KR101311768B1 - Probe unit block - Google Patents

Probe unit block Download PDF

Info

Publication number
KR101311768B1
KR101311768B1 KR1020120064501A KR20120064501A KR101311768B1 KR 101311768 B1 KR101311768 B1 KR 101311768B1 KR 1020120064501 A KR1020120064501 A KR 1020120064501A KR 20120064501 A KR20120064501 A KR 20120064501A KR 101311768 B1 KR101311768 B1 KR 101311768B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
probe
block
probe unit
attached
fpc
Prior art date
Application number
KR1020120064501A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
강기상
Original Assignee
강기상
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 강기상 filed Critical 강기상
Priority to KR1020120064501A priority Critical patent/KR101311768B1/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101311768B1 publication Critical patent/KR101311768B1/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733Geometry aspects
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06755Material aspects
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1316Methods for cleaning the liquid crystal cells, or components thereof, during manufacture: Materials therefor

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)

Abstract

PURPOSE: A probe unit block can precisely check if there is detection error or defection by foreign substance attached to the surface of a display panel. CONSTITUTION: A probe unit block comprises a probe part (10), an air nozzle, and COF (chip on film) part (20). The probe part comprises a tilt protrusion means. The air nozzle is combined to the lower surface of the tilt protrusion means, extended to lateral side of the tilt protrusion means, and discharges air of certain pressure through an air tube of a side surface. The COF part is combined to the rear surface of the probe part. The probe part comprises a tilt protrusion means. The tilt means of the probe part comprises a probe block (11), an acrylic (12), a fixed plate (13), a probe FPC (15), and a urethane (14). The probe block has an inclined surface. The acryl is attached to the lower part of the probe block. The fixing plate is attached to the front surface of the lower part of the acryl. The probe FPC is attached to the rear surface of the fixed plate. The Urethane surrounds the bottom surface of the probe FPC and fixed plate.

Description

프로브 유닛 블록{PROBE UNIT BLOCK}Probe unit block {PROBE UNIT BLOCK}

본 발명은 디스플레이 패널 검사용 프로브 유닛 블록에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 프로브 유닛 블록에 클리어 에어 노즐을 장착하여 이물질을 제거하도록 프로브 유닛 블록에 관한 것이다. The present invention relates to a probe unit block for inspecting a display panel, and more particularly, to a probe unit block for removing a foreign substance by mounting a clear air nozzle on the probe unit block.

LCD(Liquid Crystal Display) 생산공정은 디스플레이 패널을 제작하는 셀(cell) 공정과, 드라이버(driver), 백라이트(back light), 도광판 및 편광판을 셀 공정에서 생산된 디스플레이 패널과 조립하여 완제품을 만드는 모듈(module) 조립 공정으로 대별된다.LCD (Liquid Crystal Display) production process is a cell process for manufacturing display panels, and a module for assembling drivers, backlights, light guide plates, and polarizers with display panels produced in cell processes to make finished products. It is roughly classified as a module assembly process.

여기서, 디스플레이 패널은 소스 전극 및 게이트 전극이 각각 형성되어 있는 면을 기판 상에 마주 대하도록 배치한 화상 표시 장치로서, 기판 사이에 액정 물질을 주입한 다음, 두 전극에 전압을 인가하여 전기장을 발생시키고, 발생된 전기장에 의해 액정분자를 움직이게 하여 빛의 투과율을 변화시킴으로써 화상을 표현한다.Here, the display panel is an image display device in which the surfaces on which the source electrode and the gate electrode are formed are disposed to face each other on a substrate. The display panel injects a liquid crystal material between the substrates, and then generates an electric field by applying a voltage to the two electrodes. The liquid crystal molecules are moved by the generated electric field to change the transmittance of light to express an image.

이때, 디스플레이 검사용 프로브 유닛(이하, “프로브 유닛”)은 셀 공정을 거쳐 생산된 디스플레이 패널에 대한 검사를 수행하여, 제조 공정상 발생할 수 있는 결함의 유무를 확인하게 된다.In this case, the display inspection probe unit (hereinafter, referred to as a “probe unit”) performs an inspection on the display panel produced through a cell process to check whether there is a defect that may occur in the manufacturing process.

예컨대, 프로브 유닛은 TFT(Thin Film Transistor), TN(Twisted Nematic), STN(Super Twisted Nematic), CSTN(Color Super Twisted Nematic), DSTN(Double Super Twisted Nematic),유기EL(Electro Luminescence) 등의 디스플레이 패널의 전극(또는 패드)에 테스트용 전기 신호를 인가하여, 해당 디스플레이 패널이 픽셀 에러(pixel error)없이 정상적으로 작동하는지 여부를 검사하게 된다.For example, the probe unit may be a display such as a thin film transistor (TFT), twisted nematic (TN), super twisted nematic (STN), color super twisted nematic (CSTN), double super twisted nematic (DSTN), or organic luminescence (EL). A test electrical signal is applied to the electrodes (or pads) of the panel to check whether the corresponding display panel is operating normally without pixel error.

일예로, 대한민국 공개특허공보 제10-2011-0122900호(2011년11월14일)에는 탐침부가 고밀도로 균일하게 일괄 형성되도록 하여 고밀도의 미세 전극이 배열된 디스플레이 패널을 효과적으로 검사할 수 있도록 하고, 또한 탐침부의 유동성이 없어서 검사 과정 중에 핀 미스가 감소되도록 하는 디스플레이 패널 검사용 프로브 블록 및 프로브 유닛이 개시되어 있다.For example, the Republic of Korea Patent Publication No. 10-2011-0122900 (November 14, 2011) is to ensure that the probe portion is uniformly formed in a high density to effectively inspect the display panel in which the high-density fine electrode is arranged, In addition, a probe block and a probe unit for inspecting a display panel are disclosed, in which the probe portion is not fluid so that pin misses are reduced during the inspection process.

도 1은 개시된 종래 프로브 유닛의 사시도로서, 프로브 유닛(200)은 헤드 블록(210), 프로브 블록(220), 및 압착 블록(230)을 포함하는 것으로, 헤드 블록(210)은 프로브 블록(220)의 상부에 결합되어 프로브 블록(220)의 탐침부가 적당한 물리적 압력으로 디스플레이 패널의 전극과 접촉하도록 프로브 블록(220)을 상하로 이동 및 고정시킨다. 1 is a perspective view of a conventional probe unit disclosed, wherein the probe unit 200 includes a head block 210, a probe block 220, and a crimp block 230, wherein the head block 210 includes a probe block 220. The probe block 220 is moved upward and downward so that the probe portion of the probe block 220 contacts the electrode of the display panel at an appropriate physical pressure.

프로브 블록(220)은 경사 돌출부(224)를 포함하는 프로브 블록 본체부(222)와, 경사 돌출부(224)의 하측면에 결합되고 경사 돌출부(224)의 종단측으로 돌출하도록 연장되어, 디스플레이 패널의 전극에 접촉되어 신호를 인가하는 프로브 필름(100) 및 경사 돌출부(224)의 상측면에 결합되며, 돌출 연장된 프로브 필름(100)의 상부면과 접촉하여 프로브 필름(100)을 지지하는 제 1 플레이트(242)를 포함한다. 여기서, 프로브 블록(220)은 제 1 플레이트(242)의 상부면에 결합되어, 제 1 플레이트(242)를 고정 지지하는 고정 블록(250)을 더 포함할 수 있다.The probe block 220 is coupled to the probe block body 222 including the inclined protrusion 224 and the lower side of the inclined protrusion 224, and extends to protrude toward the end of the inclined protrusion 224, thereby extending the display panel. A first coupled to the upper surface of the probe film 100 and the inclined protrusion 224 is in contact with the electrode to apply a signal, the first contacting the upper surface of the protruding extended probe film 100 to support the probe film 100 Plate 242. Here, the probe block 220 may further include a fixing block 250 coupled to the upper surface of the first plate 242 to fix and support the first plate 242.

그러나, 이와 같은 종래의 프로브 유닛은, 셀 공정을 거쳐 생산된 디스플레이 패널에 대한 검사를 수행할 때에 디스플레이 패널 표면에 부착된 이물질에 의하여 검출 오차가 발생하거나 결함의 유무를 잘못 확인하게 되는 문제점이 있다. However, such a conventional probe unit has a problem in that a detection error occurs due to a foreign matter adhered to the surface of the display panel or an error is incorrectly checked when the display panel produced through the cell process is inspected. .

대한민국 공개특허공보 제10-2011-0122900호 (2011년11월14일)Republic of Korea Patent Publication No. 10-2011-0122900 (November 14, 2011)

본 발명은 상술한 종래기술의 문제점을 극복하기 위한 것으로서, 프로브 유닛 블록에 클리어 에어 노즐을 장착하여 이물질을 제거하도록 함으로써 디스플레이 패널 표면에 부착된 이물질에 의한 검출 오차나 결함의 유무를 정확하게 확인하도로하는 프로브 유닛 블록을 제공하는 데에 그 목적이 있다.The present invention is to overcome the above-mentioned problems of the prior art, by mounting a clear air nozzle to the probe unit block to remove foreign matters to accurately check the presence or absence of defects or detection errors caused by foreign matter attached to the display panel surface The purpose is to provide a probe unit block.

상기 목적을 달성하기 위해 본 발명은, 경사 돌출 수단을 포함하는 프로브부; 상기 프로브부의 경사 돌출수단의 하측면에 결합되고 경사 돌출 수단의 횡단측으로 연장되어, 측면의 에어 튜브를 통하여 소정 압력의 공기를 토출하는 에어 노즐; 및 상기 프로브부의 후면에 결합되는 COF부를 포함하는 것을 특징으로 하는 프로브 유닛 블록을 제공한다.In order to achieve the above object, the present invention, the probe unit including a slope protruding means; An air nozzle coupled to a lower side of the inclined protruding means of the probe part and extending in a transverse side of the inclined protruding means to discharge air of a predetermined pressure through an air tube on the side; And it provides a probe unit block comprising a COF unit coupled to the back of the probe unit.

상기 프로브부의 경사 돌출 수단은, 경사면을 갖는 프로브 블록; 상기 프로브 블록 아래 부착되는 아크릴; 상기 아크릴 아래의 전면에 부착되는 카라에포; 상기 카라에포의 후면에 부착되는 프로브 FPC; 상기 카라에포 및 프로브 FPC의 저면을 감싸는 우레탄을 포함할 수 있다.Inclined projecting means of the probe portion, the probe block having an inclined surface; Acrylic attached below the probe block; Kara Epo attached to the front under the acrylic; A probe FPC attached to the rear side of the Karaeppo; It may include a urethane surrounding the bottom of the Karaeppo and probe FPC.

상기 프로브부의 경사 돌출 수단은, 대략 15도의 접촉 각도로 형성되는 것이 바람직하다.It is preferable that the inclined protrusion means of the said probe part is formed in the contact angle of about 15 degree | times.

상기 아크릴 및 상기 우레탄은 탄성을 갖는 투명 재질로 형성되는 것이 더욱 바람직하다.
The acrylic and the urethane are more preferably formed of a transparent material having elasticity.

상기와 같이 구성된 본 발명에 따른 프로브 유닛 블록에 의하면, 프로브 유닛 블록에 클리어 에어 노즐을 장착하여 이물질을 제거하도록 함으로써 디스플레이 패널 표면에 부착된 이물질에 의한 검출 오차나 결함의 유무를 정확하게 확인하도록 할 수 있는 효과가 있다.
According to the probe unit block according to the present invention configured as described above, by attaching a clear air nozzle to the probe unit block to remove the foreign matter it is possible to accurately check the presence or absence of defects or detection errors caused by foreign matter attached to the display panel surface It has an effect.

도 1은 종래 프로브 유닛의 사시도.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 프로브 유닛 블록의 측면도.
도 3은 도 2의 분해 단면도.
도 4는 도 2의 에어노즐을 나타낸 단면도.
도 5는 본 발명의 바람직한 사용 상태를 나타낸 저면 사시도.
1 is a perspective view of a conventional probe unit.
2 is a side view of a probe unit block in accordance with an embodiment of the present invention.
3 is an exploded cross-sectional view of FIG. 2;
4 is a cross-sectional view of the air nozzle of FIG. 2.
Figure 5 is a bottom perspective view showing a preferred use state of the present invention.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명한다.Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 프로브 유닛 블록의 측면도이고, 도 3은 도 2의 분해 단면도이며, 도 4는 도 2의 에어노즐을 나타낸 단면도이고, 도 5는 본 발명의 바람직한 사용 상태를 나타낸 저면 사시도이다.Figure 2 is a side view of the probe unit block according to an embodiment of the present invention, Figure 3 is an exploded cross-sectional view of Figure 2, Figure 4 is a cross-sectional view showing the air nozzle of Figure 2, Figure 5 is a preferred use state of the present invention The bottom perspective view which shows.

도시된 바와 같이, 본 발명은 프로브부(10), 프로브 블록(11), 아크릴(12), 고정 플레이트(13), 우레탄(14), 프로브 FPC(15), 프로브 베이스(16), 프로브 유닛 A,B(17), COF부(20), COF플레이트(21), 서스펜션 유닛(30), 에어 노즐(40), 에어 튜브(41), 피팅(42)으로 구성된다.As shown, the present invention is a probe unit 10, probe block 11, acrylic 12, fixed plate 13, urethane 14, probe FPC 15, probe base 16, probe unit It consists of A, B17, COF part 20, COF plate 21, suspension unit 30, air nozzle 40, air tube 41, and fitting 42. As shown in FIG.

상기 프로브부(10)는 경사 돌출 수단을 포함한다.The probe unit 10 includes oblique protrusion means.

상기 프로브부(10)의 경사 돌출 수단은, 경사면을 갖는 프로브 블록(11); 상기 프로브 블록(11) 아래 부착되는 아크릴(12); 상기 아크릴(12) 아래의 전면에 부착되는 고정 플레이트(13); 상기 고정 플레이트(13)의 후면에 부착되는 프로브 FPC(15); 상기 고정 플레이트(13) 및 프로브 FPC(15)의 저면을 감싸는 우레탄(14)을 포함한다.The inclined protrusion means of the probe unit 10 may include a probe block 11 having an inclined surface; Acrylic (12) attached below the probe block (11); A fixing plate 13 attached to the front surface under the acrylic 12; A probe FPC (15) attached to the rear surface of the fixing plate (13); And a urethane 14 surrounding the bottom of the fixing plate 13 and the probe FPC 15.

상기 고정 플레이트(13)는 FPC(15)의 패드 전폭 피치(Pitch)를 조정한 후 그 위치가 변화(온도,외부영향)가 되지 않도록 고정 하는 역할을 한다.The fixing plate 13 serves to fix the position of the FPC 15 so that its position does not change (temperature, external influence) after adjusting the pitch of the pad width of the FPC 15.

FPC(15)는 연성회로기판이라고 부르며 유럽이나 미주등지역에서는 FW(FLEXI- BLE WlRE) 또는 FC(FLEXIBLE CIRCUITRY)라고도 한다. 절연성과 내열성이 뛰어난 POLYIMIDE BASE와 COVER LAY 사이에 정밀 부식한 미세회로를 형성하여 유연성 및 굴곡성을 갖춘 구조의 배선기관을 의미한다. The FPC 15 is called a flexible circuit board and is also called FW (FLEXIBLE BLE WRE) or FC (FLEXIBLE CIRCUITRY) in Europe or the Americas. It refers to a wiring engine with flexibility and flexibility by forming a fine corroded microcircuit between POLYIMIDE BASE and COVER LAY with excellent insulation and heat resistance.

상기 아크릴(12), 우레탄(14), 프로브 FPC(15)는 접착층이 형성되어 용이하게 서로 접착될 수 있으며, 선단에 범퍼(Bump)를 배치하는 것이 바람직하다.The acrylic 12, the urethane 14, and the probe FPC 15 may be easily bonded to each other by forming an adhesive layer, and a bumper may be disposed at the tip.

에어 노즐(40)은 상기 프로브부(10)의 경사 돌출수단의 하측면에 결합되고 경사 돌출부(224)의 횡단측으로 연장되어, 측면의 에어 튜브(41)를 통하여 소정 압력의 공기를 토출한다.The air nozzle 40 is coupled to the lower side of the inclined protrusion of the probe unit 10 and extends in the transverse side of the inclined protrusion 224 to discharge air of a predetermined pressure through the side air tube 41.

COF부(20)는 상기 프로브부(10)의 후면에 결합된다. 상기 COF부(20)는, COF플레이트(21)를 포함한다. 여기서, COF(Chip On Film)란, 패키지 형태로 되지 않은 드라이버 IC 들은 얇고 구부리기 쉬운 형태의 필름에 올려 놓은 다음 전극을 뽑아 놓은 것을 말한다. The COF unit 20 is coupled to the rear surface of the probe unit 10. The COF unit 20 includes a COF plate 21. Here, the chip on film (COF) means that driver ICs that are not packaged are placed on a thin, bendable film, and then the electrode is pulled out.

드라이버 IC(Drive Integrated Circuit)(미도시)는 디스플레이 패널의 각 전극에 전기적 신호를 인가함과 동시에 출력을 검출함으로써 디스플레이 패널을 검사하여 디스플레이 패널의 불량 유무에 대한 검사 공정을 수행할 수 있도록 한다. A driver IC (Drive Integrated Circuit) (not shown) applies an electrical signal to each electrode of the display panel and simultaneously detects an output so that the display panel can be inspected to perform an inspection process for the display panel.

또한, 상기 프로브부(10)의 경사 돌출 수단은, 대략 15도의 접촉(contact)각도로 형성되는 것이 바람직하다.In addition, the oblique protrusion means of the probe unit 10 is preferably formed at a contact angle of approximately 15 degrees.

상기 아크릴(12) 및 상기 우레탄(14)은 투명 재질로 형성된다. 따라서, 투명아크릴, 투명우레탄에 의해 프로브 FPC의 패턴, 패널 단자를 작업자의 육안으로 투과 인식이 가능하다.The acrylic 12 and the urethane 14 are formed of a transparent material. Therefore, the transparent acryl and the transparent urethane make it possible to recognize the pattern of the probe FPC and the panel terminal with the naked eye.

또한, 탄성을 갖는 아크릴(12)의 휨, 투명우레탄(14)의 찌그럼짐으로 인해 범퍼가 미끄러지도록 구성하는 것이 바람직하다.Moreover, it is preferable to comprise so that a bumper may slip | slip due to the curvature of the acrylic 12 which has elasticity, and the dent of the transparent urethane 14.

따라서 본 발명에 따른 프로브 유닛 블록에 의하면, 프로브 유닛 블록에 클리어 에어 노즐을 장착하여 이물질을 제거하도록 함으로써 디스플레이 패널 표면에 부착된 이물질에 의한 검출 오차나 결함의 유무를 정확하게 확인하도록 할 수 있는 효과가 있다.Therefore, according to the probe unit block according to the present invention, by attaching a clear air nozzle to the probe unit block to remove the foreign matter has an effect that can accurately determine the presence or absence of a detection error or defect caused by the foreign matter attached to the display panel surface have.

본 명세서에 기재된 본 발명의 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 실시예에 관한 것으로 발명의 기술적 사상을 모두 포괄하는 것은 아니므로, 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다. 따라서, 본 발명은 상술한 실시예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재의 권리범위 내에 있게 된다.
The embodiments of the present invention described in the present specification and the configurations shown in the drawings relate to the most preferred embodiments of the present invention and are not intended to encompass all of the technical ideas of the present invention so that various equivalents And variations are possible. It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit and scope of the invention as defined in the appended claims. , And such changes are within the scope of the claims.

10 : 프로브부 11 : 프로브 블록
12 : 아크릴 13 : 고정 플레이트
14 : 우레탄 15 : 프로브 FPC
16 : 프로브 베이스 17 : 프로브 유닛 A,B
20 : COF부 21 : COF플레이트
30 : 서스펜션 유닛 40 : 에어 노즐
41 : 에어 튜브 42 : 피팅
10: probe portion 11: probe block
12 acrylic 13 fixing plate
14 urethane 15 probe FPC
16: probe base 17: probe units A, B
20: COF part 21: COF plate
30: suspension unit 40: air nozzle
41: air tube 42: fitting

Claims (4)

경사 돌출 수단을 포함하는 프로브부;
상기 프로브부의 경사 돌출수단의 하측면에 결합되고 경사 돌출 수단의 횡단측으로 연장되어, 측면의 에어 튜브를 통하여 소정 압력의 공기를 토출하는 에어 노즐; 및
상기 프로브부의 후면에 결합되는 COF부로 이루어져 있으며,
상기 프로브부의 경사 돌출 수단은,
경사면을 갖는 프로브 블록;
상기 프로브 블록 아래 부착되는 아크릴;
상기 아크릴 아래의 전면에 부착되는 고정 플레이트;
상기 고정 플레이트의 후면에 부착되는 프로브 FPC;
상기 고정 플레이트 및 프로브 FPC의 저면을 감싸는 우레탄로 이루어진 것을 특징으로 하는 프로브 유닛 블록.

A probe unit including an inclined protruding means;
An air nozzle coupled to a lower side of the inclined protruding means of the probe part and extending in a transverse side of the inclined protruding means to discharge air of a predetermined pressure through an air tube on the side; And
Consists of a COF unit coupled to the back of the probe unit,
The oblique protrusion means of the probe unit,
A probe block having an inclined surface;
Acrylic attached below the probe block;
A fixing plate attached to the front surface under the acrylic;
A probe FPC attached to a rear surface of the fixing plate;
Probe unit block, characterized in that made of urethane surrounding the fixed plate and the bottom of the probe FPC.

삭제delete 삭제delete 삭제delete
KR1020120064501A 2012-06-15 2012-06-15 Probe unit block KR101311768B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120064501A KR101311768B1 (en) 2012-06-15 2012-06-15 Probe unit block

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020120064501A KR101311768B1 (en) 2012-06-15 2012-06-15 Probe unit block

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR101311768B1 true KR101311768B1 (en) 2013-09-26

Family

ID=49456758

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020120064501A KR101311768B1 (en) 2012-06-15 2012-06-15 Probe unit block

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101311768B1 (en)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20100008339U (en) * 2010-03-30 2010-08-20 (주) 루켄테크놀러지스 TAP IC Direct Contact Type Probe Unit to Protect Contact Error by Particle
KR20110122900A (en) * 2010-05-06 2011-11-14 주식회사 디아이프로브 Probe block for examining display panel and probe unit including thereor
KR101208337B1 (en) 2011-06-14 2012-12-05 주식회사 프로이천 Probe block for testing lcd panel

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20100008339U (en) * 2010-03-30 2010-08-20 (주) 루켄테크놀러지스 TAP IC Direct Contact Type Probe Unit to Protect Contact Error by Particle
KR20110122900A (en) * 2010-05-06 2011-11-14 주식회사 디아이프로브 Probe block for examining display panel and probe unit including thereor
KR101208337B1 (en) 2011-06-14 2012-12-05 주식회사 프로이천 Probe block for testing lcd panel

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8378708B2 (en) Inspecting method using an electro optical detector
US9277669B2 (en) Plastic panel and flat panel display device using the same
KR20080048627A (en) Array substrate and display panel having the same
KR101281980B1 (en) Auto probe device and using the inspecting method forLCD panel using the same
CN101059605B (en) Apparatus and method of testing display panel
KR101543020B1 (en) Method of testing for connection condition between display panel and pcb and liquid crystal display device using the same
KR20110067513A (en) Liquid crystal display device
KR101585253B1 (en) Liquid crystal display device
KR101189666B1 (en) unit for probing flat panel display
KR101491161B1 (en) Method of testing for connection condition between display panel and driver ic and display device using the same
KR101746860B1 (en) Liquid Crystal Display device and Inspection Method thereof
KR20120075096A (en) Liquid crystal display device and inspection method thereof
KR101311768B1 (en) Probe unit block
KR20170029761A (en) Display panel and electrostatic discharging method thereof
KR20130005196A (en) Auto-probe block of shorting bar type auto-probe apparatus
KR101070332B1 (en) Probe unit
KR102016076B1 (en) Testing apparatus and method for flat display device
KR101242372B1 (en) Bump-type probe, glass block panels for testing
KR101671027B1 (en) Liquid Crystal Display device
KR100861467B1 (en) Probe unit for inspecting lcd panel
KR100899978B1 (en) Probe Unit and needle
KR200458562Y1 (en) LCD Pannel Test Probe apparatus having Film Sheet type - Probe
KR100968604B1 (en) Film integrated contact type probe
KR100820277B1 (en) Probe apparatus and probe block include the same
KR100995633B1 (en) method for testing liquid crystal display panel of COG type

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20160718

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20170711

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20180716

Year of fee payment: 6

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20190709

Year of fee payment: 7