KR100861467B1 - Probe unit for inspecting lcd panel - Google Patents
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- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 98
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 claims description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 7
- 229920006324 polyoxymethylene Polymers 0.000 claims description 6
- 230000037303 wrinkles Effects 0.000 claims description 6
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 5
- 229930182556 Polyacetal Natural products 0.000 claims description 4
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims 2
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims 2
- 238000007689 inspection Methods 0.000 abstract description 15
- 230000005855 radiation Effects 0.000 abstract description 10
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 abstract description 4
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 21
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 229930040373 Paraformaldehyde Natural products 0.000 description 1
- -1 Polyoxymethylene Polymers 0.000 description 1
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
- G01R1/067—Measuring probes
- G01R1/073—Multiple probes
-
- F—MECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
- F16—ENGINEERING ELEMENTS AND UNITS; GENERAL MEASURES FOR PRODUCING AND MAINTAINING EFFECTIVE FUNCTIONING OF MACHINES OR INSTALLATIONS; THERMAL INSULATION IN GENERAL
- F16B—DEVICES FOR FASTENING OR SECURING CONSTRUCTIONAL ELEMENTS OR MACHINE PARTS TOGETHER, e.g. NAILS, BOLTS, CIRCLIPS, CLAMPS, CLIPS OR WEDGES; JOINTS OR JOINTING
- F16B5/00—Joining sheets or plates, e.g. panels, to one another or to strips or bars parallel to them
- F16B5/02—Joining sheets or plates, e.g. panels, to one another or to strips or bars parallel to them by means of fastening members using screw-thread
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/133—Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
- G02F1/136—Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
- G02F1/1362—Active matrix addressed cells
- G02F1/136254—Checking; Testing
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
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Abstract
Description
도 1은 종래 LCD 패널 점등검사장치의 일 예를 개략적으로 나타낸 평면도이다.1 is a plan view schematically showing an example of a conventional LCD panel lighting test apparatus.
도 2는 본 발명에 따른 LCD 패널 점등검사용 프로브 유닛의 일부 분해사시도이다.2 is an exploded perspective view of a part of the probe unit for LCD panel lighting test according to the present invention.
도 3은 도 2에 도시된 하부 방열(防熱)판의 일 실시예를 나타낸 사시도이다.3 is a perspective view showing an embodiment of the lower heat dissipation plate shown in FIG. 2.
도 4는 도 2에 도시된 하부 방열판의 다른 실시예를 나타낸 사시도이다.4 is a perspective view showing another embodiment of the lower heat sink shown in FIG. 2.
도 5는 도 2에 도시된 하부 방열판의 또 다른 실시예를 나타낸 사시도이다.FIG. 5 is a perspective view illustrating still another embodiment of the lower heat sink shown in FIG. 2.
**도면 중 주요 부분에 대한 부호의 설명**** Description of the symbols for the main parts of the drawings **
10 : 종래 LCD 패널 점등검사장치 P : LCD 패널10: Conventional LCD panel lighting inspection device P: LCD panel
45 : 작업테이블 67 : 프로브 베이스45: worktable 67: probe base
68 : 프로브 블록 69 : 카메라 68: probe block 69: camera
70 : 프로브 스테이지 71 : 프로브 침70: probe stage 71: probe needle
110 : 상부 프로브 베이스 120 : 하부 프로브 베이스110: upper probe base 120: lower probe base
130 : 프로브 블록 140 : 제1지지부재130: probe block 140: first support member
150 : 상부 방열판 160 : 제2지지부재150: upper heat sink 160: second support member
170 : 제3지지부재 180 : 하부 방열판170: third support member 180: lower heat sink
본 발명은 LCD 패널 점등검사용 프로브 유닛에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 LCD 패널의 점등검사가 이루어지는 동안 백라이트로부터 지속적으로 방출되는 열에 의해 프로브 블록이 장착되는 프로브 베이스의 열변형이 일어남으로써 발생하는 상기 프로브 블록의 프보브 침들과 LCD 패널의 접촉불량을 방지하는 방열판을 구비한 LCD 패널 점등검사용 프로브 유닛에 관한 것이다.The present invention relates to a probe unit for LCD panel lighting inspection, and more particularly, the heat generation of the probe base to which the probe block is mounted by the heat continuously emitted from the backlight during the lighting inspection of the LCD panel occurs. The present invention relates to an LCD panel lighting inspection probe unit having a heat sink for preventing poor contact between the probe blocks of the probe block and the LCD panel.
최근 TV, 컴퓨터 모니터, 휴대용 단말기 등과 같은 전자기기의 영상 표시장치로서 LCD(Liquid Crystal Display) 패널이 널리 사용되고 있으며, 그 사용량이 증가하고 있다.Recently, liquid crystal display (LCD) panels are widely used as video display devices of electronic devices such as TVs, computer monitors, portable terminals, and the like, and their usage is increasing.
상기 LCD 패널은 두개의 어레이 기판과 컬러 기판이 액정을 사이에 두고 합착된 구조로서, 외부에서 인가되는 전압에 의한 액정의 전기 광학적인 특성을 이용하여 디스플레이하는 장치이다.The LCD panel has a structure in which two array substrates and a color substrate are bonded to each other with a liquid crystal interposed therebetween, and display the LCD panel by using an electro-optical characteristic of the liquid crystal due to a voltage applied from the outside.
이러한 LCD 패널은 제조완료 후, 전술한 전자기기에 장착되기 전에 제조 공정상 발생할 수 있는 결함의 유무를 검사하는 출하검사과정을 거치게 된다.The LCD panel goes through a shipment inspection process that inspects the presence or absence of defects that may occur in the manufacturing process after completion of manufacturing and before mounting to the above-described electronic device.
이러한 검사방법으로는 통상 LCD 패널 라인의 단선검사와 색상검사를 수행하 는 프로브 유닛을 이용한 점등검사와 현미경을 이용한 육안검사로 대별된다.Such inspection methods are generally classified into a lighting test using a probe unit and a visual inspection using a microscope to perform disconnection inspection and color inspection of LCD panel lines.
이하, 도 1을 참조하여 종래 LCD 패널 점등검사장치의 일 예를 개략적으로 설명한다. Hereinafter, an example of a conventional LCD panel lighting inspection apparatus will be described with reference to FIG. 1.
종래 LCD 패널 점등검사장치(10)는 기본적으로 LCD 패널(P)의 전극에 테스트신호를 인가하는 프로브 블록(68)과 상기 프로브 블록(68)이 장착되는 프로브 베이스(67)를 포함하는 프로브 유닛, 본체상에 상기 LCD 패널(P)이 장착되는 작업테이블(45), 상기 작업테이블(45)을 상·하 및 좌·우방향으로 이동시켜 상기 LCD 패널(P)의 위치를 맞추는 얼라인먼트(미도시), 및 상기 작업테이블(45)에 장착된 LCD 패널(P)의 뒷면에 빛을 조사하는 백라이트(미도시)를 포함하여 구성된다. 여기서 미설명부호 69는 상기 LCD 패널(P)을 촬영하여 모니터로 확인할 수 있게 하는 카메라를 나타내고, 미설명부호 70은 상기 프로브 유닛이 설치되는 프로브 스테이지를 나타내며, 미설명부호 71은 상기 프로브 블록(68)의 프로브 침을 나타낸다.The conventional LCD panel
그런데 전술한 종래의 LCD 패널 점등검사장치(10)를 통한 점등검사시 다음과 같은 문제점이 발생한다. 즉, 상기 LCD 패널(P)은 그 자체로는 이미지의 표시를 위해 발광할 수 없기 때문에 상기 백라이트가 LCD 패널(P)의 뒷면에서 점등검사가 수행되는 동안 계속해서 빛을 조사해 주어야 한다. 이때, 상기 백라이트에서 방출되는 열로 인하여 상기 프로브 베이스(67)에 열변형이 일어나게 되고, 그에 따라 상기 LCD 패널(P)의 전극과 상기 프로브 블록(68)의 프로브 침들이 정확히 접촉하지 못하게 됨으로써 점등검사에러가 발생하게 된다.By the way, the following problems occur during the lighting test through the conventional LCD panel
그런데 최근 들어 LCD 패널들이 갈수록 고화질화 되어감에 따라 화소의 밀도 역시 지속적으로 증가하고 있으며, 이러한 고화질의 LCD 패널들을 테스트하기 위한 프로브 블록 역시 고밀도화되고 있다. 즉, 지금까지의 프로브 블록들은 60㎛ 피치대로 구성되어 있으나, 중대형 프로브 블록의 경우 50~40㎛, 소형의 경우 35㎛의 피치대가 가능한 프로브 블록이 요구되고 있다. 이러한 상황하에서 전술한 바와 같은 프로브 베이스의 열변형에 따른 점등검사에러 발생은 점등검사장치에 있어서 치명적인 문제가 된다.In recent years, as LCD panels become more and more high-definition, pixel density is continuously increasing, and probe blocks for testing such high-definition LCD panels are also becoming denser. In other words, the probe blocks up to now are configured with a pitch of 60 μm, but a probe block capable of a pitch band of 50 μm to 40 μm and a size of 35 μm for the small and medium probe blocks is required. Under such circumstances, the occurrence of a lighting inspection error due to the thermal deformation of the probe base as described above becomes a fatal problem in the lighting inspection apparatus.
본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 단점을 극복하기 위해 안출된 것으로서, 방열판을 이용하여 LCD 패널 점등검사가 수행되는 동안 LCD 패널의 뒷면에서 조사되는 백라이트의 빛에 의한 열이 프로브 블록이 장착되는 프로브 베이스에 직접적으로 영향을 미치는 것을 차단하여 상기 프로브 베이스의 열변형을 최소화함으로써 프로브 블록의 프로브 침들이 LCD 패널의 전극과 정확히 접촉하지 못하게 됨으로써 야기되는 점등검사에러 발생을 최소화할 수 있는 LCD 패널 점등검사용 프로브 유닛의 제공을 기술적 과제로 삼고 있다.The present invention has been made to overcome the drawbacks of the prior art as described above, the probe by which the probe block is mounted by the heat of the light emitted from the back of the LCD panel during the LCD panel lighting test is performed using the heat sink LCD panel lighting test which can minimize the occurrence of lighting test error caused by the probe needles of the probe block not contacting the electrode of the LCD panel by minimizing thermal deformation of the probe base by blocking the direct influence on the base. The technical problem is to provide a probe unit.
상기와 같은 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 LCD 패널 점등검사용 프로브 유닛은 상부 프로브 베이스, 상기 상부 프로브 베이스의 일측 하단에 체결되는 하부 프로브 베이스 및 상기 하부 프로브 베이스에 장착되어 LCD 패널의 전극과 접촉되는 복수개의 프로브 블록들을 포함한다. 상기 상부 프로브 베이스 하 단에는 복수개의 제1지지부재들을 사이에 두고 상부 방열판이 연결된다. 상기 상부 방열판의 하단 및 상기 하부 프로브 베이스의 하단에는 각각 복수개의 제2지지부재들 및 복수개의 제3지지부재들을 사이에 두고 하부 방열판이 연결된다.LCD panel lighting inspection probe unit according to the present invention for achieving the technical problem as described above is mounted on the lower probe base and the lower probe base fastened to the lower side of the upper probe base, the upper probe base and the electrode of the LCD panel It includes a plurality of probe blocks in contact with the. An upper heat sink is connected to a lower end of the upper probe base with a plurality of first supporting members interposed therebetween. A lower heat sink is connected to a lower end of the upper heat sink and a lower end of the lower probe base, respectively, with a plurality of second support members and a plurality of third support members interposed therebetween.
본 발명의 일 실시예에서 상기 하부 방열판 및 상부 방열판의 각 하면에는 백라이트에서 방출되는 열을 차단시키는 방열필름이 코팅될 수 있다.In one embodiment of the present invention, each of the lower heat sink and the upper heat sink may be coated with a heat radiation film to block the heat emitted from the backlight.
바람직하게 상기 하부 방열판 및 상부 방열판에는 상기 백라이트로부터 전달된 열의 방출을 촉진하는 주름부가 형성될 수 있고, 이와 같이 주름부가 형성된 상기 하부 방열판 및 상부 방열판의 각 하면에는 백라이트에서 방출되는 열을 차단시키는 방열필름이 코팅될 수 있다.Preferably, the lower heat sink and the upper heat sink may be formed with a corrugation portion to facilitate the release of heat transferred from the backlight, the heat radiation to block the heat emitted from the backlight on each lower surface of the lower heat sink and the upper heat sink is formed as described above The film can be coated.
바람직하게 상기 제1, 제2, 제3지지부재들은 열전도율이 극히 작은 폴리아세탈 소재로 형성될 수 있다.Preferably, the first, second and third support members may be formed of a polyacetal material having extremely low thermal conductivity.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 LCD 패널 점등검사용 프로브 유닛의 바람직한 실시예에 대해 상세히 설명한다.Hereinafter, with reference to the accompanying drawings will be described in detail a preferred embodiment of the probe unit for LCD panel lighting test according to the present invention.
도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 LCD 패널 점등검사용 프로브 유닛(100)은 상부 프로브 베이스(110), 상기 상부 프로브 베이스(110)의 일측 하단에 체결되는 하부 프로브 베이스(120) 및 상기 하부 프로브 베이스(120)에 장착되어 LCD 패널(미도시)의 전극과 접촉되는 복수개의 프로브 블록(130)들을 포함한다. 상기 프로브 블록(130)들은 신호발생기(미도시)로부터 생성된 테스트 신호를 FPC(Flexible Printed Circuit, 132)를 통해 전달받아 상기 LCD 패널의 전극에 인 가하여 상기 LCD 패널이 픽셀에러(Pixel error) 없이 정상 작동하는지를 검사하게 된다.As shown in Figure 2, the LCD panel lighting
본 발명에 따른 LCD 패널 점등검사용 프로브 유닛(100)은 도 1을 통해 설명한 바와 같이, LCD 패널의 점등검사가 수행되는 동안 상기 LCD 패널의 뒷면에서 지속적으로 빛을 조사하는 백라이트로부 방출되는 열에 의한 상기 상부 및 하부 프로브 베이스(110, 120)의 열변형을 방지하기 위한 방열(防熱)판을 구비한다. 상기 방열판은 상부 방열판(150) 및 하부 방열판(180)으로 구성되는데, 이하에서는 이들의 체결구조에 대해 설명한다.As described with reference to FIG. 1, the LCD panel lighting
상기 상부 프로브 베이스(110) 하단에 그 길이 방향을 따라 소정 간격 이격되도록 배치되는 복수개의 제1지지부재(140)들을 사이에 두고 상부 방열판(150)이 배치되고, 상기 상부 방열판(150)의 하단에는 그 길이 방향을 따라 소정 간격 이격되도록 배치되는 복수개의 제2지지부재(160)을 사이에 두고 하부 방열판(180)이 배치된다. An upper
이때, 상기 복수개의 제1지지부재(140)들, 상기 상부 방열판(150), 상기 복수개의 제2지지부재(160)들 및 상기 하부 방열판(180)은 도 2에 도시된 바와 같이 볼트나 스크류와 같은 복수개의 체결부재(182)들에 의해 먼저 하나로 체결되고, 이와 같이 체결된 상태로 다시 복수개의 별도의 체결부재(184)들에 의해 상기 상부 프로브 베이스(110) 하단에 체결된다.In this case, the plurality of
또한, 상기 하부 방열판(180)은 상기 하부 프로브 베이스(120)의 하단에 그 길이 방향을 따라 소정 간격 이격되도록 배치되는 복수개의 제3지지부재(170)들을 사이에 두고 배치되어 상기 하부 프로브 베이스(120)의 하단에 체결된다. 그 체결구조에 대해 구체적으로 살펴보면, 먼저 상기 복수개의 제3지지부재(170)들이 볼트나 스크류와 같은 복수개의 체결부재(172)들에 의해 상기 하부 프로브 베이스(120)의 하단에 체결된다. 그 다음 복수개의 별도의 체결부재(186)들에 의해 상기 하부 프로브 베이스(120), 상기 복수개의 제3지지부재(170)들 및 상기 하부 방열판(180)이 하나로 체결된다.In addition, the
여기서 상기 상부 방열판(150) 및 하부 방열판(180)은 필요에 따라 다양한 두께로 제작될 수 있도록 그 가공이 용이한 알루미늄-50 계열 소재로 형성된다. 이와 같은 소재는 후술할 주름부(182b) 형성에도 도움이 된다.Here, the
또한, 상기 제1, 제2, 제3지지부재(140, 160, 170)들은 절연성 및 내열성이 우수하고 열전도율이 극히 작은 폴리아세탈(POM: Polyacetal, Polyoxymethylene) 소재로 형성됨으로써 상기 하부 방열판(180)에 전달된 열이 상기 상부 방열판(150)으로 전달되거나 상기 상부 및 하부 프로브 베이스(110, 120)에 전달되는 것을 효율적으로 차단하여 상기 상부 및 하부 프로브 베이스(110, 120)의 열변형을 최소화할 수 있다. In addition, the first, second, and
전술한 구성을 갖는 본 발명에 따른 LCD 패널 점등검사용 프로브 유닛(100)의 경우, 종래 상기 상부 프로브 베이스(110) 특히 상기 하부 프로브 베이스(120)가 열변형되어 그 길이방향에 있어서 80㎛ 이상 신장되던 것을 약 75% 이상 감소시켜 20㎛ 미만으로 줄임으로써 점등검사에러를 최소화하였다.In the case of the LCD panel lighting
한편, 도 3에는 상기 하부 방열판(180)의 바람직한 다른 실시예가 도시되어 있는데, 상기 하부 방열판(180a)의 경우 그 하면에 전술한 백라이트로부터 방출되는 열을 차단시키는 방열필름(181a)이 형성되어 있다. 상기 방열필름(181a)으로는 소정 열원으로부터 방출되는 적외선 및 자외선을 반사시켜 열차단시키는 종래의 다양한 것들을 적용할 수 있다. 별도의 도면에 도시하여 설명하지는 않았으나 상기 상부 방열판(150)의 하면에도 전술한 방열필름(181a)을 적용할 수 있다. 이러한 방열필름(181a)을 적용한 상기 하부 방열판(180a)에 의하면 상기 상부 및 하부 프로브 베이스(110, 120)의 열변형을 더욱 최소화할 수 있다.Meanwhile, another preferred embodiment of the
한편, 도 4에는 상기 하부 방열판(180)의 바람직한 또 다른 실시예가 도시되어 있는데, 상기 하부 방열판(180b)의 경우 그 상면 및 하면에 주름부(182b)가 형성되어 백라이트로부터 전달된 열을 보다 효율적으로 냉각시킴으로써 상기 상부 및 하부 프로브 베이스(110, 120)의 열변형을 더욱 최소화할 수 있다. 별도의 도면에 도시하여 설명하지는 않았으나 전술한 주름부(182b)는 상기 상부 방열판(150)에도 적용할 수 있다.Meanwhile, another preferred embodiment of the
한편, 도 5에는 상기 하부 방열판(180)의 바람직한 또 다른 실시예가 도시되어 있는데, 상기 하부 방열판(180c)의 경우 그 상면 및 하면에 주름부(182c)가 형성될 뿐만 아니라 그 하면에 방열필름(181c)이 형성됨으로써 전술한 각각의 효과들을 극대화할 수 있다. 별도의 도면에 도시하여 설명하지는 않았으나 전술한 주름부(182c) 및 방열필름(181c)은 상기 상부 방열판(150)에도 적용할 수 있다. Meanwhile, another preferred embodiment of the
이상 설명한 바와 같이 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실 시예에 관하여 설명하였으나, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 범주에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 따라서 본 발명의 권리 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안되며, 후술하는 특허청구범위 뿐만 아니라, 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.As described above, in the detailed description of the present invention, a preferred embodiment of the present invention has been described, but those skilled in the art to which the present invention pertains various modifications without departing from the scope of the present invention. Of course. Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the described embodiments, but should be defined not only by the claims below, but also by the equivalents of the claims.
전술한 바와 같은 구성을 갖는 본 발명에 따른 LCD 패널 점등검사용 프로브 유닛에 의하면, 방열판을 이용하여 LCD 패널 점등검사가 수행되는 동안 LCD 패널의 뒷면에서 조사되는 백라이트의 빛에 의한 열이 프로브 블록이 장착되는 프로브 베이스에 직접적으로 영향을 미치는 것을 차단하여 상기 프로브 베이스의 열변형을 최소화함으로써 프로브 블록의 프로브 침들이 LCD 패널의 전극과 정확히 접촉하지 못하게 됨으로써 야기되는 점등검사에러 발생을 최소화할 수 있는 효과가 있다.According to the probe unit for LCD panel lighting test according to the present invention having the configuration as described above, the heat generated by the light of the backlight is irradiated from the back of the LCD panel during the LCD panel lighting test using the heat sink is a probe block By minimizing the direct impact on the mounted probe base to minimize thermal deformation of the probe base, it is possible to minimize the lighting test error caused by the probe needle of the probe block does not contact the electrodes of the LCD panel accurately. There is.
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070066833A KR100861467B1 (en) | 2007-07-04 | 2007-07-04 | Probe unit for inspecting lcd panel |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020070066833A KR100861467B1 (en) | 2007-07-04 | 2007-07-04 | Probe unit for inspecting lcd panel |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR100861467B1 true KR100861467B1 (en) | 2008-10-02 |
Family
ID=40152669
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020070066833A KR100861467B1 (en) | 2007-07-04 | 2007-07-04 | Probe unit for inspecting lcd panel |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100861467B1 (en) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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- 2007-07-04 KR KR1020070066833A patent/KR100861467B1/en not_active IP Right Cessation
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A201 | Request for examination | ||
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FPAY | Annual fee payment |
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