KR101021622B1 - Multi testing apparatus for flat panel display - Google Patents

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KR101021622B1
KR101021622B1 KR1020090003220A KR20090003220A KR101021622B1 KR 101021622 B1 KR101021622 B1 KR 101021622B1 KR 1020090003220 A KR1020090003220 A KR 1020090003220A KR 20090003220 A KR20090003220 A KR 20090003220A KR 101021622 B1 KR101021622 B1 KR 101021622B1
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최준호
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Abstract

본 발명은 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치에 관한 것으로, 본 발명에 의한 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치는, 액정패널에 형성된 복수의 패드에 각각 접촉하여 검사하는 프로브 유닛; 상기 프로브 유닛의 일단에 연결되어 상기 액정패널에 비주얼 검사하는 비주얼 검사부; 상기 프로브 유닛의 타단에 연결되어 상기 액정패널에 그로스 테스트하는 그로스 테스트부; 상기 비주얼 검사부 또는 상기 그로스 테스트부 중 어느 하나를 선택적으로 작동시키는 작동 선택부; 및 상기 액정패널의 데이터 라인 및 게이트 라인의 좌표값을 인식하기 위해 구비되는 방향 인식부;를 포함한다.The present invention relates to a multi-inspection apparatus for a flat panel display panel. The multi-inspection apparatus for a flat panel display panel according to the present invention includes a probe unit which contacts and inspects a plurality of pads formed on a liquid crystal panel, respectively; A visual inspection unit connected to one end of the probe unit to visually inspect the liquid crystal panel; A gross test unit connected to the other end of the probe unit to perform a gross test on the liquid crystal panel; An operation selection unit for selectively operating any one of the visual inspection unit and the gross test unit; And a direction recognizing unit provided to recognize coordinate values of the data line and the gate line of the liquid crystal panel.

본 발명에 따르면, 비주얼 검사와 그로스 테스트를 하나의 장비에서 선택적으로 수행하여 검사시간 단축, 검사인원 축소, 생산원가 절감 및 생산성이 향상되고, 그로스 테스트부의 구동 드라이버 IC에 대체하는 구동신호 생성 및 공급부를 구비하여 유지보수에 따른 생산 효율이 저하되는 것을 방지할 수 있으며, 비주얼 검사부에 데이터 라인과 게이트 라인의 좌표값 인식을 위한 X, Y 방향 인식부를 구비하여 리페어 부분을 좌표값으로 인식 가능하므로 정확한 위치 이동을 통하여 효율적인 리페어가 가능한 효과가 있다.According to the present invention, the visual inspection and the gross test can be selectively performed in a single device, thereby reducing the inspection time, reducing the number of inspectors, reducing the production cost, and improving the productivity, and generating and supplying a drive signal to replace the gross test part's drive driver IC. It is possible to prevent the production efficiency decreases due to the maintenance by the unit, and the X and Y direction recognition unit for recognizing the coordinate value of the data line and the gate line in the visual inspection unit can recognize the repair part as the coordinate value. Efficient repair is possible through position movement.

액정패널, 비주얼 검사, 그로스 테스트, 겸용, 리페어  LCD panel, visual inspection, gross test, combined use, repair

Description

평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치{MULTI TESTING APPARATUS FOR FLAT PANEL DISPLAY}MULTI TESTING APPARATUS FOR FLAT PANEL DISPLAY}

본 발명은 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 하나의 장비에서 비주얼 검사와 그로스 테스트를 겸용할 수 있으면서 그로스 테스트시 구동 드라이버 IC 없이 장치를 구현할 수 있고 비주얼 검사시 불량 라인 좌표값을 자동으로 인식 가능한 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치에 관한 것이다.The present invention relates to a multi-inspection apparatus for a flat panel display panel, and more particularly, it is possible to combine visual inspection and gross testing in one device, and to implement a device without a driver driver IC during gross testing, and to perform poor line coordinates during visual inspection. A multi-inspection apparatus for a flat panel display panel capable of automatically recognizing a value.

일반적으로, LCD를 비롯한 디스플레이 패널의 제조공정에서 액정패널의 불량 여부를 검사하기 위해 다양한 검사공정이 이루어지고 있고, 각 검사공정을 위한 다양한 장비들이 개발되어 있다.In general, various inspection processes are performed to inspect whether a liquid crystal panel is defective in a manufacturing process of a display panel including an LCD, and various equipments for each inspection process have been developed.

특히, 액정패널은 데이터 구동부로부터 공급되는 데이터신호에 대응하는 소정의 영상을 표시한다. 이를 위하여, 디스플레이 패널은 두 장의 유리기판 사이에 주입된 액정을 이용하여 백라이트 유닛으로부터 공급되는 빛을 제어한다.In particular, the liquid crystal panel displays a predetermined image corresponding to the data signal supplied from the data driver. To this end, the display panel controls the light supplied from the backlight unit using the liquid crystal injected between the two glass substrates.

액정패널의 제조시 대표적으로 비주얼 검사(Visual Inspection: V/I)와 그로스 테스트가 있는데, 상기 비주얼 검사는 다수개의 게이트 라인 및/또는 데이터 라 인이 연결된 쇼팅바(shorting bar)에 소정의 전압을 인가하고 액정패널에 흑백 상태의 화상을 표시하여 게이트 라인 및/또는 데이터 라인의 불량 여부를 검사하는 공정이다.In the manufacture of the liquid crystal panel, there are typically visual inspection (V / I) and gross test, wherein the visual inspection applies a predetermined voltage to a shorting bar to which a plurality of gate lines and / or data lines are connected. It is a process of inspecting whether a gate line and / or a data line is defective by applying and displaying an image of a black-and-white state on a liquid crystal panel.

여기서, 흑백 상태의 화상은 쇼팅바에 소정의 전압을 인가하여 구현될 수 있다. 이와 같이 구현된 흑백 화상은 CCD카메라를 통해 도트(dot), 라인(line), 유니폼(uniform) 등의 불량 여부를 확인하는 데 이용된다.Here, the black and white image may be implemented by applying a predetermined voltage to the shorting bar. The black and white image implemented as above is used to check whether a dot, line, uniform, etc. are defective through a CCD camera.

그로스 테스트(Gross Test: G/T)는 게이트 및 데이터 구동 IC를 실장하기 전에 백라이트 유닛 및 구동 드라이버 IC 들이 조립된 모듈(module)과 동일한 환경에서 액정패널의 동작 특성 및 도트(dot)/화소(pixel)의 불량 여부를 판단하는 공정으로, 쇼팅바를 제거한 후 모든 개별 화소에 대해 독립적인 신호를 인가하여 완제품과 동일하게 풀 컬러(full color)를 디스플레이되게 한다.The Gross Test (G / T) is an operating characteristic of the liquid crystal panel and a dot / pixel in the same environment as the module in which the backlight unit and the driver driver ICs are assembled before the gate and data driver ICs are mounted. In the process of determining whether the pixel is defective, after removing the shorting bar, an independent signal is applied to all individual pixels so that the full color is displayed in the same manner as the finished product.

피검사체(디스플레이 패널)에는 비주얼 검사를 위하여 프로브유닛의 탐침핀에 접촉되는 검사신호 입력패드와 그로스 테스트시 접촉되는 OLB패드가 구비되어 있다. 또한, 종래 검사신호 입력패드와 OLB패드는 복수개의 쇼팅바에 전기적으로 연결되어 있다.The inspected object (display panel) is provided with a test signal input pad in contact with the probe pin of the probe unit for visual inspection and an OLB pad in contact with the gross test. In addition, the conventional test signal input pad and the OLB pad are electrically connected to the plurality of shorting bars.

이때, 도 1은 일반적인 액정패널(1)의 구조를 나타낸 것으로서, TFT기판(12)과, 칼라필터기판(14)이 구비되며, 비주얼 검사를 위하여 프로브 유닛의 탐침핀에 접촉되는 패드(18)와, 그로스 테스트시 접촉되는 패드(18)가 구비되어 있다. 미설명부호 16은 액티브 영역을 나타낸 것이다. 1 illustrates a structure of a general liquid crystal panel 1, and includes a TFT substrate 12 and a color filter substrate 14, and a pad 18 contacting the probe pin of the probe unit for visual inspection. And a pad 18 in contact with the gross test. Reference numeral 16 denotes an active area.

그러나 종래의 평판 디스플레이 패널 검사장치는 도면에는 도시하지 않았지 만 비주얼 검사와 그로스 테스트를 각각 독립적인 장비에서 수행하여야 하므로 비주얼 검사와 그로스 테스트의 개별 수행시 검사시간과 소요인력이 증가하고 생산원가가 증가하며 독립적인 장비에서 각각 수행되므로 생산성이 저하되는 문제점이 있었다.However, although the conventional flat panel display panel inspection apparatus is not shown in the drawings, the visual inspection and the gross test must be performed by independent equipment, so that the inspection time and manpower are increased and the production cost increases when performing the visual inspection and the gross test separately. And there is a problem in that the productivity is reduced because each is performed in an independent equipment.

더욱이, 그로스 테스트를 실시하는 평판 디스플레이 패널 검사장치에서 데이터 라인을 제어 및 구동하기 위해 데이터 구동 신호를 생성하고 데이터 라인에 공급하는 구동 드라이버 IC(Integrated Circuit)에 그로스 테스트시 정전기 및 기타 요인이 발생하여 이와 같은 정전기 및 기타 요인 등에 의해 구동 드라이버 IC에 손상이 발생되므로 교체나 수리 등과 같은 유지보수로 검사시간이 지연되어 생산 효율이 저하되는 문제점이 있었다.Furthermore, in the flat panel display panel inspection device that performs the gross test, a static electricity and other factors are generated during the gross test in the driver driver integrated circuit (IC) that generates and supplies the data driving signals to control and drive the data line. Since damage occurs to the driver driver IC due to such static electricity and other factors, there is a problem in that production efficiency is lowered due to delay in inspection time due to maintenance such as replacement or repair.

또한, 비주얼 검사를 실시하는 평판 디스플레이 패널 검사장치에서 비주얼 검사를 수행할 때 액정패널의 게이트 라인 및 데이터 라인이 쇼팅바에 의하여 좌표값 인식이 불가능하며 이로 인해 불량 발생시 후공정에서 리페어(Repair)를 수행할 때 난해한 문제점이 있었다.In addition, when performing a visual inspection in a flat panel display panel inspection apparatus which performs a visual inspection, the gate line and the data line of the liquid crystal panel cannot recognize coordinate values by a shorting bar, and thus, when a defect occurs, repair is performed in a later process. There was a difficult problem.

본 발명은 상기 종래의 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 그 목적은, 비주얼 검사와 그로스 테스트를 하나의 장비에서 선택적으로 수행하여 검사시간 단축, 검사인원 축소, 생산원가 절감 및 생산성이 향상될 수 있게 한 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치를 제공함에 있다.The present invention has been made to solve the above problems, the object of which is to perform the visual inspection and gross test selectively in a single equipment to reduce the inspection time, inspection personnel reduction, production cost reduction and productivity can be improved The present invention provides a multi-inspection apparatus for a flat panel display panel.

또한, 본 발명의 다른 목적은, 그로스 테스트부의 구동 드라이버 IC에 대체하는 구동신호 생성 및 공급부를 구비하여 유지보수에 따른 생산 효율이 저하되는 것을 방지할 수 있게 한 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치를 제공함에 있다.In addition, another object of the present invention is to provide a multi-inspection apparatus for a flat panel display panel having a driving signal generation and supply unit replacing the driving driver IC of the gross test unit to prevent the production efficiency due to maintenance from being lowered. Is in.

또한, 본 발명의 또 다른 목적은, 비주얼 검사부에 데이터 라인과 게이트 라인의 좌표값 인식을 위한 X, Y 방향 인식부를 구비하여 리페어 부분을 좌표값으로 인식 가능하므로 정확한 위치 이동을 통하여 효율적인 리페어가 가능할 수 있게 한 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치를 제공함에 있다.In addition, another object of the present invention is to provide a visual inspection unit in the X, Y direction recognition unit for recognizing the coordinate value of the data line and the gate line can recognize the repair portion as the coordinate value, it is possible to efficiently repair through accurate position movement The present invention provides a multi-inspection apparatus for a flat panel display panel.

상술한 목적을 달성하기 위하여 본 발명은, 액정패널에 형성된 복수의 패드에 각각 접촉하여 검사하는 프로브 유닛; 상기 프로브 유닛의 일단에 연결되어 상기 액정패널에 비주얼 검사하는 비주얼 검사부; 상기 프로브 유닛의 타단에 연결되어 상기 액정패널에 그로스 테스트하는 그로스 테스트부; 상기 비주얼 검사부 또는 상기 그로스 테스트부 중 어느 하나를 선택적으로 작동시키는 작동 선택부; 및 상기 액정패널의 데이터 라인 및 게이트 라인의 좌표값을 인식하기 위해 구비되는 방향 인식부;를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, the present invention is a probe unit for contacting and inspecting each of a plurality of pads formed in the liquid crystal panel; A visual inspection unit connected to one end of the probe unit to visually inspect the liquid crystal panel; A gross test unit connected to the other end of the probe unit to perform a gross test on the liquid crystal panel; An operation selection unit for selectively operating any one of the visual inspection unit and the gross test unit; And a direction recognizing unit provided to recognize the coordinate values of the data line and the gate line of the liquid crystal panel.

또한, 본 발명에서의 상기 그로스 테스트부는 데이터 구동 신호를 생성하고 데이터 라인에 공급하는 구동신호 생성 및 공급부를 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, the gross test unit in the present invention is characterized in that it comprises a drive signal generation and supply unit for generating a data drive signal and supply to the data line.

또한, 본 발명에서의 상기 구동신호 생성 및 공급부는 기계식 또는 전자식 중 어느 하나의 방식으로 작동되는 것을 특징으로 한다.In addition, the drive signal generation and supply unit in the present invention is characterized in that it is operated in any one of a mechanical or electronic manner.

또한, 본 발명에서의 상기 방향 인식부는 데이터 라인 및 게이트 라인의 X 방향 및 Y 방향을 인식하는 것을 특징으로 한다.In addition, the direction recognition unit in the present invention is characterized in that it recognizes the X direction and the Y direction of the data line and the gate line.

또한, 본 발명에서의 상기 방향 인식부는 상기 비주얼 검사부에 연동되는 것을 특징으로 한다.In addition, the direction recognition unit in the present invention is characterized in that linked to the visual inspection unit.

또한, 본 발명에서의 상기 작동 선택부는 기계식 또는 전자식 중 어느 하나의 방식으로 작동되는 것을 특징으로 한다.In addition, the operation selector in the present invention is characterized in that it is operated in any way of mechanical or electronic.

이와 같은 본 발명의 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치는, 비주얼 검사와 그로스 테스트를 하나의 장비에서 선택적으로 수행하여 검사시간 단축, 검사인원 축소, 생산원가 절감 및 생산성이 향상되는 효과가 있다.Such a multi-inspection apparatus of the flat panel display panel of the present invention, by performing the visual inspection and the gross test selectively in a single device has the effect of reducing the inspection time, inspection personnel reduction, production cost reduction and productivity.

또한, 본 발명은, 그로스 테스트부의 구동 드라이버 IC에 대체하는 구동신호 생성 및 공급부를 구비하여 유지보수에 따른 생산 효율이 저하되는 것을 방지할 수 있는 효과가 있다.In addition, the present invention is provided with a drive signal generation and supply unit to replace the drive driver IC of the gross test unit has an effect that can prevent the production efficiency due to maintenance is reduced.

또한, 본 발명은, 비주얼 검사부에 데이터 라인과 게이트 라인의 좌표값 인식을 위한 X, Y 방향 인식부를 구비하여 리페어 부분을 좌표값으로 인식 가능하므로 정확한 위치 이동을 통하여 효율적인 리페어가 가능한 효과가 있다.In addition, the present invention includes an X, Y direction recognition unit for recognizing coordinate values of the data line and the gate line in the visual inspection unit, so that the repair portion can be recognized as the coordinate value, thereby enabling effective repair through accurate position movement.

이하, 본 발명의 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치를 첨부도면을 참조하여 일 실시 예를 들어 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, an exemplary embodiment of a multi-inspection apparatus for a flat panel display panel according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.

본 발명의 바람직한 일 실시 예에 따른 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장 치(100)는 도 2에 도시된 바와 같이 프로브 유닛(100), 비주얼 검사부(110), 그로스 테스트부(120), 작동 선택부(130), 방향 인식부 및 제어부를 포함하며, 비주얼 검사 또는 그로스 테스트를 실시할 때 액정패널(1)의 패드(18)인 검사 포인트는 동일한 것이 바람직하다.As shown in FIG. 2, the multi test device 100 of the flat panel display panel according to an exemplary embodiment of the present invention may include a probe unit 100, a visual test unit 110, a gross test unit 120, and an operation selection unit ( 130, a direction recognition unit and a control unit, and when the visual inspection or the gross test is performed, the inspection points, which are the pads 18 of the liquid crystal panel 1, are preferably the same.

상기 프로브 유닛(Probe unit: 100)은 스테이지(도면에 미도시)의 일측단에 다수 배치되어 액정패널(1)에 형성된 복수의 패드(18)에 각각 접촉한 후 검사하도록 적어도 하나의 일렬로 구비된다.The probe units 100 may be disposed at one end of a stage (not shown in the drawing) and provided in at least one line to contact and inspect the pads 18 formed on the liquid crystal panel 1, respectively. do.

상기 비주얼 검사부(110)는 프로브 유닛(100)의 일단에 연결되어 작동 선택부(130)를 통한 선택적인 접속에 따라 액정패널(1)에 비주얼 검사를 수행한다.The visual inspection unit 110 is connected to one end of the probe unit 100 to perform a visual inspection on the liquid crystal panel 1 according to a selective connection through the operation selection unit 130.

더욱이, 상기 비주얼 검사부(110)에는 도면에는 도시하지 않았지만 소정의 신호를 생성하는 신호발생기(Pattern Generator: 도면에 미도시), 신호발생기의 신호를 패턴 필름에 전달하기 위해 신호발생기와 패턴 필름 사이에 개재되는 PCB(Flexible Printed Circuit) 및 신호를 인가하는 패턴 필름(Pattern flim) 등을 포함한다.Further, although not shown in the drawing, the visual inspection unit 110 generates a predetermined signal (Pattern Generator: not shown), and between the signal generator and the pattern film to transfer the signal of the signal generator to the pattern film. Interposed PCB (Flexible Printed Circuit) and a pattern film for applying a signal (Pattern flim) and the like.

이때, 상기 패턴 필름은 PCB와 연결되어 작동 선택부(130)의 일측에서 접속 연결시 프로브 유닛(100)에 신호발생기의 신호를 프로브 유닛(100)의 블레이드 팁(blade tip)을 거쳐 패드(18)에 인가한다.In this case, the pattern film is connected to the PCB and connected to one side of the operation selection unit 130 to connect the signal of the signal generator to the probe unit 100 through the blade tip of the probe unit 100 through the blade tip of the probe unit 100. ) Is applied.

상기 그로스 테스트부(120)는 프로브 유닛(100)의 타단에 연결되어 작동 선택부(130)를 통한 선택적인 접속에 따라 액정패널(1)에 그로스 테스트를 수행하며, PCB 및 구동신호 생성 및 공급부(도면에 미도시) 등을 포함한다.The gross test unit 120 is connected to the other end of the probe unit 100 to perform a gross test on the liquid crystal panel 1 according to a selective connection through the operation selection unit 130, and generates and supplies a PCB and a driving signal. (Not shown in the drawings) and the like.

여기서, 상기 구동신호 생성 및 공급부는 종래의 비주얼 검사부에 구비되어 데이터 라인(DL)을 제어 및 구동하기 위해 데이터 구동 신호를 생성하고 데이터 라인(DL)에 공급하는 구동 드라이버 IC에 대체 가능하므로 정전기 및 기타 요인 등에 의하여 구동 드라이버 IC가 손상되는 것을 방지한다. 이때, 상기 구동신호 생성 및 공급부는 종래의 구동 드라이버 IC에 대신할 수 있도록 이와 동일한 기능을 하게 된다.Here, the driving signal generation and supply unit may be provided in a conventional visual inspection unit and may be replaced with a driving driver IC that generates a data driving signal and supplies the data driving signal to the data line DL to control and drive the data line DL. It is possible to prevent the driver IC from being damaged by other factors. In this case, the driving signal generation and supply unit may perform the same function to replace the conventional driving driver IC.

더욱이, 상기 구동신호 생성 및 공급부는 기계식 또는 전자식 중 어느 하나의 방식으로 작동되며, 이 이외에 다양한 구동방식을 채택할 수 있다.In addition, the driving signal generation and supply unit may be operated by either a mechanical or electronic method, and various driving methods may be adopted.

이때, 상기 구동신호 생성 및 공급부에는 작동 선택부(130)의 연결시 프로브 유닛(100)에 신호를 프로브 유닛(100)의 블레이드 팁을 거쳐 패드(18)에 인가하되 프로브 유닛(100)의 인터페이스 기능을 하며, PCB, 신호발생기 및 인터페이스 보드(Interface Board)가 내재될 수 있다.At this time, the drive signal generation and supply unit is applied to the pad 18 via the blade tip of the probe unit 100 to the probe unit 100 when the operation selection unit 130 is connected to the interface of the probe unit 100 It can function as a PCB, a signal generator, and an interface board.

상기 접속 선택부(130)는 비주얼 검사부(110)와 그로스 테스트부(120)의 이웃한 위치에 구비되어 비주얼 검사부(110) 또는 그로스 테스트부(120) 중 어느 하나를 제어부의 제어 신호로 작동시키기 위해 기계식 또는 전자식 중 어느 하나의 구동방식을 취할 수 있는 스위치 개념이며, 이 이외에 다양한 구동방식을 채택할 수 있다.The connection selector 130 is provided at a position adjacent to the visual inspection unit 110 and the gross test unit 120 to operate one of the visual inspection unit 110 or the gross test unit 120 as a control signal of the controller. For this purpose, a switch concept that can take either a mechanical or electronic driving method can be adopted. In addition, various driving methods can be adopted.

특히, 상기 접속 선택부(130)는 프로브 유닛(100)마다 개별적으로 각각 구비되는 것으로 예시하였으나 일률적으로 구비될 수도 있으며, 자동 등으로 제어하는 제어부(도면에 미도시)가 연결된다.In particular, the connection selector 130 is illustrated as being individually provided for each probe unit 100, but may be provided uniformly, and a control unit (not shown in the drawing) that is controlled automatically or the like is connected.

상기 방향 인식부는 비주얼 검사시 액정패널(1)의 데이터 라인(DL) 및 게이트 라인(GL)이 쇼팅바에 의하여 좌표값 인식이 불가능하여 액정패널(1)의 불량이 발생할 경우 후공정에서 액정패널(1)의 리페어(Repair)가 어려운 단점을 보완하기 위해 구비된다.The direction recognizing unit may not recognize the coordinate values of the data line DL and the gate line GL of the liquid crystal panel 1 by the shorting bar during visual inspection, and thus, when the defect of the liquid crystal panel 1 occurs, the liquid crystal panel ( Repair of 1) is provided to compensate for the difficult disadvantage.

결국, 상기 방향 인식부는 액정패널(1)을 비주얼 검사하는 과정에서 데이터 라인(DL) 및 게이트 라인(GL)의 X 방향 및 Y 방향을 센서 등에 의해 센싱하고 인식하므로 리페어 공정 시 불량 위치를 좌표값으로 인식할 수 있게 하므로 정확한 위치 이동이 가능하고 이에 효율적인 리페어 공정의 수행이 가능하다.As a result, the direction recognizing unit senses and recognizes the X and Y directions of the data line DL and the gate line GL by a sensor or the like in the process of visually inspecting the liquid crystal panel 1. Because it can be recognized as a precise position movement is possible and it is possible to perform an efficient repair process.

그러므로 본 발명에 의한 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치의 작동 과정은 다음과 같다.Therefore, the operation of the multi-inspection apparatus of the flat panel display panel according to the present invention is as follows.

우선, 스테이지 상에 액정패널(1)을 로딩시킨 후 프로브 유닛(100)을 액정패널(1)의 검사 위치를 향해 일률적으로 이동시킨다.First, after loading the liquid crystal panel 1 on the stage, the probe unit 100 is uniformly moved toward the inspection position of the liquid crystal panel 1.

다음으로, 프로그램 등에 의해 제어부에서 작동 선택부(130)의 작동 신호를 출력하고 이에 비주얼 검사부(110) 또는 그로스 테스트부(120) 중 어느 하나를 기계식 또는 전자식 등 중 어느 하나의 방식으로 구동시켜 비주얼 검사 또는 그로스 테스트를 선택적으로 수행하게 된다.Next, the control unit outputs an operation signal of the operation selection unit 130 by a program or the like, and drives one of the visual inspection unit 110 and the gross test unit 120 in any one of mechanical or electronic methods, thereby visualizing the visual signal. An inspection or gross test is optionally performed.

한편, 상기 액정패널(1)의 비주얼 검사시 비주얼 검사부(110)에 연동되는 방향 인식부가 제어부의 제어 신호에 의해 기계식 또는 전자식 등으로 작동되어 데이터 라인(DL) 및 게이트 라인(GL)의 X 방향 및 Y 방향을 인식하므로 리페어 공정 시 불량 위치를 X 방향 및 Y 방향의 교차점의 좌표값으로 인식할 수 있고 정확한 리페어 위치 이동이 가능하다.Meanwhile, during visual inspection of the liquid crystal panel 1, the direction recognizing unit interlocked with the visual inspection unit 110 is operated mechanically or electronically by a control signal of the control unit so that the X direction of the data line DL and the gate line GL are operated. And since the Y direction is recognized, the defective position can be recognized as a coordinate value of the intersection point of the X direction and the Y direction during the repair process, and accurate repair position movement is possible.

다음으로, 상기 프로브 유닛(100)이 패드(18)에 접촉한 후 검사를 완료하면 원위치로 복귀한다.Next, when the probe unit 100 contacts the pad 18 and completes the inspection, the probe unit 100 returns to the original position.

이상에서 설명한 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시 예를 참조하여 설명하였지만, 본 발명의 보호범위는 상기 실시 예에 한정되는 것이 아니며, 해당 기술분야의 통상의 지식을 갖는 자라면 본 발명의 사상 및 기술영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.In the detailed description of the present invention described above with reference to the preferred embodiment of the present invention, the scope of protection of the present invention is not limited to the above embodiment, and those skilled in the art of the present invention It will be understood that various modifications and changes can be made in the present invention without departing from the spirit and scope of the invention.

도 1은 일반적인 액정패널을 개략적으로 나타낸 것이다. 1 schematically shows a general liquid crystal panel.

도 2는 본 발명에 의한 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치를 개략적으로 도시한 평면도이다.2 is a plan view schematically showing a multi-inspection apparatus for a flat panel display panel according to the present invention.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Main Parts of Drawings>

100: 프로브 유닛 110: 비주얼 검사부100: probe unit 110: visual inspection unit

120: 그로스 테스트부 130: 작동 선택부120: gross test section 130: operation selection section

Claims (6)

액정패널에 형성된 복수의 패드에 각각 접촉하여 검사하는 프로브 유닛;A probe unit which contacts and inspects a plurality of pads formed on the liquid crystal panel, respectively; 상기 프로브 유닛의 일단에 연결되어 상기 액정패널에 비주얼 검사하는 비주얼 검사부;A visual inspection unit connected to one end of the probe unit to visually inspect the liquid crystal panel; 상기 프로브 유닛의 타단에 연결되어 상기 액정패널에 그로스 테스트하는 그로스 테스트부;A gross test unit connected to the other end of the probe unit to perform a gross test on the liquid crystal panel; 상기 비주얼 검사부 또는 상기 그로스 테스트부 중 어느 하나를 선택적으로 작동시키는 작동 선택부; 및An operation selection unit for selectively operating any one of the visual inspection unit and the gross test unit; And 상기 액정패널의 데이터 라인 및 게이트 라인의 좌표값을 인식하기 위해 구비되는 방향 인식부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치.And a direction recognizing unit provided to recognize the coordinate values of the data line and the gate line of the liquid crystal panel. 제 1항에 있어서, The method of claim 1, 상기 그로스 테스트부는 데이터 구동 신호를 생성하고 데이터 라인에 공급하는 구동신호 생성 및 공급부를 포함하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치.The growth test unit includes a driving signal generation and supply unit for generating a data driving signal and supplying the data line to the data line. 제 2항에 있어서,3. The method of claim 2, 상기 구동신호 생성 및 공급부는 기계식 또는 전자식 중 어느 하나의 방식으로 작동되는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치.The driving signal generating and supplying unit is a multi-inspection apparatus of a flat panel display panel, characterized in that operated in one of a mechanical or electronic manner. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 방향 인식부는 데이터 라인 및 게이트 라인의 X 방향 및 Y 방향을 인식하는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치.And the direction recognizing unit recognizes the X direction and the Y direction of the data line and the gate line. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 방향 인식부는 상기 비주얼 검사부에 연동되는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치.And the direction recognizing unit is linked to the visual inspection unit. 제 1항에 있어서,The method of claim 1, 상기 작동 선택부는 기계식 또는 전자식 중 어느 하나의 방식으로 작동되는 것을 특징으로 하는 평판 디스플레이 패널의 멀티 검사장치.The operation selection unit is a multi-inspection apparatus for a flat panel display panel, characterized in that the operation by any one of the mechanical or electronic method.
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