KR100861268B1 - Apparatus of probing lighting for liquid crystal display - Google Patents

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Abstract

본 발명은 포고핀의 위치에 대응되도록 가이드바에 홀을 형성함으로써 포고핀을 인쇄회로기판의 각 패드들에 정확히 얼라인함과 아울러 작업시간을 단축시킬 수 있는 액정표시장치용 점등 검사장치에 관한 것이다.

본 발명에 따른 액정표시장치용 점등검사장치는 인쇄회로기판의 패드들과 테이프 캐리어 패키지의 패드들 사이에 설치된 포고블럭과, 포고블럭 내에 설치됨과 아울러 상기 인쇄회로기판의 패드들과 대응되게끔 형성된 포고핀과, 포고블럭과 상기 인쇄회로기판 사이에 설치되어 상기 포고핀의 위치에 대응되도록 홀이 형성됨과 아울러 상기 포고핀이 홀을 통해 상기 인쇄회로기판의 패드들에 접촉되게 하는 가이드바를 구비하고, 상기 가이드바는 상기 다수의 포고블럭을 포함하도록 특정 방향으로 길이가 연장된 막대 형태를 가지는 것을 특징으로 한다.

Figure R1020020033524

The present invention relates to a lighting inspection apparatus for a liquid crystal display device which can align the pogo pins to the respective pads of the printed circuit board and shorten the working time by forming holes in the guide bars so as to correspond to the positions of the pogo pins.

The lighting inspection apparatus for a liquid crystal display according to the present invention is provided so as to correspond to the pads of the printed circuit board and the pogo block provided between the pads of the printed circuit board and the pads of the tape carrier package. A pore pin and a guide bar installed between the pogo block and the printed circuit board to form a hole corresponding to the position of the pogo pin, and the pogo pin to contact the pads of the printed circuit board through the hole. The guide bar has a rod shape extending in a specific direction to include the plurality of pogo blocks.

Figure R1020020033524

Description

액정표시장치용 점등검사장치{APPARATUS OF PROBING LIGHTING FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY} Lighting test device for liquid crystal display {APPARATUS OF PROBING LIGHTING FOR LIQUID CRYSTAL DISPLAY}             

도 1 은 종래의 액정표시장치용 점등검사장치를 나타내는 도면. 1 is a view showing a lighting test apparatus for a conventional liquid crystal display device.

도 2는 도 1에 도시된 점등검사장치를 이용한 점등검사를 나타내는 단면도.2 is a cross-sectional view showing a lighting test using the lighting test apparatus shown in FIG.

도 3은 도 2에 도시된 점등검사를 나타내는 도면.3 is a view showing a lighting test shown in FIG.

도 4는 도 1에 도시된 포고핀을 상세히 나타내는 단면도.4 is a cross-sectional view showing in detail the pogo pin shown in FIG.

도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치용 점등검사장치를 나타내는 도면.5 is a view showing a lighting inspection device for a liquid crystal display according to an embodiment of the present invention.

도 6은 도 5에 도시된 포고블럭을 나타내는 도면.FIG. 6 shows the pogo block shown in FIG. 5; FIG.

도 7은 도 5에 도시된 가이드바를 나타내는 도면.7 is a view showing a guide bar shown in FIG.

도 8은 도 5에 도시된 점등검사장치를 이용한 점등검사를 나타내는 단면도.
8 is a cross-sectional view showing a lighting test using the lighting test apparatus shown in FIG.

< 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 ><Description of Symbols for Main Parts of Drawings>

10, 40 : 포고블럭 12, 42 : 포고핀10, 40: pogo block 12, 42: pogo pin

14,16,44,46 : 고정볼트 홀 18, 48 : 기준핀14, 16, 44, 46: Fixing bolt holes 18, 48: Reference pin

30 : PCB 32 : TCP 30: PCB 32: TCP                 

60 : 가이드바
60: guide bar

본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 포고핀을 인쇄회로기판의 각 패드들에 정확히 얼라인함과 아울러 작업시간을 단축시킬 수 있는 액정표시장치용 점등검사장치에 관한 것이다. BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a liquid crystal display device, and more particularly, to a lighting inspection device for a liquid crystal display device which can align the pogo pins to the pads of the printed circuit board and shorten the working time.

통상적으로, 액정표시장치는 비디오신호에 따라 액정셀들의 광투과율을 조절하여 화상을 표시하게 된다. 액정셀마다 스위칭소자가 형성된 액티브 매트릭스(Active Matrix) 타입의 액정표시장치는 동영상을 표시하기에 적합하다. 액티브 매트릭스 타입의 액정표시장치에 사용되는 스위칭소자로는 주로 박막트랜지스터(Thin Film Transistor; 이하 "TFT"라 함)가 이용되고 있다. 이러한 액티브 매트릭스 타입의 액정표시소자는 브라운관에 비하여 소형화가 가능하며, 퍼스널 컴퓨터(Personal Computer)와 노트북 컴퓨터(Note Book Computer)는 물론, 복사기 등의 사무자동화기기, 휴대전화기나 호출기 등의 휴대기기까지 광범위하게 이용되고 있다. Typically, the liquid crystal display device displays an image by adjusting the light transmittance of the liquid crystal cells according to the video signal. An active matrix liquid crystal display device in which switching elements are formed for each liquid crystal cell is suitable for displaying moving images. As a switching element used in an active matrix liquid crystal display device, a thin film transistor (hereinafter, referred to as TFT) is mainly used. Such active matrix type liquid crystal display devices can be miniaturized compared to CRTs, and can be used not only for personal computers and notebook computers, but also for office automation devices such as photocopiers, mobile devices such as cell phones and pagers. It is widely used.

이러한 액정표시장치의 제조공정은 기판 세정, 기판 패터닝, 배향막형성, 기판합착/액정주입, 테스트 공정 및 실장 공정으로 나뉘어진다. The manufacturing process of the liquid crystal display is divided into substrate cleaning, substrate patterning, alignment film formation, substrate bonding / liquid crystal injection, test process, and mounting process.

기판세정 공정에서는 패터닝 전후에 기판들의 이물질을 세정제를 이용하여 제거하게 된다. 이 기판 패터닝 공정에서는 상부기판의 패터닝과 하부기판의 패터닝으로 나뉘어진다. 상부기판에는 칼라필터, 공통전극, 블랙 매트릭스 등이 형성된다. 하부기판에는 데이터라인과 게이트라인 등의 신호배선이 형성되고, 데이터라인과 게이트라인의 교차부에 TFT가 형성된다. 데이터라인과 게이트라인 사이의 화소영역에는 화소전극이 형성된다. 이 패터닝 공정에 있어서, 각 층의 패터닝은 포토레지스트(Photoresist)를 이용한 포토리쏘그래피(Photolithography) 방법이 일반적으로 이용되고 있다. 여기서, 기판 상에 포토레지스트가 도포되기 전과 패터닝 후에는 기판 상에 잔류하는 유기물이 완전히 세정되지 않게 되면, 패턴 불량이나 층간 막분리를 유발하기 때문에 유기물 세정장치에 의해 기판 상에 잔류하는 유기물이나 포토레지스트가 완전히 제거되어야 한다. In the substrate cleaning process, foreign substances on the substrates are removed using a cleaning agent before and after patterning. In this substrate patterning process, the upper substrate is patterned and the lower substrate is patterned. A color filter, a common electrode, a black matrix, and the like are formed on the upper substrate. Signal lines such as data lines and gate lines are formed on the lower substrate, and TFTs are formed at intersections of the data lines and gate lines. The pixel electrode is formed in the pixel region between the data line and the gate line. In this patterning step, a photolithography method using a photoresist is generally used for patterning each layer. Here, if the organic material remaining on the substrate is not completely cleaned before and after the photoresist is applied on the substrate, the organic material or the photo remaining on the substrate by the organic material cleaning device may cause a pattern defect or an interlayer film separation. The resist must be removed completely.

기판합착/액정주입 공정에서는 하부기판 상에 배향막을 도포하고 러빙하는 공정에 이어서, 실(Seal)을 이용한 상/하부기판 합착공정, 액정주입, 주입구 봉지공정이 순차적으로 이루어진다. In the substrate bonding / liquid crystal injection process, an alignment film is coated and rubbed on the lower substrate, followed by an upper / lower substrate bonding process using a seal, liquid crystal injection, and an injection hole encapsulation process.

실장공정에서는 게이트 드라이브 집적회로 및 데이터 드라이브 집적회로 등의 집적회로가 실장된 테이프 케리어 패키지(Tape Carrier Package : 이하 "TCP"라 함)를 액정패널의 패드부에 접속시키게 된다. 한편, 칩온글라스(chip on glass) 방식으로 드라이브 회로가 실장되는 경우에는 기판 패터닝공정에서 폴리실리콘기판 상에 회로패턴이 직접 실장된다. 여기서, 직접회로를 액정패널에 접속시키기 전에 액정패널이 잘 작동되는지 검사하기 위한 테스트 공정을 거치게 된다. 테스트 공정은 액정패널에 구동전압을 공급하여 액정셀의 점등 여하에 따라 불량 유무가 결 정되며, 테스트를 위해 점등검사장치가 이용된다.In the mounting process, a tape carrier package (hereinafter referred to as "TCP") in which integrated circuits such as a gate drive integrated circuit and a data drive integrated circuit are mounted is connected to the pad portion of the liquid crystal panel. On the other hand, when a drive circuit is mounted in a chip on glass method, a circuit pattern is directly mounted on a polysilicon substrate in a substrate patterning process. Here, a test process is performed to check whether the liquid crystal panel works well before connecting the integrated circuit to the liquid crystal panel. In the test process, a driving voltage is supplied to the liquid crystal panel to determine whether there is a defect depending on whether the liquid crystal cell is turned on, and a lighting test apparatus is used for the test.

도 1을 참조하면, 종래의 액정표시장치용 점등검사장치는 포고블럭(POGO Block ; 10)을 구비한다. Referring to FIG. 1, a conventional lighting test apparatus for a liquid crystal display includes a pogo block 10.

포고블럭(10)은 아크릴판(20)과, 상기 아크릴판(20)을 관통하게끔 고정된 다수의 포고핀들(POGO pin ; 12)과, 상기 아크릴판(20)을 인쇄회로기판(Printed Circuit Board : 이하 "PCB"라 함) 상에 고정시키는 나사가 체결되도록 상기 아크릴판(20)에 형성된 PCB 볼트홀(Bolt Hole ; 14)과, 상기 아크릴판(20)을 TCP에 고정시키는 나사가 체결되도록 상기 아크릴판(20)에 형성된 TCP 볼트홀(16)과, 상기 TCP 볼트홀(16) 사이에 형성되어 TCP 얼라인을 안내하기 위한 기준핀(18)으로 구성된다. The pogo block 10 includes an acrylic plate 20, a plurality of pogo pins 12 fixed to penetrate the acrylic plate 20, and the acrylic plate 20 with a printed circuit board. : PCB Bolt Hole 14 formed in the acrylic plate 20 and screws to fix the acrylic plate 20 to TCP are fastened so that the screws to fix the screws on the PCB may be fastened. It is composed of a TCP bolt hole 16 formed in the acrylic plate 20 and a reference pin 18 formed between the TCP bolt holes 16 to guide the TCP alignment.

포고블럭(10)은 PCB 볼트홀들(14)과 TCP 볼트홀들(16)에 의해 각각 PCB와 TCP에 고정된다.The pogo block 10 is fixed to the PCB and TCP by PCB bolt holes 14 and TCP bolt holes 16, respectively.

포고핀(12)은 도 2에 도시된 바와 같이 원통형 몸체(12D)와, 상기 원통형 몸체(12D) 내부에 수납되는 스프링(12C)과, 상기 원통형 몸체(12D) 상/하부에서 돌출되어 스프링(12C)에 의해 신장 및 수축 가능한 상/하부핀(12A, 12B)과, 상/하부핀(12A, 12B)이 아크릴판(20)에 고정되도록 원통형 몸체(12D)의 상측에 형성된 돌출부(12E)로 구성된다.As shown in FIG. 2, the pogo pin 12 has a cylindrical body 12D, a spring 12C housed inside the cylindrical body 12D, and a spring protruding from the upper and lower portions of the cylindrical body 12D. Upper and lower pins 12A and 12B that can be extended and contracted by 12C) and protrusions 12E formed on the upper side of the cylindrical body 12D so that the upper and lower pins 12A and 12B are fixed to the acrylic plate 20. It consists of.

포고핀(12)의 원통형 몸체(12D)의 직경은 약 150㎛ 정도이며, 상/하부핀(12A, 12B)의 직경은 약 120㎛ 정도이다.The diameter of the cylindrical body 12D of the pogo pin 12 is about 150 μm, and the diameter of the upper / lower pins 12A and 12B is about 120 μm.

포고핀(12)은 두 열로 정렬됨과 아울러 한 열의 포고핀(12)은 PCB의 기수번 째 패드들에 대응되며, 다른 나머지 열의 포고핀(12)은 우수번째 패드들의 위치에 대응되게끔 아크릴판(20)에 고정된다. The pogo pins 12 are arranged in two rows and one row of pogo pins 12 correspond to the cardinal pads of the PCB, and the other rows of pogo pins 12 correspond to the positions of the even pads. It is fixed to 20.

포고핀(12)은 TCP에 실장된 구동 직접회로(Integrated Circuit : 이하 "IC"라 함)가 실장되기 전에 액정패널의 패드들과 연결된 TCP와 PCB의 패드들을 전기적으로 접속시킨다.The pogo pin 12 electrically connects the pads of the PCB and the PCB connected to the pads of the liquid crystal panel before the driving integrated circuit (hereinafter referred to as "IC") mounted on the TCP is mounted.

이를 도 3 및 도 4와 결부하여 상세히 설명하면 다음과 같다.This will be described in detail with reference to FIGS. 3 and 4 as follows.

포고블록(10)은 PCB(30)의 하나의 패드군(P)과 대응되게끔 다수개 얼라인된다. 이때, 포고블록(10)에 설치된 포고핀(12)의 상부핀(12A)은 TCP(32)의 패드들과 접촉되며, 포고핀(12)의 하부핀(12B)은 PCB(30) 각 패드들(34)과 접촉된다. The pogo block 10 is aligned a plurality of so as to correspond to one pad group (P) of the PCB (30). At this time, the upper pin 12A of the pogo pin 12 installed in the pogo block 10 is in contact with the pads of the TCP 32, the lower pin 12B of the pogo pin 12 is each pad of the PCB (30) Contact with the field 34.

포고핀(12)은 PCB(30)의 패드들로부터 인가되는 구동신호를 상기 TCP(32)의 패드들에 전달하는 역할을 하며, TCP(32)의 패드들을 경유하여 액정패널에 구동신호가 공급되어 액정패널의 불량을 테스트할 수 있다. 예를 들어, 노멀리 화이트(normally white) 모드의 액정패널에 구동신호가 인가되면 액정패널은 블랙 상태를 유지해야 하는데 액정패널의 게이트라인 또는 데이터라인 중 어느 한 라인이 불량이면 그 라인에만 전압이 인가되지 않아 화이트 상태를 유지하게 된다. 이로써 액정패널의 불량라인을 확인할 수 있으며, 액정셀이 불량인 경우 점 결함(point defect)의 발생 유무도 확인할 수 있다. The pogo pin 12 transmits a driving signal applied from the pads of the PCB 30 to the pads of the TCP 32, and the driving signal is supplied to the liquid crystal panel via the pads of the TCP 32. The defect of the liquid crystal panel can be tested. For example, when a driving signal is applied to a liquid crystal panel in a normally white mode, the liquid crystal panel should maintain a black state. If any one of a gate line or a data line of the liquid crystal panel is defective, the voltage is applied only to that line. It is not applied to maintain the white state. As a result, the defective line of the liquid crystal panel can be confirmed, and if the liquid crystal cell is defective, the presence of a point defect can be confirmed.

이러한 액정패널의 불량 유무 검사는 구동 IC를 실장하기 전에 이루어지므로 구동 IC를 실장한 후 테스트하는 것보다 구동 IC의 손실량을 줄일 수 있게 된다. 또한, 액정패널의 불량 유무 검사는 포고블록(10)의 포고핀(12)이 PCB(30)로부터의 구동신호를 액정패널에 전달함으로써 가능하게 되므로 포고핀(12)과 PCB(30)의 각 패드들이 정확히 얼라인되어야만 한다. Since the defect inspection of the liquid crystal panel is performed before the driver IC is mounted, the amount of loss of the driver IC can be reduced rather than the test after the driver IC is mounted. In addition, the inspection of the defect of the liquid crystal panel is possible by the pogo pin 12 of the pogo block 10 to transmit the driving signal from the PCB 30 to the liquid crystal panel, so that the angles of the pogo pin 12 and the PCB 30 are reduced. The pads must be correctly aligned.

그러나, 포고핀(12)과 PCB(30) 각 패드들을 얼라인하는 작업은 사람이 직접 육안으로 확인하면서 포고핀(12)을 PCB(30)에 접촉시켜야 하므로 PCB(30)의 각 패드의 피치(Pitch)가 300㎛임을 감안할 때 육안으로 얼라인하는 작업을 하게 되면 포고핀(30)의 접촉이 제대로 이루어지지 않게 되며, 작업 후에도 제대로 얼라인되었는지 확인하기 어렵게 된다. 이러한 얼라인이 제대로 이루어지지 않는 것을 방지하기 위하여 포고핀(30)을 얼라인하는 데에는 시간이 많이 걸리게 된다. 평균적으로 11 ~ 15개의 포고블록(10)을 얼라인하는데 걸리는 시간은 약 20분 정도가 소모된다. 이와 같이 얼라인 작업에 시간이 많이 소비하게 될 뿐만 아니라 육안으로 작업이 이루어지기 때문에 얼라인 작업 후에 제대로 포고핀(12)이 패드들에 얼라인되었는지 확인하기가 어렵다.
However, the alignment of the pads of the pogo pin 12 and the PCB 30 requires a person to contact the PCB 30 with the pogo pin 12 while visually confirming with the naked eye. Considering that the pitch is 300 μm, when the alignment is performed with the naked eye, the contact of the pogo pins 30 may not be properly performed, and it may be difficult to confirm whether the alignment is properly performed even after the operation. In order to prevent such an alignment from being made properly, it takes a long time to align the pogo pin 30. On average, it takes about 20 minutes to align 11 to 15 pogo blocks 10. In this way, it is difficult to check whether the pogo pin 12 is properly aligned with the pads after the alignment work because the work is not only time-consuming but also visually performed.

따라서, 본 발명의 목적은 포고핀을 인쇄회로기판의 패드들에 정확히 얼라인함과 아울러 작업시간을 단축시킬 수 있는 액정표시장치용 점등검사장치를 제공하는데 있다.
Accordingly, an object of the present invention is to provide a lighting inspection device for a liquid crystal display device which can align pogo pins to pads of a printed circuit board and shorten working time.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 액정표시장치용 점등검사장치는 인쇄회로기판의 패드들과 테이프 캐리어 패키지의 패드들 사이에 설치된 포고블럭과, 포고블럭 내에 설치됨과 아울러 상기 인쇄회로기판의 패드들과 대응되게끔 형성된 포고핀과, 포고블럭과 상기 인쇄회로기판 사이에 설치되어 상기 포고핀의 위치에 대응되도록 홀이 형성됨과 아울러 상기 포고핀이 홀을 통해 상기 인쇄회로기판의 패드들에 접촉되게 하는 가이드바를 구비하고, 상기 가이드바는 상기 다수의 포고블럭을 포함하도록 특정 방향으로 길이가 연장된 막대 형태를 가지는 것을 특징으로 한다. In order to achieve the above object, the lighting inspection apparatus for a liquid crystal display device according to the present invention is a pogo block provided between the pads of the printed circuit board and the pads of the tape carrier package, and installed in the pogo block and also of the printed circuit board Pogo pins formed to correspond to the pads, and a hole is formed between the pogo block and the printed circuit board to correspond to the position of the pogo pin, and the pogo pins through the holes to the pads of the printed circuit board. It is provided with a guide bar for contacting, the guide bar is characterized in that it has a rod shape extending in a specific direction to include the plurality of pogo blocks.

상기 포고핀은 포고블럭에 고정되는 원형 몸체와, 포고블럭 상면에서 돌출되며 테이프 캐리어 패키지의 패드들과 연결되는 상부핀과, 포고블럭의 하면에서 돌출되며 상기 가이드바의 홀을 경유하여 상기 인쇄회로기판의 패드들과 연결되는 하부핀으로 구성되는 것을 특징으로 한다.The pogo pin has a circular body fixed to the pogo block, an upper pin protruding from the upper surface of the pogo block and connected to the pads of the tape carrier package, and protruding from the lower surface of the pogo block and passing through the hole of the guide bar. Characterized in that the lower pin is connected to the pads of the substrate.

상기 포고핀의 하부핀은 가이드바의 두께보다 길이가 길게끔 형성되는 것을 특징으로 한다.The lower pin of the pogo pin is characterized in that the length is formed longer than the thickness of the guide bar.

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구동 직접회로를 상기 테이프 캐리어 패키지에 실장하기 전에 상기 포고블럭의 포고핀을 상기 인쇄회로기판과 테이프 캐리어 패키지의 패드들에 연결시켜 검사하는 것을 특징으로 한다. The pogo pin of the pogo block is connected to the pads of the printed circuit board and the tape carrier package before the driving integrated circuit is mounted on the tape carrier package.

상기 포고핀은 상기 인쇄회로기판의 기수번째 패드들과 대응되어 정렬되는 제1 포고핀 정렬부와, 인쇄회로기판의 우수번째 패드들의 위치에 대응되어 정렬되는 제2 포고핀 정렬부로 구성되는 것을 특징으로 한다. The pogo pins may include a first pogo pin alignment unit that is aligned to correspond to the odd pads of the printed circuit board, and a second pogo pin alignment unit that is aligned corresponding to the positions of the even pads of the printed circuit board. It is done.

상기 목적 외에 본 발명의 다른 목적 및 특징들은 첨부도면을 참조한 실시 예의 설명을 통하여 명백하게 드러나게 될 것이다.Other objects and features of the present invention in addition to the above objects will be apparent from the description of the embodiments with reference to the accompanying drawings.

도 5 내지 도 8을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예에 대하여 설명하기로 한다. A preferred embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. 5 to 8.

도 5 및 도 6을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 액정표시장치용 점등검사장치는 포고블럭(40)과, 포고블럭(40)을 안내하는 가이드바(60)를 구비한다.5 and 6, a lighting inspection apparatus for a liquid crystal display according to an exemplary embodiment of the present invention includes a pogo block 40 and a guide bar 60 for guiding the pogo block 40.

포고블럭(40)은 PCB(30)의 하나의 패드군(P)과 대응되는 크기로 제작되며 PCB(30)의 각 패드군(P)을 도시되지 않은 TCP들의 패드들에 전기적으로 연결시킨다. PCB(30)에는 다수의 패드군(P)이 형성되며 각 패드군(P)의 개수만큼 포고블록(40)이 설치된다. 이때, 포고블록(40)에는 패드군(P)의 패드와 TCP의 패드들을 전기적으로 접속시키기 위한 포고핀(42)이 설치된다. 포고핀(42)은 두 열로 정렬됨과 아울러 한 열의 포고핀(42)은 PCB(30)의 기수번째 패드들에 대응되며, 다른 나머지 열의 포고핀(42)은 우수번째 패드들의 위치에 대응되게끔 아크릴판(50)에 고정된다. The pogo block 40 is manufactured to have a size corresponding to one pad group P of the PCB 30 and electrically connects each pad group P of the PCB 30 to pads of TCPs not shown. A plurality of pad groups P are formed on the PCB 30 and pogo blocks 40 are installed as many as the number of pad groups P. FIG. At this time, the pogo block 40 is provided with a pogo pin 42 for electrically connecting the pad of the pad group (P) and the pads of the TCP. The pogo pins 42 are arranged in two rows and one row of pogo pins 42 correspond to the odd pads of the PCB 30, and the other rows of pogo pins 42 correspond to the positions of the even pads. It is fixed to the acrylic plate 50.

포고블럭(40)은 도 6에 도시된 바와 같이 아크릴판(50)과, 상기 아크릴판(50)을 관통하게끔 고정된 다수의 포고핀들(42)과, 상기 아크릴판(50)을 PCB 상에 고정시키는 나사가 체결되도록 상기 아크릴판(50)에 형성된 PCB 볼트홀(44)과, 상기 아크릴판(50)을 TCP에 고정시키는 나사가 체결되도록 상기 아크릴판(50)에 형성된 TCP 볼트홀(46)과, 상기 TCP 볼트홀(46) 사이에 형성되어 TCP 얼라인을 안내하기 위한 기준핀(48)으로 구성된다. 이러한 구성을 가지는 포고블럭(40)은 PCB 볼트홀들(44)과 TCP 볼트홀들(46)에 의해 각각 PCB와 TCP에 고정된 다.As shown in FIG. 6, the pogo block 40 includes an acrylic plate 50, a plurality of pogo pins 42 fixed to penetrate the acrylic plate 50, and the acrylic plate 50 on the PCB. PCB bolt hole 44 formed in the acrylic plate 50 to fasten the screw to fix, and TCP bolt hole 46 formed in the acrylic plate 50 to fasten the screw to fix the acrylic plate 50 to TCP And a reference pin 48 formed between the TCP bolt holes 46 to guide the TCP alignment. Pogo block 40 having this configuration is fixed to the PCB and TCP by the PCB bolt holes 44 and TCP bolt holes 46, respectively.

가이드바(60)는 도 7과 같이 길다란 막대 형태를 가지며, 포고핀(42)의 위치와 대응되게끔 다수의 홀들(60A)이 형성된다. 가이드바(60)는 홀들(60A)을 형성시킬 수 있는 재질로 형성되는데, 예를 들어 아크릴판으로 제작된다. 여기서, 가이드바(60)는 아크릴판이 아닌 홀을 형성시킬 수 있는 재질이면 어떤 재질이라도 상관없다. 이러한 가이드바(60)는 PCB(30)와 포고블럭(40) 사이에 위치되며, 포고핀(42)이 PCB(30)의 패드들과 연결되도록 다수의 홀(hole)들이 형성된다.The guide bar 60 has a long rod shape as shown in FIG. 7, and a plurality of holes 60A are formed to correspond to the position of the pogo pin 42. The guide bar 60 is formed of a material capable of forming the holes 60A, for example, made of an acrylic plate. Here, the guide bar 60 may be any material as long as it is a material capable of forming holes, not acrylic plates. The guide bar 60 is positioned between the PCB 30 and the pogo block 40, and a plurality of holes are formed so that the pogo pin 42 is connected to the pads of the PCB 30.

여기서, 포고핀(42)은 TCP에 실장된 IC가 실장되기 전에 PCB(30)와 TCP(32)의 패드들을 전기적으로 접속시킨다. 즉, 포고핀(42)의 상부핀(42a)은 도 8에 도시된 바와 같이 TCP(32)의 패드들에 접촉됨과 아울러 하부핀(42b)은 가이드바(60)의 홀(60A)을 관통하여 PCB(30)의 패드들에 접촉된다. 하부핀(42b)은 가이드바(60)를 경유하여 PCB(30)의 패드들과 접촉됨과 아울러 종래에 비하여 돌출되는 길이가 더 길어지게끔 형성된다. 즉, 가이드바(60)의 두께가 약 1mm이므로 하부핀(42b)은 가이드바(60)를 관통하여 PCB(30)의 패드들과 접촉되도록 약 2mm 정도의 길이를 갖도록 형성된다. 여기서, 포고핀(42)의 상/하부핀(42a, 42b)은 몸체 내부에 설치된 스프링에 의해서 신장 및 수축 가능하게 된다.Here, the pogo pin 42 electrically connects the pads of the PCB 30 and the TCP 32 before the IC mounted on the TCP is mounted. That is, the upper pin 42a of the pogo pin 42 contacts the pads of the TCP 32 as shown in FIG. 8, and the lower pin 42b passes through the hole 60A of the guide bar 60. Contact the pads of the PCB (30). The lower pin 42b is formed to be in contact with the pads of the PCB 30 via the guide bar 60 and to have a longer protruding length than in the related art. That is, since the thickness of the guide bar 60 is about 1 mm, the lower pin 42b is formed to have a length of about 2 mm to penetrate the guide bar 60 and contact the pads of the PCB 30. Here, the upper / lower pins 42a and 42b of the pogo pins 42 can be extended and contracted by a spring installed inside the body.

가이드바(60)는 포고핀(42)을 얼라인할 때, 포고핀(42)이 PCB(30)의 패드들의 위치에 일치하게끔 안내하는 역할을 한다. The guide bar 60 serves to guide the pogo pins 42 to match the positions of the pads of the PCB 30 when the pogo pins 42 are aligned.

본 발명의 점등검사장치에서는 가이드바(60)가 설치됨에 따라 종래의 검사장치에서 문제시되었던 얼라인 작업의 어려움을 극복할 수 있다. 다시 말하면, 종래 에서 다수의 포고블럭을 일일이 PCB의 패드들에 얼라인하였지만, 본 발명에서는 가이드바(60)의 좌우 모서리 기준점만을 정렬시키면 포고블록(60)을 PCB(30)의 패드들에 정확히 얼라인할 수 있게 된다. 즉, 가이드바(60)에 형성된 홀(60A)에 의해 포고핀(42)이 PCB 패드들에 정확히 얼라인된다. 이에 따라, 포고블록(40)을 얼라인하는데 필요한 시간을 줄일 수 있다. 즉, 종래에는 11 ~ 15개의 포고블록(40)을 얼라인하는데 필요한 시간이 20분 정도 걸렸던 반면에, 본 발명에서는 하나의 포고블록(40)을 얼라인하는데 필요한 시간은 약 1분 정도이면 가능하다. In the lighting inspection apparatus of the present invention, as the guide bar 60 is installed, it is possible to overcome the difficulty of the alignment work that has been a problem in the conventional inspection apparatus. In other words, in the prior art, a number of pogo blocks were aligned to pads of the PCB, but in the present invention, when only the left and right corner reference points of the guide bar 60 are aligned, the pogo block 60 is accurately aligned with the pads of the PCB 30. You can align. That is, the pogo pins 42 are exactly aligned with the PCB pads by the holes 60A formed in the guide bar 60. Accordingly, the time required for aligning the pogo block 40 can be reduced. That is, while the conventional time required to align the 11 to 15 pogo blocks 40 took about 20 minutes, in the present invention, the time required to align one pogo block 40 is about 1 minute. Do.

일반적으로 포고블럭(40)을 가이드바(60)와 결합하여 PCB(30)의 패드들과 연결시킨 후, 포고블럭(40)이 불량인 경우가 발생되면 간단히 가이드바(60)에서 불량의 포고블럭(40) 만을 교체함으로써 검사를 할 수 있다.In general, after the pogo block 40 is coupled with the guide bar 60 and connected with the pads of the PCB 30, when the pogo block 40 is defective, the pogo block 40 is simply defective. The inspection can be done by replacing only the block 40.

PCB(30)의 패드들로부터 인가되는 구동신호는 포고핀(42)을 경유하여 TCP(32)의 패드들에 전달된다. TCP(32)에 공급된 구동신호는 액정패널의 게이트라인들 및 데이터라인들에 공급되어 액정패널의 불량 유무를 테스트하게 된다. 노멀리 화이트 모드의 액정패널에서 액정패널에 구동신호가 인가되면 액정패널은 블랙 상태를 유지해야 하는데 액정패널의 게이트라인 또는 데이터라인 중 어느 한 라인이 불량이면 그 라인에만 전압이 인가되지 않아 화이트 상태를 유지하게 되어 불량라인은 확인할 수 있다. 또한, 액정셀이 불량인 경우 액정패널의 화면에서 그 액정셀에 해당하는 점만이 화이트 상태를 유지하게 되어 불량셀을 확인할 수 있다.
The driving signal applied from the pads of the PCB 30 is transmitted to the pads of the TCP 32 via the pogo pin 42. The driving signal supplied to the TCP 32 is supplied to the gate lines and the data lines of the liquid crystal panel to test whether the liquid crystal panel is defective. In a normally white mode liquid crystal panel, when a driving signal is applied to the liquid crystal panel, the liquid crystal panel should remain black. If any one of the gate line or data line of the liquid crystal panel is defective, the voltage is not applied to only that line. The defect line can be confirmed. In addition, when the liquid crystal cell is defective, only the point corresponding to the liquid crystal cell on the screen of the liquid crystal panel maintains the white state, thereby identifying the defective cell.

상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 액정표시장치용 점등검사장치는 포고핀에 대응되는 홀이 형성된 가이드바를 포고블럭과 PCB 사이에 설치한다. 이에 따라, 본 발명에 따른 액정표시장치용 점등검사장치는 종래의 점등검사장치와 대비하여 일일이 포고블럭 하나하나를 얼라인시킬 필요없이 가이드바의 양측 두 모서리를 기준으로 얼라인시켜 포고블럭을 설치하면 되므로 포고핀을 얼라인하는데 필요한 작업시간이 단축됨과 아울러 작업효율이 향상될 수 있다. As described above, in the lighting inspection apparatus for a liquid crystal display according to the present invention, a guide bar having a hole corresponding to the pogo pin is provided between the pogo block and the PCB. Accordingly, the lighting inspection apparatus for the liquid crystal display device according to the present invention aligns the two pore blocks on both sides of the guide bar without the need to align the pogo blocks one by one in comparison with the conventional lighting inspection apparatus and installs the pogo blocks. Because of this, the work time required to align the pogo pins can be shortened and the work efficiency can be improved.

이상 설명한 내용을 통해 당업자라면 본 발명의 기술사상을 일탈하지 아니하는 범위에서 다양한 변경 및 수정이 가능함을 알 수 있을 것이다. 따라서, 본 발명의 기술적 범위는 명세서의 상세한 설명에 기재된 내용으로 한정되는 것이 아니라 특허 청구의 범위에 의해 정하여 져야만 할 것이다.Those skilled in the art will appreciate that various changes and modifications can be made without departing from the technical spirit of the present invention. Therefore, the technical scope of the present invention should not be limited to the contents described in the detailed description of the specification but should be defined by the claims.

Claims (9)

인쇄회로기판의 패드들과 테이프 캐리어 패키지의 패드들 사이에 설치된 포고블럭과, A pogo block installed between the pads of the printed circuit board and the pads of the tape carrier package, 상기 포고블럭 내에 설치됨과 아울러 상기 인쇄회로기판의 패드들과 대응되게끔 형성된 포고핀과, A pogo pin installed in the pogo block and formed to correspond to pads of the printed circuit board; 상기 포고핀이 상기 인쇄회로기판의 패드들에 접촉되도록 하는 상기 하나 이상의 홀이 형성된 가이드바를 구비하고,A guide bar having the one or more holes formed therein to allow the pogo pin to contact pads of the printed circuit board, 상기 가이드바는 상기 다수의 포고블럭을 포함하도록 특정 방향으로 길이가 연장된 막대 형태를 가지는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 점등검사장치.And the guide bar has a rod shape extending in a specific direction to include the plurality of pogo blocks. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 포고핀은 The pogo pin is 상기 포고블럭에 고정되는 원형 몸체와,A circular body fixed to the pogo block, 상기 포고블럭 상면에서 돌출되며 상기 테이프 캐리어 패키지의 패드들과 연결되는 상부핀과,An upper pin protruding from an upper surface of the pogo block and connected to pads of the tape carrier package; 상기 포고블럭의 하면에서 돌출되며 상기 가이드바의 홀을 경유하여 상기 인쇄회로기판의 패드들과 연결되는 하부핀으로 구성되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 점등검사장치.And a lower pin protruding from a lower surface of the pogo block and connected to pads of the printed circuit board via a hole of the guide bar. 제 2 항에 있어서,The method of claim 2, 상기 포고핀의 하부핀은 상기 가이드바의 두께보다 길이가 길게끔 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 점등검사장치.The lower pin of the pogo pin is a lighting inspection device for the liquid crystal display device, characterized in that the length is formed longer than the thickness of the guide bar. 삭제delete 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 테이프 캐리어 패키지의 각 패드들은 액정패널의 패드들과 접속되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 점등검사장치.And each pad of the tape carrier package is connected to pads of a liquid crystal panel. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 구동 직접회로를 상기 테이프 캐리어 패키지에 실장하기 전에 상기 포고블럭의 포고핀을 상기 인쇄회로기판과 테이프 캐리어 패키지의 패드들에 연결시켜 검사하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 점등검사장치. And a pogo pin of the pogo block is connected to the pads of the printed circuit board and the tape carrier package before the driving integrated circuit is mounted on the tape carrier package. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 포고핀은 상기 인쇄회로기판의 기수번째 패드들과 대응되어 정렬되는 제1 포고핀 정렬부와,The pogo pin is a first pogo pin aligning portion that is aligned to correspond to the odd pads of the printed circuit board, 상기 인쇄회로기판의 우수번째 패드들의 위치에 대응되어 정렬되는 제2 포고핀 정렬부로 구성되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 점등검사장치.And a second pogo pin alignment unit arranged to correspond to positions of even-numbered pads of the printed circuit board. 제 1 항에 있어서,The method of claim 1, 상기 가이드바는 상기 포고블럭과 상기 인쇄회로기판 사이에 설치되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 점등검사장치.The guide bar is a lighting test device for a liquid crystal display device, characterized in that provided between the pogo block and the printed circuit board. 제 8 항에 있어서,The method of claim 8, 상기 가이드바에 형성된 상기 하나 이상의 홀은 상기 포고핀의 위치에 대응되도록 형성되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치용 점등검사장치.The one or more holes formed in the guide bar are formed so as to correspond to the position of the pogo pin.
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