JP5225233B2 - 光電変換装置 - Google Patents

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Description

本発明は、デジタルカメラ、ビデオカメラ、イメージリーダなどの画像入力装置に用いられる光電変換装置に関する。
近年では、デジタルカメラ、ビデオカメラ、イメージリーダ等の画像入力装置には、CCDイメージセンサや、バイポーラトランジスタ型イメージセンサ、電界効果トランジスタ型イメージセンサやCMOSイメージセンサ等の非CCD型のイメージセンサと呼ばれる光電変換装置が設けられ、ここで光学的画像情報を電気信号に変換し、この変換された電気信号に各種の信号処理を施して表示器に表示したり、記憶媒体に記録したりしている。
高性能な光電変換装置を得るには、実際に光電変換を行う受光部である光電変換素子の受光面の面積(画素面積)を小さくして、配置される光電変換素子の数を多くするとともに光電変換装置のチップサイズを小さくすることが望まれている。
画素の高密度化や小チップ化を推し進めると、画素となる一つの光電変換素子が受光できる光量も受光面の面積の減少に伴って少なくなり、装置の感度を低くすることになる。これを改善すべく、受光面上に設けられた保護膜の平坦化された面上にマイクロレンズを形成し、受光面に集光して、感度の低下を抑制する技術が知られている。
例えば、特許文献1には、オンチップレンズをエッチバックによって形成する固体撮像素子の製造方法が開示されている。この固体撮像素子の製造方法では、図12に示すように、まず、半導体基板上に形成されたセンサ部101やパッド部102上に平坦化膜104を形成し、平坦化膜104上のセンサ部101およびパッド部102上にカラーフィルタ103を形成する。その後、レンズ材105を塗布した後、フォトリソグラフィ工程と熱処理によりレンズパターン106をパターニングする。次に、全面をエッチバック量107だけエッチバックしてオンチップレンズ108を形成する。
この固体撮像素子の製造方法によれば、オンチップレンズ108の形成とパッド部102の開口とを一括して形成することが可能である。また、オンチップレンズ108とパッド部102との被エッチング量の差を小さくすることで、パッド部102が受けるダメージを低減することを可能にしている。
また、画素のさらなる高密度化や小チップ化が要求されるのに伴って、マイクロレンズと光電変換素子との間に、隣接する層と異なる屈折率を有する膜から構成される層内レンズを設ける必要性が高まってきた。この点に関し、例えば特許文献2には、受光面の微細化が進む、もしくは、遮光パターンや配線パターンのような各種の膜が受光面の上に多く積層される場合の集光効率を高めることができる光電変換装置が開示されている。
この光電変換装置は、図13に示すように、隣接する2つの光電変換素子201間の素子分離領域202上に設けられた第1のパターン203と、第1のパターン203を覆う第1の絶縁膜204と、素子分離領域202の上方かつ第1の絶縁膜204の上に設けられた第2のパターン205と、第2のパターン205を覆う第2の絶縁膜206と、第2の絶縁膜206の上に設けられたマイクロレンズ207とを有している。マイクロレンズ207と光電変換素子201の受光面との間の光路中には、第1及び第2の層内レンズ208,209が、各パターン203,205の段差構造を利用して第1の絶縁膜204及び第2の絶縁膜206によって形成されている。
また、特許文献3には、光電変換した電荷を転送する電荷転送部を有し、該転送部上に絶縁膜を介して転送電極を設けた光電変換装置において、平坦化膜上に上凸形状を有する層内レンズを形成する構成が示されている。
特開平10−107238号公報 特開2001−94086号公報 特開平11−040787号公報
しかしながら、特許文献2に開示された光電変換装置の製造方法では、層内レンズを構成する絶縁膜内に形成される凹面は、パターンの上方の部分が「山」となり、パターン間の領域の部分が「谷」となるように形状が制限されてしまう。このような理由で、層内レンズの形状がパターンの形状に依存することから、形成できる層内レンズの形状がパターンの形状によって制限されてしまう。そのため、パターンの形状等によっては、所望の集光効率を有する層内レンズを形成できない場合もある。
また、集光効率を高めるために複数層の層内レンズを組み合わせた場合には、屈折率の異なる界面で光の反射が起きる可能性が層内レンズの層数分だけ高くなる。光の反射が起きる界面が多くなれば、光はそれだけ多くの反射を経た後に光電変換素子に入射することになる。そのため、光電変換素子の受光面に入射する光量が低下し、光電変換装置の実質的な感度低下をもたらす場合もある。また、単層配線を有しているような特許文献3においてはレンズから受光部までの光学路の距離を小さく設定することが比較的容易であるが、複数の配線層を有する光電変換装置においては、受光部までの光学路の距離が長くなる傾向があるため、このような技術課題に対応する必要がある。
そこで本発明は、実質的な感度低下をもたらすことなく集光効率を高めることができる層内レンズを有する光電変換装置を提供することを目的とする。
本発明の光電変換装置は、複数の光電変換素子と、該光電変換素子の上方に設けられた第1のパターンおよび該第1のパターンの上方に設けられた第2のパターンを少なくとも含む複数の配線層と、第2のパターンの上に設けられた絶縁層と、を有し、複数の光電変換素子のうち一部の光電変換素子が設けられた有効画素領域と、複数の光電変換素子のうち他の一部の光電変換素子が設けられ、基準信号を得るためのオプティカルブラック領域と、を有する光電変換装置において、有効画素領域は、光電変換素子の光路中に配され、光の入射方向に対して凸形状に形成された複数の層内レンズを含む層内レンズ層を有し、オプティカルブラック領域は、他の一部の光電変換素子配された遮光部材を有し、層内レンズ層は、オプティカルブラック領域の遮光部材の上に、少なくとも一部が形成されており、層内レンズ層の有効画素領域に設けられた部分と、遮光部材は、絶縁層の上で同一高さに位置しており、有効画素領域とオプティカルブラック領域において、層内レンズ層の上方にマイクロレンズ層を有していることを特徴とする。
本発明によれば、実質的な感度低下をもたらすことなく集光効率を高めることができる層内レンズを有する光電変換装置を提供することができる。
本発明の第1の実施形態による光電変換装置の模式的断面図である。 図1に示した本実施形態の光電変換装置の製造工程を説明するための図である。 図1に示した本実施形態の光電変換装置の製造工程を説明するための図である。 図1に示した本実施形態の光電変換装置の製造工程を説明するための図である。 図1に示した本実施形態の光電変換装置の製造工程を説明するための図である。 本発明の第2の実施形態による光電変換装置の模式的断面図である。 図2に示した本実施形態の光電変換装置の製造工程を説明するための図である。 図2に示した本実施形態の光電変換装置の製造工程を説明するための図である。 図2に示した本実施形態の光電変換装置の製造工程を説明するための図である。 本発明の第3の実施形態の光電変換装置の模式的断面図である。 本発明の第4の実施形態の光電変換装置の模式的断面図である。 オンチップレンズをエッチバックによって形成する従来の固体撮像素子の製造方法を示す図である。 従来の光電変換装置を示す図である。
次に、本発明の実施形態について図面を参照して説明する。
(第1の実施形態)
図1は、本発明の第1の実施形態による光電変換装置の模式的断面図である。
図1に示すように、本実施形態の光電変換装置では、半導体部材13の上に、光電変換素子1が複数配列され、隣接する2つの光電変換素子1の間に素子分離領域2が設けられている。そして、その半導体部材13の上に第1の絶縁膜3が設けられている。第1の絶縁膜3上には、素子分離領域2の上方に配置された第1のパターン4と、第1のパターン4を覆う第2の絶縁膜5と、素子分離領域2の上方かつ第1のパターン4の上方に配置された第2のパターン6と、第2のパターン6を覆う第3の絶縁膜7とが順次積層されている。そして、第3の絶縁膜7の上には、光電変換素子1から後述するマイクロレンズ12へ向かう方向に凸形状(光の入射方向に対して凸形状)に形成された上凸型の層内レンズ8が設けられている。層内レンズ8は、各光電変換素子1の上方(言い換えれば、各パターン4,6の間の領域の上方)に配置されている。
さらに、層内レンズ8の上には第1の平坦化膜9が設けられ、平坦化膜9の上には各光電変換素子1に対応して各色が配置されたカラーフィルタ層10が設けられ、カラーフィルタ層10の上には第2の平坦化膜11が設けられ、第2の平坦化膜11の上にはマイクロレンズ12が設けられている。マイクロレンズ12は、各光電変換素子1の上方に配置されている。
光電変化素子1はPN接合やPIN接合を有するフォトダイオードやフォトトランジスタなどからなり、このような半導体接合により形成される空乏層に光が入射し、ここで光電変換が起こるように構成されている。
素子分離領域2は、選択酸化によるフィールド酸化膜、接合分離のための拡散層などに形成された部分である。光電変換素子1と素子分離領域2とが構成されている半導体部材13は、例えばシリコン基板等からなる。
第1および第2のパターン4,6は、光電変換素子1からの電気信号の伝達に用いる配線として機能する他、ある光電変換素子1に入射すべき光が他の光電変換素子1に入射することを防ぐ遮光部材としても機能するように、光電変換素子が感度を有する波長領域における光を遮光する半導体や金属等の導電性材料で構成されていることが好ましい。
また、光電変換装置には、電極を取り出す端子(電源等の外部回路と接続を行なう)の役割をなすパッド14が設けられている。このパッド14が構成されている領域には、層内レンズ、カラーフィルタ、マイクロレンズは、存在しない。しかしながら、パッド部の外側の領域には少なくとも層内レンズ、カラーフィルタのパターンが形成されていることが好ましい。これは、プロセス過程においてエッチング工程が安定するためである。また、パッド14の上方は、第3の絶縁膜7の一部と、第1の平坦化膜9の一部と、第2の平坦化膜11の一部とが、それぞれフォトリソグラフィック技術とエッチング技術とによって開口されている。
第1、第2、および第3の絶縁膜3,5,7の材料は、光電変換素子1に吸収されて電気信号に変換される光を透過する材料であればよい。また、少なくとも第3の絶縁膜7は、化学的機械研磨(以下「CMP」という。)等によって平坦化処理されていることが好ましい。
上述したように、本実施形態の光電変換装置は、上凸形状の層内レンズ8が、第1および第2のパターン4,6の上方に設けられた第3の絶縁膜7の上に設けられている。このような構成では、上述した従来技術とは異なり、層内レンズ8の凸面の形状がその下の第2のパターン6の形状に依存しない。そのため、層内レンズ8の曲率や厚み等を適宜設定することで、層内レンズ8の集光効率を高めることができる。
さらに、本実施形態の光電変換装置は、複数層の層内レンズを組み合わせるのではなく、上記のように、一層で構成された層内レンズ8の径や曲率等を適宜設定することで、層内レンズ8の集光効率を高めることができる構成になっている。したがって、複数層の層内レンズを組み合わせた構成に比べて屈折率の異なる界面の数が減っており、光の反射が起きる可能性が低減している。そのため、本実施形態のような複数の配線層を有し、光路が長くなる傾向にある光電変換装置には好ましい。
次に、図1に示した本実施形態の光電変換装置の製造工程について、図2から図5を参照して説明する。
まず、図2(a)に示すように、シリコンウエハ等からなる半導体部材13を用意して、LOCOS法(シリコン局所酸化法)等により素子分離領域2を半導体部材13上に形成する。次に、フォトレジストパターンを形成してイオン注入および熱処理を行い、例えばフォトダイオード(光電変化素子1)のカソードまたはアノードとなる拡散層を半導体部材13上に形成する。
続いて、熱酸化、CVD法(化学蒸着法)、スパッタリング、塗布法などにより、第1の絶縁膜3を半導体部材13上に形成する。ここで、第1の絶縁膜3の表面をCMP等により平坦化させておくと、次工程におけるパターニング精度を向上させることができる。
次に、Al、Mo、W、Ta、Ti、もしくはCu、またはこれらを主成分とする合金からなる金属膜をスパッタリング、CVD法、または電解メッキ法等により第1の絶縁膜3上に形成し、光電変化素子1の受光面の上方に位置する部分をエッチングにより除去することにより、所望の形状の第1のパターン4を形成する。
次に、SiOまたはこれを主成分とする材料からなる第2の絶縁膜5を、CVD法により、第1の絶縁膜3および第1のパターン4の上に形成する。ここで、第2の絶縁膜5の表面をCMP等により平坦化させておくと、次工程におけるパターニング精度を向上させることができる。
次に、第1のパターン4と同様に、Al、Mo、W、Ta、Ti、もしくはCu、またはこれらを主成分とする合金からなる金属膜をスパッタリング、CVD法、または電解メッキ法等により第2の絶縁膜5上に形成し、光電変化素子1の受光面の上方に位置する部分をエッチングにより除去することにより、所望の形状の第2のパターン6およびパッド部14を形成する。
なお、第1および第2のパターン4,6は、光電変換素子1からの電気信号の伝達に用いる配線として機能する他、ある光電変換素子1に入射すべき光が他の光電変換素子1に入射することを防ぐ遮光板としても機能する。また、第2のパターンは、有効画素領域の外側に、基準信号を作成するための遮光領域(optical black region)を形成するための遮光部材も含んで形成される。
そして、SiOまたはこれを主成分とする材料からなる第3の絶縁膜7を、CVD法により、第2の絶縁膜5および第2のパターン6の上に形成する。
次に、図2(b)に示すように、第3の絶縁膜7の表面の一部をCMPにより平坦化する。
次に、図2(c)に示すように、SiN、SiON、またはSiO等で構成される層内レンズ形成膜8'を、CVD法により第3の絶縁膜7上に形成する。
続いて、図3(d)に示すように、層内レンズ8を形成するためのエッチングマスク20を層内レンズ形成膜8'の上にフォトリソグラフィ工程より形成する。その後、図3(e)に示すように、エッチングマスク20を加熱処理によりリフローさせて、層内レンズ8の形状と実質的に同じ形状の凸レンズ形状にする。ここで層内レンズはパッド部の外側にも形成される。
次に、層内レンズ形成膜8'の全面にガスエッチングを施し、図3(f)に示すように、層内レンズ形成膜8'にエッチングマスク20の凸レンズ形状を転写して、層内レンズ8を形成する。ここでのエッチングガスには、CF4、CHF3、O2、Ar、Heなどを用いることができる。
続いて、図4(g)に示すように、フォトリソグラフィでパッド部14の上方の第3の絶縁膜7を開口するために、そのような開口パターンを有するレジストパターン21を第3の絶縁膜7および層内レンズ8の上に形成し、図4(h)に示すように、パッド部14上に位置する第3の絶縁膜7をフォトリソグラフィにより除去する。
その後、図4(i)に示すように、パッド部14、第3の絶縁膜7、および層内レンズ8の上に第1の平坦化膜9を形成し、その第1の平坦化膜9の上にカラーフィルタ層10を形成する。カラーフィルタ層10は、その下方にある各光電変換素子1に入射させる光の色に応じたカラーパターンを有している。
続いて、図5(j)に示すように、カラーフィルタ層10の上に、マイクロレンズ12をレジストパターニング及びリフローにより形成する。最後に、図5(k)に示すように、パッド部14の上方に残っている第1および第2の平坦化膜9,11をエッチングにより除去してパッド部14の上方を開口させる。
以上により、光電変換装置の製造工程が完了し、図1に示した本実施形態の光電変換装置が完成する。なお本実施形態においては、光電変換素子上のパターン(配線層)が2層の場合を例示したが、これに限られることなく、画素の構造によって更に配線が必要な場合には、第1と第2のパターンの間に更に第3のパターンを有していても良い。
また、本実施形態においては、層内レンズ8とともに、カラーフィルタ層10上に形成されたマイクロレンズ(トップレンズ)12を有する構成に関して説明したが、カラーフィルタ層10を薄膜化することによって隣接画素との混色を低減することができ、その混色の度合いが許容できる範囲であればマイクロレンズ12はなくてもよい。
(第2の実施形態)
図6は、本発明の第2の実施形態による光電変換装置の模式的断面図である。
図6に示すように、本実施形態の光電変換装置では、半導体部材13の上に、光電変換素子1が複数配列され、隣接する2つの光電変換素子1の間に素子分離領域2が設けられている。そして、その半導体部材13の上に第1の絶縁膜3が設けられている。第1の絶縁膜3上には、素子分離領域2の上方に配置された第1のパターン4と、第1のパターン4を覆う第2の絶縁膜5と、素子分離領域2の上方かつ第1のパターン4の上方に配置された第2のパターン6とが順次積層されている。そして、第2の絶縁膜5および第2のパターン6の上には、光電変換素子1から後述するマイクロレンズ12へ向かう方向に凸形状に形成された上凸型の層内レンズ8が設けられている。層内レンズ8は、各光電変換素子1の上方(言い換えれば、各パターン4,6の間の領域の上方)に配置されている。
さらに、層内レンズ8および第2のパターン6の上には第1の平坦化膜9が設けられ、平坦化膜9の上には各光電変換素子1に対応するカラーパターンを有するカラーフィルタ層10が設けられ、カラーフィルタ層10の上には第2の平坦化膜11が設けられ、第2の平坦化膜11の上にはマイクロレンズ12が設けられている。マイクロレンズ12は、各光電変換素子1の上方に配置されている。
図1に示した第1の実施形態の光電変換装置では第2のパターン6と層内レンズ8との間に第3の絶縁膜7が設けられていたが、本実施形態の光電変換装置ではそのような第3の絶縁膜7が設けられておらず、第2のパターン6に層内レンズ8が接するように構成されている。
なお、本実施形態の光電変換装置におけるその他の構成は第1の実施形態と同様であるので、それらに関する詳しい説明は省略する。
本実施形態の光電変換装置では、上凸形状の層内レンズ8が、第2のパターン6の上にこれに接した状態で設けられている。層内レンズ8の凸面は、従来技術とは異なり、その下の第2のパターン6の形状に影響を受けることなく所望の形状に形成することができる。そのため、層内レンズ8の曲率や厚み等を適宜設定することで、層内レンズ8の集光効率を高めることができる。
さらに、本実施形態の光電変換装置も、複数層の層内レンズを組み合わせるのではなく、上記のように、一層で構成された層内レンズ8の径や曲率等を適宜設定することで、層内レンズ8の集光効率を高めることができる構成になっている。
さらに、本実施形態の光電変換装置は、第2のパターン6と層内レンズ8との間に第3の絶縁膜7(図1等参照)が設けられておらず、第2のパターン6に層内レンズ8が接するように構成されているので、光電変換素子1と層内レンズ8との距離がその第3の絶縁膜7の厚みの分だけ小さくなっている。そのため、層内レンズ8の焦点距離をより小さく設定することが可能になる。その結果、層内レンズ8に関するF値が小さくなって明るさが増すので、光電変換素子1の感度を実質的により高めることができる。
次に、図6に示した本実施形態の光電変換装置の製造工程について、図7から図9を参照して説明する。
まず、図7(a)に示すように、シリコンウエハ等からなる半導体部材13を用意して、LOCOS法(シリコン局所酸化法)等により素子分離領域2を半導体部材13上に形成する。次に、フォトレジストパターンを形成してイオン注入および熱処理を行い、例えばフォトダイオード(光電変化素子1)のカソードまたはアノードとなる拡散層を半導体部材13上に形成する。
続いて、熱酸化、CVD法(化学蒸着法)、スパッタリング、塗布法などにより、第1の絶縁膜3を半導体部材13上に形成する。ここで、第1の絶縁膜3の表面をCMP等により平坦化させておくと、次工程におけるパターニング精度を向上させることができる。
次に、Al、Mo、W、Ta、Ti、もしくはCu、またはこれらを主成分とする合金からなる金属膜をスパッタリング、CVD法、または電解メッキ法等により第1の絶縁膜3上に形成し、光電変化素子1の受光面の上方に位置する部分をエッチングして除去することにより、所望の形状の第1のパターン4を形成する。
次に、SiOまたはこれを主成分とする材料からなる第2の絶縁膜5を、CVD法により、第1の絶縁膜3および第1のパターン4の上に形成する。ここで、第2の絶縁膜5の表面をCMP等により平坦化させておくと、次工程におけるパターニング精度を向上させることができる。
次に、第1のパターン4と同様に、Al、Mo、W、Ta、Ti、もしくはCu、またはこれらを主成分とする合金からなる金属膜をスパッタリング、CVD法、または電解メッキ法等により第2の絶縁膜5上に形成し、光電変化素子1の受光面の上方に位置する部分をエッチングして除去することにより、所望の形状の第2のパターン6およびパッド部14を形成する。第2のパターン6は、光電変換素子1からの電気信号の伝達に用いる配線として機能する他、ある光電変換素子1に入射すべき光が他の光電変換素子1に入射することを防ぐ遮光板としても機能する。また、第2のパターンは、有効画素領域の外側に、基準信号を作成するための遮光領域(optical black region)を形成するための遮光部材もこのパターンによって形成される。
次に、図7(b)に示すように、SiN、SiON、またはSiO等で構成される層内レンズ形成膜8'を、CVD法により第2の絶縁膜5および第2のパターン6の上に形成する。
次に、図7(c)に示すように、層内レンズ8を形成するとともに、パッド部14を開口するための開口パターンを有するエッチングマスク20を層内レンズ形成膜8'の上にフォトリソグラフィ工程より形成する。
続いて、図8(d)に示すように、エッチングマスク20を加熱処理によりリフローさせて、層内レンズ8の形状と実質的に同じ形状の凸レンズ形状にする。
次に、層内レンズ形成膜8'の全面にガスエッチングを施すと、図8(e)に示すように、層内レンズ形成膜8'にエッチングマスク20の凸レンズ形状が転写されて層内レンズ8が形成されるとともに、パッド部14の上面が露出する。ここでのエッチングガスには、CF4、CHF3、O2、Ar、Heなどを用いることができる。
次に、図8(f)に示すように、パッド部14および層内レンズ8の上に第1の平坦化膜9を形成する。
続いて、図9(g)に示すように、第1の平坦化膜9の上にカラーフィルタ層10を形成する。カラーフィルタ層10は、その下方にある各光電変換素子1に入射させる光の色に応じたカラーパターンを有している。
次に、図9(h)に示すように、カラーフィルタ層10の上に、マイクロレンズ12をレジストパターニング及びリフローにより形成する。最後に、図9(i)に示すように、パッド部14の上方に残っている第1および第2の平坦化膜9,11をエッチングにより除去してパッド部14の上方を開口させる。
以上により、光電変換装置の製造工程が完了し、図6に示した本実施形態の光電変換装置が完成する。
本実施形態の製造工程では、第1の実施形態に比べて、第3の絶縁膜7を形成する工程と、パッド部14の上方の第3の絶縁膜7に開口を設ける工程とが省略されているので、その分だけ製造工程が簡素化され、製造に要する時間を短縮することができる。
(第3の実施形態)
図10は、本発明の第3の実施形態による光電変換装置の模式的断面図である。第1、第2の実施形態と同じ機能を有するものに関しては同様の符号を付し、詳細な説明は省略する。
図10に示すように、本実施形態の光電変換装置では、光電変換素子上のパターン(配線層)が3層(第1,第2,および第3のパターン124,126,128)形成されており、光電変換素子上に第1の絶縁層123、第1のパターン124、第2の絶縁層125、第2のパターン126、第3の絶縁層127、第3のパターン128、第4の絶縁層129がこの順で形成されている。各絶縁層はその表面がCMPなどにより表面が平坦化されていることが好ましい。符号121は有効画素領域を示している。
最上配線層(第3のパターン)128において、パッド部14及び遮光領域(optical black region)122を形成するための遮光部材130を形成している。またパッド部の外側においても、エッチング工程等の安定化のために、少なくとも層内レンズ層8、カラーフィルタ層10、マイクロレンズ層12のいずれかが形成されている。作製方法に関しては、実施形態1,2の方法を転用することが可能である。
各絶縁膜の厚さに関して、第4の絶縁層129、すなわち、最上層の配線層128上に形成される絶縁層が、その他の絶縁層よりも薄いことが好ましい。これは、受光部までの光路長を短くするために各層はなるべく薄いことが好ましいが、各配線層にはさまれた絶縁層に関しては、配線間の寄生容量を低減するためにある程度の厚さが必要となる。これに対して、最上層の絶縁層129は、その後に層内レンズを形成するための平坦性が保たれればよい。したがって、寄生容量等を考慮する必要がなく、光路長を短くするために他の絶縁層よりも薄く形成されるのである。具体的には、最上配線層128の上に形成される第4の絶縁層129の膜厚は400nm〜600nm、その他の絶縁層は、700nm〜900nm程度に形成されるのが良い。
(第4の実施形態)
図11は、本発明の第4の実施形態による光電変換装置の模式的断面図である。第1、第2、第3の実施形態と同じ機能を有するものに関しては同様の符号を付し、詳細な説明は省略する。
図11に示すように、本実施形態の光電変換装置では、最上配線層では、有効画素領域の層内レンズ近傍に配線パターンが形成されず、パッド部14及び遮光領域122用の遮光部材130が形成された構成となっている。これは、第1,第2のパターン124,126によって隣接画素からの光の入り込みを低減するように設計することによって可能となる。このような構成にすることによって、第2の実施形態で述べたように、層内レンズ8の形成と同時に、パッド部14の上面を露出することが可能となり、製造工程を簡易化することが可能となる。
具体的な構成としては、光電変換素子1上(遮光領域122も含めて)のパターン(配線層)が3層形成されており、光電変換素子1上に第1の絶縁層123、第1のパターン124、第2の絶縁層125、第2のパターン126、第3の絶縁層127が順次形成されている。その後、部遮光部材130およびパッド部14を含む第3のパターンが形成された後、絶縁層を介することなく、層内レンズ8が形成される。したがって遮光領域122において、層内レンズ8と遮光部材130とが互いに接する構成となっている。各絶縁層はその表面がCMPなどにより表面が平坦化されていることが好ましい。
また、第3の絶縁層127の膜厚、すなわち有効画素領域の最上配線層の上に形成された絶縁層の膜厚が、その他の絶縁層よりも薄いことが好ましい。これは、受光部までの光路長を短くするために各層はなるべく薄いことが好ましいが、各配線層にはさまれた絶縁層に関しては、配線間の寄生容量を低減するためにある程度の厚さが必要となる。これに対して、最上層の絶縁層127は、その後に層内レンズ8を形成するための平坦性が保たれればよい。したがって、寄生容量等を考慮する必要がなく、光路長を短くするために他の絶縁層よりも薄く形成されるのである。具体的には、第2のパターン126の上に形成される第3の絶縁層127の膜厚は400nm〜600nm、その他の絶縁層は、700nm〜900nm程度に形成されるのが良い。
以上、本発明に関して詳細に述べてきた。本発明が包含する全ての構成を開示していないが、各実施形態は適宜組合せ可能である。
また、光電変換素子の構成に関して、画素ごともしくは複数の画素ごとに設けられた、信号電荷を増幅する増幅素子を有する、APS(Active Pixel Sensor)の構成が好ましい。これは、本発明は複数の配線層を有した構成において適宜利用されるものであり、上記APS構成においては、CCDと比較して複数の配線が必要となるためである。
また、上記実施形態においては、層内レンズ8とともに、カラーフィルタ層10上に形成されたマイクロレンズ(トップレンズ)12を有する構成に関して説明したが、カラーフィルタ層10を薄膜化することによって隣接画素との混色を低減することができ、その混色の度合いが許容できる範囲であればマイクロレンズ12はなくてもよい。
1 光電変換素子
2 素子分離領域
3 第1の絶縁膜
4 第1のパターン
5 第2の絶縁膜
6 第2のパターン
7 第3の絶縁膜
8 層内レンズ
8’ 層内レンズ形成膜
9 第1の平坦化膜
10 カラーフィルタ層
11 第1の平坦化膜
12 マイクロレンズ
13 半導体部材
14 パッド部
20 エッチングマスク
21 レジストパターン
121 有効画素領域
122 遮光領域
123 第1の絶縁層
124 第1のパターン
125 第2の絶縁層
126 第2のパターン
127 第3の絶縁層
128 第3のパターン
129 第4の絶縁層
130 遮光部材

Claims (9)

  1. 複数の光電変換素子と、該光電変換素子の上方に設けられた第1のパターンおよび該第1のパターンの上方に設けられた第2のパターンを少なくとも含む複数の配線層と、前記第2のパターンの上に設けられた絶縁層と、を有し、
    前記複数の光電変換素子のうち一部の光電変換素子が設けられた有効画素領域と、前記複数の光電変換素子のうち他の一部の光電変換素子が設けられ、基準信号を得るためのオプティカルブラック領域と、を有する光電変換装置において、
    前記有効画素領域は、前記光電変換素子の光路中に配され、光の入射方向に対して凸形状に形成された複数の層内レンズを含む層内レンズ層を有し、
    前記オプティカルブラック領域は、前記他の一部の光電変換素子配された遮光部材を有し、
    前記層内レンズ層は、前記オプティカルブラック領域の前記遮光部材の上に、少なくとも一部が形成されており、
    前記層内レンズ層の前記有効画素領域に設けられた部分と、前記遮光部材は、前記絶縁層の上で同一高さに位置しており、
    前記有効画素領域と前記オプティカルブラック領域において、前記層内レンズ層の上方にマイクロレンズ層を有していることを特徴とする光電変換装置。
  2. 前記第1のパターンと前記第2のパターンとの間には、他の絶縁層が設けられており、前記絶縁層は前記他の絶縁層よりも薄くなっている、請求項1に記載の光電変換装置。
  3. 更に、前記層内レンズの上方に配されたカラーフィルタを有する、請求項1または2に記載の光電変換装置。
  4. 前記層内レンズの一部と前記遮光部材とが互いに接している請求項1からのいずれか1項に記載の光電変換装置。
  5. 前記絶縁層の上に、外部回路が接続されるパッドを有する、請求項1から4のいずれか1項に記載の光電変換装置。
  6. 前記パッドの外側に前記層内レンズが形成されている、請求項に記載の光電変換装置。
  7. 前記層内レンズの上方に配されたカラーフィルタと、該カラーフィルタの上方に配されたマイクロレンズと、前記絶縁層の上に設けられ、外部回路が接続されるパッドと、を有し、前記層内レンズ、前記カラーフィルタ、および前記マイクロレンズの少なくともいずれかが前記パッド部の外側に形成されている、請求項1に記載の光電変換装置。
  8. 前記光電変換素子からの信号を増幅する増幅素子を有し、該増幅素子は前記光電変換素子を含む画素、もしくは複数の画素ごとに設けられている、請求項1からのいずれか1項に記載の光電変換装置。
  9. 前記遮光部材は、前記有効画素領域に形成されていない、請求項1から8のいずれか1項に記載の光電変換装置。
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