JP5272275B2 - 酸性亜鉛めっき浴 - Google Patents

酸性亜鉛めっき浴 Download PDF

Info

Publication number
JP5272275B2
JP5272275B2 JP2010537818A JP2010537818A JP5272275B2 JP 5272275 B2 JP5272275 B2 JP 5272275B2 JP 2010537818 A JP2010537818 A JP 2010537818A JP 2010537818 A JP2010537818 A JP 2010537818A JP 5272275 B2 JP5272275 B2 JP 5272275B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
bath
plating
anionic surfactant
acidic
cumylphenol
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2010537818A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2010055917A1 (ja
Inventor
和生 伊藤
司 榊原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yuken Industry Co Ltd
Original Assignee
Yuken Industry Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Yuken Industry Co Ltd filed Critical Yuken Industry Co Ltd
Priority to JP2010537818A priority Critical patent/JP5272275B2/ja
Publication of JPWO2010055917A1 publication Critical patent/JPWO2010055917A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5272275B2 publication Critical patent/JP5272275B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C25ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
    • C25DPROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
    • C25D3/00Electroplating: Baths therefor
    • C25D3/02Electroplating: Baths therefor from solutions
    • C25D3/22Electroplating: Baths therefor from solutions of zinc

Description

本発明は、例えば、金属部品の光沢亜鉛めっきに適する電気亜鉛めっき用の酸性亜鉛めっき浴に関する。
各種金属部品、例えば各種加工品や成形品、例えばピンやボルトやナットについては、亜鉛めっきを行うことで耐食性および外観の美麗さを高めることは広く行われている。
亜鉛めっきとしては溶融亜鉛めっき、電気亜鉛めっきなどがあるが、電気亜鉛めっきにより各種金属部品のめっき処理を行うにはめっき浴が使用される。その場合、アルカリ浴としてシアン浴、ジンケート浴が使用されており、酸性浴として硫酸浴、塩化浴が使用されている(例えば、特許文献1〜5参照)。
酸性浴は、電流効率が良く、大量処理に適するため、ボルト、ナット等の工業製品のめっき浴としてよく用いられている。塩化浴は高い生産性、鋳物へめっきがつきやすい等の特長があり、広く使用されている。塩化浴にはアンモニウム浴と、カリウム浴、それらの両方を使用した折衷浴とがある。しかしながら、最近では、アンモニウム浴は、窒素の排水規制強化、カリウム浴は、緩衝剤として使用しているホウ酸のホウ素の排水規制により使用しにくい状況になってきている。また、カリウム浴はアンモニウムを全く使用しないが、アンモニウム浴や折衷浴と比較して高電流部分に焦げと呼ばれる異常析出が発生し生産性が劣る。このため折衷浴が普及している。
酸性めっき浴による光沢亜鉛めっきでは、めっきに光沢を付与するために、光沢剤と呼ばれる有機化合物の添加が不可欠である。従来、光沢剤成分としてナフトール系アニオン性界面活性剤を使用していた(例えば、特許文献6参照)。
酸性浴は、電流を流すと温度が上昇し、界面活性剤の影響により濁って光沢がなくなることから、従来、20〜25℃程度の低温で用いられることが多かった。そのため、冷却する必要があり、コストアップの要因となっていた。一方、高温でめっきすると電流効率がよいこともあり、近年、30〜50℃の高温で用いられることが多くなってきている。
特開平08−283982号公報 特開平11−158683号公報 特開2002−004080号公報 特開2004−339596号公報 特開2006−322069号公報 特開昭56−102589号公報
しかしながら、従来の高温酸性亜鉛めっき浴では、浴の安定性が悪かった。pHの変動や、30〜50℃程度の高温使用時の濁り沈殿発生があった。つまり、30〜50℃の高温で用いるためには、光沢剤の界面活性剤の影響による濁りを防止する必要があった。また、めっき液中に分解物の生成、沈殿も見られた。
さらに、めっき処理を継続して行う場合、一定の通電により曇点の低下が確認されていた。つまり、初期の高温浴としてのめっき性能を維持することが難しく、めっき浴の経時安定性が問題となっていた。そこで、アニオン性界面活性剤の添加量を増やすことにより曇点を上昇させ、めっき浴の溶解分散性が向上させることができるが、添加量が過剰な場合はめっき性能を低下させる要因となっていた。
本発明の課題は、30〜50℃の高温時においても経時安定性が改善された酸性亜鉛めっき浴を提供することにある。
本発明者らは、光沢剤として用いるアニオン性界面活性剤をクミルフェノール系とすることにより、上記課題を解決しうることを見いだした。すなわち、本発明によれば、以下の酸性亜鉛めっき浴が提供される。
[1] 導電塩と、金属亜鉛と、光沢剤とを含み、前記光沢剤の成分として、クミルフェノール系アニオン性界面活性剤の少なくとも1種以上を含有する酸性亜鉛めっき浴。
[2] 酸性浴組成として、塩化亜鉛を含み、さらに塩化アンモニウム、塩化カリウム、及び塩化ナトリウムからなる群より選択される少なくとも一種を含む前記[1]に記載の酸性亜鉛めっき浴。
[3] 前記クミルフェノール系アニオン性界面活性剤は、硫酸エステル塩アルキレンオキシド付加物である前記[1]または[2]に記載の酸性亜鉛めっき浴。
[4] 前記硫酸エステル塩アルキレンオキシド付加物は、アルキレンオキシドとして、エチレンオキシドが1〜30モル付加した前記[3]に記載の酸性亜鉛めっき浴。
[5] 前記硫酸エステル塩アルキレンオキシド付加物は、ポリオキシエチレンパラクミルフェニルエーテル硫酸エステル塩である前記[3]に記載の酸性亜鉛めっき浴。
クミルフェノール系アニオン性界面活性剤は、分散性が良く、曇点上昇の効果があり、めっき液の曇点が使用時安定化推移し、めっき液の濁り、沈殿が発生しない。つまり、浴の使用時における経時的安定性が向上する。そして、光沢剤をクミルフェノール系アニオン性界面活性剤とすることにより、使用時(室温〜70℃)においてめっき光沢維持ができる。従来、浴の安定性が悪かった高温でも安定して使用することができる。
折衷浴(NHCl−K)の実施例1のハルセル試験の結果を示す模式図である。 β−ナフトール系の折衷浴(NHCl−K)の比較例4のハルセル試験の結果を示す模式図である。 β−ナフトール系の折衷浴(NHCl−K)のハルセル試験の結果を示す模式図である。 β−ナフトール系の折衷浴(NHCl−Na)のハルセル試験の結果を示す模式図である。 塩化カリウム浴、塩化ナトリウム浴のハルセル試験の結果を示す模式図である。 ホウ酸を含む、塩化カリウム浴、塩化ナトリウム浴のハルセル試験の結果を示す模式図である。 塩化アンモニウム浴のハルセル試験の結果を示す模式図である。
以下、図面を参照しつつ本発明の実施の形態について説明する。本発明は、以下の実施形態に限定されるものではなく、発明の範囲を逸脱しない限りにおいて、変更、修正、改良を加え得るものである。
本発明の酸性亜鉛めっき浴は、導電塩と、金属亜鉛と、光沢剤とを含み、光沢剤の成分として、クミルフェノール系アニオン性界面活性剤の少なくとも1種以上を含有する。また、クミルフェノール系アニオン性界面活性剤としては、硫酸エステル塩アルキレンオキシド付加物が好ましく、アルキレンオキシドとして、エチレンオキシドが1〜30モル付加したものが特に好ましい。以下に、クミルフェノール系硫酸エステル塩アルキレンオキシド付加物の例として、ポリオキシエチレンパラクミルフェニルエーテル硫酸エステル塩の例を示す(下記一般式(1))。
Figure 0005272275
ここで、EOは、エチレンオキシドを示し、nは、EO付加モル数であり、1〜30が好ましく、5〜15がさらに好ましく、7が最も好ましい。酸性亜鉛めっき浴中に、1〜3g/L含まれることが好ましく、2g/L含まれることがさらに好ましい。また、硫酸エステル塩としては、カリウム塩が好ましいが、ナトリウム塩やアミン塩も挙げられる。
アニオン性界面活性剤として、クミルフェノール系を選択し、酸性亜鉛めっき浴に添加することにより、めっき液の曇点が使用時安定化推移し、めっき液の濁り、沈殿が発生しない効果が得られるが、アニオン性界面活性剤として、クミルフェノール系以外のものを含んでいても良い。例えば、β−ナフトール系アニオン性界面活性剤を含んだ浴に、クミルフェノール系アニオン性界面活性剤を添加することによっても、曇点の上昇等の効果が得られる。つまり、従来からある塩化亜鉛めっき浴のβ−ナフトール系アニオン界面活性剤添加をクミルフェノール系アニオン界面活性剤添加に置き換えるだけでなく、追い足しして併用した場合も効果が得られる。クミルフェノール系アニオン界面活性剤を添加すると曇点がアップし、めっき(ハルセル)の光沢面が広がりめっき浴の安定化につながる。
光沢剤として、ベース光沢剤、及びブライトナーを用いる。ベース光沢剤は、アニオン性界面活性剤(10〜15質量%配合)、ノニオン性界面活性剤、芳香族カルボン酸塩、有機アミン塩を含む。ブライトナーは、アニオン性界面活性剤(10〜15質量%配合)、ノニオン性界面活性剤、芳香族カルボン酸塩、有機アミン塩、芳香族アルデヒドを含む。めっき浴には、アニオン性界面活性剤(1〜5g/L)、ノニオン性界面活性剤(1〜5g/L)、有機アミン(0.5〜5g/L)、芳香族カルボン酸塩(1〜2g/L)、芳香族アルデヒド(0.01〜0.1g/L)となるように、ベース光沢剤及びブライトナーを光沢剤として供給する。
ベース光沢剤及びブライトナーのアニオン性界面活性剤として、上記のクミルフェノール系硫酸エステル塩アルキレンオキシド付加物を含むことにより、ブライトナーの光沢をだす成分の芳香族アルデヒドを補助して光沢を上げることができる。クミルフェノール系硫酸エステル塩アルキレンオキシド付加物は、めっき通電による性能低下が少なく、耐老化性がある。そして、曇点を上昇させ、めっき液の濁り、沈殿の改善をすることができる。
曇点が高いことは界面活性剤の溶解分散性が高く高温使用に適しているといえ、Znめっき浴は、めっき使用すると電気分解物が発生し曇点を下げる要因となるため曇点は高く設定する方がよい。高温使用(30〜70℃)の酸性Znめっきの光沢剤成分の中でアニオン性界面活性剤の働きが重要な要素となる。クミルフェノール系アニオン性界面活性剤は、他の成分を溶解、分散する性能が高く、曇点を高くする。
アニオン性界面活性剤を添加すると光沢が上がり、アニオン性界面活性剤量を増やすと曇点上がる。アニオン性界面活性剤が少ない量では曇点を維持できない。一方、増やしすぎるとめっき付き廻り性低下、めっき外観低下、シミ発生、発泡等が起こり、めっき性能が低下する。めっき外観に対して添加量は1〜5g/Lが好ましい。
ノニオン性界面活性剤を含むことにより均一電着性、低電部分光沢を向上させることができる。ノニオン性界面活性剤としては、ポリオキシエチレンオキサイド等が挙げられる。
芳香族カルボン酸塩を含むことにより低電部分光沢を向上させることができる。芳香族カルボン酸塩としては、安息香酸塩、サルチル酸塩、桂皮酸、m.P−クロル安息香酸、これらの可溶性塩等が挙げられる。
有機アミン塩を含むことにより高電部コゲ抑制を向上させることができる。有機アミン塩としては、ポリエチレンイミン、変性ポリエチレンイミン、ポリアルキレンポリアミン等が挙げられる。
芳香族アルデヒドを含むことにより光沢性を向上させることができる。芳香族アルデヒドとしては、ベンズアルデヒド、ベンジリデンアセトン等が挙げられる。
本発明の酸性亜鉛めっき浴は、酸性の電気亜鉛めっき浴で導電塩を含有する各種酸性浴である。すなわち、各種酸性浴に対してクミルフェノール系アニオン性界面活性剤を含むことにより経時安定性を改善することができる。さらに酸性亜鉛めっき浴としては、塩化亜鉛を含んだ塩化浴が好ましく、塩化浴として塩化アンモニウム浴、塩化カリウム浴、塩化ナトリウム浴、及びこれらの折衷浴が挙げられるが、そのいずれにも適用することが可能である。つまり塩化アンモニウム、塩化カリウム、及び塩化ナトリウムの少なくともいずれかを含む塩化浴に適用可能である。そして特に塩化亜鉛、塩化アンモニウム、及び塩化カリウムを含有する折衷浴が好ましい。塩化ナトリウム浴に関しては、従来、ナトリウム塩がカリウム塩に比べて曇点を低下させ、経時的に不安定要素があったが、クミルフェノール系アニオン性界面活性剤を添加することにより、曇点を上昇させ安定使用することができる。酸性亜鉛めっきは、シアンを使用せず、電流効率が良好でめっき速度が早く、鋳物・熱処理物にも直接めっきが可能な特徴を有している。
亜鉛イオン供給源としては、塩化亜鉛、硫酸亜鉛、亜硫酸亜鉛、ホウフッ化亜鉛、スルファミン酸亜鉛、メタンスルホン酸亜鉛などから選ばれた1種または2種以上の亜鉛塩を使用できる。亜鉛イオンの供給源としては、塩化亜鉛が好ましい。または、極板の金属亜鉛の電気溶解により供給される。
本発明の酸性亜鉛めっき浴は、上記の成分に加えて、消泡剤などの、めっき液に慣用の少量添加成分をさらに含有しうる。めっき液の好ましいpH範囲は5〜7、さらに好ましくは5.8〜6.3である。従って、めっき液は酸性である。
本発明の酸性亜鉛めっき浴の組成は特に制限されないが、好ましいめっき液組成の例を示すと、次の通りである。
塩化亜鉛:30〜60g/L(使用範囲 10〜120g/L)
塩化アンモニウム:50〜200g/L(使用範囲 0〜300g/L)
塩化カリウム:0〜150g/L(使用範囲 0〜300g/L)
ノニオン系界面活性剤:1〜5g/L
ポリエチレンイミン:0.5〜5g/L
ベンジリデンアセトン:0.01〜0.1g/L
安息香酸ナトリウム:1〜5g/L
pH:5.8〜6.3。
本発明において塩化亜鉛の含有量が上記範囲を外れると、所定の光沢亜鉛めっきを効率的に行うことができない。好ましくは、30〜60g/Lである。塩化アンモニウムの含有量が300g/Lを越えると、窒素濃度が高くなってしまう。好ましくは、50〜150g/Lである。塩化カリウムは、めっき浴の導電性を確保し、窒素濃度を減らす為に含有されている。好ましくは、塩化カリウムは50〜150g/L含有される。めっき浴の導電性を確保する為に塩素イオン量が120〜180g/Lとなるように塩化アンモニウム又は塩化カリウムにて補給される。
その他、本発明にあっては、一般的なノニオン性界面活性剤などの界面活性剤を適宜配合してもよい。各めっき浴成分は所定量をもって水溶液を構成し、例えば塩酸をもってpH調整を行い、通常pH=5.8〜6.3に調整する。また、本発明の酸性亜鉛めっきは、ホウ酸を1〜50g/L含んでいて良い。
このように調整されためっき浴を使用して金属部品の光沢亜鉛めっきを行うには、従来の方法と同様にして行えばよく、本発明においても特に制限されない。しかし、本発明にあっては、窒素濃度が低減されるから、作業環境の改善そして排水処理の簡素化が図られるのである。
電流密度は、通常、平均0.3〜5.0A/dmで使うことができ、これは従来の塩化亜鉛めっき浴の場合とほぼ同様であって、本発明はめっき効率の上でも遜色ない。以上のように、光沢剤をクミルフェノール系アニオン性界面活性剤とすることにより、室温〜70℃において使用した場合のめっき液の経時的安定化につながる。
以下、本発明を実施例に基づいてさらに詳細に説明するが、本発明はこれらの実施例に限定されるものではない。
1−1.折衷浴(NHCl−K)
めっき液の基本組成液として、表1に示す基本組成液Aを準備した。基本組成液Aは、塩化亜鉛40g/L、塩化カリウム150g/L、塩化アンモニウム50g/L混合し、pH6.0とした。
Figure 0005272275
(実施例1)
次に、表1の基本組成液Aに、アニオン性界面活性剤として表2のものを加えたものを準備した。例えば、実施例1としては、基本組成液Aの塩化亜鉛40g/L、塩化カリウム150g/L、塩化アンモニウム50g/Lに、カリウム塩でEO7モルのポリオキシエチレンパラクミルフェニルエーテル硫酸エステル塩を1g/L混合した。さらに、ノニオン性界面活性剤、芳香族カルボン酸塩2g/L、有機アミン塩1g/L、芳香族アルデヒド0.05g/L、を混合した。また、同様に、カリウム塩でEO7モルのポリオキシエチレンパラクミルフェニルエーテル硫酸エステル塩を2g/L混合したもの、3g/L混合したもの作製した。使用したポリオキシエチレンパラクミルフェニルエーテル硫酸エステルカリウム塩を示す(下記一般式(1))。
Figure 0005272275
(実施例2〜4)
実施例2〜4についても、実施例1と同様にして、表2に示す組成のものを作製した。
(比較例1)
表2に示すように、基本組成液Aにナフトール系のアニオン性界面活性剤を使用したものを作製した。比較例1は、具体的には、以下のポリオキシエチレンβ−ナフチルエーテル硫酸エステルカリウム塩(m=3、n=12)である(下記一般式(2))。なお、EOは、エチレンオキシド、POは、プロピレンオキシドである。
Figure 0005272275
(比較例2)
表2に示すように、基本組成液Aにナフトール系のアニオン性界面活性剤を使用したものを作製した。比較例2は、具体的には、以下のポリオキシエチレンβ−ナフチルエーテル硫酸エステルナトリウム塩(n=12)である(下記一般式(3))。
Figure 0005272275
(比較例3)
表2に示すように、基本組成液Aにナフトール系のアニオン性界面活性剤を使用したものを作製した。比較例は、具体的には、ポリオキシエチレンオキシプロピレンナフチルスルホン酸カリウム塩(m=3、n=13)である(下記一般式(4))。
Figure 0005272275
(比較例4〜5)
表2に示すように、β−ナフトール系のアニオン性界面活性剤を使用したものを作製した。比較例4,5は、基本組成液Aにベース剤A(比較例4は、MZ−996A、比較例5は、ZB−627A)及びブライトナー剤GC,Gを適宜添加(添加量は、表2参照)した。ベース剤A、ブライトナー剤GC,Gには、アニオン性界面活性剤、ノニオン性界面活性剤、芳香族カルボン酸塩、有機アミン、芳香族アルデヒドを含む。
(曇点)
以下のようにして曇点の測定を行った。まず、100mlの耐熱ガラスビーカーに測定液(めっき液)を100ml採取した。次に、測定液を電気コンロ等で温め、液温が均一になるように撹拌した。そして、100mLビーカーの中心に温度計を立てた時に、白濁して温度計の見えなくなる温度を記録した。
Figure 0005272275
表2に示すように、クミルフェノール系界面活性剤を使用した実施例は、比較例に対し、曇点が上昇した。なお、比較例4の曇点は、新しい液では72℃であるが、通電老化により下がるため、長時間の使用に適さなかった。表中の「推奨」、「通常」はもっとも好ましいという意味である。アニオン性界面活性剤を増やすとめっき付き回りが低下する為、比較例では、「通常」のものが最も適量として用いられており、実施例では、「推奨」のものが最も適量であった。
実施例1及び比較例4について、新液、老化液について曇点、濁り、安定性について調べた。老化液とは、めっき液連続通電処理(120AH/L)したものである。これは、一般的なめっきライン1ヶ月当たりの通電量に相当する。
Figure 0005272275
表3に示すように、実施例1は、比較例4に比べ、新液、老化液共に、曇点が高くなり、濁り、安定性が向上した。なお、濁り沈澱がなく変化なしの場合、良好、わずかに濁り沈澱が発生する場合、やや良好とした。
(ハルセル試験)
また、めっき浴の浴状態を観察するために、ハルセル試験を行った。ハルセル試験は、実施例1と比較例4の新液と老化液について、めっき浴の浴温を40℃とし、1Aを10分間通電することにより行った。
ハルセル試験の実施例1の結果を図1に、比較例4の結果を図2に模式的に示す。図1に示すように、実施例1では、新液、老化液ともに、低電部にわずかな曇りが認められるのみだったが、図2に示すように、比較例4では、低電部に広範囲にわたり、曇りが認められた。また、比較例4では、高電部にコゲが認められた。
(3価Cr化成処理)
亜鉛めっきを施した実施例1及び比較例4のものに、3価Cr化成処理を行った。
(1)YFA処理:
ユケン工業(株)製3価Cr化成処理薬剤を用いて3価Cr化成処理を行った。YFA−M:100ml/L、YFA−HR:10ml/Lを用いて、40℃、pH2.0のめっき浴にて、40秒処理を行った。
(2)YFB処理:
ユケン工業(株)製3価Cr黒色化成処理薬剤を用いて3価Cr化成処理を行った。YFB−A3:60ml/L、YFB−B3:100ml/L、YFB−C3:60ml/Lを用いて、40℃、pH2.5のめっき浴にて、60秒処理を行った。仕上げとして、CR−U:200ml/L、CR−I:10ml/Lを用いて、40℃のめっき浴にて、3秒処理を行った。
以上の実施例1及び比較例4のYFA処理、YFB処理を行ったものをハルセル試験(めっき浴温40℃、1A−10分)にて外観を確認した。実施例1は、YFA処理、YFB処理のいずれの処理を行ったものでも、従来品の比較例4と同様の良好な外観を得ることができた。
1−2.折衷浴(NHCl−K、クミルフェノール系以外の界面活性剤を含む)
(実施例5〜6)
基本組成液Aに、高温対応めっき浴(メタスMZ−996A/GC:ユケン工業製)を加えたものに、アニオン性界面活性剤として、カリウム塩でEO7モルのポリオキシエチレンパラクミルフェニルエーテル硫酸エステル塩を2g/L混合した(実施例5)。また、基本組成液Aに、一般浴(メタスZB−627A/G:ユケン工業製)を加えたものに、アニオン性界面活性剤として、カリウム塩でEO7モルのポリオキシエチレンパラクミルフェニルエーテル硫酸エステル塩を2g/L混合した(実施例6)。
表2に示すように、クミルフェノール系界面活性剤を使用した実施例5は、比較例4に比べ、実施例6は、比較例5に比べ、曇点が上昇した。つまり、β−ナフトール系の折衷浴(アンモン・カリ浴)に、クミルフェノール系界面活性剤を添加することにより、曇点が上昇した。図3にハルセル試験の結果を示す。ハルセル試験を行ったところ、クミルフェノール系のアニオン性界面活性剤を添加した実施例5は、比較例4に比べ、実施例6は、比較例5に比べ、光沢面が広がり良好な結果が得られた。
2−1.折衷浴(NHCl−Na)
(実施例7)
次に、表1の基本組成液Bに、アニオン性界面活性剤として表4に示すように、カリウム塩でEO7モルのポリオキシエチレンパラクミルフェニルエーテル硫酸エステル塩を1〜3g/L混合したものを作製した。
(比較例6〜8)
また、比較として、表1の基本組成液Bに、アニオン性界面活性剤として、表4に示すように、ポリオキシエチレンナフチルエーテル硫酸エステル塩(比較例6)、ポリオキシエチレンオキシプロピレンナフチル硫酸エステル塩(比較例7)、ポリオキシエチレンオキシプロピレンナフチルスルホン酸塩(比較例8)を1〜3g/L混合したものを作製した。
(比較例9〜10)
さらに、表4に示すように、β−ナフトール系のアニオン性界面活性剤を使用したものを作製した。比較例9,10は、ベース剤A(比較例9は、MZ−996A、比較例10は、ZB−627A)及びブライトナー剤(比較例9は、GC、比較例10は、G)を基本組成液Bに適宜添加(添加量は、表4参照)した。
塩化ナトリウムを含む浴では、塩化カリウムを含む浴に比べ、KとNaの溶解度の違いにより曇点の低下が認められる。しかし、表4に示すように、クミルフェノール系界面活性剤を添加すると、アンモン・ナトリウム浴の折衷浴においても、曇点が上昇した。
2−2.折衷浴(NHCl−Na、クミルフェノール系以外の界面活性剤を含む)
(実施例8〜9)
表4に示すように、基本組成液Bに、高温対応めっき浴(メタスMZ−996A/GC:ユケン工業製)を加えたものに、アニオン性界面活性剤として、カリウム塩でEO7モルのポリオキシエチレンパラクミルフェニルエーテル硫酸エステル塩を2g/L混合した(実施例8)。また、基本組成液Bに、一般浴(メタスZB−627A/G:ユケン工業製)を加えたものに、アニオン性界面活性剤として、カリウム塩でEO7モルのポリオキシエチレンパラクミルフェニルエーテル硫酸エステル塩を2g/L混合した(実施例9)。
Figure 0005272275
表4に示すように、クミルフェノール系界面活性剤を使用した実施例8〜9は、比較例に対し、曇点が上昇した。つまり、β−ナフトール系の折衷浴(アンモン・ナトリウム浴)に、クミルフェノール系界面活性剤を添加することにより、曇点が上昇した。図4にハルセル試験の結果を示す。従来の光沢剤を使用した比較例9、10では、曇点が低く、特に比較例10では、高電部において焦げ幅が広くなったが、実施例8〜9は、比較例に比べ、同等以上の結果が得られた。
3.塩化カリウム浴
(実施例10、比較例11)
表5に示すように、基本組成液Cに、高温対応めっき浴(メタスFZ−300M/GR:ユケン工業製)を加えたもの(比較例11)に、アニオン性界面活性剤として、カリウム塩でEO7モルのポリオキシエチレンパラクミルフェニルエーテル硫酸エステル塩を2g/L混合した(実施例10)。
Figure 0005272275
塩化カリウム浴であってもクミルフェノール系界面活性剤を添加することにより、曇点が上昇した。図5にハルセル試験の結果を示す。ハルセル試験を行ったところ、実施例10は、比較例に比べ、光沢面が広がり良好な結果が得られた。
4.塩化ナトリウム浴
(実施例11、比較例12)
表5に示すように、基本組成液Dに、高温対応めっき浴(メタスFZ−300M/GR:ユケン工業製)を加えたもの(比較例12)に、アニオン性界面活性剤として、カリウム塩でEO7モルのポリオキシエチレンパラクミルフェニルエーテル硫酸エステル塩を2g/L混合した(実施例11)。
塩化ナトリウム浴であってもクミルフェノール系界面活性剤を添加することにより、曇点が上昇した。図5に示すように、ハルセル試験を行ったところ、実施例11は、比較例に比べ、光沢面が広がり良好な結果が得られた。
5.塩化カリウム浴(含ホウ酸)
(実施例12、比較例13)
表5に示すように、基本組成液Eに、高温対応めっき浴(メタスZB−612A/GR:ユケン工業製)を加えたもの(比較例13)に、アニオン性界面活性剤として、カリウム塩でEO7モルのポリオキシエチレンパラクミルフェニルエーテル硫酸エステル塩を2g/L混合した(実施例12)。実施例12、比較例13は、ホウ酸を含有する。
ホウ酸を含む塩化カリウム浴であってもクミルフェノール系界面活性剤を添加することにより、曇点が上昇した。図6にハルセル試験の結果を示す。ハルセル試験を行ったところ、実施例12は、比較例と同等の結果が得られた。
6.塩化ナトリウム浴(含ホウ酸)
(実施例13、比較例14)
表5に示すように、基本組成液Fに、高温対応めっき浴(メタスZB−612A/GR:ユケン工業製)を加えたもの(比較例14)に、アニオン性界面活性剤として、カリウム塩でEO7モルのポリオキシエチレンパラクミルフェニルエーテル硫酸エステル塩を2g/L混合した(実施例13)。実施例13、比較例14は、ホウ酸を含有する。
ホウ酸を含む塩化ナトリウム浴であってもクミルフェノール系界面活性剤を添加することにより、曇点が上昇した。図6に示すように、ハルセル試験を行ったところ、実施例13は、比較例にと同等の結果が得られた。
7−1.塩化アンモニウム浴
(実施例14、比較例15〜18)
表6に示すように、基本組成液Gに、アニオン性界面活性剤として、カリウム塩でEO7モルのポリオキシエチレンパラクミルフェニルエーテル硫酸エステル塩を1〜3g/L混合した(実施例14)。基本組成液Gに、アニオン性界面活性剤として、ポリオキシエチレンナフチルエーテル硫酸エステル塩を1〜3g/L混合した(比較例15)。さらに、基本組成液Gに、メタスMZ−996A/GC(比較例16)、メタスZB−627A/G(比較例17)、光沢剤成分(比較例18)を混合した。
Figure 0005272275
塩化アンモニウム浴であってもクミルフェノール系界面活性剤を添加することにより、曇点が上昇した。
7−2.塩化アンモニウム浴(クミルフェノール系以外の界面活性剤を含む)
(実施例15〜16)
表6に示すように、基本組成液Gに、高温対応めっき浴(メタスMZ−996A/GC:ユケン工業製)を加えたものに、アニオン性界面活性剤として、カリウム塩でEO7モルのポリオキシエチレンパラクミルフェニルエーテル硫酸エステル塩を2g/L混合した(実施例15)。また、基本組成液Gに、一般浴(メタスZB−627A/G:ユケン工業製)を加えたものに、アニオン性界面活性剤として、カリウム塩でEO7モルのポリオキシエチレンパラクミルフェニルエーテル硫酸エステル塩を2g/L混合した(実施例16)。
表6に示すように、クミルフェノール系界面活性剤を使用した実施例15〜16は、比較例に対し、曇点が上昇した。図7にハルセル試験の結果を示す。ハルセル試験を行ったところ、実施例15〜16は、比較例に比べ、光沢面が広がり良好な結果が得られた。
クミルフェノール系界面活性剤を使用することにより、従来品よりも組成等の溶解分散性が上がり、めっき液の濁り、沈澱の改善につながった。β−ナフトール系等の界面活性剤を含む従来品に、クミルフェノール系界面活性剤を添加することによっても、めっき液の濁り、沈澱の改善をすることができた。高温浴は、通常30〜50℃にて使用されるが、クミルフェノール系界面活性剤を使用することにより、曇点が上昇し、高温浴でも良好にめっき処理を行うことができた。また、ブライトナーの光沢剤成分の溶解性が上がることにより、光沢外観となった。化成処理外観においても、光沢外観が維持された。
以上のように、高温処理、めっき通電処理による光沢剤の変化が少なく安定使用ができ、従来品の問題であるめっき浴の安定性が改善できた。すなわち、クミルフェノール系界面活性剤を使用することにより、酸性亜鉛めっき浴を高い曇点にて維持し、通電老化に対しても性能を維持することができる。
本発明の酸性亜鉛めっき浴は、ボルト、ナット等の亜鉛めっき用の酸性浴として使用することができる。
1:めっき面、2:曇り、3:コゲ、4:激しいコゲ、5:光沢面、6:液面。

Claims (5)

  1. 導電塩と、金属亜鉛と、光沢剤とを含み、
    前記光沢剤の成分として、クミルフェノール系アニオン性界面活性剤の少なくとも1種以上を含有する酸性亜鉛めっき浴。
  2. 酸性浴組成として、塩化亜鉛を含み、さらに塩化アンモニウム、塩化カリウム、及び塩化ナトリウムからなる群より選択される少なくとも一種を含む請求項1に記載の酸性亜鉛めっき浴。
  3. 前記クミルフェノール系アニオン性界面活性剤は、硫酸エステル塩アルキレンオキシド付加物である請求項1または2に記載の酸性亜鉛めっき浴。
  4. 前記硫酸エステル塩アルキレンオキシド付加物は、アルキレンオキシドとして、エチレンオキシドが1〜30モル付加した請求項3に記載の酸性亜鉛めっき浴。
  5. 前記硫酸エステル塩アルキレンオキシド付加物は、ポリオキシエチレンパラクミルフェニルエーテル硫酸エステル塩である請求項3に記載の酸性亜鉛めっき浴。
JP2010537818A 2008-11-14 2009-11-13 酸性亜鉛めっき浴 Active JP5272275B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2010537818A JP5272275B2 (ja) 2008-11-14 2009-11-13 酸性亜鉛めっき浴

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008291874 2008-11-14
JP2008291874 2008-11-14
PCT/JP2009/069372 WO2010055917A1 (ja) 2008-11-14 2009-11-13 酸性亜鉛めっき浴
JP2010537818A JP5272275B2 (ja) 2008-11-14 2009-11-13 酸性亜鉛めっき浴

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2010055917A1 JPWO2010055917A1 (ja) 2012-04-12
JP5272275B2 true JP5272275B2 (ja) 2013-08-28

Family

ID=42170047

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2010537818A Active JP5272275B2 (ja) 2008-11-14 2009-11-13 酸性亜鉛めっき浴

Country Status (3)

Country Link
EP (1) EP2357269A1 (ja)
JP (1) JP5272275B2 (ja)
WO (1) WO2010055917A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2021131339A1 (ja) * 2019-12-23 2021-07-01

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
ITAN20120133A1 (it) * 2012-10-17 2014-04-18 Italnasa S R L Processo di zincatura elettrolitica esente dalla formazione di idrogeno.
WO2021131340A1 (ja) * 2019-12-23 2021-07-01 ディップソール株式会社 亜鉛ニッケルめっき浴及び該浴を用いるめっき方法
WO2021153160A1 (ja) * 2020-01-27 2021-08-05 三菱マテリアル株式会社 錫又は錫合金電解めっき液、バンプの形成方法、及び回路基板の製造方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60255991A (ja) * 1984-05-21 1985-12-17 オーエムアイ・インターナシヨナル・コーポレーシヨン 酸性亜鉛電解質用の改良キヤリヤー光沢剤
JPH0394094A (ja) * 1989-09-06 1991-04-18 Toppan Printing Co Ltd 錫―鉛系めっき液
JPH05171489A (ja) * 1991-12-17 1993-07-09 Yuken Kogyo Kk めっき用組成液
JP2005200714A (ja) * 2004-01-16 2005-07-28 Asahi Denka Kogyo Kk メッキ浴用添加剤

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56102589A (en) 1980-01-16 1981-08-17 Yuken Kogyo Kk Acidic zinc plating bath
JPH08283982A (ja) 1995-04-17 1996-10-29 Yuken Kogyo Kk 塩化物浴電気亜鉛めっき方法
JP3723864B2 (ja) 1997-11-25 2005-12-07 ユケン工業株式会社 スルファミン酸亜鉛めっき浴
JP2002004080A (ja) 2000-06-16 2002-01-09 Yuken Industry Co Ltd 二次成形品用の環境対応型電気亜鉛めっき浴および方法
JP2004339596A (ja) 2003-05-19 2004-12-02 Yuken Industry Co Ltd 塩化亜鉛含有酸性めっき浴
JP4822268B2 (ja) 2005-04-19 2011-11-24 ユケン工業株式会社 回収型電気亜鉛めっき方法および装置

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60255991A (ja) * 1984-05-21 1985-12-17 オーエムアイ・インターナシヨナル・コーポレーシヨン 酸性亜鉛電解質用の改良キヤリヤー光沢剤
JPH0394094A (ja) * 1989-09-06 1991-04-18 Toppan Printing Co Ltd 錫―鉛系めっき液
JPH05171489A (ja) * 1991-12-17 1993-07-09 Yuken Kogyo Kk めっき用組成液
JP2005200714A (ja) * 2004-01-16 2005-07-28 Asahi Denka Kogyo Kk メッキ浴用添加剤

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPWO2021131339A1 (ja) * 2019-12-23 2021-07-01
JP7427264B2 (ja) 2019-12-23 2024-02-05 ディップソール株式会社 亜鉛-ニッケル-シリカ複合めっき浴及び該浴を用いるめっき方法

Also Published As

Publication number Publication date
EP2357269A1 (en) 2011-08-17
JPWO2010055917A1 (ja) 2012-04-12
WO2010055917A1 (ja) 2010-05-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5586587B2 (ja) Pd電解質浴およびPd−Ni電解質浴
JP2004035980A (ja) 銅―錫合金めっき用ピロリン酸浴
JP4162246B2 (ja) シアン化物非含有銀系メッキ浴、メッキ体及びメッキ方法
EP2980279B1 (en) Zinc-nickel alloy plating solution and plating method
JP5272275B2 (ja) 酸性亜鉛めっき浴
CA2751684C (en) Silver-containing alloy plating bath and method for electrolytic plating using same
JP5412612B2 (ja) スズ及びスズ合金メッキ浴、当該浴により電着皮膜を形成した電子部品
JP2000026991A (ja) 錫及び錫合金メッキ浴
EP3002350A1 (en) Cyanide-free electroplating baths for white bronze based on copper (i) ions
JP2013227641A (ja) スズ系メッキ液への補給方法
NL8202441A (nl) Glansgevende samenstelling van een bad voor het elektroplateren van een zinklegering alsmede werkwijze voor het gebruiken daarvan.
CA1210732A (en) Composition and process for the electrodeposition of zinc-nickel alloy deposits
KR100971555B1 (ko) 전기아연도금공정의 냉연강판의 전처리용 고농도 니켈 도금 조성물
JPH09302498A (ja) 錫−銀合金電気めっき浴
US4381228A (en) Process and composition for the electrodeposition of tin and tin alloys
KR101130821B1 (ko) 아연-니켈 합금전기 도금액
Angles et al. The Electrodeposition of Speculum
CN111349953B (zh) 一种环保型无载体水性硫酸盐镀锌添加剂
JP2005314799A (ja) 錫めっき方法とこれに用いられる錫めっき浴
JP3506411B2 (ja) 亜鉛めっき方法
KR101271587B1 (ko) 1액형 금속 나노 코팅 조성물 및 이의 제조 방법
JP3032149B2 (ja) 錫めっき浴および錫めっき方法
KR100506394B1 (ko) 도금층 조도 및 백색도가 양호하고 표면탄 도금이 억제되는 아연-니켈 합금전기도금액
EP3842572A1 (en) Tin alloy electroplating bath and plating method using same
JPH0363542B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20130416

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20130426

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5272275

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250