JP5193314B2 - 計算ユニットのプログラムメモリを検査するための装置 - Google Patents

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Description

本発明は、検査モジュールを備えた計算ユニットのプログラムメモリを検査するための装置に関する。ここで、この計算ユニットは、プログラムメモリと接続されたコマンドカウンタから成る。コマンドカウンタはレジスタを有しており、このレジスタは、レジスタの内容をセットする第1の切換スイッチと接続されている。
自動車技術分野において、安全に対してクリチカルなアプリケーションの数は絶えず増加している。これと同時に、複雑さも、自動車技術において使用されるスイッチング回路への安全性の要求も高まっている。これは殊に、ハードウェア特有のスイッチング回路(ASIC)にも当てはまる。ここでは、安全に関連する構成部材の検査に対する要求が増大している。従って、スイッチング回路内に集積されており、または外部メモリ内に格納されており、安全に関連するアプリケーションを処理するために使用されるプログラムコードも検査されなければならない。
条件付きで実行可能なジャンプコマンドが計算ユニット、有利にはコンピューターコア内のプログラム経過に影響を与え得るので、プログラムメモリの出力側でのコマンドフローは常には確定されていない。すなわち、入力データと出力データとの間に一義的な関係はない。従って、プログラムメモリの特定のコマンドアドレスは常に問い合わされ、他のコマンドアドレスは特定のモードにおいてのみ問い合わされる。従って、プログラムコードが正しいことを、効果的なデータブロックベースまたはデータフィローベースの検査メカニズムによって証明することはできない。
従って本発明の課題は、完全なプログラムメモリのコマンドアドレスを検査することができる装置を提供することである。
本発明の利点は、外部検査モジュールが、事前に定められた既知の順番で、プログラムメモリの全内容をエラー検出方法によって検査することができる、ということである。ここでコマンドカウンタは、プログラムメモリのコマンドアドレス空間の間で通常作動時にプログラムコードに依存しないでカウントする補助的なカウンタを含んでいる。ここでこの補助カウンタは、レジスタと接続されている。提案された構造によって効果的に、通常作動時に、プログラムメモリの全内容を監視することができる。必要な場合には、この監視が定期的に行われてもよい。検査が行われるべき時間期間を任意に変えることができる。本発明は、種々異なるエラー検出方法で作動することができる。
プログラムメモリの全てのコマンドアドレスが検査される。通常のプログラム経過においては特定のモードにおいてしか問い合わされず、特定のモードにない場合には飛ばされてしまうコマンドアドレスも検査される。
コンピューターコア内の既存の幾つかの構造、例えば、メモリのアドレスデコーダーおよび出力駆動部が再利用されるので、これらも間接的に、エラーがあるかについてテストされる。
有利には補助カウンタは、緩衝メモリとレジスタとの間でデータを交換する第2の切換スイッチを有している。この第2の切換スイッチは、緩衝メモリを介してレジスタと接続されている。コマンドカウンタを単に拡張させているだけなので、チップ面でのハードウェアコストは最小に低減される。なぜなら、既存のコマンドカウンタ部分が、補助カウンタに対しても使用されるからである。
本発明の発展形態では、プログラムメモリを検査するために、目下のプログラム経過に相応するレジスタ内容が、第2の切換スイッチによって、緩衝メモリ内にロードされる。ここでレジスタは、検査されるべきコマンドアドレスによって、上書き可能である。レジスタと緩衝メモリの内容を交換することによって容易に、通常のプログラム経過を中断して、検査モードを開始することができる。ここで通常のプログラム経過時に得られるレジスタの目下の値が緩衝記憶される。従って、検査時にはプログラム経過が中断されるが、変えられることはない。
1つの実施形態では、目下のプログラム経過に相応する内容を検査した後に、緩衝メモリからレジスタ内に再び伝送される。通常のプログラム経過の緩衝記憶された値をレジスタ内にロードして戻すことによって、プログラムは、中断された箇所で続行される。
発展形態ではレジスタは、検査が終了した後に、検査されるべきコマンドアドレスを所定の値だけ高める加算器に通じている。この加算器は、第2の切換スイッチと接続されている。これは、所定の値だけ高くされたコマンドアドレスを緩衝メモリ内に格納する。これは次のような利点を有している。すなわち、加算器による、通常のプログラム経過の目下の値によるレジスタの上書きと並行して、緩衝メモリ内に格納される、検査されることが望まれている次のコマンドアドレスが選択される、という利点を有している。加算器によって選択された値はここで線形に選択される、または所定の別の規定に従って選択される。
別の検査を開始させるための次のコマンドが上述のように発生すると、通常のプログラム経過が中断され、プログラムメモリの検査されるべき次のコマンドアドレスが緩衝メモリからレジスタ内にロードされる。加算器はここで、通常のプログラムコードの処理時にも、プログラムメモリのコマンドアドレスに対する検査モードにおいても使用される装置エレメントである。
有利には、拡張されたコマンドカウンタによって、時間マルチプレックス方法における上述した経過が行われる。この構造が時間マルチプレックス方法で作動するので、簡単かつ低コストのメモリモジュール、例えば「シングルポート」メモリモジュールが使用される。このようなメモリモジュールは、1つのアドレス入力側と1つのデータ出力側しか有していない。これは、上述の経過には十分である。なぜなら、プログラムコードの通常の処理および検査は時間的に相前後して行われるからである。
1つの実施形態では、検査されるべきコマンドアドレスを伝送するためにコマンドカウンタは、外部検査モジュールと、信号線路を介して接続されている。従って特に有利には本発明の構造は、プログラムメモリがデータバスが接続されていないコンピュータアーキテクチャに適している。なぜなら、コマンドカウンタと検査モジュールとの間の通信には簡単な信号線路で足りるからである。
プログラムメモリの完全な検査の経過をコントロールするために、外部検査モジュールは、プログラムメモリの検査の開始と終了を検出する。これは、加えられているコマンドアドレスと、検査モジュール内に格納されている値とを比較することによって行われる。
プログラムメモリの大きさが、2のべき乗でない場合、完全な検査の後、中間レジスタは再び、初期値に初期化されなければならない。このために、外部検査モジュールとコマンドカウンタとの間の信号線路は双方向に構成される。
択一的にコマンドカウンタは、プログラムメモリの検査の開始および終了を検出する。プログラムメモリの完全な検査の開始および終了は次に、検査モジュールに、信号線路を介して伝えられる。外部検査モジュールにおけるコマンドアドレスの検査は省かれる。従って、有利なチップ表面が省かれる。
本発明の発展形態において、コマンドカウンタは、メモリ検査を制御するコマンドデコーダと接続される。プログラムメモリ検査のアドレス内容(記憶場所)の検査の制御は、特別なソフトウェアコマンドによって開始され、コマンドデコーダのコントロール下で自動的に経過する。これによって、プログラムメモリの内容の完全な検査に対する持続時間を可変的にしておくことが容易に可能である。持続時間の区別は、具体的なアプリケーションの安全に関連する要求に依存し得る。別の観察では、初期化フェーズにおいて次のことが必要である。すなわち、スタートされるアプリケーションが確実に作動することを保証するために、プログラムメモリの検査が数マイクロ秒においてのみ実施されることが必要である。このような状況において、プログラムメモリの検査を開始するためのソフトウェアコマンドが頻繁に繰り返される。検査が複数秒の枠においてのみ行われる場合には、初期化フェーズが終了した後、これで十分である。この場合にはこの方法は、プロセッサの能力を十分に利用することに向けられる。他方ではこれは、電流消費をできる限り低くすることにも向けられる。
本発明では、多数の実施形態が可能である。このうちの1つを、図に基づいてより詳細に説明する。
従来技術のコマンドカウンタ コマンドカウンタの本発明による実施例 本発明による装置のシステム図
同じ特徴には同じ参照番号が付与されている。
図1には、従来技術に従った、コンピューターコア内で既知のコマンドカウンタが示されている。コマンドカウンタは、ビット幅Nを有するレジスタ1から成る。レジスタ1の内容は、プログラムメモリ内のアドレスとして用いられる。レジスタ1は、加算器2と接続されている。この加算器は、レジスタ1の内容を各命令後に1つだけ高める。加算器2はおよび、図1には詳細に示されていない外部コマンドデコーダーモジュール1は第1のマルチプレクサ3につながっている。第1のマルチプレクサは、同じようにレジスタ1と接続されている。プログラム経過を制御するために、加算器2によって1つだけ高められたレジスタ内容は、第1のマルチプレクサ3を介して再びレジスタ1に供給される。レジスタ内容は、外部から、外部コマンドデコーダーモジュールによってもセットされる。これは、第1のマルチプレクサ3での入力側4によって表されている。この制御も第1のマルチプレクサ3を介して行われる。
プログラムメモリを検査するために、完全なアドレス空間の間で一度、カウントされなければならない。プログラム経過は、外部から生じるジャンプコマンドによって影響され得るので、補助カウンタが使用される。この補助カウンタは、アドレス空間の間で、検査されるべきプログラムメモリのプログラムコードに依存せずに、線形の規則または予め定められるべき別の規則に従ってカウントする。補助カウンタを実現するために、従来技術に従って公知の、コマンドカウンタが拡張されるので、既存のハードウェア素子のうちの幾つかが使用される。
拡張されたコマンドカウンタが図2に示されている。レジスタ1は、一方では加算器2を介して第1のマルチプレクサ3と接続されている。この第1のマルチプレクサは、第2のマルチプレクサ5を介してレジスタ1に戻る。他方ではレジスタ1は、第3のマルチプレクサ6と接続されており、この第3のマルチプレクサは、緩衝メモリ7につながっている。緩衝メモリ7は再び、第2のマルチプレクサ5を介して、レジスタ1とつながっている。加算器2は、付加的に第3のマルチプレクサ6と接続されている。
この装置でもレジスタ内容が、第1のマルチプレクサ3への入力側4によって表されている外部のコマンドデコーダーモジュールによって、第1のマルチプレクサ3および第2のマルチプレクサ5を介してセットされることがある。第1のマルチプレクサ3および第3のマルチプレクサ6では有利には2つのNビット2:1マルチプレクサが使用される。
プログラムメモリのコマンドの検査はここで典型的に3つの周期を含む:
まずは、プログラムメモリのメモリアドレスの検査を開始させるためのコマンドが、復号化される。このコマンドは、通常のプログラムコードのソフトウェア内に含まれており、これによって、計算ユニットの通常動作時に読み出される。
このコマンドの復号化の後、通常のプログラム作動は停止される。目下経過しているプログラムのメモリアドレスを含んでいるレジスタ1の内容は、第3のマルチプレクサ6を介して緩衝メモリ7内にロードされる。従って、プログラム経過の目下の状態は格納されたままになる。同時に、プログラムメモリの検査されるべきメモリアドレスに相応する緩衝メモリ7の内容がレジスタ1内にロードされる。
次のステップでは、加算器2を通じて、1だけ高められたレジスタ1の内容が第3のマルチプレクサ6を介して再び、緩衝メモリ7内に格納される。同時に、緩衝メモリ7の内容が第2のマルチプレクサ5を介してレジスタ1内にロードされる。この内容は、目下経過しているプログラムが中断された箇所であるコマンドコードのメモリアドレスに相応するので、通常のプログラム経過をここで再び続けることができる。
再び緩衝メモリ7内にロードされた、1だけ高められたレジスタ1の内容はここで、検査されるべきプログラムメモリの次のメモリアドレスに相応する。これは、メモリアドレスの検査を開始するための次のコマンドの際に検査される。このプロシージャーの後、拡張されたコマンドカウンタ8は通常作動とプログラムメモリ検査モードとの間を切り替える。
説明される、拡張されたコマンドカウンタ8を備えたシステム図が図3に示されている。検査されるべきプログラムメモリ9は、コマンドデコーダ10および外部監視モジュール11と接続されている。コマンドデコーダ10は同じように、直接的に外部監視モジュール11および格調されたコマンドカウンタ8に続いている。さらにコマンドデコーダ10は別のモジュール12と接続されている。これは例えば、メモリユニットRAMおよびROMまたはプロセッサの算術論理演算ユニット(arithmetisch-logischen Einheit:ALU)であり、コマンドデコーダ10はこのモジュール12に信号線路13を介して制御信号を送出する。
まずは、システムは通常プログラムの処理状態にある。このプログラムは、プログラムメモリ内に格納されているプログラムコードによって設定される。プログラムコード内で次のコマンドとして、プログラムメモリ9のメモリアドレスの検査を開始するためのコマンドが呼び出されると、このコマンドはコマンドデコーダ10によって復号化される。信号線路14を介してコマンドデコーダ10はこの情報を検査モジュール11に伝達する。さらに、信号線路15を介してこれが、拡張されたコマンドカウンタ8にも伝えられる。プログラム経過は、拡張されたコマンドカウンタ8によって中断される。拡張されたコマンドカウンタ8は、上述のように作動する。これはコマンドカウンタ8が内容をレジスタ1と緩衝メモリ7との間で交換することによって行われる。レジスタ1内の検査されるべきメモリアドレスは、外部監視モジュール11に、信号線路16を介して伝達される。検査されるべきメモリアドレスがここで、プログラムメモリ内容に対して付加的に、検査されるべき値として使用されてもよい。さらに、プログラムメモリ9は、このメモリアドレスに属するコマンドを呼び出すように促される。信号線路17を介して、このコマンドがコマンドデコーダ10に伝送され、信号線路18を介して検査モジュール11に伝送される。検査モジュール11は、この時点で加えられるべき、検査されるべきコマンドを引き受け、これをエラー検出プログラムによって比較する。このコマンド自体がエラーに関して検査可能でなく、全体のメモリまたはメモリ領域のみが検査可能である場合には、メモリがコントロールされる。一般に行われている検査方法はメモリ全体にわたったチェックサムの形成である。
検査が終了し、レジスタ1と緩衝メモリ7の内容が再度交換されると、ここで再び、通常プログラムに相応するメモリ内容がレジスタ1内に存在し、通常のプログラム経過が再び開始される。
この過程は常に繰り返される。これは、この過程が、プログラムメモリ9のコマンドアドレスの検査を開始するためのさらなるコマンドによって、再び呼び出されることによって行われる。このようにして、この過程は、プログラムメモリ9の完全なアドレス空間の間でカウントされ、全てのメモリ場所が調査されるまで頻繁に繰り返される。次にこの検証の結果がコマンドデコーダ10から、上位の、詳細には図示されていない制御機器へ転送され、そこで評価される。
プログラムメモリ9の完全な検査の開始および終了の確認は、外部検査モジュール11内で行われる。このためには外部検査モジュール11は、加えられたメモリアドレスを、検査モジュール11内に格納されている値と比較する。これは検査過程がアクティブである場合には常に行われる。ここで第1の値はプログラムメモリ9の第1のアドレス、すなわち検査の開始を識別し、第2の値はプログラムメモリ9の最後のアドレス、ひいてはプログラムメモリ9のアドレス空間の完全な検査の終端を識別する。
メモリの大きさが2のべき乗である場合には、プログラムメモリの完全な検査の開始および終了の確認を完全に省くことができる。緩衝メモリの値がアドレス空間の終端に達する場合には、オーバーフローが生じる。次の検査周期では緩衝メモリの値は、このオーバーフローによって自動的に0に初期化される。
プログラムメモリ9の大きさが2のべき乗でない場合には、緩衝メモリ7はプログラムメモリのアドレス空間の完全な検査の後に再び、初期値に初期化されなければならない。これは検査モジュール11から、拡張されたコマンドカウンタ8への信号線路19を介して行われる。プログラムメモリ9の大きさが2のべき乗に相応する場合には、緩衝メモリ7の初期化は必要ではなく、この信号線路を省くことができる。
説明したソリューションは、特に、回転率センサ加速度センサのための評価回路に適している。

Claims (5)

  1. 検査モジュールにより、計算ユニットのプログラムメモリを検査するための方法であって、
    前記計算ユニットの通常動作中に動作しているプログラムに含まれている、前記プログラムメモリの検査を開始するコマンドを、前記通常動作中に読み出して、前記計算ユニットのコマンドデコーダによって復号化するステップと、
    前記検査を開始するコマンドを復号化した後、前記計算ユニットの前記通常動作を停止するステップと、
    レジスタの内容のうち前記動作しているプログラムのメモリアドレスを含む内容を緩衝メモリへロードし、該緩衝メモリの内容のうち前記プログラムメモリの検査すべきメモリアドレスに対応する内容を前記レジスタへロードするステップと、
    前記検査すべきメモリアドレスを前記レジスタから前記検査モジュールへ伝送するステップと、
    前記検査すべきメモリアドレスに対応する検査すべきコマンドを前記プログラムメモリから前記検査モジュールへ供給するステップと、
    前記検査すべきコマンドもしくは前記プログラムメモリのメモリコマンドもしくは前記プログラムメモリ全体を、前記検査モジュールによって検査するステップと、
    前記レジスタの内容を設定された値だけ加算器によって高めて前記緩衝メモリへ格納し、該緩衝メモリの内容を前記レジスタへロードするステップと、
    前記計算ユニットの前記通常動作を再び続行するステップと
    を含む
    ことを特徴とする計算ユニットのプログラムメモリを検査するための方法
  2. 前記プログラムメモリの検査の開始および終了を、前記検査モジュールによって検出する、請求項1記載の計算ユニットのプログラムメモリを検査するための方法
  3. 計算ユニットのプログラムメモリを検査するための回路装置であって、
    少なくとも1つのレジスタと少なくとも1つの緩衝メモリとを備え、
    さらに、
    前記計算ユニットの通常動作中に動作しているプログラムに含まれている、前記プログラムメモリの検査を開始するコマンドを、前記通常動作中に読み出して、復号化のために前記計算ユニットのコマンドデコーダへ送信し、
    前記検査を開始するコマンドを復号化した後、前記計算ユニットの前記通常動作を停止し、
    レジスタの内容のうち前記動作しているプログラムのメモリアドレスを含む内容を前記緩衝メモリへロードし、前記緩衝メモリの内容のうち前記プログラムメモリの検査すべきメモリアドレスに対応する内容を前記レジスタへロードし、
    前記検査すべきメモリアドレスを前記レジスタから前記検査モジュールへ伝送し、
    前記検査すべきメモリアドレスに対応する検査すべきコマンドを前記プログラムメモリから前記検査モジュールへ供給し、
    前記検査すべきコマンドもしくは前記プログラムメモリのメモリコマンドもしくは前記プログラムメモリ全体を、前記検査モジュールによって検査し、
    前記レジスタの内容を設定された値だけ加算器によって高めて前記緩衝メモリへ格納し、該緩衝メモリの内容を前記レジスタへロードし、
    前記計算ユニットの前記通常動作を再び続行する
    手段を備えている
    ことを特徴とする計算ユニットのプログラムメモリを検査するための回路装置
  4. 前記レジスタの内容のうち前記動作しているプログラムのメモリアドレスを含む内容を前記緩衝メモリへロードするための第1のマルチプレクサと、前記緩衝メモリの内容のうち前記プログラムメモリの前記検査すべきメモリアドレスに対応する内容を前記レジスタへロードするための第2のマルチプレクサとが設けられている、請求項3記載の回路装置
  5. 前記加算器によって高められた前記レジスタの内容を前記緩衝メモリへ格納するための第1のマルチプレクサと、前記緩衝メモリの内容を前記レジスタへロードするための第2のマルチプレクサとが設けられている、請求項3記載の回路装置
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Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102018213616A1 (de) * 2018-06-20 2019-12-24 Robert Bosch Gmbh Kryptografiemodul und Betriebsverfahren hierfür

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2906117A1 (de) 1979-02-17 1980-09-04 Licentia Gmbh Schaltungsanordnung zum pruefen des programmablaufs in einem mikroprozessorsteuerwerk
JPS6010340B2 (ja) * 1980-07-09 1985-03-16 富士通株式会社 メモリ診断制御方式
JPS62107354A (ja) * 1985-11-05 1987-05-18 Nec Corp マイクロプログラム制御装置
JP3176093B2 (ja) * 1991-09-05 2001-06-11 日本電気株式会社 マイクロプロセッサの割込み制御装置
DE19647159A1 (de) 1996-11-14 1998-06-04 Siemens Ag Verfahren zum Testen eines in Zellenfelder unterteilten Speicherchips im laufenden Betrieb eines Rechners unter Einhaltung von Echtzeitbedingungen
JPH1115741A (ja) * 1997-06-26 1999-01-22 Denso Corp 電子制御装置
US5894549A (en) * 1997-12-12 1999-04-13 Scenix Semiconductor, Inc. System and method for fault detection in microcontroller program memory
DE10037992A1 (de) 2000-08-03 2002-02-21 Siemens Ag Verfahren zum Betreiben eines Logik- und Speicherelemente aufweisenden Bausteins
JP2002163155A (ja) * 2000-11-29 2002-06-07 Rb Controls Co ガス器具のマイコン制御装置
ES2298404T3 (es) 2001-11-12 2008-05-16 Siemens Aktiengesellschaft Test de memoria.
JP2007026084A (ja) * 2005-07-15 2007-02-01 Renesas Technology Corp マイクロプロセッサ
US7770071B2 (en) * 2005-10-06 2010-08-03 The Invention Science Fund I, Inc Mote servicing
JP4893427B2 (ja) * 2006-06-30 2012-03-07 株式会社デンソー マイクロコンピュータシステム

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