JP5316405B2 - Lsi試験装置、lsi試験方法、lsi試験プログラムおよび記録媒体 - Google Patents
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Description
12 テストパターン生成部
13 シミュレーション部
14 電源解析部
22 PLLバイパス用セレクタ
23 ゲーテッドクロックイネーブル設定用フリップフロップ
24 マスク回路
25 セレクタ
26 DFTコントローラ
52 カウンタ
53 デコーダ
まず、この発明の実施の形態にかかるLSI試験装置のハードウェア構成について説明する。図1は、この発明の実施の形態にかかるLSI試験装置のハードウェア構成を示すブロック図である。
次に、この発明の実施の形態にかかるLSI試験装置の機能的構成について説明する。図2は、この発明の実施の形態にかかるLSI試験装置の機能的構成を示すブロック図である。図2に示すように、LSI試験装置は、テスト回路合成部11と、テストパターン生成部12と、シミュレーション部13と、電源解析部14と、を備えている。
図3は、この発明の実施の形態にかかるLSI試験装置によるテスト合成後のLSIの回路構成の一例を示す図である。テスト合成前のLSIの回路構成は、図11に示す構成と同様である。
図6は、この発明の実施の形態にかかるLSI試験装置によるテスト合成後のLSIの回路構成の他の例を示す図である。なお、上述した「(テスト合成後ネットリストの回路構成の第1の例)」と同様の構成については、同一の符号を付して説明を省略する。また、その第1の例と重複する説明については、省略する。
次に、この発明の実施の形態にかかるLSI試験装置の高速試験手順について説明する。図9は、この発明の実施の形態にかかるLSI試験装置の高速試験手順の一例を示すフローチャートである。
図10は、この発明の実施の形態にかかるLSI試験装置の高速試験手順の他の例を示すフローチャートである。図10に示すように、第2の例では、同時に活性化可能なゲーテッドクロックバッファ数(または比率)75が指定される。
Claims (8)
- テスト合成前ネットリストにテスト回路を挿入するテスト回路合成手段と、
前記テスト回路合成手段により合成されたテスト合成後ネットリストに基づいて、前記テスト合成後ネットリストからなる回路に含まれる複数のゲーテッドクロックバッファのうち一部のゲーテッドクロックバッファのみを同時に活性化させるテストパターンを生成するテストパターン生成手段と、
前記テストパターン生成手段により生成されたテストパターンを用いて前記テスト合成後ネットリストからなる回路を動作させるシミュレーション手段と、
前記シミュレーション手段により得られた動作率情報に基づいて電圧降下量を解析する電源解析手段と、を備え、
前記テストパターン生成手段は、
前記電源解析手段により得られた電圧降下量がシステム動作時の電圧降下量以下でない場合、前記電源解析手段により得られた電圧降下量がシステム動作時の電圧降下量以下になるように、ゲーテッドクロックバッファの活性化率を変更し、
前記シミュレーション手段は、
前記活性化率変更後のテストパターンを用いて前記テスト合成後ネットリストからなる回路を動作させることを特徴とするLSI試験装置。 - テスト合成前ネットリストにテスト回路を挿入するテスト回路合成工程と、
前記テスト回路合成工程により得られたテスト合成後ネットリストに基づいて、前記テスト合成後ネットリストからなる回路に含まれる複数のゲーテッドクロックバッファのうち一部のゲーテッドクロックバッファのみを同時に活性化させるテストパターンを生成するテストパターン生成工程と、
前記テストパターン生成工程により得られたテストパターンを用いて前記テスト合成後ネットリストからなる回路を動作させるシミュレーション工程と、
前記シミュレーション工程により得られた動作率情報に基づいて電圧降下量を解析する電源解析工程と、
前記電源解析工程により得られた電圧降下量がシステム動作時の電圧降下量以下でない場合、前記電源解析工程により得られた電圧降下量がシステム動作時の電圧降下量以下になるように、ゲーテッドクロックバッファの活性化率を変更するゲーテッドクロックバッファ活性化率変更工程と、を含み、
前記シミュレーション工程では、
前記ゲーテッドクロックバッファ活性化率変更工程による活性化率変更後のテストパターンを用いて前記テスト合成後ネットリストからなる回路を動作させることを特徴とするLSI試験方法。 - 前記テストパターン生成工程では、同時に活性化させてもよいゲーテッドクロックバッファの数に基づいてテストパターンを生成することを特徴とする請求項2に記載のLSI試験方法。
- 前記テストパターン生成工程では、同時に活性化させてもよいゲーテッドクロックバッファの比率に基づいてテストパターンを生成することを特徴とする請求項2に記載のLSI試験方法。
- 前記テスト回路合成工程では、テスト回路として、PLLバイパス用セレクタ、ゲーテッドクロックイネーブル設定用フリップフロップ、マスク回路、セレクタおよびテスト制御回路を挿入し、
前記PLLバイパス用セレクタは、前記テスト制御回路から出力されるテストモード信号に基づいてテストモード時に基準クロック信号を前記ゲーテッドクロックバッファのクロック端子に供給し、
前記ゲーテッドクロックイネーブル設定用フリップフロップは、前記基準クロック信号に同期して自身の出力信号をラッチして出力し、
前記マスク回路は、前記テスト制御回路から出力されるスキャンモード信号に基づいて前記ゲーテッドクロックイネーブル設定用フリップフロップの出力信号が前記セレクタへ出力されるのを制御し、
前記セレクタは、前記テスト制御回路から出力されるテストモード信号に基づいてテストモード時に前記マスク回路の出力信号を前記ゲーテッドクロックバッファのイネーブル制御端子に供給することを特徴とする請求項2に記載のLSI試験方法。 - 前記テスト回路合成工程では、テスト回路として、PLLバイパス用セレクタ、カウンタ、デコーダ、セレクタおよびテスト制御回路を挿入し、
前記PLLバイパス用セレクタは、前記テスト制御回路から出力されるテストモード信号に基づいてテストモード時に基準クロック信号を前記カウンタおよび前記ゲーテッドクロックバッファのクロック端子に供給し、
前記カウンタは、前記PLLバイパス用セレクタから出力される基準クロック信号に基づいてカウンタ値を更新し、
前記デコーダは、前記カウンタから出力されるカウンタ値をデコードし、
前記セレクタは、前記テスト制御回路から出力されるテストモード信号に基づいてテストモード時に前記デコーダの出力信号をゲーテッドクロックバッファのイネーブル制御端子に供給することを特徴とする請求項2に記載のLSI試験方法。 - 請求項2〜6のいずれか一つに記載のLSI試験方法をコンピュータに実行させるLSI試験プログラム。
- 請求項7に記載のLSI試験プログラムを記録したコンピュータに読み取り可能な記録媒体。
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