JP5019827B2 - Inspection device - Google Patents
Inspection device Download PDFInfo
- Publication number
- JP5019827B2 JP5019827B2 JP2006241779A JP2006241779A JP5019827B2 JP 5019827 B2 JP5019827 B2 JP 5019827B2 JP 2006241779 A JP2006241779 A JP 2006241779A JP 2006241779 A JP2006241779 A JP 2006241779A JP 5019827 B2 JP5019827 B2 JP 5019827B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- movable base
- plate
- panel
- inspection
- movable
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000007689 inspection Methods 0.000 title claims description 46
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 claims description 16
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 14
- 238000004381 surface treatment Methods 0.000 claims description 4
- 230000008859 change Effects 0.000 claims description 3
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 58
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 40
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 33
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 9
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 8
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 6
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 6
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 6
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- 230000009471 action Effects 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 1
- 239000005337 ground glass Substances 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/08—Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/04—Optical or mechanical part supplementary adjustable parts
- G01J1/0407—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings
- G01J1/0437—Optical elements not provided otherwise, e.g. manifolds, windows, holograms, gratings using masks, aperture plates, spatial light modulators, spatial filters, e.g. reflective filters
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1326—Liquid crystal optical waveguides or liquid crystal cells specially adapted for gating or modulating between optical waveguides
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/02—Details
- G01J1/08—Arrangements of light sources specially adapted for photometry standard sources, also using luminescent or radioactive material
- G01J2001/083—Testing response of detector
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Liquid Crystal (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Description
本発明は、液晶表示パネルのような検査対象板を背面から照らして検査を行う検査装置に関する。 The present invention relates to an inspection apparatus that performs inspection by illuminating an inspection target plate such as a liquid crystal display panel from the back side.
液晶表示パネル等を検査する検査装置では、大きさが異なる表示用パネルの検査をするときは、接触子ユニット及び検査ステージの両者の交換をしなければならず、その作業が煩雑であった。これを解消するために、特許文献1に記載の発明を提案されている。この特許文献1の発明では、ベースを可動式として、パネルの寸法の違いに応じて開口の大きさを調整すると共に接触子ユニットの位置を調整することで、接触子ユニットや検査ステージの交換をしないで対応できるようにした。
ところで、前記従来の検査装置では、検査対象のパネルの寸法が小さくなると、光漏れの問題が生じてしまう。図2及び図3に基づいて、この現象を説明する。 By the way, in the conventional inspection apparatus, when the size of the panel to be inspected becomes small, the problem of light leakage occurs. This phenomenon will be described with reference to FIGS.
図2に示すように、ベースプレート1上に、そのベース開口部2を囲むように、4つの可動ベース3が備えられ、これらが互いに係合して四角形のパネル受け4を形成している。検査対象のパネルは、このパネル受け4に載置される。
As shown in FIG. 2, four
パネルが小さい場合は、これらの可動ベース3を互いに係合しながらずらして、図3に示すように、パネル受け4を小さくして、小さい寸法のパネルに対応させる。
When the panel is small, these
しかしこの場合、検査対象のパネルの寸法が小さすぎると、図3に示すように、小さい寸法のパネル受け4とベース開口部2との間に隙間ができて、バックライトの光が外部に漏れる光漏れ部5ができてしまう。
However, in this case, if the size of the panel to be inspected is too small, a gap is formed between the small
この光漏れ部5から漏れた光は、検査においてノイズ光となり、検査精度を悪化させてしまう。
The light leaking from the
本発明は上述の課題を解決するためになされたもので、本発明の目的は、小さい寸法の検査対象板に対してノイズ光を確実に除去して検査精度を向上させることにある。 The present invention has been made to solve the above-described problems, and an object of the present invention is to reliably remove noise light from an inspection target plate having a small size and improve inspection accuracy.
前記課題を解決するために本発明は、検査対象板を背面から照らして検査を行う検査装置であって、検査可能な検査対象板のうち最大寸法の検査対象板に合わせた大きさに設定された開口を備えて装置本体側に取り付けられる固定ベースと、当該固定ベースの背面側に設けられて前記開口から前記検査対象板の背面を照らすバックライトと、前記固定ベース上に4つ組み合わせて矩形状にかつ前記検査対象板の寸法に合わせて移動可能に配置され、互いに接する一方との関係で駆動側となり、他方との関係で従動側となって、これら4つを互いにずらすことで、その内周側に、前記検査対象板の寸法に合わせた可変開口を形成する可動ベースと、当該各可動ベースの外周側に、当該各可動ベースのパネル受けと同じ長さで、かつ前記固定ベースの開口よりも前記可動ベースの可変開口が小さくなったとき当該可動ベースの外周側にできる隙間であって前記可変開口の変化に伴って変化する隙間の最大時と同じ又はそれより大きい幅に設けられ、互いに接する一方の前記可動ベースとの関係で駆動側となり他方の前記可動ベースとの関係で従動側となって4つの前記可動ベースを互いにずらして前記可変開口を調整する際に、互いにずれる相手側の前記可動ベースに常に接して隙間を空けることなく、前記可動ベースの外周側にでき、変化する隙間を覆って、当該隙間から漏れる前記バックライトの光を遮る遮光部材とを備えて構成されたことを特徴とする。 In order to solve the above-mentioned problems, the present invention is an inspection apparatus that performs inspection by illuminating an inspection target plate from the back, and is set to a size that matches the inspection target plate having the maximum dimension among the inspection target plates. A fixed base that is attached to the apparatus main body side with an opening, a backlight that is provided on the back side of the fixed base and that illuminates the back of the plate to be inspected from the opening, and is combined with four on the fixed base. It is arranged in a shape and movably in accordance with the dimensions of the inspection object plate, and becomes a driving side in relation to one that contacts each other, and becomes a driven side in relation to the other, and by shifting these four to each other, the inner peripheral side, and the movable base to form a variable aperture to match the dimensions of the inspection target board, the the outer circumferential side of the movable base, the same length as the receiving the each movable base panel, and the stationary base A gap formed on the outer peripheral side of the movable base when the variable opening of the movable base becomes smaller than the opening of the movable base, and is provided with a width equal to or larger than the maximum of the gap that changes with the change of the variable opening. When the variable opening is adjusted by shifting the four movable bases relative to each other and the driven side relative to the other movable base in contact with each other and the driven side relative to the other movable base. A light-shielding member that covers the changing gap and blocks the light from the backlight leaking from the gap can be formed on the outer peripheral side of the movable base without always making contact with the movable base on the other side and leaving a gap. It is characterized by that.
前記構成により、前記可動ベースを小さい寸法の検査対象板に合わせて移動させて前記可変開口を小さくすると、当該可動ベースの外周側と前記固定ベースの開口との間に隙間ができるが、この隙間は前記遮光部材で覆われるため、この隙間から前記バックライトの光が、検査対象板の表面を撮影するカメラや検査をする作業者側に漏れることがなくなる。 According to the above configuration, when the movable base is moved in accordance with an inspection target plate having a small size to reduce the variable opening, a gap is formed between the outer peripheral side of the movable base and the opening of the fixed base. Is covered with the light-shielding member, so that the light from the backlight does not leak from the gap to the camera for photographing the surface of the inspection object plate or the operator side for inspection.
前記遮光部材は、前記可動ベースの外周側の隙間を覆う板材又はフィルムで構成することが望ましい。 It is desirable that the light shielding member is formed of a plate material or a film that covers a gap on the outer peripheral side of the movable base.
前記構成により、前記可動ベースを小さい寸法の検査対象板に合わせて移動させて前記可変開口を小さくすると、当該可動ベースの外周側と前記固定ベースの開口との間に隙間ができるが、この隙間は前記遮光部材である板材又はフィルムで覆われるため、この隙間から前記バックライトの光が漏れることがなくなる。 According to the above configuration, when the movable base is moved in accordance with an inspection target plate having a small size to reduce the variable opening, a gap is formed between the outer peripheral side of the movable base and the opening of the fixed base. Is covered with the plate material or film which is the light shielding member, so that the light of the backlight does not leak from this gap.
前記遮光部材を構成する板材又はフィルムの前記バックライト側面は、当該バックライトの光を吸収し、又は散乱させる表面処理を施すことが望ましい。 It is preferable that a surface treatment that absorbs or scatters the light of the backlight is applied to the backlight side of the plate material or film constituting the light shielding member.
前記構成により、表面処理した遮光部材に漏れた光が当たると、当該光は、この遮光部材で吸収し、又は散乱させて、カメラ等へ到達することがなくなる。 With the above configuration, when the leaked light hits the surface-treated light shielding member, the light is absorbed or scattered by the light shielding member and does not reach the camera or the like.
前記可動ベースを小さい寸法の検査対象板に合わせたときに生じる隙間は、前記遮光部材である板材又はフィルムで覆われるため、この隙間から前記バックライトの光が漏れることがなくなり、ノイズ光を確実に遮断することができ、測定精度の向上を図ることができる。 The gap that occurs when the movable base is fitted to the inspection target plate with a small size is covered with the plate material or film that is the light shielding member, so that the light from the backlight does not leak from this gap, and noise light is reliably transmitted. Therefore, the measurement accuracy can be improved.
また、表面処理した遮光部材で光を吸収し、又は散乱させて、ノイズ光がカメラ等へ到達することがなくなるため、測定精度の向上を図ることができる。 In addition, since the light is absorbed or scattered by the surface-treated light shielding member and noise light does not reach the camera or the like, the measurement accuracy can be improved.
以下、本発明の実施形態について説明する。本実施形態に検査装置は、バックライトの光が検査対象板の外側から漏れてノイズ光となるのを防止して測定精度を向上させるための装置である。検査対象板は、矩形の形状を有する板材である。その一例としてここでは、液晶パネルを例に説明する。 Hereinafter, embodiments of the present invention will be described. The inspection apparatus according to the present embodiment is an apparatus for improving the measurement accuracy by preventing the light from the backlight from leaking from the outside of the inspection target plate and becoming noise light. The inspection object plate is a plate material having a rectangular shape. Here, as an example, a liquid crystal panel will be described as an example.
本発明は、液晶パネルを支持する検査ステージ等を備えた検査装置すべてに適用できる。検査ステージは、図4に示すように、X、Y及びZの三方向に変位させると共にZ方向に伸びるθ軸線の周りに回転させる機構を備えたステージ本体(図示せず)、このステージ本体に取り付けられるベース板11、このベース板11に支柱12を介して一定間隔を空けて支持されるパネル支持機構13、これらベース板11とパネル支持機構13との間に設けられて液晶パネル14(図7参照)を背面から照らすバックライト15等を備えて構成されている。また、バックライト15は、筐体16と、この筐体16内に平行に配設された複数本の蛍光管17とから構成され、後述する固定ベース20の開口28全体を均等に照射する。
The present invention can be applied to all inspection apparatuses including an inspection stage that supports a liquid crystal panel. As shown in FIG. 4, the inspection stage includes a stage main body (not shown) having a mechanism that is displaced in the three directions X, Y, and Z and rotated around the θ axis extending in the Z direction. A
本発明の特徴は、このような検査装置において、前記検査ステージの上側に取り付けられるパネル支持機構13におけるバックライト15のノイズ光の問題を改良した点にある。このため、以下では、パネル支持機構13を中心に説明する。図1は本発明に係るパネル支持機構を示す平面図、図4は図1のA−A線矢視断面図、図5は本発明に係るパネル支持機構をその遮光カバーを外した状態で示す一部破断斜視図、図6は本発明に係るパネル支持機構をその遮光カバーを外した状態で示す一部破断平面図、図7は本発明に係るパネル支持機構をその遮光カバーを外した状態で示す平面図、図8は本発明に係るパネル支持機構の可動ベースを示す正面図、図9は本発明に係るパネル支持機構の可動ベースを示す平面図、図10は図9のB−B線矢視断面図である。
A feature of the present invention is that in such an inspection apparatus, the problem of noise light of the
パネル支持機構13は、液晶パネル14をその背面からバックライト15で照射しながらその液晶パネル14の電極と接触子(プローブ)とを互いに接触させるために、液晶パネル14を正確に位置決めして支持する機構である。パネル支持機構13は、図4〜6に示すように主に、ベース板11の支柱12に取り付けられる固定ベース20と、この固定ベース20上に4つ組み合わせて矩形状にかつ液晶パネル14の寸法に合わせて移動可能に配置された可動ベース21と、各可動ベース21のうち隣り合う2つに設けられ液晶パネル14の縁部に当接してこの液晶パネル14を位置決めするストッパピン22と、このストッパピン22に対向する位置に液晶パネル14を挟んで設けられストッパピン22と相まって液晶パネル14を挟み持つパネルクランプ23と、前記ストッパピン22及びパネルクランプ23をそれぞれ支持した状態で各可動ベース21に位置決めして取り付けられる位置決め機構24と、ノイズ光を遮る遮光カバー25とを備えて構成されている。
The
固定ベース20は全体を矩形状に形成されている。固定ベース20の中央には、バックライトからの光を取り込む矩形の開口28が設けられている。この開口28は固定ベース20の厚さ方向に貫通して設けられ、検査可能な液晶パネル14のうち最大寸法の液晶パネル14が合わせた大きさに設定されている。
The
各可動ベース21はその全体形状を、長い板状に形成されている。可動ベース21の全長は、開口28の対応する縁部の長さ以上に設定されている。4つの可動ベース21が組み合わされて可変開口30が形成されている。即ち、1つの可動ベース21の長手方向の一端面が、相手側の可動ベース21の側面に当接することで、四角形の可変開口30を形成している。さらに、各可動ベース21は、その長手方向の一端面と、相手側の側面との間で、相手側の側面に沿ってスライド可能に支持されている。これにより、図7のような小さな液晶パネル14に対応した小さな可変開口30から、前記開口28とほぼ同じ大きな可変開口30まで、その大きさを任意に調整できるようになっている。
Each
各可動ベース21には、図5、6に示すように、互いに組み合わされることによって、液晶パネル14を固定ベース20と平行に受けるパネル受け32が形成されている。可動ベース21は、肉厚平板状に形成され、その平板の内側端に立て板状にパネル受け32が形成されている。これにより、可動ベース21とパネル受け32は、その断面形状がL字型に形成されている。4つの可動ベース21が互いに組み合わされることによって、4つのパネル受け32が、液晶パネル14を支持する可変開口30を形成する。
As shown in FIGS. 5 and 6, each
各可動ベース21は、各結合装置34により固定ベース20に結合されている。結合装置34は、可動ベース21を、固定ベース20と平行の面内で二次元的に移動可能に支持している。
Each
この結合装置34は、各可動ベース21の長手方向と直交する方向(第1の方向)に伸びるように固定ベース20の上面に取り付けられた第1のレール36と、この第1のレール36に移動可能に結合された第1のガイド37と、この第1のガイド37の上側に一体的に取り付けられた連結部材38と、可動ベース21の長手方向(第2の方向)に沿って可動ベース21の下面に一体的に取り付けられた第2のレール39と、この第2のレール39に移動可能に結合されると共に前記連結部材38に一体的に取り付けられた2つの第2のガイド40と、固定ベース20の上面に取り付けられた状態で前記連結部材38に連結されてこの連結部材38及びその上側の構造物を第1のレール36に沿って第1の方向に移動させる駆動部41とを備えて構成されている。
The
駆動部41は、第1のレール36に沿って回転可能に配設されたボールネジ43と、このボールネジ43を回転駆動する駆動モータ44と、ボールネジ43にねじ込まれた状態で連結部材38に固定されてボールネジ43の回転によって第1のレール36に沿って連結部材38を移動させるナット45とから構成されている。
The
さらに、可動ベース21の下側面には、前記第2のレール39と並行に第3のレール46が一体的に取り付けられている。この第3のレール46には第3のガイド47が移動可能に結合されている。そして、この第3のガイド47は、可動ベース21の一端部に一体的に取り付けられている。これにより、各可動ベース21は、その長手方向の一端面と、直交する相手側の可動ベース21の側面との間で、相手側の側面に沿って移動可能に支持されている。そして、4つの可動ベース21全てが、この構造で互いに結合されている。この結果、4つの可動ベース21で形成される可変開口30は、小さな液晶パネル14に対応した小さな可変開口30から、大きな液晶パネル14に対応した大きな可変開口30まで、その大きさを任意に調整できるようになっている。具体的には、4つの駆動部41を同時に作動させて、4つの可動ベース21を同時に移動させることで、可変開口30の大きさを任意に調整できるようになっている。
Further, a
位置決め機構24は、前記ストッパピン22及びパネルクランプ23をそれぞれ支持した状態で各可動ベース21に位置決めして取り付けるための機構である。ストッパピン22を支持する位置決め機構24も、パネルクランプ23を支持する位置決め機構24も同様の構成を有するため、ここでは、パネルクランプ23を支持する位置決め機構24を図8〜10に基づいて説明する。
The
位置決め機構24は、基板51と、位置規制プレート52と、位置決めプレート53とから構成されている。
The
基板51は、前記パネルクランプ23を支持するための板材である。基板51は、四角形平板状に形成されている。パネルクランプ23は、基板51の一辺に沿って取り付けられている。基板51には、長穴55と、円穴56とが設けられている。
The
長穴55は、前記液晶パネル14の縁部に並行な方向に沿って長く形成されている。さらに長穴55は、液晶パネル14の縁部に並行な方向に沿って2つ並べて設けられている。各長穴55は、基板51を位置規制プレート52に固定するネジ57を通すための穴である。長穴55は、この長穴55に通されたネジ57が長穴55内で移動できることによって、後述する位置規制プレート52のネジ穴60にねじ込まれたネジ57に対して、基板51を前記液晶パネル14の縁部に並行な方向に多少移動できるようになっている。
The long hole 55 is formed long along the direction parallel to the edge of the
円穴56は、基板51を位置決めプレート53に固定するネジ58を通して液晶パネル14の縁部に並行な方向の位置決めをするための穴である。円穴56は、ネジ58の大きさに合わせて形成され、ネジ58との間でがたつきがないように、その内径が設定されている。
The
位置規制プレート52は、前記液晶パネル14の縁部に当接するパネルクランプ23を支持した前記基板51を、前記液晶パネル14の縁部に並行な方向には移動可能にかつ前記縁部に直交する方向には設定位置で固定して支持するためのプレートである。位置規制プレート52は具体的には、細長い板材で構成され、可動ベース21のパネル受け32に沿って固定されている。細長い板状の位置規制プレート52には、前記液晶パネル14の縁部に並行な方向に沿って、その全長に亘って一列にネジ穴60が多数設けられている。各ネジ穴60は、長穴55の長さとほぼ同じ間隔に設定されている。これにより、あるネジ穴60にネジ57がねじ込まれた状態で基板51が長穴55に沿って移動できる範囲と、隣のネジ穴60にネジ57がねじ込まれた状態で基板51が長穴55に沿って移動できる範囲とが互いに重なり合って、位置規制プレート52の全長の全ての位置で基板51を固定できるようになっている。
The
位置決めプレート53は、位置規制プレート52に並行に配設されて位置規制プレート52に支持された前記基板51を、前記液晶パネル14の縁部に並行な方向の位置決めをして支持するためのプレートである。位置決めプレート53は細長い板材で構成されている。位置決めプレート53には、基板51の円穴56に通されたネジ58がねじ込まれるネジ穴が、基板51の設置位置に合わせて1又は複数設けられる。ここでは、液晶パネル14の短辺側に合わせて1つのネジ穴が位置決めプレート53に設けられている。
The
位置決めプレート53の両端部には、嵌合部としてのピン穴63が設けられている。可動ベース21側には、ピン穴63に対応する位置に、2つの嵌合ピン64が設けられている。これらピン穴63及び嵌合ピン64は、位置決めプレート53のネジ穴が設置位置に整合するように、位置決めされている。これにより、基板51上のパネルクランプ23が正確な位置に位置決めされるようになっている。
Pin holes 63 as fitting portions are provided at both ends of the
位置決めプレート53としては、設定の異なる複数種類のプレートが用意される。具体的には、液晶パネル14の寸法により設定されたパネルクランプ23の設置数に応じた個数のネジ穴42が設けられた複数種類のプレートが用意される。これらの位置決めプレート53は、ピン穴63及び嵌合ピン64によって容易に入れ替えられる。位置決めプレート53の長さは、各可動ベース21に応じて異ならせてもよく、全て同じにしても良い。
As the
なお、ストッパピン22を支持する位置決め機構24も前記同様に構成されている。
The
遮光カバー25は、固定ベース20の開口28よりも可動ベース21の可変開口30が小さくなったときこの可動ベース21の外周側(4つのパネル受け32で形成される可変開口30の外周側)にできる隙間から漏れる前記バックライトの光を遮る遮光部材、即ちノイズ光を遮る遮光部材である。この遮光カバー25は、図1、4、8〜10に示すように、長方形の平板状部材で構成されている。遮光カバー25は、各可動ベース21のパネル受け32と同じ長さで、かつ隙間61(図7参照)の最大時と同じ又はそれより大きい幅に設定されている。遮光カバー25は、各可動ベース21のうちパネル受け32と反対側に、カバー取付け部材62を介して、外周側へ延出させて取り付けられている。
When the
遮光カバー25のバックライト15側面には、バックライト15の光を吸収し、又は散乱させる表面処理が施されている。この表面処理としては、具体的には、遮光カバー25のバックライト15側面を黒く塗ったり、ビロードを貼ったり、すりガラスのように表面に細かい凹凸を設けたりする。これにより、ノイズ光を吸収したり、散乱させたりして、画像撮影用のカメラにノイズ光が入射しないようにしている。
The side surface of the
以上のように構成されたパネル支持機構13では、次のように作用する。なお、検査装置全体の作用は、従来の検査装置と同様であるため、ここではパネル支持機構13の作用を中心に説明する。
The
まず、液晶パネル14の寸法に合わせてパネル支持機構13の可動ベース21を調整する。具体的には、駆動部41の駆動モータ44でボールネジ43を回転させて、ナット45を移動させる。ナット45の移動は、第1のレール36および第1のガイド37により規制される。第1のガイド37、第2のレール39および第2のガイド40は連結部材38で固定され、ナット45と一体となって移動する。第2のレール39と第3のレール46は可動ベース21に固定されている。
First, the
これにより、連結部材38に固定された第2のガイド40が第2のレール39を介して可動ベース21を移動させる。また、この可動ベース21と直交する可動ベース21の第3のガイド47は、第3のレール46に嵌合しており、直交する可動ベース21はナット45の移動に従って移動する。一方、直交する可動ベース21は、ナット45の移動方向に直交する方向へは自由に移動しうる。
As a result, the
この動作が、4つの駆動部41で同時に起きて、各可動ベース21が、互いに接する一方の可動ベース21との関係で駆動側となり、他方の可動ベース21との関係で従動側となって、4つの可動ベース21を互いにずらす。これにより、図7のように、各可動ベース21のパネル受け32で液晶パネル14をその下側から支持し、ストッパピン22とパネルクランプ23とで液晶パネル14を位置決めして支持する。
This operation occurs simultaneously in the four
寸法の異なる液晶パネル14の場合は、可動ベース21をずらして調整し直す。この場合は、駆動部41の駆動モータ44でボールネジ43を回転させて、ナット45、連結部材38、第2のガイド40、第2のレール39を介して可動ベース21を移動させる。この動作が、4つの駆動部41で同時に起きて、4つの可動ベース21を互いにずらし、例えば図4のように、小さな寸法の液晶パネル14に合わせる。
In the case of the
このとき、ストッパピン22とパネルクランプ23とは、液晶パネル14に合わなくなるため、位置決め機構24で調整し直す。この場合は、まず、ネジ57とネジ58とを弛めて、基板51を外す。次いで、位置決めプレート53を液晶パネル14に対応したものに入れ替える。
At this time, the
次いで、ネジ57を長穴55に通して位置規制プレート52のネジ穴60にねじ込んで、基板51の大まかな位置決めをする。次いで、基板51を長穴55の範囲でずらして、円穴56とネジ穴42とを整合させて、ネジ58を円穴56に通し、ネジ穴42にねじ込む。次いで、ネジ57とネジ58を締めつけて、基板51を固定する。
Next, the
この動作を、ストッパピン22とパネルクランプ23の全てに対して行い、ストッパピン22とパネルクランプ23を液晶パネル14に対して最適な位置に合わせる。
This operation is performed on all of the stopper pins 22 and the panel clamps 23, and the stopper pins 22 and the panel clamps 23 are adjusted to the optimum positions with respect to the
一方、可動ベース21を小さい寸法の液晶パネル14に合わせて移動させて可変開口30を小さくすると、この可動ベース21の外周側と固定ベース20の開口との間に隙間61(図7参照)ができるが、この隙間61は前記遮光カバー25で覆われる。これにより、この隙間61から前記バックライト15の光が漏れるのを防止する。
On the other hand, when the
以上のように、可動ベース21の外周側と固定ベース20の開口28との間にできる隙間61は、前記遮光カバー25で覆われて、この隙間61から前記バックライト15の光が漏れるのを防止することができるため、ノイズ光を確実に遮断して、測定精度の向上を図ることができる。
As described above, the
位置決め機構24を、ストッパピン22又はパネルクランプ23を支持する基板51と、前記液晶パネル14の縁部に当接するストッパピン22又はパネルクランプ23を支持した前記基板51を、前記液晶パネル14の縁部に並行な方向には移動可能にかつ前記縁部に直交する方向には設定位置で固定して支持する位置規制プレート52と、この位置規制プレート52に並行に配設されて位置規制プレート52に支持された前記基板51を、前記液晶パネル14の縁部に並行な方向の位置決めをして支持する位置決めプレート53とを備えて構成し、位置規制プレート52で、前記ストッパピン22又はパネルクランプ23を支持した前記基板51を、液晶パネル14の縁部に並行な方向には移動可能にかつ前記縁部に直交する方向には設定位置で固定して支持し、位置決めプレート53で、前記基板51を、前記液晶パネル14の縁部に並行な方向の位置決めをして支持するため、パネル支持機構13上の液晶パネル14を正確に支持できるようになる。そして、液晶パネル14が正確に支持されて、ノイズ光を確実に遮断するため、測定精度の向上を図ることができる。
The
また、前記基板51が、前記液晶パネル14の縁部に並行な方向に長く形成された、当該基板51を前記位置規制プレート52に固定するネジを通す長穴55と、前記基板51を前記位置決めプレート53に固定するネジを通して前記液晶パネル14の縁部に並行な方向の位置決めをする円穴56とを備え、前記位置規制プレート52が、前記基板51の長穴55に通されたネジ57がねじ込まれるネジ穴60を、前記液晶パネル14の縁部に並行な方向に複数備え、前記位置決めプレート53が、前記基板51の円穴56に通されたネジ58がねじ込まれるネジ穴42を、前記基板51の設置位置に合わせて1又は複数備え、前記位置規制プレート52のネジ穴60にネジ57をねじ込み、前記位置決めプレート53のネジ穴42にネジ58をねじ込むだけで、パネル支持機構13上の液晶パネル14を正確にかつ容易に支持できるようになる。そして、液晶パネル14が正確に支持されて、ノイズ光を確実に遮断するため、測定精度の向上を図ることができる。
In addition, the
また、寸法の違い液晶パネル14に対しては、位置決めプレート53を交換するだけで、ストッパピン22とパネルクランプ23とを、正確にかつ容易に位置決めすることができるようになる。そして、正確にかつ容易に位置決めされたストッパピン22とパネルクランプ23とで、液晶パネル14が正確に支持され、ノイズ光を確実に遮断するため、測定精度の向上を図ることができる。
Further, with respect to the
前記位置決めプレート53にピン穴63が設けられると共に、前記可動ベース21に前記ピン穴63が嵌合する嵌合ピン64が設けられ、前記ネジ穴42の配設位置を変えた複数の位置決めプレート53を、液晶パネル14の寸法に応じて適宜付け替えるようにしたので、パネル支持機構13上の液晶パネル14を、その寸法が変わっても正確にかつ容易に支持できるようになる。そして、液晶パネル14が正確に支持され、ノイズ光を確実に遮断するため、測定精度の向上を図ることができる。
The
[変形例]
前記実施形態では、遮光部材として、前記可動ベース21の外周側の隙間61を覆う遮光カバー25(板材)を用いたが、板材に限らず、フィルム等の他の部材でもよい。また、硬い板材で無くても、隙間61を覆って遮光できる部材であればよく、硬さは問わない。
[Modification]
In the embodiment, the light shielding cover 25 (plate material) that covers the
前記実施形態では、検査対象板として液晶パネル14を例に説明したが、他のガラス基板、有機EL等、他の表示用パネルでもよいことはいうまでもない。
In the above embodiment, the
本発明は、上記実施形態に限定されず、その趣旨を逸脱しない限り、種々変更することができる。 The present invention is not limited to the above embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
11:ベース板、12:支柱、13:パネル支持機構、14液晶パネル、15:バックライト、16:筐体、17:蛍光管、20:固定ベース、21:可動ベース、22:ストッパピン、23:パネルクランプ、24:位置決め機構、25:遮光カバー、28:開口、30:可変開口、32:パネル受け、34:結合装置、36:第1のレール、37:第1のガイド、38:連結部材、39:第2のレール、40:第2のガイド、41:駆動部、43:ボールネジ、44:駆動モータ、45:ナット、46:第3のレール、47:第3のガイド、51:基板、52:位置規制プレート、53:位置決めプレート、55:長穴、56:円穴、57:ネジ、58:ネジ、61:隙間。 11: base plate, 12: support, 13: panel support mechanism, 14 liquid crystal panel, 15: backlight, 16: housing, 17: fluorescent tube, 20: fixed base, 21: movable base, 22: stopper pin, 23 : Panel clamp, 24: Positioning mechanism, 25: Light shielding cover, 28: Opening, 30: Variable opening, 32: Panel receiver, 34: Coupling device, 36: First rail, 37: First guide, 38: Connection Member: 39: second rail, 40: second guide, 41: drive unit, 43: ball screw, 44: drive motor, 45: nut, 46: third rail, 47: third guide, 51: Substrate, 52: Position regulating plate, 53: Positioning plate, 55: Slotted hole, 56: Circular hole, 57: Screw, 58: Screw, 61: Gap.
Claims (3)
検査可能な検査対象板のうち最大寸法の検査対象板に合わせた大きさに設定された開口を備えて装置本体側に取り付けられる固定ベースと、
当該固定ベースの背面側に設けられて前記開口から前記検査対象板の背面を照らすバックライトと、
前記固定ベース上に4つ組み合わせて矩形状にかつ前記検査対象板の寸法に合わせて移動可能に配置され、互いに接する一方との関係で駆動側となり、他方との関係で従動側となって、これら4つを互いにずらすことで、その内周側に、前記検査対象板の寸法に合わせた可変開口を形成する可動ベースと、
当該各可動ベースの外周側に、当該各可動ベースのパネル受けと同じ長さで、かつ前記固定ベースの開口よりも前記可動ベースの可変開口が小さくなったとき当該可動ベースの外周側にできる隙間であって前記可変開口の変化に伴って変化する隙間の最大時と同じ又はそれより大きい幅に設けられ、互いに接する一方の前記可動ベースとの関係で駆動側となり他方の前記可動ベースとの関係で従動側となって4つの前記可動ベースを互いにずらして前記可変開口を調整する際に、互いにずれる相手側の前記可動ベースに常に接して隙間を空けることなく、前記可動ベースの外周側にでき、変化する隙間を覆って、当該隙間から漏れる前記バックライトの光を遮る遮光部材と
を備えて構成されたことを特徴とする検査装置。 An inspection device that inspects an inspection target plate from the back,
A fixed base that is attached to the apparatus main body side with an opening set to a size that matches the inspection target plate of the maximum dimension among the inspection target plates that can be inspected ;
A backlight provided on the back side of the fixed base and illuminates the back of the inspection object plate from the opening;
Four in combination on the fixed base are arranged in a rectangular shape and movably according to the dimensions of the plate to be inspected , become a driving side in relation to one contacting each other, become a driven side in relation to the other, By shifting these four from each other, a movable base that forms a variable opening according to the dimensions of the inspection object plate on the inner peripheral side thereof,
A gap formed on the outer peripheral side of each movable base when the movable base has the same length as the panel receiver of each movable base and when the variable opening of the movable base becomes smaller than the opening of the fixed base. The width of the gap that changes with the change of the variable opening is the same as or larger than that at the maximum, and the drive side becomes a drive side in relation to one of the movable bases in contact with each other, and the relation to the other movable base When the variable opening is adjusted by shifting the four movable bases from each other on the driven side, the outer peripheral side of the movable base can be formed without always contacting the movable bases on the other side that are displaced from each other. An inspection apparatus comprising: a light shielding member that covers a changing gap and blocks light of the backlight leaking from the gap.
前記遮光部材が、前記可動ベースの外周側の前記隙間を覆う板材又はフィルムで構成されたことを特徴とする検査装置。 The inspection apparatus according to claim 1,
The inspection apparatus, wherein the light shielding member is made of a plate material or a film that covers the gap on the outer peripheral side of the movable base.
前記遮光部材を構成する板材又はフィルムの前記バックライト側面を、当該バックライトの光を吸収し、又は散乱させる表面処理を施したことを特徴とする検査装置。 The inspection apparatus according to claim 2,
An inspection apparatus, wherein a surface treatment for absorbing or scattering light of the backlight is performed on a side surface of the backlight of a plate material or a film constituting the light shielding member.
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006241779A JP5019827B2 (en) | 2006-09-06 | 2006-09-06 | Inspection device |
TW096128856A TWI343989B (en) | 2006-09-06 | 2007-08-06 | Inspection apparatus |
KR1020070082623A KR100873743B1 (en) | 2006-09-06 | 2007-08-17 | Inspection Apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006241779A JP5019827B2 (en) | 2006-09-06 | 2006-09-06 | Inspection device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008064563A JP2008064563A (en) | 2008-03-21 |
JP5019827B2 true JP5019827B2 (en) | 2012-09-05 |
Family
ID=39287412
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006241779A Active JP5019827B2 (en) | 2006-09-06 | 2006-09-06 | Inspection device |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5019827B2 (en) |
KR (1) | KR100873743B1 (en) |
TW (1) | TWI343989B (en) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100843951B1 (en) | 2008-04-15 | 2008-07-03 | 오상협 | Resizable jig pallete for backlight unit |
KR101456424B1 (en) * | 2012-03-29 | 2014-10-31 | 주식회사 엘지화학 | Thickness Measuring Device with Novel Structure |
KR101920224B1 (en) * | 2012-07-27 | 2018-11-20 | 엘지디스플레이 주식회사 | test apparatus for liquid crystal panel and test method using the same |
CN103672626B (en) * | 2013-12-31 | 2015-11-25 | 京东方科技集团股份有限公司 | A kind of backlight module debugging apparatus |
CN106019704B (en) * | 2016-06-14 | 2019-04-16 | 广州创维平面显示科技有限公司 | Backlight module development platform |
KR102702901B1 (en) * | 2021-08-10 | 2024-09-05 | 충북대학교 산학협력단 | Apparatus for measuring illumination uniformity of multi-channel LED lighting device and method for measuring illumination uniformity of multi-channel LED lighting device using thereof |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2001021859A (en) * | 1999-07-07 | 2001-01-26 | Advanced Display Inc | Transporting tray for liquid crystal panel and method for inspecting lighting |
JP3480925B2 (en) * | 2000-09-12 | 2003-12-22 | 株式会社双晶テック | Display panel or probe frame support frame |
JP4849744B2 (en) * | 2001-06-29 | 2012-01-11 | 株式会社日本マイクロニクス | Display substrate inspection equipment |
KR100444251B1 (en) * | 2003-05-13 | 2004-08-11 | 주식회사 파이컴 | Lcd panel auto gripping apparatus for use in a panel carrier for an automatic probe unit |
KR100951904B1 (en) | 2003-04-08 | 2010-04-09 | 삼성전자주식회사 | Device for testing reliability of liquid crystal display device |
JP4570930B2 (en) * | 2004-10-22 | 2010-10-27 | 株式会社日本マイクロニクス | Electrical connection device used in panel inspection equipment |
JP2007163726A (en) * | 2005-12-13 | 2007-06-28 | Seiko Epson Corp | Projector and optical component |
JP2008064682A (en) * | 2006-09-08 | 2008-03-21 | Micronics Japan Co Ltd | Inspection device |
-
2006
- 2006-09-06 JP JP2006241779A patent/JP5019827B2/en active Active
-
2007
- 2007-08-06 TW TW096128856A patent/TWI343989B/en active
- 2007-08-17 KR KR1020070082623A patent/KR100873743B1/en active IP Right Grant
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2008064563A (en) | 2008-03-21 |
TWI343989B (en) | 2011-06-21 |
TW200827692A (en) | 2008-07-01 |
KR20080022499A (en) | 2008-03-11 |
KR100873743B1 (en) | 2008-12-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5019827B2 (en) | Inspection device | |
JP6104016B2 (en) | LCD panel inspection equipment | |
TWI468778B (en) | Apparatus and method of testing liquid crystal display device | |
US20070180721A1 (en) | Concentricity measuring apparatus and method, squareness measuring apparatus and method, and concentricity-squareness measuring apparatus and methdo | |
US20090302204A1 (en) | Light irradiation apparatus and optical member | |
KR20070034928A (en) | LCD panel inspection device | |
JP2008064682A (en) | Inspection device | |
US20150279020A1 (en) | Display Panel Characterization System With Flatness and Light Leakage Measurement Capabilities | |
KR100939762B1 (en) | A socket for measuring camera module | |
KR20080074560A (en) | Array tester | |
JP2008151707A (en) | Inspection device for display panel | |
CN109632829B (en) | Glass substrate macroscopic inspection device | |
KR20070117188A (en) | Apparatus and method for inspection of display panel | |
JPH10332792A (en) | Lighting system for board inspecting camera | |
JP2007327960A (en) | Substrate inspection unit, substrate inspection device including it, and substrate inspection method using it | |
JP4917852B2 (en) | Panel support mechanism and inspection device | |
TW201508262A (en) | Test light box | |
KR101151021B1 (en) | Cell testing device for display panel | |
JP4276867B2 (en) | Substrate holder and surface inspection apparatus provided with the same | |
KR101973482B1 (en) | Coaxial Lighting Apparatus | |
WO2006123421A1 (en) | Lighting device | |
TWI391649B (en) | Light-on tester for panel defect and light-on test method for panel defect | |
WO2010098173A1 (en) | Lighting device | |
JP4802814B2 (en) | Opening pattern inspection device | |
JP2006236818A (en) | Lighting system |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090403 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20110609 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20110927 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111128 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120605 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20120612 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5019827 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150622 Year of fee payment: 3 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |