KR20140098937A - Liquid crystal display device and Method for manufacturing the same - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a liquid crystal display device comprising: a lower substrate including a pixel region in which gate lines and data lines are mutually intersected and a thin film transistor formed in the pixel region; an upper substrate which is oppositely attached to the lower substrate to expose one end of the lower substrate; a chip on glass (COG) module which is formed in an exposure region of one end of the lower substrate exposed by the upper substrate and to which the data lines are connected; a flexible printed circuit (FPC) module which is formed in the exposed region of the lower substrate and includes a first test pad and a second test pad for checking a defect of a circuit formed on the lower substrate; and a connection line module which connects the data lines of the COG module to the FPC module. The connection line module includes: color lines connected to the data lines; data pad open test lines separately connected to odd data lines and even data lines among the data lines; and a switching transistor which is formed between the color lines and the data pad open test lines to switch a connection between the color lines and the data pad open test lines. According to the present invention, it is possible to realize a narrow bezel without adding a special line, thereby manufacturing the small sized, lightweight liquid crystal display device.

Description

액정표시장치 및 그의 제조방법{Liquid crystal display device and Method for manufacturing the same}[0001] The present invention relates to a liquid crystal display device and a manufacturing method thereof,

본 발명은 액정표시장치 및 그의 제조방법에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid crystal display and a method of manufacturing the same.

본 발명은 액정표시소자에 관한 것으로, 특히 오토프로브 검사시 테스트신호를 패드에 인가하는 트랜지스터의 게이트에 저전위 단자를 연결하여 오토프로부 검사후 트랜지스터의 누설전류로 인한 화질저하를 방지할 수 있는 액정표시소자에 관한 것이다.The present invention relates to a liquid crystal display device and, more particularly, to a liquid crystal display device capable of preventing deterioration in image quality due to leakage current of a transistor after inspection of an autoclave portion by connecting a low potential terminal to a gate of a transistor, To a liquid crystal display element.

일반적으로, 화상정보를 화면에 나타내는 화상표시장치들 중에서 박막형 평판표시장치가 가볍고 어느 장소에든지 쉽게 사용할수 있다는 장점 때문에 근래에 집중적인 개발의 대상이 되고 있다. 이러한 평판표시장치중에서 특히 액정 표시소자는 해상도가 높고 동화상을 실현하기에 충분할 만큼 반응속도가 빠르기 때문에, 가장 활발한 연구가 이루어지고 있는 제품이다.2. Description of the Related Art [0002] In general, thin film flat panel displays among image display apparatuses displaying image information on a screen are light and easy to use anywhere. Of these flat panel display devices, liquid crystal display devices are the products that have been most actively researched because of their high resolution and fast reaction speed enough to realize moving images.

상기 액정표시소자는 액정의 광학적 이방성과 분극성질을 이용하여 화상을 표시한다. 즉, 방향성을 갖고 있는 액정분자의 배향방향을 분극성을 이용하여 인위적으로 조절하면, 액정의 배향방향에 따른 광학적 이방성에 의해 빛을 투과 및 차단시킬 수 있게 되며, 이와 같은 현상을 응용하여 화상을 표시하는 것이다.The liquid crystal display element displays an image using the optical anisotropy and polarization properties of the liquid crystal. That is, when the alignment direction of liquid crystal molecules having directionality is artificially adjusted by using polarizability, light can be transmitted and blocked by optical anisotropy according to the alignment direction of the liquid crystal. By applying such a phenomenon, It is to display.

상기한 바와 같은 액정 표시소자는 복수의 화소가 매트릭스형태로 배열되는 액정패널과, 상기 화소를 구동시키는 게이트구동부와 데이터구동부를 구비한다.The liquid crystal display device includes a liquid crystal panel in which a plurality of pixels are arranged in a matrix form, and a gate driver and a data driver for driving the pixels.

상기 액정패널은 균일한 셀-갭이 유지되도록 합착된 박막트랜지스터 어레이(thin film transistor array)기판 및 컬러필터(color filter)기판과, 상기 컬러필터기판 및 박막트랜지스터 어레이기판 사이에 일정한 셀-갭으로 형성된 액정층으로 구성된다.The liquid crystal panel includes a thin film transistor array substrate and a color filter substrate bonded together so as to maintain a uniform cell gap and a liquid crystal layer between the color filter substrate and the thin film transistor array substrate, And a liquid crystal layer formed thereon.

상기 박막트랜지스터 어레이기판과 컬러필터기판이 합착된 표시패널에는 공통전극과 화소전극이 형성되어 상기 액정층에 전계를 인가한다.A common electrode and a pixel electrode are formed on a display panel in which the thin film transistor array substrate and the color filter substrate are bonded together to apply an electric field to the liquid crystal layer.

따라서, 상기 공통전극에 전압이 인가된 상태에서 상기 화소전극에 인가되는 화상정보의 전압을 제어하게 되면, 상기 액정층의 액정은 상기 공통전극과 화소전극 사이의 전계에 따라 유전이방성에 의해 회전함으로써, 화소별로 빛을 투과시키거나 차단시켜 문자나 화상을 표시하게 된다.Therefore, when the voltage of the image information applied to the pixel electrode is controlled in the state where the voltage is applied to the common electrode, the liquid crystal of the liquid crystal layer is rotated by the dielectric anisotropy according to the electric field between the common electrode and the pixel electrode , The light is transmitted or blocked for each pixel to display a character or an image.

상기한 바와같은 액정표시소자는 상기 게이트구동부 및 데이터구동부가 결합되기 전의 표시패널 상태에서 검사를 실시하여 불량여부를 확인하고 있다. 이와 같은 검사를 통상 오토프로브(auto-probe) 검사라 지칭한다.The liquid crystal display element as described above is inspected in the state of the display panel before the gate driver and the data driver are coupled to check whether there is a defect. Such an inspection is generally referred to as an auto-probe inspection.

도 1은 상기와 같은 액정패널의 개략적인 구조를 나타내는 평면도이다.1 is a plan view showing a schematic structure of a liquid crystal panel as described above.

도 1에 도시된 바와 같이, 액정패널은 복수의 화소가 매트릭스형태로 배열되는 화상표시부(13)와, 패드영역에 형성되어 상기 화상표시부(13)에 형성된 복수의 게이트라인과 접속되는 복수의 게이트패드(14) 및 복수의 데이터라인과 접속되는 복수의 데이터패드(15)로 구성된다. 이때, 게이트패드(14)와 데이터패드(15)는 컬러필터기판(2)과 중첩되지 않는 박막트랜지스터 어레이기판(1)의 외곽에 형성되며, 상기 게이트패드(14)는 게이트구동부로부터 공급되는 주사신호를 화상표시부(13)의 게이트라인에 공급하고, 상기 데이터패드(15)는 데이터구동부로부터 공급되는 화상정보를 화상표시부(13)의 데이터라인에 공급한다.1, the liquid crystal panel includes an image display unit 13 in which a plurality of pixels are arranged in a matrix form, a plurality of gate electrodes (not shown) connected to a plurality of gate lines formed in the image display unit 13, A pad 14 and a plurality of data pads 15 connected to the plurality of data lines. At this time, the gate pad 14 and the data pad 15 are formed on the outer periphery of the thin film transistor array substrate 1 which is not overlapped with the color filter substrate 2, and the gate pad 14, And supplies the signal to the gate line of the image display unit 13. The data pad 15 supplies the image information supplied from the data driver to the data line of the image display unit 13. [

도면에는 도시하지 않았지만, 상기 박막트랜지스터 어레이기판(1)과 컬러필터기판(2)은 상기 화상표시부(113)의 외곽에 형성된 실패턴(seal pattern)에 의해 일정한 셀-갭(cell-gap)이 유지되도록 합착되어 액정패널을 형성하게 된다.Although not shown in the drawing, the thin film transistor array substrate 1 and the color filter substrate 2 have a certain cell-gap by a seal pattern formed on the outer periphery of the image display unit 113 So as to form a liquid crystal panel.

전술한 바와 같이, 액정 표시소자는 상기 게이트구동부 및 데이터구동부가 결합되기 전에 액정패널 상태에서 검사를 실시하여 불량발생여부를 확인해야만 한다.As described above, the liquid crystal display element must be inspected in the state of the liquid crystal panel before the gate driver and the data driver are coupled to check whether a defect has occurred.

상기 액정패널을 검사하기 위해서는 모든 게이트패드(14)와 데이터패드(15)를 통해 액정패널의 게이트라인과 데이터라인에 테스트신호를 인가함으로써, 액정패널의 이상여부를 검사한다.In order to inspect the liquid crystal panel, a test signal is applied to the gate line and the data line of the liquid crystal panel through all the gate pads 14 and the data pad 15 to check whether the liquid crystal panel is abnormal.

테스트신호의 인가는 게이트패드(14)와 데이터패드(15)에 연결된 게이트테스트패드(24)와 데이터테스트패드(25)를 통해 이루어진다. 상기 게이트 테스트패드(24)와 데이터 테스트패드(25)는 니들(도면표시하지 않음)이 접촉함에 따라 테스트신호(즉, 구동신호)가 인가되며, 이 신호가 각각 게이트패드(14) 및 데이터패드(15)를 통해 게이트라인과 데이터라인에 인가된다.The test signal is applied through the gate test pad 24 and the data test pad 25 connected to the gate pad 14 and the data pad 15. The gate test pad 24 and the data test pad 25 are supplied with a test signal (that is, a drive signal) as the needles (not shown) contact each other, Lt; RTI ID = 0.0 > 15 < / RTI >

도 2는 도 1에 도시된 게이트패드영역의 테스트패드의 구조를 나타내는 도면이다. 이때, 액정표시소자의 오토프로브 검사 방식은 트랜지스터 방식이다. 2 is a view showing a structure of a test pad of the gate pad region shown in FIG. At this time, the auto-probe inspection method of the liquid crystal display device is transistor type.

도 2에 도시된 바와 같이, 데이터 테스트패드(25)는 데이터패드(15)와 연결되어 있고, 상기 테스트패드(25)와 데이터패드(15) 사이에는 각각 트랜지스터(35)가 구비되어 있다. 이때, 상기 트랜지스터(35)의 소스는 테스트패드(25)와 연결되고 드레인은 데이터패드(15)와 연결된다.2, the data test pad 25 is connected to a data pad 15, and a transistor 35 is provided between the test pad 25 and the data pad 15, respectively. At this time, the source of the transistor 35 is connected to the test pad 25 and the drain is connected to the data pad 15.

또한, 트랜지스터(35)의 게이트는 인에이블패드(30)에 연결되어 있다. 상기 인에이블패드(30)는 니들이 접촉함에 따라 인에이블신호가 입력되어 상기 트랜지스터(35)를 턴온시킴으로써 액정표시소자를 오토프로브를 검사하기 위한 것이다.The gate of the transistor 35 is connected to the enable pad 30. The enable pad 30 is for inspecting the liquid crystal display device with the auto-probe by turning on the transistor 35 by receiving an enable signal as the needles contact.

상기와 같은 구조의 액정표시소자에서, 니들이 인에이블패드(30) 및 테스트패드(25)에 접촉하여 인에이블신호와 테스트신호를 공급하면, 상기 인에이블신호에 의해 트랜지스터(35)가 턴온되어 테스트신호가 상기 트랜지스터를 거쳐 데이터패드(15)에 인가되어 데이터라인에 테스트신호가 공급된다. 이 테스트신호가 공급됨에 따라 각 화소의 점등상태를 파악하여 액정패널의 불량여부를 검사하게 된다.In the liquid crystal display device having the above structure, when the needle contacts the enable pad 30 and the test pad 25 and supplies the enable signal and the test signal, the transistor 35 is turned on by the enable signal, A signal is applied to the data pad 15 through the transistor to supply a test signal to the data line. As the test signal is supplied, the lighting state of each pixel is grasped to check whether the liquid crystal panel is defective or not.

그런데, 상기와 같은 구조의 액정패널에서는 다음과 같은 문제가 발생한다.However, the following problems arise in the liquid crystal panel having such a structure.

니들, 즉 프로브 프레임의 프로브는 신호를 입력하기 위한 패드에 대응되도록 정렬되어야 하는데, 신호선의 수가 증가함에 따라 패드의 크기가 증가되면, 어레이 기판(1)의 외곽 테두리의 폭이 증가할 수 밖에 없어 네로우 베젤을 구현하기 어렵다.Needles, that is, probes of the probe frame must be aligned to correspond to the pads for inputting signals. If the size of the pads increases as the number of signal lines increases, the width of the outer rim of the array substrate 1 must increase Narrow bezel is difficult to implement.

본 발명은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하고자 고안된 것으로, 본 발명은 액정패널의 이상여부를 검사하는 패드를 설치하는 공간을 감소시켜 네로우 베젤을 구현한 액정표시장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a liquid crystal display in which a space for inserting a pad for checking abnormality of a liquid crystal panel is reduced to realize a narrow bezel.

본 발명은 상술한 바와 같은 목적을 달성하기 위해서, 게이트 라인 및 데이터 라인이 상호 교차하는 화소 영역 및 상기 화소 영역에 형성된 박막트랜지스터를 포함하는 하부 기판; 상기 하부 기판의 일단을 노출시키며 상기 하부 기판에 대향 합착된 상부 기판; 상기 상부 기판에 의해 노출된 상기 하부 기판 일단의 노출 영역에 형성되고 상기 데이터 라인이 연결된 칩온글라스(Chip On Glass; COG) 모듈; 상기 하부 기판의 노출된 영역에 형성되어 상기 하부 기판에 형성된 회로의 불량을 검사하기 위한 제1 검사 패드 및 제2 검사 패드를 포함하는 플랙서블 인쇄 회로(Flexible Printed Circuit; FPC) 모듈; 및 상기 칩온글라스 모듈의 데이터 라인을 플랙서블 인쇄 회로 모듈에 연결하는 연결 배선 모듈을 포함하고, 상기 연결 배선 모듈은, 상기 데이터 라인에 연결된 컬러 배선; 상기 데이터 라인 중 홀수번 째 데이터 라인과 짝수번 째 데이터 라인에 각각 분리되어 연결된 데이터 패드 오픈 검사 배선; 및 상기 컬러 배선 및 데이터 패드 오픈 검사 배선 사이에 형성되어 상기 컬러 배선 및 데이터 패드 오픈 검사 배선의 연결을 스위칭 하는 스위칭 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치를 제공한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a liquid crystal display comprising: a lower substrate including a pixel region in which gate lines and data lines cross each other, and a thin film transistor formed in the pixel region; An upper substrate exposed to one end of the lower substrate and bonded to the lower substrate; A chip on glass (COG) module formed in an exposed region of the one end of the lower substrate exposed by the upper substrate and connected with the data lines; A flexible printed circuit (FPC) module including a first test pad and a second test pad formed on an exposed region of the lower substrate to inspect a circuit formed on the lower substrate; And a connection wiring module connecting the data line of the chip-on-glass module to the flexible printed circuit module, wherein the connection wiring module comprises: a color wiring connected to the data line; An odd-numbered data line and an even-numbered data line; And a switching transistor formed between the color wiring and the data pad open inspection wiring and switching connection of the color wiring and the data pad open inspection wiring.

또한, 본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 칩온글라스 모듈, 플랙서블 인쇄 회로 모듈, 및 연결 배선 모듈은 상기 하부 기판 일단의 노출 영역에 형성되고, 상기 하부 기판의 나머지 단에는 형성되지 아니하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치를 제공한다.Further, in an embodiment of the present invention, the chip-on glass module, the flexible printed circuit module, and the connection and wiring module are formed in the exposed region of the lower substrate at one end and are not formed at the other end of the lower substrate A liquid crystal display device characterized by:

또한, 본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 컬러 배선은 상기 데이터 라인 중 적색 데이터 라인이 연결된 적색 배선, 상기 데이터 라인 중 녹색 데이터 라인이 연결된 녹색 배선, 및 상기 데이터 라인 중 청색 데이터 라인이 연결된 청색 배선을 포함하고, 상기 컬러 배선은 상기 제2 검사 패드에 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치를 제공한다.In one embodiment of the present invention, the color wiring may include a red wiring connected to a red data line among the data lines, a green wiring connected to a green data line among the data lines, and a blue wiring connected to a blue data line And the color wiring is connected to the second test pad.

또한, 본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 데이터 패드 오픈 검사 배선은 상기 데이터 라인 중 홀수번 째 배치된 홀수 데이터 라인이 연결된 홀수 배선, 및 상기 데이터 라인 중 짝수번 째 배치된 짝수 데이터 라인이 연결된 짝수 배선을 포함하고, 상기 데이터 패드 오픈 검사 배선은 상기 제1 검사 패드에 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치를 제공한다.Further, in the embodiment of the present invention, the data pad open inspection wiring may include odd-numbered wirings to which odd-numbered data lines arranged at odd-numbered positions are connected and odd-numbered data lines at even- And the data pad open inspection line is connected to the first test pad.

또한, 본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 스위칭 트랜지스터는, 상기 제1 검사 패드를 이용하여 제1 불량 검사를 실행하는 경우 턴 온되어 상기 데이터 라인 및 데이터 패드 오픈 검사 배선을 연결하고, 상기 제2 검사 패드를 이용하여 제2 불량 검사를 실행하는 경우 턴 오프되어 상기 컬러 배선 및 데이터 패트 오픈 검사 배선의 연결을 차단하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치를 제공한다.In one embodiment of the present invention, the switching transistor is turned on when the first defect inspection is performed using the first inspection pad to connect the data line and the data pad open inspection wiring, And when the second defect inspection is performed using the two inspection pads, the connection of the color wiring and the data pattern open inspection wiring is cut off.

또한, 본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제1 검사 패드는 상기 데이터 라인의 오픈 검사(Data Pad Open; DPO)를 수행하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치를 제공한다.According to an embodiment of the present invention, the first test pad performs a data pad open (DPO) of the data line.

또한, 본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 제2 검사 패드는 상기 데이터 라인의 컬러 패턴 검사를 수행하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치를 제공한다.In one embodiment of the present invention, the second test pad performs a color pattern inspection of the data line.

본 발명은 상술한 바와 같은 문제점을 해결하고자 고안된 것으로, 본 발명은 게이트 라인 및 데이터 라인이 상호 교차하는 화소 영역 및 상기 화소 영역에 형성된 박막트랜지스터를 포함하는 하부 기판, 상기 하부 기판의 일단을 노출시키며 상기 하부 기판에 대향 합착된 상부 기판, 상기 상부 기판에 의해 노출된 상기 하부 기판 일단의 노출 영역에 형성되고 상기 데이터 라인이 연결된 칩온글라스(Chip On Glass; COG) 모듈, 상기 하부 기판의 노출된 영역에 형성되어 상기 하부 기판에 형성된 회로의 불량을 검사하기 위한 제1 검사 패드 및 제2 검사 패드를 포함하는 플랙서블 인쇄 회로(Flexible Printed Circuit; FPC) 모듈, 및 상기 칩온글라스 모듈의 데이터 라인을 플랙서블 인쇄 회로 모듈에 연결하는 연결 배선 모듈을 포함하는 액정표시장치에서, 상기 데이터 라인에 연결된 컬러 배선 및 상기 데이터 라인 중 홀수번 째 데이터 라인과 짝수번 째 데이터 라인에 각각 분리되어 연결된 데이터 패드 오픈 검사 배선 사이에 형성되어 상기 컬러 배선 및 데이터 패드 오픈 검사 배선의 연결을 스위칭 하는 스위칭 트랜지스터를 턴온하여 상기 제1 검사 패드를 통해 상기 데이터 라인의 오픈 검사(Data Pad Open; DPO)를 수행하는 단계; 상기 스위칭 트랜지스터를 턴오프하여 상기 컬러 배선에 연결된 상기 제2 검사 패드를 통해 상기 데이터 라인의 컬러 패턴 검사를 수행하는 단계; 및 상기 스위칭 트랜지스터 및 상기 컬러 배선 사이에 형성된 데이터 라인을 레이저로 트리밍하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 제조방법을 제공한다.According to an aspect of the present invention, there is provided a liquid crystal display device including: a lower substrate including a pixel region in which gate lines and data lines cross each other and a thin film transistor formed in the pixel region; A chip on glass (COG) module formed on an exposed region of one end of the lower substrate exposed by the upper substrate and connected to the data lines, an exposed region of the lower substrate, A flexible printed circuit (FPC) module including a first inspection pad and a second inspection pad formed on the lower substrate and inspecting a defect of a circuit formed on the lower substrate, In a liquid crystal display device including a connection wiring module for connecting to a flexible printed circuit module, And switching between the connection of the color wiring and the data pad open inspection wiring formed between the odd-numbered data line and the even-numbered data line among the data lines, Turning on the transistor and performing a data pad open (DPO) of the data line through the first test pad; Turning off the switching transistor to perform a color pattern check of the data line through the second test pad connected to the color line; And trimming the data line formed between the switching transistor and the color wiring with a laser.

또한, 본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 오픈 검사를 수행하는 단계는, 데이터 인에이블 신호에 따라 상기 스위칭 트랜지스터를 턴온하고, 상기 데이터 라인 중 홀수번 째 배치된 홀수 데이터 라인이 연결된 홀수 배선을 통해 상기 홀수 데이터 라인의 오픈 검사를 수행하고, 및 상기 데이터 라인 중 짝수번 째 배치된 짝수 데이터 라인이 연결된 짝수 배선을 통해 상기 짝수 데이터 라인의 오픈 검사를 수행하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 제조방법을 제공한다.In one embodiment of the present invention, the step of performing the open test may include turning on the switching transistor according to a data enable signal, turning on odd-numbered wirings to which odd- Numbered data lines connected to even-numbered data lines arranged in even-numbered positions, and performing an open inspection of the odd-numbered data lines through even-numbered wirings connected to even-numbered data lines arranged at even- ≪ / RTI >

또한, 본 발명의 일 실시예에 있어서, 상기 컬러 패턴 검사를 수행하는 단계는, 상기 스위칭 트랜지스터를 턴오프하고, 상기 데이터 라인 중 적색 데이터 라인이 연결된 적색 배선을 통해 적색 구동 검사를 수행하고, 상기 데이터 라인 중 녹색 데이터 라인이 연결된 녹색 배선을 통해 녹색 구동 검사를 수행하고, 상기 데이터 라인 중 청색 데이터 라인이 연결된 청색 배선을 통해 청색 구동 검사를 수행하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 제조방법을 제공한다.In one embodiment of the present invention, the step of performing the color pattern inspection may include: turning off the switching transistor, performing a red driving test through a red wiring of the data lines connected to the red data line, The blue driving test is performed through the green wiring connected to the green data line among the data lines and the blue driving test is performed through the blue wiring connected to the blue data line among the data lines. do.

본 발명에 따르면, 다음과 같은 효과를 얻을 수 있다.According to the present invention, the following effects can be obtained.

본 발명은 우선, 별도의 배선 추가 없이 하나의 데이터 라인의 연장선을 이용하여 액정표시장치의 DPO 불량 검사 및 컬러 구동 검사를 수행할 수 있는 효과가 있다.The present invention has the effect of performing DPO defect inspection and color drive inspection of the liquid crystal display device by using extension lines of one data line without adding additional wiring.

또한, 별도의 배선을 추가할 필요가 없어 네로우 베젤을 구현할 수 있어 소형화 및 경량화된 액정표시장치를 제조할 수 있는 효과가 있다.Further, there is no need to additionally provide additional wiring, so that a narrow bezel can be realized, thereby making it possible to manufacture a miniaturized and lightweight liquid crystal display device.

도 1은 상기와 같은 액정패널의 개략적인 구조를 나타내는 평면도이다.
도 2는 도 1에 도시된 게이트 패드 영역의 테스트패드의 구조를 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명에 따른 액정표시장치의 일 실시예를 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명에 따른 액정표시장치의 일 실시예에 있어서 연결 배선 모듈의 일 실시예를 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명에 따른 액정표시장치의 제조방법의 일 실시예를 나타내는 순서도이다.1 is a plan view showing a schematic structure of a liquid crystal panel as described above.
2 is a view showing a structure of a test pad of the gate pad region shown in FIG.
3 is a view showing an embodiment of a liquid crystal display device according to the present invention.
4 is a view showing an embodiment of a connection and wiring module in an embodiment of the liquid crystal display device according to the present invention.
5 is a flowchart showing an embodiment of a method of manufacturing a liquid crystal display device according to the present invention.

이하에서는 본 발명에 따른 액정표시장치 및 그 제조방법을 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.Hereinafter, a liquid crystal display device and a manufacturing method thereof according to the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

본 발명의 실시예를 설명함에 있어서 어떤 구조물이 다른 구조물의 "상에" 또는 "아래에" 형성된다고 기재된 경우, 이러한 기재는 이 구조물들이 서로 접촉되어 있는 경우는 물론이고 이들 구조물들 사이에 제3의 구조물이 개재되어 있는 경우까지 포함하는 것으로 해석되어야 한다.In describing an embodiment of the present invention, when it is stated that a structure is formed "on" or "under" another structure, such a substrate is not limited to the case where these structures are in contact with each other, The present invention is not limited thereto.

도 3은 본 발명에 따른 액정표시장치의 일 실시예를 나타내는 도면이다.3 is a view showing an embodiment of a liquid crystal display device according to the present invention.

도 3에서 알 수 있듯이, 본 발명에 따른 액정표시장치(100)의 일 실시예는 하부 기판(110), 상부 기판(120), 칩온글라스 모듈(210), 플랙서블 인쇄 회로 모둘(220), 및 연결 배선 모듈(230)을 포함한다.3, the liquid crystal display 100 according to an exemplary embodiment of the present invention includes a lower substrate 110, an upper substrate 120, a chip-on glass module 210, flexible printed circuit modules 220, And a connection and wiring module 230.

하부 기판(110)은 게이트 라인 및 데이터 라인이 상호 교차하는 화소 영역 및 상기 화소 영역에 형성된 박막트랜지스터를 포함한다.The lower substrate 110 includes a pixel region in which gate lines and data lines cross each other, and a thin film transistor formed in the pixel region.

상부 기판(120)은 상기 하부 기판(110)의 일단을 노출시키며 상기 하부 기판(110)에 대향 합착된다.The upper substrate 120 exposes one end of the lower substrate 110 and is adhered to the lower substrate 110.

칩온글라스 모듈(210)은 상기 상부 기판(120)에 의해 노출된 상기 하부 기판(110) 일단의 노출 영역에 형성되고 상기 데이터 라인이 연결된다.The chip-on-glass module 210 is formed in an exposed region of the lower substrate 110 exposed by the upper substrate 120, and the data lines are connected.

플랙서블 인쇄 회로 모둘(220)은 상기 하부 기판(110)의 노출된 영역에 형성되어 상기 하부 기판(110)에 형성된 회로의 불량을 검사하기 위한 제1 검사 패드 및 제2 검사 패드를 포함한다.The flexible printed circuit module 220 includes a first test pad and a second test pad formed in an exposed region of the lower substrate 110 to inspect a circuit formed in the lower substrate 110.

연결 배선 모듈(230)은 상기 칩온글라스 모듈(210)의 데이터 라인을 플랙서블 인쇄 회로 모듈에 연결한다.The connection and wiring module 230 connects the data lines of the chip-on-glass module 210 to the flexible printed circuit module.

이때, 상기 칩온글라스 모듈(210), 플랙서블 인쇄 회로 모듈(220), 및 연결 배선 모듈(230)은 상기 하부 기판(110) 일단의 노출 영역에 형성되고, 상기 하부 기판(110)의 나머지 단에는 형성되지 아니하므로, 불필요한 데이터 배선의 연장을 피할 수 있어 액정표시장치(100)를 네로우 베젤로 구현할 수 있다.The chip-on-glass module 210, the flexible printed circuit module 220, and the connection wiring module 230 are formed in the exposed region of the lower substrate 110, The unnecessary extension of the data line can be avoided and the liquid crystal display device 100 can be realized as a narrow bezel.

도 4는 본 발명에 따른 액정표시장치의 일 실시예에 있어서 연결 배선 모듈의 일 실시예를 나타내는 도면이다.4 is a view showing an embodiment of a connection and wiring module in an embodiment of the liquid crystal display device according to the present invention.

도 4에서 알 수 있듯이, 일 실시예에 있어서, 연결 배선 모듈(230)은 컬러 배선(231), 데이터 패드 오픈 검사 배선(233), 및 스위칭 트랜지스터(235)를 포함한다.4, the connection wiring module 230 includes a color wiring 231, a data pad open inspection wiring 233, and a switching transistor 235. In this embodiment,

컬러 배선(231)은 상기 데이터 라인에 연결된다.The color wiring 231 is connected to the data line.

컬러 컬러 배선(231)은 상기 데이터 라인 중 적색 데이터 라인이 연결된 적색 배선, 상기 데이터 라인 중 녹색 데이터 라인이 연결된 녹색 배선, 및 상기 데이터 라인 중 청색 데이터 라인이 연결된 청색 배선을 포함하고, 상기 컬러 배선(231)은 상기 제2 검사 패드에 연결된다.The color wiring 231 includes a red wiring connected to a red data line among the data lines, a green wiring connected to a green data line among the data lines, and a blue wiring connected to a blue data line among the data lines, (231) is connected to the second test pad.

데이터 패드 오픈 검사 배선(233)은 상기 데이터 라인 중 홀수번 째 데이터 라인과 짝수번 째 데이터 라인에 각각 분리되어 연결된다.The data pad open test lines 233 are connected to odd-numbered data lines and even-numbered data lines, respectively, of the data lines.

데이터 패드 오픈 검사 배선(233)은 상기 데이터 라인 중 홀수번 째 배치된 홀수 데이터 라인이 연결된 홀수 배선, 및 상기 데이터 라인 중 짝수번 째 배치된 짝수 데이터 라인이 연결된 짝수 배선을 포함하고, 상기 데이터 패드 오픈 검사 배선(233)은 상기 제1 검사 패드에 연결된다. The data pad open inspection wiring 233 includes odd-numbered wirings to which odd-numbered data lines arranged at odd-numbered positions of the data lines are connected, and even-numbered wirings to which even-numbered data lines arranged at odd- An open inspection wiring 233 is connected to the first inspection pad.

스위칭 트랜지스터(235)는 상기 컬러 배선(231) 및 데이터 패드 오픈 검사 배선(233) 사이에 형성되어 상기 컬러 배선(231) 및 데이터 패드 오픈 검사 배선(233)의 연결을 스위칭 한다.The switching transistor 235 is formed between the color wiring 231 and the data pad open inspection wiring 233 to switch the connection of the color wiring 231 and the data pad open inspection wiring 233.

스위칭 트랜지스터(235)는 상기 제1 검사 패드를 이용하여 제1 불량 검사를 실행하는 경우 턴 온되어 상기 데이터 라인 및 데이터 패드 오픈 검사 배선(233)을 연결하고, 상기 제2 검사 패드를 이용하여 제2 불량 검사를 실행하는 경우 턴 오프되어 상기 컬러 배선(231) 및 데이터 패트 오픈 검사 배선의 연결을 차단한다. The switching transistor 235 is turned on when the first defect inspection is performed using the first inspection pad to connect the data line and the data pad open inspection wiring 233, 2 defective inspection is executed, the connection of the color wiring 231 and the data pat open inspection wiring is cut off.

제1 검사 패드는 상기 데이터 라인의 오픈 검사(Data Pad Open; DPO)를 수행한다.The first test pad performs a data pad open (DPO) of the data line.

제2 검사 패드는 상기 데이터 라인의 컬러 패턴 검사를 수행한다. 컬러 패턴 검사는 액정표시장치(100)에 적색, 녹색, 청색, 화이트, 및 그레이를 각각 표시하여 화소의 불량을 검사하는 것을 말한다.
And the second test pad performs color pattern inspection of the data line. The color pattern inspection refers to inspection of defective pixels by displaying red, green, blue, white, and gray on the liquid crystal display device 100, respectively.

<액정표시장치의 제조방법><Manufacturing Method of Liquid Crystal Display Device>

도 5는 본 발명에 따른 액정표시장치의 제조방법의 일 실시예를 나타내는 순서도이다.5 is a flowchart showing an embodiment of a method of manufacturing a liquid crystal display device according to the present invention.

이때, 상기 액정표시장치는 게이트 라인 및 데이터 라인이 상호 교차하는 화소 영역 및 상기 화소 영역에 형성된 박막트랜지스터를 포함하는 하부 기판, 상기 하부 기판의 일단을 노출시키며 상기 하부 기판에 대향 합착된 상부 기판, 상기 상부 기판에 의해 노출된 상기 하부 기판 일단의 노출 영역에 형성되고 상기 데이터 라인이 연결된 칩온글라스(Chip On Glass; COG) 모듈, 상기 하부 기판의 노출된 영역에 형성되어 상기 하부 기판에 형성된 회로의 불량을 검사하기 위한 제1 검사 패드 및 제2 검사 패드를 포함하는 플랙서블 인쇄 회로(Flexible Printed Circuit; FPC) 모듈, 및 상기 칩온글라스 모듈의 데이터 라인을 플랙서블 인쇄 회로 모듈에 연결하는 연결 배선 모듈을 포함한다.Here, the liquid crystal display may include a lower substrate including a thin film transistor formed in the pixel region and a pixel region where gate lines and data lines cross each other, an upper substrate exposed to one side of the lower substrate, A chip on glass (COG) module formed in an exposed region of the lower substrate exposed by the upper substrate and connected to the data lines, a circuit formed on an exposed region of the lower substrate, A flexible printed circuit (FPC) module including a first inspection pad and a second inspection pad for inspecting defects, and a connection wiring module for connecting the data lines of the chip-on-glass module to the flexible printed circuit module .

도 5에서 알 수 있듯이, 본 발명에 따른 액정표시장치의 제조방법의 일 실시예는 우선, 데이터 라인과 짝수번 째 데이터 라인에 각각 분리되어 연결된 데이터 패드 오픈 검사 배선 사이에 형성되어 상기 컬러 배선 및 데이터 패드 오픈 검사 배선의 연결을 스위칭 하는 스위칭 트랜지스터를 턴온하여 상기 제1 검사 패드를 통해 상기 데이터 라인의 오픈 검사(Data Pad Open; DPO)를 수행하는 단계(S1100)를 실행한다.5, an embodiment of a method of manufacturing a liquid crystal display according to an embodiment of the present invention is first formed between data line open inspection wirings separately connected to a data line and an even-numbered data line, A step S1100 of turning on a switching transistor for switching connection of a data pad open inspection wiring and performing a data pad open (DPO) of the data line through the first inspection pad is executed.

상기 오픈 검사를 수행하는 단계는, 데이터 인에이블 신호에 따라 상기 스위칭 트랜지스터를 턴온하고, 상기 데이터 라인 중 홀수번 째 배치된 홀수 데이터 라인이 연결된 홀수 배선을 통해 상기 홀수 데이터 라인의 오픈 검사를 수행하고, 및 상기 데이터 라인 중 짝수번 째 배치된 짝수 데이터 라인이 연결된 짝수 배선을 통해 상기 짝수 데이터 라인의 오픈 검사를 수행할 수 있다.Performing the open test may include turning on the switching transistors according to a data enable signal and performing an open test of the odd data lines through odd-numbered wirings to which odd-numbered data lines arranged in the odd-numbered data lines are connected And even-numbered data lines connected to even-numbered data lines among the data lines are connected to the even-numbered data lines.

다음, 상기 스위칭 트랜지스터를 턴오프하여 상기 컬러 배선에 연결된 상기 제2 검사 패드를 통해 상기 데이터 라인의 컬러 패턴 검사를 수행하는 단계(S1200)를 실행한다.Next, the switching transistor is turned off to perform a color pattern inspection of the data line through the second inspection pad connected to the color line (S1200).

상기 컬러 패턴 검사를 수행하는 단계는, 상기 스위칭 트랜지스터를 턴오프하고, 상기 데이터 라인 중 적색 데이터 라인이 연결된 적색 배선을 통해 적색 구동 검사를 수행하고, 상기 데이터 라인 중 녹색 데이터 라인이 연결된 녹색 배선을 통해 녹색 구동 검사를 수행하고, 상기 데이터 라인 중 청색 데이터 라인이 연결된 청색 배선을 통해 청색 구동 검사를 수행할 수 있다.The performing of the color pattern inspection may include turning off the switching transistor, performing a red driving test through a red wiring of the data lines connected to the red data line, And a blue driving test may be performed through a blue wiring of the data lines to which a blue data line is connected.

다음, 상기 스위칭 트랜지스터 및 상기 컬러 배선 사이에 형성된 데이터 라인을 레이저로 트리밍하는 단계(S1300)를 실행한다.Next, a step (S1300) of trimming a data line formed between the switching transistor and the color wiring with a laser is executed.

본 발명이 속하는 기술분야의 당업자는 상술한 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적 구성을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다.It will be understood by those skilled in the art that the present invention can be embodied in other specific forms without departing from the spirit or essential characteristics thereof.

그러므로, 이상에서 기술한 실시예들은 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해하여야 한다. 본 발명의 범위는 상기 상세한 설명보다는 후술하는 특허청구범위에 의하여 나타내어지며, 특허청구범위의 의미 및 범위 그리고 등가 개념으로부터 도출되는 모든 변경 또는 변형된 형태가 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 한다.Therefore, it should be understood that the above-described embodiments are illustrative in all aspects and not restrictive. The scope of the present invention is defined by the appended claims rather than the detailed description and all changes or modifications derived from the meaning and scope of the claims and from the equivalent concept are to be construed as being included in the scope of the present invention .

100 : 액정표시장치
110 : 상부 기판
120 : 하부 기판
210 : 칩온글라스 모듈
220 : 플랙서블 인쇄 회로 모듈
230 : 연결 배선 모듈100: liquid crystal display
110: upper substrate
120: Lower substrate
210: Chip-on Glass Module
220: Flexible Printed Circuit Module
230: Connection wiring module

Claims (10)

게이트 라인 및 데이터 라인이 상호 교차하는 화소 영역 및 상기 화소 영역에 형성된 박막트랜지스터를 포함하는 하부 기판;
상기 하부 기판의 일단을 노출시키며 상기 하부 기판에 대향 합착된 상부 기판;
상기 상부 기판에 의해 노출된 상기 하부 기판 일단의 노출 영역에 형성되고 상기 데이터 라인이 연결된 칩온글라스(Chip On Glass; COG) 모듈;
상기 하부 기판의 노출된 영역에 형성되어 상기 하부 기판에 형성된 회로의 불량을 검사하기 위한 제1 검사 패드 및 제2 검사 패드를 포함하는 플랙서블 인쇄 회로(Flexible Printed Circuit; FPC) 모듈; 및
상기 칩온글라스 모듈의 데이터 라인을 플랙서블 인쇄 회로 모듈에 연결하는 연결 배선 모듈을 포함하고,
상기 연결 배선 모듈은,
상기 데이터 라인에 연결된 컬러 배선;
상기 데이터 라인 중 홀수번 째 데이터 라인과 짝수번 째 데이터 라인에 각각 분리되어 연결된 데이터 패드 오픈 검사 배선; 및
상기 컬러 배선 및 데이터 패드 오픈 검사 배선 사이에 형성되어 상기 컬러 배선 및 데이터 패드 오픈 검사 배선의 연결을 스위칭 하는 스위칭 트랜지스터를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.A lower substrate including a pixel region in which gate lines and data lines cross each other, and a thin film transistor formed in the pixel region;
An upper substrate exposed to one end of the lower substrate and bonded to the lower substrate;
A chip on glass (COG) module formed in an exposed region of the one end of the lower substrate exposed by the upper substrate and connected with the data lines;
A flexible printed circuit (FPC) module including a first test pad and a second test pad formed on an exposed region of the lower substrate to inspect a circuit formed on the lower substrate; And
And a connection wiring module connecting the data line of the chip-on-glass module to the flexible printed circuit module,
The connection /
A color wiring connected to the data line;
An odd-numbered data line and an even-numbered data line; And
And a switching transistor formed between the color wiring and the data pad open inspection wiring and switching connection of the color wiring and the data pad open inspection wiring. 제1항에 있어서,
상기 칩온글라스 모듈, 플랙서블 인쇄 회로 모듈, 및 연결 배선 모듈은 상기 하부 기판 일단의 노출 영역에 형성되고, 상기 하부 기판의 나머지 단에는 형성되지 아니하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.The method according to claim 1,
Wherein the chip-on glass module, the flexible printed circuit module, and the connection wiring module are formed in an exposed region of the lower substrate, and are not formed on the other end of the lower substrate. 제1항에 있어서,
상기 컬러 배선은 상기 데이터 라인 중 적색 데이터 라인이 연결된 적색 배선, 상기 데이터 라인 중 녹색 데이터 라인이 연결된 녹색 배선, 및 상기 데이터 라인 중 청색 데이터 라인이 연결된 청색 배선을 포함하고,
상기 컬러 배선은 상기 제2 검사 패드에 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.The method according to claim 1,
Wherein the color wiring includes a red wiring connected to a red data line among the data lines, a green wiring connected to a green data line among the data lines, and a blue wiring connected to a blue data line among the data lines,
And the color wiring is connected to the second test pad. 제1항에 있어서,
상기 데이터 패드 오픈 검사 배선은 상기 데이터 라인 중 홀수번 째 배치된 홀수 데이터 라인이 연결된 홀수 배선, 및 상기 데이터 라인 중 짝수번 째 배치된 짝수 데이터 라인이 연결된 짝수 배선을 포함하고,
상기 데이터 패드 오픈 검사 배선은 상기 제1 검사 패드에 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.The method according to claim 1,
The odd numbered data lines connected to odd-numbered data lines and odd-numbered data lines connected to odd-numbered data lines,
And the data pad open test line is connected to the first test pad. 제1항에 있어서,
상기 스위칭 트랜지스터는,
상기 제1 검사 패드를 이용하여 제1 불량 검사를 실행하는 경우 턴 온되어 상기 데이터 라인 및 데이터 패드 오픈 검사 배선을 연결하고,
상기 제2 검사 패드를 이용하여 제2 불량 검사를 실행하는 경우 턴 오프되어 상기 컬러 배선 및 데이터 패트 오픈 검사 배선의 연결을 차단하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.The method according to claim 1,
The switching transistor includes:
When the first defect inspection is performed using the first inspection pad, the data line and the data pad open inspection wiring are connected to each other,
And when the second defect inspection is performed using the second inspection pad, turning off the connection of the color wiring and the data patting open inspection wiring. 제1항에 있어서,
상기 제1 검사 패드는 상기 데이터 라인의 오픈 검사(Data Pad Open; DPO)를 수행하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.The method according to claim 1,
Wherein the first test pad performs a data pad open (DPO) of the data line. 제1항에 있어서,
상기 제2 검사 패드는 상기 데이터 라인의 컬러 패턴 검사를 수행하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.The method according to claim 1,
And the second inspection pad performs a color pattern inspection of the data line. 게이트 라인 및 데이터 라인이 상호 교차하는 화소 영역 및 상기 화소 영역에 형성된 박막트랜지스터를 포함하는 하부 기판, 상기 하부 기판의 일단을 노출시키며 상기 하부 기판에 대향 합착된 상부 기판, 상기 상부 기판에 의해 노출된 상기 하부 기판 일단의 노출 영역에 형성되고 상기 데이터 라인이 연결된 칩온글라스(Chip On Glass; COG) 모듈, 상기 하부 기판의 노출된 영역에 형성되어 상기 하부 기판에 형성된 회로의 불량을 검사하기 위한 제1 검사 패드 및 제2 검사 패드를 포함하는 플랙서블 인쇄 회로(Flexible Printed Circuit; FPC) 모듈, 및 상기 칩온글라스 모듈의 데이터 라인을 플랙서블 인쇄 회로 모듈에 연결하는 연결 배선 모듈을 포함하는 액정표시장치에서,
상기 데이터 라인에 연결된 컬러 배선 및 상기 데이터 라인 중 홀수번 째 데이터 라인과 짝수번 째 데이터 라인에 각각 분리되어 연결된 데이터 패드 오픈 검사 배선 사이에 형성되어 상기 컬러 배선 및 데이터 패드 오픈 검사 배선의 연결을 스위칭 하는 스위칭 트랜지스터를 턴온하여 상기 제1 검사 패드를 통해 상기 데이터 라인의 오픈 검사(Data Pad Open; DPO)를 수행하는 단계;
상기 스위칭 트랜지스터를 턴오프하여 상기 컬러 배선에 연결된 상기 제2 검사 패드를 통해 상기 데이터 라인의 컬러 패턴 검사를 수행하는 단계;
상기 스위칭 트랜지스터 및 상기 컬러 배선 사이에 형성된 데이터 라인을 레이저로 트리밍하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 제조방법.A lower substrate including a pixel region in which gate lines and data lines cross each other and a thin film transistor formed in the pixel region, an upper substrate exposed to one end of the lower substrate and bonded to the lower substrate, A chip on glass (COG) module formed in an exposed region of the lower substrate and connected to the data line, a first transistor formed in an exposed region of the lower substrate to inspect a circuit formed on the lower substrate, A liquid crystal display device including a flexible printed circuit (FPC) module including an inspection pad and a second inspection pad, and a connection wiring module connecting a data line of the chip-on-glass module to a flexible printed circuit module ,
Numbered data lines and odd-numbered data lines and the even-numbered data lines among the data lines, respectively, so as to switch connection of the color wiring and data pad open inspection wirings (DPO) of the data line through the first test pad by turning on a switching transistor to turn on the data line;
Turning off the switching transistor to perform a color pattern check of the data line through the second test pad connected to the color line;
And trimming the data line formed between the switching transistor and the color wiring with a laser. 제8항에 있어서,
상기 오픈 검사를 수행하는 단계는,
데이터 인에이블 신호에 따라 상기 스위칭 트랜지스터를 턴온하고, 상기 데이터 라인 중 홀수번 째 배치된 홀수 데이터 라인이 연결된 홀수 배선을 통해 상기 홀수 데이터 라인의 오픈 검사를 수행하고, 및 상기 데이터 라인 중 짝수번 째 배치된 짝수 데이터 라인이 연결된 짝수 배선을 통해 상기 짝수 데이터 라인의 오픈 검사를 수행하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 제조방법.9. The method of claim 8,
The step of performing the open-
And turning on the switching transistors according to a data enable signal to perform an open test of the odd data lines through odd-numbered wirings to which odd-numbered data lines arranged among odd-numbered data lines are connected, And performing an open inspection of the even-numbered data lines through even-numbered wirings connected to the arranged even-numbered data lines. 제8항에 있어서,
상기 컬러 패턴 검사를 수행하는 단계는,
상기 스위칭 트랜지스터를 턴오프하고, 상기 데이터 라인 중 적색 데이터 라인이 연결된 적색 배선을 통해 적색 구동 검사를 수행하고, 상기 데이터 라인 중 녹색 데이터 라인이 연결된 녹색 배선을 통해 녹색 구동 검사를 수행하고, 상기 데이터 라인 중 청색 데이터 라인이 연결된 청색 배선을 통해 청색 구동 검사를 수행하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 제조방법.9. The method of claim 8,
The step of performing the color pattern inspection may include:
The switching transistor is turned off, a red driving test is performed through a red wiring connected to a red data line among the data lines, a green driving test is performed through a green wiring connected to a green data line among the data lines, Wherein the blue driving test is performed through the blue wiring line of the line connected to the blue data line.
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