JP5428683B2 - 画像読取装置および画像形成装置 - Google Patents

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Description

本発明は、原稿からの反射光を光電変換素子によりアナログ画像信号に変換し、得られたアナログ画像信号に対しアナログ信号処理を施した後にアナログ/デジタル変換器でデジタル画像信号に変換して出力する画像読取装置、および、当該画像読取装置を備えた画像形成装置に関する。
近年、画像データの読取速度は高速化が計られており、これに伴い読取動作クロックの周波数も上がり、電磁波強度規制(FCC、VCCI等)に対してのEMI(Electoromagnetic Interference)対策が必須となっている。
このEMI対策として有効な手段として一般的にSSCG(Spectram Spread Clock Generator)が用いられている。これは動作クロック周波数に対して微小な範囲でゆっくりした周期で周波数変調を行うことでEMIスペクトラムを積分的に平坦化する手法である。
このSSCGを画像読取装置に適用した場合に、問題となっているのが、SSCGの変調の影響が画像上にあらわれてしまう問題である。これは光電変換素子として用いられるCCD(電荷結合素子)デバイスの駆動及びA/D(アナログ/デジタル変換器)の動作クロックに対してSSCGの変調がかかることにより、僅かではあるが画像のオフセットレベルがSSCGの変調周期と同期して変動してしまい、この影響が画像上で横スジや斜めスジなどといったスジPPとなって見えてしまう問題である(図12参照)。
このような問題を解決するために、例えば、特許文献1のように、画像信号中の変動成分を除去し、横スジが表れないようにするものが提案されている。
この特許文献1では、入射光を光電変換素子105によりアナログ画像信号に変換し、アナログ画像信号をアナログ・デジタル変換器でデジタル化して出力する機能を有する画像読み取り装置において、前記光電変換素子105を周波数変調されたクロックにより駆動し、前記クロックの周波数変化に応じて前記アナログ画像信号の変動と逆位相で同じ変動量の信号を画像信号に重畳する変動除去回路112を備えている(図13参照)。
上記の画像信号に重畳させる補正信号の振幅、位相はあらかじめ設定した状態の信号を生成し画像信号へ重畳するものであり、その実施例としてエミッタフォロワ接続されたトランジスタのバイアス電流を変化させる構成を備えている。
しかしながら、このような従来技術では、画像信号に重畳させる補正信号の振幅、位相はあらかじめ設定されているため、SSCGの影響によるオフセット変動がデバイス毎にばらついた場合には、対応できないという事態を生じるおそれがあった。
本発明は、かかる実情に鑑みてなされたものであり、SSCGの影響によるオフセット変動がデバイス毎にばらついた場合においても、読取画信号に現れるSSCGの影響を適切に補正できることができる画像読取装置および画像形成装置を提供すること目的とする。
この発明の画像読取装置は、原稿からの反射光を光電変換素子によりアナログ画像信号に変換し、得られたアナログ画像信号に対しアナログ信号処理を施した後にアナログ/デジタル変換器でデジタル画像信号に変換して出力する画像読取装置において、上記光電変換素子を周波数変調したクロックにより駆動する駆動手段と、上記周波数変調したクロックの周波数変化に応じたアナログ信号を生成する信号生成手段と、上記アナログ信号の交流成分を、外部から設定される設定値に対応した増幅率で増幅すると共に反転・非反転を切り替えることが可能な増幅反転手段と、上記アナログ画像信号と、上記増幅反転手段から出力されるアナログ信号とを重畳させる信号重畳手段と、該信号重畳手段により上記アナログ信号が重畳された上記アナログ画像信号を、上記アナログ/デジタル変換器によりデジタル画像信号に変換し、該デジタル画像信号に現れる特徴量に基いて、上記増幅反転手段の増幅率及び反転・非反転を制御する制御手段とを備え、上記増幅反転手段が、上記アナログ信号から振幅が同じで位相が逆相となる2つのアナログ信号を生成する基準信号生成手段と、上記基準信号生成手段が生成した2つのアナログ信号がおのおの基準電圧に供給されるデジタル/アナログ変換器とを有し、該デジタル/アナログ変換器に設定するデジタル値を切り替えることで増幅率及び反転・非反転を切り替えるようにしたものである。
上記増幅反転手段としては、外部から指定される上記設定値と、入力信号の増幅率との関係が線形な関係であるものを用いることができる。
上記制御手段は、所定の画像エリアにおける上記デジタル画像信号のピークボトム差の検出値を、上記特徴量とするとよい。
上記制御手段は、上記デジタル画像信号の複数ラインについての各読取位置での読取値の平均値に基いて、上記ピークボトム差を検出するとよい。
上記制御手段は、上記デジタル画像信号の各読取位置での読取値を基準として算出した移動平均値に基いて、上記ピークボトム差を検出するとよい。
上記基準信号生成手段は、上記アナログ信号の高周波成分をより増幅させる周波数特性を持った回路要素を備えるとよい。
上記光電変換素子は、複数チャネルに分割され、上記増幅反転手段の上記デジタル/アナログ変換器は、複数出力チャネルを備え、上記デジタル/アナログ変換器は、シリアル通信により各チャネルへのデジタル値を設定可能な汎用の変換器であってよい。
上記駆動手段は、周波数変調された基準クロックを入力するPLL回路を有し、上記信号生成手段は、上記PLL回路から出力されるクロック信号を周波数−電圧変換して、上記基準クロックの周波数変化に対応したアナログ信号を生成するとよい。
上記周波数−電圧変換は、上記PLL回路から出力されるクロック信号を平滑する回路により行うとよい。
上記アナログ画像信号に対し上記アナログ信号処理を施す手段と、上記アナログ/デジタル変換器は、同一のアナログ処理ASICにて構成することができる。
上記信号重畳手段は、上記増幅反転手段から出力されるアナログ信号を、上記アナログ処理ASICのクランプ電位に重畳させる手段であってよい。
上記制御手段が、上記増幅反転手段に設定する、増幅率及び反転・非反転を指定する設定値を任意のタイミングで調整可能とするとよい。
また、本発明の画像形成装置は、上述の画像読取装置を画像読取手段として備えたものである。
以上のようなこの発明の画像読取装置、及び、画像形成装置によれば、SSCGを用いた読取り装置における画像に現れるスジ画像に対し、SSCGの影響によるオフセット変動がデバイス毎にばらついた場合においても、読取画信号に現れるSSCGの影響を適切に補正できるという効果を得る。
本発明の一実施例にかかる画像読取装置の画信号処理系の要部の一例を示したブロック図である。 PLL回路の一例を示したブロック図である。 SSCG補正信号生成回路の一例を示したブロック図である。 AFEの内部動作基準電位への補正信号の重畳動作について説明するためのタイミングチャートである。 基準電圧生成部の構成を例示した回路図である。 DACの周波数特性の改善について説明するためのグラフ図である。 読取画信号に含まれるランダムノイズについて説明するための概略図である。 ランダムノイズ成分を低減させたピークボトム差検出方法の一例を説明するための概略図である。 ランダムノイズ成分を低減させたピークボトム差検出方法の他の例を説明するための概略図である。 SSCGの影響による変動がある画像データに対して補正信号を重畳させた状態でのピークボトム差と各DAC設定値との関係を示したグラフである。 基板制御部200のCPU203がDAC設定値を計算する際の処理の一例を示すフローチャートである。 SSCGが読取画像に及ぼす影響について説明するための概略図である。 SSCGが読取画像に及ぼす影響を改善する方法について説明するための概略図である。
以下、添付図面を参照しながら、この発明の実施の形態を詳細に説明する。
図1は、本発明の一実施例にかかる画像読取装置の画信号処理系の要部の一例を示したブロック図である。
図1に示す画像読取装置は、読取原稿をコンタクトガラスに載置し、画像面を走査光学系で操作して、センサボードユニット(SBU)100に設けられたCCDラインイメージセンサ101に収束する、いわゆる縮小光学系を用いるものであり、CCDラインイメージセンサ101は、高速読み取り等を目的として、複数(n個)のブロックに分割されており、おのおののブロックからの読取画信号は、独立した出力チャネルから出力される。
CCDラインイメージセンサ101から出力されるnチャネルの読取アナログ画信号AV1〜AVnは、アナログフロントエンド(AFE)102に設けられているn個のアナログ処理ユニット103_1〜103_nにそれぞれ入力される。
ここに、アナログフロントエンド102は、アナログ処理及びA/D(アナログ/デジタル)変換処理及びデジタル信号処理を行なうASIC(Application Specific Integrated Circuit;特定用途向け大規模集積回路))である。
アナログフロントエンド102の各アナログ処理ユニット103_1〜103_nに入力された読取アナログ画信号AV1〜AVnは、おのおの内部動作基準電位(後述)との差分が形成され、その差分信号が、アナログ画像信号AR1〜ARn(図示略)として、それぞれ可変ゲイン増幅器(AGC)により所定のゲインで増幅された後に、アナログ/デジタル変換器(ADC)により対応するデジタル信号に変換され、そのデジタル信号はデジタル信号処理部により所定のデジタル処理が適用され、その処理結果が、デジタル画像信号DV1〜DVnとして信号送信部104に出力される。
信号送信部104は、入力したnチャネルのデジタル画像信号DV1〜DVnを連結し、1ライン分の連続したデジタル画像信号DVとして、後段の基板制御部200の信号受信部201へ送信する。
ここで、各アナログ処理ユニット103_1〜103_nの可変ゲイン増幅器のゲインは、上述した縮小光学系のランプの部品ばらつき、CCDラインイメージセンサ101の感度ばらつきなどを吸収するためにプログラマブルに設定できるものであり、基準白レベルを読み取った場合に一定のデジタル出力となるように電源ON時、もしくは画像データの読取毎にゲインの調整を行い設定値を決定する(いわゆる、シェーディング補正処理)。
また、デジタル信号処理部は、所定のデジタル信号処理(例えば、ガンマ補正処理など)を適用するものである。また、信号送信部104としては、LVDS(Low voltage differential signaling)トランスミッタが適用され、信号受信部201としては、例えば、LVDSレシーバが適用される。
信号受信部201が受信したデジタル画像信号DVは、画像処理部(IPU)202のピーク検出部201_1に出力されるとともに、図示しない後段の画像処理部へと出力されている。
また、センサボードユニット100において、タイミングジェネレータ105は、CCDラインイメージセンサ101およびアナログフロントエンド102を駆動するための制御信号を生成するためのものであり、基本的なクロック信号等を生成するPLL(Phase Locked Loop)回路105a、および、PLL回路105aが生成したクロック信号等(後述)に基づいて、CCDラインイメージセンサ101およびアナログフロントエンド102を駆動するための制御信号等を生成するタイミング発生回路105bを備えている。
さて、本実施例では、PLL回路105aへの外部入力クロックは、EMI対策としてSSCGにより周波数変調を施したクロックを入力する構成であり、したがって、タイミングジェネレータ105で生成される全ての駆動信号はSSCGによる変調がかかったものとなる。このSSCGによる変調の影響が、上述したように画像信号(画像データ)のオフセット変動となってしまう。
そこで、本実施例では上述のSSCGの影響による画像信号でのオフセット変動に対して、逆相の信号を画像信号に重畳させることで変動を低減する(図13参照)。
なお、特許文献1に記載されている方法は、上述したように、あらかじめ逆相の補正信号の振幅を設定しておく方法であり、オフセット変動量の固体バラツキを調整できない。また、補正信号の位相も逆相に限定する構成であり、切り換えができなかった。
そこで、本実施例では補正信号を生成する部分においてDACを用いた構成とすることで、固体バラツキを吸収するための調整と補正信号の極性を切替えることを可能とする(後述)。
また、図1に示すように、CCDラインイメージセンサ101の出力は多チャネル(一般的にカラーでは6チャネルまたは12チャネル)であり、各チャネルでSSCGの影響による変動量はばらつくため、各チャネル毎に補正が必要となる。そこで、DACとして汎用の多チャネル出力を持つDACを用いる構成とすることで各チャネルのSSCGの影響による変動を個別に補正できるようにした(後述)。
ただし、一般的に汎用DACは低コストで入手性は高いが入出力応答特性が遅い。これに対し、本実施例ではDACを動作させるための周辺回路部分に周波数特性をもたせることで上述した汎用DACの入出力特性が遅い点を補い、高コストな高速動作DACを用いることなくSSCGの影響による変動を補正することとした(後述)。
また、汎用DACの特性の一つとして設定値と出力電圧の関係は線形関係となる点がある。本実施例ではこの線形性を利用したアルゴリズムによりSSCGの影響によるスジ補正のための設定値を求めるようにしている(後述)。
図1に戻り、PLL回路105aに入力する基準クロック信号としては、水晶発振器106が出力する信号CKをSSCGクロック生成回路106に入力させ、このSSCGクロック生成回路106が生成する、信号CKにSSCGの周波数変調(以下、「SSCG変調」という)をかけたクロック信号CKaが用いられる。
したがって、CCDラインイメージセンサ101から出力される各チャネルの読取アナログ画信号AV1〜AVnは、それぞれSSCG変調の影響が現れ、上述したように、そのレベルがある幅で周期的に変化するような信号となる。
SSCG補正信号生成回路108は、読取アナログ画信号AV1〜AVnからSSCG変調の影響を除去するために、タイミングジェネレータ105が出力する信号に基づいて読取アナログ画信号AV1〜AVnを補正する補正信号HS1〜HSnを生成するものであり、それらの補正信号HS1〜HSnを、アナログフロントエンド102の各アナログ処理ユニット103_1〜103_nに出力する。
また、基板制御部200において、ピーク検出部202_1は、入力するデジタル画像信号DVのピーク値とボトム値の差を表すピークボトム差信号を、読取アナログ画信号AV1〜AVnのチャネル毎に検出するものであり、その検出値を、基板制御部200のCPU(中央処理装置)203に出力する。
CPU203は、基板制御部200の動作およびセンサボードユニット100の各要素の動作を制御するものであり、より具体的には、タイミングジェネレータ105およびアナログフロントエンド102の動作を制御するとともに、SSCG補正信号の生成に関しては、ピーク検出部202_1から入力したチャネル毎のピークボトム差信号に基づいて、SSCG補正信号生成部108の動作を制御する。また、ピーク検出部202_1が行うピークボトム差検出動作について必要な設定も行う。
ここで、タイミングジェネレータ105に含まれるPLL回路105aは、図2に示すように構成される。
図2に示すように、本実施例でのPLL回路105aは、外部からの設定により分周率と逓倍率とを設定できるものである。
PLL回路105aでは、外部から入力する(SSCG変調された)クロック信号CKaを分周器105aaで分周した信号BCaと、後述のVCO105aeが出力する内部クロック信号CKbを分周器105abで分周した信号BCbとを位相比較器105acに入力させる。この位相比較器105acは、信号BCaと信号BCbとを位相比較し、その位相比較結果に応じて、その出力するパルスPHのデューティを変化させる。
このパルスPHは、平滑化フィルタ回路105adに入力され、この平滑化フィルタ回路105adで積分され、パルスPHのデューティに依存した電圧CVに変換される。すなわち、この平滑化フィルタ回路105adは、パルスPHを電圧CVへ変換する周波数−電圧変換手段として作用する。
この電圧CVは、VCO(電圧制御発振器)105aeに入力される。VCO105aeは、入力した電圧CVに応じた周波数のパルスを出力するものであり、このVCO105aeの出力パルスは、内部クロック信号CKbとして外部の機器へ出力されるとともに、分周器105abへフィードバックされる。
ここで、分周器105aa,105abの分周率および逓倍率は、CPU203により制御される分周率/低倍率設定部105afにより設定されている。そして、CPU203は、分周器105aa,105abの分周率を適宜に設定することで、PLL回路105aが出力する内部クロック信号CKbの周波数を変化することができ、この内部クロック信号CKbに基いて作成されるタイミング信号、例えば、CCDラインイメージセンサ101の1ライン読み取り動作の開始をあらわすラインシンク信号(ライン同期信号)の周期を変化させることができ、その結果、読取アナログ画信号AV(AV1〜AVn)の1ライン読取周期を変化させることができる。
また、平滑化フィルタ回路105adの出力電圧CVは、交流結合用のコンデンサCC1を介し、その交流成分のみがアナログ信号SSとして、SSCG補正信号生成回路108へと出力されている。
このPLL回路105aの構成において、位相比較器105acから出力されるパルス信号PHのデューティは、位相比較結果に応じて変化し、このパルス信号PHを平滑化した信号CVは、パルス信号PHのデューティに応じてその電圧レベルが変化する(上述した周波数−電圧変換)。
この場合のように、SSCG変調されたクロック信号CKaをPLL回路105aに入力した場合は、平滑化後のVCO105aeへの入力電圧CVは、SSCGの変調周期に同期して変動する電圧信号となる。そこで、この電圧信号を交流結合用のコンデンサCC1を介して取り出すことで直流成分を取り除いた交流成分のみの信号とし、コンデンサCC1を通過後の交流成分のみの信号を、SSCG変調周期に同期したアナログ信号SSとして用いる。
次に、補正信号HS1〜HSnを生成するSSCG補正信号生成回路108について説明する。図3は、SSCG補正信号生成回路108の一例を示したブロック図である。
このSSCG補正信号生成回路108は、上述したアナログ信号SSに基づいて、複数チャネルの出力を備えたDAC(デジタル/アナログ変換器)108bの基準信号VrefT(t),VrefB(t)を形成する基準電圧生成部108aと、基準信号VrefT(t),VrefB(t)、及びCPU200より入力する各チャネルのDAC設定値とに対応したアナログ信号を各チャネルについて出力する複数チャネル出力のDAC108bと、DAC108bの各チャネルの出力信号を次段装置へ出力する出力回路108cから構成されている。なお、DAC108bとしては、汎用のDAC装置を用いることができる。
DAC108bは、入力する基準信号VrefT(t),VrefB(t)に基いて、各チャネルに入力するデジタル信号に対応して、各チャネルより出力するアナログ信号の信号レベルを設定する。
本実施例では、SSCG補正信号生成回路108において、補正信号の生成手段としてCCDラインイメージセンサ101と同じチャネル数のDAC108bを用いる。これにより、CCDラインイメージセンサ101の各チャネルに対応して生成する補正信号を任意の増幅率で増幅できるようにすると共に、補正信号の反転・非反転の切り替えを可能としている(詳細は後述)。
そして、DAC108bの各チャネルの出力信号は、出力回路108cを介して、アナログフロントエンド102の対応するチャネルのアナログ処理ユニット103_1〜103_nの内部動作基準電位を設定するクランプ電位入力端に入力している。
したがって、SSCGの影響により発生するアナログ画像信号のオフセット変動と振幅が同じで位相が逆相となるようにDAC108bに入力するDAC設定値を設定することで、アナログ画像信号のオフセット変動を打ち消し、SSCGの影響による発生するアナログ画像信号のオフセット変動を補正することが可能となる(詳細は後述)。
アナログ処理ユニット103_1〜103_nには、内部的に、クランプ電位を設定する分圧抵抗RA1,RA2が設けられており、この分圧抵抗RA1,RA2の分圧値が、内部動作基準電位としてアナログ処理ユニット103_1〜103_nの内部回路に供給される。
そして、上述したDAC108bの各チャネルの出力信号のように、外部からアナログ処理ユニット103_1〜103_nのクランプ電位入力端に供給される電圧は、この内部動作基準電位を変位させる重畳電位成分として作用することになる。
一方、アナログ処理ユニット103_1においては、交流結合コンデンサCC2を介して、1つのチャネルの読取アナログ画信号AV1が入力されており、その入力信号は、バッファアンプBBを介して、内部に取り込まれている。また、バッファアンプBBの入力端は、クランプスイッチSWを介して、クランプ電位入力端にも接続されている。
そして、このクランプスイッチSWは、クランプ信号により、図6(a),(b)に示すように、主走査1ライン期間において、黒レベル基準値を検出するための所定期間、オンされる。それにより、バッファBBの入力端の電圧が、黒レベル基準値としてアナログ処理ユニット103_1に保持される。
そして、クランプスイッチSWがオフした後の主走査1ライン期間では、黒レベル基準値検出手段に検出された黒レベル基準値が、読取アナログ画信号AV1の黒レベルの基準値としてアナログ処理ユニット103_1で使用される。
すなわち、アナログ処理ユニット103_1〜103_nにおいては、クランプ電位入力端に補正信号(DAC108bの各チャネルの出力信号)が重畳されることで、内部動作基準電位にその補正信号が重畳される。ここで、アナログ処理ユニット103_1〜103_nでは、内部動作基準電位と入力する読取アナログ画信号AVとの差分信号をアナログ画像信号AR1〜ARn(図示略)として形成し、そのアナログ画像信号AR1〜ARnをAGCでアナログゲインで増幅した後に、ADCでデジタル画像信号DVに変換している。
このように、アナログ処理ユニット103_1〜103_nで処理されるアナログ画像信号AR1〜ARnは、内部動作基準電位と読取アナログ画信号AVとの差分信号であるから、上記のように、内部動作基準電位に補正信号を重畳すると、その重畳された補正信号の信号成分に従って内部動作基準電位と読取アナログ画信号AVとの差分が変動し、結果的に、読取アナログ画信号AVに補正信号を重畳したと同様の作用をアナログ画像信号AR(AR1〜ARn)に対して及ぼす。それにより、アナログ画像信号ARは、読取アナログ画信号AVのオフセット変動を補正したものとなり、SSCG変調の影響を除去することができる。
図3に戻り、基準電圧生成部108aは、タイミングジェネレータ105のPLL回路105aから出力されるアナログ信号SSからDAC108bの基準電位(VrefT(t)とVrefB(t))を生成してDAC108bに供給する。この際に、図5に示したように、基準電位VrefT(t)と基準電位VrefB(t)の交流成分は、振幅は同じで位相を反転させた信号として生成する。
次に、基準電圧生成部108aについて説明する。図5は、基準電圧生成部108aの構成の一例を示す回路図である。
この基準電圧生成部108aでは、PLL回路105aから取り出したアナログ信号SSは微小振幅であるため、非反転増幅回路108aaおよび反転増幅回路108abで増幅を行いDAC108bの基準電位(VrefT(t)、VrefB(t))として供給する。
非反転増幅回路108aaは、オペアンプを用いた固定ゲインの増幅回路で構成されているとともに、ゲインの増幅率を決定する抵抗に、抵抗RとコンデンサCの直列回路により形成した位相補償回路PP(詳細は後述)を並列接続している。この非反転増幅回路108aaの出力信号は、トランジスタエミッタフォロワ回路Q1を介し、所定のオフセット電圧(固定値)が重畳された状態で、基準電位VrefT(t)として、DAC108bに加えられている。
また、非反転増幅回路108aaの出力電圧は、ゲインが−1倍に設定された反転増幅回路108abにより反転増幅され、この反転増幅回路108abの出力信号は、トランジスタエミッタフォロワ回路Q2を介し、所定のオフセット電圧(固定値)が重畳された状態で、基準電位VrefB(t)として、DAC108bに加えられている。なお、この反転増幅回路108abも、オペアンプを用いた固定ゲイン(この場合は、ゲインは−1倍)の増幅回路で構成されている。
すなわち、この基準電圧生成部108aは、タイミングジェネレータ105から取り出したアナログ信号SSをある固定ゲインでの非反転増幅回路108aaで増幅し、その非反転増幅回路108aaで増幅したアナログ信号にオフセット電圧を重畳させた信号を基準電圧VrefT(t)としてDAC108bへ供給する。
また、この基準電圧VrefT(t)の信号の位相を反転増幅回路108abで位相反転させた信号に、オフセット電圧を重畳させた信号を、基準電圧VrefB(t)としてDAC108bへ供給する。ここで、位相反転は、オペアンプを用いて構成したゲインが−1倍の反転増幅回路にて実現する。
このようにして、DAC108bの基準電圧であるVrefT(t)、VrefB(t)のそれぞれに、SSCG変調の周期に同期して変動する交流信号と同位相及び逆位相となる信号を入力し、CPU203がDAC設定(DAC108bに与えるデジタル入力値をセットすること)を行なうことで、SSCGの変調周期に同期した任意の振幅の補正信号を得ることが可能となる。
この補正信号について、次に説明する。
まず、DAC108bからの出力電圧は以下の式(I)で示される。
Vdac_out(t)=(VrefT(t)−VrefB(t))×Dac_set/FullScale+VrefB(t) ・・・(I)式
Dac_set:DACへの設定値(8bitの場合、0〜255)
FullScale:DACのフルスケール値(8bitの場合、255)
VrefT(t):DACの上側基準電位
VrefB(t):DACの下側基準電位
α(t):増幅後のPLL部分で取り出したアナログ信号(交流信号)SS
Vdac_out(t):DAC出力
ここで、2つの基準電位の交流成分は、振幅が同じで逆相であるので、
VrefT(t)=VrefT_dc+α(t)
VrefB(t)=VrefB_dc−α(t)
※VrefT_dc、VrefB_dcは各直流成分
したがって、式(I)は、
Vdac_out(t)=(α(t)+α(t))×Dac_set/FullScale−α(t)
+(VrefT_dc−VrefB_dc)×Dac_set/FullScale+VrefB_dc
となり、この式の右辺の最初の項で表される信号Vdac_out(t)の交流成分(Vdac_out(t)_AC)としては、DAC108bのDAC設定値により振幅及び極性を設定できる信号を得ることが可能となる。
また、
Vdac_out(t)_AC=
2α(t)×Dac_set/FulScale−α(t)=(2×Dac_set/FulScale−1)×α(t)
例えばDAC108bが8bitの設定の場合で考えると
Set:255のとき、 Vdac_out(t)_AC= α(t)
Set:128のとき、 Vdac_out(t)_AC≒ 0
Set: 0 のとき、 Vdac_out(t)_AC= −α(t)
となり、任意の設定、反転・非反転を切り替えることができる。
ここで、DAC108bとして、汎用的なシリアル通信にてDAC設定値を設定する多チャネルのDAC装置を用いた場合は、基準電圧VrefT(t),VrefB(t)の変化に対する出力変化の応答特性が悪いために、DAC108bの出力信号として得られる補正信号の位相が遅れてしまう。
そこで、DAC108bへの基準電位VrefT(t),VrefB(t)を生成する基準電圧生成部108a部分において、高周波成分の増幅率を上げ、位相を進ませるような周波数特性を持たせることでDAC108bの応答特性が悪い点を補うことが可能となる。
本実施例の場合には、図5の構成での非反転増幅回路108aaにおいて、ゲインの増幅率を決定する抵抗部分に、前述の位相補償回路PP(後述)を並列接続させることで高周波成分での増幅率を上げ、位相を進ませる特性をもたせるようにしている。
ここで、図6(a)には、DAC108bの周波数特性の一例を示し、同図(b)に位相補償回路PPを並列接続した場合のVref供給回路(基準電圧生成部108a)の周波数特性を示し、同図(c)には、DAC108bとVref供給回路(基準電圧生成部108a)を組み合わせたときの周波数特性の一例を示す。
図6(c)に示すように、高周波成分では位相補償回路PPのコンデンサ成分の影響で、増幅率があがり、位相が進むことになる。ここで、この周波数特性はDAC108bの応答特性を基に、あらかじめ位相補償回路PPの抵抗及びコンデンサの定数を設定しておく。
このように、基準電位VrefT(t),VrefB(t)の供給回路部分(基準電圧生成部108a)に周波数特性を持たせることで、応答特性が遅いDACを用いた場合でもDACの位相遅れを補償することが可能となる。
次に、本実施例でのDAC設定値を求めるアルゴリズムについて説明する。
まず、SSCGの影響による画像上でのスジについて説明する。
SSCGの影響によるスジは、上述したように、EMI対策でSSCGを用いた場合に読取アナログ画信号AVのオフセットレベルが僅かな量だが、SSCGの変調周期に同期した周期で変動してしまうために発生するものである。
ここで、SSCGの影響によるスジ画像の特徴量として、読取アナログ画信号AVのオフセットレベルの主走査方向の分布のピーク値とボトム値の差分量を採用することで、SSCGの影響度合いを表せる。これは、SSCGの影響による変動がない場合は、ピークボトム差は0となり、SSCGの影響による変動が大きくなるにつれピークボトム差も大きくなるからである。
ただし、本実施例で処理対象としている読取アナログ画信号AVは、CCDラインイメージセンサ101からの出力であり、ランダムノイズが含まれるので、ピークボトム差はランダムノイズ成分も含んだ特徴量となり、SSCGの影響による変動が無い場合でもピークボトム差としてはランダムノイズ成分σが検出されることになる。図7(a)にSSCGの影響によるピークボトム差の値が0の場合について示し、同図(b)にSSCGの影響によるピークボトム差の値が0でない場合について示す。したがって、ピークボトム差を検出する際、このランダムノイズ成分σの影響を低減することが好ましい。
なおここでは、読取アナログ画信号AVについて、ピークボトム差の絶対値よりも相対的な大小関係の検出が重要である。また、デジタル画像信号DVは、基本的には読取アナログ画信号AVをアナログ/デジタル変換して形成したものであるから、デジタル画像信号DVの値は、読取アナログ画信号AVに含まれるオフセット成分及びランダムノイズ成分のアナログ値に対応したデジタル値を含むものである。そこで、デジタル画像信号DVについてピークボトム差を算出することは、読取アナログ画信号AVのピークボトム差の相対的な大小関係を検出することと同等である。そこで、本実施例では、デジタル画像信号DVのピークボトム差を検出し、この結果に基づきSSCGの影響を見積もるようにした。
ランダムノイズ成分を低減させたピークボトム差検出方法としては、主走査方向の1ライン周期をSSCGの変調周期の整数倍とし、図8に示すように、読取信号(デジタル画像信号DV)の各画素毎に複数ライン分の平均処理を行った後にピークボトム検出を行う方法がある。また、ランダムノイズ成分を低減させたピークボトム差検出方法の別の検出方法としては、図9に示すように、読取信号(デジタル画像信号DV)の各画素毎に、主走査方向に移動平均を施した後にピークボトム差検出を行う方法などがある。
以上のいずれかの検出方法を用いて、ピーク検出部202_1によりピークボトム差検出を実施し、検出した結果を用いて補正信号を決定するためのDAC108bのDAC設定値を求める。この場合、ピーク検出部202_1は、デジタル画像信号DVを入力するので、図8の方法でピークボトム差を検出する場合は、入力するデジタル画像信号DVの各画素毎に複数ライン分の平均処理を行った後にピークボトム検出を行う。また、図9の方法でピークボトム差を検出する場合は、入力するデジタル画像信号DVの各画素毎に、主走査方向に移動平均を施した後にピークボトム差検出を行う。
なお、これらの検出は、読取ラインの全点ではなく、所定の範囲についてのみ行ってもよい。また、ピーク検出部202_1によりピークボトム差検出を行うに当たって、CPU203は、そのピークボトム差検出動作に必要な設定を行う。例えば、図8の方法を採用する場合には、平均値を算出するために使用するライン数や、図9の方法を採用する場合には、移動平均する主走査方向の画素数などである。
次にDAC設定値を求めるアルゴリズムについて説明する。
DAC設定値を求めるアルゴリズムとしては、例えば、DAC108bのDAC設定値を少しずつ更新しながら、ピークボトム差を検出し、最終的にピークボトム差が極小となるようなDAC設定値、または、ピークボトム差が一定のスレッシュレベル以下となるDAC設定値を、補正信号としてのDAC設定値とするものも考えられる。
しかしながら、このようなアルゴリズムを適用した場合、ピークボトム差の検出とDAC108bのDAC設定値の更新を繰り返す必要があるため処理時間がかかってしまう。またDAC108bのDAC設定値が最適値に近づくほどピークボトム差が小さくなっていくので、ランダムノイズ成分の影響度が大きくなり、なかなか最適値に収束できないといった事態を生じる。
そこで、本実施例のアルゴリズムとしては、少ない検出回数とランダムノイズの影響を低減した、次のようなアルゴリズムを提供する。
本実施例の構成において、SSCGの影響による変動がある画像データに対して補正信号を重畳させた状態での、各DAC設定値とその時のピークボトム差の関係を示したグラフを図10(a)に示す。
なお、説明のために図10(a)では8bitの設定範囲を持つDACの場合でのグラフを示す。
このグラフを見ると、設定値Aにおいてピークボトム差が極小となり、SSCGの影響による変動を打ち消すためのDAC設定値としては、設定値Aが最適な値であることがわかる。
すなわち、上述したように、DAC108bのDAC設定値と出力の関係が線形であることから、DAC108bのDAC設定値を0から増加させていくと、ピークボトム差は傾き:−βで直線的に減少し、設定値Aを境に傾きβで増加する特性となる。ピークボトム差を検出しているので、設定値Aの前後で減少と増加が切り替わった特性となっているが、その変化量の大きさはβで一定である。
ここで、図10(a)のグラフを図形的にみると、同図(b)に示すように、設定値Aの左側にできる三角形TAと右側にできる三角形TBとは傾きの大きさがいずれもβであることから相似の関係となる。
相似であることにより設定値Aの値は、設定値0でのピークボトム差DF(0)(=Δ_0)と設定値255でのピークボトム差DF(255)(=Δ_255)の比から、次の式(II)のように計算により算出できる。
設定値A=255×Δ_0/(Δ_0+Δ_255) ・・・(II)
この場合、DAC設定値の最適値となる設定値Aは、式(II)を計算することで得られるので、DAC108bのDAC設定値の更新を繰り返しながらピークボトム差を検出する必要がなく、DAC108bのDAC設定値を変えた状態でのピークボトム差検出を2回実施するだけで設定値Aを算出でき、非常に短時間でDAC設定値の最適値を得ることができる。
ここで、設定値0でのピークボトム差:Δ_0と及び設定値255でのピークボトム差:Δ_255は、いずれもランダムノイズ成分σ(図10(a)参照)に対して十分に大きい量であるため、DAC設定値の最適値に対してランダムノイズ成分σが及ぼす影響は少ない。
なお、前述の説明ではDAC設定値として、設定値0と設定値255で検出した各ピークボトム差:Δ_0とピークボトム差:Δ_255を用いたが、ピークボトム差の検出値に対するランダムノイズσの影響が少ない設定値であれば任意の設定値で構わない。
図11は、上述したアルゴリズムに基づいて、基板制御部200のCPU203がDAC設定値を計算する際の処理の一例を示すフローチャートである。
なお、この図11を用いて行う処理の説明においては、DAC108bは8bit階調とし、計算の際の設定値として0と255を採用し、ランダムノイズ低減方法は、図8に示したような画素単位での平均処理を実施する場合で説明をする。
まず、初期設定を実施し、各変数、及び条件を設定する(ステップS1)。
ランプ ← OFF
AFEゲイン ← 10倍
1ライン周期 ← SSCGの変調周期の整数倍に設定
DAC設定値_nch ← 0
※変数及び定数の説明
ランプ:SSCGの影響によるオフセット変動を検出するためランプはOFFの状態に設定し、暗状態で読み取りを行う。
AFEゲイン:アナログ画像信号の増幅率を10倍として検出感度を上げた状態に設定する。
DAC設定_nch:DAC108bのnchへのDAC設定値。補正信号設定として、まず0の状態から調整を開始する。
また、1ライン周期の設定は、PLL回路105aに設定する分周器105aa,105abの分周率の値を、1ライン周期として設定する値に対応した値とすることで実現することができる。
初期設定を行なった後に、DAC設定値を0として、ピーク検出部202_1によるピークボトム差検出を行なう(ステップS2)。この場合、ピーク検出部202_1は、図8を参照して説明したように、ランダムノイズ成分を低減するために各画素毎に副走査方向の平均処理を行なった後の主走査方向の分布からピークボトム差を検出する。また、そのために、CPU203は、ピーク検出部202_1にピークボトム差検出の際のライン数等の設定を行う。ここで検出したピークボトム差は、変数としてΔ_0_nchに保持しておく。また、このピークボトム差検出方法を採用するために、ステップS1の初期設定において1ライン周期をSSCGの変調周期の整数倍に設定している。
次にDAC設定値を255にしてピークボトム差検出を行う(ステップS3,S4)。
DAC設定値_nch ← 255
DAC108bのDAC設定値を255とした場合も、ステップS2と同様に、画像データを読み取り主走査方向のピークボトム差をピーク検出部202_1により検出し、変数Δ_255_nchに保持する。
検出したピークボトム差:Δ_0_nchとΔ_255_nchとから補正信号のDAC設定値を算出する(ステップS4)。
DAC設定値 = 255×Δ_0_nch/(Δ_0_nch+Δ_255_nch)
算出したDAC設定値をDAC108bのnchに設定した後に、初期設定で変更したライン周期とAFEゲインを通常設定値に戻して終了となる(ステップS6)。
以上のDAC設定値計算フローに基づき計算を行なうことで、SSCGの影響によるオフセット変動を低減するのに適当な設定値Aを得る事が可能となり、その結果、画像にあわられるスジを低減できることになる。
なお、図11に示した処理では、ピーク検出部202_1が行うピークボトム差検出方法として、図8を参照して説明した方法を採用したので、各ラインでのSSCG変調に基づくオフセット成分の変動の態様を揃える必要があるために、ステップS1において1ライン周期をSSCGの変調周期の整数倍に設定しているが、ピーク検出部202_1が行うピークボトム差検出方法として、図9を参照して説明した方法を採用することもでき、その場合には、ステップS1において1ライン周期をSSCGの変調周期の整数倍に設定する必要はなく、例えば、ステップS6のように1ライン周期を通常設定値に設定するとよい。
ところで、SSCGの影響によるオフセット変動はCCDラインイメージセンサ101のデバイス特性の影響度が大きく、温度特性等に依存してオフセット変動量が変化する場合が考えられるので、このようなCCDラインイメージセンサ101を用いた場合の画像読み取り装置では、上述のDAC設定値計算フローにより、DAC設定値の最適値を設定し、画像上のスジを低減した場合でも、SSCGの影響によるオフセット変動量が経時で変化することにより、再度、画像においてSSCGの影響によるスジが発生する場合がある。
このような場合においても、上述したDAC設定値の計算処理を任意の時間間隔で実施する処理を、システム処理において備えておくことでSSCGの影響によるオフセット変動量の経時変化にも対応することが可能となる。
例えば、本実施例の機能を備えた画像読取装置において連続通電時間をモニタしておき一定時間毎に上述のDACの設定値の計算処理を実施するモードを備えることで、SSCGの影響によるオフセット変動の経時変化にも本実施例は対応できる。
さらに、本実施例にかかる画像読み取り装置を備えた画像形成装置においてはSSCGの影響によるスジを低減した画像情報に基づいた画像を形成することが可能となる。
以上説明したように、この画像読取装置によれば、SSCGを用いた読み取り装置における画像へのスジ画像の問題に対してスジ画像を低減することが可能となる。
また、設定値を算出する処理をフィードバックにより設定を行う増幅手段の特性を利用した処理とすることで、簡単な処理で適切な設定値を得ることが可能となる。
また、補正信号生成の際に通常の画像読取動作と同じ画像処理パスで得られる特徴量を用いることで、特徴量抽出のための仕組を追加することなく補正信号を生成することが可能となる。
また、補正信号を生成する際に、補正信号を任意の増幅率及びその位相の反転、非反転を任意に設定できる仕組みを持つことで、SSCGの影響によるオフセット変動がデバイス毎にばらついた場合においても補正できることを目的とする。またこの仕組みを汎用のDACを用いることで低コストで実現することが可能となる。
また、SSCGの変調周期に同期したアナログ信号をCCD駆動信号を生成するタイミングジェネレータに内蔵されているPLLブロックから取り出すことで、新たに複雑な回路を設けることなくSSCGの変調周期に同期したアナログ信号を取り出すことが可能となる。
また、画像信号に対するアナログ処理及びA/D変換処理とが集積回路化されたアナログASICを用いた画像読取装置において、SSCGの影響によるスジ画像を低減することが可能となる
また、SSCGの影響によるスジを低減するために生成した補正信号を画像信号に重畳する際に、アナログ処理ASICのクランプ電位にAC結合を介して重畳させることで、新たに複雑な回路を設けることなくSSCGの影響によるスジを低減することが可能となる。
また、画像読取装置において他の制御とは独立して行なえる調整処理とすることで、SSCGの影響によるスジ画像が経時変化する場合であっても補正を可能とすることが可能となる。
また、SSCGの影響を低減した画像読取装置をもつ画像形成装置を提供することが可能となる。
なお、この発明によるDAC設定値計算フローのプログラムは、はじめから基板制御部200がCPU203と共に備えるROM,HDDあるいはSSD等の記憶手段に格納しておいてもよいが、記録媒体であるCD−ROMあるいはフレキシブルディスク,MO,CD−R,CD−RW,DVD+R,DVD+RW,DVD−R,DVD−RW,又はDVD−RAMや、SRAM,NOV−RAM,EEPROM,メモリカード等の不揮発性記録媒体(メモリ)に記録して提供することもできる。そのメモリに記録されたプログラムをコンピュータにインストールしてCPU203に実行させるか、CPU203にそのメモリからこのプログラムを読み出して実行させることにより、上述した各手順を実行させることができる。
さらに、ネットワークに接続され、プログラムを記録した記録媒体を備える外部機器あるいはプログラムを記憶手段に記憶した外部機器からダウンロードして実行させることも可能である。
また、以上述べてきた各実施形態の構成及び変形例は、矛盾しない範囲で適宜組み合わせて適用することも可能である。
本発明は、SSCGをEMI対策として用いている画像読取装置であれば、原稿以外を読み取る任意の構成の装置についても適用することができる。また、そのような画像読取装置を画像読取手段として備える画像形成装置であれば、電子写真式記録装置やインクジェット式記録装置等の任意の記録手段を備えたもの、ネットワーク対応の画像形成装置などに適用することができる。また、画像読取装置や画像形成装置以外の電子装置であって、SSCGをEMI対策として用いているアナログ処理系を備えた電子装置であれば、適用することができる。
101:CCDラインイメージセンサ 102:AFE(アナログフロントエンド)
103_1〜103_n アナログ処理ユニット 104:信号送信部
105 タイミングジェネレータ 105a:PLL回路
105b タイミング発生回路 106:水晶発振器
107 SSCGクロック生成回路 108:SSCG補正信号生成回路
108a 基準電圧生成部 108aa:非反転増幅回路
108ab 反転増幅回路 108b:DAC
108c 出力回路 200:基板制御部 201:信号受信部
202 画像処理部(IPU) 203:CPU(中央処理装置)
Q1,Q2 トランジスタエミッタフォロワ回路
特開2008−118366号公報

Claims (13)

  1. 原稿からの反射光を光電変換素子によりアナログ画像信号に変換し、得られたアナログ画像信号に対しアナログ信号処理を施した後にアナログ/デジタル変換器でデジタル画像信号に変換して出力する画像読取装置において、
    前記光電変換素子を周波数変調したクロックにより駆動する駆動手段と、
    前記周波数変調したクロックの周波数変化に応じたアナログ信号を生成する信号生成手段と、
    前記アナログ信号の交流成分を、外部から設定される設定値に対応した増幅率で増幅すると共に反転・非反転を切り替えることが可能な増幅反転手段と、
    前記アナログ画像信号と、前記増幅反転手段から出力されるアナログ信号とを重畳させる信号重畳手段と、
    該信号重畳手段により前記アナログ信号が重畳された前記アナログ画像信号を、前記アナログ/デジタル変換器によりデジタル画像信号に変換し、該デジタル画像信号に現れる特徴量に基いて、前記増幅反転手段の増幅率及び反転・非反転を制御する制御手段とを備え
    前記増幅反転手段は、
    前記アナログ信号から振幅が同じで位相が逆相となる2つのアナログ信号を生成する基準信号生成手段と、
    前記基準信号生成手段が生成した2つのアナログ信号がおのおの基準電圧に供給されるデジタル/アナログ変換器とを有し、
    該デジタル/アナログ変換器に設定するデジタル値を切り替えることで増幅率及び反転・非反転を切り替えることを特徴とする画像読取装置。
  2. 前記増幅反転手段は、外部から指定される前記設定値と、入力信号の増幅率との関係が線形な関係であることを特徴とする請求項1記載の画像読取装置。
  3. 前記制御手段は、所定の画像エリアにおける前記デジタル画像信号のピークボトム差の検出値を、前記特徴量とすることを特徴とする請求項1または2記載の画像読取装置。
  4. 前記制御手段は、前記デジタル画像信号の複数ラインについての各読取位置での読取値の平均値に基いて、前記ピークボトム差を検出することを特徴とする請求項3記載の画像読取装置。
  5. 前記制御手段は、前記デジタル画像信号の各読取位置での読取値を基準として算出した移動平均値に基いて、前記ピークボトム差を検出することを特徴とする請求項3記載の画像読取装置。
  6. 前記基準信号生成手段は、前記アナログ信号の高周波成分をより増幅させる周波数特性を持った回路要素を備えることを特徴とする請求項1乃至5のいずれか一項に記載の画像読取装置。
  7. 前記光電変換素子は、複数チャネルに分割され、
    前記増幅反転手段の前記デジタル/アナログ変換器は、複数出力チャネルを備え、
    前記デジタル/アナログ変換器は、シリアル通信により各チャネルへのデジタル値を設定可能な汎用の変換器であることを特徴とする請求項1乃至6のいずれか一項に記載の画像読取装置。
  8. 前記駆動手段は、周波数変調された基準クロックを入力するPLL回路を有し、
    前記信号生成手段は、前記PLL回路から出力されるクロック信号を周波数−電圧変換して、前記基準クロックの周波数変化に対応したアナログ信号を生成することを特徴とする請求項1乃至の何れか一項に記載の画像読取装置。
  9. 前記周波数−電圧変換は、前記PLL回路から出力されるクロック信号を平滑する回路により行うことを特徴とする請求項に記載の画像読取装置。
  10. 前記アナログ画像信号に対し前記アナログ信号処理を施す手段と、前記アナログ/デジタル変換器は、同一のアナログ処理ASICにて構成されることを特徴とする請求項1乃至の何れか一項に記載の画像読取装置。
  11. 前記信号重畳手段は、前記増幅反転手段から出力されるアナログ信号を、前記アナログ処理ASICのクランプ電位に重畳させる手段であることを特徴とする請求項10に記載の画像読取装置。
  12. 前記制御手段が、前記増幅反転手段に設定する、増幅率及び反転・非反転を指定する設定値を任意のタイミングで調整可能であることを特徴とする請求項1乃至11の何れか一項に記載の画像読取装置。
  13. 請求項1乃至12の何れか一項に記載の画像読取装置を画像読取手段として備えたことを特徴とする画像形成装置。
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