JP5439794B2 - 電子装置およびその製造方法 - Google Patents
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Description
サンプルB → Cu:99重量%、Sn0.1重量%であるCu−Sn合金
サンプルC → Cu:99重量%、Sn0.3重量%であるCu−Sn合金
サンプルD → Cu:97重量%、Sn2.3重量%であるCu−Sn合金。
11 リードフレームの母材
12 Niメッキ
20 電子部品
30 はんだ
40 合金層
Claims (4)
- 母材(11)がCu合金よりなるリードフレーム(10)と、
前記リードフレーム(10)に対向して配置された電子部品(20)と、を備え、
前記リードフレーム(10)と前記電子部品(20)とが、はんだ(30)を介して接合されてなる電子装置において、
前記はんだ(30)は、Sn−Cu合金を含むものであり、
前記リードフレーム(10)の前記母材(11)は、当該母材全体を100としたとき、Cuが97〜99、Snが0.3〜2.3の重量比であるCu−Sn合金よりなるものであり、
前記リードフレーム(10)の前記母材(11)と前記はんだ(30)との間には、Cuと前記はんだ(30)の成分との合金よりなる合金層(40)が介在しており、前記母材(11)と前記合金層(40)、前記はんだ(30)と前記合金層(40)はそれぞれ、直接接していることを特徴とする電子装置。 - 前記はんだ(30)は、Sn−Cu−Niの合金よりなることを特徴とする請求項1に記載の電子装置。
- Cu合金よりなる母材(11)の表面に、0.5μm以下の厚さのNiメッキ(12)が施されてなるリードフレーム(10)を用意し、
前記リードフレーム(10)に、はんだ(30)を介して電子部品(20)を接合する電子装置の製造方法であって、
前記はんだ(30)として、Sn−Cu合金を含むものを用い、
前記リードフレーム(10)の前記母材(11)として、当該母材全体を100としたとき、Cuが97〜99、Snが0.3〜2.3の重量比であるCu−Sn合金よりなるものを用いることを特徴とする電子装置の製造方法。 - 前記はんだ(30)として、Sn−Cu−Niの合金よりなるものを用いることを特徴とする請求項3に記載の電子装置の製造方法。
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