널 검사장비.
3. The method of claim 2,
Wherein the number of the fastening holes is three or more, and the second probe block is fastened to two of the fastening holes.
상기 체결공은 4개인 액정패널 검사장비.
The method of claim 3,
The fastening hole has four liquid crystal panel inspection equipment.
상기 제1 및 제2 프로브 블록을 제어하기 위한 제어부와;
상기 제1 및 제2 프로브 블록과 상기 제어부 사이의 연결을 위한 제1 및 제2 체결 케이블을 더 포함하며,
상기 제2 체결 케이블은 상기 제1 및 제2 프로브 블록 사이의 거리가 최소인 경우를 기준으로 설계되는 액정패널 검사장비.The method according to claim 1,
A controller for controlling the first and second probe blocks;
Further comprising first and second fastening cables for connection between the first and second probe blocks and the controller,
And the second fastening cable is designed on the basis of a minimum distance between the first and second probe blocks.
상기 다수의 브라켓을 선형 이동시키는 리니어가이드를 더 포함하는 액정패널 검사장비.
The method according to claim 1,
And a linear guide linearly moving the plurality of brackets.
상기 다수의 브라켓 각각은 모터에 의해 이동하는 액정패널 검사장비.9. The method of claim 8,
Wherein each of the plurality of brackets is moved by a motor.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120082457A KR101920224B1 (en) | 2012-07-27 | 2012-07-27 | test apparatus for liquid crystal panel and test method using the same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120082457A KR101920224B1 (en) | 2012-07-27 | 2012-07-27 | test apparatus for liquid crystal panel and test method using the same |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20140014970A KR20140014970A (en) | 2014-02-06 |
KR101920224B1 true KR101920224B1 (en) | 2018-11-20 |
Family
ID=50264771
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020120082457A KR101920224B1 (en) | 2012-07-27 | 2012-07-27 | test apparatus for liquid crystal panel and test method using the same |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR101920224B1 (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102150628B1 (en) * | 2020-04-24 | 2020-09-02 | 주식회사 디에스케이 | variable probe unit |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008082837A (en) * | 2006-09-27 | 2008-04-10 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | Substrate inspecting device |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100673795B1 (en) * | 2004-12-17 | 2007-01-24 | 주식회사 디이엔티 | Flat panel display tester |
KR100818229B1 (en) * | 2006-04-04 | 2008-04-01 | 삼성전자주식회사 | Digital broadcasting transmission apparatus and method for inserting information necessary to receiver demodulation thereof |
JP2008002837A (en) * | 2006-06-20 | 2008-01-10 | Denso Corp | Method of manufacturing semiconductor capacitive sensor |
JP5019827B2 (en) * | 2006-09-06 | 2012-09-05 | 株式会社日本マイクロニクス | Inspection device |
KR20100058395A (en) * | 2008-11-24 | 2010-06-03 | 주식회사 코디에스 | Testing apparatus for flat panel display |
KR20100096546A (en) * | 2009-02-24 | 2010-09-02 | 엘지디스플레이 주식회사 | Liquid crystal panel test apparatus and test method using the same |
-
2012
- 2012-07-27 KR KR1020120082457A patent/KR101920224B1/en active IP Right Grant
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2008082837A (en) * | 2006-09-27 | 2008-04-10 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | Substrate inspecting device |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102150628B1 (en) * | 2020-04-24 | 2020-09-02 | 주식회사 디에스케이 | variable probe unit |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20140014970A (en) | 2014-02-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2275861B1 (en) | Active matrix substrate, display device, method for inspecting active matrix substrate, and method for inspecting display device | |
US10962567B2 (en) | Systems and methods for electrical inspection of flat panel displays using cell contact probing pads | |
KR101742506B1 (en) | Array Test Device And Array Test Method | |
EP1944648A2 (en) | Display panel, method of inspecting the display panel and method of manufacturing the display panel | |
US20100006838A1 (en) | Active matrix substrate, display device, and active matrix substrate inspecting method | |
KR101234088B1 (en) | Array test apparatus | |
US20110006780A1 (en) | Active matrix substrate, display device, method for inspecting active matrix substrate, and method for inspecting display device | |
KR20010087355A (en) | Liquid crystal display device and manufacturing method thereof | |
KR101129195B1 (en) | Array test apparatus | |
KR100640208B1 (en) | Bump structure for testing tft-lcd | |
JP5441315B2 (en) | Display panel inspection device | |
KR102010492B1 (en) | Liquid crystal display device and Method for manufacturing the same | |
US20070052896A1 (en) | TFT array substrate for inspection and method for inspection using the same | |
KR20100096546A (en) | Liquid crystal panel test apparatus and test method using the same | |
KR101663755B1 (en) | Index type liquid crystal cell inspecting apparatus | |
KR101920224B1 (en) | test apparatus for liquid crystal panel and test method using the same | |
KR20120075096A (en) | Liquid crystal display device and inspection method thereof | |
US20150146122A1 (en) | Trace Structure, Repair Method and Liquid Crystal Panel Thereof | |
KR102037053B1 (en) | Display panel | |
JP2009036938A (en) | Display device | |
KR101165463B1 (en) | liquid crystal display device and switching element repair method threreof | |
KR20070034696A (en) | Liquid Crystal Display and Switching Device Repair Method | |
US20240087492A1 (en) | Display substrate, test method for the same and display device | |
KR20050003255A (en) | Method for testing liquid crystal display panel | |
KR20060001573A (en) | Liquid crystal display device including test point formed on flexable printed circuit |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A201 | Request for examination | ||
E902 | Notification of reason for refusal | ||
AMND | Amendment | ||
E601 | Decision to refuse application | ||
AMND | Amendment | ||
X701 | Decision to grant (after re-examination) | ||
GRNT | Written decision to grant |