JP5229536B2 - 光量補正方法および画像形成装置 - Google Patents

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本発明は、感光材料に走査露光する露光ユニットの光量を補正する技術に関する。
現在、写真プリント業界では、写真フィルムに形成された撮影画像をフィルムスキャナによりデジタル化して得られる撮影画像データや、デジタルカメラなどのデジタル撮影機器によって直接撮影画像をデジタル化して得られる撮影画像データに濃度補正や色補正などの画像処理を施した後、これをプリントデータに変換し、このプリントデータに基づいてプリント露光ユニットを駆動し、撮影画像を感光材料(印画紙)に焼き付けるデジタル写真処理技術が主流である。
このようなデジタル写真技術を用いた写真プリント装置では、プリント露光ユニットとして、感光材料に対してレーザ光を走査することにより画像を露光形成する露光系が主に用いられている。このような露光系では、主走査方向に直交する副走査方向に感光材料を搬送しつつ、ポリゴンミラーに対してレーザ光を照射し、ポリゴンミラーを回転させ、レーザ光を偏光することにより主走査方向の走査を実現し、感光材料上に画像を形成している。すなわち、主走査方向における濃度値の変化は、レーザ光量を連続的に制御することにより実現されている。このため、主走査方向においては、エッジ部分の立ち上がりや立ち下がり部においてレーザ光量を大きく変更する制御が必要となるが、レーザ光量は瞬時に変更できるものではないため、レーザ光量変化の遅れが生じ、この遅れが滲みとして画質低下を招いている。特に、高解像度な写真プリント装置では、1ドット当たりのレーザ照射時間が短く、主走査方向のドット間の移動においてレーザ光量を制御するための十分な時間が確保できないこと等に起因するレーザ光量の遅延により、この特徴は顕著に見られる。一方、副走査方向における濃度値の変化は、異なる走査ラインによる離散的なレーザ光量の制御により実現されている。そのため、副走査方向における濃度値の差に対しては、レーザ光量の遅れは生じず、主走査方向に生じているような滲みはほとんど生じない。
また、上述した原因の他にも、様々な画質低下の原因が知られている。例えば、特許文献1の技術では、複数種類のレーザ光を用いて画像を露光形成する走査露光装置において、レーザ光の変調方式の違いによる色滲みを低減するために、駆動電流の制御による直接変調する第2のレーザ光のスポット径をAOMによる強度変調する第1のレーザ光のスポット径よりも大きくなるようにしている。これにより、第2のレーザ光の積分光量分布が変更され、色滲みを低減している。また、特許文献2の技術では、1ドットの露光を行うためのクロックを4分周し、黒の1ドットの露光を行う際には、分周された4クロックのうち、例えば、3クロックに対応してレーザビームによる露光を行うことにより、ドットの露光時間を短縮し、露光によって形成されるドットの面積を小さくしている。これにより、判定結果に基づいてドットに対する露光時間を短縮することで、ドットの面積の広がりを抑制し、理論上のドット寸法での露光を可能にして、高品質の画像を得ている。
特開2006−58677号公報(段落番号0008−0012、図12) 特開平2−160563号公報
しかしながら、特許文献1の技術は、色滲みを抑制するものであり、特許文献2の技術は、露光時間を短縮することにより隣接ドットの滲みを抑制するものであるため、いずれも上述したような主走査方向におけるレーザ制御の遅れに起因する滲みを抑制することはできない。このように、レーザ光による走査露光時の滲みを抑制する技術は提案されているものの、レーザ制御の遅れの差に起因する主走査露光時の滲みを抑制する技術は未だ提案されていないのが実情である。
このような問題点に鑑み、本発明の課題は、主走査方向における濃度値の立ち上がり部に生じる主走査方向の滲みを抑制し、主走査方向と副走査方向の濃度差を補正する技術を提供することである。
本発明の光量補正方法は、感光材料に対して主走査方向にレーザビームを走査露光するための光量を補正する光量補正方法であって、補正係数を求めるために、露光ユニットが感光材料上に第1濃度値のドットを形成するための条件である所定出力条件に基づき露光ユニットにより感光材料上に形成された、前記露光ユニットの主走査方向に沿い前記第1濃度値と第2濃度値とを有する縞状のパターンである基準テストパターンの測定濃度値を基準測定値として取得するステップと、前記所定出力条件に対してオフセットさせる第1補正値により補正された出力条件に基づき前記露光ユニットにより前記感光材料上に形成された、前記露光ユニットの副走査方向に沿い前記第1濃度値と前記第2濃度値とを有する縞状のパターンである第1比較パターンの測定濃度値を第1比較値として取得するステップと、前記所定出力条件に対してオフセットさせる第2補正値により補正された出力条件に基づき前記露光ユニットにより前記感光材料上に形成された、前記露光ユニットの副走査方向に沿い前記第1濃度値と前記第2濃度値とを有する縞状のパターンである第2比較パターンの測定濃度値を第2比較値として取得するステップと、前記第1比較値と前記基準測定値との差である第1差分値を算出するステップと、前記第2比較値と前記基準測定値との差である第2差分値を算出するステップと、前記第1差分値を第1軸要素とし、前記第1補正値を第2軸要素とする第1点と前記第2差分値を第1軸要素とし、前記第2補正値を第2軸要素とする第2点とを結ぶ直線上において第1軸要素が0となる第2軸要素を前記第1の濃度値に対応する前記補正係数として取得する補正値算出ステップと、を備え、前記光量を補正するために、画像データの画素値を出力階調値に変換する出力階調値変換ステップと、前記出力階調値の主走査方向において隣接するドットのうち、主走査方向における下流のドットの出力階調値が上流のドットの出力階調値に比べて、所定値以上大きい際に、立ち上がりを検出する立ち上がり検出ステップと、前記立ち上がり検出ステップにより立ち上がりが検出された際に、立ち上がり量を算出すると共に、前記立ち上がり量と当該立ち上がり量に対応する前記補正係数とに基づき立ち上がり補正量を算出する補正量算出ステップと、前記立ち上がり補正量を前記立ち上がりが検出された直後のドットの出力階調値に加算する補正ステップと、前記出力階調値に応じて前記レーザビームの前記光量を制御する光量制御ステップと、を備えた。
この構成では、出力階調値の主走査方向において隣接するドットのうち、主走査方向における下流のドットの出力階調値が上流のドットの出力階調値に比べて、所定値以上大きい際に、立ち上がりが検出され、立ち上がり直後のドットの出力階調に立ち上がり補正量が加算される。すなわち、主走査方向に滲みが生じている主走査方向における立ち上がり部が検出された際に、立ち上がり直後のドットに対して、主走査ラインと副走査ラインとの濃度値が略同一となるような立ち上がり補正量を加算することにより、主走査方向のエッジと副走査方向のエッジの濃度値を略同一に形成することが可能となり、特に文字等のエッジが明確な部分の画質向上に有効となる。
また、上述の構成では所定の補正値係数を定めておけば、出力階調値に基づいて主走査方向における立ち上がりエッジが検出された際には立ち上がり量とそのエッジ強度に応じて、自動的に立ち上がり補正量が決定される。これにより、エッジ強度に応じた補正を行うことが可能となっている。
また、上述の構成では、所定条件に基づき露光形成された基準パターンから基準測定値が取得され、第1補正値により補正された所定条件に基づき露光形成された第1比較パターンおよび、第2補正値により補正された所定条件に基づき露光形成された第2比較パターンから、第1比較値および第2比較値が取得される。さらに、これらの値に基づき、所定平面上に2点が定められ、この2点により規定される直線上において第1軸要素が0となる第2軸要素が第1濃度値に対応する補正係数として取得される。これにより、基準パターンと2つの比較パターンのセットから1つの補正係数を効率的に取得することができる。さらに、第1濃度値を複数の値に変更し、複数の第1濃度値に対応する補正係数を求め、それらを曲線近似することにより、様々な第1濃度値に対応する補正係数を求めるような構成とすると好適である。
また、本発明は画像形成装置をも権利範囲とするものである。本発明の画像形成装置は、感光材料に対して主走査方向にレーザビームを走査露光する露光ユニットを備えた画像形成装置であって、補正係数を求めるための、露光ユニットが感光材料上に第1濃度値のドットを形成するための条件である所定出力条件に基づき露光ユニットにより感光材料上に形成された、前記露光ユニットの主走査方向に沿い前記第1濃度値と第2濃度値とを有する縞状のパターンである基準テストパターンの測定濃度値を基準測定値として取得するとともに、前記所定出力条件に対してオフセットさせる第1補正値により補正された出力条件に基づき前記露光ユニットにより前記感光材料上に形成された、前記露光ユニットの副走査方向に沿い前記第1濃度値と前記第2濃度値とを有する縞状のパターンである第1比較パターンの測定濃度値を第1比較値として取得し、前記所定出力条件に対してオフセットさせる第2補正値により補正された出力条件に基づき前記露光ユニットにより前記感光材料上に形成された、前記露光ユニットの副走査方向に沿い前記第1濃度値と前記第2濃度値とを有する縞状のパターンである第2比較パターンの測定濃度値を第2比較値として取得する濃度値取得手段と、前記第1比較値と前記基準測定値との差である第1差分値を算出するとともに、前記第2比較値と前記基準測定値との差である第2差分値を算出する差分手段と、前記第1差分値を第1軸要素とし、前記第1補正値を第2軸要素とする第1点と前記第2差分値を第1軸要素とし、前記第2補正値を第2軸要素とする第2点とを結ぶ直線上において第1軸要素が0となる第2軸要素を前記第1の濃度値に対応する前記補正係数として取得する補正値算出手段と、前記立ち上がりにおける立ち上がり量に対応する前記補正係数を記憶する補正値記憶部と、を備え、前記レーザビームの光量を補正するための、画像データの画素値を出力階調値に変換する出力階調値変換部と、前記出力階調値の主走査方向において隣接するドットのうち、主走査方向における下流のドットの出力階調値が上流のドットの出力階調値に比べて、所定値以上大きい際に、前記出力階調値の主走査方向における立ち上がりを検出する立ち上がり検出部と、前記立ち上がり検出部により立ち上がりが検出された際に、立ち上がり量を算出すると共に、当該立ち上がり量と当該立ち上がり量に対応する前記補正係数とに基づき立ち上がり補正量を算出する補正量算出部と、前記立ち上がり補正量を前記立ち上がりが検出された直後のドットの出力階調値に加算し新たな出力階調値とする補正部と、前記出力階調値に応じて前記レーザビームの光量を制御する光量制御部と、を備えた。当然ながら、このような画像形成装置は、上述した光量補正方法と同様の作用効果を奏するものであり、さらに上述した付加的技術を組み込むことも可能である。
以下に、本発明の画像形成装置および光量補正方法の実施形態を図面に基づいて説明する。
〔全体構成〕
図1及び図2に示す写真プリント装置(画像形成装置の一例)は、暗箱構造の筐体10を有し、この筐体10の内部には印画紙Pに露光を行う露光処理部Exと、露光済みの印画紙Pの現像処理を行う現像処理部Deと、この現像処理部Deからの印画紙Pを乾燥する乾燥処理部Drとを備え、この乾燥処理部Drで乾燥された印画紙Pを筐体10の端部の排出部11から排出し、搬送ベルト12で受け止めて水平方向に搬送し、複数のトレイ13Aの何れかにオーダ単位で回収可能なソータ13を備えている。
露光処理部Exと現像処理部Deとの間には、露光処理部Exから送り出された印画紙Pを反転することで表裏を入れ換えた状態で現像処理部Deに手渡す縦搬送部CVが設けられている。また、筐体10の外部には、オペレータが画像データの取得と、プリント処理に必要な操作とを行う操作端末として機能するオペレート部Aが設置されている。
〔オペレート部A〕
オペレート部Aには、操作テーブル20に設置された汎用コンピュータで成る画像処理装置21と、画像処理装置21の上面に設置されたディスプレイ22と、現像処理後の写真フィルムFのコマ画像から画像データを取得するフィルムスキャナ23と、2つのキーボード24と1つのマウス25とを備えている。画像処理装置21の前面には各種の半導体型の記憶媒体(不図示)、あるいは、CD−ROM、DVD、MO等の磁気式や光学式の記憶媒体(不図示)等から画像データを取得する複数のメディアドライブ26を備えている。
〔縦搬送部CV〕
縦搬送部CVは、露光処理部Exで露光された印画紙Pを圧着型のローラ対15で受け取り、この圧着型のローラ対15の姿勢変換によって表裏を入れ換え、ガイドレール16に沿って上方に搬送し、現像処理部Deに送り出す動作を行う。
〔現像処理部De・乾燥処理部Dr〕
現像処理部Deは、発色現像槽と漂白定着槽と安定槽とで成る複数の処理槽を合成樹脂によって一体形成した現像処理槽30を備え、露光処理部Exから供給された印画紙Pを夫々の現像処理槽30に搬送するように複数の圧着型の複数のローラ対を有した搬送機構31を備えている。また、乾燥処理部Drは、現像処理部Deから送り出された印画紙Pを搬送する複数の圧着ローラ対32と、この圧着ローラ対32で搬送される印画紙Pに対して加熱された乾燥空気を供給するブロワBとを備えている。
〔露光処理部Ex〕
露光処理部Exは、ロール状に巻き取られた印画紙Pを収容した印画紙マガジンMから印画紙Pを引き出して、水平方向に送り出す圧着型の供給搬送ローラ41と、供給搬送ローラ41から印画紙Pを受け取り、印画紙Pの先端付近を挟持したまま水平に移動する挟持搬送手段としてのチャッカーCと、チャッカーCの水平方向への移動によって、印画紙Pを受け取って露光操作を行う露光ユニットGとを備えている。供給搬送ローラ41とチャッカーCとの間には、供給搬送ローラ41から供給された印画紙PをチャッカーCに向けて送り込む排出ローラ対43、及び、印画紙Pを露光ユニットGにて形成する画像サイズに対応した長さに切断するカッターユニット42が設けられている。
露光ユニットGでは、露光搬送ユニットGcによって印画紙Pを水平方向(副走査方向)に搬送しながら、露光ポイントGpにて主走査方向に沿った走査露光を行うように構成されている。
露光処理部Exにおいて、供給搬送ローラ41から露光ユニットGに印画紙Pを搬送する部位には第1補助筐体33を配置しており、供給搬送ローラ41、カッターユニット42、チャッカーCの作動系等はこの第1補助筐体33に支持されている。この露光処理部Exには、この露光処理部Exでの印画紙Pの搬送、及び、露光ユニットGによる露光を制御するためにマイクロプロセッサーを有した露光制御手段としての制御ユニット36を備えている。
印画紙マガジンMは、ケース5の内部にロール状の印画紙Pを支持する巻芯6を備えると共に、印画紙Pに搬送力を作用させる圧着型のフィードローラ対7を備えている。図面には示していないが、ケース5の内部には巻芯6とフィードローラ対7とを連動して回転駆動するように複数のギヤを有した伝動系を備えており、印画紙マガジンMの外部にはフィードローラ対7の駆動軸に動力を伝えて印画紙Pの送り出しと、巻き戻しとを行うマガジンモータ(不図示)を備えている。
〔チャッカー〕
チャッカーCは、印画紙Pの搬送方向に沿って移動自在に支持されたスライダ(不図示)と、このスライダに対して縦向き姿勢の揺動軸周りで揺動自在に支持された支持アームとを有する。支持アームは、印画紙Pの上面(感光面)に位置する上部アーム57と、支持アームの両端部に連結し、印画紙Pの下面に位置する下部アーム58とを設け、これらの上部アーム57と下部アーム58との間に印画紙Pを導入するスリット状の印画紙導入空間を形成している。
下部アーム58は、一対の接当ピンを備えており、上部アーム57には、バネの付勢力で印画紙Pを前記接当ピンに押し付けて挟み込む一対のチャックピンと、チャックピンを挟持解除方向に操作する挟持解除モータとが備えられている。
チャッカーCは、排出ローラ対43から印画紙Pを受け取るための待機位置(図2の実線で示す)と、露光搬送ユニットGcに印画紙Pを受け渡すための排出位置(図2の破線で示す)との間で往復移動自在に構成されている。
〔露光ユニット〕
露光ユニットGは、図2に示すように、印画紙Pの感光面に対してレーザビームを主走査方向にスキャンするビーム出射ユニットGhと、このビーム出射ユニットGhの下方の露光ポイントGpにおいて印画紙Pを副走査方向に搬送する露光搬送ユニットGcとで構成されている。ビーム出射ユニットGhを収めた第2補助筐体34と露光搬送ユニットGcを収めた第3補助筐体35とは互いに複数のネジで連結されることで単一の剛体を構成している。そして、第3補助筐体35を懸架した第2補助筐体34は、4個の防振ゴム37を介して下の第1補助筐体33の上面に支持されている。
ビーム出射ユニットGhは、R(赤)、G(緑)、B(青)の3原色に対応した3種のレーザビームを生成するレーザビーム生成装置50と、縦軸芯周りで高速回転してレーザビームを走査するポリゴンミラー51と、このポリゴンミラー51からのレーザビームの走査速度を変換するfθレンズ52と、横向きのレーザビームを下向きに変更するための偏向ミラー53とを備える。
レーザビーム生成装置50は、R(赤)、G(緑)、B(青)の3原色に対応して、半導体レーザで成るレーザ光源50rおよびレーザ光源50bと、固体レーザで成るレーザ光源50gとを備えると共に、G(緑)に対応したレーザ光源50gからのレーザビームの強度(光量)を調節(変調)する音響光学変換素子(AOM)で成る光量調節機構54gと、3種のレーザビームを反射する3つのビームミラーMr、Mg、Mbとを備えている。
また、前記ポリゴンミラー51はアクチュエータとして電動型のポリゴンモータ55の駆動力で回転駆動される。
露光搬送ユニットGcは、第1補助筐体33のチャッカーCから印画紙Pを受け取る受入れローラ対71と、この受入れローラ対71から印画紙Pが受け渡される2組の第2露光ローラ対72、73とを備えている。この2組の第2露光ローラ対72、73は、ビーム出射ユニットGhの主走査方向に延びた露光ポイントGpを挟んで上流側と下流側に配置されている。
受入れローラ対71は、電動型のモータM1によって回転駆動される下方の駆動ローラ71aと、印画紙Pを駆動ローラ71aに押し付けた挟着姿勢と、駆動ローラ71aから上方に離間した解除姿勢との間で、電動型のモータM2によって回転駆動されるカムディスクによって上下方向に切り換え可能に構成された遊転型の圧着ローラ71bとからなる。
同様に、下流側の2対の露光ローラ対72、73もまた、電動型のモータM3によって回転駆動される下方の駆動ローラ72a、73aと、印画紙Pを各駆動ローラ72a、73aに押し付けた挟着姿勢と、駆動ローラ72a、73aから上方に離間した解除姿勢との間で、電動型のモータ(不図示)によって回転駆動されるカムディスク(不図示)によって上下方向に切り換え可能に構成された遊転型の圧着ローラ72b、73bとからなる。
〔補正係数算出部〕
また、本発明の光量補正方法に関する機能として、補正値算出部80が画像処理装置21に備えられている。図4に、補正値算出部80の機能ブロックを示している。
補正値算出部80は、テストプリントに含まれる各テストパターンの濃度値を取得する濃度値取得手段81、濃度値取得手段81により取得された比較パターンの濃度値と基本パターンの濃度値との差分を算出する差分手段82、差分手段82により算出された差分値を後述する平面上に定めると共に、定められた点に基づき近似直線を求める直線近似手段83、直線近似手段83により近似された直線に基づき補正係数を算出する補正値算出手段84、補正値算出手段84により算出された複数の近似値から近似曲線を算出する補正曲線算出手段85、および補正曲線算出手段により算出された補正曲線に基づき各階調における補正係数を補正係数テーブル90aに設定する補正値設定手段86が備えられている。
〔テストプリント〕
図5(a)は、露光ヘッドの主走査方向における理想的な光量(実線)と実際に露光ヘッドから照射される光量(点線)とを表した図である。一方、図5(b)は、副走査方向における理想的な光量(実線)と実際の光量(点線)とを示している。上述したように、主走査方向におけるドットの形成は、連続したレーザ光により形成されるものであり、濃度値の変化はレーザ光量を連続的に制御する必要がある。一方、副走査方向におけるドットの形成は、異なる走査ラインにより形成されるものであり、濃度値を変化させるためにレーザ光量を連続的に制御する必要がない。そのため、主走査方向においては、濃度値の変化に実際の光量変化が追随しきれずに遅れを生じている。しかしながら、副走査方向においては、そのような遅れは生じ得ない。その様子が、図5(a)および(b)に示されており、主走査方向では理想的な光量と実際の光量とのずれが生じているのに対し、副走査方向ではずれは生じていない。この差により、主走査方向と副走査方向で、露光されるドットの濃度に差が生じ、画質の低下を招いている。
図6は、上述のような主走査方向と副走査方向のドットの濃度ずれを補正するための補正係数の算出に用いるテストプリントの例である。図6のテストプリントは、入力階調0に対応する出力階調(濃度値)に対する補正係数を算出するためのものであり、基準測定値を取得するための基準パターン61および63、比較値を取得するための比較パターン62a、62b、64aおよび64bが含まれている。基準パターン61および63は、主走査方向に沿う縞状のパターンを有する横テストパターンであり、基準パターン61は副走査方向に1ドットの幅を持ち、入力階調0に対応する露光ヘッドの光量で露光された露光ライン(以下、階調0露光ラインと称する)と最大入力階調に対応する露光ヘッドの光量で露光された露光ライン(以下、最大階調露光ラインと称する)が副走査方向において交互に配置されている。
基準パターン63は、副走査方向に2ドットの幅を持つ階調0露光ライン、および副走査方向に2ドットの幅を持つ最大階調露光ラインから構成される第1ブロックと、副走査方向に3ドットの幅を持つ階調0露光ライン、および副走査方向に3ドットの幅を持つ最大階調露光ラインから構成される第2ブロックとが副走査方向において交互に配置されることにより構成されている。
比較パターン62a、62b、64aおよび64bは、基準パターン61および63から取得された濃度値と比較する比較値を取得するためのテストパターンである。比較パターン62aおよび62bは、副走査方向に沿う縞状のパターンを有する縦テストパターンであり、主走査方向に1ドットの幅を持つ階調0露光ラインと最大階調露光ラインが走査方向において交互に配置されている。ただし、比較パターンの階調0露光ラインとは、入力階調0に対応する出力階調値の露光ヘッドの光量に対して、補正した光量が用いられており、比較パターン62a、62bは、それぞれ+α%、−α%補正された光量により露光形成されている。
また、比較パターン64aおよび64bは、主走査方向に2ドットの幅を持つ階調0露光ライン、および主走査方向に2ドットの幅を持つ最大階調露光ラインから構成される第1ブロックと、主走査方向に3ドットの幅を持つ階調0露光ライン、および主走査方向に3ドットの幅を持つ最大階調露光ラインから構成される第2ブロックとが主走査方向に交互に配置されることにより構成されている。なお、比較パターン64aおよび64bの階調0露光ラインもそれぞれ+α%、−α%補正された光量により露光形成されている。
以下、基準パターン61、比較パターン62aおよび62bと同様の構成のテストパターンを1on1offパターン、基準パターン63、比較パターン64aおよび64bと同様の構成のテストパターンを2on2off3on3offパターンと称する。1on1offパターンに基づき算出される補正係数は、後述する立ち上がり補正に用いられ、2on2off3on3offパターンに基づき算出される補正係数は、後述する立ち下がり補正に用いられる。
実際の補正係数を求めるには、上述した基準パターンと2つの比較パターンの組を複数用いることとなる。すなわち、補正係数を算出する階調を複数設定し、各々の階調に対応するテストパターンの組が必要となる。図7および図8は、実際の補正係数算出に用いられるテストプリントである。図中で、立ち上がり補正基準パターンは、立ち上がり補正係数の算出に用いる1on1offパターンの基準パターンであり、立ち上がり補正比較パターンは、1on1offパターンの比較パターンである。図から分かるように、この例では、階調0、25、50、100、150に対応するテストパターンが用いられている。また、階調0、25および50ではα=5であり、階調100および150ではα=10としている。また、図7のテストプリントを用いて、後述する方法により立ち上がり補正係数を求めた後、その立ち上がり補正係数を用いて図8のテストプリントがプリントされ、図7および図8のテストプリントを用いて立ち下がり補正係数等が求められる。
〔マスター補正値〕
立ち上がり補正や立ち下がり補正における補正値を求める際には、予め求められているマスター補正値と呼ばれる初期補正値が用いられている。マスター補正値は、感光材料毎に異なる値を持っており、入力階調値に対する3次式として表される。例えば、図9の実線は、ある感光材料に対するRレーザのマスター補正値を表している。このとき、補正係数αにより、α%補正するとは、縦軸の正方向に各々のマスター補正値をα%シフトさせ、点線の曲線で表される補正値を用いることをいい、−α%補正するとは、縦軸の負方向に各々のマスター補正値をα%シフトさせ、一点鎖線の曲線で表される補正値を用いることをいう。すなわち、入力階調xに対するマスター補正値をyとすると、補正係数αによりα%補正されたマスター補正値y’は、y’=(1+α)yとなる。なお、図では、マスター補正値は入力階調値の関数として表されているが、後述する入出力特定関数(セットアップLUT)を介して、出力階調値の関数として用いることができる。
上述のテストプリント時には、1on1offの基準パターンを形成する際には、マスター補正値による立ち上がり補正が行われ、1on1offの比較パターンを形成する際には、マスター補正値をシフトさせた補正値による立ち上がり補正が行われている。また、2on2off3on3offの基準パターンの形成時には、マスター補正値による立ち上がり補正が行われ、2on2off3on3offの比較パターンの形成時には、既に算出されている立ち上がり補正値による立ち上がり補正およびマスター補正値をシフトさせた補正値による立ち下がり補正が行われる。このようにマスター補正値を用いることにより、立ち上がりおよび立ち下がり補正を微小な補正に止めることができ、補正の信頼性を高めることができる。
〔補正値算出方法〕
図10は、本発明の光量補正方法に用いる補正値の算出方法の処理の流れを表すフローチャートである。この処理では、図7のテストプリントを用いる。特に、1on1offパターンである立ち上がり補正基準パターンおよび立ち上がり補正比較パターンを用いた立ち上がり補正係数の算出に関する説明を行うものとする。
まず、濃度値取得手段81により、一つの階調に対する基準値が取得される(#01)。例えば、入力階調0に対する基準パターン61の濃度値が測色計等により計測され、入力される。次に、濃度値取得手段81により、入力階調0に対する比較パターン62aおよび62bの濃度値が2つの比較値(以下、第1比較値、第2比較値と称する)として取得される(#02)。
差分手段82は、濃度値取得手段81により取得された第1比較値と基準値との差分値(以下、第1差分値d1と称する)および、第2比較値と基準値との差分値(以下、第2差分値d2と称する)が算出される(#03)。
直線近似手段83は、第1差分値d1および第2差分値d2に基づき近似直線を算出する(#04)。この動作を、図11を用いて具体的に説明する。まず、横軸を比較値と基準値との差とし、縦軸を補正係数とする平面を考え、この平面上に第1差分値および第2差分値に基づく点(以下、点P1、P2と称する)をプロットする。ここで、第1差分値d1の算出の基礎となった比較パターン62aは、+α%の補正係数により補正された露光されたものであるため、点P1の座標は(d1,α)となる。同様に、点P2の座標は(d2,−α)となる。そして、公知の方法により、点P1と点P2を結ぶ線分を求めることにより、近似直線Lが得られる。なお、本実施形態では、2つの比較値に基づき2点を定め、近似直線を求めているが、これに限定されるものではなく、3以上の比較値に基づき、近似直線を求めても構わない。この場合には、最小二乗法等の公知の方法により近似直線を求めることができる。
補正値算出手段84は、直線近似手段83により算出された近似直線に基づき、補正係数を算出する(#05)。具体的には、算出された近似直線の縦軸切片を補正係数として算出する。図11の例では、直線Lと縦軸の交点は、点Pd(0,V)であり、算出される補正係数はVである。
以上の処理により、入力階調0に対する補正係数が求められ、この処理をテストプリントされた全ての入力階調に対して繰り返す(#06のNo分岐)。
上述の処理により、入力階調0、25、50、100、150に対する補正係数V0、V25、V50、V100、V150が得られる。補正曲線算出手段85は、これらの補正係数から補正曲線を算出する(#07)。図12は、この様子を表した模式図である。図12の上段は、入力階調に対する出力階調の関係を規定する入出力特性曲線である。また、下段は横軸を出力階調、縦軸を補正係数とする平面であり、上述の処理により算出された補正係数V0、V25、V50、V100、V150に対応する点P0、P25、P50、P100、P150がプロットされている。例えば、P0の横軸要素は、入出力特性曲線に基づき決定される。すなわち、入力階調0に対する出力階調が、P0の横軸要素となる。また、P0の縦軸要素は、入力階調0に対する補正係数V0である。このようにして、点P0の座標が決定される。他の点P25、P50、P100、P150も同様にして、決定される。
このようにして決定された点に基づき、公知の方法により補正曲線が求められる。本実施形態では、3次曲線による近似が行われており、図12下段の実線が補正曲線として得られることとなる。
補正曲線の近似に用いた範囲外の出力階調に対する補正係数として、近似補正曲線の値を使用した場合には、信頼性が低いため、画質が低下する恐れがある。そのため、入力階調150に対応する出力階調B以下に対する補正係数は、出力階調Bに対応する補正係数V150を用いる。すなわち、出力階調区間[0,B]に対する補正係数はV150となる。一方、入力階調0に対応する出力階調A以上に対する補正係数は、出力階調1.1Aまでは、補正曲線の値を補正係数として用いるが、出力階調1.1A以上に対する補正係数は、出力階調1.1Aに対応する補正係数V0’を用いる。すなわち、出力階調区間[1.1A,最大階調]に対する補正係数は、V0’となる。
このようにして、全出力階調に対する補正係数が求められ、補正値設定手段86により、補正係数テーブル90aに補正係数が設定される(#08)。ただし、通常、出力階調数に比べて補正係数テーブル90aおよび補正係数レジスタ90bの数が少ないため、個々の出力階調に対する補正係数を設定することはできない。その場合には、出力階調を補正係数テーブル90aおよび補正係数レジスタ90bの数と同数の区間に分割し、個々の区間の代表値を補正係数として補正係数テーブル90aに設定する。この区間の代表値としては、区間に属する各々の出力階調に対応する補正係数の最大値、最小値、平均値等様々な値を用いることができる。また、出力階調の区間は、均等に分割しても良いし、不均等に分割しても構わない。不均等に分割する場合には、曲線の勾配が急な領域は、区間を短くしサンプリング数を増やし、勾配が緩やかな領域は区間を長くすることによりサンプリング数を減らす等すると、補正係数曲線の特性を反映した補正係数が得られるために好適である。
上述の処理により1on1offパターンを用いて立ち上がり補正係数が得られ、補正係数テーブル90aに設定されたが、2on2off3on3offパターンを用いた立ち下がり補正係数の算出方法も同様の処理により実現することができる。なお、立ち上がり補正係数と立ち下がり補正係数とは、個別の補正係数テーブル90aに設定される。
なお、上述の説明では、測定値に基づき2つの点を定め、それらの点を結ぶ線分の縦軸切片を補正係数として算出していた。しかしながら、一般的に、このような2点の間に必ず縦軸切片が存在するとは限らない。
例えば、図13では、上述の方法と同様に、テストパターンを計測することにより得られた基準値および2つの比較値から2点P1およびP2が定められている。しかしながら、線分P12は縦軸と交差しておらず、縦軸切片が存在していない。この場合には、線分P12を延長することにより縦軸切片を求めることも可能であるが、得られた補正値の信頼性の観点からは問題がある。この場合には、以下の方法により補正係数を算出する。
まず、縦軸切片がP1側とP2側のいずれに存在するかを判定する。図13の例では、P1側に存在することが分かる。このとき、P1の基礎となった補正係数を変更した補正係数を決定する。P1は上述のように+α%の補正により露光形成されたテストパターンを基礎としているため、新たな補正係数はβ>αとする。例えば、β=2α等とすることができる。
このようにして、変更された補正係数βを用いて露光形成されたテストパターンから再度濃度値を取得すると、点P3を定めることができる。このとき、線分P23は縦軸と交差するため、縦軸切片を補正係数として求めることができる。
〔画像露光処理〕
以下に、上述の処理により算出された補正値を用いて画像を露光形成する写真プリント装置における、画像露光処理を説明する。この写真プリント装置では、本発明に係る立ち上がり補正だけでなく、アンダーシュート補正、および、立ち下がり補正と呼ばれる補正が行われる。ここでは、全体の処理の流れを説明する前に、各々の補正方法に関する説明を行う。
本実施形態におけるアンダーシュート補正とは、主走査方向において出力階調値が減少(露光ヘッドの光量が減少)する位置のドットに対する光量を補正することを言い、立ち上がり補正とは、主走査方向において出力階調値が増加(露光ヘッドの光量が増加)する位置のドットに対する光量を補正することを言い、立ち下がり補正とは、主走査方向において出力階調値が減少する位置の直前のドットに対する光量を補正することを言う。なお、アンダーシュート補正に用いるアンダーシュート補正値は所定の方法に基づき得られており、立ち上がり補正に用いる補正係数は、1on1offパターンに基づき、上述の処理により算出され、立ち下がり補正に用いる補正係数は、2on2off3on3offパターンに基づき、上述の処理により算出されているものとする。
〔アンダーシュート補正〕
図14は、アンダーシュート補正の概念を表す図である。アンダーシュート補正とは、直接変調するRおよびBレーザの主走査方向における立ち下がりの制御遅延に起因する滲みを低減するために行われる補正である。なお、図14中のLDバイアス設定値O2とは、印画紙が発色する光量の限界点である。すなわち、LDバイアス設定値以下のD/A変換値に対応する制御電流による光量では、印画紙は発色しない。通常、白ドットを形成する場合には、その後の電流の立ち上がりを考慮して、D/A変換値は0とはせず、LDバイアス設定値に設定されている。
しかしながら、このような制御では、白ドットの直前の黒ドットからの滲みが発生し、画質の低下を招いている。この滲みを低減するための補正がアンダーシュート補正である。具体的には、主走査方向における立ち下がり直後の出力階調値に以下の方法により算出された補正値を加算する処理である。
アンダーシュート補正における補正値Bは、立ち下がり量Aと立ち下がり量Aに対応して予め設定されているアンダーシュート補正係数−1≦X[i]≦0との積により求められる。すなわち、アンダーシュートにおける補正値はB=A×X[f(A)]となる。ここで、iはレジスタ番号、f( )は立ち下がり量をレジスタ番号に変換する関数である。なお、アンダーシュート補正係数は所定の方法により求められ、補正係数テーブル90aに設定されており、上述の処理に先立ち、補正係数テーブル90aから補正値レジスタ90bに転送され、設定されている。
図14における実線は、主走査方向におけるD/A変換値(出力階調値)の変化であり、この例では2つの立ち下がり部が含まれている。各々の立ち下がり部において、上述の式により補正値BおよびB’が算出され、その補正値によりアンダーシュート補正がなされている(図14の点線部分)。
〔立ち上がり補正〕
図15は、本発明に係る立ち上がり補正の概念を示す図であり、実線が主走査方向におけるD/A変換値(出力階調値)の変化を示している。図15の例では、2箇所の立ち上がりを有している。一方は、O1からO2に立ち上がっており、他方はO3からO4に立ち上がっている。このとき、A=O2−O1、A’=O4−O3である。
このとき、立ち上がり補正量CおよびC’は、立ち上がり量AおよびA’と、上述の処理により算出され補正係数レジスタ90bに設定されている立ち上がり補正係数とに基づき決定される。すなわち、補正係数レジスタ90bに設定されている立ち上がり補正係数を−1≦Y[i]≦1とすると、立ち上がり補正量Cは、C=A×Y[f(A)]により求めることができる。ここで、iはレジスタ番号、f( )は出力階調をレジスタ番号に変換する関数である。同様にC’=A’×Y[f(A’)]となる。なお、上述の処理に先立ち、補正係数テーブル90aの立ち上がり補正係数が補正値レジスタ90bに転送され、設定されている。
このようにして、求められた立ち上がり補正量は、立ち上がり直後の出力階調値に加算され、新たな出力階調値が得られる(図15の点線部分)。なお、この例では、立ち上がり補正量は正値となっているが、実際には負値の場合もあり得る。また、補正後の出力階調値が最大出力階調を超える場合や、最低出力階調を下回る場合があるが、その場合には、最大出力階調もしくは最低出力階調に丸める処理を行う。
〔立ち下がり補正〕
一方、図16は立ち下がり補正の概念を示しており、実線が主走査方向におけるD/A変換値(出力階調値)の変化を示している。この例では、2箇所の立ち下がりを有しており、一方は、O1からO2に立ち下がっており、他方は、O3からO4に立ち下がっている。このときの立ち下がり量は、それぞれA=O1−O2、A’=O3−O4である。
このときの立ち下がり補正量DおよびD’は、立ち上がり補正量と同様に、立ち下がり量AおよびA’と補正係数レジスタ90bに設定されている立ち下がり補正係数とに基づき算出される。すなわち、補正係数レジスタ90bに設定されている立ち下がり補正係数を−1≦Z[i]≦1とすると、立ち下がり補正量は、D=A×Z[f(A)]、D’=A’×Z[f(A’)]となる。なお、上述の処理に先立ち、補正係数テーブル90aの立ち下がり補正係数が補正値レジスタ90bに転送され、設定されている。
ただし、立ち下がり補正は、立ち下がり後にその状態が2ドット以上継続する場合にのみ行われる。すなわち、立ち下がり直後に立ち上がった場合には、立ち下がり補正は行われない。
このようにして、求められた立ち下がり補正量は、立ち下がり直前の出力階調値に加算され、新たな出力階調値が得られる(図16の点線部分)。なお、この例では、立ち下がり補正量は負値となっているが、実際には正値の場合もあり得る。また、補正後の出力階調値が最大出力階調を超える場合や、最低出力階調を下回る場合があるが、その場合には、最大出力階調もしくは最低出力階調に丸める処理を行う。
〔画像形成処理〕
次に、図4および図17を用いて、上述した立ち上がり補正および立ち下がり補正を用いた画像の露光処理の説明を行う。画像露光処理に関連する機能部として、画像処理装置21には、感光材料に露光形成すべき画像データを保持する画像保存部91、画像保存部91に保持されている画像データから1画素単位で画素値(入力階調値)を取得する入力階調値取得部92、入力階調値取得部92により取得された入力階調値を出力階調値に変換する出力階調値変換部93、出力階調値変換部93により変換された出力階調に基づき、立ち上がり補正、立ち下がり補正等の補正を行う出力階調値補正部94を備えている。
さらに、出力階調値補正部94は、アンダーシュート補正を行うアンダーシュート補正部94a、立ち上がり補正を行う立ち上がり補正部94bおよび、立ち下がり補正を行う立ち下がり補正部94を備えている。
まず、入力階調値取得部92により、画像保存部91に保存されている画像の画素値が入力階調値として取得される(#11)。取得された入力階調値は、出力階調値変換部93により、出力階調値に変換される(#12)。この変換は、図12の上段に示したような特性曲線を表すLUT(Look Up Table)に基づき変換される。
出力階調値変換部93から出力階調値を取得したアンダーシュート補正部94aは、まず直前に取得した出力階調値と現在取得した出力階調値とから、立ち下がり部であるか否かを判定し(#13)、立ち下がり部であると判定した場合(#13のYes分岐)には、取得した出力階調値に対して上述の方法によりアンダーシュート補正を行い(#14)、補正後の出力階調値を新たな出力階調値とする。一方、立ち上がり部でないと判定した場合(#13のNo分岐)には、取得した出力階調値をスルー出力する。この際、取得した出力階調値を直前の出力階調値として一時記憶しておく。
立ち上がり補正部94bは、アンダーシュート補正部94aからの出力階調値を取得し、直前の出力階調値と現在取得した出力階調値とから、立ち上がり部であるか否かを判定する(#15)。立ち上がり部である場合(#15のYes分岐)には、取得した出力階調値に対して、上述の方法により立ち上がり補正を行い(#16)、補正後の出力階調値を新たな出力階調値として出力する。一方、立ち上がり部でない場合(#15のNo分岐)には、取得した出力階調値をスルー出力する。この際、取得した出力階調値を直前の出力階調値として一時記憶しておく。
次に、立ち下がり補正部94cは、立ち上がり補正部94bから取得した出力階調値(以下、判定対象値と称する)に対して、立ち下がり部であるか否かを判定する(#17)。上述のように、立ち下がり補正における立ち下がり部は、立ち下がり直前の1ドット、立ち下がり後の2ドットに基づき判定されるため、立ち下がり部の判定には少なくとも3ドット分の出力階調値が必要である。そのため、本説明においては、直前の2ドット分の出力階調値(以下、第1対象値および第2対象値と称する)が一時記憶されているものとする。
立ち下がり補正部94cは、第1対象値と第2対象値の間で立ち下がっており、第2対象値と判定対象値との間で立ち下がった状態が継続している場合(出力階調値の変化が所定値以下の場合等)に、立ち下がり部であると判定する。この際には(#17のYes分岐)、第1対象値が上述の方法により立ち下がり補正され(#18)、新たな出力階調値として出力される。一方、立ち下がり部でないと判定された際には(#17のNo分岐)、第1対象値がスルー出力される。この際、第2対象値が第1対象値として、判定対象値が第2対象値として一時記憶される。立ち下がり補正部94cにより出力された出力階調値は、D/A変換部95に渡される。
出力階調値を取得したD/A変換部95は、出力階調値をD/A変換し(#19)、電力制御部96に渡す。D/A変換値を取得した電力制御部96は、D/A変換値に基づき、RおよびBのレーザ光源50rおよび50bの電力、およびGレーザ光源50gの光量調節機構54gの電力を制御する(#20)。
各レーザ光源は、電力制御部96により制御された電力に基づき、光量が決定され、その光量によりドットの露光形成を行う(#21)。
上述の処理を画像保存部91に保存されている画像データの全画素値に対して行う(#22)ことにより、この画像データを感光材料上に露光形成することができる。
本発明の実施形態における写真プリント装置の斜視図 本発明の実施形態における写真プリント装置の縦断正面図 本発明の実施形態における写真プリント装置の露光処理系の概要を示す斜視図 本発明の実施形態における写真プリント装置の画像処理装置内に構築される機能要素を示す機能ブロック図 露光制御の遅れを表す模式図 本発明の光量補正方法に用いられるテストプリントの例 本発明の光量補正方法に用いられるテストプリントの例 本発明の光量補正方法に用いられるテストプリントの例 マスター補正値と補正値の関係を表す模式図 本発明の光量補正方法に用いる補正値を算出する処理の流れを表すフローチャート 補正値の算出方法を表す模式図 補正値の近似曲線を求める方法を表す模式図 補正値の算出方法を表す模式図 アンダーシュート補正を表す模式図 立ち上がり補正を表す模式図 立ち下がり補正を表す模式図 本発明の実施形態における写真プリント装置の画像形成処理の流れを表すフローチャート
符号の説明
80:補正係数算出部
81:濃度値取得手段
82:差分手段
83:直線近似手段
84:補正係数算出手段
85:補正曲線算出手段
86:補正係数設定手段
90:補正係数格納部
90a:補正係数テーブル
90b:補正係数レジスタ
91:画像保存部
92:入力階調値取得部
93:出力階調値変換部
94:出力階調値補正部
94a:アンダーシュート補正部
94b:立ち上がり補正部
94c:立ち下がり補正部
95:D/A変換部
96:電力制御部

Claims (2)

  1. 感光材料に対して主走査方向にレーザビームを走査露光するための光量を補正する光量補正方法であって、
    補正係数を求めるために、
    露光ユニットが感光材料上に第1濃度値のドットを形成するための条件である所定出力条件に基づき露光ユニットにより感光材料上に形成された、前記露光ユニットの主走査方向に沿い前記第1濃度値と第2濃度値とを有する縞状のパターンである基準テストパターンの測定濃度値を基準測定値として取得するステップと、
    前記所定出力条件に対してオフセットさせる第1補正値により補正された出力条件に基づき前記露光ユニットにより前記感光材料上に形成された、前記露光ユニットの副走査方向に沿い前記第1濃度値と前記第2濃度値とを有する縞状のパターンである第1比較パターンの測定濃度値を第1比較値として取得するステップと、
    前記所定出力条件に対してオフセットさせる第2補正値により補正された出力条件に基づき前記露光ユニットにより前記感光材料上に形成された、前記露光ユニットの副走査方向に沿い前記第1濃度値と前記第2濃度値とを有する縞状のパターンである第2比較パターンの測定濃度値を第2比較値として取得するステップと、
    前記第1比較値と前記基準測定値との差である第1差分値を算出するステップと、
    前記第2比較値と前記基準測定値との差である第2差分値を算出するステップと、
    前記第1差分値を第1軸要素とし、前記第1補正値を第2軸要素とする第1点と前記第2差分値を第1軸要素とし、前記第2補正値を第2軸要素とする第2点とを結ぶ直線上において第1軸要素が0となる第2軸要素を前記第1の濃度値に対応する前記補正係数として取得する補正値算出ステップと、を備え、
    前記光量を補正するために、
    画像データの画素値を出力階調値に変換する出力階調値変換ステップと、
    前記出力階調値の主走査方向において隣接するドットのうち、主走査方向における下流のドットの出力階調値が上流のドットの出力階調値に比べて、所定値以上大きい際に、立ち上がりを検出する立ち上がり検出ステップと、
    前記立ち上がり検出ステップにより立ち上がりが検出された際に、立ち上がり量を算出すると共に、前記立ち上がり量と当該立ち上がり量に対応する前記補正係数とに基づき立ち上がり補正量を算出する補正量算出ステップと、
    前記立ち上がり補正量を前記立ち上がりが検出された直後のドットの出力階調値に加算する補正ステップと、
    前記出力階調値に応じて前記レーザビームの前記光量を制御する光量制御ステップと、を備えたことを特徴とする光量補正方法。
  2. 感光材料に対して主走査方向にレーザビームを走査露光する露光ユニットを備えた画像形成装置であって、
    補正係数を求めるための、
    露光ユニットが感光材料上に第1濃度値のドットを形成するための条件である所定出力条件に基づき露光ユニットにより感光材料上に形成された、前記露光ユニットの主走査方向に沿い前記第1濃度値と第2濃度値とを有する縞状のパターンである基準テストパターンの測定濃度値を基準測定値として取得するとともに、前記所定出力条件に対してオフセットさせる第1補正値により補正された出力条件に基づき前記露光ユニットにより前記感光材料上に形成された、前記露光ユニットの副走査方向に沿い前記第1濃度値と前記第2濃度値とを有する縞状のパターンである第1比較パターンの測定濃度値を第1比較値として取得し、前記所定出力条件に対してオフセットさせる第2補正値により補正された出力条件に基づき前記露光ユニットにより前記感光材料上に形成された、前記露光ユニットの副走査方向に沿い前記第1濃度値と前記第2濃度値とを有する縞状のパターンである第2比較パターンの測定濃度値を第2比較値として取得する濃度値取得手段と、
    前記第1比較値と前記基準測定値との差である第1差分値を算出するとともに、前記第2比較値と前記基準測定値との差である第2差分値を算出する差分手段と、
    前記第1差分値を第1軸要素とし、前記第1補正値を第2軸要素とする第1点と前記第2差分値を第1軸要素とし、前記第2補正値を第2軸要素とする第2点とを結ぶ直線上において第1軸要素が0となる第2軸要素を前記第1の濃度値に対応する前記補正係数として取得する補正値算出手段と、
    前記立ち上がりにおける立ち上がり量に対応する前記補正係数を記憶する補正値記憶部と、を備え、
    前記レーザビームの光量を補正するための、
    画像データの画素値を出力階調値に変換する出力階調値変換部と、
    前記出力階調値の主走査方向において隣接するドットのうち、主走査方向における下流のドットの出力階調値が上流のドットの出力階調値に比べて、所定値以上大きい際に、前記出力階調値の主走査方向における立ち上がりを検出する立ち上がり検出部と、
    前記立ち上がり検出部により立ち上がりが検出された際に、立ち上がり量を算出すると共に、当該立ち上がり量と当該立ち上がり量に対応する前記補正係数とに基づき立ち上がり補正量を算出する補正量算出部と、
    前記立ち上がり補正量を前記立ち上がりが検出された直後のドットの出力階調値に加算し新たな出力階調値とする補正部と、
    前記出力階調値に応じて前記レーザビームの光量を制御する光量制御部と、を備えたことを特徴とする画像形成装置。
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