JP5242106B2 - 電動顕微鏡 - Google Patents
電動顕微鏡 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5242106B2 JP5242106B2 JP2007240040A JP2007240040A JP5242106B2 JP 5242106 B2 JP5242106 B2 JP 5242106B2 JP 2007240040 A JP2007240040 A JP 2007240040A JP 2007240040 A JP2007240040 A JP 2007240040A JP 5242106 B2 JP5242106 B2 JP 5242106B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- control unit
- turret
- fluorescent cube
- optical element
- microscope system
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 104
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 60
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 description 24
- 238000000034 method Methods 0.000 description 23
- 230000008569 process Effects 0.000 description 19
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 11
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 9
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 230000005284 excitation Effects 0.000 description 6
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 4
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 230000002093 peripheral effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/0016—Technical microscopes, e.g. for inspection or measuring in industrial production processes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/0004—Microscopes specially adapted for specific applications
- G02B21/0088—Inverse microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/16—Microscopes adapted for ultraviolet illumination ; Fluorescence microscopes
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
- G02B21/248—Base structure objective (or ocular) turrets
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/36—Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Microscoopes, Condenser (AREA)
- Lens Barrels (AREA)
Description
また、本発明にかかる電動顕微鏡は、上記の発明において、前記配置切換手段は、交換可能な複数の光学素子を保持し、前記制御手段は、前記交換可能な複数の光学素子のうち、予め定められた光学素子を前記交換位置に移動させることを特徴とする。
まず、本発明の実施の形態1にかかる顕微鏡システム(電動顕微鏡)について説明する。図1は、本実施の形態1にかかる顕微鏡システム1を模式的に示した側面図である。また、図2は、顕微鏡システム1を模式的に示した平面図である。図1に示すように、顕微鏡システム1は、倒立顕微鏡であり、標本を観察する機構である観察機構101と、顕微鏡システム1の各部の動作を制御する制御部110と、観察機構101で撮影された標本の画像などを表示する表示部120と、各種操作の入力を受け付ける入力部130と、顕微鏡システム1の起動および電源の投入、遮断の指示を受け付ける電源スイッチ140とを備える。
次に、本発明の実施の形態2にかかる顕微鏡システムについて説明する。実施の形態1では、顕微鏡システムの電源を遮断するという1操作の入力があった場合、交換可能な光学素子を交換位置に配置させたが、この実施の形態2では、光学素子の交換扉を開扉するという1操作の入力があった場合、交換可能な光学素子を交換位置に配置させる。
次に、本発明の実施の形態3について説明する。実施の形態1,2では、所定の1操作がされた場合、交換可能な光学素子を交換位置に配置させた後、ステッピングモータの駆動を停止させたが、この実施の形態3では、光学素子の交換扉を開扉するという1操作がされた場合、光学素子の配置を切り換えることなく、ステッピングモータの駆動を停止させる。
次に、本発明の実施の形態4について説明する。実施の形態1,2では、配置切換装置は、交換可能な光学素子を1つずつ保持し、所定の1操作がされた場合、交換可能な光学素子を交換位置に配置することとしたが、本実施の形態4では、交換可能な光学素子を複数保持し、所定の1操作の入力があった場合、複数の光学素子のうち、所定の光学素子を交換位置に配置する。
実施の形態4では、所定の1操作がされた場合、交換候補の光学素子を交換位置に配置することとしたが、本変形例では、所定の1操作がされた場合、配置切換装置上の光学素子を保持するための穴(装着穴)のうち、光学素子が装着されていない空穴を交換位置に配置することとする。
2 標本
3 ステージ
4 透過光源
5,5a フィルタ
6 透過ターレット
6’,8’,16’ ギア
7,7a 対物レンズ
8 電動レボルバ
9 ,10 折り返しミラー
11 撮影装置
11a カメラ
11b CCD
12,62 フィルタ用交換扉
13,63 対物レンズ用交換扉
14 落射光源
15,15a,70,80 蛍光キューブ
16,72,82 蛍光キューブターレット
17,47 蛍光キューブ用交換扉
20,30,40 ギア
21,31,41 ステッピングモータ
22,32,42,48 指標
23,33,43,49 センサ
24,34,44,50 センサ基板
25,26 透過ターレット制御部
35,36 電動レボルバ制御部
45,46,74,84 蛍光キューブターレット制御部
51,60,61 信号入力部
71 ICチップ
73 ICリーダ/ライタ
81 磁石
82a 装着穴(空穴)
83a,83b,83c,83d 磁気センサ
101,201,301 観察機構
110,210,310,410 制御部
120 表示部
130 入力部
140 電源スイッチ
Q 光軸
Claims (4)
- 光学素子を保持し、前記光学素子の配置を切り換える配置切換手段と、
前記配置切換手段を駆動する駆動手段と、
前記駆動手段を制御して、前記光学素子の配置を制御する制御手段と、
電源を遮断する操作を入力する電源スイッチと、
を備え、
前記制御手段は、前記電源スイッチによって電源を遮断する操作が入力された場合、前記駆動手段の駆動を制御して、前記光学素子のうち交換可能な前記光学素子を、交換操作を受け付ける交換位置に移動させた後、電源を遮断し、前記配置切換手段を手動で回動可能にする制御を行うことを特徴とする電動顕微鏡。 - 前記制御手段は、前記配置切換手段を手動で回動可能にする制御を行う前に、前記光学素子のうち交換可能な前記光学素子を前記交換位置に移動させる際に、前記駆動手段を制御して、通常の回動速度に比して低速で前記光学素子を移動させることを特徴とする請求項1に記載の電動顕微鏡。
- 前記配置切換手段が保持している前記光学素子を認識する認識手段を備え、
前記制御手段は、前記駆動手段を制御して、前記認識手段が認識した情報をもとに所望の前記光学素子を前記交換位置に移動させることを特徴とする請求項1または2に記載の電動顕微鏡。 - 前記配置切換手段は、交換可能な複数の光学素子を保持し、
前記制御手段は、前記交換可能な複数の光学素子のうち、予め定められた光学素子を前記交換位置に移動させることを特徴とする請求項1〜3のいずれか一つに記載の電動顕微鏡。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007240040A JP5242106B2 (ja) | 2007-09-14 | 2007-09-14 | 電動顕微鏡 |
US12/184,422 US20090073551A1 (en) | 2007-09-14 | 2008-08-01 | Electrically-operated microscope |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2007240040A JP5242106B2 (ja) | 2007-09-14 | 2007-09-14 | 電動顕微鏡 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009069685A JP2009069685A (ja) | 2009-04-02 |
JP5242106B2 true JP5242106B2 (ja) | 2013-07-24 |
Family
ID=40454166
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2007240040A Expired - Fee Related JP5242106B2 (ja) | 2007-09-14 | 2007-09-14 | 電動顕微鏡 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20090073551A1 (ja) |
JP (1) | JP5242106B2 (ja) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5931538B2 (ja) | 2011-09-26 | 2016-06-08 | オリンパス株式会社 | 倒立型顕微鏡 |
JP7018006B2 (ja) | 2018-09-27 | 2022-02-09 | 富士フイルム株式会社 | 試料撮影装置 |
WO2023166903A1 (ja) * | 2022-03-02 | 2023-09-07 | Phc株式会社 | 分析装置 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2598809Y2 (ja) * | 1992-12-18 | 1999-08-23 | オリンパス光学工業株式会社 | ターゲット電動切換装置 |
JP3429575B2 (ja) * | 1994-10-17 | 2003-07-22 | オリンパス光学工業株式会社 | 顕微鏡の光学素子交換装置 |
JP2002174775A (ja) * | 2000-12-08 | 2002-06-21 | Nikon Corp | 電動ターレット装置及びこれを備えた顕微鏡及び光学素子の位置決め方法 |
FR2823314B1 (fr) * | 2001-04-09 | 2003-08-15 | Univ Joseph Fourier | Microscope numerique |
JP2004101871A (ja) * | 2002-09-10 | 2004-04-02 | Olympus Corp | 顕微鏡画像撮影装置 |
JP4121849B2 (ja) * | 2002-12-26 | 2008-07-23 | オリンパス株式会社 | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 |
US7756357B2 (en) * | 2003-07-01 | 2010-07-13 | Olympus Corporation | Microscope system for obtaining high and low magnification images |
JP2006078880A (ja) * | 2004-09-10 | 2006-03-23 | Olympus Corp | 顕微鏡装置 |
JP2007156431A (ja) * | 2005-11-11 | 2007-06-21 | Olympus Corp | 顕微鏡システム |
JP4728344B2 (ja) * | 2005-11-16 | 2011-07-20 | オリンパス株式会社 | 光学顕微鏡装置 |
-
2007
- 2007-09-14 JP JP2007240040A patent/JP5242106B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-08-01 US US12/184,422 patent/US20090073551A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20090073551A1 (en) | 2009-03-19 |
JP2009069685A (ja) | 2009-04-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
USRE42948E1 (en) | Optical microscope apparatus, optical element arranging method, and storage medium | |
US6927903B2 (en) | Rapidly changing dichroic beamsplitter | |
US6337767B1 (en) | Microscope with visible and ultraviolet light illumination systems | |
JP5028249B2 (ja) | 顕微鏡 | |
JPWO2009031477A1 (ja) | オートフォーカス装置および顕微鏡 | |
JP2006011415A (ja) | 培養顕微鏡、及び、培養顕微鏡を制御するコンピュータプログラム | |
JP5242106B2 (ja) | 電動顕微鏡 | |
JP2004109374A (ja) | 電動光学顕微鏡 | |
US6989928B2 (en) | Microscope apparatus | |
JP2011107224A (ja) | 顕微鏡システム | |
JP5267161B2 (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP6391345B2 (ja) | 顕微鏡システム | |
JP2009175316A (ja) | 観察装置 | |
JP3429575B2 (ja) | 顕微鏡の光学素子交換装置 | |
JP4898136B2 (ja) | 間欠移動型電動光学絞り付き顕微鏡 | |
JP4717375B2 (ja) | 蛍光顕微鏡および観察方法 | |
JP2000089126A (ja) | 顕微鏡用落射照明装置 | |
JP2009151108A (ja) | 光路選択装置と、これを有する照明装置と、顕微鏡 | |
JP2003057561A (ja) | 顕微鏡装置 | |
JP2008139613A (ja) | 光学顕微鏡 | |
JP2009192688A (ja) | 顕微鏡 | |
JP2008040158A (ja) | 顕微鏡の付加装置とこれを有する顕微鏡装置 | |
JP2003307684A (ja) | 顕微鏡 | |
JP2002139676A (ja) | 顕微鏡システム | |
JP2003202503A (ja) | 蛍光観察顕微鏡 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100825 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111005 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20120316 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20120828 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20121001 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130312 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130403 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160412 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5242106 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160412 Year of fee payment: 3 |
|
S531 | Written request for registration of change of domicile |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees | ||
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
|
R371 | Transfer withdrawn |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371 |