JP3752501B2

JP3752501B2 - Substrate holding device

Info

Publication number: JP3752501B2
Application number: JP2003512690A
Authority: JP
Inventors: 友博北原
Original assignee: Olympus Corp
Current assignee: Olympus Corp
Priority date: 2001-07-02
Filing date: 2002-06-28
Publication date: 2006-03-08
Anticipated expiration: 2022-06-28
Also published as: CN1464976A; TW550732B; KR100859933B1; CN1249427C; WO2003006971A1; KR20030027059A; JPWO2003006971A1

Description

【０００１】
【技術分野】
本発明は、例えば液晶ディスプレイや有機ＥＬディスプレイなどのフラットパネルディスプレイ（ＦＰＤ）の大型のガラス基板を保持する基板保持装置に関する。
【０００２】
【背景技術】
特開２０００−７１４６公報には、例えば液晶ディスプレイや有機ＥＬディスプレイなどのフラットパネルディスプレイ（ＦＰＤ）のガラス基板（プラスチック基板も含む半導体デバイス基板）を保持するガラス基板保持具が記載されている。このガラス基板保持具は、ガラス基板を吸着保持する保持枠と、この保持枠の透過照明用開口を閉塞する透明部材と、この透明部材の上面に複数立設されてガラス基板を支持する支持ピンとからなるガラス基板保持具が記載されている。
【０００３】
このガラス基板保持具では、薄いガラス基板を複数の支持ピンに載せ、そのガラス基板の周縁のみを保持枠に吸着保持しているため、クリーンルームのダウンフローやグレーチング床等からの振動によりガラス基板の中央部分が撓んだり振動してしまう。
【０００４】
又、ガラス基板の大型化に伴い図１０に示す基板保持装置が提案された。基板ホルダ１は、枠状に形成されている。この基板ホルダ１の開口部には、角柱の複数の保持台２が架設されている。これら保持台２の上面には、所定間隔で複数の支持ピン３がそれぞれ一列に配置されて固定されている。
【０００５】
基板ホルダ１の枠部周縁には、ガラス基板４を吸着保持するための複数の吸引部材（吸着パッド）５が設けられている。これら吸引部材５は、図示しない吸引チューブに接続され、吸引ポンプの吸引動作を受けて吸引作用を行なう。又、基板ホルダ１の枠部周縁には、複数の基準ピン６及び複数の押付けピン７が設けられている。
【０００６】
ガラス基板４の表面検査を行なうときは、ガラス基板４が基板ホルダ１上に載置され、複数の押付けピン７により複数の基準ピン６に押し付けられて、基準位置にセッティングされる。この後、ガラス基板４は、複数の吸引部材５により基板ホルダ１上に吸着固定される。
【０００７】
しかしながら、薄いガラス基板４を押付けピン７により基準ピン６に押し付けたとこに、ガラス基板４の中央部に浮きが生じることがある。又、マクロ検査のために基板ホルダ１を揺動させることによりガラス基板４の中央部が上下方向に煽られて大きく振動したり、クリーンルームのダウンフロー等によってガラス基板４の中央部に振動が生じることがある。
【０００８】
このように、ガラス基板４の中央部が上下方向に煽られて大きく振動すると、欠陥が揺れ動いてしまい観察し難くなる。又、顕微鏡を用いてガラス基板４を観察する場合、ガラス基板４が浮き上がっていると顕微鏡の観察位置を振動せた際に対物レンズとガラス基板４の表面との間隔が変化し、焦点ずれが生じる。又、顕微鏡で観察する場合、ガラス基板４に振動が生じると、振動が治まるまでオートフォーカスができなくなる問題が生じる。
【０００９】
又、上下方向の振動を受けると、ガラス基板４の裏面が支持ピン３に当たり傷が付くおそれがある。さらにダウンフローの風圧の変化により、ガラス基板４の中央部が上下方向に大きく振れたり、ガラス基板４が薄くなると、ガラス基板４自体の自動ダウンフローの風圧により支持ピン３との間で微少な撓みが生じ、ガラス基板４が波打つことがある。このため、ガラス基板４の水平度を維持することができなくなり、顕微鏡等によるミクロ観察の際に焦点位置がずれてしまう。
本発明は、基板中央部分の浮きや振動を防止できる基板保持装置を提供することを目的とする。
【００１０】
本発明は、基板ホルダ枠に架設された保持台による透過照明光の光量の減少による影響を抑え、良好な透過検鏡を実現でき、かつ支持ピンの高さ調整が簡単な基板保持装置を提供することを目的とする。
【００１１】
【発明の開示】
本発明の主要な観点によれば、矩形枠状に形成された基板ホルダの開口部に矩形状のガラス基板の周縁部を吸着して水平に保持する基板保持装置において、基板ホルダの開口部内に基板載置面より低い位置に所定の間隔で複数架設され、板厚に対して充分に長い幅寸法を有し、剛性の高い金属からなる桟状の保持体と、各保持体上にそれぞれ複数配置され、ネジ孔を有する軸受け部と、各軸受け部のネジ孔に螺合するネジが元部に形成され、先端部でガラス基板を保持する保持軸と、軸受け部のネジ孔に保持軸を螺合させることにより上下移動させて保持軸の高さを調整し、ガラス基板を水平に支持させるための高さ調整機構とを具備した基板保持装置が提供される。
【００１２】
【発明を実施するための最良の形態】
以下、本発明の一実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図１０と同一部分には同一符号を付してその詳しい説明は省略する。
【００１３】
図１は基板保持装置の構成図である。この基板保持装置は、フラットパネルディスプレイのガラス基板４の表面を検査する表面検査装置に適用される。基板ホルダ１の開口部内には、複数の保持台１０が架設されている。これら保持台１０は、桟状に形成され、基板ホルダ１の開口部内の互いに対向する２辺間に所定の間隔で並設されている。これら保持台１０は、互いの板面が向かい合って配置された帯状の２枚の保持板１０ａ、１０ｂとから構成される。これら保持板１０ａ、１０ｂの間には、透過照明光が通過するための空間部１１が形成されている。保持板１０ａ、１０ｂは、板厚に対して充分に長い幅寸法を有し、剛性の高い金属からなる。又、保持板１０ａ、１０ｂは、振動を抑える目的でその板面に防振材（高減衰材料）をコーティングしたり、保持板１０ａ、１０ｂを粒界腐食ステンレス等の制振金属で作製する。防振材としては、高分子のゴム、樹脂や、振動吸収塗料、ゲル状物質を用いるとよい。振動吸収塗料としては、ウレタン、アクリル、シリコン系樹脂塗料がある。又、ゲル状物質としては、オルガノゲル、ポリマー系ゲル、シリコン系ゲル、フッ素イオン交換樹脂などがある。又、２枚の保持板１０ａ、１０ｂの間に透明な防振材を挟んでもよい。又、各保持台１０が振動しないように保持板１０ａ、１０ｂの板厚を変えたり、防振材の厚みや量を変えるなど各保持台１０の共振周波数を異ならせ、保持台１０同士間の共振をなくすことが好ましい。
【００１４】
基板ホルダ１の開口部内における所定位置、例えば中央部分に対応する各保持台１０には、複数の基板吸引部材２０が設けられている。又、各保持台１０には、複数の支持ピン３０が設けられている。
【００１５】
図２Ａ及び図２Ｂは保持台１０に対する基板吸引部材２０及び支持ピン３０の取り付けを示す構成図であって、図２Ａは上方から見た構成図、図２Ｂは側面図である。これら基板吸引部材２０及び支持ピン３０は、２枚の保持板１０ａ、１０ｂの間に所定間隔に挟持されている。各基板吸引部材２０には、吸引チューブ２１が接続されている。この吸引チューブ２１は、２枚の保持板１０ａ、１０ｂの間に配置されている。この吸引チューブ２１は、例えば光透過性の材料により形成されている。２枚の保持板１０ａ、１０ｂの底面は、光透過性の部材により形成されているのが好ましい。
【００１６】
図３Ａ及び図３Ｂは保持台１０に対して支持ピン３０のみを取り付けた構成図であって、図３Ａは上方から見た構成図、図３Ｂは側面図である。２枚の保持板１０ａ、１０ｂの間には、複数の支持ピン３０が所定間隔毎に挟持されている。
【００１７】
図４は基板吸引部材２０の断面構成図である。基板吸引部材２０には、基板保持軸２２が設けられている。この基板保持軸２２には、吸引通路２３が軸方向に形成されている。基板保持軸２２の先端部には、弾性材により形成された吸着部材２４が抜けでないように取り付けられている。この吸着部材２４には、吸引通路２３と連通するための吸引孔２５が形成されている。吸着部材２４は、抜け防止リング２６によって基板保持軸２２の先端部に保持されている。又、基板吸引部材２０の下部には、取り付け端部２７によって吸引チューブ２１が取り付けられている。この吸引チューブ２１は、基板吸引部材２０に取り付けられることにより吸引通路２３に連通する。なお、吸引チューブ２１は、基板ホルダ１の外部に設けられた吸引ポンプＰに接続されている。
【００１８】
図５は支持ピン３０の断面構成図である。支持ピン３０には、円柱状の保持軸３１が設けられている。この保持軸３１の先端部には、凹部３２が形成され、この凹部３２内にボール３３が回転可能に設けられている。保持軸３１の元側には、固定ネジ３４のネジ締めを受けるための当付け溝３５と、固定ネジ３６が当接しないようにするための逃げ溝３７とが形成されている。さらに、逃げ溝３７の下方の保持軸３１にはネジ３１ａが形成され、保持軸３１は保持軸受け３８の下部に形成されたネジ孔３８ａに螺合し、上下方向（矢印イ方向）に移動可能に設けられている。
【００１９】
従って、支持ピン３０の高さ調整は、保持軸受け３８の底部開口からドライバを用いて保持軸３１を回転させながら矢印イ方向に移動させて、高さ位置を調整した後、固定ネジ３４を締めて保持軸３１を保持軸受け３８に固定することにより行われる。
【００２０】
保持軸受け３８の下部には、２枚の保持板１０ａ、１０ｂを受けるための各平面部３９、４０が両側に形成されている。又、保持軸受け３８には、各固定ネジ３４、３６を通すための各ネジ穴４１、４２が形成されている。
【００２１】
このような構造の支持ピン３０であれば、固定ネジ３６を緩めることにより、２枚の保持板１０ａ、１０ｂの間に対して取り付け、取り外しが可能で、かつ保持軸３１を回転させるだけで支持ピン３０の高さを調整できる。
【００２２】
次に、基板ホルダ１に設けられる複数の基板吸引部材２０及び複数の支持ピン３０の高さ調整について図６を参照して説明する。
【００２３】
基準平面４４が形成された基準ブロック４３が用意される。この基準平面４４は、歪みや凹凸の無い平面である。この基準平面４４上の両端には、それぞれ各基準台４５が設けられている。これら基準台４５は、複数の基板吸引部材２０及び複数の支持ピン３０の各高さを調整するための基準高さＨに形成されている。これら基準台４５は、基板ホルダ１のサイズに適合した間隔に配置され、この基準台４５、４５間に保持台１０を逆さまに載置する。
【００２４】
又、基板吸引部材２０及び支持ピン３０の高さ調整は、基板ホルダ１を基準平面４４上に載置してもよい。
【００２５】
基板吸引部材２０の高さ調整は、図４に示す基板保持軸２２の先端部の吸着部材２４が弾性材により形成されているので、この吸着部材３４が基準平面４４に当接されると、基準平面４４の高さに従って伸縮する。この状態に、基板吸引部材２０は、２枚の保持板１０ａ、１０ｂに対して固定ネジ等により固定される。
【００２６】
一方、支持ピン３０の高さ調整は、図５に示す保持軸受け３８を底部開口よりドライバを差し込み、保持軸３１の先端部のボール３３が基準平面４４に当接するまで回転させる。この保持軸３１の高さを調整した後、固定ネジ３４を締め付け、保持軸３１を保持軸受け３８に固定する。
【００２７】
この結果、全ての基板吸引部材２０及び支持ピン３０の高さ位置が基準平面４４に揃い、これら基板吸引部材２０及び支持ピン３０の高さ調整が終了する。
【００２８】
なお、複数の支持ピン３０のみの高さ調整は、上記同様に、各支持ピン３０の各保持軸３１がそれぞれ上下移動させることにより行われる。
【００２９】
次に、上記の如く構成された装置の作用について説明する。
【００３０】
ガラス基板４の表面検査を行なうとき、ガラス基板４は、各押付けピン７により各基準ピン６に押し付けられて基準位置にセッティングされた後、先ず、ガラス基板４の中央部分が基板吸引部材２０により吸着固定される。続いて、各吸引パッド５によりガラス基板４の周縁が基板ホルダ１上に吸着固定される。
【００３１】
吸引ポンプＰが吸引動作すると、複数の基板吸引部材２０は、それぞれ吸着動作を行い、ガラス基板４をその中央部において吸着保持する。これと共に、ガラス基板４は、複数の支持ピン３０により支持される。
【００３２】
この結果、ガラス基板４は、周縁部と中央部とにおいて吸着保持されるので、水平度が常に維持される。従って、マクロ検査時に基板ホルダ１を揺動したとしても、又ダウンフロー等の影響を受けたとしても、ガラス基板４の中央部に浮きは生じない。
【００３３】
表面検査は、ガラス基板４に対して透過照明又は落射照明を用いた検鏡方式によって行われる。透過照明の検鏡方式では、透過照明光は、ガラス基板４の下方から照射される。保持台１０の架設位置では、２枚の保持板１０ａ、１０ｂの間の空間部１３を通って透過照明光がガラス基板４に照射される。これと共に各保持板１０ａ、１０ｂの回りから透過照明光が回り込み、この回り込んだ透過照明光がガラス基板４に照射される。又、吸引チューブ２１が設けられている位置でも、透過照明光は、光透過性の吸引チューブ２１により拡散されてガラス基板４に照射される。
【００３４】
従って、透過照明検鏡方式であっても、ガラス基板４に照射される透過照明光の光量が保持台１０の架設位置でも光量の減少を少なく抑えることができ、ガラス基板４の表面検査を良好に行なえる。
【００３５】
このように上記一実施の形態においては、ガラス基板４を基板ホルダ１上に載置したときのガラス基板４の中央部に対応するところに複数の基板吸引部材２０を取り付けたので、ガラス基板４は、基板ホルダ１周辺部の各吸引部材５により周辺部が固定吸着されると共に、中央部が固定吸着される。この結果、ガラス基板４を高い水平度で確実に保持できる。これにより、ガラス基板４のマクロ検査に誤検査が生じることなく、正確にガラス基板４の表面検査を行なうことができる。顕微鏡等による高倍率でのミクロ観察時でも、対物レンズとガラス基板４表面との距離が一定に保たれて焦点ずれが生ぜず、ガラス基板４の全面において合焦点の画像で検査ができる。
【００３６】
複数の基板吸引部材２０を２枚の保持板１０ａ、１０ｂの間に挟み、複数の支持ピン３０も２枚の保持板１０ａ、１０ｂの間に挟み込む構成としたので、透過照明光は、２枚の保持板１０ａ、１０ｂの間の空間部１３を通ってガラス基板４に照射され、かつこれら保持板１０ａ、１０ｂの回りから回り込んだ透過照明光がガラス基板４に照射される。さらに、透過照明光は、光透過性の吸引チューブ２１により拡散されてガラス基板４に照射される。これにより、ガラス基板４に照射される透過照明光の光量の減少を最小限に抑えることができ、良好な透過検鏡を実現することができる。
【００３７】
各保持板１０ａ、１０ｂは、加工が容易であり、製造時間を短縮でき、コストダウンが図れる。
【００３８】
複数の基板吸引部材２０は、２枚の保持板１０ａ、１０ｂの間に対して取り付け、取り外しが可能なので、２枚の保持板１０ａ、１０ｂの直線上における所望の位置に取り付け、取り外しできる。これら基板吸引部材２０は、配置間隔をガラス基板４のサイズや重量に応じて任意に調整できる。
【００３９】
複数の基板吸引部材２０及び複数の支持ピン３０は、基準ブロック４３及び各基準台４５を用いて全ての高さを同一に調整できる。この場合、基板吸引部材２０は、吸着部材２４が基準平面４４に倣うことにより高さ調整し、支持ピン３０は、保持軸３１を上下移動させることにより高さ調整できる。従って、ガラス基板４を高い水平度で確実に保持できる。
【００４０】
保持板１０ａ、１０ｂを防振材でコーティング、若しくは制振金属で作製し、又保持板１０ａ、１０ｂの隙間に防振材を挟むことで、保持台１０の振動を低減できる。従って、支持ピン３０上に載置されるガラス基板４の振動を抑えることができる。
【００４１】
次に、本発明の第２の実施の形態について図面を参照して説明する。なお、図１乃至図６と同一部分には同一符号を付してその詳しい説明は省略する。この第２の実施の形態の上記第１の実施の形態と相違するところは、図７に示すように２枚の保持板１０ａ、１０ｂの間に、光散乱又は拡散用の光学部品としての光学レンズ５０を設けたことである。
【００４２】
この光学レンズ５０は、かまぼこレンズ状に形成され、かつ各係止部５０ａが形成されている。これにより光学レンズ５０は、２枚の保持板１０ａ、１０ｂに対して係止され、各保持板１０ａ、１０ｂに対して取り付け、取り外し自在で、かつ各保持板１０ａ、１０ｂの間から落下しない。なお、光学レンズ５０は、かまぼこレンズ状に限らず、拡散板を設けたり、プリズム、フルネルレンズなどを設けても良い。
【００４３】
２枚の保持板１０ａ、１０ｂの下部には、互い内側を向いて各切欠き部５１ａ、５１ｂが形成されている。各切欠き部５１ａ、５１ｂは、下方からの透過照明光の一部をそれぞれ各保持板１０ａ、１０ｂの間に反射させ、光学レンズ５０により拡散される透過照明光の光量を増加させる作用を持つ。
【００４４】
次に、光学レンズ５０の製造方法の一例を説明する。先ず、図８Ａに示すような光透過性の樹脂（例えばプラスチック）により形成した円柱部材（ロット）５２を図８Ｂに示すようにその長手方向に２分割して、２つのレンズ部材５２ａ、５２ｂを作成する。
【００４５】
次に、各レンズ部材５２ａ、５２ｂの両側をそれぞれカットし、２本のかまぼこレンズ状の光学レンズ５０を製造する。
【００４６】
なお、レンズ部材５２ａ、５２ｂの両側をそれぞれカットせずに、レンズ部材５２ａ、５２ｂのままで２枚の保持板１０ａ、１０ｂの間に挿入できれば、これらレンズ部材５２ａ、５２ｂを光学レンズ５０として用いても良い。
【００４７】
次に、上記の如く構成された装置の作用について説明する。
【００４８】
透過照明の検鏡方式でガラス基板４の表面検査を行うとき、ガラス基板４の下方から照射される透過照明光は、２枚の保持板１０ａ、１０ｂの間に設けられた光学レンズ４０により拡散されてガラス基板４に照射される。これと共に２枚の保持板１０ａ、１０ｂの各切欠き部５１ａ、５１ｂに当たった透過照明光は、これら切欠き部５１ａ、５１ｂで２枚の保持板１０ａ、１０ｂ間に向けて反射し、光学レンズ４０を通って拡散されてガラス基板４に照射される。
【００４９】
従って、透過照明の検鏡方式であっても、ガラス基板４に照射される透過照明光の光量が保持台１０の架設位置でも、その光量の減少を少なく抑えることができ、透過照明の検鏡方式でのガラス基板４の表面検査が可能になる。そのうえ透過照明光の一部が各切欠き部５１ａ、５１ｂで反射して２枚の保持板１０ａ、１０ｂの間に入射するので、ガラス基板４に照射される透過照明光の光量を上記第１の実施の形態よりも増加できる。
【００５０】
このように上記第２の実施の形態においては、２枚の保持板１０ａ、１０ｂの間に、光散乱又は拡散用の光学部品としての光学レンズ５０を設けたので、この光学レンズ５０により透過照明光を拡散してガラス基板４に照射することができ、ガラス基板４に照射される透過照明光の光量の減少を少なく抑え、透過照明の検鏡方式でのガラス基板４の表面検査の範囲を拡大できる。
【００５１】
さらに、各切欠き部５１ａ、５１ｂを形成することにより、ガラス基板４に照射される透過照明光の光量を上記第１の実施の形態よりも増加できる。
【００５２】
なお、本発明は、上記第１及び第２の実施の形態に限定されるものでなく、種々に変形することが可能である。
【００５３】
例えば、上記第１及び第２の実施の形態では、液晶ディスプレイなどのフラットパネルディスプレイのガラス基板４の表面を検査する表面検査装置に適用されるものについて説明したが、これに限らず、フラットパネルディスプレイのガラス基板４の製造ラインに配備されるステッパーなどの各種製造の基板ホルダにも適用できる。
【００５４】
又、基板吸引部材２０は、基板ホルダ１の開口部内の任意の位置に設けることができ、各保持台の全てに設けてもよい。さらに基板吸引部材２０は、基板ボルダ１の支持ピン３０の全てを基板吸引部材２０に代えてもよい。
【００５５】
又、透過照明が可能なので、基板ホルダ１の下面開口部を透明な保持体（例えばガラス板）で閉鎖し、この透明な保持体上に基板吸引部材２０を配置してもよい。
【００５６】
又、基板吸引部材２０は、図９に示すように基板吸引部材本体６０に対して基板保持軸６１を螺合して設け、この基板保持軸６１ｂを回転させながら上下移動させることにより高さ調整可能にしてもよい。基板吸引部材本体６０ａの内面にはネジ溝６２が形成され、かつ基板保持軸６１の先端部にはネジ山６３が形成されている。基板吸引部材本体６０と基板保持軸６１との間には、吸引漏れ防止用のＯリング６４が設けられている。吸引通路２３は、基板吸引部材本体６０の空間部６５を介して吸引チューブ２１に連通している。
【００５７】
基板吸引部材２０の高さ調整は、基板保持軸６１が回転させながら上下移動され、この基板保持軸６１の先端部の吸着部材２４が基準平面４４に当接される。この後、固定ネジ６６が締め付けられ、基板保持軸６１が固定される。
【００５８】
【産業上の利用可能性】
本発明は、例えば液晶ディスプレイや有機ＥＬディスプレイなどのフラットパネルディスプレイ（ＦＰＤ）に用いられるガラス基板などの半導体ガラス基板の表面欠陥検査に用いられる。
【図面の簡単な説明】
【図１】図１は本発明の第１の実施の形態を示す基板保持装置の構成図。
【図２Ａ】図２Ａは保持台に対する基板吸引部材及び支持ピンの取付上面図。
【図２Ｂ】図２Ｂは保持台に対する基板吸引部材及び支持ピンの取付側面図。
【図３Ａ】図３Ａは保持台に対する支持ピンの取付上面図。
【図３Ｂ】図３Ｂは保持台に対する支持ピンの取付側面図。
【図４】図４は基板吸引部材の断面構成図。
【図５】図５は支持ピンの断面構成図。
【図６】図６は複数の基板吸引部材及び支持ピンの高さ調整方法を説明するための図。
【図７】図７は本発明の第２の実施の形態を示す光学レンズの構成図。
【図８Ａ】図８Ａは光学レンズの製造方法の一例を示す図。
【図８Ｂ】図８Ｂは光学レンズの製造方法の一例を示す図。
【図８Ｃ】図８Ｃは光学レンズの製造方法の一例を示す図。
【図９】図９は基板吸引部材の変形例を示す構成図。
【図１０】図１０は従来の基板保持装置の概略構成図。[0001]
【Technical field】
The present invention relates to a substrate holding device that holds a large glass substrate of a flat panel display (FPD) such as a liquid crystal display or an organic EL display.
[0002]
[Background]
Japanese Patent Application Laid-Open No. 2000-7146 describes a glass substrate holder that holds a glass substrate (a semiconductor device substrate including a plastic substrate) of a flat panel display (FPD) such as a liquid crystal display or an organic EL display. The glass substrate holder includes a holding frame that holds the glass substrate by suction, a transparent member that closes the transmission illumination opening of the holding frame, and a plurality of support pins that are erected on the upper surface of the transparent member to support the glass substrate. A glass substrate holder made of is described.
[0003]
In this glass substrate holder, a thin glass substrate is placed on a plurality of support pins, and only the periphery of the glass substrate is adsorbed and held on a holding frame. The center part bends or vibrates.
[0004]
Further, with the increase in size of the glass substrate, a substrate holding device shown in FIG. 10 has been proposed. The substrate holder 1 is formed in a frame shape. A plurality of prismatic holding bases 2 are installed in the opening of the substrate holder 1. A plurality of support pins 3 are arranged and fixed in a row at predetermined intervals on the upper surface of the holding table 2.
[0005]
A plurality of suction members (suction pads) 5 for sucking and holding the glass substrate 4 are provided on the periphery of the frame portion of the substrate holder 1. These suction members 5 are connected to a suction tube (not shown) and perform a suction action upon receiving a suction operation of a suction pump. A plurality of reference pins 6 and a plurality of pressing pins 7 are provided on the periphery of the frame portion of the substrate holder 1.
[0006]
When the surface inspection of the glass substrate 4 is performed, the glass substrate 4 is placed on the substrate holder 1, pressed against the plurality of reference pins 6 by the plurality of pressing pins 7, and set to the reference position. Thereafter, the glass substrate 4 is sucked and fixed onto the substrate holder 1 by a plurality of suction members 5.
[0007]
However, when the thin glass substrate 4 is pressed against the reference pin 6 by the pressing pin 7, the central portion of the glass substrate 4 may float. Further, when the substrate holder 1 is swung for macro inspection, the central portion of the glass substrate 4 is turned up and down to vibrate greatly, or vibration occurs in the central portion of the glass substrate 4 due to a down flow in a clean room or the like. Sometimes.
[0008]
Thus, if the central part of the glass substrate 4 is rolled up and down and vibrates greatly, the defect will shake and it will be difficult to observe. Further, when the glass substrate 4 is observed using a microscope, if the glass substrate 4 is lifted, the distance between the objective lens and the surface of the glass substrate 4 changes when the observation position of the microscope is vibrated, resulting in defocusing. Arise. Further, when observing with a microscope, if the glass substrate 4 vibrates, there is a problem that autofocus cannot be performed until the vibration is subsided.
[0009]
In addition, when subjected to vertical vibration, the back surface of the glass substrate 4 may hit the support pins 3 and be damaged. Furthermore, when the center of the glass substrate 4 is greatly shaken in the vertical direction due to a change in the wind pressure of the down flow, or when the glass substrate 4 becomes thin, there is a slight amount between the glass substrate 4 itself and the support pins 3 due to the wind pressure of the automatic down flow. Deflection may occur and the glass substrate 4 may wave. For this reason, the level of the glass substrate 4 cannot be maintained, and the focal position is shifted during micro observation with a microscope or the like .
It is an object of the present invention to provide a substrate holding device that can prevent floating and vibration of the central portion of the substrate.
[0010]
The present invention provides a substrate holding device that can suppress the influence of a decrease in the amount of transmitted illumination light by a holding stand erected on a substrate holder frame, can realize a good transmission microscope, and can easily adjust the height of a support pin. The purpose is to do.
[0011]
DISCLOSURE OF THE INVENTION
According to a main aspect of the present invention, in a substrate holding apparatus that holds a horizontal edge of a rectangular glass substrate horizontally in an opening of a substrate holder formed in a rectangular frame shape, the opening is formed in the opening of the substrate holder. A plurality of bridge-like holding bodies that are constructed at a predetermined interval below the substrate placement surface at a predetermined interval and have a sufficiently long width dimension with respect to the plate thickness and made of a highly rigid metal , and a plurality of each on each holding body. A bearing portion having a screw hole and a screw that is screwed into the screw hole of each bearing portion is formed in the base portion, a holding shaft that holds the glass substrate at the tip portion, and a holding shaft in the screw hole of the bearing portion. There is provided a substrate holding device including a height adjusting mechanism for adjusting a height of a holding shaft by screwing up and down to adjust a height of a holding shaft and horizontally supporting a glass substrate.
[0012]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The same parts as those in FIG. 10 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted.
[0013]
FIG. 1 is a configuration diagram of a substrate holding device. This substrate holding device is applied to a surface inspection device that inspects the surface of a glass substrate 4 of a flat panel display. A plurality of holding bases 10 are installed in the opening of the substrate holder 1. These holding bases 10 are formed in a bar shape, and are arranged in parallel at predetermined intervals between two opposite sides in the opening of the substrate holder 1. These holding bases 10 are composed of two belt-like holding plates 10a and 10b arranged so that their plate surfaces face each other. A space portion 11 through which transmitted illumination light passes is formed between the holding plates 10a and 10b. The holding plates 10a and 10b have a sufficiently long width dimension with respect to the plate thickness and are made of a highly rigid metal. The holding plates 10a and 10b are coated with a vibration damping material (high damping material) on the plate surface for the purpose of suppressing vibrations, or the holding plates 10a and 10b are made of a damping metal such as intergranular corrosion stainless steel. As the anti-vibration material, high-molecular rubber, resin, vibration-absorbing paint, or gel-like substance may be used. Examples of the vibration absorbing paint include urethane, acrylic, and silicon resin paint. Examples of the gel substance include organogel, polymer gel, silicon gel, and fluorine ion exchange resin. Further, a transparent vibration isolator may be sandwiched between the two holding plates 10a and 10b. In addition, the resonance frequency of each holding table 10 is made different by changing the thickness of the holding plates 10a and 10b so that each holding table 10 does not vibrate, or changing the thickness and amount of the vibration isolating material. It is preferable to eliminate resonance.
[0014]
A plurality of substrate suction members 20 are provided in each holding base 10 corresponding to a predetermined position in the opening of the substrate holder 1, for example, the central portion. Each holding base 10 is provided with a plurality of support pins 30.
[0015]
2A and 2B are configuration diagrams showing attachment of the substrate suction member 20 and the support pins 30 to the holding base 10, wherein FIG. 2A is a configuration diagram viewed from above, and FIG. 2B is a side view. The substrate suction member 20 and the support pins 30 are sandwiched between the two holding plates 10a and 10b at a predetermined interval. A suction tube 21 is connected to each substrate suction member 20. The suction tube 21 is disposed between the two holding plates 10a and 10b. The suction tube 21 is made of, for example, a light transmissive material. The bottom surfaces of the two holding plates 10a and 10b are preferably formed of a light transmissive member.
[0016]
3A and 3B are configuration diagrams in which only the support pins 30 are attached to the holding base 10, wherein FIG. 3A is a configuration diagram viewed from above, and FIG. 3B is a side view. A plurality of support pins 30 are sandwiched between the two holding plates 10a and 10b at predetermined intervals.
[0017]
FIG. 4 is a cross-sectional configuration diagram of the substrate suction member 20. The substrate suction member 20 is provided with a substrate holding shaft 22. A suction passage 23 is formed in the substrate holding shaft 22 in the axial direction. A suction member 24 formed of an elastic material is attached to the tip of the substrate holding shaft 22 so as not to come off. The suction member 24 is formed with a suction hole 25 for communicating with the suction passage 23. The suction member 24 is held at the tip end portion of the substrate holding shaft 22 by a removal prevention ring 26. A suction tube 21 is attached to the lower portion of the substrate suction member 20 by an attachment end 27. The suction tube 21 communicates with the suction passage 23 by being attached to the substrate suction member 20. The suction tube 21 is connected to a suction pump P provided outside the substrate holder 1.
[0018]
FIG. 5 is a cross-sectional configuration diagram of the support pin 30. The support pin 30 is provided with a columnar holding shaft 31. A concave portion 32 is formed at the distal end portion of the holding shaft 31, and a ball 33 is rotatably provided in the concave portion 32. On the original side of the holding shaft 31, an abutment groove 35 for receiving a screw tightening of the fixing screw 34 and an escape groove 37 for preventing the fixing screw 36 from coming into contact are formed. Furthermore, the holding shaft 31 of the lower relief groove 37 is formed a screw 31a is, the holding shaft 31 is screwed into the screw hole 38a formed in the lower portion of the holding bearings 38, movable in the vertical direction (arrow b direction) Is provided.
[0019]
Accordingly, the height of the support pin 30 is adjusted by moving the holding shaft 31 from the bottom opening of the holding bearing 38 in the direction of the arrow A while rotating the holding shaft 31 with a screwdriver, adjusting the height position, and then tightening the fixing screw 34. This is done by fixing the holding shaft 31 to the holding bearing 38.
[0020]
Flat portions 39 and 40 for receiving the two holding plates 10a and 10b are formed on both sides under the holding bearing 38, respectively. The holding bearing 38 has screw holes 41 and 42 through which the fixing screws 34 and 36 are inserted.
[0021]
In the case of the support pin 30 having such a structure, the fixing screw 36 is loosened so that it can be attached to and detached from the two holding plates 10a and 10b, and is supported only by rotating the holding shaft 31. The height of the pin 30 can be adjusted.
[0022]
Next, height adjustment of the plurality of substrate suction members 20 and the plurality of support pins 30 provided in the substrate holder 1 will be described with reference to FIG.
[0023]
A reference block 43 in which a reference plane 44 is formed is prepared. The reference plane 44 is a plane having no distortion or unevenness. Each reference table 45 is provided at each end of the reference plane 44. These reference bases 45 are formed at a reference height H for adjusting the heights of the plurality of substrate suction members 20 and the plurality of support pins 30. These reference bases 45 are arranged at intervals suitable for the size of the substrate holder 1, and the holding base 10 is placed upside down between the reference bases 45 and 45.
[0024]
Further, the height adjustment of the substrate suction member 20 and the support pin 30 may be performed by placing the substrate holder 1 on the reference plane 44.
[0025]
The height of the substrate suction member 20 is adjusted because the suction member 24 at the tip of the substrate holding shaft 22 shown in FIG. 4 is formed of an elastic material, so that the suction member 34 comes into contact with the reference plane 44. It expands and contracts according to the height of the reference plane 44. In this state, the substrate suction member 20 is fixed to the two holding plates 10a and 10b with fixing screws or the like.
[0026]
On the other hand, for adjusting the height of the support pin 30, the holding bearing 38 shown in FIG. 5 is rotated through the bottom opening until the ball 33 at the tip end of the holding shaft 31 contacts the reference plane 44. After adjusting the height of the holding shaft 31, the fixing screw 34 is tightened to fix the holding shaft 31 to the holding bearing 38.
[0027]
As a result, the height positions of all the substrate suction members 20 and the support pins 30 are aligned with the reference plane 44, and the height adjustment of the substrate suction members 20 and the support pins 30 is completed.
[0028]
Note that the height adjustment of only the plurality of support pins 30 is performed by moving each holding shaft 31 of each support pin 30 up and down in the same manner as described above.
[0029]
Next, the operation of the apparatus configured as described above will be described.
[0030]
When the surface inspection of the glass substrate 4 is performed, the glass substrate 4 is pressed against the reference pins 6 by the pressing pins 7 and set at the reference position, and then the central portion of the glass substrate 4 is first moved by the substrate suction member 20. Adsorbed and fixed. Subsequently, the peripheral edge of the glass substrate 4 is sucked and fixed onto the substrate holder 1 by each suction pad 5.
[0031]
When the suction pump P performs a suction operation, each of the plurality of substrate suction members 20 performs a suction operation, and holds the glass substrate 4 by suction at the center thereof. At the same time, the glass substrate 4 is supported by a plurality of support pins 30.
[0032]
As a result, the glass substrate 4 is adsorbed and held at the peripheral portion and the central portion, so that the levelness is always maintained. Therefore, even if the substrate holder 1 is swung during the macro inspection or is affected by a downflow or the like, the central portion of the glass substrate 4 does not float.
[0033]
The surface inspection is performed by a spectroscopic method using transmission illumination or epi-illumination on the glass substrate 4. In the transmission illumination speculum method, the transmitted illumination light is irradiated from below the glass substrate 4. At the installation position of the holding table 10, the transmitted illumination light is irradiated onto the glass substrate 4 through the space 13 between the two holding plates 10 a and 10 b. At the same time, the transmitted illumination light circulates from around each holding plate 10a, 10b, and the circulated transmitted illumination light irradiates the glass substrate 4. Even at the position where the suction tube 21 is provided, the transmitted illumination light is diffused by the light-transmitting suction tube 21 and applied to the glass substrate 4.
[0034]
Therefore, even if it is a transmission illumination spectroscopic method, even if the light quantity of the transmitted illumination light irradiated to the glass substrate 4 is the installation position of the holding stand 10, the reduction in the light quantity can be suppressed to be small, and the surface inspection of the glass substrate 4 is excellent. It can be done.
[0035]
As described above, in the above-described embodiment, since the plurality of substrate suction members 20 are attached to the central portion of the glass substrate 4 when the glass substrate 4 is placed on the substrate holder 1, the glass substrate 4. The peripheral part is fixedly adsorbed by the suction members 5 around the substrate holder 1 and the central part is fixedly adsorbed. As a result, the glass substrate 4 can be reliably held with high levelness. Thereby, the surface inspection of the glass substrate 4 can be accurately performed without causing an erroneous inspection in the macro inspection of the glass substrate 4. Even during micro observation at a high magnification using a microscope or the like, the distance between the objective lens and the surface of the glass substrate 4 is kept constant, so that defocusing does not occur, and an in-focus image can be inspected on the entire surface of the glass substrate 4.
[0036]
The plurality of substrate suction members 20 are sandwiched between the two holding plates 10a and 10b, and the plurality of support pins 30 are also sandwiched between the two holding plates 10a and 10b. The glass substrate 4 is irradiated through the space 13 between the holding plates 10a and 10b, and the transmitted illumination light that wraps around the holding plates 10a and 10b is irradiated onto the glass substrate 4. Further, the transmitted illumination light is diffused by the light-transmitting suction tube 21 and applied to the glass substrate 4. Thereby, the reduction | decrease of the light quantity of the transmitted illumination light irradiated to the glass substrate 4 can be suppressed to the minimum, and a favorable transmission microscope can be implement | achieved.
[0037]
Each holding plate 10a, 10b is easy to process, can reduce the manufacturing time, and can reduce the cost.
[0038]
Since the plurality of substrate suction members 20 can be attached to and detached from the two holding plates 10a and 10b, they can be attached and detached at desired positions on the straight line of the two holding plates 10a and 10b. These substrate suction members 20 can arbitrarily adjust the arrangement interval according to the size and weight of the glass substrate 4.
[0039]
The plurality of substrate suction members 20 and the plurality of support pins 30 can be adjusted to have the same height by using the reference block 43 and each reference table 45. In this case, the height of the substrate suction member 20 can be adjusted by the suction member 24 following the reference plane 44, and the height of the support pin 30 can be adjusted by moving the holding shaft 31 up and down. Therefore, the glass substrate 4 can be reliably held with high levelness.
[0040]
The holding plate 10a, 10b is coated with a vibration isolating material or made of a vibration damping metal, and the vibration of the holding table 10 can be reduced by sandwiching the vibration isolating material in the gap between the holding plates 10a, 10b. Therefore, the vibration of the glass substrate 4 placed on the support pins 30 can be suppressed.
[0041]
Next, a second embodiment of the present invention will be described with reference to the drawings. The same parts as those in FIGS. 1 to 6 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof is omitted. The second embodiment is different from the first embodiment in that an optical component as an optical component for light scattering or diffusion is provided between two holding plates 10a and 10b as shown in FIG. The lens 50 is provided.
[0042]
The optical lens 50 is formed in a kamaboko lens shape, and each locking portion 50a is formed. As a result, the optical lens 50 is locked to the two holding plates 10a and 10b, can be attached to and detached from the holding plates 10a and 10b, and does not fall between the holding plates 10a and 10b. The optical lens 50 is not limited to the kamaboko lens shape, and may be provided with a diffusion plate, a prism, a Furnell lens, or the like.
[0043]
Notches 51a and 51b are formed in the lower part of the two holding plates 10a and 10b so as to face each other. Each notch 51a, 51b has a function of reflecting a part of transmitted illumination light from below between each holding plate 10a, 10b, and increasing the amount of transmitted illumination light diffused by the optical lens 50. .
[0044]
Next, an example of a method for manufacturing the optical lens 50 will be described. First, a cylindrical member (lot) 52 formed of a light-transmitting resin (for example, plastic) as shown in FIG. 8A is divided into two in the longitudinal direction as shown in FIG. 8B, and two lens members 52a and 52b are formed. create.
[0045]
Next, both sides of each lens member 52a, 52b are cut, respectively, and two optical lenses 50 having a kamaboko lens shape are manufactured.
[0046]
If the lens members 52a and 52b can be inserted between the two holding plates 10a and 10b without cutting the both sides of the lens members 52a and 52b, the lens members 52a and 52b are used as the optical lens 50. May be.
[0047]
Next, the operation of the apparatus configured as described above will be described.
[0048]
When the surface inspection of the glass substrate 4 is performed by the transmission illumination spectroscopic method, the transmitted illumination light irradiated from below the glass substrate 4 is diffused by the optical lens 40 provided between the two holding plates 10a and 10b. Then, the glass substrate 4 is irradiated. At the same time, the transmitted illumination light that hits the notches 51a and 51b of the two holding plates 10a and 10b is reflected by the notches 51a and 51b toward the two holding plates 10a and 10b. The light is diffused through the lens 40 and irradiated onto the glass substrate 4.
[0049]
Therefore, even if it is a transmission illumination spectroscopic method, even if the amount of transmitted illumination light irradiated on the glass substrate 4 is at the position where the holding base 10 is installed, a decrease in the amount of light can be suppressed to a small extent. It is possible to inspect the surface of the glass substrate 4 by the method. In addition, a part of the transmitted illumination light is reflected by the notches 51a and 51b and is incident between the two holding plates 10a and 10b. It can be increased as compared with the embodiment.
[0050]
As described above, in the second embodiment, since the optical lens 50 as the optical component for light scattering or diffusion is provided between the two holding plates 10a and 10b, the optical lens 50 transmits light. It is possible to diffuse the light and irradiate the glass substrate 4, suppress the decrease in the amount of transmitted illumination light irradiated to the glass substrate 4, and reduce the range of surface inspection of the glass substrate 4 in the transmission illumination spectroscopic method. Can be expanded.
[0051]
Furthermore, by forming the notches 51a and 51b, the amount of transmitted illumination light irradiated on the glass substrate 4 can be increased as compared with the first embodiment.
[0052]
The present invention is not limited to the first and second embodiments, and can be variously modified.
[0053]
For example, in the first and second embodiments described above, the description has been given of what is applied to a surface inspection apparatus that inspects the surface of the glass substrate 4 of a flat panel display such as a liquid crystal display. The present invention can also be applied to substrate holders of various manufactures such as steppers provided in the production line of the glass substrate 4 of the display.
[0054]
Further, the substrate suction member 20 can be provided at an arbitrary position within the opening of the substrate holder 1 and may be provided on all of the holding bases. Further, the substrate suction member 20 may replace all the support pins 30 of the substrate boulder 1 with the substrate suction member 20.
[0055]
Further, since transmitted illumination is possible, the lower surface opening of the substrate holder 1 may be closed with a transparent holding body (for example, a glass plate), and the substrate suction member 20 may be disposed on the transparent holding body.
[0056]
Further, as shown in FIG. 9, the substrate suction member 20 is provided by screwing a substrate holding shaft 61 to the substrate suction member main body 60 and moving the substrate holding shaft 61b up and down while rotating. It may be possible. A screw groove 62 is formed on the inner surface of the substrate suction member main body 60a, and a screw thread 63 is formed at the tip of the substrate holding shaft 61. An O-ring 64 for preventing suction leakage is provided between the substrate suction member main body 60 and the substrate holding shaft 61. The suction passage 23 communicates with the suction tube 21 through the space 65 of the substrate suction member main body 60.
[0057]
In adjusting the height of the substrate suction member 20, the substrate holding shaft 61 is moved up and down while rotating, and the suction member 24 at the tip of the substrate holding shaft 61 is brought into contact with the reference plane 44. Thereafter, the tightening et been fixing screw 66, the substrate holding shaft 61 is fixed.
[0058]
[Industrial applicability]
The present invention is used for surface defect inspection of a semiconductor glass substrate such as a glass substrate used in a flat panel display (FPD) such as a liquid crystal display or an organic EL display.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram of a substrate holding device according to a first embodiment of the present invention.
FIG. 2A is a top view of attachment of a substrate suction member and support pins to a holding table.
FIG. 2B is a side view of attaching the substrate suction member and the support pins to the holding table.
FIG. 3A is a top view of attachment of the support pins to the holding base.
FIG. 3B is a side view of attaching the support pin to the holding base.
FIG. 4 is a cross-sectional configuration diagram of a substrate suction member.
FIG. 5 is a cross-sectional configuration diagram of a support pin.
FIG. 6 is a view for explaining a method for adjusting the heights of a plurality of substrate suction members and support pins;
FIG. 7 is a configuration diagram of an optical lens showing a second embodiment of the present invention.
FIG. 8A is a diagram showing an example of a method for manufacturing an optical lens.
FIG. 8B is a diagram showing an example of a method for manufacturing an optical lens.
FIG. 8C is a diagram showing an example of a method for manufacturing an optical lens.
FIG. 9 is a configuration diagram showing a modified example of the substrate suction member.
FIG. 10 is a schematic configuration diagram of a conventional substrate holding apparatus.

Claims

In the substrate holding device that holds the horizontal edge of the rectangular glass substrate in the opening of the substrate holder formed in a rectangular frame shape and holds it horizontally,
A plurality of bridge-like holders made of a highly rigid metal having a width dimension sufficiently long with respect to the plate thickness, and installed in a plurality of positions at lower intervals than the substrate placement surface in the opening of the substrate holder. ,
A plurality of bearings arranged on each holding body, and having a screw hole,
A screw that is screwed into the screw hole of each bearing part is formed at the base part, and a holding shaft that holds the glass substrate at the tip part;
A height adjusting mechanism for adjusting the height of the holding shaft by screwing the holding shaft into the screw hole of the bearing portion to adjust the height of the holding shaft, and horizontally supporting the glass substrate;
A substrate holding apparatus comprising:

The substrate holding apparatus according to claim 1, wherein
The holding shaft is formed in a cylindrical shape, has a rotatable ball that supports the glass substrate at the tip, and has a screw formed at a lower portion, and a support pin that supports the glass substrate together with the bearing. A suction passage that is configured or formed into a cylindrical shape having a screw at the base portion on the bearing portion side, has a suction member that sucks and holds the back surface of the glass substrate at the tip portion, and communicates with the suction member Is formed in the axial direction, and constitutes a substrate suction member together with the bearing portion,
At least one of the support pin and the substrate suction member is attached to the holding body,
A substrate holding device.

The substrate holding apparatus according to claim 1, wherein
The holding body is arranged such that two holding plates made of a highly rigid metal formed in a belt shape face each other,
A flat part is formed at the lower part of the bearing part,
The flat portion formed in the bearing portion is attached between the two holding plates, and is provided so as to be removable.
A substrate holding device.

The substrate holding apparatus according to claim 3, wherein
The transmitted illumination light is scattered or scattered in the space so that the transmitted illumination light is irradiated from the back side of the glass substrate held in the opening of the substrate holder through the space between the two holding plates. Provided with optical members to diffuse,
A substrate holding device.

The substrate holding apparatus according to claim 4, wherein
The substrate holding apparatus according to claim 1, wherein the optical member is a lens obtained by dividing a lens in which a light-transmitting resin is formed into a cylinder into two in the longitudinal direction.

The substrate holding apparatus according to claim 1, wherein
A substrate holding apparatus that suppresses vibrations of the holding body by coating a vibration-absorbing paint on the surface of the holding member in the form of a bar, or sandwiching a vibration isolating material in a space portion of the holding body.

The substrate holding apparatus according to claim 1, wherein
The plurality of cross-shaped holding bodies installed at predetermined intervals in the opening of the substrate holder have different resonance frequencies of the holding bodies so that the holding bodies do not resonate by changing the plate thickness or mass. A substrate holding device.

The substrate holding apparatus according to claim 1, wherein
The plurality of cross-shaped holding bodies installed at predetermined intervals in the opening of the substrate holder is configured so that the holding bodies are different from each other by changing the thickness and amount of the vibration isolator disposed in the space of the holding body. A substrate holding apparatus, wherein the holding bodies have different resonance frequencies so as not to resonate.