KR100673795B1 - Flat panel display tester - Google Patents

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KR100673795B1
KR100673795B1 KR1020040108130A KR20040108130A KR100673795B1 KR 100673795 B1 KR100673795 B1 KR 100673795B1 KR 1020040108130 A KR1020040108130 A KR 1020040108130A KR 20040108130 A KR20040108130 A KR 20040108130A KR 100673795 B1 KR100673795 B1 KR 100673795B1
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김태호
김준석
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주식회사 디이엔티
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    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
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    • G02F1/136254Checking; Testing

Abstract

본 발명은 평판 표시패널을 검사하는 장치에 관한 것으로, 특히 로딩되는 패널의 사이즈에 따라 베이스 및 프로브를 이동하여 신속하고 정확하게 셋팅할 수 있도록 한 평판 표시패널 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for inspecting a flat panel display panel, and more particularly, to a flat panel display panel inspecting apparatus which enables the base and the probe to be set quickly and accurately according to the size of a panel to be loaded.
이에 본 발명은, 패널이 로딩되는 워크테이블의 전방에 설치되는 스테이지와, 상기 스테이지상에 가로방향으로 설치되며 다수개의 데이터 프로브가 장착되는 제1 베이스와, 상기 스테이지상에 세로방향으로 설치되며 다수개의 게이트 프로브가 장착되는 제2 베이스를 포함하는 평판 표시패널 검사장치에 있어서, 상기 제1,2 베이스는 로딩된 패널의 사이즈에 따라 위치 이동이 가능하게 설치되며, 상기 데이터 프로브 및 게이트 프로브는 패널상에 배치된 접점을 따라 각각 이동이 가능하게 설치되는 것을 특징으로 한다.Accordingly, the present invention, the stage is installed in front of the worktable is loaded with the panel, the first base is installed horizontally on the stage and the plurality of data probes are mounted, and the vertically installed on the stage A flat panel display inspection apparatus including a second base on which two gate probes are mounted, wherein the first and second bases are installed to be movable in position according to the size of the loaded panel. Characterized in that each movement is installed along the contacts disposed on the.
상기와 같은 검사장치를 제공함으로써, 종래와는 달리 작업의 편의성 및 검사의 정밀성을 향상시킬 수 있음은 물론, 어댑터의 교체 및 프로브 정렬에 따른 인력 및 시간의 낭비를 최소화할 수 있는 효과를 가진다.By providing the inspection device as described above, unlike conventional, it is possible to improve the convenience of work and the precision of the inspection, as well as to minimize the waste of manpower and time due to replacement of the adapter and probe alignment.
스테이지, 베이스, 프로브, 레일, LM가이드Stage, Base, Probe, Rail, LM Guide

Description

평판 표시패널 검사장치{FLAT PANEL DISPLAY TESTER}Flat Panel Display Panel {FLAT PANEL DISPLAY TESTER}
도 1은 본 발명의 일 실시예를 보인 사시도.1 is a perspective view showing an embodiment of the present invention.
도 2는 도 1의 평면도.2 is a plan view of FIG.
도 3은 도 2의 작동상태도.3 is an operating state of FIG.
도 4는 종래 검사장치의 일 예를 보인 평면도.Figure 4 is a plan view showing an example of a conventional inspection device.
※ 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명※ Explanation of codes for main parts of drawing
10 : 스테이지10: stage
20 : 제1 베이스 21 : 데이터 프로브20: first base 21: data probe
22 : 레일 23 : 가이드부재22: rail 23: guide member
30 : 제2 베이스 31 : 게이트 프로브30: second base 31: gate probe
32 : 레일 33 : 가이드부재32: rail 33: guide member
P : 패널P: Panel
본 발명은 평판 표시패널을 검사하는 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 패널의 데이터 라인 및 게이트 라인에 전원을 인가하여, 각 단위 패널의 외관 및 전기적인 불량을 검사하는 평판 표시패널 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for inspecting a flat panel display panel, and more particularly, to a flat panel display panel inspecting apparatus for inspecting the appearance and electrical defects of each unit panel by applying power to a data line and a gate line of the panel. will be.
일반적으로 평판 표시패널은 TV나 컴퓨터의 모니터에 사용되고 있는 음극선관(CRT, Cathode Ray Tube)을 대체하기 위해 개발된 차세대 표시장치로, LCD(Liquid Crystal Display Device), PDP(Plasma Display Panel), EL(Electro Luminance) 등이 대표적으로 사용되고 있다.In general, flat panel displays are the next-generation display devices developed to replace Cathode Ray Tubes (CRTs), which are used in TVs and computer monitors.These include Liquid Crystal Display Device (LCD), Plasma Display Panel (PDP) and EL. (Electro Luminance) is used as a representative.
한편, 상기 평판 표시패널을 생산하는 과정에서 백라이트, 구동회로 등을 조립하기 전에 패널의 외관 및 전기적인 결함을 검사하는 공정을 거치게 된다. 상기 검사공정은 검사장치에서 각 단위 패널에 구비된 데이터 라인과 게이트 라인에 전원을 인가하여, 작업자가 패널의 불량여부를 육안으로 검사하는 방식으로 진행되며, 도 4는 종래 검사장치의 일 예를 보인 사시도이다.Meanwhile, in the process of producing the flat panel display panel, the panel is inspected for appearance and electrical defects before assembling the backlight and the driving circuit. The inspection process is performed by applying power to the data line and the gate line provided in each unit panel in the inspection apparatus so that the operator visually inspects whether the panel is defective, and FIG. 4 illustrates an example of a conventional inspection apparatus. It is a perspective view shown.
도시된 바와 같이, 스테이지(100)의 상면에는 가로방향으로 데이터 베이스(200)가 장착되고 세로방향으로 게이트 베이스(300)가 장착되며, 상기 데이터 베이스 및 게이트 베이스에는 각각 데이터 니들(211)이 구비된 데이터 프로브(210) 및 게이트 니들(311)이 구비된 게이트 프로브(310)가 다수로 장착되어 있다.As shown, the database 200 is mounted on the upper surface of the stage 100 in the horizontal direction, and the gate base 300 is mounted in the vertical direction, and the data needle 211 is provided on the database and the gate base, respectively. A plurality of gate probes 310 including the data probe 210 and the gate needle 311 are mounted.
이에 따라, 스테이지(100)의 후방에 구비된 워크테이블(미도시)상에 패널이 로딩되면, 상기 워크테이블이 전진하여 상기 스테이지의 중앙부에 패널을 셋팅한다. 이때, 패널의 측부에 구비된 컨텍 패드(contact pad)의 접점에 데이터 니들(211) 및 게이트 니들(311)이 접지됨으로써, 패널의 데이터 라인과 게이트 라인에 전원을 인가하여 검사를 실시하게 된다.Accordingly, when the panel is loaded on the work table (not shown) provided behind the stage 100, the work table is advanced to set the panel at the center of the stage. At this time, the data needle 211 and the gate needle 311 are grounded at the contacts of the contact pads provided on the side of the panel, so that power is applied to the data line and the gate line of the panel to perform the inspection.
그러나, 종래의 검사장치는 스테이지상에 프로브의 위치가 고정됨으로써, 사이즈가 다른 패널을 검사하고자 하는 경우에는 베이스상에 별도의 어댑터(adapter, 미도시)를 설치하여 프로브의 위치를 조정해야 하는 불편함이 있었다. However, in the conventional inspection apparatus, since the position of the probe is fixed on the stage, when it is desired to inspect panels of different sizes, it is inconvenient to adjust the position of the probe by installing a separate adapter (not shown) on the base. There was a ham.
즉, 패널의 사이즈에 따라 어댑터를 설치 및 변경해야 함으로써, 그에 따른 인력과 시간의 낭비가 초래됨은 물론, 어댑터의 설치 및 프로브의 위치셋팅과정에서 위치상의 오차가 발생되어 검사의 정밀도가 저하되는 문제점이 있었다.That is, by installing and changing the adapter according to the size of the panel, not only waste of manpower and time, but also a positional error occurs during the installation of the adapter and the positioning of the probe, and the accuracy of inspection is deteriorated. There was this.
또한, 스테이지에 장착할 수 있는 패널의 최대사이즈와 최소사이즈의 차이가 클 경우에는, 패널의 검사시 어댑터를 2장 내지 3장씩 겹쳐서 설치해야 함으로써, 작업의 편의성 및 검사의 정밀도가 현저하게 저하되는 등 많은 문제점이 있었다.In addition, when the difference between the maximum size and the minimum size of the panel that can be mounted on the stage is large, two to three adapters must be installed in the panel inspection, which greatly reduces the convenience of work and the accuracy of the inspection. There were many problems.
이에, 본 발명은 상술한 바와 같은 종래의 제반 문제점을 해소하기 위해 안출된 것으로, 그 목적은 로딩되는 패널의 사이즈에 따라 베이스 및 프로브를 이동하여 신속하고 정확하게 셋팅할 수 있도록 한 평판 표시패널 검사장치를 제공함에 있다.Accordingly, the present invention has been made to solve the conventional problems as described above, the purpose of the flat panel display panel inspection apparatus that can be set quickly and accurately by moving the base and the probe according to the size of the panel to be loaded In providing.
상기와 같은 목적을 이루기 위한 본 발명의 일 양상은 패널이 로딩되는 워크테이블의 전방에 설치되는 스테이지와, 상기 스테이지상에 가로방향으로 설치되며 다수개의 데이터 프로브가 장착되는 제1 베이스와, 상기 스테이지상에 세로방향으로 설치되며 다수개의 게이트 프로브가 장착되는 제2 베이스를 포함하는 평판 표시패널 검사장치에 있어서, 상기 제1,2 베이스는 로딩된 패널의 사이즈에 따라 위치 이동이 가능하게 설치되며, 상기 데이터 프로브 및 게이트 프로브는 패널상에 배치 된 접점을 따라 각각 이동이 가능하게 설치되는 것을 특징으로 한다.One aspect of the present invention for achieving the above object is a stage that is installed in front of the worktable is loaded panel, a first base installed in the horizontal direction on the stage and a plurality of data probes, the stage In the flat display panel inspection apparatus including a second base installed in the vertical direction on the plurality of gate probes are mounted, wherein the first and second bases are installed to be movable in position according to the size of the loaded panel, The data probe and the gate probe may be installed to be movable along the contacts disposed on the panel.
이에 따라, 패널의 로딩시 그 사이즈에 맞게 제1,2 베이스를 각각 이동시킨 후 각 프로브들을 패널상의 접점에 맞추어 이동시킴으로써, 다양한 사이즈의 패널을 신속하고 정확하게 검사할 수 있게 된다.Accordingly, when the panel is loaded, the first and second bases are respectively moved according to their sizes, and then the probes are moved in accordance with the contacts on the panel, thereby quickly and accurately inspecting panels of various sizes.
상기 프로브를 이동함에 있어서, 본 발명의 일 양상은 상기 제1 베이스에 패널의 가로방향으로 제1 레일부재가 설치되고, 상기 제2 베이스에는 패널의 세로방향으로 제2 레일부재가 설치되며, 상기 데이터 프로브 및 게이트 프로브는 상기 제1,2 레일부재상에 슬라이드 가능하게 장착되는 것을 특징으로 한다.In moving the probe, an aspect of the present invention is that the first rail member is installed in the horizontal direction of the panel in the first base, the second rail member is installed in the longitudinal direction of the panel in the second base, The data probe and the gate probe are slidably mounted on the first and second rail members.
상기 제1,2 베이스를 이동함에 있어서, 본 발명의 일 양상은 상기 제1,2 베이스가 각각 다수개의 LM가이드상에 설치되며, 상기 LM가이드는 패널을 향하여 상호 동일한 경사각으로 배치되는 것을 특징으로 한다.In moving the first and second bases, an aspect of the present invention is characterized in that the first and second bases are respectively provided on a plurality of LM guides, and the LM guides are disposed at the same inclination angle toward the panel. do.
상술한 본 발명의 양상은 첨부된 도면을 참조하여 설명되는 바람직한 실시예를 통하여 더욱 명백해질 것이다. 이하에서는 바람직한 실시예를 통해 당업자가 본 발명을 용이하게 이해하고 재현할 수 있도록 상세히 설명하기로 한다.Aspects of the present invention described above will become more apparent through preferred embodiments described with reference to the accompanying drawings. Hereinafter, the present invention will be described in detail so that those skilled in the art can easily understand and reproduce the present invention.
도 1,2는 본 발명의 일 실시예를 보인 사시도 및 평면도이고, 도 3은 도 2의 작동상태도이다. 도시된 바와 같이, 본 발명의 평판 표시패널 검사장치에는 외부에서 공급된 패널(P)이 로딩되는 워크테이블(미도시)과, 그 전방에 설치되는 사각틀 형상의 스테이지(10)와, 상기 스테이지상에 가로방향으로 설치되며 다수개의 데이터 프로브(21)가 장착되는 제1 베이스(20)와, 상기 스테이지상에 세로방향으로 설치되며 다수개의 게이트 프로브(31)가 장착되는 제2 베이스(30)가 구비된다.1 and 2 are a perspective view and a plan view showing an embodiment of the present invention, Figure 3 is an operating state diagram of FIG. As illustrated, the flat panel display panel inspection apparatus of the present invention includes a work table (not shown) to which the panel P supplied from the outside is loaded, a stage 10 having a rectangular frame shape installed in front of it, and the stage image. The first base 20 is installed in the horizontal direction and the plurality of data probes 21 is mounted, and the second base 30 is installed vertically on the stage and the plurality of gate probes 31 are mounted. It is provided.
이때, 제1,2 베이스(20)(30)가 로딩된 패널의 사이즈에 따라 위치 이동이 가능하게 설치되고, 데이터 프로브(21) 및 게이트 프로브(31)는 패널상에 배치된 접점을 따라 각각 이동이 가능하게 설치되는 것을 특징으로 한다.In this case, the first and second bases 20 and 30 are installed to be movable in position according to the size of the loaded panel, and the data probe 21 and the gate probe 31 are respectively located along the contacts disposed on the panel. Characterized in that the movement is possible.
이에 따라, 상기 워크테이블상에 패널이 로딩되면 작업자는 그 사이즈에 맞추어 제1,2 베이스(20)(30)를 각각 이동시켜 재배치할 수 있다.Accordingly, when the panel is loaded on the work table, the operator may move and reposition the first and second bases 20 and 30 according to their sizes.
또한, 통상의 엘씨디 패널에는 가로측에 데이터 드라이버 IC(미도시)가 구비되고, 세로측에 게이트 드라이버 IC(미도시)가 구비되는데, 상기 드라이버 IC에 형성된 접점의 배치는 패널의 사이즈에 따라 상이하다.In addition, a typical LCD panel is provided with a data driver IC (not shown) on the horizontal side and a gate driver IC (not shown) on the vertical side. The arrangement of the contacts formed on the driver IC differs depending on the size of the panel. .
그러나, 본 발명은 제1,2 베이스(20)(30)상에서 데이터 프로브(21) 및 게이트 프로브(31)의 이동이 가능함으로써, 패널의 사이즈에 따라 상기 제1,2 베이스의 위치조정이 완료되면, 상기 데이터 프로브 및 게이트 프로브를 접점의 위치에 맞게 재배치할 수 있다.However, in the present invention, since the data probe 21 and the gate probe 31 can be moved on the first and second bases 20 and 30, the position adjustment of the first and second bases is completed according to the size of the panel. The data probe and the gate probe may be rearranged according to the position of the contact.
이를 위해, 본 실시예는 제1 베이스(20)에 패널의 가로방향으로 제1 레일부재(22)를 설치하고, 제2 베이스(30)에는 패널의 세로방향으로 제2 레일부재(32)를 설치하며, 데이터 프로브(21) 및 게이트 프로브(31)는 상기 제1,2 레일부재상에 각각 슬라이드 가능하게 장착한다.To this end, in the present embodiment, the first rail member 22 is installed in the horizontal direction of the panel on the first base 20, and the second rail member 32 is disposed in the longitudinal direction of the panel in the second base 30. The data probe 21 and the gate probe 31 are slidably mounted on the first and second rail members, respectively.
또한, 제1,2 베이스(20)(30)는 각각 다수개의 LM가이드(23,33)상에 설치되며, 상기 LM가이드는 패널(P)을 향하여 상호 동일한 경사각으로 배치된다. 이는 사이즈가 작은 패널의 로딩시 상기 제1,2 베이스가 패널측으로 이동하는 과정에서 상호 간섭 및 충돌이 발생되지 않도록 하기 위한 것이다.In addition, the first and second bases 20 and 30 are respectively provided on the plurality of LM guides 23 and 33, and the LM guides are disposed at the same inclination angle toward the panel P. This is to prevent mutual interference and collision in the process of moving the first and second bases toward the panel side when the panel having a small size is loaded.
한편, 제1,2 베이스(20)(30)를 그 진행방향에 따라 자동으로 이송하는 작동부재(미도시)를 구비하고, 상기 작동부재를 제어하여 패널의 사이즈에 따라 그 이송량을 조절하는 제어부(미도시)를 구비하면, 상기 제1,2 베이스의 위치를 보다 신속하고 간편하게 조정할 수 있다.On the other hand, the first and second base 20, 30 is provided with an operating member (not shown) to automatically transfer in accordance with the direction of movement, and a control unit for controlling the operating member to adjust the transfer amount according to the size of the panel (Not shown), the position of the said 1st, 2nd base can be adjusted more quickly and simply.
상기 작동부재와 제어부는 당업자가 용이하게 실시할 수 있는 정도의 기술로서, 스테이지(10)상에 서보모터를 설치하고, 상기 서보모터에 의해 구동되는 볼스크류를 제1,2 베이스(20)(30)측에 체결하는 방식이나, 왕복구동형 실린더를 이용하는 간단한 방식도 가능하다.The actuating member and the control unit is a technology that can be easily implemented by those skilled in the art. The servo motor is installed on the stage 10 and the ball screws driven by the servo motor are driven by the first and second bases 20 ( 30) or a simple method using a reciprocating cylinder.
상술한 바와 같이 본 발명은 로딩되는 패널의 사이즈에 따라 베이스 및 프로브를 이동하여 신속하고 정확하게 셋팅할 수 있으므로, 종래와는 달리 작업의 편의성 및 검사의 정밀성을 향상시킬 수 있음은 물론, 어댑터의 교체 및 프로브 정렬에 따른 인력 및 시간의 낭비를 최소화할 수 있는 효과를 가진다.As described above, the present invention can be set quickly and accurately by moving the base and the probe according to the size of the panel to be loaded. Unlike the conventional method, the convenience of work and the precision of inspection can be improved, as well as the replacement of the adapter. And it has the effect of minimizing the waste of manpower and time due to the probe alignment.
한편, 본 발명은 도면에 도시된 실시예들을 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.On the other hand, the present invention has been described with reference to the embodiments shown in the drawings, but this is only exemplary, those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible from this. . Therefore, the true technical protection scope of the present invention should be defined only by the appended claims.

Claims (4)

  1. 패널(P)이 로딩되는 워크테이블의 전방에 스테이지(10)가 설치되고, 상기 스테이지상에 가로방향으로 데이터 프로브(21)를 갖는 제1 베이스(20)가 설치되며, 상기 스테이지상에 세로방향으로 게이트 프로브(31)를 갖는 제2 베이스(30)가 설치되는 평판 표시패널 검사장치에 있어서,The stage 10 is installed in front of the worktable on which the panel P is loaded, and the first base 20 having the data probe 21 in the horizontal direction is installed on the stage, and the vertical direction is mounted on the stage. In the flat panel display panel inspection apparatus provided with the second base 30 having the gate probe 31,
    상기 제1,2 베이스는 로딩된 패널의 사이즈에 따라 위치 이동이 가능하게 설치되며, 상기 데이터 프로브 및 게이트 프로브는 패널상에 배치된 접점을 따라 각각 이동이 가능하게 설치되는 것을 특징으로 하는 평판 표시패널 검사장치.The first and second bases may be installed to move in accordance with the size of the loaded panel, and the data probe and the gate probe may be installed to move along the contacts disposed on the panel. Panel inspection device.
  2. 제1항에 있어서,The method of claim 1,
    상기 제1 베이스(20)에는 패널의 가로방향으로 제1 레일부재(22)가 설치되고, 상기 제2 베이스(30)에는 패널의 세로방향으로 제2 레일부재(32)가 설치되며, 상기 데이터 프로브(21) 및 게이트 프로브(31)는 상기 제1,2 레일부재상에 각각 슬라이드 가능하게 장착되는 것을 특징으로 하는 평판 표시패널 검사장치.The first base 20 is provided with a first rail member 22 in the horizontal direction of the panel, the second base 30 is provided with a second rail member 32 in the longitudinal direction of the panel, the data And a probe (21) and a gate probe (31) are slidably mounted on the first and second rail members, respectively.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서,The method according to claim 1 or 2,
    상기 제1,2 베이스(20)(30)는, 패널을 향하여 상호 동일한 경사각으로 배치된 LM가이드(23,33)상에 설치된 것을 특징으로 하는 평판 표시패널 검사장치.And the first and second bases (20) (30) are installed on LM guides (23, 33) arranged at the same inclination angle toward the panel.
  4. 제3항에 있어서,The method of claim 3,
    상기 제1,2 베이스(20)(30)를 그 진행방향에 따라 자동으로 이송하는 작동부재가 구비되고, 상기 작동부재를 제어하여 패널의 사이즈에 따라 그 이송량을 조절하는 제어부가 구비되는 것을 특징으로 하는 평판 표시패널 검사장치.An operating member is provided to automatically transfer the first and second bases 20 and 30 according to the moving direction thereof, and a control unit is provided to control the operating member to adjust the transfer amount according to the size of the panel. Flat panel display panel inspection apparatus.
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