JP5266988B2 - ハーフトーン型euvマスク、ハーフトーン型euvマスクブランク、ハーフトーン型euvマスクの製造方法及びパターン転写方法 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の第1の実施の形態に係るハーフトーン型EUVマスクブランク100を示す概略断面図である。図1に示すように、本発明の第1の実施の形態に係るハーフトーン型EUVマスクブランク100は、基板10と、基板10上に形成された高反射性を有する多層膜20と、多層膜20上に形成され、多層膜20を保護するキャッピング膜30と、キャッピング膜30上に形成されたエッチングストッパーとして機能する緩衝膜40と、緩衝膜40上に形成された低反射性を有し多層構造を有する下層吸収膜51及び上層吸収膜52を備えている。
図3は、本発明の第2の実施の形態に係るハーフトーン型EUVマスクブランク300を示す概略断面図である。図3に示すように、本発明の第2の実施の形態に係るハーフトーン型EUVマスクブランク300は、基板10と、基板10上に形成された高反射性を有する多層膜20と、多層膜20上に形成された兼用膜34と、兼用膜34上に形成された低反射性を有し多層構造を有する下層吸収膜51及び上層吸収膜52を備えている。なお、兼用膜34以外の説明は、第1の実施の形態と重複するために省略する。
Claims (11)
- 基板と、
前記基板上に形成された高反射部と、
前記高反射部上に形成されたパターニングされた低反射部と、を備え、
前記低反射部は、Ta(タンタル)及びNb(ニオブ)を有し、Ta:Nbの組成比が略4:1〜略1:2の範囲にあることを特徴とするハーフトーン型EUVマスク。 - 請求項1に記載のハーフトーン型EUVマスクにおいて、
前記低反射部からの反射光は、前記高反射部からの反射光に対して4%以上15%以下の反射率であり、前記高反射部からの反射光に対し、175度〜185度の位相差を有することを特徴とするハーフトーン型EUVマスク。 - 前記低反射部は、さらに、Si(シリコン)、O(酸素)又はN(窒素)のいずれかを有すること特徴とする請求項1又は2に記載のハーフトーン型EUVマスク。
- 請求項1乃至3のいずれかに記載のハーフトーン型EUVマスクには、
さらに、前記高反射部上に形成されたキャッピング膜と、
前記高反射部と前記低反射部との間に形成された緩衝膜と、
を備えることを特徴とするハーフトーン型EUVマスク。 - 請求項1乃至4のいずれかに記載のハーフトーン型EUVマスクを、前記低反射部のパターニングにより作製するために、前記基板上に形成された前記高反射部と、前記高反射部上の全面に形成された前記低反射部と、さらに、前記高反射部上に形成された前記キャッピング膜と、前記高反射部と前記低反射部との間に形成された緩衝膜と、を備えることを特徴とするハーフトーン型EUVマスクブランク。
- 基板を準備し、
前記基板上に高反射部を形成し、
前記高反射部上にパターニングするTa(タンタル)及びNb(ニオブ)を有する低反射部を形成することを特徴とするハーフトーン型EUVマスクの製造方法。 - 請求項6に記載のハーフトーン型EUVマスクの製造方法において、
前記低反射部からの反射光は、前記高反射部からの反射光に対して4%以上15%以下の反射率であり、前記高反射部からの反射光に対し、175度〜185度の位相差を有することを特徴とするハーフトーン型EUVマスクの製造方法。 - 前記低反射部は、Ta及びNbを有し、Ta:Nbの組成比が略4:1〜略1:2の範囲にあることを特徴とする請求項6又は7に記載のハーフトーン型EUVマスクの製造方法。
- 前記低反射部は、さらに、Si(シリコン)、O(酸素)又はN(窒素)のいずれかを有すること特徴とする請求項6乃至8のいずれかに記載のハーフトーン型EUVマスクの製造方法。
- 請求項6乃至9のいずれかに記載のハーフトーン型EUVマスクの製造方法には、さらに、前記高反射部上にキャッピング膜を形成し、
前記高反射部と前記低反射部との間に緩衝膜を形成することを特徴とするハーフトーン型EUVマスクの製造方法。 - 請求項1乃至4のいずれかに記載のハーフトーン型EUVマスクを露光装置に設置し、
前記ハーフトーン型EUVマスクを介して反射したEUVを選択的に照射し、
パターン形成を行なうことを特徴とするパターン転写方法。
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