JP5200148B2 - 半導体装置 - Google Patents
半導体装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5200148B2 JP5200148B2 JP2011222604A JP2011222604A JP5200148B2 JP 5200148 B2 JP5200148 B2 JP 5200148B2 JP 2011222604 A JP2011222604 A JP 2011222604A JP 2011222604 A JP2011222604 A JP 2011222604A JP 5200148 B2 JP5200148 B2 JP 5200148B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- region
- current
- layer
- igbt
- current detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 72
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 212
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 31
- 210000000746 body region Anatomy 0.000 claims description 11
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 4
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 230000000087 stabilizing effect Effects 0.000 description 2
- 239000000969 carrier Substances 0.000 description 1
- 230000006378 damage Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 1
Images
Landscapes
- Element Separation (AREA)
Description
(特徴1)IGBTとダイオードとの境界は、第2導電型のコレクタ領域と、第1導電型のカソード領域との境界に一致する。
(特徴2)N型を第1導電型とし、P型を第2導電型としている。
(特徴3)主活性領域、電流検知領域は、トレンチ型の半導体装置である。
2 IGBT主領域
3、31、32、33 電流検知領域
10、20、30 半導体基板
11 第1N+層
12 第1P+層
13 N−層
18 トレンチゲート
100、200、300 半導体装置
141、142、143 P−層
151、152、152a、153 P層
161、162、163 第2P+層
171、172 第2N+層
191 トレンチ
192 ゲート絶縁膜
193 ゲート電極
331 ダイオード電流検知部
332 IGBT電流検知部
Claims (1)
- IGBT素子領域と、ダイオード素子領域と、IGBT素子領域を流れるIGBT電流を少なくとも検知可能な第1の電流検知領域と、が同一半導体基板内に形成されている半導体装置であって、
IGBT素子領域と第1の電流検知領域の少なくとも一部では、第2導電型のコレクタ領域と第1導電型のドリフト領域と第2導電型のボディ領域が順に積層されており、
ダイオード素子領域では、第1導電型のカソード領域と第1導電型のドリフト領域と第2導電型のボディ領域が順に積層されており、
第1の電流検知領域は、IGBT素子領域に隣接して配置されており、
IGBT素子領域のコレクタ領域が第1の電流検知領域のコレクタ領域に接するまで伸びており、
ダイオード素子領域のカソード領域は、IGBT素子領域のコレクタ領域に隣接しており、
IGBT素子領域は、ダイオード素子領域と第1の電流検知領域との間に配置されており、
第1の電流検知領域とIGBT素子領域との間には、第1の電流検知領域またはIGBT素子領域のコレクタ領域とダイオード素子領域のカソード領域との境界は存在していないことを特徴とする半導体装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011222604A JP5200148B2 (ja) | 2011-10-07 | 2011-10-07 | 半導体装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011222604A JP5200148B2 (ja) | 2011-10-07 | 2011-10-07 | 半導体装置 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2009033688A Division JP4877337B2 (ja) | 2009-02-17 | 2009-02-17 | 半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012009900A JP2012009900A (ja) | 2012-01-12 |
JP5200148B2 true JP5200148B2 (ja) | 2013-05-15 |
Family
ID=45539994
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011222604A Active JP5200148B2 (ja) | 2011-10-07 | 2011-10-07 | 半導体装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5200148B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4877337B2 (ja) | 2009-02-17 | 2012-02-15 | トヨタ自動車株式会社 | 半導体装置 |
WO2011138832A1 (ja) | 2010-05-07 | 2011-11-10 | トヨタ自動車株式会社 | 半導体装置 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4783690A (en) * | 1983-09-06 | 1988-11-08 | General Electric Company | Power semiconductor device with main current section and emulation current section |
US4777579A (en) * | 1988-01-04 | 1988-10-11 | General Electric Company | Integrated current sensor configurations for AC motor drives |
US6180966B1 (en) * | 1997-03-25 | 2001-01-30 | Hitachi, Ltd. | Trench gate type semiconductor device with current sensing cell |
JP3914328B2 (ja) * | 1997-03-25 | 2007-05-16 | 株式会社ルネサステクノロジ | 電流検出セル付トレンチゲート半導体装置および電力変換装置 |
JP3997126B2 (ja) * | 2002-08-29 | 2007-10-24 | 株式会社ルネサステクノロジ | トレンチゲート型半導体装置 |
JP2005057235A (ja) * | 2003-07-24 | 2005-03-03 | Mitsubishi Electric Corp | 絶縁ゲート型バイポーラトランジスタ及びその製造方法、並びに、インバータ回路 |
JP2006271098A (ja) * | 2005-03-24 | 2006-10-05 | Hitachi Ltd | 電力変換装置 |
JP2007134625A (ja) * | 2005-11-14 | 2007-05-31 | Mitsubishi Electric Corp | 半導体装置およびその製造方法 |
JP2007184486A (ja) * | 2006-01-10 | 2007-07-19 | Denso Corp | 半導体装置 |
JP5157201B2 (ja) * | 2006-03-22 | 2013-03-06 | 株式会社デンソー | 半導体装置 |
DE102008045410B4 (de) * | 2007-09-05 | 2019-07-11 | Denso Corporation | Halbleitervorrichtung mit IGBT mit eingebauter Diode und Halbleitervorrichtung mit DMOS mit eingebauter Diode |
US8125002B2 (en) * | 2007-11-07 | 2012-02-28 | Denso Corporation | Semiconductor device and inverter circuit having the same |
-
2011
- 2011-10-07 JP JP2011222604A patent/JP5200148B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2012009900A (ja) | 2012-01-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4877337B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP5447504B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP6117602B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP5482886B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP5644793B2 (ja) | 半導体装置 | |
US20150263144A1 (en) | Semiconductor device and insulated gate bipolar transistor | |
JP6142813B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP5941214B2 (ja) | 半導体装置 | |
JPWO2020162012A1 (ja) | 半導体装置および半導体モジュール | |
JP5915677B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP5605230B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP5680299B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2014103352A (ja) | 半導体装置 | |
JP5200148B2 (ja) | 半導体装置 | |
WO2014188570A1 (ja) | 半導体装置 | |
JP2016111333A (ja) | 縦型ホール素子 | |
JP6718140B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2010238993A (ja) | 半導体装置 | |
JP5884772B2 (ja) | 半導体装置 | |
JP2009081168A (ja) | 半導体装置とその内部における電界強度の計測方法 | |
JP2018120930A (ja) | 半導体装置 | |
JP2018088464A (ja) | 半導体装置 | |
JP2016162898A (ja) | 半導体装置 | |
JP2019036689A5 (ja) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20111007 |
|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20111007 |
|
A871 | Explanation of circumstances concerning accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871 Effective date: 20111007 |
|
A975 | Report on accelerated examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005 Effective date: 20111028 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20111101 |
|
A02 | Decision of refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 Effective date: 20120221 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20120316 |
|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911 Effective date: 20120326 |
|
A912 | Re-examination (zenchi) completed and case transferred to appeal board |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A912 Effective date: 20120601 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130208 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160215 Year of fee payment: 3 |
|
R151 | Written notification of patent or utility model registration |
Ref document number: 5200148 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20160215 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |