KR102023926B1 - Method and apparatus for testing flat panel display - Google Patents

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KR102023926B1 KR1020120112116A KR20120112116A KR102023926B1 KR 102023926 B1 KR102023926 B1 KR 102023926B1 KR 1020120112116 A KR1020120112116 A KR 1020120112116A KR 20120112116 A KR20120112116 A KR 20120112116A KR 102023926 B1 KR102023926 B1 KR 102023926B1
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Abstract

본 발명은 평판 표시 장치의 검사 방법 및 검사 장치에 관한 것으로, 회로 필름을 통해 인쇄 회로 기판이 연결된 표시 패널을 마련하는 단계와; 상기 인쇄 회로 기판에 형성된 커넥터 단자에 직접 검사신호를 인가하여 상기 표시 패널의 점등 검사를 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.The present invention relates to an inspection method and an inspection apparatus for a flat panel display device, comprising: providing a display panel to which a printed circuit board is connected through a circuit film; And applying a test signal directly to the connector terminal formed on the printed circuit board to perform lighting test of the display panel.

Description

평판 표시 장치의 검사 방법 및 검사 장치{METHOD AND APPARATUS FOR TESTING FLAT PANEL DISPLAY}Inspection method and inspection device for flat panel display device {METHOD AND APPARATUS FOR TESTING FLAT PANEL DISPLAY}
본 발명은 평판 표시 장치의 검사 방법 및 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an inspection method and an inspection apparatus of a flat panel display.
평판 표시 장치에는 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display: LCD), 전계 방출 표시 장치(Field Emission Display: FED), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel: PDP) 및 유기 발광 다이오드 표시 장치(Organic Light Emitting Diode Display: OLED) 등이 있고 이들 대부분이 실용화되어 시판되고 있다.Flat panel displays include Liquid Crystal Display (LCD), Field Emission Display (FED), Plasma Display Panel (PDP), and Organic Light Emitting Diode Display (Organic Light Emitting Diode Display): OLED), and most of them are commercially available and commercially available.
액정 표시 장치는 전자제품의 경박단소 추세를 만족할 수 있고 양산성이 향상되고 있어 많은 응용분야에서 음극선관을 빠른 속도로 대체하고 있다. 특히, 박막트랜지스터(Thin Film Transistor: 이하, "TFT"라 한다)를 이용하여 액정셀을 구동하는 액티브 매트릭스 타입의 액정 표시 장치는 화질이 우수하고 소비전력이 낮은 장점이 있으며, 최근의 양산기술 확보와 연구개발의 성과로 대형화와 고해상도화로 급속히 발전하고 있다.Liquid crystal display devices can meet the trend of light and short and short of electronic products and mass production is improving, and are rapidly replacing cathode ray tubes in many applications. In particular, an active matrix type liquid crystal display device that drives a liquid crystal cell using a thin film transistor (hereinafter referred to as "TFT") has the advantages of high image quality and low power consumption, and secures the latest mass production technology. As a result of research and development, it is rapidly developing into larger size and higher resolution.
액티브 매트릭스 타입의 액정 표시 장치를 제조하기 위한 제조공정은 기판 세정, 기판 패터닝 공정, 배향막형성/러빙 공정, 기판합착/액정주입 공정, 실장 공정, 검사 공정, 리페어(Repair) 공정, 조립 공정 등으로 나뉘어진다. 이 중 검사 공정은 오토 프로브(Auto Probe) 검사, 탭(TAB) 검사, 보드 어셈블리(Board Assembly) 검사, 액정모듈 최종검사 및 신뢰성 시험등의 세부적 검사 단계들을 포함한다.Manufacturing processes for manufacturing an active matrix type liquid crystal display device include substrate cleaning, substrate patterning process, alignment film formation / rubbing process, substrate bonding / liquid crystal injection process, mounting process, inspection process, repair process, assembly process, and the like. Divided. Among these, the inspection process includes detailed inspection steps such as auto probe inspection, tab inspection, board assembly inspection, liquid crystal module final inspection and reliability test.
도 1은 종래의 보드 어셈블리 검사 방법을 개략적으로 나타낸 단면도이다.1 is a cross-sectional view schematically showing a conventional board assembly inspection method.
보드 어셈블리 검사는 TCP(Tape Carrier Package)(4)를 통해 액정 패널(2)과 인쇄 회로 기판(6)을 서로 연결한 뒤에 진행된다. 종래의 보드 어셈블리 검사는 도 1에 도시된 바와 같이, 인쇄 회로 기판(6)의 일측에 형성된 커넥터 단자(8)에 검사용 FFC(Flexible Flat Cable)(10)를 연결하고, 검사용 FFC(10)에 형성된 패드(12)와 검사기(16)의 패드(14)를 접촉시키고, 검사기(16)로부터의 검사신호를 액정 패널(2)에 인가함으로써 액정 패널(2)의 점등을 검사한다.The board assembly inspection is performed after the liquid crystal panel 2 and the printed circuit board 6 are connected to each other through a tape carrier package (TCP) 4. In the conventional board assembly inspection, as shown in FIG. 1, the flexible flat cable (FFC) 10 for inspection is connected to the connector terminal 8 formed on one side of the printed circuit board 6, and the inspection FFC 10 is performed. The pad 12 formed in the ()) and the pad 14 of the tester 16 are brought into contact with each other, and the test signal from the tester 16 is applied to the liquid crystal panel 2 to check the lighting of the liquid crystal panel 2.
그런데, 종래의 보드 어셈블리 검사는 다음과 같은 문제점이 있다.However, the conventional board assembly inspection has the following problems.
첫째, 보드 어셈블리 검사가 끝난 후 검사용 인쇄 회로 기판(6)으로부터 검사용 FFC(10)를 분리하는 작업이 수작업으로 이루어져 시간적 손실이 발생된다.First, after the board assembly inspection is finished, the work of separating the inspection FFC 10 from the inspection printed circuit board 6 is performed manually, and time loss occurs.
둘째, 검사용 FFC(10)의 가요성으로 인해 검사용 FFC(10)의 패드(12)와 검사기(16)의 패드(14) 간의 접촉오류가 잦아 생산성이 저하된다.Second, due to the flexibility of the inspection FFC (10), the contact error between the pad 12 of the inspection FFC (10) and the pad 14 of the inspector 16 is frequently reduced productivity.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위한 것으로, 보드 어셈블리 검사의 작업성을 향상시킬 수 있는 평판 표시 장치의 검사 방법 및 검사 장치를 제공하는데 그 목적이 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made to solve the above problems, and an object thereof is to provide an inspection method and an inspection apparatus of a flat panel display device which can improve the workability of an inspection of a board assembly.
상기와 같은 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시 장치의 검사 방법은 회로 필름을 통해 인쇄 회로 기판이 연결된 표시 패널을 마련하는 단계와; 상기 인쇄 회로 기판에 형성된 커넥터 단자에 직접 검사신호를 인가하여 상기 표시 패널의 점등 검사를 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 표시 패널의 점등 검사를 수행하는 단계는 상기 커넥터 단자에 형성된 다수의 접촉 핀과 일대일 대응되도록 형성된 다수의 검사바늘을 구비한 검사 유닛을 마련하는 단계와; 상기 다수의 검사바늘과 상기 커넥터 단자를 서로 접촉시키는 단계와; 상기 다수의 검사바늘을 통해 상기 커넥터 단자에 상기 검사신호를 직접 인가하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
In order to achieve the above object, an inspection method of a flat panel display device according to an embodiment of the present invention comprises the steps of providing a display panel connected to a printed circuit board through a circuit film; And applying a test signal directly to the connector terminal formed on the printed circuit board to perform lighting test of the display panel.
The performing of the lighting test of the display panel may include providing an inspection unit having a plurality of inspection needles formed to correspond one-to-one with a plurality of contact pins formed on the connector terminal; Contacting the plurality of test needles and the connector terminal with each other; And directly applying the inspection signal to the connector terminal through the plurality of inspection needles.
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상기 검사 유닛은 베이스와; 상기 베이스 상에 형성되어 상기 다수의 검사바늘을 구비하는 적어도 1개의 머니퓰레이터와; 상기 베이스 상에 형성되어 상기 머니퓰레이터를 지지하는 지지대를 구비하는 것을 특징으로 한다.The inspection unit includes a base; At least one manipulator formed on said base and having said plurality of inspection needles; And a support formed on the base to support the manipulator.
상기 머니퓰레이터는 본체와; 상기 본체를 상기 지지대로부터 전후로 이동시키기 위한 하부 플레이트와; 상기 본체의 전면 하부에 형성된 상기 다수의 검사바늘과; 상기 다수의 검사바늘을 상기 본체로부터 상하로 이동시키기 위한 프로브 블록과; 상기 다수의 검사바늘을 덮는 프로브 커버와; 상기 다수의 검사바늘을 고정시키는 고정 샤프트를 구비하는 것을 특징으로 한다.The manipulator includes a main body; A lower plate for moving the main body back and forth from the support; The plurality of inspection needles formed on a lower surface of the main body; A probe block for moving the plurality of test needles up and down from the main body; A probe cover covering the plurality of test needles; It characterized in that it comprises a fixed shaft for fixing the plurality of inspection needles.
상기 다수의 검사바늘 각각은 상하방향으로 탄성을 갖는 것을 특징으로 한다.Each of the plurality of inspection needles is characterized in that it has elasticity in the vertical direction.
상기 다수의 검사바늘 각각은 서로 대향하여 사이에 공간을 형성하되, 일측에서 서로 연결되는 상단 수평부 및 하단 수평부와; 상기 하단 수평부의 끝단으로부터 하측으로 절곡되고, 상기 하측으로 갈수록 폭이 좁아지도록 형성된 바늘을 구비하는 것을 특징으로 한다.Each of the plurality of inspection needles to form a space therebetween facing each other, the upper horizontal portion and the lower horizontal portion connected to each other on one side; It is characterized in that it is provided with a needle which is bent downward from the end of the lower horizontal portion, the width is narrowed toward the lower side.
또한, 상기와 같은 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시 장치의 검사 장치는 회로 필름을 통해 인쇄 회로 기판이 연결된 표시 패널에 검사 신호를 인가하여 상기 표시 패널의 점등 검사를 수행하기 위한 평판 표시 장치의 검사 장치에 있어서, 베이스; 상기 베이스 상에 형성되는 지지대; 상기 지지대에 의해 지지되고, 상기 지지대로부터 전후 방향으로 슬라이딩과 상하 방향으로 슬라이딩 이동하는 머니퓰레이터; 및 상기 머니퓰레이터의 전면 하부에서, 상기 인쇄 회로 기판에 형성된 커넥터 단자의 다수의 접촉 핀과 접촉되도록 전후 방향, 상하 방향으로 이동할 수 있고, 상하 방향으로 탄성을 갖도록 형성되는 다수의 검사바늘; 을 포함하며, 상기 다수의 검사바늘 각각은 상기 머니퓰레이터에 수평한 방향으로 형성되는 상단 수평부; 상기 상단 수평부와 사이에 공간을 형성하며, 일측이 상단 수평부와 연결되는 하단 수평부; 및 상기 하단 수평부의 끝단으로부터 절곡되고, 상기 하단 수평부의 끝단으로부터 하측으로 갈수록 폭이 좁아지도록 형성된 바늘;을 포함하는 것을 특징으로 한다.In addition, in order to achieve the above object, the inspection apparatus of the flat panel display device according to an embodiment of the present invention performs a lighting test of the display panel by applying a test signal to the display panel connected to the printed circuit board through a circuit film. An inspection apparatus for a flat panel display device, comprising: a base; A support formed on the base; A manipulator that is supported by the support and slides in the front-rear direction and the vertical direction from the support; And a plurality of inspection needles formed at the lower portion of the front surface of the manipulator so as to be movable in the front and rear directions and in the vertical direction so as to be in contact with the plurality of contact pins of the connector terminal formed on the printed circuit board and having elasticity in the vertical direction. And a plurality of inspection needles each including an upper horizontal portion formed in a direction horizontal to the manipulator; A lower horizontal part forming a space between the upper horizontal part and one side connected to the upper horizontal part; And a needle that is bent from an end of the lower horizontal portion and narrowed toward the lower side from an end of the lower horizontal portion.
상기 머니퓰레이터는 상기 지지대의 상부에 위치하는 본체; 상기 본체를 상기 지지대로부터 전후로 이동시키기 위한 하부 플레이트; 상기 다수의 검사바늘을 상기 본체로부터 상하로 이동시키기 위한 프로브 블록;을 포함하는 것을 특징으로 한다.The manipulator may include a main body positioned above the support; A lower plate for moving the main body back and forth from the support; And a probe block for moving the plurality of test needles up and down from the main body.
상기 머니퓰레이터는 본체와; 상기 본체를 상기 지지대로부터 전후로 이동시키기 위한 하부 플레이트와; 상기 본체의 전면 하부에 형성된 상기 다수의 검사바늘과; 상기 다수의 검사바늘을 상기 본체로부터 상하로 이동시키기 위한 프로브 블록과; 상기 다수의 검사바늘을 덮는 프로브 커버와; 상기 다수의 검사바늘을 고정시키는 고정 샤프트를 구비하는 것을 특징으로 한다.The manipulator includes a main body; A lower plate for moving the main body back and forth from the support; The plurality of inspection needles formed on a lower surface of the main body; A probe block for moving the plurality of test needles up and down from the main body; A probe cover covering the plurality of test needles; It characterized in that it comprises a fixed shaft for fixing the plurality of inspection needles.
상기 머니퓰레이터는 상기 다수의 검사바늘의 일부를 덮는 프로브 커버; 및 상기 다수의 검사바늘을 고정시키는 고정 샤프트;를 더 포함할 수 있다.The manipulator may include a probe cover covering a portion of the plurality of test needles; And a fixed shaft for fixing the plurality of inspection needles.
상기와 같은 목적을 달성하기 위해, 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시 장치의 검사 방법은, 회로 필름을 통해 인쇄 회로 기판이 연결된 표시 패널을 마련하는 단계; 상기 인쇄 회로 기판에 형성된 커넥터 단자의 다수의 접촉 핀과 일대일 대응되는 다수의 검사바늘이 구비된 상기 평판 표시 장치의 검사 장치를 마련하는 단계; 상기 다수의 검사바늘과 상기 커넥터 단자를 서로 접촉시키는 단계; 및 상기 다수의 검사바늘을 통해 상기 커넥터 단자에 검사 신호를 직접 인가하여 상기 표시 패널의 점등 검사를 수행하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.In order to achieve the above object, an inspection method of a flat panel display device according to an embodiment of the present invention, comprising: providing a display panel connected to a printed circuit board through a circuit film; Providing an inspection apparatus of the flat panel display device having a plurality of inspection needles one-to-one corresponding to a plurality of contact pins of a connector terminal formed on the printed circuit board; Contacting the plurality of test needles and the connector terminal with each other; And performing a lighting test of the display panel by directly applying a test signal to the connector terminal through the plurality of test needles.
본 발명은 보드 어셈블리 검사 단계시 인쇄 회로 기판의 커넥터 단자에 검사 신호를 직접 인가하여 표시 패널의 점등 검사를 수행한다. 따라서, 검사용 FFC를 삭제할 수 있고, 검사용 FFC를 분리하는 작업이 삭제되어 결과적으로 작업성과 생산성이 향상된다. 그리고 보드 어셈블리 검사시 검사 유닛에 구비된 다수의 검사바늘은 커넥터 단자에 형성된 다수의 접촉 핀과 정확하게 접촉되도록 하기 위해 전후 방향, 상하 방향으로 이동할 수 있어 정확한 접촉이 가능하다.The present invention performs a lighting test of the display panel by directly applying a test signal to the connector terminal of the printed circuit board during the board assembly test step. Therefore, the inspection FFC can be deleted, and the work for separating the inspection FFC is deleted, resulting in improved workability and productivity. In addition, the plurality of inspection needles provided in the inspection unit during the board assembly inspection may be moved back and forth and up and down in order to accurately contact the plurality of contact pins formed in the connector terminal, thereby enabling accurate contact.
그리고 본 발명은 다수의 검사바늘이 상하방향으로 탄성을 갖도록 형성함으로써, 다수의 검사바늘과의 접촉시 커넥터 단자의 핀 손상을 방지할 수 있다.In addition, the present invention can be formed so that the plurality of inspection needles have elasticity in the vertical direction, it is possible to prevent pin damage of the connector terminal when contacting the plurality of inspection needles.
도 1은 종래의 보드 어셈블리 검사 방법을 개략적으로 나타낸 단면도이다.
도 2는 본 발명과 관련한 액정 표시 장치의 제조 방법을 단계적으로 나타낸 순서도이다.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시 장치의 검사 방법을 나타낸 단면도이다.
도 4는 도 2에 도시된 검사 유닛의 사시도이다. 그리고 도 5는 도 4에 도시된 머니퓰레이터의 단면도이다.
도 6a 내지 도 6d는 도 4에 도시된 머니퓰레이터의 움직임을 나타낸 사시도 또는 단면도이다.
도 7은 도 6b에 도시된 A 영역을 확대한 단면도이다.
도 8은 도 7에 도시된 검사바늘을 구체적으로 나타낸 단면도이다.
1 is a cross-sectional view schematically showing a conventional board assembly inspection method.
2 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a liquid crystal display device according to the present invention step by step.
3 is a cross-sectional view illustrating a method of inspecting a flat panel display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
4 is a perspective view of the inspection unit shown in FIG. 2. 5 is a cross-sectional view of the manipulator shown in FIG.
6A to 6D are perspective or cross-sectional views illustrating the movement of the manipulator shown in FIG. 4.
FIG. 7 is an enlarged cross-sectional view of region A illustrated in FIG. 6B.
8 is a cross-sectional view showing in detail the inspection needle shown in FIG.
이하, 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시 장치의 검사 방법 및 검사 장치를 첨부된 도면을 참조하여 보다 상세히 설명하면 다음과 같다.Hereinafter, an inspection method and an inspection device of a flat panel display device according to an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
본 발명과 관련한 평판 표시 장치는 액정 표시 장치(Liquid Crystal Display: LCD), 전계 방출 표시 장치(Field Emission Display: FED), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel: PDP) 및 유기 발광 다이오드 표시 장치(Organic Light Emitting Diode Display: OLED) 중 어느 하나일 수 있다. 이하에서는 액정 표시 장치를 예를 들어 설명한다. 따라서, 이하에서 설명되는 표시 패널은 액정 패널이다.The flat panel display device related to the present invention includes a liquid crystal display (LCD), a field emission display (FED), a plasma display panel (PDP), and an organic light emitting diode display (Organic Light). Emitting Diode Display (OLED). Hereinafter, the liquid crystal display device will be described with an example. Therefore, the display panel described below is a liquid crystal panel.
도 2는 본 발명과 관련한 액정 표시 장치의 제조 방법을 단계적으로 나타낸 순서도이다. 그리고 도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시 장치의 검사 방법을 나타낸 단면도이다.2 is a flowchart illustrating a method of manufacturing a liquid crystal display device according to the present invention step by step. 3 is a cross-sectional view illustrating a method of inspecting a flat panel display device according to an exemplary embodiment of the present invention.
도 2를 참조하면, 액정 표시 장치는 상, 하부 기판에 다수의 소자를 형성하는 단계(S10)와, 상, 하부 기판을 합착하고 액정을 주입하여 액정 패널(44)을 형성하는 단계(S20)와, 액정 패널(44)의 화면 불량을 검사하는 오토 프로브 검사 단계(S30)와, 회로 필름(46)을 통해 액정 패널(44)에 인쇄 회로 기판(48)을 연결시키는 모듈 공정 단계(S40)와, 인쇄 회로 기판(48)에 검사신호를 인가하여 액정 패널(44)을 점등하는 보드 어셈블리 검사 단계(S50)와, 조립 및 최종검사 단계(S60)를 포함한다.Referring to FIG. 2, in operation S10, a plurality of elements are formed on upper and lower substrates, and the liquid crystal panel 44 is formed by bonding the upper and lower substrates and injecting liquid crystals (S20). And an auto probe inspection step (S30) for inspecting screen defects of the liquid crystal panel 44, and a module process step (S40) for connecting the printed circuit board 48 to the liquid crystal panel 44 through the circuit film 46. And a board assembly inspection step S50 for applying the inspection signal to the printed circuit board 48 to turn on the liquid crystal panel 44, and an assembly and final inspection step S60.
실시 예에 따른 평판 표시 장치의 검사 방법은 상기 보드 어셈블리 검사 단계(S40)에 관한 것이다. 이하, 도 3 내지 도 8을 참조하여 본 발명의 실시 예에 따른 평판 표시 장치의 검사 방법 및 검사 장치를 구체적으로 설명한다.The inspection method of the flat panel display device according to the embodiment relates to the board assembly inspection step (S40). Hereinafter, an inspection method and an inspection apparatus of a flat panel display device according to an exemplary embodiment of the present invention will be described in detail with reference to FIGS. 3 to 8.
도 3를 참조하면, 실시 예에 따른 액정 표시 장치의 검사 방법은 회로 필름(46)을 통해 인쇄 회로 기판(48)이 연결된 액정 패널(44)을 마련하는 단계와, 인쇄 회로 기판(48)에 형성된 커넥터 단자(50)에 직접 검사신호를 인가하여 액정 패널(44)의 점등 검사를 수행하는 단계를 포함한다.Referring to FIG. 3, a method of inspecting a liquid crystal display according to an exemplary embodiment may include providing a liquid crystal panel 44 to which a printed circuit board 48 is connected through a circuit film 46, and providing the printed circuit board 48 to the printed circuit board 48. And applying a test signal directly to the formed connector terminal 50 to perform a lighting test of the liquid crystal panel 44.
액정 패널(44)은 상부 기판 및 하부 기판과, 상부 기판의 상부 및 하부 기판의 하부에 배치되는 상, 하부 편광판과, 상부 기판 및 하부 기판 사이에 충진된 액정층을 구비한다. 상부 기판은 컬러필터, 공통전극, 블랙 매트릭스 등을 구비한다. 공통전극은 액정 패널의 액정 구동 방식에 따라 하부 기판에 구비될 수 있다. 하부 기판은 다수의 게이트 라인과 다수의 데이터 라인 등의 신호배선이 형성되고, 게이트 라인과 데이터 라인의 교차부에는 박막 트랜지스터가 형성된다. 박막 트랜지스터는 게이트 라인으로부터 제공된 스캔 신호에 응답하여 데이터 라인으로부터 제공된 데이터 신호를 각 화소에 공급한다.The liquid crystal panel 44 includes an upper substrate and a lower substrate, upper and lower polarizers disposed under the upper and lower substrates of the upper substrate, and a liquid crystal layer filled between the upper and lower substrates. The upper substrate includes a color filter, a common electrode, a black matrix, and the like. The common electrode may be provided on the lower substrate according to the liquid crystal driving method of the liquid crystal panel. In the lower substrate, signal lines such as a plurality of gate lines and a plurality of data lines are formed, and a thin film transistor is formed at an intersection of the gate line and the data line. The thin film transistor supplies each pixel with a data signal provided from the data line in response to a scan signal provided from the gate line.
액정 패널(44)은 전술한 모듈 공정 단계(S40)에서 패널 구동 회로와 연결된다. 패널 구동 회로는 액정 패널(44)의 데이터 라인들을 구동하는 데이터 드라이버와, 액정 패널(44)의 게이트 드라이버를 구동하는 게이트 드라이버와, 데이터 드라이버 및 게이트 드라이버를 제어하는 타이밍 컨트롤러를 구비한다. 게이트 드라이버 및 데이터 드라이버는 회로 필름(46)에 실장될 수 있다. 또한, 게이트 드라이버는 GIP(Gate In Panel) 방식으로 액정 패널(44)의 비표시 영역에 형성될 수 있다. 타이밍 컨트롤러는 집적화되어 인쇄 회로 기판(48) 상에 형성될 수 있다. 회로 필름(46)은 TCP(Tape Carrier Package) 또는 COF(Chip On Film) 중 선택된 어느 하나일 수 있다.The liquid crystal panel 44 is connected to the panel driving circuit in the above-described module process step S40. The panel driving circuit includes a data driver for driving data lines of the liquid crystal panel 44, a gate driver for driving the gate driver of the liquid crystal panel 44, and a timing controller for controlling the data driver and the gate driver. The gate driver and the data driver may be mounted on the circuit film 46. In addition, the gate driver may be formed in the non-display area of the liquid crystal panel 44 by a gate in panel (GIP) method. The timing controller may be integrated and formed on the printed circuit board 48. The circuit film 46 may be any one selected from a tape carrier package (TCP) or a chip on film (COF).
인쇄 회로 기판(48)은 액정 패널(44)을 구동하기 위한 구동 회로, 예를 들어 타이밍 컨트롤러와 전원부와 메모리가 실장된다. 인쇄 회로 기판(48)의 일측에는 외부로부터 영상 신호 및 각종 구동 신호를 공급받는 커넥터 단자(50)가 형성된다. 단, 보드 어셈블리 검사 단계(S50)시 커넥터 단자(50)에는 영상 신호 및 각종 구동 신호대신 검사 유닛으로부터 제공된 검사신호가 인가된다.The printed circuit board 48 includes a driving circuit for driving the liquid crystal panel 44, for example, a timing controller, a power supply unit, and a memory. One side of the printed circuit board 48 is formed with a connector terminal 50 for receiving an image signal and various driving signals from the outside. However, in the board assembly inspection step S50, the inspection terminal provided from the inspection unit instead of the image signal and various driving signals is applied to the connector terminal 50.
구체적으로, 실시 예에 따른 보드 어셈블리 검사 단계(S50)는 커넥터 단자(50)에 형성된 다수의 접촉 핀과 일대일 대응되도록 형성된 다수의 검사바늘(32)을 구비한 검사 유닛을 마련하는 단계와, 다수의 검사바늘(32)을 통해 커넥터 단자(50)에 검사신호를 직접 인가하는 단계를 포함한다.Specifically, the board assembly inspection step (S50) according to the embodiment comprises the steps of providing a test unit having a plurality of test needles 32 formed to correspond one-to-one with a plurality of contact pins formed in the connector terminal 50, And directly applying a test signal to the connector terminal 50 through the test needle 32.
이와 같이, 실시 예에 따른 평판 표시 장치의 검사 방법은 보드 어셈블리 검사 단계(S50)시 인쇄 회로 기판(48)의 커넥터 단자(50)에 검사 신호를 직접 인가하여 액정 패널(44)의 점등 검사를 수행한다. 따라서, 본 발명은 보드 어셈블리 검사 단계(S50)에서 검사용 FFC를 삭제할 수 있고, 검사용 FFC를 분리하는 작업이 삭제되어 결과적으로 작업성과 생산성이 향상된다.As described above, in the method of inspecting a flat panel display according to the exemplary embodiment, a test signal is directly applied to the connector terminal 50 of the printed circuit board 48 at the board assembly test step S50 to check the lighting of the liquid crystal panel 44. Perform. Therefore, the present invention can delete the inspection FFC in the board assembly inspection step (S50), the task of removing the inspection FFC is deleted, resulting in improved workability and productivity.
이하, 실시 예에 따른 평판 표시 장치의 검사 장치, 즉 검사 유닛을 구체적으로 설명한다.Hereinafter, an inspection apparatus, that is, an inspection unit of the flat panel display device according to the embodiment will be described in detail.
도 4는 도 2에 도시된 검사 유닛의 사시도이다. 그리고 도 5는 도 4에 도시된 머니퓰레이터의 단면도이다. 도 6a 내지 도 6d는 도 4에 도시된 머니퓰레이터의 움직임을 나타낸 사시도 또는 단면도이다. 그리고 도 7은 도 6b에 도시된 A 영역을 확대한 단면도이다.4 is a perspective view of the inspection unit shown in FIG. 2. 5 is a cross-sectional view of the manipulator shown in FIG. 6A to 6D are perspective or cross-sectional views illustrating the movement of the manipulator shown in FIG. 4. 7 is an enlarged cross-sectional view of region A illustrated in FIG. 6B.
도 4 내지 도 7을 참조하면, 실시 예에 따른 검사 유닛은 베이스(20)와, 베이스(20) 상에 형성되어 다수의 검사바늘(32)을 구비하는 적어도 1개의 머니퓰레이터(Manipulator)와, 베이스(20) 상에 형성되어 머니퓰레이터를 지지하는 지지대(22)를 구비한다. 즉, 머니퓰레이터는 지지대(22)에 의해 지지된다.4 to 7, an inspection unit according to an embodiment includes a base 20, at least one manipulator formed on the base 20 and having a plurality of inspection needles 32, and a base. And a support 22 formed on the support 20 to support the manipulator. That is, the manipulator is supported by the support 22.
머니퓰레이터는 본체(26)와, 본체(26)를 지지대(22)로부터 전후로 이동시키기 위한 하부 플레이트(24)와, 본체(26)의 전면 하부에 형성된 다수의 검사바늘(32)과, 다수의 검사바늘(32)을 본체(26)로부터 상하로 이동시키기 위한 프로브 블록(28)과, 다수의 검사바늘(32)을 덮는 프로브 커버(30)와, 다수의 검사바늘(32)을 고정시키는 고정 샤프트(34)를 구비한다.
도 4 내지 도 7을 참조하면, 베이스(20) 상에 지지대(22), 하부 플레이트(24), 본체(26)가 위치함을 알 수 있다. 또한, 본체(26)의 전면 하부에는 프로브 블록(28), 브로브 커버(30)가 위치한다. 다수의 검사바늘(32)은 프로브 블록(28)과 프로브 커버(30)의 사이에서 고정 샤프트(34)에 의해 고정된다. 프로브 커버(30)는 검사바늘(32)의 끝단이 프로브 커버(30)의 하부로 노출되도록 검사바늘(32)의 일부를 덮는다.
The manipulator includes a main body 26, a lower plate 24 for moving the main body 26 back and forth from the support 22, a plurality of inspection needles 32 formed at the lower front surface of the main body 26, and a plurality of inspections. Probe block 28 for moving the needle 32 up and down from the main body 26, probe cover 30 covering a plurality of test needles 32, and a fixed shaft for fixing a plurality of test needles 32 34 is provided.
4 to 7, it can be seen that the support 22, the lower plate 24, and the main body 26 are positioned on the base 20. In addition, a probe block 28 and a globe cover 30 are positioned below the front surface of the main body 26. The plurality of test needles 32 are fixed by the fixed shaft 34 between the probe block 28 and the probe cover 30. The probe cover 30 covers a part of the test needle 32 so that the end of the test needle 32 is exposed to the bottom of the probe cover 30.
검사 유닛은 인쇄 회로 기판(48)의 개수, 즉 커넥터 단자(50)의 개수에 대응하여 다수의 머니퓰레이터를 구비할 수 있다. 머니퓰레이터는 다수의 검사바늘(32)이 커넥터 단자(50)에 형성된 다수의 접촉 핀과 접촉되도록 하기 위해 전후 방향, 상하 방향으로 이동할 수 있다. 즉, 머니퓰레이터는 도 6a 및 도 6b에 도시된 바와 같이, 본체(26)를 지지하는 하부 플레이트(24)가 지지대(22) 상에서 전후 방향으로 슬라이딩됨으로써 다수의 검사바늘(32)을 전후 방향으로 이동시킨다. 그리고 머니퓰레이터는 도 6c 및 도 6d에 도시된 바와 같이, 프로브 블록(28)이 본체(26)로부터 상하 방향으로 슬라이딩됨으로써 다수의 검사바늘(32)을 상하 방향으로 이동시킨다.The inspection unit may include a plurality of manipulators corresponding to the number of printed circuit boards 48, that is, the number of connector terminals 50. The manipulator may move in the front-rear direction and the vertical direction in order to allow the plurality of test needles 32 to contact the plurality of contact pins formed in the connector terminal 50. That is, as shown in FIGS. 6A and 6B, the manipulator moves the plurality of inspection needles 32 in the front-rear direction by sliding the front and rear directions of the lower plate 24 supporting the main body 26 on the support 22. Let's do it. As shown in FIGS. 6C and 6D, the manipulator moves the plurality of inspection needles 32 in the vertical direction by sliding the probe block 28 upward and downward from the main body 26.
이와 같이, 실시 예는 인쇄 회로 기판(48)의 커넥터 단자(50)에 검사 신호를 직접 인가하기 위해 검사 유닛을 구비하며, 검사 유닛에 구비된 다수의 검사바늘(32)은 커넥터 단자(50)에 형성된 다수의 접촉 핀과 접촉되도록 하기 위해 머니퓰레이터의 전면 하부{보다 상세하게는 프로브 블록(28)의 전면 하부}에서 전후 방향, 상하 방향으로 이동할 수 있다. 따라서, 본 발명은 다수의 검사바늘(32)과 커넥터 단자(50) 간의 정확한 접촉이 가능하여 작업성과 생산성이 향상된다.As such, the embodiment includes a test unit for directly applying a test signal to the connector terminal 50 of the printed circuit board 48, and the plurality of test needles 32 provided in the test unit are connected to the connector terminal 50. In order to be in contact with the plurality of contact pins formed in the front of the manipulator (more specifically, the front lower portion of the probe block 28) may move in the front and rear direction, up and down direction. Therefore, the present invention enables accurate contact between the plurality of inspection needle 32 and the connector terminal 50, thereby improving workability and productivity.
한편, 커넥터 단자(50)에 형성된 다수의 접촉 핀은 다수의 검사바늘(32)과의 접촉시 휘어짐과 같은 손상이 발생될 수 있다. 실시 예는 다수의 검사바늘(32)과의 접촉시 커넥터 단자(50)의 핀 손상을 방지하기 위해, 다수의 검사바늘(32)이 상하방향으로 탄성을 갖도록 형성한다. 이를 구체적으로 설명하면 다음과 같다.On the other hand, the plurality of contact pins formed in the connector terminal 50 may cause damage such as bending when contacting the plurality of inspection needles (32). According to the embodiment, in order to prevent pin damage of the connector terminal 50 when contacting the plurality of inspection needles 32, the plurality of inspection needles 32 are formed to have elasticity in the vertical direction. This will be described in detail as follows.
도 8은 도 7에 도시된 검사바늘을 구체적으로 나타낸 단면도이다.8 is a cross-sectional view showing in detail the inspection needle shown in FIG.
도 8을 참조하면, 다수의 검사바늘(32) 각각은 상단 수평부(36)와, 하단 수평부(38)와, 바늘(40)을 구비한다.Referring to FIG. 8, each of the plurality of test needles 32 includes an upper horizontal portion 36, a lower horizontal portion 38, and a needle 40.
상단 수평부(36)와 하단 수평부(38) 각각은 수평한 방향으로 형성된다. 그리고 상단 수평부(36)와 하단 수평부(38)는 서로 대향함으로써 사이에 공간(42)을 형성한다. 그리고 상단 수평부(36)와 하단 수평부(38)는 일측에서 서로 연결된다.Each of the upper horizontal portion 36 and the lower horizontal portion 38 is formed in a horizontal direction. The upper horizontal portion 36 and the lower horizontal portion 38 face each other to form a space 42 therebetween. The upper horizontal portion 36 and the lower horizontal portion 38 are connected to each other at one side.
바늘(40)은 하단 수평부(38)의 끝단으로부터 하측으로 절곡된다. 그리고 바늘(40)은 하단 수평부(38)의 끝단으로부터 하측으로 갈수록 폭이 좁아지도록 형성된다.The needle 40 is bent downward from the end of the lower horizontal portion 38. And the needle 40 is formed so that the width becomes narrower from the end of the lower horizontal portion 38 toward the lower side.
이와 같이, 실시 예는 다수의 검사바늘(32)이 상하방향으로 탄성을 갖도록 형성함으로써, 다수의 검사바늘(32)과의 접촉시 커넥터 단자(50)의 핀 손상을 방지할 수 있다.As described above, in the embodiment, the plurality of inspection needles 32 are formed to have elasticity in the up and down direction, thereby preventing pin damage of the connector terminal 50 when contacting the plurality of inspection needles 32.
이상에서 설명한 본 발명은 상술한 실시 예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.The present invention described above is not limited to the above-described embodiment and the accompanying drawings, and it is common in the art that various substitutions, modifications, and changes can be made without departing from the technical spirit of the present invention. It will be evident to those who have knowledge of.
32: 다수의 검사바늘 34: 고정 샤프트
44: 표시 패널 46: 회로 필름
48: 인쇄 회로 기판 50: 커넥터 단자
32: multiple inspection needle 34: fixed shaft
44: display panel 46: circuit film
48: printed circuit board 50: connector terminal

Claims (11)

  1. 회로 필름을 통해 인쇄 회로 기판이 연결된 표시 패널에 검사 신호를 인가하여 상기 표시 패널의 점등 검사를 수행하기 위한 평판 표시 장치의 검사 장치에 있어서,
    베이스;
    상기 베이스 상에 형성되는 지지대;
    상기 지지대에 의해 지지되고, 상기 지지대로부터 전후 방향으로 슬라이딩과 상하 방향으로 슬라이딩 이동하는 머니퓰레이터; 및
    상기 머니퓰레이터의 전면 하부에서, 상기 인쇄 회로 기판에 형성된 커넥터 단자의 다수의 접촉 핀과 접촉되도록 전후 방향, 상하 방향으로 이동할 수 있고, 상하 방향으로 탄성을 갖도록 형성되는 다수의 검사바늘; 을 포함하며,
    상기 다수의 검사바늘 각각은
    상기 머니퓰레이터에 수평한 방향으로 형성되는 상단 수평부;
    상기 상단 수평부와 사이에 공간을 형성하며, 일측이 상단 수평부와 연결되는 하단 수평부; 및
    상기 하단 수평부의 끝단으로부터 절곡되고, 상기 하단 수평부의 끝단으로부터 하측으로 갈수록 폭이 좁아지도록 형성된 바늘;을 포함하는, 평판 표시 장치의 검사 장치.
    An inspection apparatus of a flat panel display device for applying a test signal to a display panel connected to a printed circuit board through a circuit film to perform lighting inspection of the display panel.
    Base;
    A support formed on the base;
    A manipulator that is supported by the support and slides in the front-rear direction and the vertical direction from the support; And
    A plurality of inspection needles disposed in front and bottom of the manipulator, the plurality of inspection needles being movable in the front and rear directions and in the vertical direction to be in contact with the plurality of contact pins of the connector terminals formed on the printed circuit board and having elasticity in the vertical directions; Including;
    Each of the plurality of inspection needles
    An upper horizontal portion formed in a direction horizontal to the manipulator;
    A lower horizontal part forming a space between the upper horizontal part and one side connected to the upper horizontal part; And
    And a needle that is bent from an end of the lower horizontal portion and is narrower from the end of the lower horizontal portion toward the lower side of the lower horizontal portion.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 머니퓰레이터는
    상기 지지대의 상부에 위치하는 본체;
    상기 본체를 상기 지지대로부터 전후로 이동시키기 위한 하부 플레이트;
    상기 다수의 검사바늘을 상기 본체로부터 상하로 이동시키기 위한 프로브 블록;을 포함하는, 평판 표시 장치의 검사 장치.
    The method of claim 1,
    The manipulator
    A main body positioned above the support;
    A lower plate for moving the main body back and forth from the support;
    And a probe block for moving the plurality of inspection needles up and down from the main body.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 머니퓰레이터는
    상기 다수의 검사바늘의 일부를 덮는 프로브 커버; 및
    상기 다수의 검사바늘을 고정시키는 고정 샤프트;
    를 더 포함하는, 평판 표시 장치의 검사 장치.
    The method of claim 2,
    The manipulator
    A probe cover covering a portion of the plurality of test needles; And
    A fixed shaft for fixing the plurality of inspection needles;
    Further comprising, inspection device of the flat panel display device.
  4. 회로 필름을 통해 인쇄 회로 기판이 연결된 표시 패널을 마련하는 단계;
    상기 인쇄 회로 기판에 형성된 커넥터 단자의 다수의 접촉 핀과 일대일 대응되는 다수의 검사바늘이 구비된 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항의 평판 표시 장치의 검사 장치를 마련하는 단계;
    상기 다수의 검사바늘과 상기 커넥터 단자를 서로 접촉시키는 단계; 및
    상기 다수의 검사바늘을 통해 상기 커넥터 단자에 검사 신호를 직접 인가하여 상기 표시 패널의 점등 검사를 수행하는 단계를 포함하는, 평판 표시 장치의 검사 방법.
    Providing a display panel to which a printed circuit board is connected through a circuit film;
    Providing an inspection apparatus of any one of claims 1 to 3, wherein a plurality of inspection needles corresponding to the contact pins of the connector terminals formed on the printed circuit board are provided one-to-one;
    Contacting the plurality of test needles and the connector terminal with each other; And
    And applying a test signal directly to the connector terminal through the plurality of test needles to perform a lighting test of the display panel.
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