JP2009229766A - テストプリント、テストプリント作成方法、およびテストプリントを用いた光量補正方法 - Google Patents

Abstract

【課題】露光ユニットの立ち下がり補正のためのテストプリントの作成技術を提供する。
【解決手段】第１の濃度値を有し第１走査方向の帯状の領域であり、第２の走査方向に第１の幅を持つ領域と、第２の濃度値を有し第１の走査方向の帯状の領域であり、第２の走査方向に第１の幅を持つ領域とからなる第１ブロックと、第１の濃度値を有し第１の走査方向の帯状の領域であり、第２の走査方向に第２の幅を持つ領域と、第２の濃度値を有し第１の走査方向の帯状の領域であり、第２の走査方向に第２の幅を持つ領域とからなる第２ブロックとが所定の割合で配置されたテストパターンを含み、当該テストパターンは第１の走査方向を主走査方向とし、前記第２の方向を副走査方向とすることにより形成された基準パターンと、第１の走査方向を副走査方向とし、第２の方向を主走査方向とすることにより形成された比較パターンである。
【選択図】図８

Description

本発明は、感光材料上に画像を露光形成する露光ユニットの光量を補正するためのテストプリントおよびテストプリントの作成技術、さらにはそのテストプリントを用いた補正技術に関する。

現在、写真プリント業界では、写真フィルムに形成された撮影画像をフィルムスキャナによりデジタル化して得られる撮影画像データや、デジタルカメラなどのデジタル撮影機器によって直接撮影画像をデジタル化して得られる撮影画像データに濃度補正や色補正などの画像処理を施した後、これをプリントデータに変換し、このプリントデータに基づいてプリント露光ユニットを駆動し、撮影画像を感光材料（印画紙）に焼き付けるデジタル写真処理技術が主流である。

このようなデジタル写真技術を用いた写真プリント装置では、プリント露光ユニットとして、感光材料に対してレーザ光を走査することにより画像を露光形成する露光系が主に用いられている。このような露光系では、主走査方向に直交する副走査方向に感光材料を搬送しつつ、ポリゴンミラーに対してレーザ光を照射し、ポリゴンミラーを回転させ、レーザ光を偏光することにより主走査方向の走査を実現し、感光材料上に画像を形成している。すなわち、主走査方向における濃度値の変化は、レーザ光量を連続的に制御することにより実現されている。このため、主走査方向においては、エッジ部分の立ち上がりや立ち下がり部においてレーザ光量を大きく変更する制御が必要となるが、レーザ光量は瞬時に変更できるものではないため、レーザ光量変化の遅れが生じ、この遅れが滲みとして画質低下を招いている。特に、高解像度な写真プリント装置では、１ドット当たりのレーザ照射時間が短く、主走査方向のドット間の移動においてレーザ光量を制御するための十分な時間が確保できないこと等に起因するレーザ光量の遅延により、この特徴は顕著に見られる。一方、副走査方向における濃度値の変化は、異なる走査ラインによる離散的なレーザ光量の制御により実現されている。そのため、副走査方向における濃度値の差に対しては、レーザ光量の遅れは生じず、主走査方向に生じているような滲みはほとんど生じない。

また、上述した原因の他にも、様々な画質低下の原因が知られており、その画質低下を防ぐための一つの方法として、補正値を用いて露光ユニットの光量を補正する方法が検討されている。通常、補正量を決定するためには、様々な補正量を設定しテストプリントを繰り返す試行錯誤により最適な補正量を見極めるか、テストプリントの測定値から最適な補正量を算出する方法が用いられている。

露光量に対する補正量を決定する方法やそのためのテストプリントに関しては、様々な検討が行われている。例えば、特許文献１の技術では、第１の補正用画像を露光形成した後、測色計で発色濃度を計測し、その計測値に基づく第１の露光量補正が行われる。次に、入力部からユーザにより入力された補正量に基づき第２の露光量補正が行われる。このとき、第１の補正における分解能は粗く、第２の補正における分解能は相対的に細かく設定されている。また、特許文献２の技術では、各色のドットを所定ドット数を単位として交互に繰り返し、各色をいずれかの方向に補正の最小単位でずらした数種類の色ずれ検出用マークを有しており、カラー印刷の色ずれを高精度に検出して補正することができる。

特開２００７−１３５１００号公報（段落番号０００８−００１０） 特開２００７−２１０３０３号公報（段落番号００１１、００１４）

しかしながら、上述の補正方法やテストプリントは、シェーディング補正や色ずれのためのものであり、これらを用いても、エッジの立ち下がり部における滲みを低減させるための補正（以下、立ち下がり補正と称する）を行うための補正値を算出することはできない。さらに、立ち下がり補正に特化したテストプリントは未だ提案されていないのが実情である。

このような問題点に鑑み、本発明の課題は、感光材料上に画像を露光形成する露光ユニットの立ち下がり補正のための補正値を算出するためのテストプリント、その作成技術およびそのテストプリントを用いた補正技術を提供することである。

本発明のテストプリントは、感光材料に対して主走査方向にレーザビームを走査露光する露光ユニットにより当該感光材料上に露光形成されたテストプリントにおいて、第１の濃度値を有する前記露光ユニットの主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記露光ユニットの副走査方向に第１の幅を持つ領域と、第２の濃度値を有する前記主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記副走査方向に前記第１の幅を持つ領域とからなる第１ブロックと、前記第１の濃度値を有する前記主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記副走査方向に第２の幅を持つ領域と、前記第２の濃度値を有する前記主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記副走査方向に前記第２の幅を持つ領域とからなる第２ブロックとが所定の割合で配置されたテストパターンである基準パターンと、前記第１の濃度値を有する前記副走査方向に沿う帯状の領域であって、前記主走査方向に第１の幅を持つ領域と、第２の濃度値を有する前記副走査方向に沿う帯状の領域であって、前記主走査方向に前記第１の幅を持つ領域とからなる第１ブロックと、前記第１の濃度値を有する前記副走査方向に沿う帯状の領域であって、前記主走査方向に第２の幅を持つ領域と、前記第２の濃度値を有する前記副走査方向に沿う帯状の領域であって、前記主走査方向に前記第２の幅を持つ領域とからなる第２ブロックとが前記所定の割合で配置されたテストパターンである比較パターンと、
から構成されている。

上述したように、レーザによる走査露光により画像形成する露光ユニットでは、エッジの立ち上がり部と立ち下がり部において滲みを生じる特性を有しているが、これは上述したように、主走査方向においては顕著に見られるが、副走査方向においては、ほとんど見られない。この特性により、主走査方向と副走査方向とでは同じ入力階調に対して走査露光しても、感光材料上に形成されたドットの濃度値が異なることとなる。

そのため、本発明のテストプリントは、基準となるテストパターンである基準パターンと比較対象となるテストパターンである比較パターンを含んでいる。基準パターンは、露光ユニットの主走査方向に沿う、第１の濃度値を持ち副走査方向に第１の幅を持つ帯状の領域と、第２の濃度値を持ち副走査方向に第１の幅を持つ帯状の領域とから構成される第１ブロックと、主走査方向に沿う、第１の濃度値を持ち副走査方向に第２の幅を持つ帯状の領域と、第２の濃度値を持ち副走査方向に第２の幅を持つ帯状の領域とから構成される第２ブロックとが、所定の割合で含まれている。

一方、比較パターンは、露光ユニットの副走査方向に沿う、第１の濃度値を持ち主走査方向に第１の幅を持つ帯状の領域と、第２の濃度値を持ち主走査方向に第１の幅を持つ帯状の領域とから構成される第１ブロックと、副走査方向に沿う、第１の濃度値を持ち主走査方向に第２の幅を持つ帯状の領域と、第２の濃度値を持ち主走査方向に第２の幅を持つ帯状の領域とから構成される第２ブロックとが、所定の割合で含まれている。

これにより、滲みをほとんど有さない基準パターンと、主走査方向における滲みを有する比較パターンを形成し、各々の濃度値を補正値算出に用いることが可能となっている。

通常、立ち下がり補正は、２ドット以上連続する高濃度ドットと２ドット以上連続する低濃度ドットによるエッジの立ち下がり部分に対して行われる補正である。そのため、立ち下がり補正のためのテストプリントも、このようなパターンを含んでいることが望ましい。また、高濃度ドット２ドットと低濃度ドット２ドットの連続パターン（以下、２ｏｎ２ｏｆｆと称する）のテストプリントにより補正した場合には、２ｏｎ２ｏｆｆのパターンを露光形成した場合には適切なプリントが得られるが、高濃度ドット３ドットと低濃度ドット３ドットの連続パターン（以下、３ｏｎ３ｏｆｆと称する）を露光形成した場合に、品質が低下し、一方、３ｏｎ３ｏｆｆのテストプリントにより補正した場合には、３ｏｎ３ｏｆｆのパターンを露光形成した場合には、適切なプリントが得られるが、２ｏｎ２ｏｆｆのパターンに対しては、精度が低下することが判明している。

そのため、本発明のテストプリントの好適な実施形態は、前記第１の幅が２ドットであり、前記第２の幅が３ドットである。すなわち、本発明のテストプリントの好適な実施形態では、１つのテストパターンは２ｏｎ２ｏｆｆのブロックと３ｏｎ３ｏｆｆのブロックが所定の割合で形成されている。このようなテストパターンから構成されるテストプリントを用いて光量補正を行うと、２ｏｎ２ｏｆｆのパターンも３ｏｎ３ｏｆｆのパターンを露光形成した場合にも、高精度なプリントを得ることが可能となっている。特に、２ｏｎ２ｏｆｆのブロックと３ｏｎ３ｏｆｆのブロックの割合を適宜変更することにより、光量補正される写真プリント装置等の特性に応じて、最適な割合を調整した、テストプリントを得ることが可能となっている。

テストプリントを用いた補正値の算出には、様々な補正値により補正された光量でテストパターンを露光形成し、最適な補正値を求める方法が用いられる。しかしながら、この方法では試行錯誤の回数が多く、補正値算出の労力が膨大となる問題がある。そのため、本発明のテストプリントの好適な実施形態は、前記基準パターンは所定の出力条件に基づき制御された前記露光ユニットにより形成され、前記複数の比較パターンを含み、前記比較パターンの各々は、異なる補正量によりオフセットされた前記所定の出力条件により制御された前記露光ユニットにより形成されている。したがって、このようなテストプリントを用いて、基準パターンから基準測定値が取得でき、各々のテストパターンからは異なる補正値により補正された比較値を取得することができる。そのため、これらの計測結果を元に最適な補正値を算出することができるため、補正値算出の労力を低減することが可能となる。

また、本発明は、上述のようなテストプリントの作成方法をも権利範囲とするものであり、本発明に係るテストプリント作成方法は、感光材料に対して主走査方向にレーザビームを走査露光する露光ユニットの光量を補正するためのテストプリント作成方法であって、第１の濃度値を有する前記露光ユニットの主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記露光ユニットの副走査方向に第１の幅を持つ領域と、第２の濃度値を有する前記主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記副走査方向に前記第１の幅を持つ領域とからなる第１ブロックと、前記第１の濃度値を有する前記主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記副走査方向に第２の幅を持つ領域と、前記第２の濃度値を有する前記主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記副走査方向に前記第２の幅を持つ領域とからなる第２ブロックとを所定の割合で含むテストパターンである基準パターンを生成する基準パターン生成ステップと、前記第１の濃度値を有する前記露光ユニットの主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記露光ユニットの副走査方向に第１の幅を持つ領域と、第２の濃度値を有する前記主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記副走査方向に前記第１の幅を持つ領域とからなる第１ブロックと、前記第１の濃度値を有する前記副走査方向に沿う帯状の領域であって、前記主走査方向に第２の幅を持つ領域と、前記第２の濃度値を有する前記副走査方向に沿う帯状の領域であって、前記主走査方向に前記第２の幅を持つ領域とからなる第２ブロックとを所定の割合で含むテストパターンである比較パターンを生成する比較パターン生成ステップと、前記生成されたテストパターンの濃度値に基づき前記露光ユニットの光量を制御し、前記感光材料上にテストパターンを露光形成するプリントステップと、を備えている。当然ながら、このようなテストプリント作成方法は、上述のテストプリントと同様の作用効果を奏し、同様の特徴を有するような構成とすることが可能である。

さらに、本発明は上述のテストプリントを用いた露光ユニットの光量を補正する方法をも権利範囲とするものであり、本発明の 光量補正方法は、前記基準パターンを測色することにより得られる基準値を取得する基準値取得ステップと、前記所定の出力条件をオフセットさせる第１の補正量により補正制御された前記露光ユニットにより露光形成された第１比較パターンを測色することにより得られる第１比較値を取得する第１比較値取得ステップと、前記所定の出力条件をオフセットさせる第２の補正量により補正制御された前記露光ユニットにより露光形成された第２比較パターンを測色することにより得られる第２比較値を取得する第２比較値取得ステップと、前記第１比較値と前記基準測定値との差である第１差分値を算出するステップと、前記第２比較値と前記基準測定値との差である第２差分値を算出するステップと、前記第１差分値を第１軸要素とし、前記第１補正値を第２軸要素とする第１点と前記第２差分値を第２軸要素とし、前記第２補正値を第１軸要素とする第２点とを結ぶ直線上において第１軸要素が０となる第２軸要素を補正値として取得する補正値算出ステップと、前記補正値に基づき前記露光ユニットの光量を補正する光量補正ステップと、を備えている。

この構成では、所定の出力条件により制御された露光ユニットにより露光形成され、滲みをほとんど有さない基準パターンから基準値が取得される。また、第１補正値によりオフセットされた所定の出力条件により露光形成された第１比較値と、第２補正値によりオフセットされた所定の出力条件により露光形成された第２比較値とが、取得される。このようにして取得された基準値、第１比較値および第２比較値から、第１差分値および第２差分値が算出される。さらに、第１差分値および第２差分値より規定される２点間を直線近似し、その直線上において第１軸要素が０となる第２軸要素を所定の出力条件に対する補正値として得ることができる。そのため、３つのテストパターンから濃度値を取得するだけで、試行錯誤を繰り返すことなく、１つの出力条件に対する補正値を取得することができ、その補正値により所定出力条件を補正することにより、所定出力条件に最適な露光補正が可能となる。

以下に、図を用いて、本発明のテストプリント、テストプリント作成方法およびテストプリントを用いた光量補正方法の実施形態を説明する。

〔全体構成〕
図１及び図２に示す写真プリント装置は、暗箱構造の筐体１０を有し、この筐体１０の内部には印画紙Ｐに露光を行う露光処理部Ｅｘと、露光済みの印画紙Ｐの現像処理を行う現像処理部Ｄｅと、この現像処理部Ｄｅからの印画紙Ｐを乾燥する乾燥処理部Ｄｒとを備え、この乾燥処理部Ｄｒで乾燥された印画紙Ｐを筐体１０の端部の排出部１１から排出し、搬送ベルト１２で受け止めて水平方向に搬送し、複数のトレイ１３Ａの何れかにオーダ単位で回収可能なソータ１３を備えている。

露光処理部Ｅｘと現像処理部Ｄｅとの間には、露光処理部Ｅｘから送り出された印画紙Ｐを反転することで表裏を入れ換えた状態で現像処理部Ｄｅに手渡す縦搬送部ＣＶが設けられている。また、筐体１０の外部には、オペレータが画像データの取得と、プリント処理に必要な操作とを行う操作端末として機能するオペレート部Ａが設置されている。

〔オペレート部Ａ〕
オペレート部Ａには、操作テーブル２０に設置された汎用コンピュータで成る画像処理装置２１と、画像処理装置２１の上面に設置されたディスプレイ２２と、現像処理後の写真フィルムＦのコマ画像から画像データを取得するフィルムスキャナ２３と、２つのキーボード２４と１つのマウス２５とを備えている。画像処理装置２１の前面には各種の半導体型の記憶媒体（不図示）、あるいは、ＣＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ、ＭＯ等の磁気式や光学式の記憶媒体（不図示）等から画像データを取得する複数のメディアドライブ２６を備えている。

〔縦搬送部ＣＶ〕
縦搬送部ＣＶは、露光処理部Ｅｘで露光された印画紙Ｐを圧着型のローラ対１５で受け取り、この圧着型のローラ対１５の姿勢変換によって表裏を入れ換え、ガイドレール１６に沿って上方に搬送し、現像処理部Ｄｅに送り出す動作を行う。

〔現像処理部Ｄｅ・乾燥処理部Ｄｒ〕
現像処理部Ｄｅは、発色現像槽と漂白定着槽と安定槽とで成る複数の処理槽を合成樹脂によって一体形成した現像処理槽３０を備え、露光処理部Ｅｘから供給された印画紙Ｐを夫々の現像処理槽３０に搬送するように複数の圧着型の複数のローラ対を有した搬送機構３１を備えている。また、乾燥処理部Ｄｒは、現像処理部Ｄｅから送り出された印画紙Ｐを搬送する複数の圧着ローラ対３２と、この圧着ローラ対３２で搬送される印画紙Ｐに対して加熱された乾燥空気を供給するブロワＢとを備えている。

〔露光処理部Ｅｘ〕
露光処理部Ｅｘは、ロール状に巻き取られた印画紙Ｐを収容した印画紙マガジンＭから印画紙Ｐを引き出して、水平方向に送り出す圧着型の供給搬送ローラ４１と、供給搬送ローラ４１から印画紙Ｐを受け取り、印画紙Ｐの先端付近を挟持したまま水平に移動する挟持搬送手段としてのチャッカーＣと、チャッカーＣの水平方向への移動によって、印画紙Ｐを受け取って露光操作を行う露光ユニットＧとを備えている。供給搬送ローラ４１とチャッカーＣとの間には、供給搬送ローラ４１から供給された印画紙ＰをチャッカーＣに向けて送り込む排出ローラ対４３、及び、印画紙Ｐを露光ユニットＧにて形成する画像サイズに対応した長さに切断するカッターユニット４２が設けられている。

露光ユニットＧでは、露光搬送ユニットＧｃによって印画紙Ｐを水平方向（副走査方向）に搬送しながら、露光ポイントＧｐにて主走査方向に沿った走査露光を行うように構成されている。

露光処理部Ｅｘにおいて、供給搬送ローラ４１から露光ユニットＧに印画紙Ｐを搬送する部位には第１補助筐体３３を配置しており、供給搬送ローラ４１、カッターユニット４２、チャッカーＣの作動系等はこの第１補助筐体３３に支持されている。この露光処理部Ｅｘには、この露光処理部Ｅｘでの印画紙Ｐの搬送、及び、露光ユニットＧによる露光を制御するためにマイクロプロセッサーを有した露光制御手段としての制御ユニット３６を備えている。

印画紙マガジンＭは、ケース５の内部にロール状の印画紙Ｐを支持する巻芯６を備えると共に、印画紙Ｐに搬送力を作用させる圧着型のフィードローラ対７を備えている。図面には示していないが、ケース５の内部には巻芯６とフィードローラ対７とを連動して回転駆動するように複数のギヤを有した伝動系を備えており、印画紙マガジンＭの外部にはフィードローラ対７の駆動軸に動力を伝えて印画紙Ｐの送り出しと、巻き戻しとを行うマガジンモータ（不図示）を備えている。

〔チャッカー〕
チャッカーＣは、印画紙Ｐの搬送方向に沿って移動自在に支持されたスライダ（不図示）と、このスライダに対して縦向き姿勢の揺動軸周りで揺動自在に支持された支持アームとを有する。支持アームは、印画紙Ｐの上面（感光面）に位置する上部アーム５７と、支持アームの両端部に連結し、印画紙Ｐの下面に位置する下部アーム５８とを設け、これらの上部アーム５７と下部アーム５８との間に印画紙Ｐを導入するスリット状の印画紙導入空間を形成している。

下部アーム５８は、一対の接当ピンを備えており、上部アーム５７には、バネの付勢力で印画紙Ｐを前記接当ピンに押し付けて挟み込む一対のチャックピンと、チャックピンを挟持解除方向に操作する挟持解除モータとが備えられている。

チャッカーＣは、排出ローラ対４３から印画紙Ｐを受け取るための待機位置（図２の実線で示す）と、露光搬送ユニットＧｃに印画紙Ｐを受け渡すための排出位置（図２の破線で示す）との間で往復移動自在に構成されている。

〔露光ユニット〕
露光ユニットＧは、図２に示すように、印画紙Ｐの感光面に対してレーザビームを主走査方向にスキャンするビーム出射ユニットＧｈと、このビーム出射ユニットＧｈの下方の露光ポイントＧｐにおいて印画紙Ｐを副走査方向に搬送する露光搬送ユニットＧｃとで構成されている。ビーム出射ユニットＧｈを収めた第２補助筐体３４と露光搬送ユニットＧｃを収めた第３補助筐体３５とは互いに複数のネジで連結されることで単一の剛体を構成している。そして、第３補助筐体３５を懸架した第２補助筐体３４は、４個の防振ゴム３７を介して下の第１補助筐体３３の上面に支持されている。

ビーム出射ユニットＧｈは、Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の３原色に対応した３種のレーザビームを生成するレーザビーム生成装置５０と、縦軸芯周りで高速回転してレーザビームを走査するポリゴンミラー５１と、このポリゴンミラー５１からのレーザビームの走査速度を変換するｆθレンズ５２と、横向きのレーザビームを下向きに変更するための偏向ミラー５３とを備える。

レーザビーム生成装置５０は、Ｒ（赤）、Ｇ（緑）、Ｂ（青）の３原色に対応して、半導体レーザで成るレーザ光源５０ｒおよびレーザ光源５０ｂと、固体レーザで成るレーザ光源５０ｇとを備えると共に、Ｇ（緑）に対応したレーザ光源５０ｇからのレーザビームの強度（光量）を調節（変調）する音響光学変換素子（ＡＯＭ）で成る光量調節機構５４ｇと、３種のレーザビームを反射する３つのビームミラーＭｒ、Ｍｇ、Ｍｂとを備えている。

また、前記ポリゴンミラー５１はアクチュエータとして電動型のポリゴンモータ５５の駆動力で回転駆動される。

露光搬送ユニットＧｃは、第１補助筐体３３のチャッカーＣから印画紙Ｐを受け取る受入れローラ対７１と、この受入れローラ対７１から印画紙Ｐが受け渡される２組の第２露光ローラ対７２、７３とを備えている。この２組の第２露光ローラ対７２、７３は、ビーム出射ユニットＧｈの主走査方向に延びた露光ポイントＧｐを挟んで上流側と下流側に配置されている。

受入れローラ対７１は、電動型のモータＭ１によって回転駆動される下方の駆動ローラ７１ａと、印画紙Ｐを駆動ローラ７１ａに押し付けた挟着姿勢と、駆動ローラ７１ａから上方に離間した解除姿勢との間で、電動型のモータＭ２によって回転駆動されるカムディスクによって上下方向に切り換え可能に構成された遊転型の圧着ローラ７１ｂとからなる。

同様に、下流側の２対の露光ローラ対７２、７３もまた、電動型のモータＭ３によって回転駆動される下方の駆動ローラ７２ａ、７３ａと、印画紙Ｐを各駆動ローラ７２ａ、７３ａに押し付けた挟着姿勢と、駆動ローラ７２ａ、７３ａから上方に離間した解除姿勢との間で、電動型のモータ（不図示）によって回転駆動されるカムディスク（不図示）によって上下方向に切り換え可能に構成された遊転型の圧着ローラ７２ｂ、７３ｂとからなる。

〔テストプリント〕
図４（ａ）は、露光ヘッドの主走査方向における理想的な光量（実線）と実際に露光ヘッドから照射される光量（点線）とを表した図である。一方、図４（ｂ）は、副走査方向における理想的な光量（実線）と実際の光量（点線）とを示している。上述したように、主走査方向におけるドットの形成は、連続したレーザ光により形成されるものであり、濃度値の変化はレーザ光量を連続的に制御する必要がある。一方、副走査方向におけるドットの形成は、異なる走査ラインにより形成されるものであり、濃度値を変化させるためにレーザ光量を連続的に制御する必要がない。そのため、主走査方向においては、濃度値の変化に実際の光量変化が追随しきれずに遅れを生じている。しかしながら、副走査方向においては、そのような遅れは生じ得ない。その様子が、図４（ａ）および（ｂ）に示されており、主走査方向では理想的な光量と実際の光量とのずれが生じているのに対し、副走査方向ではずれは生じていない。この差により、主走査方向と副走査方向で、露光されるドットの濃度に差が生じ、画質の低下を招いている。

図５は、上述のような主走査方向と副走査方向のドットの濃度ずれを補正するための補正係数の算出に用いるテストプリントの例である。図５のテストプリントは、入力階調０に対応する出力階調（濃度値）に対する補正係数を算出するためのものであり、基準測定値を取得するための基準パターン６１および６３、比較値を取得するための比較パターン６２ａ、６２ｂ、６４ａおよび６４ｂが含まれている。基準パターン６１および６３は、主走査方向に沿う縞状のパターンを有する横テストパターンであり、基準パターン６１は副走査方向に１ドットの幅を持ち、入力階調０に対応する露光ヘッドの光量で露光された露光ライン（以下、階調０露光ラインと称する）と最大入力階調に対応する露光ヘッドの光量で露光された露光ライン（以下、最大階調露光ラインと称する）が副走査方向において交互に配置されている。

図６は、上述のテストパターンのうち本発明に係る部分である基準パターン６３を拡大した図である。基準パターン６３は、副走査方向に２ドットの幅を持つ階調０露光ライン、および副走査方向に２ドットの幅を持つ最大階調露光ラインから構成される第１ブロックと、副走査方向に３ドットの幅を持つ階調０露光ライン、および副走査方向に３ドットの幅を持つ最大階調露光ラインから構成される第２ブロックとが副走査方向において交互に配置されることにより構成されている。

比較パターン６２ａ、６２ｂ、６４ａおよび６４ｂは、基準パターン６１および６３から取得された濃度値と比較する比較値を取得するためのテストパターンである。比較パターン６２ａおよび６２ｂは、副走査方向に沿う縞状のパターンを有する縦テストパターンであり、主走査方向に１ドットの幅を持つ階調０露光ラインと最大階調露光ラインとが走査方向において交互に配置されている。ただし、比較パターンの階調０露光ラインとは、入力階調０に対応する出力階調値の露光ヘッドの光量に対して、補正した光量が用いられており、比較パターン６２ａ、６２ｂは、それぞれ＋α％、−α％補正された光量により露光形成されている。

また、図７は、上述のテストパターンのうち本発明に係る部分である比較パターン６４ａおよび６４ｂを拡大した図であり、主走査方向に２ドットの幅を持つ階調０露光ライン、および主走査方向に２ドットの幅を持つ最大階調露光ラインから構成される第１ブロックと、主走査方向に３ドットの幅を持つ階調０露光ライン、および主走査方向に３ドットの幅を持つ最大階調露光ラインから構成される第２ブロックとが主走査方向に交互に配置されることにより構成されている。なお、比較パターン６４ａおよび６４ｂの階調０露光ラインもそれぞれ＋α％、−α％補正された光量により露光形成されている。

以下、基準パターン６１、比較パターン６２ａおよび６２ｂと同様の構成のテストパターンを１ｏｎ１ｏｆｆパターン、基準パターン６３、比較パターン６４ａおよび６４ｂと同様の構成のテストパターンを２ｏｎ２ｏｆｆ３ｏｎ３ｏｆｆパターンと称する。１ｏｎ１ｏｆｆパターンに基づき算出される補正係数は、後述する立ち上がり補正に用いられ、２ｏｎ２ｏｆｆ３ｏｎ３ｏｆｆパターンに基づき算出される補正係数は、後述する立ち下がり補正に用いられる。

〔テストプリント生成方法〕
本発明のテストプリント作成方法に関する機能として、画像処理装置２１にテストプリント生成部８７が備えられている。図８に、テストプリント生成部８７の機能ブロックを示している。

テストプリント生成部８７は、縞状のブロックを形成するブロック形成部８８、ブロック形成部８８を制御することによりテストパターンを生成するパターン生成制御部８９を備えている。

図９および図１０は、本発明のテストパターン生成方法の処理の流れを表すフローチャートである。まず、第１および第２の濃度値を配列ｐ[ ]に、第１および第２の幅を配列Ｌ[ ]に代入する（＃０１）。ここで第１の濃度値は、補正値を算出したい入力階調に対応する濃度値であり、第２の濃度値は最高階調に対応する濃度値である。また、第１の幅は２ドットであり、第２の幅は３ドットである。

次に、形成するテストパターンが基準パターンであるか否かが判定される（＃０２）。パターン生成制御部８９は、基準パターンもしくは比較パターンのいずれを形成するかを予め設定しているため、この設定に基づき判定することができる。

基準パターンを形成する場合（＃０２のYes分岐）には、まず制御変数ｉおよびｊが０で初期化される（＃０３）。次に、Ｌ[ｊ]ラスタ分のドットが濃度値ｐ[ｉ]に設定され（＃０４）、ｉがインクリメントされる（＃０５）。ここで、ｉが２未満（＃０６のNo分岐）であれば＃０４に戻り再度Ｌ[ｊ]ラスタ分のドットが濃度値ｐ[ｉ]に設定される。ここまでの処理により、第１ブロックが形成される。

ここで、ｉがインクリメントされるとｉ＝２となり、＃０６の条件を満たすため、処理が＃０７に流れ、ｉが０リセットされ（＃０７）、ｊがインクリメントされる（＃０８）。ここでは、ｊ＝１となり＃０９を満たさないため、処理が＃０３に戻り、上述の処理により第２ブロックが形成される。

＃０９の条件が満たされると、所定の領域すなわち一つのテストパターンの領域のドットが設定されたか否かが判定される（＃１０）。所定領域が完成していない場合には、＃０３に戻り、所定領域が完成するまで上述の処理が繰り返される。このようにして、主走査方向に縞状のパターンを有する基準パターンが形成される。

一方、形成するテストパターンが比較パターンの場合（＃０２のNo分岐）には、まず制御変数ｉおよびｊが０リセットされる（＃１１）。

その後、Ｌ[ｊ]ドットの濃度値がｐ[ｉ]に設定され（＃１２）、ｉがインクリメントされる（＃１３）。ｉが２未満の場合（＃１４のNo分岐）には、＃１２に戻り、Ｌ[ｊ]ドットの濃度値がｐ[ｉ]に設定される。

一方、ｉが２以上の場合（＃１４のYes分岐）には、処理が＃１５に流れ、ｉが０リセットされ（＃１５）、ｊがインクリメントされる（＃１６）。このとき、ｊが２未満であれば（＃１７のNo分岐）、処理が＃１２に戻り、上述の処理が行われる。一方、ｊが２以上の場合（＃１７のYes分岐）には、１ラスタ分のドットが設定されたか否かが判定される（＃１８）。

１ラスタが完成していない場合（＃１８のNo分岐）には、処理が＃１１に戻り、上述の処理が繰り返され、１ラスタが完成した場合（＃１８のYes分岐）には、所定領域すなわち一つのテストパターンが完成したか否かが判定される（＃１９）。テストパターンが未完成の場合（＃１９のNo分岐）には、処理が＃１１に戻り、上述の処理が繰り返される。このようにして、比較パターンが形成される。

上述の処理により形成されたテストパターンは、画像保存部９１に一時記憶される。このとき、形成したテストパターンが比較パターンであれば、パターン生成制御部８８は、その比較パターンに対応する補正値を補正係数レジスタ９０ｂに設定し、その設定値に応じてＤ／Ａ変換部９５および電力制御部９６が光量を補正し、露光ユニットＧによって、画像保存部９１に記憶されたテストパターンが感光材料上に露光形成される（＃２０）。なお、このとき、画像保存部９１には濃度値が保存されているため、入力階調値取得部９１および出力階調値変換部９２は機能しない。さらに、出力階調値補正部９２では、立ち上がり補正部９４ｂのみが機能する。

なお、上述の処理では、第１ブロックと第２ブロックとは１対１の割合としたが、任意の割合に変更することが可能である。このときには、第１ブロックと第２ブロックとが所定の割合となるように処理ループを変更することで実現できる。また、上述の実施形態では、形成されたテストパターンは画像保存部９１に一時記憶された後に、感光材料上に露光形成される構成としたが、これに限定されるものではなく、一つのドット値が決定する都度、そのドットを感光材料上に露光形成する形態としても構わない。

〔マスター補正値〕
立ち上がり補正や立ち下がり補正における補正値を求める際には、予め求められているマスター補正値と呼ばれる初期補正値が用いられている。マスター補正値は、感光材料毎に異なる値を持っており、入力階調値に対する３次式として表される。例えば、図１１の実線は、ある感光材料に対するＲレーザのマスター補正値を表している。このとき、補正係数αにより、α％補正するとは、縦軸の正方向に各々のマスター補正値をα％シフトさせ、点線の曲線で表される補正値を用いることをいい、−α％補正するとは、縦軸の負方向に各々のマスター補正値をα％シフトさせ、一点鎖線の曲線で表される補正値を用いることをいう。すなわち、入力階調ｘに対するマスター補正値をｙとすると、補正係数αによりα％補正されたマスター補正値ｙ’は、ｙ’＝（１＋α）ｙとなる。なお、図では、マスター補正値は入力階調値の関数として表されているが、後述する入出力特定関数（セットアップＬＵＴ）を介して、出力階調値の関数として用いることができる。

上述のテストプリント時には、１ｏｎ１ｏｆｆの基準パターンを形成する際には、マスター補正値による立ち上がり補正が行われ、１ｏｎ１ｏｆｆの比較パターンを形成する際には、マスター補正値をシフトさせた補正値による立ち上がり補正が行われている。また、２ｏｎ２ｏｆｆ３ｏｎ３ｏｆｆの基準パターンの形成時には、マスター補正値による立ち上がり補正が行われ、２ｏｎ２ｏｆｆ３ｏｎ３ｏｆｆの比較パターンの形成時には、既に算出されている立ち上がり補正値による立ち上がり補正およびマスター補正値をシフトさせた補正値による立ち下がり補正が行われる。このようにマスター補正値を用いることにより、立ち上がりおよび立ち下がり補正を微小な補正に止めることができ、補正の信頼性を高めることができる。

〔補正係数算出部〕
また、本発明の補正値算出方法に関する機能として、補正値算出部８０が画像処理装置２１に備えられている。図８に、補正値算出部８０の機能ブロックを示している。

補正値算出部８０は、テストプリントに含まれる各テストパターンの濃度値を取得する濃度値取得手段８１、濃度値取得手段８１により取得された比較パターンの濃度値と基本パターンの濃度値との差分を算出する差分手段８２、差分手段８２により算出された差分値を後述する平面上に定めると共に、定められた点に基づき近似直線を求める直線近似手段８３、直線近似手段８３により近似された直線に基づき補正係数を算出する補正値算出手段８４、補正値算出手段８４により算出された複数の近似値から近似曲線を算出する補正曲線算出手段８５、および補正曲線算出手段により算出された補正曲線に基づき各階調における補正係数を補正係数テーブル９０ａに設定する補正値設定手段８６が備えられている。
〔補正値算出方法〕
図１２は、本発明の補正値算出方法の処理の流れを表すフローチャートである。図５では、入力階調０に対するテストプリントを説明したが、ここで用いるテストプリントは、図５と同様のテストパターンを複数の入力階調（０、２５、５０、１００、１５０）に対して作成したテストプリントを用いる。以下の説明では、２ｏｎ２ｏｆｆ３ｏｎ３ｏｆｆパターンを用いた立ち下がり補正係数の算出に関する説明を行うものとする。

まず、濃度値取得手段８１により、一つの階調に対する基準値が取得される（＃３１）。例えば、入力階調０に対する基準パターン６３の濃度値が測色計等により計測され、入力される。次に、濃度値取得手段８１により、入力階調０に対する比較パターン６４ａおよび６４ｂの濃度値が２つの比較値（以下、第１比較値、第２比較値と称する）として取得される（＃３２）。

差分手段８２は、濃度値取得手段８１により取得された第１比較値と基準値との差分値（以下、第１差分値ｄ₁と称する）および、第２比較値と基準値との差分値（以下、第２差分値ｄ₂と称する）が算出される（＃３３）。

直線近似手段８３は、第１差分値ｄ₁および第２差分値ｄ₂に基づき近似直線を算出する（＃３４）。この動作を、図１３を用いて具体的に説明する。まず、横軸を比較値と基準値との差とし、縦軸を補正係数とする平面を考え、この平面上に第１差分値および第２差分値に基づく点（以下、点Ｐ₁、Ｐ₂と称する）をプロットする。ここで、第１差分値ｄ₁の算出の基礎となった比較パターン６４ａは、＋α％の補正係数により補正された露光されたものであるため、点Ｐ₁の座標は（ｄ₁，α）となる。同様に、点Ｐ₂の座標は（ｄ₂，−α）となる。そして、公知の方法により、点Ｐ１と点Ｐ２を結ぶ線分を求めることにより、近似直線Ｌが得られる。なお、本実施形態では、２つの比較値に基づき２点を定め、近似直線を求めているが、これに限定されるものではなく、３以上の比較値に基づき、近似直線を求めても構わない。この場合には、最小二乗法等の公知の方法により近似直線を求めることができる。

補正値算出手段８４は、直線近似手段８３により算出された近似直線に基づき、補正係数を算出する（＃３５）。具体的には、算出された近似直線の縦軸切片を補正係数として算出する。図１３の例では、直線Ｌと縦軸の交点は、点Ｐ_d（０，Ｖ）であり、算出される補正係数はＶである。

以上の処理により、入力階調０に対する補正係数が求められ、この処理をテストプリントされた全ての入力階調に対して繰り返す（＃３６のNo分岐）。

上述の処理により、入力階調０、２５、５０、１００、１５０に対する補正係数Ｖ₀、Ｖ₂₅、Ｖ₅₀、Ｖ₁₀₀、Ｖ₁₅₀が得られる。補正曲線算出手段８５は、これらの補正係数から補正曲線を算出する（＃３７）。図１４は、この様子を表した模式図である。図１４の上段は、入力階調に対する出力階調の関係を規定する入出力特性曲線である。また、下段は横軸を出力階調、縦軸を補正係数とする平面であり、上述の処理により算出された補正係数Ｖ₀、Ｖ₂₅、Ｖ₅₀、Ｖ₁₀₀、Ｖ₁₅₀に対応する点Ｐ₀、Ｐ₂₅、Ｐ₅₀、Ｐ₁₀₀、Ｐ₁₅₀がプロットされている。例えば、Ｐ₀の横軸要素は、入出力特性曲線に基づき決定される。すなわち、入力階調０に対する出力階調が、Ｐ₀の横軸要素となる。また、Ｐ₀の縦軸要素は、入力階調０に対する補正係数Ｖ₀である。このようにして、点Ｐ₀の座標が決定される。他の点Ｐ₂₅、Ｐ₅₀、Ｐ₁₀₀、Ｐ₁₅₀も同様にして決定される。

このようにして決定された点に基づき、公知の方法により補正曲線が求められる。本実施形態では、３次曲線による近似が行われており、図１４下段の実線が補正曲線として得られることとなる。

補正曲線の近似に用いた範囲外の出力階調に対する補正係数として、近似補正曲線の値を使用した場合には、信頼性が低いため、画質が低下する恐れがある。そのため、入力階調１５０に対応する出力階調Ｂ以下に対する補正係数は、出力階調Ｂに対応する補正係数Ｖ₁₅₀を用いる。すなわち、出力階調区間［０，Ｂ］に対する補正係数はＶ₁₅₀となる。一方、入力階調０に対応する出力階調Ａ以上に対する補正係数は、出力階調１．１Ａまでは、補正曲線の値を補正係数として用いるが、出力階調１．１Ａ以上に対する補正係数は、出力階調１．１Ａに対応する補正係数Ｖ₀’を用いる。すなわち、出力階調区間［１．１Ａ，最大階調］に対する補正係数は、Ｖ₀’となる。

このようにして、全出力階調に対する補正係数が求められ、補正値設定手段８６により、補正係数テーブル９０ａに補正係数が設定される（＃３８）。ただし、通常、出力階調数に比べて補正係数テーブル９０ａおよび補正係数レジスタ９０ｂの数が少ないため、個々の出力階調に対する補正係数を設定することはできない。その場合には、出力階調を補正係数テーブル９０ａおよび補正係数レジスタ９０ｂの数と同数の区間に分割し、個々の区間の代表値を補正係数として補正係数テーブル９０ａに設定する。この区間の代表値としては、区間に属する各々の出力階調に対応する補正係数の最大値、最小値、平均値等様々な値を用いることができる。また、出力階調の区間は、均等に分割しても良いし、不均等に分割しても構わない。不均等に分割する場合には、曲線の勾配が急な領域は、区間を短くしサンプリング数を増やし、勾配が緩やかな領域は区間を長くすることによりサンプリング数を減らす等すると、補正係数曲線の特性を反映した補正係数が得られるために好適である。

上述の処理により２ｏｎ２ｏｆｆ３ｏｎ３ｏｆｆパターンを用いて立ち上がり補正係数が得られ、補正係数テーブル９０ａに設定されたが、１ｏｎ１ｏｆｆパターンを用いた立ち上がり補正係数の算出方法も同様の処理により実現することができる。なお、立ち上がり補正係数と立ち下がり補正係数とは、個別の補正係数テーブル９０ａに設定される。

なお、上述の説明では、測定値に基づき２つの点を定め、それらの点を結ぶ線分の縦軸切片を補正係数として算出していた。しかしながら、一般的に、このような２点の間に必ず縦軸切片が存在するとは限らない。

例えば、図１１では、第１実施形態と同様に、テストパターンを計測することにより得られた基準値および２つの比較値から２点Ｐ₁およびＰ₂が定められている。しかしながら、線分Ｐ₁Ｐ₂は縦軸と交差しておらず、縦軸切片が存在していない。この場合には、線分Ｐ₁Ｐ₂を延長することにより縦軸切片を求めることも可能であるが、得られた補正値の信頼性の観点からは問題がある。この場合には、以下の方法により補正係数を算出する。

まず、縦軸切片がＰ₁側とＰ₂側のいずれに存在するかを判定する。図１５の例では、Ｐ₁側に存在することが分かる。このとき、Ｐ₁の基礎となった補正係数を変更した補正係数を決定する。Ｐ₁は上述のように＋α％の補正により露光形成されたテストパターンを基礎としているため、新たな補正係数はβ＞αとする。例えば、β＝２α等とすることができる。

このようにして、変更された補正係数βを用いて露光形成されたテストパターンから再度濃度値を取得すると、点Ｐ₃を定めることができる。このとき、線分Ｐ₂Ｐ₃は縦軸と交差するため、縦軸切片を補正係数として求めることができる。

〔画像露光処理〕
以下に、本発明の補正値算出方法により算出された補正係数を用いて画像を露光形成する写真プリント装置における、画像露光処理を説明する。この写真プリント装置では、本発明に係る立ち上がり補正および立ち下がり補正だけでなく、アンダーシュート補正と呼ばれる補正が行われる。ここでは、全体の処理の流れを説明する前に、各々の補正方法に関する説明を行う。

本実施形態におけるアンダーシュート補正とは、主走査方向において出力階調値が減少（露光ヘッドの光量が減少）する位置のドットに対する光量を補正することを言い、立ち上がり補正とは、主走査方向において出力階調値が増加（露光ヘッドの光量が増加）する位置のドットに対する光量を補正することを言い、立ち下がり補正とは、主走査方向において出力階調値が減少する位置の直前のドットに対する光量を補正することを言う。なお、アンダーシュート補正に用いるアンダーシュート補正値は所定の方法に基づき得られており、立ち上がり補正に用いる補正係数は、１ｏｎ１ｏｆｆパターンに基づき、上述の処理により算出され、立ち下がり補正に用いる補正係数は、２ｏｎ２ｏｆｆ３ｏｎ３ｏｆｆパターンに基づき、上述の処理により算出されているものとする。

〔アンダーシュート補正〕
図１６は、アンダーシュート補正の概念を表す図である。アンダーシュート補正とは、直接変調するＲおよびＢレーザの主走査方向における立ち下がりの制御遅延に起因する滲みを低減するために行われる補正である。なお、図１６中のＬＤバイアス設定値Ｏ₂とは、印画紙が発色する光量の限界点である。すなわち、ＬＤバイアス設定値以下のＤ／Ａ変換値に対応する制御電流による光量では、印画紙は発色しない。通常、白ドットを形成する場合には、その後の電流の立ち上がりを考慮して、Ｄ／Ａ変換値は０とはせず、ＬＤバイアス設定値に設定されている。

しかしながら、このような制御では、白ドットの直前の黒ドットからの滲みが発生し、画質の低下を招いている。この滲みを低減するための補正がアンダーシュート補正である。具体的には、主走査方向における立ち下がり直後の出力階調値に以下の方法により算出された補正値を加算する処理である。

アンダーシュート補正における補正値Ｂは、立ち下がり量Ａと立ち下がり量Ａに対応して予め設定されているアンダーシュート補正係数−１≦Ｘ[ｉ]≦０との積により求められる。すなわち、アンダーシュートにおける補正値はＢ＝Ａ×Ｘ[ｆ(Ａ)]となる。ここで、ｉはレジスタ番号、ｆ( )は立ち下がり量をレジスタ番号に変換する関数である。なお、アンダーシュート補正係数は所定の方法により求められ、補正係数テーブル９０ａに設定されており、上述の処理に先立ち、補正係数テーブル９０ａから補正値レジスタ９０ｂに転送され、設定されている。

図１６における実線は、主走査方向におけるＤ／Ａ変換値（出力階調値）の変化であり、この例では２つの立ち下がり部が含まれている。各々の立ち下がり部において、上述の式により補正値ＢおよびＢ’が算出され、その補正値によりアンダーシュート補正がなされている（図１６の点線部分）。

〔立ち上がり補正〕
図１７は、立ち上がり補正の概念を示す図であり、実線が主走査方向におけるＤ／Ａ変換値（出力階調値）の変化を示している。図１７の例では、２箇所の立ち上がりを有している。一方は、Ｏ₁からＯ₂に立ち上がっており、他方はＯ₃からＯ₄に立ち上がっている。このとき、Ａ＝Ｏ₂−Ｏ₁、Ａ’＝Ｏ₄−Ｏ₃である。

このとき、立ち上がり補正量ＣおよびＣ’は、立ち上がり量ＡおよびＡ’と、上述の処理により算出され補正係数レジスタ９０ｂに設定されている立ち上がり補正係数とに基づき決定される。すなわち、補正係数レジスタ９０ｂに設定されている立ち上がり補正係数を−１≦Ｙ[ｉ] ≦１とすると、立ち上がり補正量Ｃは、Ｃ＝Ａ×Ｙ[ｆ(Ａ)]により求めることができる。ここで、ｉはレジスタ番号、ｆ( )は出力階調をレジスタ番号に変換する関数である。同様にＣ’＝Ａ’×Ｙ[ｆ(Ａ’)]となる。なお、上述の処理に先立ち、補正係数テーブル９０ａの立ち上がり補正係数が補正値レジスタ９０ｂに転送され、設定されている。

このようにして、求められた立ち上がり補正量は、立ち上がり直後の出力階調値に加算され、新たな出力階調値が得られる（図１７の点線部分）。なお、この例では、立ち上がり補正量は正値となっているが、実際には負値の場合もあり得る。また、補正後の出力階調値が最大出力階調を超える場合や、最低出力階調を下回る場合があるが、その場合には、最大出力階調もしくは最低出力階調に丸める処理を行う。

〔立ち下がり補正〕
一方、図１８は立ち下がり補正の概念を示しており、実線が主走査方向におけるＤ／Ａ変換値（出力階調値）の変化を示している。この例では、２箇所の立ち下がりを有しており、一方は、Ｏ₁からＯ₂に立ち下がっており、他方は、Ｏ₃からＯ₄に立ち下がっている。このときの立ち下がり量は、それぞれＡ＝Ｏ₁−Ｏ₂、Ａ’＝Ｏ₃−Ｏ₄である。

このときの立ち下がり補正量ＤおよびＤ’は、立ち上がり補正量と同様に、立ち下がり量ＡおよびＡ’と補正係数レジスタ９０ｂに設定されている立ち下がり補正係数とに基づき算出される。すなわち、補正係数レジスタ９０ｂに設定されている立ち下がり補正係数を−１≦Ｚ[ｉ]≦１とすると、立ち下がり補正量は、Ｄ＝Ａ×Ｚ[ｆ(Ａ)]、Ｄ’＝Ａ’×Ｚ[ｆ(Ａ’)]となる。なお、上述の処理に先立ち、補正係数テーブル９０ｂの立ち下がり補正係数が補正値レジスタ９０ｂに転送され、設定されている。

ただし、立ち下がり補正は、立ち下がり後にその状態が２ドット以上継続する場合にのみ行われる。すなわち、立ち下がり直後に立ち上がった場合には、立ち下がり補正は行われない。

このようにして、求められた立ち下がり補正量は、立ち下がり直前の出力階調値に加算され、新たな出力階調値が得られる（図１８の点線部分）。なお、この例では、立ち下がり補正量は負値となっているが、実際には正値の場合もあり得る。また、補正後の出力階調値が最大出力階調を超える場合や、最低出力階調を下回る場合があるが、その場合には、最大出力階調もしくは最低出力階調に丸める処理を行う。

〔画像形成処理〕
次に、図８および図１９を用いて、上述した立ち上がり補正および立ち下がり補正を用いた画像の露光処理の説明を行う。画像露光処理に関連する機能部として、画像処理装置２１には、感光材料に露光形成すべき画像データを保持する画像保存部９１、画像保存部９１に保持されている画像データから１画素単位で画素値（入力階調値）を取得する入力階調値取得部９２、入力階調値取得部９２により取得された入力階調値を出力階調値に変換する出力階調値変換部９３、出力階調値変換部９３により変換された出力階調に基づき、立ち上がり補正、立ち下がり補正等の補正を行う出力階調値補正部９４を備えている。

さらに、出力階調値補正部９４は、アンダーシュート補正を行うアンダーシュート補正部９４ａ、立ち上がり補正を行う立ち上がり補正部９４ｂおよび、立ち下がり補正を行う立ち下がり補正部９４ｃを備えている。

まず、入力階調値取得部９２により、画像保存部９１に保存されている画像の画素値が入力階調値として取得される（＃１１）。取得された入力階調値は、出力階調値変換部９３により、出力階調値に変換される（＃１２）。この変換は、図１３の上段に示したような特性曲線を表すＬＵＴ（Look Up Table）に基づき変換される。

出力階調値変換部９３から出力階調値を取得したアンダーシュート補正部９４ａは、まず直前に取得した出力階調値と現在取得した出力階調値とから、立ち下がり部であるか否かを判定し（＃１３）、立ち下がり部であると判定した場合（＃１３のYes分岐）には、取得した出力階調値に対して上述の方法によりアンダーシュート補正を行い（＃１４）、補正後の出力階調値を新たな出力階調値とする。一方、立ち上がり部でないと判定した場合（＃１３のNo分岐）には、取得した出力階調値をスルー出力する。この際、取得した出力階調値を直前の出力階調値として一時記憶しておく。

立ち上がり補正部９４ｂは、アンダーシュート補正部９４ａからの出力階調値を取得し、直前の出力階調値と現在取得した出力階調値とから、立ち上がり部であるか否かを判定する（＃１５）。立ち上がり部である場合（＃１５のYes分岐）には、取得した出力階調値に対して、上述の方法により立ち上がり補正を行い（＃１６）、補正後の出力階調値を新たな出力階調値として出力する。一方、立ち上がり部でない場合（＃１５のNo分岐）には、取得した出力階調値をスルー出力する。この際、取得した出力階調値を直前の出力階調値として一時記憶しておく。

次に、立ち下がり補正部９４ｃは、立ち上がり補正部９４ｂから取得した出力階調値（以下、判定対象値と称する）に対して、立ち下がり部であるか否かを判定する（＃１７）。上述のように、立ち下がり補正における立ち下がり部は、立ち下がり直前の１ドット、立ち下がり後の２ドットに基づき判定されるため、立ち下がり部の判定には少なくとも３ドット分の出力階調値が必要である。そのため、本説明においては、直前の２ドット分の出力階調値（以下、第１対象値および第２対象値と称する）が一時記憶されているものとする。

立ち下がり補正部９４ｃは、第１対象値と第２対象値の間で立ち下がっており、第２対象値と判定対象値との間で立ち下がった状態が継続している場合（出力階調値の変化が所定値以下の場合等）に、立ち下がり部であると判定する。この際には（＃１７のYes分岐）、第１対象値が上述の方法により立ち下がり補正され（＃１８）、新たな出力階調値として出力される。一方、立ち下がり部でないと判定された際には（＃１７のNo分岐）、第１対象値がスルー出力される。この際、第２対象値が第１対象値として、判定対象値が第２対象値として一時記憶される。立ち下がり補正部９４ｃにより出力された出力階調値は、はＤ／Ａ変換部９５に渡される。

出力階調値を取得したＤ／Ａ変換部９５は、出力階調値をＤ／Ａ変換し（＃１９）、電力制御部９６に渡す。Ｄ／Ａ変換値を取得した電力制御部９６は、Ｄ／Ａ変換値に基づき、ＲおよびＢのレーザ光源５０ｒおよび５０ｂの電力、およびＧレーザ光源５０ｇの光量調節機構５４ｇの電力を制御する（＃２０）。

各レーザ光源は、電力制御部９６により制御された電力に基づき、光量が決定され、その光量によりドットの露光形成を行う（＃２１）。

上述の処理を画像保存部９１に保存されている画像データの全画素値に対して行う（＃２２）ことにより、この画像データを感光材料上に露光形成することができる。

本発明の光量補正方法を備えた写真プリント装置の概観図 本発明の光量補正方法の実施形態における写真プリント装置のプリントステーションの構成を示す模式図 本発明の光量補正方法の実施形態における写真プリント装置の露光ユニットの模式図 露光制御の遅れを表す模式図 本発明のテストプリントの例 本発明のテストプリントにおける基準パターンの拡大図 本発明のテストプリントにおける比較パターンの拡大図 本発明のテストプリント作成方法および光量補正方法の実施形態における写真プリント装置のコントローラ内に構築される機能要素を示す機能ブロック図 本発明のテストプリント作成方法の処理の流れを表すフローチャート 本発明のテストプリント作成方法の処理の流れを表すフローチャート マスター補正値と補正値の関係を表す模式図 本発明の光量補正方法による補正値算出処理の流れを表すフローチャート 補正値の算出方法を表す模式図 補正値の近似曲線を求める方法を表す模式図 補正値の算出方法を表す模式図 アンダーシュート補正を表す模式図 立ち上がり補正を表す模式図 立ち下がり補正を表す模式図 本発明の光量補正方法を備えた写真プリント装置の画像形成処理の流れを表すフローチャート

符号の説明

８０：補正係数算出部
８１：濃度値取得手段
８２：差分手段
８３：直線近似手段
８４：補正係数算出手段
８５：補正曲線算出手段
８６：補正係数設定手段
８７：テストプリント生成部
８８：ブロック形成部
８９：パターン生成制御部
９０：補正係数格納部
９０ａ：補正係数テーブル
９０ｂ：補正係数レジスタ
９１：画像保存部
９２：入力階調値取得部
９３：出力階調値変換部
９４：出力階調値補正部
９４ａ：アンダーシュート補正部
９４ｂ：立ち上がり補正部
９４ｃ：立ち下がり補正部
９５：Ｄ／Ａ変換部
９６：電力制御部

Claims (5)

1. 感光材料に対して主走査方向にレーザビームを走査露光する露光ユニットにより当該感光材料上に露光形成されたテストプリントにおいて、
   第１の濃度値を有する前記露光ユニットの主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記露光ユニットの副走査方向に第１の幅を持つ領域と、第２の濃度値を有する前記主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記副走査方向に前記第１の幅を持つ領域とからなる第１ブロックと、
   前記第１の濃度値を有する前記主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記副走査方向に第２の幅を持つ領域と、前記第２の濃度値を有する前記主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記副走査方向に前記第２の幅を持つ領域とからなる第２ブロックとが所定の割合で配置されたテストパターンである基準パターンと、
   前記第１の濃度値を有する前記副走査方向に沿う帯状の領域であって、前記主走査方向に第１の幅を持つ領域と、第２の濃度値を有する前記副走査方向に沿う帯状の領域であって、前記主走査方向に前記第１の幅を持つ領域とからなる第１ブロックと、
   前記第１の濃度値を有する前記副走査方向に沿う帯状の領域であって、前記主走査方向に第２の幅を持つ領域と、前記第２の濃度値を有する前記副走査方向に沿う帯状の領域であって、前記主走査方向に前記第２の幅を持つ領域とからなる第２ブロックとが前記所定の割合で配置されたテストパターンである比較パターンと、
   から構成されることを特徴とするテストプリント。
2. 前記第１の幅が２ドットであり、前記第２の幅が３ドットであることを特徴とする請求項１記載のテストプリント。
3. 前記基準パターンは所定の出力条件に基づき制御された前記露光ユニットにより形成され、
   前記複数の比較パターンを含み、
   前記比較パターンの各々は、異なる補正量によりオフセットされた前記所定の出力条件により制御された前記露光ユニットにより形成されることを特徴とする請求項１または２記載のテストプリント。
4. 感光材料に対して主走査方向にレーザビームを走査露光する露光ユニットの光量を補正するためのテストプリント作成方法であって、
   第１の濃度値を有する前記露光ユニットの主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記露光ユニットの副走査方向に第１の幅を持つ領域と、第２の濃度値を有する前記主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記副走査方向に前記第１の幅を持つ領域とからなる第１ブロックと、
   前記第１の濃度値を有する前記主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記副走査方向に第２の幅を持つ領域と、前記第２の濃度値を有する前記主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記副走査方向に前記第２の幅を持つ領域とからなる第２ブロックとを所定の割合で含むテストパターンである基準パターンを生成する基準パターン生成ステップと、
   前記第１の濃度値を有する前記露光ユニットの主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記露光ユニットの副走査方向に第１の幅を持つ領域と、第２の濃度値を有する前記主走査方向に沿う帯状の領域であって、前記副走査方向に前記第１の幅を持つ領域とからなる第１ブロックと、
   前記第１の濃度値を有する前記副走査方向に沿う帯状の領域であって、前記主走査方向に第２の幅を持つ領域と、前記第２の濃度値を有する前記副走査方向に沿う帯状の領域であって、前記主走査方向に前記第２の幅を持つ領域とからなる第２ブロックとを所定の割合で含むテストパターンである比較パターンを生成する比較パターン生成ステップと、
   前記生成されたテストパターンの濃度値に基づき前記露光ユニットの光量を制御し、前記感光材料上にテストパターンを露光形成するプリントステップと、
   を備えたことを特徴とするテストプリント作成方法。
5. 前記基準パターンを測色することにより得られる基準値を取得する基準値取得ステップと、
   前記所定の出力条件をオフセットさせる第１の補正量により補正された所定の出力条件に基づき前記露光ユニットにより露光形成された第１比較パターンを測色することにより得られる第１比較値を取得する第１比較値取得ステップと、
   前記所定の出力条件をオフセットさせる第２の補正量により補正制御された前記露光ユニットにより露光形成された第２比較パターンを測色することにより得られる第２比較値を取得する第２比較値取得ステップと、
   前記第１比較値と前記基準測定値との差である第１差分値を算出するステップと、
   前記第２比較値と前記基準測定値との差である第２差分値を算出するステップと、
   前記第１差分値を第１軸要素とし、前記第１補正値を第２軸要素とする第１点と前記第２差分値を第１軸要素とし、前記第２補正値を第２軸要素とする第２点とを結ぶ直線上において第１軸要素が０となる第２軸要素を補正値として取得する補正値算出ステップと、
   前記補正値に基づき前記露光ユニットの光量を補正する光量補正ステップと、
   を備えたことを特徴とする請求項３記載のテストプリントを用いた光量補正方法。

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