KR100916218B1 - Multi testing apparatus for flat panel display - Google Patents

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박상현
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주식회사 코디에스
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Abstract

A multi testing apparatus of a flat panel display is provided to reduce equipment purchasing costs and reduce an occupation space. A probe unit(110) is respectively contacted with pads formed on an LCD(Liquid Crystal Display) panel(1). The probe unit tests the pads. A visual test unit(120) in one side of the probe unit performs visual test of the LCD panel. A GT(Gross Test) unit(130) equipped in the other side of the probe unit performs gross test of the LCD panel. A connection selector operates one of the visual test unit between the visual test unit and the GT unit and the GT unit.

Description

평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치{MULTI TESTING APPARATUS FOR FLAT PANEL DISPLAY}MULTI TESTING APPARATUS FOR FLAT PANEL DISPLAY}

본 발명은 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 하나의 장비에서 비쥬얼 검사와 그로스 테스트를 겸용하여 선택적으로 어느 하나를 수행할 수 있는 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a multi-inspection apparatus for a flat panel display panel, and more particularly, to a multi-inspection apparatus for a flat panel display panel that can selectively perform any one of the visual inspection and the gross test in one device.

일반적으로, LCD를 비롯한 디스플레이 패널의 제조공정에서 액정패널의 불량 여부를 검사하기 위해 다양한 검사공정이 이루어지고 있고, 각 검사공정을 위한 다양한 장비들이 개발되어 있다.In general, various inspection processes are performed to inspect whether a liquid crystal panel is defective in a manufacturing process of a display panel including an LCD, and various equipments for each inspection process have been developed.

대표적으로 비쥬얼 검사(Visual Inspection: VI)와 그로스 테스트가 있는데, 상기 비쥬얼 검사는 다수개의 게이트 라인 및/또는 데이터 라인이 연결된 쇼팅바(shorting bar)에 소정의 전압을 인가하여 액정패널에 흑백 상태의 화상을 표시하여 게이트 라인 및/또는 데이터 라인의 불량 여부를 검사하는 공정이다.Representative examples include visual inspection (VI) and gross tests, which apply a predetermined voltage to a shorting bar to which a plurality of gate lines and / or data lines are connected. It is a process of displaying an image and checking whether a gate line and / or a data line are defective.

여기서, 흑백 상태의 화상은 쇼팅바에 소정의 전압을 인가하여 구현될 수 있다. 이와 같이 구현된 흑백 화상은 CCD카메라를 통해 도트(dot), 라인(line), 유니폼(uniform) 등의 불량 여부를 확인하는 데 이용된다.Here, the black and white image may be implemented by applying a predetermined voltage to the shorting bar. The black and white image implemented as above is used to check whether a dot, line, uniform, etc. are defective through a CCD camera.

그로스 테스트(Gross Test: GT)는 게이트 및 데이터 구동 IC를 실장하기 전에 백라이트 유닛 및 구동 IC들이 조립된 모듈(module)과 동일한 환경에서 액정패널의 동작 특성 및 도트(dot)/화소(pixel)의 불량 여부를 판단하는 공정으로, 쇼팅바를 제거한 후 모든 개별 화소에 대해 독립적인 신호를 인가하여 완제품과 동일하게 풀 컬러(full color)를 디스플레이되게 한다.The Gross Test (GT) is designed to determine the operating characteristics of the liquid crystal panel and the dots / pixels in the same environment as the module in which the backlight unit and the driving ICs are assembled before mounting the gate and data driving ICs. In the process of determining whether there is a defect, after removing the shorting bar, an independent signal is applied to all individual pixels so that the full color is displayed in the same manner as the finished product.

이때, 도 1은 일반적인 액정패널(1)의 구조를 나타낸 것으로서, TFT기판(12)과, 칼라필터기판(14)이 구비되며, 비쥬얼 검사를 위하여 프로브 유닛의 탐침핀에 접촉되는 검사신호 입력패드 또는 그로스 테스트시 접촉되는 OLB패드 중 어느 하나인 패드(18)가 구비되어 있다. 미설명부호 16은 액티브 영역을 나타낸 것이다. 1 illustrates a structure of a general liquid crystal panel 1, and includes a TFT substrate 12 and a color filter substrate 14, and a test signal input pad contacting a probe pin of a probe unit for visual inspection. Alternatively, the pad 18, which is one of the OLB pads contacted during the gross test, is provided. Reference numeral 16 denotes an active area.

그러나 종래의 평판 디스플레이 패널의 검사장치는 비쥬얼 검사와 그로스 테스트를 독립적인 장비에 의해 각각 수행하여야 하므로 장비 구매 비용 증가 및 설치 공간이 확장되는 문제점이 있었다.However, the inspection apparatus of the conventional flat panel display panel has to perform the visual inspection and the gross test by independent equipment, respectively, there is a problem that the equipment purchase cost increases and the installation space is expanded.

본 발명은 상기 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 그 목적은 검사 포인트는 동일한 상태에서 비쥬얼 검사와 그로스 테스트를 하나의 장비에서 선택적으로 수행하여 장비 구매 비용 절감 및 차지 공간이 감소될 수 있게 한 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치를 제공함에 있다.The present invention has been made to solve the above-mentioned conventional problems, the object of the inspection point is to perform the visual inspection and gross test selectively in a single equipment in the same state so that the equipment purchase cost can be reduced and the charge space can be reduced The present invention provides a multi-inspection apparatus for a flat panel display panel.

상술한 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 액정패널에 형성된 복수의 패드 에 각각 접촉하여 검사하는 프로브 유닛; 상기 프로브 유닛의 일측에 구비되어 상기 액정패널에 비쥬얼 검사하는 비쥬얼 검사부; 상기 프로브 유닛의 타측에 구비되어 상기 액정패널에 그로스 테스트하는 그로스 테스트부; 및 상기 비쥬얼 검사부와 상기 그로스 테스트부의 사이에서 상기 비쥬얼 검사부 또는 상기 그로스 테스트부 중 어느 하나를 작동시키는 접속 선택부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention is a probe unit for contacting and inspecting each of a plurality of pads formed on the liquid crystal panel; A visual inspection unit provided at one side of the probe unit to visually inspect the liquid crystal panel; A gross test unit provided at the other side of the probe unit to perform a gross test on the liquid crystal panel; And a connection selector configured to operate one of the visual inspection unit and the gross test unit between the visual inspection unit and the gross test unit.

또한, 본 발명에서의 상기 비쥬얼 검사부는, 제1 PCB; 및 상기 제1 PCB와 연결되어 상기 접속 선택부의 연결시 상기 프로브 유닛에 신호를 인가하는 패턴 필름;을 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the visual inspection unit in the present invention, the first PCB; And a pattern film connected to the first PCB to apply a signal to the probe unit when the connection selector is connected.

또한, 본 발명에서의 상기 그로스 테스트부는, 제2 PCB; 및 상기 제2 PCB와 연결되어 상기 접속 선택부의 연결시 상기 프로브 유닛에 신호를 인가하는 구동 IC;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the gross test unit in the present invention, the second PCB; And a driving IC connected to the second PCB to apply a signal to the probe unit when the connection selector is connected.

또한, 본 발명에서의 상기 접속 선택부는, 상기 비쥬얼 검사부와 상기 그로스 테스트부의 사이에 구비되어 상기 패턴 필름과 일측에 연결되고 상기 구동 IC와 타측에 연결되는 하우징; 및 상기 하우징의 내부에 구비되어 상기 패턴 필름 또는 상기 구동 IC 중 어느 하나와 접속 필름이 접속할 수 있도록 이송되는 접속부재;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the connection selector in the present invention, the housing provided between the visual inspection unit and the gross test unit is connected to the pattern film and one side and the drive IC and the other side; And a connection member provided inside the housing to be connected to any one of the pattern film and the driving IC so as to connect the connection film.

또한, 본 발명에서의 상기 접속부재에는 상기 접속부재의 이동을 제어하는 제어부가 구비되는 것을 특징으로 한다.In addition, the connection member in the present invention is characterized in that the control unit for controlling the movement of the connection member is provided.

또한, 본 발명에서의 상기 접속 선택부는 상기 프로브 유닛마다 개별적으로 구비되는 것을 특징으로 한다.In addition, the connection selector in the present invention is characterized in that each probe unit is provided separately.

이와 같은 본 발명의 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치는, 검사 포인트는 동일한 상태에서 비쥬얼 검사와 그로스 테스트를 하나의 장비에서 선택적으로 수행하여 장비 구매 비용 절감 및 차지 공간이 감소되는 효과가 있다.In the multi-inspection apparatus of the flat panel display panel of the present invention, the inspection point is selectively performed visual inspection and gross test in a single device in the same state has the effect of reducing the cost of equipment purchase and occupy space.

이하, 본 발명의 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치를 첨부도면을 참조하여 일 실시 예를 들어 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, an exemplary embodiment of a multi-inspection apparatus for a flat panel display panel according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

본 발명의 바람직한 일 실시 예에 따른 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치(100)는 도 2 및 도 3에 도시된 바와 같이 프로브 유닛(110), 비쥬얼 검사부(120), 그로스 테스트부(130), 접속 선택부(140) 및 제어부를 포함하며, 비쥬얼 검사 또는 그로스 테스트를 실시할 때 액정패널(1)의 패드(18)인 검사 포인트는 동일하다.The multi-inspection apparatus 100 of the flat panel display panel according to an exemplary embodiment of the present invention may include a probe unit 110, a visual inspection unit 120, a gross test unit 130, and a connection as illustrated in FIGS. 2 and 3. It includes the selection unit 140 and the control unit, the inspection point that is the pad 18 of the liquid crystal panel 1 is the same when performing a visual inspection or a gross test.

상기 프로브 유닛(Probe unit: 110)은 스테이지(도면에 미도시)의 일측단에 다수 배치되어 액정패널(1)에 형성된 복수의 패드(18)에 각각 접촉한 후 검사하도록 적어도 하나의 일렬로 구비된다.The probe units 110 may be arranged at one end of a stage (not shown in the drawing) and provided in at least one line to contact and inspect the pads 18 formed on the liquid crystal panel 1, respectively. do.

상기 비쥬얼 검사부(120)는 프로브 유닛(110)의 일측에 구비되어 접속 선택부(140)를 통한 선택적인 접속에 따라 액정패널(1)에 비쥬얼 검사를 수행하며, 신호발생기(Pattern Generator: 도면에 미도시), 제1 PCB(122) 및 패턴 필름(124)을 포함한다.The visual inspection unit 120 is provided at one side of the probe unit 110 to perform a visual inspection on the liquid crystal panel 1 according to the selective connection through the connection selection unit 140, and a signal generator (Pattern Generator): Not shown), the first PCB 122 and the pattern film 124.

상기 제1 PCB(122)는 소정의 신호를 생성하는 신호발생기(Pattern Generator)의 신호를 패턴 필름(124)에 전달하기 위해 신호발생기와 패턴 필름(124)의 사이에 개재된다.The first PCB 122 is interposed between the signal generator and the pattern film 124 to transmit a signal of a pattern generator to generate the predetermined signal to the pattern film 124.

상기 패턴 필름(Pattern Flim: 124)은 제1 PCB(122)와 연결되어 접속 선택부(140)의 일측에서 접속 연결시 프로브 유닛(110)에 신호발생기의 신호를 프로브 유닛(110)의 블레이드 팁(blade tip)을 거쳐 패드(18)에 인가한다.The pattern film (Pattern Flim) 124 is connected to the first PCB 122 to connect the signal from the signal generator to the probe unit 110 at one side of the connection selector 140 blade tip of the probe unit 110 It is applied to the pad 18 via a blade tip.

상기 그로스 테스트부(130)는 프로브 유닛(110)의 타측에 구비되어 접속 선택부(140)를 통한 선택적인 접속에 따라 액정패널(1)에 그로스 테스트를 수행하며, 제2 PCB(132) 및 구동 IC(134)를 포함한다.The gross test unit 130 is provided on the other side of the probe unit 110 to perform a gross test on the liquid crystal panel 1 according to the selective connection through the connection selector 140, and the second PCB 132 and The drive IC 134 is included.

상기 제2 PCB(132)는 상기 신호발생기(Pattern Generator)의 신호를 구동 IC(134)에 전달하기 위해 개재된다. 더욱이, 상기 신호발생기와 제2 PCB(132)의 사이에는 인터페이스 보드(Interface Board: 도면에 미도시)가 연결된다.The second PCB 132 is interposed to transmit a signal of the pattern generator to the driving IC 134. In addition, an interface board (not shown) is connected between the signal generator and the second PCB 132.

상기 구동 IC(134)는 제2 PCB(132)와 연결되어 상기 접속 선택부의 연결시 프로브 유닛(110)에 신호를 프로브 유닛(110)의 블레이드 팁을 거쳐 패드(18)에 인가하되 프로브 유닛(110)의 인터페이스 기능을 한다.The driving IC 134 is connected to the second PCB 132 to apply a signal to the pad 18 through the blade tip of the probe unit 110 when the connection selection unit is connected to the pad 18. It functions as an interface of 110).

상기 접속 선택부(140)는 비쥬얼 검사부(130)와 그로스 테스트부(140)의 사이에 구비되어 비쥬얼 검사부(130) 또는 그로스 테스트부(140) 중 어느 하나를 작동시키기 위해 접속 필름(146)을 패턴 필름(124) 또는 구동 IC(134)로 이동시키며, 하우징(142), 접속부재(144) 및 접속 필름(146)으로 구성된다.The connection selector 140 is provided between the visual inspection unit 130 and the gross test unit 140 to operate the connection film 146 to operate either the visual inspection unit 130 or the gross test unit 140. It moves to the pattern film 124 or the drive IC 134, and consists of the housing 142, the connection member 144, and the connection film 146.

특히, 상기 접속 선택부(140)는 프로브 유닛(110)마다 개별적으로 각각 구비 되며, 일률적으로 구비될 수도 있다.In particular, the connection selector 140 may be individually provided for each probe unit 110, and may be uniformly provided.

상기 하우징(142)은 비쥬얼 검사부(130)와 그로스 테스트부(140)의 사이에 구비되어 양단이 내측 방향으로 절곡된 일측 절곡부에 접속 필름(146)이 이동하여 패턴 필름(124)에 접속할 수 있도록 연결되고, 절곡된 타측 절곡부에 접속 필름(146)이 이동하여 구동 IC(134)에 접속할 수 있도록 연결된다.The housing 142 may be provided between the visual inspection unit 130 and the gross test unit 140 so that the connection film 146 may be moved to one side bent portion in which both ends are bent inwardly and connected to the pattern film 124. The connection film 146 is moved to be connected to the driving IC 134 by moving the connection film 146 to the other bent portion.

상기 접속부재(144)는 상기 하우징(142)의 내부에 구비되어 패턴 필름(124) 또는 구동 IC(134) 중 어느 하나와 접속 필름(146)이 접속할 수 있도록 이송되는 'ㅗ' 형태로 형성된다. 그리고 상기 접속부재(144)에는 접속부재(144)를 패턴 필름(124) 또는 구동 IC(134) 방향으로 이동시키는 이동부(도면에 미도시)가 구비되고 상기 이동부의 작동을 자동 등으로 제어하는 제어부(도면에 미도시)가 구비된다.The connection member 144 is provided in the housing 142 and is formed in a 'ㅗ' shape which is transported to connect the connection film 146 with any one of the pattern film 124 or the driving IC 134. . In addition, the connection member 144 is provided with a moving part (not shown) for moving the connecting member 144 in the direction of the pattern film 124 or the driving IC 134, and automatically controls the operation of the moving part. A control unit (not shown in the figure) is provided.

이때, 상기 접속부재(144)는 상단을 감싸 패턴 필름(124) 또는 구동 IC(134) 중 어느 하나와 접속될 수 있도록 접속 필름(146)으로 마감되고, 접속 필름(146)의 끝단이 신호발생기와 연결된다.At this time, the connection member 144 is wrapped with an upper end of the connection film 146 so as to be connected to any one of the pattern film 124 or the driving IC 134, the end of the connection film 146, the signal generator Connected with.

그러므로 본 발명에 의한 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치(100)의 작동 과정은 도 2 내지 도 4에 도시된 바와 같이 다음과 같다.Therefore, the operation of the multi-inspection apparatus 100 of the flat panel display panel according to the present invention is as follows as shown in Figs.

우선, 스테이지 상에 액정패널(1)을 로딩시킨 후 프로브 유닛(110)을 액정패널(1)의 검사 위치를 향해 일률적으로 이동시킨다.First, after loading the liquid crystal panel 1 on the stage, the probe unit 110 is uniformly moved toward the inspection position of the liquid crystal panel 1.

다음으로, 프로그램 등에 의해 제어부에서 접속 선택부(140)의 이동부를 제 어하여 접속부재(144)에 구비된 접속 필름(146)이 패턴 필름(124) 또는 구동 IC(134) 중 어느 하나와 접속 필름(146)이 접속할 수 있도록 하여 패턴 필름(124)에 접속하면 액정패널(1)의 비쥬얼 검사를 수행하고, 구동 IC(134)에 접속하면 그로스 테스트를 수행한다.Next, the connecting film 146 provided in the connecting member 144 is connected to either the pattern film 124 or the driving IC 134 by controlling the moving part of the connection selecting unit 140 by the control unit by a program or the like. When the film 146 is connected and connected to the pattern film 124, the visual inspection of the liquid crystal panel 1 is performed, and when connected to the driving IC 134, a gross test is performed.

다음으로, 상기 프로브 유닛(110)이 패드에 접촉한 후 검사를 완료하면 원위치로 복귀한다.Next, after the probe unit 110 contacts the pad and completes the inspection, the probe unit 110 returns to the original position.

이상에서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였지만, 본 발명의 보호범위는 상기 실시 예에 한정되는 것이 아니며, 해당 기술분야의 통상의 지식을 갖는 자라면 본 발명의 사상 및 기술영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.In the detailed description of the present invention described above with reference to the preferred embodiment of the present invention, the scope of protection of the present invention is not limited to the above embodiment, and those skilled in the art of the present invention It will be understood that various modifications and changes can be made in the present invention without departing from the spirit and scope of the invention.

도 1은 일반적인 액정패널을 개략적으로 나타낸 것이다. 1 schematically shows a general liquid crystal panel.

도 2는 본 발명에 의한 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치를 개략적으로 도시한 사시도이다.2 is a perspective view schematically showing a multi-inspection apparatus for a flat panel display panel according to the present invention.

도 3은 도 2의 부분 확대도이다.3 is a partially enlarged view of FIG. 2.

도 4는 상기 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치에서 접속 선택부를 도시한 측면도이다.4 is a side view illustrating a connection selection unit in the multi-inspection apparatus of the flat panel display panel.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Main Parts of Drawings>

100: 멀티 검사장치 110: 프로브 유닛100: multi inspection device 110: probe unit

120: 비쥬얼 검사부 130: 그로스 테스트부120: visual inspection unit 130: gross test unit

140: 접속 선택부140: connection selection unit

Claims (6)

액정패널에 형성된 복수의 패드에 각각 접촉하여 검사하는 프로브 유닛;A probe unit which contacts and inspects a plurality of pads formed on the liquid crystal panel, respectively; 상기 프로브 유닛의 일측에 구비되어 상기 액정패널에 비쥬얼 검사하는 비쥬얼 검사부;A visual inspection unit provided at one side of the probe unit to visually inspect the liquid crystal panel; 상기 프로브 유닛의 타측에 구비되어 상기 액정패널에 그로스 테스트하는 그로스 테스트부; 및A gross test unit provided at the other side of the probe unit to perform a gross test on the liquid crystal panel; And 상기 비쥬얼 검사부와 상기 그로스 테스트부의 사이에서 상기 비쥬얼 검사부 또는 상기 그로스 테스트부 중 어느 하나를 작동시키는 접속 선택부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치.And a connection selector for operating any one of the visual inspection unit and the gross test unit between the visual inspection unit and the gross test unit. 제 1항에 있어서, 상기 비쥬얼 검사부는,The method of claim 1, wherein the visual inspection unit, 제1 PCB; 및 A first PCB; And 상기 제1 PCB와 연결되어 상기 접속 선택부의 연결시 상기 프로브 유닛에 신호를 인가하는 패턴 필름;을 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치.And a pattern film connected to the first PCB to apply a signal to the probe unit when the connection selector is connected to the first PCB. 제 1항에 있어서, 상기 그로스 테스트부는,The gross test unit of claim 1, 제2 PCB; 및 A second PCB; And 상기 제2 PCB와 연결되어 상기 접속 선택부의 연결시 상기 프로브 유닛에 신호를 인가하는 구동 IC;를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치.And a driving IC connected to the second PCB to apply a signal to the probe unit when the connection selector is connected. 제 2항 또는 제 3항에 있어서, 상기 접속 선택부는,The method according to claim 2 or 3, wherein the connection selector, 상기 비쥬얼 검사부와 상기 그로스 테스트부의 사이에 구비되어 패턴 필름과 일측에 연결되고 구동 IC와 타측에 연결되는 하우징; 및A housing provided between the visual inspection unit and the gross test unit and connected to one side of the pattern film and the other side of the driving IC; And 상기 하우징의 내부에 구비되어 상기 패턴 필름 또는 상기 구동 IC 중 어느 하나와 접속 필름이 접속할 수 있도록 이송되는 접속부재;를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치.And a connection member provided inside the housing to be connected to any one of the pattern film and the driving IC so that the connection film can be connected to the multi-view device of the flat panel display panel. 제 4항에 있어서,The method of claim 4, wherein 상기 접속부재에는 상기 접속부재의 이동을 제어하는 제어부가 구비되는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치.The connection member is provided with a control unit for controlling the movement of the connection member multi-inspection apparatus for a flat panel display panel. 제 5항에 있어서,The method of claim 5, 상기 접속 선택부는 상기 프로브 유닛마다 개별적으로 구비되는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치.And the connection selector is provided separately for each probe unit.
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