KR100622635B1 - Liquid crystal display shell inspection method - Google Patents
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Abstract
본 발명은 다수개의 액정 셀이 일정한 간격으로 배열된 스틱형 패널을 이용하여 각 액정 셀을 점등검사함에 있어서, 액정 셀의 타입이나 프로브블록의 크기에 관계없이 다수개의 프로브유닛을 사용하여 신속하고 간편하게 검사할 수 있도록 한 액정 셀 검사방법에 관한 것이다.According to the present invention, in the lighting inspection of each liquid crystal cell by using a stick-shaped panel in which a plurality of liquid crystal cells are arranged at regular intervals, a plurality of probe units are used quickly and easily regardless of the type of the liquid crystal cell or the size of the probe block. The present invention relates to a liquid crystal cell inspection method that allows inspection.
이에, 본 발명에 따른 액정 셀 검사방법은, 2n개의 액정 셀이 일정 간격(d)으로 배열된 스틱형 패널을 스테이지에 장착하고, 상기 스테이지를 베이스플레이트에 장착된 프로브유닛에 대하여 정렬하여 각 액정 셀을 점등검사하는 방법에 있어서, n개의 프로브유닛을 일정 간격으로 설치하여, 스테이지의 정렬완료시 홀수번째 또는 짝수번째의 액정 셀을 일시에 검사하고, 검사완료 후 상기 스테이지를 액정 셀의 간격(d) 만큼 일측으로 이동시켜 상기 프로브유닛으로 나머지 짝수번째 또는 홀수번째의 액정 셀을 일시에 검사하는 것을 특징으로 한다.Accordingly, in the liquid crystal cell inspection method according to the present invention, a stick-shaped panel in which 2n liquid crystal cells are arranged at a predetermined interval d is mounted on a stage, and the stage is aligned with respect to a probe unit mounted on a base plate, thereby allowing each liquid crystal. In the method of lighting the cell, n probe units are installed at regular intervals, and when the stages are aligned, the odd-numbered or even-numbered liquid crystal cells are inspected at a time. d) by moving to one side by the probe unit characterized in that the remaining even or odd-numbered liquid crystal cells are inspected at a time.
상기와 같은 검사방법을 제공함으로써, 검사비용을 획기적으로 절감할 수 있을 뿐만 아니라, 엘씨디 패널의 종류에 따라 검사장치를 따로 설치할 필요가 없는 효과를 가진다.By providing the inspection method as described above, not only can significantly reduce the inspection cost, but also has the effect that it is not necessary to install a separate inspection device according to the type of the LCD panel.
액정, 스틱형, 컨텍패드, 프로브유닛, 스테이지 LCD, Stick Type, Contact Pad, Probe Unit, Stage
Description
도 1은 본 발명의 검사방법에 따라 스틱형 패널을 1차로 검사하는 상태를 보인 도면.1 is a view showing a state in which the first inspection of the stick-shaped panel according to the inspection method of the present invention.
도 2는 도 1에서 스틱형 패널을 이동시킨 후 2차로 검사하는 상태를 보인 도면.2 is a view showing a state in which the secondary inspection after moving the stick-shaped panel in FIG.
※ 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명※ Explanation of codes for main parts of drawing
10 : 스틱형 패널 11 : 액정 셀10
110 : 컨텍패드 20 : 프로브유닛110: contact pad 20: probe unit
S : 스테이지 P : 베이스플레이트S: Stage P: Base Plate
본 발명은 엘씨디 패널의 제조과정에서 액정 셀을 점등검사하는 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 다수개의 액정 셀을 한 줄로 배열한 스틱형 패널을 이용하여, 보다 많은 수의 액정 셀을 일시에 검사함으로써, 검사시간을 획기적으로 단축할 수 있는 액정 셀 검사방법에 관한 것이다.The present invention relates to a method of lighting inspection of a liquid crystal cell in the manufacturing process of an LCD panel, and more specifically, a large number of liquid crystal cells are inspected at one time by using a stick-shaped panel in which a plurality of liquid crystal cells are arranged in a row. The present invention relates to a liquid crystal cell inspection method that can significantly shorten inspection time.
일반적으로, 엘씨디(LCD, Liquid Crystal Display)란 TV나 컴퓨터등의 모니 터에 사용되고 있는 음극선관(CRT, Cathode Ray Tube)을 대체하기 위해 개발된 표시장치로, 경량·박형설계가 용이하고 고화질, 저소비전력 등의 장점을 가지므로 산업에서 널리 이용되고 있다.Generally, liquid crystal display (LCD) is a display device developed to replace cathode ray tube (CRT) used for monitors such as TVs and computers. Since it has advantages such as low power consumption, it is widely used in the industry.
특히, 근래에는 휴대폰이나 PDA와 같은 이동통신단말기의 수요가 지속적으로 확산됨에 따라, 그 이동통신단말기에 탑재되는 소형 엘씨디 패널의 시장이 기하급수적으로 팽창하고 있다.In particular, as the demand for mobile communication terminals such as mobile phones and PDAs continues to spread in recent years, the market for small LCD panels mounted in the mobile communication terminals is expanding exponentially.
엘씨디 패널은 제조공정에서 색도, 색 얼룩, 콘트라스트 등의 동작상태를 검사하는 점등검사를 거치게 된다. 이때, 이동통신단말기가 점차 고도의 기술과 품질이 요구되는 칼라 엘씨디 패널을 탑재하게 됨에 따라, 정밀한 검사가 필연적으로 수반됨은 물론, 대량생산이 본격화됨에 따라 검사의 효율성 향상이 수반된다.In the manufacturing process, the LCD panel undergoes a lighting test that inspects operating conditions such as chromaticity, color unevenness, and contrast. At this time, as the mobile communication terminal is equipped with a color LCD panel, which requires a high level of technology and quality, precise inspection is inevitably accompanied, and mass production is in earnest, and thus the efficiency of inspection is accompanied.
이에 따라, 엘씨디 패널의 생산공정에 있어서 여러개의 소형 엘씨디 패널을 한 줄로 병렬 배열한 스틱형 패널을 도입하여, 여러개의 엘씨디 셀(커팅되기 전의 소형 엘씨디 패널)을 동시에 검사함으로써, 검사시간을 획기적으로 단축하는 방법이 시도되고 있다.Accordingly, in the production process of the LCD panel, a stick-type panel in which several small LCD panels are arranged in parallel in a row is introduced, and the inspection time can be dramatically improved by simultaneously inspecting several LCD cells (small LCD panels before cutting). Attempts have been made to shorten.
한편, 소형 엘씨디 패널은 STN, TFT형 엘씨디 패널이 주종을 이루고 있으며, 대형 엘씨디 패널과 마찬가지로 구동 IC가 실장된 FPC(Flexible Printed Circuit)가 연결되어 작동된다. 최근에는 구동 IC를 전량 수입에 의존하는 FPC에 실장하지 않고 엘씨디 패널에 직접 실장하는 COG(Chip On Glass) 기술을 개발하여 제조원가를 획기적으로 절감하고 있다.On the other hand, small LCD panels are mainly composed of STN and TFT type LCD panels, and like a large LCD panel, FPC (Flexible Printed Circuit) mounted with a driving IC is connected and operated. Recently, COG (Chip On Glass) technology, which directly mounts driver ICs instead of FPC, which relies on imports, is drastically reducing manufacturing costs.
그러나, COG 기술을 적용한 엘씨디 패널은 구동 IC의 실장으로 인해 컨텍패 드가 "ㄷ" 형태로 배열됨으로써, 이에 사용되는 프로브블록은 "ㅣ" 형태의 컨텍패드를 갖는 종래 타입에 비하여 3방향에서 프로브핀을 동시에 접촉시켜야 함으로써, 프로브블록의 폭이 엘씨디 패널의 폭을 상당히 벗어나게 된다.However, in the LCD panel to which the COG technology is applied, the contact pads are arranged in a "c" shape due to the mounting of the driving IC, so that the probe block used in this way is a probe pin in three directions compared to the conventional type having a contact pad of "ㅣ" shape. By simultaneously contacting, the width of the probe block is significantly beyond the width of the LCD panel.
따라서, 상기 스틱형 패널의 검사시 프로브유닛을 액정 셀의 갯수와 대응되도록 배열하기가 매우 곤란함으로써, 다수개의 액정 셀을 동시에 검사할 수 없는 문제가 발생된다. 즉, COG 타입의 엘씨디 패널의 검사시 각 액정 셀을 하나씩 점등하여 검사해야 함으로써, 엘씨디 패널의 제조원가는 절감되는 반면 검사비용이 상승하는 문제점이 있었다.Therefore, it is very difficult to arrange the probe units so as to correspond to the number of liquid crystal cells during the inspection of the stick-type panel, thereby causing a problem in that a plurality of liquid crystal cells cannot be inspected at the same time. That is, by inspecting each liquid crystal cell by lighting one by one when inspecting the COG type LCD panel, there is a problem that the manufacturing cost of the LCD panel is reduced while the inspection cost is increased.
이에, 본 발명은 상술한 바와 같은 종래의 제반 문제점을 해소하기 위해 안출된 것으로, 그 목적은 다수개의 액정 셀이 일정한 간격으로 배열된 스틱형 패널을 이용하여 각 액정 셀을 점등검사함에 있어서, 액정 셀의 타입이나 프로브블록의 크기에 관계없이 다수개의 프로브유닛을 사용하여 신속하고 간편하게 검사할 수 있도록 한 액정 셀 검사방법을 제공함에 있다.Accordingly, the present invention has been made to solve the conventional problems as described above, the purpose of the liquid crystal cell in the lighting inspection of each liquid crystal cell using a stick-shaped panel in which a plurality of liquid crystal cells are arranged at regular intervals, The present invention provides a method for inspecting a liquid crystal cell that enables a quick and simple inspection using a plurality of probe units regardless of the cell type or the size of the probe block.
상기와 같은 목적을 이루기 위한 본 발명의 일 양상에 따른 액정 셀 검사방법은, 2n개의 액정 셀이 일정 간격(d)으로 배열된 스틱형 패널을 스테이지에 장착하고, 상기 스테이지를 베이스플레이트에 장착된 프로브유닛에 대하여 정렬하여 각 액정 셀을 점등검사하는 방법에 있어서, n개의 프로브유닛을 일정 간격으로 설치하여, 스테이지의 정렬완료시 홀수번째 또는 짝수번째의 액정 셀을 일시에 검사하고, 검사완료 후 상기 스테이지를 액정 셀의 간격(d) 만큼 일측으로 이동시켜 상기 프로브유닛으로 나머지 짝수번째 또는 홀수번째의 액정 셀을 일시에 검사하는 것을 특징으로 한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a method for inspecting a liquid crystal cell, in which a stick-type panel in which 2n liquid crystal cells are arranged at a predetermined interval d is mounted on a stage, and the stage is mounted on a base plate. In the method of illuminating and inspecting each liquid crystal cell by aligning with respect to the probe unit, n probe units are installed at regular intervals, and when the alignment of the stage is completed, the odd-numbered or even-numbered liquid crystal cells are temporarily inspected, and after completion of the inspection. The stage is moved to one side by the distance d of the liquid crystal cell, and the remaining even or odd numbered liquid crystal cells are temporarily inspected by the probe unit.
상술한 본 발명의 양상은 첨부된 도면을 참조하여 설명되는 실시예들을 통하여 더욱 명백해질 것이다. 이하에서는 바람직한 실시예를 통해 당업자가 본 발명을 용이하게 이해하고 재현할 수 있도록 상세히 설명하기로 한다.Aspects of the present invention described above will become more apparent through the embodiments described with reference to the accompanying drawings. Hereinafter, the present invention will be described in detail so that those skilled in the art can easily understand and reproduce the present invention.
도 1은 본 발명의 검사방법에 따라 스틱형 패널을 1차로 검사하는 상태를 보인 도면이고, 도 2는 도 1에서 스틱형 패널을 이동시킨 후 2차로 검사하는 상태를 보인 도면이다.1 is a view showing a state of inspecting the stick-shaped panel first in accordance with the inspection method of the present invention, Figure 2 is a view showing a state of the second inspection after moving the stick-shaped panel in FIG.
먼저, 도시된 바와 같이 2n(예를 들어 '10개')개의 소형 액정 셀(11)이 일정 간격(d)으로 배열되어 있는 스틱형 패널(10)을 프로브 스테이션(probe station)의 스테이지(미도시)상에 장착한다. 이때, 프로브 스테이션의 베이스플레이트에는 하나의 액정 셀을 검사할 수 있는 프로브유닛(20)이 n(예를 들어 '5개')개 설치되는데, 상기 프로브유닛은 스틱형 패널(10)의 최초 정렬 위치에서 홀수번째의 액정 셀(1,3,5,7,9)에 대응되는 위치에 장착된다.First, as shown, the stick-
스틱형 패널(10)의 위치정렬이 완료된 다음에는, 액정 셀(1,3,5,7,9)에 구비된 컨텍패드(110)가 프로브유닛(20)에 구비된 프로프핀(미도시)에 일시에 접촉하도록 스테이지를 작동하며, 접촉이 완료되면 상기 프로브핀을 통해 컨텍패드에 신호를 인가함으로써 점등검사를 수행한다.After the alignment of the stick-
이때, 컨텍패드(110)에는 액정 셀에 구비된 모든 데이터라인이 연결되어 있 으며, 프로브유닛(20)에는 상기 컨텍패드에 접촉하여 각 데이터라인에 신호를 인가하는 프로브핀(미도시)이 구비되어 있다.In this case, all the data lines of the liquid crystal cell are connected to the
위와 같이, 스틱형 패널(10)에 구비된 홀수번째의 액정 셀(1,3,5,7,9)에 대한 검사가 완료되면, 도 2에 도시된 바와 같이 상기 스틱형 패널을 액정 셀의 간격(d) 만큼 일측으로 이동시켜 위치를 정렬한다.As described above, when the inspection of the odd-numbered
스틱형 패널(10)의 위치정렬이 완료되면 5개의 프로브유닛(20)에는 짝수번째의 액정 셀(2,4,6,8,10)이 정확하게 셋팅되며, 위와 마찬가지로 프로브핀이 컨텍패드에 일시에 접촉하여 신호를 인가함으로써 점등검사를 수행한다.When the alignment of the stick-
본 실시예에서는 액정 셀이 짝수개 구비된 스틱형 패널과 상기 액정 셀의 1/2에 해당하는 갯수의 프로브유닛을 사용하여 스틱형 패널을 1회 이동하여 2차례에 걸친 검사로 작업을 완료하는 방법을 설명하였다.In this embodiment, the stick-type panel having an even number of liquid crystal cells and the number of probe units corresponding to 1/2 of the liquid crystal cell are used to move the stick-type panel once to complete the work by two inspections. The method was described.
이때, 스틱형 패널의 이동 및 정렬은 수동 또는 자동으로 가능하며, 일정 간격으로 이동시켜 정확하게 위치를 정렬하는 기술은 당업자가 손쉽게 실시할 수 있는 정도의 기술이므로 상세한 설명을 생략하기로 한다.At this time, the movement and alignment of the stick-type panel is possible manually or automatically, and the technique of aligning the position accurately by moving at regular intervals is a technology that can be easily carried out by those skilled in the art will not be described in detail.
그러나, 프로브유닛의 갯수는 반드시 액정 셀 갯수의 1/2이 아니어도 관계가 없다. 즉, 프로브유닛을 2개만 설치하는 경우라도 스틱형 패널을 7회 이동시켜 8차례에 걸쳐 검사하면 모든 액정 셀을 검사할 수 있게 된다.However, the number of probe units does not necessarily need to be half the number of liquid crystal cells. In other words, even if only two probe units are installed, all the liquid crystal cells can be inspected by moving the stick panel seven times and inspecting eight times.
따라서, 액정 셀의 갯수가 2n개가 아닌 홀수개인 경우에도, 베이스플레이트에 그 보다 적은 갯수의 프로브유닛을 장착하고 위와 같은 방식으로 스틱형 패널을 이동시키면서 검사를 수행하면, 적은 갯수의 프로브유닛으로 신속하고 간편하게 검 사할 수 있게 된다.Therefore, even when the number of liquid crystal cells is odd rather than 2n, if a smaller number of probe units are mounted on the base plate and the inspection is performed while moving the stick panel in the same manner as described above, a small number of probe units can be quickly used. And can be easily checked.
상술한 바와 같이 본 발명은 다수개의 액정 셀이 일정한 간격으로 배열된 스틱형 패널을 이용하여 각 액정 셀을 점등검사함에 있어서, 액정 셀의 타입이나 프로브블록의 크기에 관계없이 다수개의 프로브유닛을 사용하여 신속하고 간편하게 검사할 수 있으므로, 검사비용을 획기적으로 절감할 수 있을 뿐만 아니라, 엘씨디 패널의 종류에 따라 검사장치를 따로 설치할 필요가 없는 효과를 가진다.As described above, the present invention uses a plurality of probe units regardless of the type of the liquid crystal cell or the size of the probe block in the lighting inspection of each liquid crystal cell using a stick-shaped panel in which a plurality of liquid crystal cells are arranged at regular intervals. Since the inspection can be performed quickly and easily, not only can significantly reduce the inspection cost, but also has the effect that there is no need to install a separate inspection device according to the type of LCD panel.
한편, 본 발명은 도면에 도시된 실시예들을 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술분야에서 통상의 지식을 가진자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 첨부된 특허청구범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.On the other hand, the present invention has been described with reference to the embodiments shown in the drawings, but this is only exemplary, those skilled in the art will understand that various modifications and equivalent other embodiments are possible from this. . Therefore, the true technical protection scope of the present invention should be defined only by the appended claims.
Claims (1)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050017498A KR100622635B1 (en) | 2005-03-03 | 2005-03-03 | Liquid crystal display shell inspection method |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050017498A KR100622635B1 (en) | 2005-03-03 | 2005-03-03 | Liquid crystal display shell inspection method |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20060096763A KR20060096763A (en) | 2006-09-13 |
KR100622635B1 true KR100622635B1 (en) | 2006-09-13 |
Family
ID=37624242
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020050017498A KR100622635B1 (en) | 2005-03-03 | 2005-03-03 | Liquid crystal display shell inspection method |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
KR (1) | KR100622635B1 (en) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR101055343B1 (en) * | 2009-02-13 | 2011-08-08 | 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스 | Probe Unit and Inspection Device |
CN109917569A (en) * | 2019-04-09 | 2019-06-21 | 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 | Panel detection device |
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JP2000012999A (en) | 1998-06-18 | 2000-01-14 | Nagoya Denki Kogyo Kk | Substrate inspection method and apparatus thereof |
JP2001318116A (en) | 2000-05-11 | 2001-11-16 | Micronics Japan Co Ltd | Inspection apparatus for display panel board |
KR20020014677A (en) * | 2000-08-16 | 2002-02-25 | 류달래 | Probe, Probe Card and Manufacturing Method of Probe |
-
2005
- 2005-03-03 KR KR1020050017498A patent/KR100622635B1/en not_active IP Right Cessation
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Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR20060096763A (en) | 2006-09-13 |
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A201 | Request for examination | ||
E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
GRNT | Written decision to grant | ||
FPAY | Annual fee payment |
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|
FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20130806 Year of fee payment: 8 |
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FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20140829 Year of fee payment: 9 |
|
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