KR100586007B1 - Probe Unit for inspection of Flat Display Panels - Google Patents
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Abstract
본 발명은 TFT-LCD패널과 같은 평판형 디스플레이패널을 검사하는데 사용되는 프로브유니트에 관한 것이다. 본 발명은 프로브장치의 매니퓰레이터(1)에 고정되는 프로브블록(3)과, 상기 프로브블록(3)의 저면에 접합되어 피검사체의 패턴과 접촉하는 복수개의 탐침부재(5)를 필름(6)상에 고정한 프로브시트(10)와, 적색신호선(R1...Rn),녹색 신호선(G1...Gn),청색 신호선(B1...Bn)들을 교대로 반복하여 일정한 간격으로 필름(6)상에 고착하고, 상기 복수개의 신호선(R1...Rn)(G1...Gn)(B1...Bn)들의 선단이 각각에 대응하는 상기 프로브시트(10)의 각 탐침부재(5)에 연결접속한 FPC접속시트(20)로 이루어지고, 상기 FPC접속시트(20)의 복수개의 적색신호선(R1...Rn)들은 가로질러 배치되는 적색신호 연결선(22a,22b)에 의해 서로 접속되어 쇼팅되고, 복수개의 녹색신호선(G1...Gn)들은 가로지르는 녹색신호 연결선(24a,24b)에 의해 서로 접속되어 쇼팅되며, 복수개의 청색신호선(B1...Bn)들은 청색신호 연결선(26a,26b)으로 서로 접속되어 쇼팅되고, 상기 각 신호연결선(22a,22b)(24a,24b)(26a,26b)들은 직접 신호발생기(30)에 연결된다. The present invention relates to a probe unit used to inspect a flat panel display panel such as a TFT-LCD panel. According to the present invention, a probe block (3) fixed to a manipulator (1) of a probe device and a plurality of probe members (5) bonded to a bottom surface of the probe block (3) and in contact with a pattern of a subject under test (6) The probe sheet 10 fixed on the substrate, the red signal lines (R1 ... Rn), the green signal lines (G1 ... Gn), and the blue signal lines (B1 ... Bn) are alternately repeated, and the film (6) at regular intervals. Each probe member 5 of the probe sheet 10 is fixed on the probe sheet 10 and the tip of each of the plurality of signal lines R1 ... Rn (G1 ... Gn) (B1 ... Bn) corresponds to each other. ) And a plurality of red signal lines R1 ... Rn of the FPC connection sheet 20 are connected to each other by red signal connection lines 22a and 22b disposed across. The plurality of green signal lines G1 ... Gn are connected and shorted to each other by the green signal connecting lines 24a and 24b crossing each other, and the plurality of blue signal lines B1 ... Bn are blue No. shorting and are connected to one another by connection lines (26a, 26b), each of the signal connecting line (22a, 22b) (24a, 24b) (26a, 26b) are connected directly to the signal generator 30.
평판형 디스플레이패널, 패턴검사, 쇼팅바, 비쥬얼검사, 신호연결선Flat Panel Display, Pattern Inspection, Shorting Bar, Visual Inspection, Signal Connection Line
Description
도 1은 본 발명에 따른 프로브유니트의 개략적인 구성도,1 is a schematic configuration diagram of a probe unit according to the present invention;
도 2는 본 발명의 프로브유니트의 저면도,2 is a bottom view of the probe unit of the present invention;
도 3은 본 발명의 프로브유니트를 구성하는 프로브시트의 사시도,3 is a perspective view of a probe sheet constituting the probe unit of the present invention;
도 4는 도 2의 "A"부분 확대상세도,4 is an enlarged detail "A" part of FIG.
도 5는 도 2의 "B"부분 확대상세도이다.5 is an enlarged detail "B" of FIG.
※ 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명※※ Explanation of code about main part of drawing ※
1: 매니퓰레이터 3: 프로브블록1: Manipulator 3: Probe Block
P: 피검사체 5: 탐침부재P: Subject 5: Probe member
6: 필름 7: 배선6: film 7: wiring
10: 프로브시트 20: FPC접속시트10: probe sheet 20: FPC connection sheet
R1,...Rn: 적색신호선R1, ... Rn: Red signal line
G1,..,Gn: 녹색신호선 B1,..,Bn: 청색신호선G1, .., Gn: Green signal line B1, .., Bn: Blue signal line
22a,22b: 적색신호 연결선 24a,24b: 녹색신호 연결선22a, 22b: red
26a,26b: 청색신호 연결선 W1,..,Wn: 와이어26a, 26b: Blue signal connection line W1, .., Wn: Wire
28: 전원입력선28: power input line
본 발명은 평판형 디스플레이패널 검사용 프로브유니트에 관한 것으로, 특히 TFT-LCD의 패턴을 검사하는데 사용되는 프로브유니트에 관한 것이다.The present invention relates to a probe unit for inspecting a flat panel display panel, and more particularly, to a probe unit used for inspecting a pattern of a TFT-LCD.
평판형 통상 TFT-LCD 패널(이하, 'LCD'라 한다)에 구동IC를 설치하기 전 LCD 패널의 픽셀의 상태를 검사하는 방법에는 쇼팅바를 이용한 비쥬얼테스트방식과, 그로스테스트방식이 있다. As a method of inspecting the state of the pixels of the LCD panel before installing the driver IC in a flat panel TFT-LCD panel (hereinafter referred to as 'LCD'), there are a visual test method using a shorting bar and a gross test method.
쇼팅바를 이용한 비쥬얼 테스트방식은 쇼팅바 자체의 신뢰성이 낮아서 라인결함이 발생활 확률이 높고, LCD패널의 배선의 저항증가로 인하여 균일성이 낮은 단점이 있다. 한편, 그로스테스트방식은 모듈에서 사용하는 신호와 동일한 신호를 인가하기 위하여 LCD패널의 패드에 일대일로 접촉하여 원하는 패턴을 구현할 수 있지만, 완전 접촉방식에 의한 개별 신호를 인가하여 모듈과 동일한 시인성을 확보할 수 있으나, 접촉상태가 불안정하므로 라인결함과 프로빙 누락중 어느 것에 의한 불량인지의 판별이 불명확하여 검사신뢰성이 낮은 단점이 있다. The visual test method using the shorting bar has a disadvantage in that the shorting bar itself has a low reliability and a high probability of occurrence of line defects and a low uniformity due to an increase in resistance of the LCD panel wiring. On the other hand, the gross test method can implement a desired pattern by one-to-one contact with the pad of the LCD panel in order to apply the same signal as the signal used in the module, but secures the same visibility as the module by applying individual signals by the full contact method. However, since the contact state is unstable, it is unclear whether the line defect and the probing omission is unclear, which leads to a disadvantage of low inspection reliability.
이에 본 발명은 상기한 종래 LCD패널의 검사용 프로브유니트가 가진 단점을 해소하기 위하여 고안된 것으로, 구동IC없이 신호입력선을 쇼팅시킨 배선을 곧바로 신호발생기에 연결함으로써 검사신뢰성을 높일 수 있는 프로브유니트를 제공함에 목적이 있다. Accordingly, the present invention is designed to solve the disadvantages of the conventional probe panel for inspection of the conventional LCD panel, a probe unit that can increase the test reliability by connecting the signal input line short-circuit directly to the signal generator without a drive IC. The purpose is to provide.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명은 프로브장치의 매니퓰레이터에 고정되는 프로브블록과, 상기 프로브블록의 저면에 접합되어 피검사체의 패턴과 접촉하는 복수개의 탐침부재를 필름상에 고정한 프로브시트와, 적색신호선,녹색 신호선,청색 신호선들을 교대로 반복하여 일정한 간격으로 필름상에 고착하고, 상기 복수개의 신호선들의 선단이 각각에 대응하는 상기 프로브시트의 각 탐침부재에 연결접속한 FPC접속시트를 포함한 평판형 디스플레이패널 검사용 프로브유니트에 있어서, The present invention for achieving the above object is a probe block fixed to the manipulator of the probe device, a probe sheet bonded to the bottom surface of the probe block and a plurality of probe members fixed on the film contacting the pattern of the test object, and the red signal line And repeating the green signal lines and the blue signal lines alternately to be fixed on the film at regular intervals, and the flat panel display including an FPC connection sheet in which the ends of the plurality of signal lines are connected to the respective probe members of the probe sheet. In the probe unit for panel inspection,
상기 접속시트의 신호배선은 적색신호선,녹색 신호선,청색 신호선들이 교대로 반복하여 배열되고, 상기 적색신호선, 녹색 신호선, 청색 신호선들은 각각 동일한 색상들끼리 쇼팅신호선으로 접속되어 상기 신호발생기에 직접 연결된 구조에 특징이 있다. The signal line of the connection sheet has a structure in which red signal lines, green signal lines, and blue signal lines are alternately arranged alternately, and the red signal lines, green signal lines, and blue signal lines are connected to short-circuit signal lines with the same colors, respectively, and are directly connected to the signal generator. It is characterized by.
상기한 바와 같이 구성된 본 발명에 의하면, 자체에 구비된 신호연결선들에 의해 쇼팅시키는 기능을 하게 되므로 피검사체에 쇼팅바를 마련하고 쇼팅바를 통하여 검사하였던 종전의 검사방식이 가진 문제점을 해소하였고, 아울러 피검사체의 배선이 증가하더라도 얼룩현상이 일어나지 않게 된다.According to the present invention configured as described above, the short circuit is provided by the signal connection lines provided therein, so that a shorting bar is provided on the inspected object and the conventional test method that has been inspected through the shorting bar solves a problem. Staining does not occur even if the wiring of the body increases.
또한 본 발명의 프로브유니트는 구동IC를 사용하지 않고 프로브유니트 자체에서 신호선들을 신호연결선으로 연결하여 직접 신호발생기에 접속하므로 입력전압을 자유롭게 조절할 수 있는 장점이 있다. In addition, the probe unit of the present invention has an advantage that the input voltage can be freely adjusted because the probe unit is directly connected to the signal generator by connecting the signal lines to the signal connection line without using the driving IC.
이러한 본 발명의 프로브유니트는 무인 자동 시인검사기에 적용할 수 있어 검사의 신뢰성을 높이고 검사효율을 향상시킬 수 있다. The probe unit of the present invention can be applied to an unmanned automatic visual inspection machine can increase the reliability of the inspection and improve the inspection efficiency.
이하, 본 발명에 따른 실시예를 첨부도면에 따라 상세히 설명한다. Hereinafter, embodiments according to the present invention will be described in detail according to the accompanying drawings.
도 1은 본 발명에 따른 프로브유니트의 개략적인 구성도이고, 도 2는 본 발명에 따른 프로브유니트의 저면도이다. 본 발명에 따른 프로브유니트는 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 프로브장치의 매니퓰레이터(1)에 고정되는 프로브블록(3)과, 상기 프로브블록(3)의 저면에 접합되어 평판형 디스플레이 패널(P)(이하, '피검사체'라 한다)의 패턴과 접촉하는 복수개의 탐침부재(5)를 필름(6)상에 고정한 프로브시트(10)와, 필름상에 적색신호선(R1...Rn),녹색 신호선(G1...Gn),청색 신호선(B1...Bn)들이 교대로 반복하여 일정한 간격으로 고착되고, 이들 복수개의 신호선(R1-n,G1-n,B1-n)들의 선단을 각각 대응하는 상기 프로브시트(10)의 각 탐침부재(5)에 연결접속한 FPC접속시트(20)로 구성된다. 1 is a schematic configuration diagram of a probe unit according to the present invention, Figure 2 is a bottom view of the probe unit according to the present invention. 1 and 2, the probe unit according to the present invention is bonded to the probe block (3) fixed to the manipulator (1) of the probe device, the bottom surface of the probe block (3) flat panel display panel (P) (hereinafter, referred to as 'inspection') a plurality of probe members (5) in contact with the pattern on the
상기 프로브시트(10)는 도 3에 도시된 바와 같이, 폭방향을 따라 피검사체의 배선과 동일한 간격으로 배치되는 복수개의 탐침부재(5)와, 상기 각 탐침부재(5)마다 연결되어 탐침부재(5)에서 탐침한 신호를 전달하는 배선(7)이 폴리아미드와 같은 절연성 필름(6)에 고착된 구조로 되어 있다. As illustrated in FIG. 3, the
도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 FPC접속시트(20)에서 복수개의 적색신호선(R1...Rn)들은 가로질러 배치되는 적색신호 연결선(22a,22b)에 의해 서로 접속되어 쇼팅되고, 복수개의 녹색신호선(G1...Gn)들은 가로지르는 녹색신호 연결선 (24a,24b)에 의해 서로 접속되어 쇼팅되며, 복수개의 청색신호선(B1...Bn)들은 청색신호 연결선(26a,26b)으로 서로 접속되어 쇼팅되어 있다. As shown in FIGS. 4 and 5, in the
상기 적색신호 연결선(22a,22b), 녹색신호 연결선(24a,24b), 청색신호 연결선(26a,26b)들은 연장되어 프로브장치의 신호발생기(30)에 연결된다. 상기 적색신호 연결선(22a,22b)은 홀수열의 적색신호선(R1,R3,...,R2n-1)들을 한꺼번에 묶은 제1적색신호 연결선(22a)과, 짝수열의 적색신호선(R2,R4,...,R2n)들을 한꺼번에 연결접속한 제2적색신호 연결선(22b)으로 구성되고, 상기 녹색신호 연결선(24a,24b)은 홀수열의 녹색신호선(G1,G3,...,G2n-1)들을 한꺼번에 묶은 제1녹색신호 연결선(24a)과, 짝수열의 녹색신호선(G2,G4,...,G2n)들을 한꺼번에 연결접속한 제2녹색신호 연결선(24b)으로 구성되며, 상기 청색신호 연결선(26a,26b)은 홀수열의 청색신호선(B1,B3,...,B2n-1)들을 한꺼번에 묶은 제1청색신호 연결선(26a)과, 짝수열의 녹색신호선(B2,B4,...,B2n)들을 한꺼번에 연결접속한 제2청색신호 연결선(26b)으로 구성된다. The red
그리고 상기 신호 연결선(22a,22b)(24a,24b)(26a,26b)들의 선단들은 연장되어 상기 FPC접속시트(20)의 선단에서 적색,녹색, 청색의 순서로 반복배치되어 고정되고, 이들 각 신호연결선(22a,22b)(24a,24b)(26a,26b)들은 각각 와이어(W1,..,Wn)를 통하여 신호발생기(30)에 연결되어 신호발생기(30)와 피검사체의 배선 사이에 적색, 녹색, 청색의 검사신호를 상호 전달하게 되는 것이다. The ends of the
설명하지 않은 도면부호 28은 전원입력선이다.
상기한 바와 같은 구성의 프로브 유니트는 자체에 구비된 신호연결선들에 의해 쇼팅시키는 기능을 하게 되므로 피검사체에 쇼팅바를 마련하고 쇼팅바를 통하여 검사하였던 종전의 검사방식이 가진 문제점을 해소하였고, 아울러 피검사체의 배선이 증가하더라도 얼룩현상이 일어나지 않게 된다. The probe unit having the configuration as described above has a function of shorting by the signal connection lines provided therein, thus eliminating the problem of the conventional inspection method provided with the shorting bar on the inspected object and inspected through the shorting bar. Even if the wiring is increased, staining does not occur.
또한 본 발명의 프로브유니트는 구동IC를 사용하지 않고 프로브유니트 자체에서 신호선들을 신호연결선으로 연결하여 직접 신호발생기에 접속하므로 입력전압을 자유롭게 조절할 수 있는 장점이 있다. In addition, the probe unit of the present invention has an advantage that the input voltage can be freely adjusted because the probe unit is directly connected to the signal generator by connecting the signal lines to the signal connection line without using the driving IC.
이러한 본 발명의 프로브유니트는 무인 자동 시인검사기에 적용할 수 있어 검사의 신뢰성을 높이고 검사효율을 향상시킬 수 있다. The probe unit of the present invention can be applied to an unmanned automatic visual inspection machine can increase the reliability of the inspection and improve the inspection efficiency.
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