JP5185342B2 - 受動素子が内蔵された印刷回路基板の検査方法 - Google Patents
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Description
図2に示すように、受動素子が接続されておらず、単に伝送線のみで構成されたネットワークの場合、電気検査の主な観点は、導体伝送線のネットワークが設計通りによく構成されているか否かにある。したがって、図2の(b)に示すように、同一ネットに接続している検査点間は、定電流及び定電圧を印加した後に発生する電圧及び電流を測定して抵抗で開放(Open)可否を判断し、異なるネットに接続している検査点間も同じ方法で抵抗を測定して短絡(Short)可否を判断する。
図3に示すように、伝送線に1つの受動素子が接続された場合、電気検査の主な観点は、受動素子の電気的な性能検証及び伝送線路の連続性の可否である。しかし、伝送線路の連続性に問題があると、測定される受動素子の特性にも大きな影響を及ぼすため、受動素子の電気的な特性を検査するだけで、伝送線路の連続性検査として代替することができる。
図4に示すように、複数の受動素子が直列または並列に接続されている構造の場合、電気検査の主な観点は、各受動素子の電気的な性能検証と受動素子に接続している伝送線の電気的無欠性の可否である。レベル2と同様に、伝送線路の連続性に問題があると、測定される受動素子の特性にも大きな影響を及ぼすため、受動素子の電気的な特性を検査するだけで、伝送線路の連続性の検査として代替することができる。
図5は、複数の受動素子が直列及び/または並列に構成され、システム内で信号フィルタ(Signal Filter)の役割をする場合の測定方法を示している。このような構造の場合、検査の主な観点は、個別受動素子の電気的な性能よりも、この回路で達成しようとする信号処理の結果である。
図6は、検査フローを示している。検査フローは、レベル1―>レベル2―>レベル3―>レベル4の順に行われるのが好ましい。ただし、順序を相互変更して行っても構わない。これは、全体回路に対する接続状態に相関関係がないからである。
TP1、TP2、TP3、TP4 検査点
Claims (2)
- 受動素子が接続されていない伝送線に対して開放または短絡可否を検査する工程と、
1つまたはそれ以上の受動素子が接続されている伝送線に交流電源を印加して合成インピーダンスを測定する工程と、
前記測定された合成インピーダンスと設計値とを比較する工程と、
前記受動素子のフィルタの特性を測定する工程と、を含み、
前記測定されたフィルタの特性が、挿入損失、帯域幅、スカート特性、ノイズレベル、S−パラメータのうちのいずれか1つであることを特徴とする受動素子が内蔵された印刷回路基板の検査方法。 - 抵抗、インダクタ、キャパシタのうちの2つ以上を含むフィルタが内蔵された印刷回路基板に交流電源を印加する工程と、
前記印加された交流電源に対する前記フィルタの特性を測定する工程と、
測定された前記フィルタの特性と設計値を比較して前記印刷回路基板に異常があるか否かを判別する工程と、
をさらに含むことを特徴とする請求項1に記載の受動素子が内蔵された印刷回路基板の検査方法。
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