JP5309173B2 - 光学顕微鏡装置 - Google Patents
光学顕微鏡装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5309173B2 JP5309173B2 JP2011055823A JP2011055823A JP5309173B2 JP 5309173 B2 JP5309173 B2 JP 5309173B2 JP 2011055823 A JP2011055823 A JP 2011055823A JP 2011055823 A JP2011055823 A JP 2011055823A JP 5309173 B2 JP5309173 B2 JP 5309173B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- housing
- microscope apparatus
- optical
- optical microscope
- movable housing
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 155
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 42
- CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N Carbon dioxide Chemical compound O=C=O CURLTUGMZLYLDI-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 26
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 24
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 23
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 claims description 21
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 claims description 20
- 229910002092 carbon dioxide Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 239000001569 carbon dioxide Substances 0.000 claims description 13
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 13
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 43
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 11
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 11
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 11
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 11
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 6
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 6
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 6
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 6
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 6
- 210000004748 cultured cell Anatomy 0.000 description 4
- 230000008901 benefit Effects 0.000 description 3
- 210000004027 cell Anatomy 0.000 description 3
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 239000005060 rubber Substances 0.000 description 2
- 239000012472 biological sample Substances 0.000 description 1
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 1
- 230000023077 detection of light stimulus Effects 0.000 description 1
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 1
- 238000009429 electrical wiring Methods 0.000 description 1
- 239000004744 fabric Substances 0.000 description 1
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 1
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 1
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 239000003973 paint Substances 0.000 description 1
- 238000003825 pressing Methods 0.000 description 1
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 1
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/06—Means for illuminating specimens
- G02B21/08—Condensers
- G02B21/088—Condensers for both incident illumination and transillumination
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/16—Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
この問題を回避するために、前記扉を駆動制御することにより、電動ステージに接触することなく開閉されることが必要となるが、コストが高くつくという不都合がある。
また、顕微鏡の電動ステージには直動性能において高い精度が要求されるので、直線ガイドが長くなると高い精度を出すための調整が難しくなり、調整時間が長くなって、組立コストも増大する虞がある。
本発明の態様は、試料を載置するステージと透過照明光学系と結像光学系とを有する倒立型顕微鏡と、該倒立型顕微鏡を取り囲むハウジングとを備え、ハウジングが、固定ハウジングと、該固定ハウジングに対して開閉移動可能に設けられる可動ハウジングとを備え、前記透過照明光学系を構成する光学部品のうち、ステージの上方に配される少なくともコンデンサレンズが移動可能に前記ハウジング内に設けられ、前記可動ハウジングが固定ハウジングに対して持ち上げられることにより開かれた位置に配置されたときに、少なくとも前記コンデンサレンズを他の光学系の光軸から退避させて前記試料を交換または載置可能な空間を前記ステージ上に確保し、前記可動ハウジングが固定ハウジングに対して閉じられた位置に配置されたときに前記コンデンサレンズと前記他の光学系との光軸を略一致させる切替機構を備え、前記可動ハウジングが固定ハウジングに対して持ち上げられて前記開かれた位置に配置されるだけで前記試料を交換または載置可能な前記空間が前記ステージ上に確保される光学顕微鏡装置である。
このようにすることで、固定ハウジングに対して可動ハウジングを開閉移動させるだけで、ステージの上方に広い空間を確保する作業状態と、透過照明光学系と結像光学系の光軸を略一致させた観察状態とを容易に切り替えることができる。
可動ハウジングを揺動あるいは直線移動させるだけで、作業状態と観察状態とを容易に切り替えることができる。
センサがハウジングの開状態を検出したときには、透過照明光学系からの照明光の照射等は不要となるため、照明光をオフ状態に切り替える一方、閉状態を検出したときには、自動的に観察を開始させることもできる。
センサがハウジングの開状態を検出したときには、ハウジングが開かれて試料の交換作業等が行われるため、制御部の作動により試料を交換等し易い位置にステージを移動させることにより作業性を向上することができる。また、ハウジングの閉状態が検出されたときには、その後に顕微鏡観察が行われるため、制御部の作動により自動的にステージを観察位置に配置することによって、手間を省くことができる。
センサがハウジングの閉状態を検出したときに、制御部の作動により、観察作業への移行開始を自動的に行うことで、観察者の手間を省くことができる。
センサがハウジングの開状態を検出したときに、制御部の作動により、光源をオフ状態に切り替えることで、観察者が眩しさを感じることなく、試料の交換作業等を行うことができる。
また、前記ハウジング内の炭酸ガス濃度を調節する炭酸ガス供給装置を備え、前記センサからの検出信号を受けて前記炭酸ガス供給装置を制御する制御部を備えることとしてもよい。
このようにすることで、センサがハウジングの開状態を検出している状態において、温度調節器が作動したり、炭酸ガス供給装置が作動したりする無駄を省くことができる。
また、上記態様においては、前記ステージが、試料を収容したマイクロプレートを載置可能であることとしてもよい。
可動ハウジングに電装部品を配置することを防止できるので、可動ハウジングの移動時に変位する電気配線をなくして耐久性を向上することができる。
また、上記態様においては、前記固定ハウジングに対して前記可動ハウジングが閉じられたときに両者間の隙間を遮光する遮光部材が設けられていることとしてもよい。
さらに、上記態様においては、前記固定ハウジングに対して前記可動ハウジングが閉じられたときに、両者の端部が互いに重なるかみ合わせ構造になっていることとしてもよい。
以下、本発明の第1の実施形態に係る光学顕微鏡装置1について、図1〜図3を参照して説明する。
第1の実施形態に係る光学顕微鏡装置1は、図1に示されるように、倒立型顕微鏡2と、該倒立型顕微鏡2を収容するハウジング3とを備えている。
倒立型顕微鏡2は、試料Aを載置し図示しないクランプ機構により試料Aを固定する電動ステージ4と、該電動ステージ4の下方に配置され該電動ステージ4に載置された試料Aに対して、鉛直下方から励起光を照射する落射照明光学系5と、電動ステージ4の上方に配置され、試料Aの鉛直上方から白色光を照射する透過照明光学系6と、試料Aの下方に向けて発せられた蛍光および透過光を検出する検出光学系(結像光学系)7と、制御部8とを備えている。
前記制御部8は、電動ステージ4、キセノンランプ9、ハロゲンランプ14、CCDカメラ22、温度調節器27、炭酸ガス供給装置28およびセンサ30に接続されている。
第1の実施形態に係る光学顕微鏡装置1を用いて試料の観察を行うには、まず、操作者は、可動ハウジング25を操作して、固定ハウジング24に対して可動ハウジング25を開く。可動ハウジング25は図示しないクランプ機構により、図2に示されるように、持ち上げられた状態に保持される。
画像取得が自動的に行われることにより、操作者の手間を省くことができる。
撮像によりCCDカメラ22により取得された画像情報は、制御部8において画像処理され、蛍光画像としてモニタ32に表示されることになる。
具体的には、透過照明光学ユニット200が、倒立型顕微鏡2のフレーム201に設けられた回転支持機構202により、所定の回転軸を中心に回転可能に支持されるとともに、可動ハウジング25と透過照明光学ユニット200を連結するバネ203により、可動ハウジング25の開操作にともなって光軸から退避されるように支持されることとしてもよい。
この場合、透過照明光学ユニット200の可動範囲は、倒立型顕微鏡2のフレーム201に設けられたストッパ201a,201bで規制される。可動ハウジング25の閉操作により、透過照明光学ユニット200は、重力によって図中時計周りに回転し、ストッパ201bによって位置決めされる。この状態で、透過照明光学系6は、コンデンサレンズ19の光軸が対物レンズ13の光軸に一致する位置に配置される。
次に、本発明の参考例としての第2の実施形態に係る光学顕微鏡装置40について、図12〜図14を参照して以下に説明する。
第2の実施形態の説明において、上述した第1の実施形態に係る光学顕微鏡装置1と構成を共通とする箇所には同一符号を付して説明を省略する。
第2の実施形態に係る光学顕微鏡装置40のハウジング41は、下側に配される固定ハウジング42上に、直動ガイド43によって水平方向に移動可能な可動ハウジング44を備えている。固定ハウジング42と可動ハウジング44との間には図示しないクリック機構が設けられ、可動ハウジング44は、固定ハウジング42に対して、開状態と閉状態とをそれぞれ保持することができるようになっている。
第2の施形態においてはハロゲンランプ14を固定ハウジング42内に設けているが、ランプユニットとしてハウジング41の外部に配置してもよい。
次に、本発明の参考例としての第3の実施形態に係る光学顕微鏡装置50について、図15〜図19を参照して以下に説明する。
第3の実施形態の説明において、上述した第1の実施形態に係る光学顕微鏡1または第2の実施形態に係る光学顕微鏡40と構成を共通とする箇所には同一符号を付して説明を省略する。
正立型顕微鏡51は、試料Aを載置する電動ステージ4と、該電動ステージ4の上方に配置され該電動ステージ4に載置された試料Aに対して、鉛直上方から励起光を照射する落射照明光学系55と、電動ステージ4の下方に配置され、試料Aの鉛直下方から白色光を照射する透過照明光学系56と、試料Aの上方に向けて発せられた蛍光および透過光を検出する検出光学系57と、図示しない制御部8とを備えている。
前記検出光学系57は、落射照明光学系55の対物レンズ13、ミラー61およびダイクロイックミラー12を共有している。
1,40,50 光学顕微鏡装置
2 倒立型顕微鏡(顕微鏡)
3,41,52 ハウジング
4 電動ステージ(ステージ)
6,56 透過照明光学系
7,57 検出光学系(結像光学系)
8 制御部
9 キセノンランプ(光源)
14 ハロゲンランプ(光源)
16 光ファイバ
17 コレクタレンズ(光学部品)
18 ミラー(光学部品)
19 コンデンサレンズ(光学部品)
22 CCDカメラ(撮像手段)
24,42,53 固定ハウジング
25,44,54 可動ハウジング
27 温度調節器
28 炭酸ガス供給装置
30 センサ
31 マイクロプレート
51 正立型顕微鏡(顕微鏡)
Claims (16)
- 試料を載置するステージと透過照明光学系と結像光学系とを有する倒立型顕微鏡と、該倒立型顕微鏡を取り囲むハウジングとを備え、
ハウジングが、固定ハウジングと、該固定ハウジングに対して開閉移動可能に設けられる可動ハウジングとを備え、
前記透過照明光学系を構成する光学部品のうち、ステージの上方に配される少なくともコンデンサレンズが移動可能に前記ハウジング内に設けられ、
前記可動ハウジングが固定ハウジングに対して持ち上げられることにより開かれた位置に配置されたときに、少なくとも前記コンデンサレンズを他の光学系の光軸から退避させて前記試料を交換または載置可能な空間を前記ステージ上に確保し、前記可動ハウジングが固定ハウジングに対して閉じられた位置に配置されたときに前記コンデンサレンズと前記他の光学系との光軸を略一致させる切替機構を備え、
前記可動ハウジングが固定ハウジングに対して持ち上げられて前記開かれた位置に配置されるだけで前記試料を交換または載置可能な前記空間が前記ステージ上に確保される光学顕微鏡装置。 - 前記切替機構が、少なくとも前記コンデンサレンズを前記可動ハウジングに固定することより構成されている請求項1に記載の光学顕微鏡装置。
- 前記可動ハウジングが、前記固定ハウジングに揺動可能に取り付けられている請求項1または請求項2に記載の光学顕微鏡装置。
- 前記可動ハウジングが、前記固定ハウジングに対して直線移動可能に取り付けられている請求項1または請求項2に記載の光学顕微鏡装置。
- 前記固定ハウジングに対する前記可動ハウジングの開閉状態を検出するセンサを備える請求項1から請求項4のいずれかに記載の光学顕微鏡装置。
- 前記センサからの検出信号を受けて前記ステージの位置を駆動制御する制御部を備える請求項5に記載の光学顕微鏡装置。
- 前記結像光学系に、前記ステージ上の試料を撮像する撮像手段と、前記センサからの検出信号を受けて前記撮像手段を制御する制御部とを備える請求項5に記載の光学顕微鏡装置。
- 前記ステージ上の試料を照明する光源と、前記センサからの検出信号を受けて前記光源を制御する制御部とを備える請求項5に記載の光学顕微鏡装置。
- 前記ハウジング内の温度を調節する温度調節器を備え、前記センサからの検出信号を受けて前記温度調節器を制御する制御部を備える請求項5に記載の光学顕微鏡装置。
- 前記ハウジング内の炭酸ガス濃度を調節する炭酸ガス供給装置を備え、前記センサからの検出信号を受けて前記炭酸ガス供給装置を制御する制御部を備える請求項5に記載の光学顕微鏡装置。
- 前記ステージが、試料を収容したマイクロプレートを載置可能である請求項1から請求項10のいずれかに記載の光学顕微鏡装置。
- 前記透過照明光学系が、光源と、可動ハウジングに取り付けられた前記一部の光学部品と、光源からの照明光を該光学部品に向けて伝播する光ファイバとを備える請求項1から請求項11のいずれかに記載の光学顕微鏡装置。
- 前記光源が固定ハウジングに取り付けられている請求項12に記載の光学顕微鏡装置。
- 前記固定ハウジングおよび前記可動ハウジングの内壁面に可視光に対する反射防止処理が施されている請求項1から請求項13のいずれかに記載の光学顕微鏡装置。
- 前記固定ハウジングに対して前記可動ハウジングが閉じられたときに両者間の隙間を遮光する遮光部材が設けられている請求項1から請求項14のいずれかに記載の光学顕微鏡装置。
- 前記固定ハウジングに対して前記可動ハウジングが閉じられたときに、両者の端部が互いに重なるかみ合わせ構造になっている請求項1から請求項14のいずれかに記載の光学顕微鏡装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011055823A JP5309173B2 (ja) | 2005-11-16 | 2011-03-14 | 光学顕微鏡装置 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005331325 | 2005-11-16 | ||
JP2005331325 | 2005-11-16 | ||
JP2011055823A JP5309173B2 (ja) | 2005-11-16 | 2011-03-14 | 光学顕微鏡装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007545271A Division JP4728344B2 (ja) | 2005-11-16 | 2006-11-15 | 光学顕微鏡装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2011118435A JP2011118435A (ja) | 2011-06-16 |
JP5309173B2 true JP5309173B2 (ja) | 2013-10-09 |
Family
ID=38048608
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007545271A Active JP4728344B2 (ja) | 2005-11-16 | 2006-11-15 | 光学顕微鏡装置 |
JP2011055823A Expired - Fee Related JP5309173B2 (ja) | 2005-11-16 | 2011-03-14 | 光学顕微鏡装置 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007545271A Active JP4728344B2 (ja) | 2005-11-16 | 2006-11-15 | 光学顕微鏡装置 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7884999B2 (ja) |
EP (1) | EP1950595A1 (ja) |
JP (2) | JP4728344B2 (ja) |
WO (1) | WO2007058223A1 (ja) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4509143B2 (ja) * | 2007-06-20 | 2010-07-21 | オリンパス株式会社 | 箱型顕微鏡装置 |
JP4409586B2 (ja) * | 2007-06-20 | 2010-02-03 | オリンパス株式会社 | 箱型電動顕微鏡 |
JP2009003286A (ja) | 2007-06-22 | 2009-01-08 | Olympus Corp | 電動顕微鏡システム及び電動顕微鏡制御ソフトウェア |
JP5242106B2 (ja) * | 2007-09-14 | 2013-07-24 | オリンパス株式会社 | 電動顕微鏡 |
JP2009122431A (ja) * | 2007-11-15 | 2009-06-04 | Nikon Corp | 顕微鏡画像取得装置 |
US20120001061A1 (en) * | 2010-07-02 | 2012-01-05 | Hamilton Sundstrand Corporation | Ion implanted beam dump |
US9494783B2 (en) * | 2010-11-30 | 2016-11-15 | Etaluma Inc. | Compact, high-resolution fluorescence and brightfield microscope and methods of use |
NL2009899A (en) * | 2011-12-20 | 2013-06-24 | Asml Netherlands Bv | A pump system, a carbon dioxide supply system, an extraction system, a lithographic apparatus and a device manufacturing method. |
EP2873460A1 (de) * | 2013-11-15 | 2015-05-20 | Eppendorf Ag | Bedienvorrichtung für eine Klappvorrichtung, Klappvorrichtung für diese Bedienvorrichtung und Verfahren zum Bedienen der Bedienvorrichtung |
WO2015097915A1 (ja) * | 2013-12-27 | 2015-07-02 | 富士通株式会社 | 撮像プログラム、撮像方法及び撮像システム |
JP6691838B2 (ja) * | 2016-06-27 | 2020-05-13 | 株式会社キーエンス | 測定装置 |
JP6691837B2 (ja) * | 2016-06-27 | 2020-05-13 | 株式会社キーエンス | 測定装置 |
JP6680653B2 (ja) * | 2016-09-12 | 2020-04-15 | シスメックス株式会社 | 顕微鏡装置、顕微鏡システムおよび撮像方法 |
JP6579525B2 (ja) * | 2017-06-26 | 2019-09-25 | 國昭 永山 | 微弱光観察用レンズユニット及び複式顕微鏡装置 |
JP7018006B2 (ja) * | 2018-09-27 | 2022-02-09 | 富士フイルム株式会社 | 試料撮影装置 |
JP7137422B2 (ja) * | 2018-09-28 | 2022-09-14 | シスメックス株式会社 | 顕微鏡装置 |
EP3904939A1 (en) | 2020-04-28 | 2021-11-03 | Leica Microsystems CMS GmbH | Microscope and system comprising such a microscope for examination of an incubated sample and corresponding method |
GB202006259D0 (en) * | 2020-04-28 | 2020-06-10 | Leeds Teaching Hospitals Nhs Trust | Stain Assessment |
Family Cites Families (16)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3490846A (en) * | 1967-06-01 | 1970-01-20 | Kasper Instruments | Optical alignment and exposure apparatus |
US5325231A (en) * | 1991-03-22 | 1994-06-28 | Olympus Optical Co., Ltd. | Microscope illuminating apparatus |
JPH09178900A (ja) * | 1995-12-27 | 1997-07-11 | Olympus Optical Co Ltd | X線観察装置 |
US6847480B2 (en) * | 2000-04-03 | 2005-01-25 | Pocketscope.Com Llc | Lenses and uses, including microscopes |
JP2002148526A (ja) * | 2000-11-06 | 2002-05-22 | Nikon Corp | 顕微鏡装置 |
JP2002182123A (ja) * | 2000-12-11 | 2002-06-26 | Nikon Corp | 顕微鏡装置 |
JP4631218B2 (ja) * | 2001-06-21 | 2011-02-16 | 株式会社ニコン | 顕微鏡装置 |
JP4411866B2 (ja) * | 2003-06-02 | 2010-02-10 | 株式会社ニコン | 顕微鏡装置 |
EP1630586B1 (en) * | 2003-06-02 | 2015-01-07 | Nikon Corporation | Microscope device |
JP2005168341A (ja) | 2003-12-09 | 2005-06-30 | Olympus Corp | 生体試料観察装置 |
JP3837145B2 (ja) | 2004-07-07 | 2006-10-25 | オリンパス株式会社 | 顕微鏡撮像装置 |
JP4728632B2 (ja) * | 2004-12-03 | 2011-07-20 | 株式会社キーエンス | 倒立型顕微鏡 |
JP2006162765A (ja) | 2004-12-03 | 2006-06-22 | Keyence Corp | 倒立型蛍光顕微鏡 |
JP4789454B2 (ja) | 2004-12-03 | 2011-10-12 | 株式会社キーエンス | 蛍光顕微鏡 |
JP4804002B2 (ja) * | 2004-12-28 | 2011-10-26 | オリンパス株式会社 | 培養観察装置 |
JP4509143B2 (ja) * | 2007-06-20 | 2010-07-21 | オリンパス株式会社 | 箱型顕微鏡装置 |
-
2006
- 2006-11-15 US US12/093,409 patent/US7884999B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2006-11-15 WO PCT/JP2006/322779 patent/WO2007058223A1/ja active Application Filing
- 2006-11-15 EP EP06823427A patent/EP1950595A1/en not_active Withdrawn
- 2006-11-15 JP JP2007545271A patent/JP4728344B2/ja active Active
-
2011
- 2011-03-14 JP JP2011055823A patent/JP5309173B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1950595A1 (en) | 2008-07-30 |
JPWO2007058223A1 (ja) | 2009-05-07 |
WO2007058223A1 (ja) | 2007-05-24 |
JP4728344B2 (ja) | 2011-07-20 |
JP2011118435A (ja) | 2011-06-16 |
US20090046358A1 (en) | 2009-02-19 |
US7884999B2 (en) | 2011-02-08 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5309173B2 (ja) | 光学顕微鏡装置 | |
JP4509143B2 (ja) | 箱型顕微鏡装置 | |
US7215426B2 (en) | Dark box apparatus for fluoroscopy, fluoroscopy system, and fluoroscopy method | |
JP2002148526A (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP4409586B2 (ja) | 箱型電動顕微鏡 | |
JP3861357B2 (ja) | 光学装置と一体化された顕微鏡用レボルバおよび顕微鏡 | |
CN114355602A (zh) | 显微镜 | |
CN110967821B (zh) | 显微镜装置 | |
JP2002207177A (ja) | 蛍光顕微鏡 | |
JP3365803B2 (ja) | 顕微鏡焦準装置 | |
JP4643182B2 (ja) | 全反射顕微鏡 | |
JP2001255465A (ja) | 顕微鏡のシャッタ装置 | |
JP2006337643A (ja) | 蛍光顕微鏡 | |
JP2001083430A (ja) | 倒立顕微鏡装置 | |
JP2010262071A (ja) | 顕微鏡 | |
JP4307944B2 (ja) | シャッタ装置、レーザ走査型顕微鏡及び顕微鏡 | |
JP2022170899A (ja) | 分析装置 | |
JPH07333507A (ja) | 顕微鏡システム | |
JP2003043368A (ja) | 顕微鏡 | |
JP2004325868A (ja) | 顕微鏡観察装置及びプローブ型顕微鏡 | |
JP2013186309A (ja) | ミラーユニット切替装置および顕微鏡 | |
JP2009151108A (ja) | 光路選択装置と、これを有する照明装置と、顕微鏡 | |
JP2011008032A (ja) | 顕微鏡 | |
JPH0678918U (ja) | マイクロマニピュレーション装置 | |
JP2018120092A (ja) | 顕微鏡及び顕微鏡用遮光装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110314 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110426 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121225 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130222 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130611 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130701 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5309173 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |