JP5395642B2 - プラント制御装置の試験支援装置および試験支援方法 - Google Patents

Description

本発明は、プラント制御装置の制御ロジックの検証をコンピュータにより支援するプラント制御装置の試験支援装置および試験支援方法に関する。

発電施設などのプラントを制御するプラント制御装置の稼働開始前に、そのプラント制御装置の制御ロジックを検証する場合や、稼働開始後に発見された制御ロジック動作の不具合の原因（不具合箇所）を解析する場合には、しばしば、そのプラント制御装置の動作をコンピュータで模擬するシミュレータを搭載した試験支援装置が用いられる（例えば、特許文献１など参照）。

このようなプラント制御装置の試験支援装置では、例えば、シミュレータから出力される信号とプラント制御装置の実機から出力される信号とを比較し、不一致があった場合には、プラント制御装置の実機（以下、単に、実機という）の制御ロジックに何らかの不具合があると判定される。その場合、制御ロジックの不具合箇所は、その比較によって不一致が検出された信号（以下、誤動作信号という）の近傍にあるとは限らない。場合によっては、誤動作信号から多数のロジックゲートを遡った先にあるかも知れない。

このとき、もし、当該プラント制御装置の制御ロジックに含まれるすべてのロジックゲートの入力および出力信号を、それぞれシミュレータおよび実機から取得することができるならば、両者の信号を比較することによって、制御ロジックの不具合箇所を容易に突き止めることができる。しかしながら、実機からすべてのロジックゲートについての入力および出力信号を取得することはできない。従って、制御ロジックの不具合箇所をコンピュータだけで解析するのは実際上困難であり、どうしても人による判断が必要となる。

特開平０８−３０４８２号公報

人とコンピュータが協調してプラント制御装置の制御ロジックを検証する試験をする場合には、その検証の試験作業の効率は、コンピュータ、つまりプラント制御装置の試験支援装置の操作性の良し悪しに依存する。従来のシミュレータを搭載したプラント制御装置の試験支援装置は、必ずしも使い勝手がいいものではなかった。例えば、特許文献１など従来の試験支援装置に搭載されたシミュレータでは、そのシミュレーションがバッチ処理として行われるので、試験担当者にとって使い勝手（操作性）が悪く、１箇所のロジックゲートの接続を変更するにしても手間や時間が掛かるものであった。

そこで、本発明は、プラント制御装置の制御ロジックを検証する試験作業の効率向上を図ることが可能なプラント制御装置の試験支援装置および試験支援方法を提供することを目的とする。

本発明のプラント制御装置の試験支援装置において、その情報処理装置（コンピュータ）は、（ａ）プラント制御装置の制御ロジックの制御ロジック図を記憶する制御ロジック図記憶部と、（ｂ）制御ロジック図記憶部に記憶されている制御ロジック図および外部装置（プラントの実装置やプラントシミュレータなど）から入力される外部入力信号データに基づき、当該制御ロジックの動作をシミュレーションするシミュレータと、を備えるだけでなく、さらに、（ｃ）前記制御ロジック図に含まれる信号線のうち、少なくとも１つの信号線を注入対象信号線として選択する注入対象信号線選択部と、（ｄ）その選択した注入対象信号線を、その上流側に接続されたロジックエレメントの出力端子から切り離し、その切り離した注入対象信号線に試験信号データを注入する試験信号データ注入部と、（ｅ）前記制御ロジック図に含まれる信号線のうち、前記注入対象信号線と異なる少なくとも１つの信号線を試験対象信号線として選択する試験対象信号線選択部と、（ｆ）前記試験信号データ注入部によって試験信号データが前記注入対象信号線に注入されたときに得られる前記試験対象信号線の信号値のデータと、前記シミュレータによって得られた前記試験対象信号線の信号値のデータと、を比較した結果に基づき、前記注入対象信号線への試験信号データの注入が前記試験対象信号線へ及ぼす影響の有無を判定する試験信号データ注入影響判定部と、を備えることを特徴とする。

本発明によれば、プラント制御装置の制御ロジックを検証する試験作業の効率向上を図ることが可能なプラント制御装置の試験支援装置および試験支援方法を提供することが可能になる。

本発明の実施形態に係るプラント制御装置の試験支援装置の構成の例を示した図。 情報処理装置における制御ロジックの試験支援処理の処理フローの例を示した図。 表示装置に表示される制御ロジック選択画面の例を示した図。 表示装置に表示される外部入力信号データ設定画面の例を示した図。 表示装置に表示される制御ロジック図表示画面の例を示した図。 制御ロジック図表示画面内にポップアップ表示される試験信号データ設定画面および試験信号データ注入影響表示画面の例を示した図。 複数の信号線を注入対象信号線として選択するとともに、複数の信号線を試験対象信号線として選択したとき、試験作業の効率を向上させることが可能な制御ロジックの例を示した図。

以下、本発明の実施形態について、図面を参照して詳細に説明する。

図１は、本発明の実施形態に係るプラント制御装置の試験支援装置の構成の例を示した図である。図１に示すように、プラント制御装置の試験支援装置１（以下、単に、試験支援装置１という）は、プラントの実装置やプラントシミュレータなどの外部装置２に接続されて用いられる。

ここで、プラントの実装置とは、プラントを構成する各種機器に設けられたセンサ（例えば、配管の流量センサ、ボイラの温度センサなど）や、その各種機器を作動させるためのアクチュエータ（例えば、バルブの開閉装置など）を指す。また、プラント制御装置とは、前記プラントの各種機器に設けられたセンサやアクチュエータの動作を制御する装置を指し、所定の制御ロジックが組み込まれたＰＬＣ（Programmable Logic Controller）やパーソナルコンピュータなどによって構成される。また、プラントシミュレータとは、センサおよびアクチュエータを含むプラントの各機器の動作を模擬する装置であり、パーソナルコンピュータなどによって構成される。

試験支援装置１は、プラント制御装置の設計担当者または試験担当者（以下、試験担当者と総称する）がプラント制御装置に組み込まれている制御ロジックを検証する試験を、コンピュータにより支援する装置である。ここで、制御ロジックの検証とは、制御ロジックの設計や製作が正しく行われていることを検証することだけでなく、プラント制御装置稼働後に発見された動作の不具合の原因を解析することなどを含むものとする。

図１に示すように、試験支援装置１は、情報処理装置１０、インタフェース装置２０、表示装置３０、入力装置４０を含んで構成され、情報処理装置１０は、図示しないＣＰＵ（Central Processing Unit）、記憶装置（半導体メモリおよびハードディスク装置）などからなるパーソナルコンピュータなどによって構成される。そして、その情報処理装置１０には、ＬＣＤ（Liquid Crystal Display）などからなる表示装置３０、キーボード、マウスなどからなる入力装置４０、外部装置２との接続装置であるインタフェース装置２０などが接続される。

情報処理装置１０は、機能的には、制御ロジック選択部１１、外部入力信号データ設定部１２、制御ロジックシミュレーション部１３、注入対象信号線選択部１４、試験信号データ注入部１５、試験対象信号線選択部１６、試験信号データ注入影響判定部１７、入出力処理部１８、表示処理部１９などの機能ブロックを含んで構成される。これらの機能ブロックの動作は、前記ＣＰＵが記憶装置に格納された所定のプログラムを実行することによって実現される。

また、情報処理装置１０の記憶装置には、制御ロジック図記憶部２１、外部入力信号データ記憶部２２、シミュレーション結果記憶部２３などの記憶部が構成されている。これらの記憶部には、前記機能ブロックのプログラムが実行されるときに、適宜、所定のデータが格納され、または、参照される。

以下、図２〜図６を参照して、図１に示した情報処理装置１０の各機能ブロックの動作について説明する。ここで、図２は、情報処理装置１０における制御ロジックの試験支援処理の処理フローの例を示した図、図３は、表示装置３０に表示される制御ロジック選択画面の例を示した図、図４は、表示装置３０に表示される外部入力信号データ設定画面の例を示した図、図５は、表示装置３０に表示される制御ロジック図表示画面の例を示した図、図６は、制御ロジック図表示画面内にポップアップ表示される試験信号データ設定画面および試験信号データ注入影響表示画面の例を示した図である。

試験担当者は、情報処理装置１０によるプラント制御装置の制御ロジックの試験支援処理を開始するとき、試験の対象となるプラント制御装置の制御ロジックを最初に指定する。そこで、情報処理装置１０は、まず、図３に示すような制御ロジック選択画面３１を表示装置３０に表示することによって、試験担当者に対して試験対象の制御ロジックの選択を促す。そして、試験担当者により入力装置４０（キーボードなど）を介して入力される選択情報に基づき、試験対象の制御ロジックを選択する（図２のステップＳ１１：図１の制御ロジック選択部１１の処理に相当）。

ここでは、プラント制御装置の制御ロジックの少なくとも１つの制御ロジック図は、あらかじめ、制御ロジック図記憶部２１に記憶されているものとし、情報処理装置１０は、図３に示すように、制御ロジック図記憶部２１に記憶されている制御ロジック図の名称を制御ロジック選択画面３１の中に表示する。

従って、試験担当者は、制御ロジック選択画面３１の中に表示された制御ロジック図の名称の１つをマウスカーソルで選択し、クリックすることによって、試験対象の制御ロジックを指定することができる。このとき、制御ロジック図は、同じプラント制御装置の制御ロジックに対して、例えば、レビジョン番号が異なるもの（図３では、レビジョン番号をＲ１，Ｒ２で表している）などが複数あってもよい。

制御ロジックは、通常、それぞれ１つ以上の外部入力端子、ロジックゲートおよび外部出力端子を含んで構成される。ここで、ロジックエレメントは、ＡＮＤ、ＯＲ、ＩＮＶＥＲＴＥＲなどのロジックゲートだけでなく、フリップフロップ、レジスタなどの記憶エレメント、加算器やデコーダなどの演算エレメントなどであってもよく、さらには、Ｃ言語などのプログラムで記述されたロジックであってもよい。

制御ロジック図記憶部２１に記憶されている制御ロジック図の情報は、単に、制御ロジックの動作を記述した情報だけではなく、その制御ロジックを実現するロジックエレメントの接続関係を記述した情報、さらには、そのロジックエレメントを図面に配置したときの位置情報などを含んでいる。

次に、情報処理装置１０は、ステップＳ１１で選択された制御ロジックを動作させるために、外部入力端子から制御ロジック内へ入力される外部入力信号データを設定する（図２のステップＳ１２：図１の外部入力信号データ設定部１２の処理に相当）。このとき、情報処理装置１０は、図４に示すような外部入力信号データ設定画面３２を表示装置３０に表示する。その外部入力信号データ設定画面３２には、選択可能な外部入力信号データの入力源が表示されるので、試験担当者は、マウスカーソルなどでその中から１つを選択すればよい。

外部入力信号データの入力源は、試験担当者が手入力するキーボードであってもよく、インタフェース装置２０を介して接続されるプラントの実装置やプラントシミュレータなどの外部装置２であってもよく、情報処理装置１０自身の記憶装置（外部入力信号データ記憶部２２）に事前に記憶されているデータであってもよい。

ただし、外部入力信号データの入力源がキーボードである場合には、キーボードから入力される信号データは、いったん外部入力信号データ記憶部２２に記憶される。また、外部入力信号データの入力源が外部装置２である場合には、外部装置２から入力される外部入力信号データは、直接に制御ロジックシミュレーション部１３へ供給されるが、いったん外部入力信号データ記憶部２２に記憶された後、外部入力信号データ記憶部２２から制御ロジックシミュレーション部１３へ供給されてもよい。

次に、情報処理装置１０は、選択された制御ロジックの制御ロジック図を表示装置３０に表示する（図２のステップＳ１３：図１の表示処理部１９の処理に相当）。すなわち、情報処理装置１０は、図５に示すような制御ロジック図表示画面３３を表示装置３０に表示する。制御ロジック図表示画面３３の中には、ＡＮＤ＃１，ＡＮＤ＃２，ＯＲ＃１，ＯＲ＃２などのロジックゲート、および、それらを相互に接続する信号線が表示される。

ここで、制御ロジック図は、通常、複数ページに渡って作成され、表示されるので、制御ロジック図表示画面３３の右下部には、制御ロジック図の名称を表示する名称欄３３４に加え、制御ロジック図のページを指定するページ欄３３５が設けられている。さらに、制御ロジック図表示画面３３の最上部には、その後の試験支援処理で用いられるコマンドボタン（以下、単にボタンという）を表示するメニューバー３３０が設けられている。なお、メニューバー３３０の中に表示されるボタンとしては、注入対象信号線選択ボタン３３１、試験対象信号線選択ボタン３３２、終了ボタン３３３などがある。

また、制御ロジック図表示画面３３の中で、信号線の一端に付された○印は、その信号線が他のページに表示された制御ロジック図の信号線につながっていること、あるいは、外部入力端子または外部出力端子であることを意味している。なお、○印のそばに表示されているＴ０１〜Ｔ０７の符号は、その信号線の名称であるが、その名称は、例えば、Ｐ８．ＡＮＤ＃７などのように接続先の信号線が含まれるページ番号（Ｐ８）と、接続先のロジックエレメントの識別番号（ＡＮＤ＃７）と、を少なくとも含むようにしておくものとする。

次に、情報処理装置１０は、ステップＳ１１で選択された制御ロジックの制御ロジック図と、ステップＳ１２で設定された外部入力信号データとに基づき、当該選択された制御ロジックの動作のシミュレーションを実行する（図２のステップＳ１４：図１の制御ロジックシミュレーション部１３の処理に相当）。そして、そのシミュレーションの結果得られる各ロジックエレメントの出力信号データをシミュレーション結果記憶部２３に格納する。また、シミュレーションの結果得られるロジックエレメントの出力信号データのうち、当該制御ロジックの図示しない外部出力端子につながるロジックエレメントの出力信号のデータ（図１の中の丸囲みａの経路のデータ）は、入出力処理部１８およびインタフェース装置２０を介して、外部装置２に向けて出力される。

次に、情報処理装置１０は、制御ロジック図表示画面３３に表示されたメニューバー３３０の中の注入対象信号線選択ボタン３３１がクリックされたか否かを判定する（ステップＳ１５）。

このとき、例えば、試験担当者は、制御ロジック図表示画面３３に表示された信号線のうち、試験信号データの注入を意図している信号線３０１をマウスカーソルなどで選択し、注入対象信号線選択ボタン３３１をクリックする。すなわち、注入対象信号線選択ボタン３３１がクリックされた場合には（ステップＳ１５でＹｅｓ）、情報処理装置１０は、そのとき選択されている信号線３０１を試験信号データの注入対象信号線として選択する（図２のステップＳ１６：図１の注入対象信号線選択部１４の処理に相当）。

さらに、情報処理装置１０は、図６に示すように制御ロジック図表示画面３３ａの中に試験信号データ設定画面３４をポップアップ表示するとともに、選択された注入対象信号線３０１を他の選択されていない信号線と区別できるように、例えば、色を変えて表示（図６では、太線で表示）する。なお、この時点では、試験信号データ注入影響表示画面３５は、まだ、表示されていない。

ここで、試験信号データ設定画面３４の中には、制御ロジックシミュレーション部１３によるシミュレーションによって、その時点で得られている注入対象信号線３０１の信号値（以下、現在値という）を表示する現在値表示欄３４１が設けられ、さらに、注入対象信号線３０１の切り離しを指示する切り離しボタン３４３および再接続を指示する再接続ボタン３４４が設けられている。

なお、注入対象信号線３０１の切り離しとは、注入対象信号線３０１が接続されている上流側のロジックエレメント（図６の例では、別ページの制御ロジック図に表示されている）の出力端子との接続を切り離すことを意味し、また、再接続とは、いったん切り離された注入対象信号線３０１を元の接続状態に戻すことを意味する。

この切り離しの操作によって、注入対象信号線３０１は浮遊状態になるので、注入対象信号線３０１への任意の試験信号データの注入が可能となる。そこで、試験信号データ設定画面３４の中には、さらに、注入対象信号線３０１へ注入する試験信号データを設定するための注入値設定欄３４２が設けられている。

試験担当者は、その注入値設定欄３４２を介して、注入対象信号線３０１へ注入する試験信号データを設定する。すなわち、情報処理装置１０は、注入値設定欄３４２に設定される試験信号データを読み取り、その読み取った試験信号データを注入対象信号線３０１へ注入する（図２のステップＳ１７：図１の試験信号データ注入部１５の処理に相当）。

なお、試験信号データの注入対象信号線３０１への注入は、注入値設定欄３４２に試験信号データが設定されただけでは行われず、切り離しボタン３４３がクリックされたときに行われる。また、切り離しボタン３４３がクリックされると、試験信号データ設定画面３４は閉じられる。

次に、情報処理装置１０は、試験対象信号線が選択済であるか否かを判定し（ステップＳ１８）、試験対象信号線が選択済でなかった場合には（ステップＳ１８でＮｏ）、処理をステップＳ１５へ戻し、また、試験対象信号線が選択済であった場合には（ステップＳ１８でＹｅｓ）、処理をステップＳ２２へ進める。

次に、情報処理装置１０は、ステップＳ１５の判定で注入対象信号線選択ボタン３３１がクリックされていなかった場合には（ステップＳ１５でＮｏ）、さらに、試験対象信号線選択ボタン３３２がクリックされたか否かを判定する（ステップＳ１９）。

このとき、試験担当者は、制御ロジック図表示画面３３または３３ａに表示された信号線のうち、試験信号データの注入の影響を判定しようとしている信号線３０５をマウスカーソルなどで選択し、試験対象信号線選択ボタン３３２をクリックする。すなわち、試験対象信号線選択ボタン３３２がクリックされた場合には（ステップＳ１９でＹｅｓ）、情報処理装置１０は、そのとき選択されている信号線３０５を試験対象信号線として選択する（図２のステップＳ２０：図１の試験対象信号線選択部１６の処理に相当）。

次に、情報処理装置１０は、注入対象信号線が選択済であるか否かを判定し（ステップＳ２１）、注入対象信号線が選択済でなかった場合には（ステップＳ２１でＮｏ）、処理をステップＳ１５へ戻し、また、注入対象信号線が選択済であった場合には（ステップＳ２１でＹｅｓ）、処理をステップＳ２２へ進める。

情報処理装置１０は、処理をステップＳ２２へ進めると、次には、ステップＳ１７で注入対象信号線３０１へ注入した試験信号データと、ステップＳ１４の制御ロジックのシミュレーションで得られたシミュレーション結果のデータと、制御ロジック図記憶部２１に記憶されている当該制御ロジックのロジックエレメントの接続データと、に基づき、注入対象信号線３０１へ注入した試験信号データが及ぼす試験対象信号線３０５への影響の有無を判定する（図２のステップＳ２２：図１の試験信号データ注入影響判定部１７の処理に相当）。

次に、情報処理装置１０は、注入した試験信号データの試験対象信号線３０５への影響の判定結果を表示装置３０に表示する（ステップＳ２３）。このとき、情報処理装置１０は、図６の制御ロジック図表示画面３３ａの中に示すような試験信号データ注入影響表示画面３５をポップアップ表示する。

試験信号データ注入影響表示画面３５の中には、ステップＳ２０で選択された試験対象信号線３０５の名称、および、制御ロジックシミュレーション部１３によるシミュレーションで得られた試験対象信号線３０５の論理値が表示され、さらに、試験信号データが注入された注入対象信号線の名称、および、その試験信号データ注入による試験対象信号線３０５への影響の有無が表示される。

なお、図６では、注入対象信号線としては、信号線３０１のほかにも、信号線３０２，３０３が選択されているものとする。これらの信号線は、注入対象信号線であることを示すために色を変えて（太線）で表示されている。

また、図６では、信号線の名称は、“Ｐｉ．ｅｌ＃ｊ．ｋ”の形式で表されている。ここで、“Ｐｉ”の“ｉ”は、制御ロジック図のページ番号、“ｅｌ”は、ＡＮＤ、ＯＲなどロジックエレメントの名称、“＃ｊ”は、ロジックエレメントの通し番号、“ｋ”は、ロジックエレメントへの入力端子番号（数字の場合）、または、ロジックエレメントからの出力端子であること（文字“Ｏ”の場合）を意味している。

すなわち、図６にポップアップ表示された試験信号データ設定画面３４および試験信号データ注入影響表示画面３５は、
（１）注入対象信号線３０１（Ｐ１．ＯＲ＃１．１）を切り離し、現在値“０”を注入値“１”とする試験信号データを注入しても、試験対象信号線３０５（Ｐ１．ＯＲ＃２．Ｏ）の信号値には影響がなく、同様に、
（２）注入対象信号線３０２（Ｐ１．ＡＮＤ＃１．１）を切り離し、現在値“０”を注入値“１”とする試験信号データを注入しても（試験信号データ設定画面３４の図示は省略）、試験対象信号線３０５（Ｐ１．ＯＲ＃２．Ｏ）の信号値には影響がないが、
（３）注入対象信号線３０３（Ｐ１．ＡＮＤ＃２．１）を切り離し、現在値“１”を注入値“０”とする試験信号データを注入すると（試験信号データ設定画面３４の図示は省略）、試験対象信号線３０５（Ｐ１．ＯＲ＃２．Ｏ）の信号値に影響があることを意味している。

なお、ステップＳ２２において、注入した試験信号データの試験対象信号線３０５への影響の有無は、試験信号データを注入したことにより、試験対象信号線３０５の信号値が変化したか否かによって判定される。

例えば、現在値“０”の注入対象信号線３０２に注入値“１”を注入したとしても、信号線３０６の現在値が“１”であった場合には、信号線３０４の信号値、つまり、注入対象信号線３０２の信号値の変化に関係なく、試験対象信号線３０５の信号値は、“１”のままであり、変化しない。従って、注入対象信号線３０２への注入値“１”の試験信号データの注入は、試験対象信号線３０５の信号値に影響なしと判定される。

また、現在値“１”の注入対象信号線３０３に注入値“０”を注入し、信号線３０４の現在値が“０”であった場合には、試験対象信号線３０５の信号値は、“１”から“０”へ変化する。従って、注入対象信号線３０３への注入値“０”の試験信号データの注入は、試験対象信号線３０５の信号値に影響ありと判定される。

図２に戻って、試験支援処理の処理フローの説明を続ける。情報処理装置１０は、ステップＳ２３の次には、処理をステップＳ１５へ戻す。そして、ステップＳ１５の判定で注入対象信号線選択ボタン３３１がクリックされず（ステップＳ１５でＮｏ）、しかも、ステップＳ１９の判定で試験対象信号線選択ボタン３３２がクリックされていなかった場合には（ステップＳ１９でＮｏ）、さらに、終了ボタン３３３がクリックされたか否かを判定する（ステップＳ２４）。

このとき、終了ボタン３３３がクリックされていなかった場合には（ステップＳ２４でＮｏ）、情報処理装置１０は、処理をステップＳ１５へ戻す。つまり、試験担当者は、注入対象信号線または試験対象信号線として他の信号線を、適宜、選択し直すことによって、試験信号データの注入の試験対象信号線への影響の有無の判定の試験を継続することができる。また、終了ボタン３３３がクリックされた場合には（ステップＳ２４でＹｅｓ）、図２の試験支援処理を終了する。

以上の試験支援処理により、試験担当者は、試験担当者は、次のようなことを行うことが可能になる。すなわち、プラント制御装置の制御ロジックの動作が不審な箇所を見つけた場合には、その不審な動作をする信号線を試験対象信号線として選択し、さらに、その不審な動作の原因となっていると思われる信号線を注入対象信号線として選択することによって、試験信号データ設定画面３４から注入対象信号線の信号値を容易に変更する（注入）ことができるようになり、さらには、試験信号データ注入影響表示画面３５から、試験対象信号線に対する信号値の注入の効果（つまり、影響の有無）を知ることができる。従って、試験担当者は、注入対象信号線の動作（原因の動作）と、試験対象信号線の動作（結果の動作）との関係を容易に知ることができるので、試験対象信号線の不審な動作の原因を突き止めるのが容易になる。

もちろん、試験担当者が注入対象信号線を数本選択し、その数本の注入対象信号線の動作と試験対象信号線の動作との関係を把握しただけでは、多くの場合、試験対象信号線の不審な動作の原因を突き止めることは困難であると思われる。しかしながら、本実施形態に係る試験支援装置１では、試験信号データ設定画面３４および試験信号データ注入影響表示画面３５が設けられているので、試験担当者にとっての使い勝手（操作性）は向上している。従って、試験担当者は、より多くの注入対象信号線と試験対象信号線との動作関係を迅速に知ることが可能になる。その結果、試験対象信号線の不審な動作の原因を突き止める作業の効率は向上することになる。

以上の通り、本実施形態によれば、プラント制御装置の制御ロジックの動作を検証したり、不具合箇所を解析したりする試験で用いられる試験支援装置１の、試験担当者にとっての使い勝手が向上し、その結果、その試験作業の効率も向上する。

以下、以上に説明した実施形態に対して、さらに補足する説明を加える。

一般に、注入対象信号線と試験対象信号線との動作の関係を判定しようとするとき、試験担当者にとっては、それらの信号線の１対１の関係を判定したほうが分かり易い。従って、試験担当者は、１組の注入対象信号線と試験対象信号線との動作の関係を判定が終わると、次には、試験信号データ設定画面３４に表示されている再接続ボタン３４４をクリックすることによって、注入対象信号線の選択を逐一解除する。

一方、図２に示した試験支援処理の処理フローでは、複数の信号線が注入対象信号線として選択され、かつ、複数の信号線が試験対象信号線として選択されることは可能である。試験担当者は、原因の動作と結果の動作の関係を把握するのが難しくなるので、通常、そのような信号線の選択はしない。しかしながら、例えば、図７に示すような制御ロジックがあった場合には、そのような信号線の選択をしたほうが試験作業の効率を向上させることができる。

図７は、複数の信号線を注入対象信号線として選択するとともに、複数の信号線を試験対象信号線として選択したとき、試験作業の効率を向上させることが可能な制御ロジックの例を示した図である。制御ロジックの中には、図７の制御ロジック図表示画面３３ｂに示すように、例えば、２つの１６ビットのデータの演算処理をするときなどに、しばしば、信号が単に左から右に流れるようなロジックが繰り返して現れることがある（ただし、図７では３ビット分の信号しか図示されていない）。

このような場合には、通常、複数の信号線３１１，３１２，３１３の間には、相互のロジックの依存関係がなく、また、複数の信号線３１４，３１５，３１６の間にも、相互のロジックの依存関係がないことが多い。そこで、それが明らかとみなされる場合には、試験担当者は、信号線３１１，３１２，３１３を注入対象信号線として選択し、適宜、試験信号データ設定画面３４（図７では図示省略）によりそれぞれに試験信号データを注入する。そして、信号線３１４，３１５，３１６を試験対象信号線として選択し、試験信号データ注入影響表示画面３５（図７では図示省略）により信号線３１１と信号線３１４との動作の関係、信号線３１２と信号線３１５との動作の関係、および、信号線３１３と信号線３１５との動作の関係を、それぞれ独立に確認する。そうすることによって、例えば、ロジックエレメントＡＮＤ＃７、ＡＮＤ＃８、ＡＮＤ＃９の動作の不具合などを見つけることができる。

また、こうした場合には、試験担当者が、例えば、信号線３１１と信号線３１６との間には、何ら相互の依存関係はないと判断した場合であっても、信号線３１１が他のページの制御ロジックに含まれる信号線３１７を経由して、例えば、信号線３１８に混入するようなことは、あり得ないことではない。しかしながら、本実施形態では、信号線３１３を注入対象信号線として選択し、信号線３１６を試験対象信号線として選択するときには、信号線３１１は試験対象信号線として選択されたままであるので、試験対象信号線３１６への試験信号データの注入判定では、信号線３１１への試験信号データの注入結果の影響も判断することも可能となる。

以上、補足して説明したケースでは、試験担当者は、１組の信号線の動作を確認するたびに、試験信号データ設定画面３４内の再接続ボタン３４４を逐一クリックする必要がなくなるので、試験作業の効率が向上することになる。なお、このとき、メニューバー３３０の中に、例えば、そのとき選択されているすべての注入対象信号線および試験対象信号線を一斉に解除するような信号線選択一斉解除ボタン３３６が設けられていると好都合である。その場合には、試験作業の効率はさらに向上する。

１ 試験支援装置
２ 外部装置
１０ 情報処理装置
１１ 制御ロジック選択部
１２ 外部入力信号データ設定部
１３ 制御ロジックシミュレーション部
１４ 注入対象信号線選択部
１５ 試験信号データ注入部
１６ 試験対象信号線選択部
１７ 試験信号データ注入影響判定部
１８ 入出力処理部
１９ 表示処理部
２０ インタフェース装置
２１ 制御ロジック図記憶部
２２ 外部入力信号データ記憶部
２３ シミュレーション結果記憶部
３０ 表示装置
３１ 制御ロジック選択画面
３２ 外部入力信号データ設定画面
３３，３３ａ，３３ｂ 制御ロジック図表示画面
３４ 試験信号データ設定画面
３５ 試験信号データ注入影響表示画面
４０ 入力装置
３３０ メニューバー
３３１ 注入対象信号線選択ボタン
３３２ 試験対象信号線選択ボタン
３３３ 終了ボタン
３３４ 名称欄
３３５ ページ欄
３３６ 信号線選択一斉解除ボタン
３４１ 現在値表示欄
３４２ 注入値設定欄
３４３ 切り離しボタン
３４４ 再接続ボタン

Claims (6)

1. 情報処理装置と表示装置とを備え、前記情報処理装置によりプラント制御装置の制御ロジックの検証を支援するプラント制御装置の試験支援装置であって、
   前記情報処理装置は、
   前記制御ロジックに含まれる外部入力端子、ロジックエレメント、外部出力端子およびそれらを相互に接続する信号線によって表わされた制御ロジック図を記憶する制御ロジック図記憶部と、
   前記外部入力端子を介して前記制御ロジックへ入力される外部入力信号データを取得する外部入力信号データ取得部と、
   前記取得された外部入力信号データと、前記制御ロジック図記憶部に記憶された制御ロジック図と、に基づいて前記制御ロジックの動作をシミュレーションする制御ロジックシミュレーション部と、
   前記制御ロジックシミュレーション部でのシミュレーションによって得られる前記制御ロジック図に含まれる各信号線の信号値のデータを記憶するシミュレーション結果記憶部と、
   前記制御ロジック図に含まれる信号線のうち、少なくとも１つの信号線を注入対象信号線として選択する注入対象信号線選択部と、
   前記選択した注入対象信号線を、その上流側に接続されたロジックエレメントの出力端子から切り離し、前記切り離した注入対象信号線に試験信号データを注入する試験信号データ注入部と、
   前記制御ロジック図に含まれる信号線のうち、前記注入対象信号線と異なる少なくとも１つの信号線を試験対象信号線として選択する試験対象信号線選択部と、
   前記試験信号データ注入部によって前記試験信号データが前記注入対象信号線に注入されたときに得られる前記試験対象信号線の信号値のデータと、前記シミュレーション結果記憶部に記憶されている前記試験対象信号線の信号値のデータと、を比較した結果に基づき、前記注入対象信号線への前記試験信号データの注入が前記試験対象信号線に及ぼす影響の有無を判定する試験信号データ注入影響判定部と、
   を備えたこと
   を特徴とするプラント制御装置の試験支援装置。
2. 前記情報処理装置は、
   前記注入対象信号線選択部により前記注入対象信号線を選択したとき、前記選択した注入対象信号線へ注入する試験信号データの入力を受け付ける表示画面を試験信号データ設定画面として前記表示装置に表示すること
   を特徴とする請求項１に記載のプラント制御装置の試験支援装置。
3. 前記情報処理装置は、
   前記試験対象信号線選択部により前記試験対象信号線を選択したときには、前記注入した試験信号データの前記試験対象信号線への影響の有無を前記試験信号データ注入影響判定部により判定し、その判定結果を試験信号データ注入影響表示画面として前記表示装置に表示すること
   を特徴とする請求項１または請求項２に記載のプラント制御装置の試験支援装置。
4. 情報処理装置と表示装置とを備え、前記情報処理装置によりプラント制御装置の制御ロジックの検証を支援するプラント制御装置の試験支援装置におけるプラント制御装置の試験支援方法であって、
   前記情報処理装置は、
   前記制御ロジックに含まれる外部入力端子、ロジックエレメント、外部出力端子およびそれらを相互に接続する信号線によって表わされた制御ロジック図を記憶する制御ロジック図記憶ステップと、
   前記外部入力端子を介して前記制御ロジックへ入力される外部入力信号データを取得する外部入力信号データ取得ステップと、
   前記取得された外部入力信号データと、前記制御ロジック図記憶部に記憶された制御ロジック図と、に基づいて前記制御ロジックの動作をシミュレーションする制御ロジックシミュレーションステップと、
   前記制御ロジックシミュレーション部でのシミュレーションによって得られる前記制御ロジック図に含まれる各信号線の信号値のデータを記憶するシミュレーション結果記憶ステップと、
   前記制御ロジック図に含まれる信号線のうち、少なくとも１つの信号線を注入対象信号線として選択する注入対象信号線選択ステップと、
   前記選択した注入対象信号線を、その上流側に接続されたロジックエレメントの出力端子から切り離し、前記切り離した注入対象信号線に試験信号データを注入する試験信号データ注入ステップと、
   前記制御ロジック図に含まれる信号線のうち、前記注入対象信号線と異なる少なくとも１つの信号線を試験対象信号線として選択する試験対象信号線選択ステップと、
   前記試験信号データ注入ステップで前記試験信号データが前記注入対象信号線に注入されたときに得られる前記試験対象信号線の信号値のデータと、前記シミュレーション結果記憶ステップで記憶された前記試験対象信号線の信号値のデータと、を比較した結果に基づき、前記注入対象信号線への前記試験信号データの注入が前記試験対象信号線に及ぼす影響の有無を判定する試験信号データ注入影響判定ステップと、
   を実行すること
   を特徴とするプラント制御装置の試験支援方法。
5. 前記情報処理装置は、
   前記注入対象信号線選択ステップで前記注入対象信号線を選択したとき、前記選択した注入対象信号線へ注入する試験信号データの入力を受け付ける表示画面を試験信号データ設定画面として前記表示装置に表示すること
   を特徴とする請求項４に記載のプラント制御装置の試験支援方法。
6. 前記情報処理装置は、
   前記試験対象信号線選択ステップで前記試験対象信号線を選択したときには、前記注入した試験信号データの前記試験対象信号線への影響の有無を前記試験信号データ注入影響判定ステップで判定し、その判定結果を試験信号データ注入影響表示画面として前記表示装置に表示すること
   を特徴とする請求項４または請求項５に記載のプラント制御装置の試験支援方法。

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