JP2010073285A - 情報処理装置 - Google Patents
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Abstract
【課題】デコーダの故障検出を実施する際の冗長な回路構成を抑制する。
【解決手段】情報処理装置は、複数のワード線を有するメモリ部(20)と、アドレス信号をデコードすることで、上記ワード線を選択するための選択信号を形成可能なデコーダ(30)とを含む。上記デコーダは、第1選択回路(11)と、第1デコード回路(12_0)と、第2デコード回路(12_1)と、比較回路(13)とを含む。この比較回路は、上記デコード回路によってアサートされたビット信号対を比較することで、上記デコーダにおけるデコード機能の故障判定を可能とする故障信号を形成する。上記の構成によれば、デコーダやメモリ部の同一構成回路を複数個搭載し、その結果の一致不一致を検査することで誤動作の検出する技術に比べて、デコーダにおける冗長を大幅に低減することができる。
【選択図】図1
【解決手段】情報処理装置は、複数のワード線を有するメモリ部(20)と、アドレス信号をデコードすることで、上記ワード線を選択するための選択信号を形成可能なデコーダ(30)とを含む。上記デコーダは、第1選択回路(11)と、第1デコード回路(12_0)と、第2デコード回路(12_1)と、比較回路(13)とを含む。この比較回路は、上記デコード回路によってアサートされたビット信号対を比較することで、上記デコーダにおけるデコード機能の故障判定を可能とする故障信号を形成する。上記の構成によれば、デコーダやメモリ部の同一構成回路を複数個搭載し、その結果の一致不一致を検査することで誤動作の検出する技術に比べて、デコーダにおける冗長を大幅に低減することができる。
【選択図】図1
Description
本発明は、情報処理装置、さらにはそれに含まれるアドレスデコーダの故障診断技術に関する。
情報処理装置は、マイクロコントローラ、マイクロプロセッサ、信号処理プロセッサ、画像処理プロセッサ、及び音声処理プロセッサを含む。情報処理装置の一例とされるマイクロコントローラには、メモリ回路が内蔵される。このメモリ回路には、データを保存するメモリ部と入力信号nビットを入力し、保存されているデータを選択するため、2n本の選択信号からひとつの信号をアサートするためのアドレスデコーダが搭載される。上記マイクロコントローラなどのメモリ回路が搭載された機器の安全性、信頼性向上のため、上記メモリ回路に故障検出機能を内在させることが行われ始めている。例えば、一般的な技術であるECC(Error−Correcting Code)やパリティなどは上記メモリ回路のデータ保存部分であるメモリ部の故障検出機能として適用されている。
しかしながら、上記ECCやパリティなどの技術は、メモリ部から実際に読出されたデータに基づいて故障検出を可能とする技術であるから、それによって故障が検出されたとしても、その故障の原因がメモリ部にあるのか、アドレスデコーダにあるのかを判別することはできない。したがって、メモリ回路においては、メモリ部の故障検出の他に、アドレスデコーダの故障検出が必要とされる。つまり、アドレスが正しくデコードされているか否かの確認と共に、別のアドレスが選択されていないかどうかの確認が必要となる。そこで、パラレル変換後のアドレスデータをデコードする為の、同一構成のデコーダ回路を複数個設け、各デコーダ回路の出力が一致するかどうかを一致比較器で検出することにより、デコーダ回路の検査を行うようにした技術が知られている(例えば特許文献1参照)。
メモリのデコーダの誤作動を検出する装置として、図11に示される構成が考えられる。すなわち、デコーダ1_0及びメモリ部2_0と、デコーダ1_1及びメモリ部2_1とが併設され、比較器3によって、上記メモリ部2_0の出力データ151と、上記メモリ部2_1の出力データ152との比較が行われ、この比較結果に基づいて、デコーダの故障検出が可能とされる。
図12には、図11における入力信号100が4ビットで場合のデコーダ1_0及びデコーダ1_1の構成例が示される。図12において、当該デコーダの入力信号100はA[3]からA[0]で示され、出力信号は16ビット(24)となりS0_0[0]からS0_0[15]で示される。入力信号100のビット信号によって、出力信号S0_0のうち、ただひとつのビットがアサートされる。入力信号100のビット信号が「0101」の場合、アサートされる出力信号はS0_0[5]となる。図11において、入力信号100は、複数個搭載された同一構成の上記デコーダ1_0とデコーダ1_1、及び上記メモリ部2_0とメモリ部2_1に対し入力される。そのため、出力データ151及び出力データ152は、デコーダが正常動作していれば一致する。その性質を利用し、出力データ151及び出力データ152を比較器3において一致比較を実施し、不一致している場合にはデコーダの誤動作として検出するものである。
しかしながら、上述の故障検出技術によれば、デコーダやメモリ部の同一構成回路を複数個搭載し、その結果の一致不一致を検査することで誤動作の検出するため、デコーダに冗長な構成が必要とされ、このことが、チップ占有面積を増大する要因とされる。このことから、上述の故障検出技術は、小面積を実現するマイクロコントローラに適応することは得策ではない。このことは、上記特許文献1記載の技術によっても解決されるものではない。
本発明の目的は、デコーダの故障検出を実施する際に、冗長な回路構成を抑制するための技術を提供することにある。
本発明の上記並びにその他の目的と新規な特徴は本明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろう。
本願において開示される発明のうち代表的なものについて簡単に説明すれば下記のとおりである。
すなわち、情報処理装置は、複数のワード線を有するメモリ部と、アドレス信号をデコードすることで、上記ワード線を選択するための選択信号を形成可能なデコーダとを含む。上記デコーダは、第1選択回路と、第1デコード回路と、第2デコード回路と、比較回路とを含む。この比較回路は、上記デコード回路によってアサートされたビット信号対を比較することで、上記デコーダにおけるデコード機能の故障判定を可能とする故障信号を形成する。上記の構成は、デコーダやメモリ部の同一構成回路を複数個搭載し、その結果の一致不一致を検査することで誤動作の検出する技術に比べて、デコーダにおける冗長を大幅に低減することができる。
本願において開示される発明のうち代表的なものによって得られる効果を簡単に説明すれば下記の通りである。
すなわち、デコーダの故障検出を実施する際に、冗長な回路構成を抑制するための技術を提供することができる。
1.代表的な実施の形態
先ず、本願において開示される発明の代表的な実施の形態について概要を説明する。代表的な実施の形態についての概要説明で括弧を付して参照する図面の参照符号はそれが付された構成要素の概念に含まれるものを例示するに過ぎない。
先ず、本願において開示される発明の代表的な実施の形態について概要を説明する。代表的な実施の形態についての概要説明で括弧を付して参照する図面の参照符号はそれが付された構成要素の概念に含まれるものを例示するに過ぎない。
〔1〕本発明の代表的な実施の形態に係る情報処理装置(800)は、複数のワード線を有するメモリ部(20)と、アドレス信号をデコードすることで、上記ワード線を選択するための選択信号を形成可能なデコーダ(30)とを含み、上記メモリ部の記憶情報を用いた情報処理を可能とする。上記デコーダは、上記アドレス信号の最上位ビットの論理値に応じて、上記アドレス信号の下位ビットを選択的に後段へ伝達可能な第1選択回路(11)と、上記アドレス信号の最上位ビットが第1論理値の場合に対応され、上記入力選択回路を介して伝達された上記アドレス信号の下位ビットをデコードする第1デコード回路(12_0)とを含む。また上記デコーダは、上記アドレス信号の最上位ビットが第2論理値の場合に対応され、上記入力選択回路を介して伝達された上記アドレス信号の下位ビットをデコードする第2デコード回路(12_1)と、上記第1デコード回路の出力信号と上記第2デコード回路の出力信号とを比較することで、上記デコーダにおけるデコード機能の故障判定を可能とする故障信号を形成する比較回路(13)とを含む。さらに上記デコーダは、上記アドレス信号の最上位ビットの論理値に応じて、上記第1デコード回路の出力信号と上記第2デコード回路の出力信号とを選択的に上記メモリ部におけるワード線選択に関与させるための第2選択回路(14)とを含む。
上記の構成によれば、比較回路は、上記デコード回路によってアサートされたビット信号対を比較することで、上記デコーダにおけるデコード機能の故障判定を可能とする故障信号を形成する。この故障信号がアサートされた場合、上記デコーダにおけるデコード機能が故障されていると判定し、情報処理装置における処理を直ちに停止させることができる。
上記の構成は、デコーダやメモリ部の同一構成回路を複数個搭載し、その結果の一致不一致を検査することで誤動作の検出する技術に比べて、デコーダにおける冗長を大幅に低減することができる。これによって、デコーダの故障検出を実施する際の冗長な回路構成を抑制することができる。
〔2〕上記〔1〕において、上記アドレス信号の少なくとも1ビットについて論理反転可能な入力論理反転回路(10)を含み、上記第1選択回路(11)は、上記入力論理反転回路を介さずに伝達された上記アドレス信号の下位ビットと、上記入力論理反転回路を介して伝達された上記アドレス信号の下位ビットとの伝達経路を、上記アドレス信号の最上位ビットの論理値に応じて決定するように構成することができる。
〔3〕上記〔1〕において、上記メモリ部の記憶情報を用いた情報処理を可能とするCPU(60)を含み、上記CPUは、上記比較回路からの上記故障信号がアサートされた場合に所定の例外処理を実行するように構成することができる。
〔4〕上記〔1〕において、上記メモリ部の記憶情報を用いた情報処理を可能とするCPU(60)と、上記比較回路からの上記故障信号に基づいて上記CPUに対する割り込み要求信号を発生させる割り込み制御回路(90)とを含んで構成することができる。このとき、上記メモリ部、上記CPU、及び上記割り込み制御回路は、バス(160)を介して互いに結合される。
〔5〕上記入力論理反転回路は、テスト切替信号に応じて、上記アドレス信号を取込む第1テストモードと、上記デコーダの外部から取り込まれたテスト入力信号を、上記アドレス信号に代えて上記第1選択回路に供給する第2テストモードとを含んで構成することができる。
〔6〕別の観点によれば、複数のワード線を有するメモリ部(20)と、アドレス信号をデコードすることで、上記ワード線を選択するための選択信号を形成可能なデコーダ(30)とを含んで情報処理装置(800)が構成されるとき、上記デコーダは、入力されたアドレス信号をデコードするためのデコード回路(12_0,12_1)と、上記デコード回路から出力された1対の出力信号の論理を比較することで、上記デコーダにおけるデコード機能の故障判定を可能とする故障信号を形成する比較回路(13)とを含んで構成することができる。
2.実施の形態の説明
次に、実施の形態について更に詳述する。
次に、実施の形態について更に詳述する。
<実施の形態1>
図8には、本発明にかかる情報処理装置の一例とされるマイクロコントローラが示される。
図8には、本発明にかかる情報処理装置の一例とされるマイクロコントローラが示される。
図8に示されるマイクロコントローラ800は、CPU60、メモリ部(MEM)20、及びアドレスデコーダ(DEC)30を含み、公知の半導体集積回路製造技術により、単結晶シリコン基板などのひとつの半導体基板に形成される。
CPU60は、メモリ部20に対するアドレス信号を入力信号100としてアドレスデコーダ(単に「デコーダ」という)30へ転送する。デコーダ30は、入力されたアドレス信号をデコードすることにより、ワード線選択信号を形成する。メモリ部20は、特に制限されないが、複数のワード線と、それに交差するように配置された複数のビット線と、上記ワード線と上記ビット線とが交差する箇所に設けられたメモリセルとを含む。上記デコーダ30から出力されたワード線選択信号132に基づいて、上記メモリ部20における複数のワード線から1本のワード線が選択され、当該ワード線に結合されているメモリセルへのデータ書き込み、又は当該メモリセルからのデータ読み出しが可能とされる。上記メモリ部20から読み出されたデータは出力データ150としてCPU60に供給され、このCPU6での演算処理に供される。
上記メモリ部20が搭載された機器の安全性、信頼性向上のため、上記メモリ部20には、ECC(Error−Correcting Code)などのエラー訂正機能が搭載される。
また、上記メモリ部20のエラー訂正機能とは別に、上記デコーダ30には、入力されたアドレス信号をデコードするためのデコード回路と、このデコード回路から出力された1対の出力信号の論理を比較することで、上記デコーダにおけるデコード機能の故障判定を可能とする故障信号を形成する比較回路が設けられる。この比較回路は、上記1対の出力信号の論理を比較により誤動作を検出した場合には、故障信号140をアサートする。この故障信号140は、上記CPU60に伝達される。CPU60は例外処理回路(EXH)70を含み、この例外処理回路70は、上記故障信号140がアサートされた場合に、所定の例外処理を実行する。この例外処理には、特に制限されないが、現在実行中の演算処理を停止するための処理が含まれる。
図1には、上記デコーダ30の構成例が示される。
デコーダ30は、図1に示されるように、入力論理反転回路(INV)10、入力選択回路11、デコード回路12、比較回路(CMP)13、選択回路(SEL)14、入力フリップフロップ回路(FF)15_0,15_1を含んで成る。ここでは説明の便宜上、入力信号100が4ビットで構成され、メモリ部20へ出力される選択信号132が16本(24)で構成されているものとする。
入力論理反転回路10は入力信号100の少なくとも1ビット以上を反転させる。本実施形態では、特に制限されないが、入力信号100を全ビット反転させて出力するものとする。この入力論理反転回路10の出力信号は反転入力信号110として、後段の入力フリップフロップ回路15_0に伝達される。また、入力信号100は入力フリップフロップ15_1に一時保存され、入力選択回路11へ転送される。同様に反転入力信号110は入力フリップフロップ15_0に一時保存されて、入力選択回路11へ転送される。
入力選択回路11は、2系統の入力端子と2系統の出力端子とを有し、入力信号100のビット信号の論理値に呼応して信号伝達経路の選択が行われる。すなわち、入力選択回路11は、入力フリップフロップ15_0及び15_1から転送される入力信号100と、反転入力信号110を取り込み、入力信号100のビット信号の「0」か「1」を判断し、その判断結果に基づいて信号の伝達経路を選択する。本実施形態では入力信号100の最上位ビットで判断する。上記入力選択回路11では、入力信号100の最上位ビットが「0」の場合には、入力信号100をデコード回路12の入力信号120として伝播させ、反転入力信号110をデコード回路12の入力信号121として伝播させる。また、入力信号100の最上位ビットが「1」の場合には、入力信号100をデコード回路12の入力信号121として伝播させ、反転入力信号110をデコード回路12の入力信号120として伝播させる。
以上から、本実施形態では、最上位ビット「0」の入力信号100は入力信号120としてデコード回路12_0へ伝達され、最上位ビット「1」の入力信号100は入力信号121としてデコード回路12_1へ伝播される。
デコード回路は、二つのAND(論理積)回路12_0,12_1を含む。入力信号120はAND回路12_0に入力され、入力信号121はAND回路12_1に入力される。AND回路12_0でのデコードにより選択信号130が形成され、AND回路12_1でのデコードにより選択信号131が形成される。選択信号130,131は、選択回路(SEL)14により選択されることで選択信号132として後段のメモリ部20に伝達され、ワード線選択に供される。
また、比較回路13が設けられ、この比較回路13は、上記デコード回路12からの選択信号130,131の論理値を比較し、その比較結果に基づいて、上記デコーダにおけるデコード機能の故障判定を可能とする故障信号140を形成する。
図2には、上記デコード回路12の構成例が示される。
上記デコード回路12は、AND回路12_0と、AND回路12_1とを含む。AND回路12_0と、AND回路12_1とは、互いに同一構成とされ、それぞれ8個の4入力ANDゲートが結合されて成る。A[0]〜A[3]は入力信号120に対応し、B[0]〜B[3]は入力信号121に対応し、S0_0[0]〜S0_0[7]は選択信号130に対応し、S1_0[0]〜S1_0[7]は選択信号131に対応する。AND回路12_0では、A[0]〜A[3]に従って、S0_0[0]〜S0_0[7]のうちのひとつのビットがハイレベルにアサートされる。AND回路12_1では、B[0]〜B[3]に従って、S1_0[0]〜S1_0[7]のうちのひとつビットハイレベルにアサートされる。
ここで、図12に示されるデコード回路によれば、入力信号に呼応して出力信号のただひとつのビットがアサートされる。それに対して、図2に示される本実施形態のデコード回路12によれば、入力信号100の最上位ビットを「0」と「1」に固定したふたつのAND回路(12_0及び12_1)で構成することにより、出力信号(S0_0及びS1_0)において、S0_0のうちの1ビットとS1_0うちの1ビットのふたつのビットを同時にアサートできる。図2において、最上位ビット「0」で固定されたAND回路がAND回路12_0、最上位ビット「1」で固定されたAND回路がAND回路12_1である。本実施形態では、入力信号120が「0000」のとき、入力信号121は「1111」となる。このとき、S0_0[0]とS1_0[7]の組み合わせがアサートされる。また、入力信号120が「0001」のとき、入力信号121は「1110」となり、S0_0[1]とS1_0[6]の組み合わせがアサートされる。同様に、入力信号120が「0111」のとき、入力信号121が「1000」となり、S0_0[7]とS1_0[0]の組み合わせがアサートされる。これから、上記デコード回路12は、入力信号120と入力信号121を同時にデコード処理し、それぞれの出力である選択信号130と選択信号131のあらかじめ決められた組み合わせのビット信号対をアサートする。
図3には、上記比較回路13の構成例が示される。
上記比較回路13は、図3に示されるように、8個の排他的論理和回路(EXOR回路)13_0と、その後段に配置されたオア回路(OR回路)13_1とを含む。S0_0及びS1_0は上記デコード回路12の同一信号名の信号と等価である。比較回路13は上記デコード回路12によってアサートされた、あらかじめ決められた組み合わせのビット信号対を比較することで、デコーダの誤動作を検出する。本実施形態では、入力信号100が「0000」の場合、S0_0[0]とS1_0[7]があらかじめ決められた組み合わせであるため、当該信号の排他的論理和を、EXOR回路13_0を用いて計算する。デコーダが正常動作時している場合は、上記EXOR回路13_0の入力信号であるS0_0[0]とS1_0[7]は同時にアサートされているため、EXOR回路13_0の出力信号は「0」となる。一方で、S0_0[0]とS1_0[7]が同時にアサートされていなければ、EXOR回路13_0の出力は「1」となり、直ちにデコーダ処理装置の誤動作を検出できる。同様に、入力信号100が上記以外の場合においても、あらかじめ決められたビット信号の組み合わせをEXOR回路で計算することで誤動作を検出することができる。
また、上記比較回路13において、誤動作が検出された場合には故障信号140をアサートすることで、外部回路に誤動作が発生したことを通知することができる。故障信号140は、図3におけるE0_0に対応する。なお、上記選択信号130と選択信号131は選択回路14によって、反転入力信号110に対応する信号を破棄し、入力信号100に対応する信号を伝播させて選択信号132をメモリ部20へ出力する。
上記の構成によれば以下の作用効果が得られる。
(1)比較回路13は、上記デコード回路12によってアサートされた、あらかじめ決められた組み合わせのビット信号対を比較することで、上記デコーダ30におけるデコード機能の故障判定を可能とする故障信号140を形成する。この故障信号140は、CPU60における例外処理回路70に伝達される。比較回路13によって故障信号140がアサートされた場合、CPU60における例外処理回路70で所定の例外処理が実行されることで、上記デコーダ30におけるデコード機能の故障に起因する不所望なデータに基づく演算処理を直ちに停止することができる。
(2)図12に示されるデコード回路によれば、入力信号に呼応して出力信号のただひとつのビットがアサートされるのに対して、図2に示されるデコード回路12によれば、入力信号100の最上位ビットを「0」と「1」に固定したふたつのAND回路(12_0及び12_1)で構成することにより、出力信号(S0_0及びS1_0)において、S0_0のうちの1ビットとS1_0うちの1ビットのふたつのビットを同時にアサートされる。つまり、上記デコード回路12では、入力信号120と入力信号121を同時にデコード処理し、それぞれの出力である選択信号130と選択信号131のあらかじめ決められた組み合わせのビット信号対がアサートされる。そしてこのビット信号対の論理値が比較回路13で比較される。この比較において、両ビットの論理値が一致していれば、上記デコーダ30におけるデコード機能は正常とされる。しかし、両ビットの論理値が不一致でれば、上記デコーダ30におけるデコード機能は異常とされる。このように入力信号120と入力信号121を同時にデコード処理し、それぞれの出力である選択信号130と選択信号131のあらかじめ決められた組み合わせのビット信号対の論理値を比較することで、デコーダ30におけるデコード機能は異常検出を行うことができるので、例えば図11に示されるように、デコーダやメモリ部の同一構成回路を複数個搭載し、その結果の一致不一致を検査することで誤動作の検出する技術に比べて、デコーダにおける冗長を大幅に低減することができる。これによって、デコーダの故障検出を実施する場合におけるデコーダのチップ占有面積を低減することができる。
(3)上記(1)の作用効果により、マイクロコントローラ800の信頼性の向上を図ることができる。
<実施の形態2>
図4には、上記デコーダ30の別の構成例が示される。
図4には、上記デコーダ30の別の構成例が示される。
上記実施の形態1では、入力信号は4ビットであったが、マイクロコントローラによっては、入力信号は4ビットより多ビットの構成もある。入力信号100が多ビットとなる場合、実施の形態1の図3の比較回路に示したEXOR回路13_0の入力信号数は増え、比較回路13の回路複雑度は増大する。本実施形態では、説明の便宜上、入力信号100が8ビットの場合を示す。図3の比較回路の入力は256本となり、回路複雑度が大きくなる。本実施形態はそのような場合に適用できるものであり、実施の形態1のデコーダを一般的な階層デコード処理手法に適用し、上記課題を解決するものである。
図4において、入力信号100の上位ビット(7ビットから4ビット)と下位ビット(3ビットから0ビット)に分割する。上記上位ビットを図1におけるデコーダ30と同一構成のデコーダ31に入力し、そのデコード結果として選択信号133を出力する。また、当該デコーダ31で誤動作を検出した場合は故障信号141をアサートする。
選択信号133と上記下位ビットを入力信号振分回路40へ入力し、選択信号133のアサートされているビット信号に従って、入力信号100の供給先をデコーダ32〜3hの中から選択する。デコーダ32〜3hは、それぞれ図1に示されるデコーダ30と同一構成とされる。デコーダ32〜3hで誤動作が検出された場合には、故障信号142〜14hがアサートされる。
図5には、上記入力信号振分回路40の構成例が示される。
上記入力信号振分回路40は、図5に示されるように、16個の2入力AND回路500が配置されて成る。16個の2入力AND回路500の一方の入力端子に入力される入力信号400は、上記入力信号100の下位ビット(3ビットから0ビット)に対応し、入力信号401[0]から[15]は上記選択信号133の各ビットに対応し、S2_0〜S2_15は上記デコーダ32〜3hへの選択信号に対応する。入力信号401の[0]から[15]は、16ビット信号の内ただひとつのビット信号がアサートされている。したがって、上記入力信号振分回路40は、上記入力信号400と上記入力信号401のAND論理を得ることにより、S2_0からS2_15のどれかひとつに上記入力信号401を転送することができる。図4において、上記下位ビットは、該当下位ビットが伝播されたデコーダ32〜3h内ひとつでデコード処理され、選択信号134のビット信号をアサートする。デコーダ32〜3hのそれぞれの選択信号はデコード回路31と同一で16ビットであるため、デコーダ32〜3hの選択信号をまとめると256ビット(16×16ビット)となる。また、デコーダ32〜3hにおいて誤動作を検出した場合には、それぞれ対応する故障信号142〜14hによって、個別的にCPU60へ通知することができる。
このように実施の形態1におけるデコーダ30と同一構成のデコーダを複数個接続することによって、入力信号をビット分割しデコーダにてデコード処理を実施し、入力信号が多ビット幅におけるデコード処理の誤動作を直ちに検出することができる。また、後段のデコーダである32〜3hにおいて、入力信号のビット幅は少なくなるため、比較回路が比較を行う選択信号数を減少させることができる。実施の形態1では、入力信号のビット幅が8ビットのときはひとつの比較回路で比較を行うため、選択信号数は256(28)であるが、本実施形態では、入力信号100を4ビットに分割するため、ひとつの比較回路で比較する選択信号数は16(24)となり、回路複雑度を削減することができる。
<実施の形態3>
図9には、上記マイクロコントローラ800の別の構成例が示される。
図9には、上記マイクロコントローラ800の別の構成例が示される。
上記マイクロコントローラ800は、通常のメモリアクセスを行う第1のモード、及びデコーダ30内の比較回路の故障診断を行う第2のモードを有し、上記第2のモードの時、CPU60はテスト切替信号102を論理値「11」とし、入力信号100とは異なる信号をテスト入力信号101として送信する。デコーダ30は、誤動作を検出した場合には故障信号140をアサートする。例外処理回路70が故障信号140のアサートを受信した場合は、例外処理を実行する。
起動時には第2のモードが選択され、デコーダ30の比較回路の故障診断が行われ、CPU60が故障信号140のアサートを受信した場合に例外処理が実行される。また故障信号140がアサートせずに故障診断が終了した場合に第1のモードに遷移するなど自動的にモードの遷移の実行を行うことが可能である。または、ソフトウェアによって、モードレジスタを設定するなどして、上記第1のモードと第2のモードを遷移させることもできる。
図6には、図9に示されるデコーダ30の構成例が示される。
図6に示されるデコーダ30が、図1に示されるのと大きく異なるのは、比較回路13の誤動作検出を可能とする故障注入機能付き入力論理反転回路50を備える点である。図6において、上記入力論理反転回路50は、入力信号100と、外部装置から入力されるテスト入力信号101とテスト切替信号102を入力とし、反転入力信号110を出力とする。
図7には、上記入力論理反転回路50の構成例が示される。
故障注入機能付き入力論理反転回路50に入力された入力信号100は、インバータ51でビット反転されマルチプレクサ52に入力される。マルチプレクサ52は上記反転された信号と入力信号100とテスト入力信号101を、テスト切替信号102を用いて選択し、選択された信号を反転入力信号110に出力する。
故障注入機能付き入力論理反転回路50において、上記テスト切替信号102が論理値「00」の場合、インバータ51によって反転された入力信号100が反転入力信号110に出力されるため、実施の形態1の動作と等しくなり、入力論理反転回路10と入力選択回路11とデコード回路12の誤動作を検出できる。一方、テスト切替信号が論理値「11」の場合、テスト入力信号101が反転入力信号110として出力される。そして、テスト入力信号101には、入力信号100の反転された信号とは異なる信号をCPU60から与えることができる。すなわち、図6において、反転入力信号110をCPU60から操作することができ、選択信号130と選択信号131の不一致をCPU60によって故意に引き起こすことが可能である。実施の形態1で記述したように、選択信号130と選択信号131が不一致を起こした場合には、比較回路13は故障信号140をアサートする。以上のことから、テスト入力信号に入力信号100の反転信号とは異なる信号を入力し、故障信号140を検査することによって、比較回路13自体の誤動作を検出することができる。
また、図7において、テスト切替信号102が論理値「10」の場合、反転入力信号110は入力信号100が出力される。図6において、反転入力信号110に入力信号100と等しい信号が入力されたときは、入力信号120と入力信号121は等しくなる。図2において、入力信号120と入力信号121の最上位ビットが共に「0」の場合、S0_0を出力する論理回路は動作するが、S1_0を出力する論理回路は動作しない。入力信号120と121の最上位ビットが共に論理値「1」の場合、S1_0を出力する論理回路は動作するが、S0_0を出力する論理回路は動作しない。以上のことから、テスト切替信号102を論理値「10」とした場合、デコーダ回路12の半分の動作を止めることが可能であり、誤動作の検出を実施しない場合の無駄なデコーダ処理装置の動作を抑えることができる。
<実施の形態4>
図10には、上記マイクロコントローラ800の別の構成例が示される。
<実施の形態4>
図10には、上記マイクロコントローラ800の別の構成例が示される。
図10に示されるマイクロコントローラ800が、図8や図9に示されるのと大きく異なるのは、特定の用途向けに複数機能の回路を1つにまとめた集積回路(ASIC:Application Specific Integrated Circuit)とされ、CPU60、内蔵メモリ80、及び割り込み制御回路90などの各機能モジュールが、バス160を介して互いに信号のやり取り可能に結合されている点である。
デコーダ30は、内蔵メモリ80のアドレスデコード回路として搭載する。CPU60はアドレス信号を、バス160を経由して内蔵メモリ80へ転送し、デコーダ30では、実施の形態1で示したとおり誤動作の検査を実施し、誤動作を検出した場合には故障信号140をアサートする。故障信号140は割り込み制御回路90へ転送され、故障信号140がアサートされていた場合には、割り込み制御回路90は割り込み要求信号170をCPU60へ転送される。CPU60は割り込み要求信号170に従って割り込み処理を実施することができるため、CPU60はデコーダ30の故障信号を一般的な割り込み要求信号と同様に扱うことができる。
尚、デコーダ30は、図4や図6に示される構成を採用することができる。
以上本発明者によってなされた発明を具体的に説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明をその背景となった利用分野であるマイクロコントローラに適用した場合について説明したが、本発明はそれに限定されるものではなく、マイクロプロセッサ、信号処理プロセッサ、画像処理プロセッサ、及び音声処理プロセッサなどの各種情報処理装置に広く適用することができる。
10 入力論理反転回路
11 入力選択回路
12 デコード回路
12_0,12_1 AND回路
13 比較回路
13_0 EXOR回路
13_1 OR回路
14 選択回路
15_0、15_1 入力フリップフロップ回路
20 メモリ部
30 デコーダ
40 入力信号振分回路
50 故障注入機能付き入力論理反転回路
51 インバータ
52 マルチプレクサ
60 CPU
70 例外処理回路
80 内蔵メモリ
90 割り込み制御回路
800 マイクロコントローラ
11 入力選択回路
12 デコード回路
12_0,12_1 AND回路
13 比較回路
13_0 EXOR回路
13_1 OR回路
14 選択回路
15_0、15_1 入力フリップフロップ回路
20 メモリ部
30 デコーダ
40 入力信号振分回路
50 故障注入機能付き入力論理反転回路
51 インバータ
52 マルチプレクサ
60 CPU
70 例外処理回路
80 内蔵メモリ
90 割り込み制御回路
800 マイクロコントローラ
Claims (6)
- 複数のワード線を有するメモリ部と、
アドレス信号をデコードすることで、上記ワード線を選択するための選択信号を形成可能なデコーダと、を含み、上記メモリ部の記憶情報を用いた情報処理を可能とする情報処理装置であって、
上記デコーダは、上記アドレス信号の最上位ビットの論理値に応じて、上記アドレス信号の下位ビットを選択的に後段へ伝達可能な第1選択回路と、
上記アドレス信号の最上位ビットが第1論理値の場合に対応され、上記入力選択回路を介して伝達された上記アドレス信号の下位ビットをデコードする第1デコード回路と、
上記アドレス信号の最上位ビットが第2論理値の場合に対応され、上記入力選択回路を介して伝達された上記アドレス信号の下位ビットをデコードする第2デコード回路と、
上記第1デコード回路の出力信号と上記第2デコード回路の出力信号とを比較することで、上記デコーダにおけるデコード機能の故障判定を可能とする故障信号を形成する比較回路と、
上記アドレス信号の最上位ビットの論理値に応じて、上記第1デコード回路の出力信号と上記第2デコード回路の出力信号とを選択的に上記メモリ部におけるワード線選択に関与させるための第2選択回路と、を含むことを特徴とする情報処理装置。 - 上記アドレス信号の少なくとも1ビットについて論理反転可能な入力論理反転回路を含み、上記第1選択回路は、上記入力論理反転回路を介さずに伝達された上記アドレス信号の下位ビットと、上記入力論理反転回路を介して伝達された上記アドレス信号の下位ビットとの伝達経路を、上記アドレス信号の最上位ビットの論理値に応じて決定する請求項1記載の情報処理装置。
- 上記メモリ部の記憶情報を用いた情報処理を可能とするCPUを含み、
上記CPUは、上記比較回路からの上記故障信号がアサートされた場合に所定の例外処理を実行する請求項1記載の情報処理装置。 - 上記メモリ部の記憶情報を用いた情報処理を可能とするCPUと、
上記比較回路からの上記故障信号に基づいて上記CPUに対する割り込み要求信号を発生させる割り込み制御回路と、を含み、
上記メモリ部、上記CPU、及び上記割り込み制御回路は、バスを介して互いに結合されて成る請求項1記載の情報処理装置。 - 上記入力論理反転回路は、テスト切替信号に応じて、上記アドレス信号を取込む第1テストモードと、
上記デコーダの外部から取り込まれたテスト入力信号を、上記アドレス信号に代えて上記第1選択回路に供給する第2テストモードと、を含む請求項2記載の情報処理装置。 - 複数のワード線を有するメモリ部と、
アドレス信号をデコードすることで、上記ワード線を選択するための選択信号を形成可能なデコーダと、を含み、上記メモリ部の記憶情報を用いた情報処理を可能とする情報処理装置であって、
上記デコーダは、入力されたアドレス信号をデコードするためのデコード回路と、
上記デコード回路から出力された1対の出力信号の論理を比較することで、上記デコーダにおけるデコード機能の故障判定を可能とする故障信号を形成する比較回路と、を含むことを特徴とする情報処理装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008242236A JP2010073285A (ja) | 2008-09-22 | 2008-09-22 | 情報処理装置 |
Applications Claiming Priority (1)
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JP2008242236A JP2010073285A (ja) | 2008-09-22 | 2008-09-22 | 情報処理装置 |
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Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010073285A true JP2010073285A (ja) | 2010-04-02 |
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ID=42204913
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JP2008242236A Withdrawn JP2010073285A (ja) | 2008-09-22 | 2008-09-22 | 情報処理装置 |
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JP (1) | JP2010073285A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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US9798600B2 (en) | 2014-09-29 | 2017-10-24 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor memory device |
-
2008
- 2008-09-22 JP JP2008242236A patent/JP2010073285A/ja not_active Withdrawn
Cited By (3)
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US10120741B2 (en) | 2014-09-29 | 2018-11-06 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor memory device |
US10360091B2 (en) | 2014-09-29 | 2019-07-23 | Renesas Electronics Corporation | Semiconductor memory device |
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