KR950015175B1 - 회로파형 검사장치 - Google Patents

Abstract

내용 없음.

Description

회로파형 검사장치

제1도는 본 발명 회로파형 검사장치가 접속되는 상태를 보인 접속상태도.

제2도는 본 발명의 회로파형 검사장치의 전체블럭도.

제3도는 본 발명에 적용되는 신호발생기의 상세블럭도.

* 도면의 주요부분에 대한 부호의 설명

1 : 검사하고자 하는 회로기판 1' : 양호한 회로기판

2 : 회로파형 검사장치 3 : 오실로스코프

가 : 단선단락검사부 나 : 표시신호출력부

다 : 양호불량검사부 라 : 출력모드선택부

본 발명은 회로파형 검사장치에 관한것으로, 특히 각종 전자회로의 단선단락 유무 및 고장위치검사와 각종 회로 부품의 특성파형을 분석하여 불량 유무를 별도의 전원 인가없이 간단 용이하게 검사해낼 수 있도록한 회로파형 검사장치에 관한 것이다.

종래의 회로검사장치로는 대부분이 오실로스코프나 테스터를 이용한 특성파형분서과 회로의 단선 단락유무 및 회로의 부품등의 불량유무상태를 검사하게 되는바, 상기와 같은 이용되는 오실로스코프의 경우, 검사하고자 하는 회로나 부품의 특성도를 미리 알고 있는 상태에서 검사회로나 부품을 검사하여 나타난 파형이나 특성도를 보고, 회로나 부품의 이상유무 및 불량상태를 검사하였고, 또한 테스터 경우에는 계기판상에 나타나는 지침으로 검사를 하게 된다.

그러나 상기의 오실로스코프나 테스터의 경우, 측정할 회로나 부품을 기준회로나 부품과 비교하여 검사하도록 되어 있지 않아 측정할 회로나 부품의 특성에 대하여 전문지식을 가지지 않으면 실질적으로 상기의 회로나 부품의 이상유무나 불량상태를 검사해낼수 없을 뿐만 아니라, 상기 오실로스포프트는 검사시에 별도의 전원을 검사될 회로나 부품에 인가시켜야만 검사상태가 디스플레이 되게 되어 있어 별도의 전원인가로 인한 불필요한 전력을 낭비시키게 되고, 또한 상기테스터의 경우에는 상기검사될 회로나 부품에 별도의 전원을 인가시키지는 않지만, 테스터의 기능특성상 검사하고자 하는 회로나 부품에 있어, 검사대상 및 검사범위의 한계를 가지게 되는 문제점을 가지고 있었다.

따라서 본 발명의 목적은 검사하고자 하는 수동 및 능동회로소자, 부품이 취부된 회로기판에 별도의 전원을 인가시키지 않은 상태에서 차례로 검사해 나가면서, 회로기판상의 부품 불량 유무 및 회로패턴의 단선단락유무 그리고 고장상태를 신속하면서 정확하게 검사해낼수 있는 회로검사장치를 제공하고자 하는데 있으며, 본 발명의 다른 목적은 검사하고자 하는 회로부품과 회로기판을 양호한 회로부품과 회로기관의 동시에 비교하여 가면서, 이상유무를 즉시 검사해낼 수 있도록 함으로써, 전문적인 지식이 없는 사람도 이상 및 불량상태를 간편하게 검사해낼수 있는 사용상에 편리함을 제공해 주는데 있다.

상기의 목적을 실현하기 위하여 본 발명은 검사하고자 하는 회로기판이나 부품의 단선단락 유무를 검사하는 단선단락 검사부와, 상기 단선단락 검사부의 단선신호를 소정의 선택신호에 의하여 출력시켜 표시되도록 하는 표시신호출력부와, 상기 단선단락검사부에 단락신호만의 차를 비교하여 양호한 불량상태를 표시하게 되는 양호불량검사부와, 상기 표시신호출력부의 출력신호모드를 선택하는 출력모드선택부로 구성한 것이다.

이하 첨부된 도면에 의거 본 발명을 상세히 설명하면 다음과 같다.

제1도는 본 발명 회로검사장치가 접속되는 상태를 보인 것으로, 1은 검사될 회로기판 또는 회로부품이고, 1'은 정상회로기판 또는 회로부품이다.

2는 회로검사장치로서, 상기 검사될 회로기판, 회로부품(1)과 양호환 회로기판 또는 회로부품(1')으로 감지된 신호를 소정의 기준신호에 의하여 비교 검사한후, 이를 선택신호에 의하여 검사된 상태를 표시할 수 있는 신호를 출력시키게 된다.

3은 오실로스코프로서, 상기 회로검사장치(2)로부터 출력된 신호를 리사쥬파형으로 표시하게 된다.

제2도는 본 발명 회로검사장치의 전체블럭도로서, 검사하고자하는 회로기판이나 부품(1) 및 양호한 회로기판이나 부품(1')으로부터 단선단락상태를 검사하는 단선단락 검사부(가)와, 상기 단선단락 검사부(가)로부터의 단선단락신호를 선택신호에 의하여 출력시키는 표시신호출력부(나)와, 상기 단선단락 검사부(가)의 단락신호의 차신호만을 비교하여 정상불량 상태를 표시하는 양호불량검사부(다)와, 상기 표시신호출력부(나)의 출력신호모드로 선택하는 출력모드 선택부(라)로 구성되며, 상기 단선단락검사부(가)는 채널(C)(D)각각을 통해서 외부의 입력신호로부터 회로를 보호하는 입력보호회로(10)(11)와, 상기 입력보호회로(10)(11)로부터 입력된 신호를 소정의 기본신호 파형을 발생시키는 신호발생부(12)의 신호와를 비교하여, 상기 입력된 신호를 감지하는 신호감지부(13)(14)와, 상기 신호감지부(13)(14)각각으로부터 감지된 신호를 자체부하와의 매칭 및 불필요한 신호를 차단하여 소정의 절대값만을 출력시키는 플로팅증폭부(15)(16)(17)(18)와, 상기 플로팅증폭부(15)(16)(17)(18)로부터 출력되는 절대값신호(XA)(YA)(XB)(YB)로 단선단락을 검사하는 단선단락검출부(19)(20)(21)(22)와, 상기 단선단락검출부(19)(20)(21)(22)로부터 검출된 신호를 소정의 기준신호를 발생시키는 기준전압부(23)로부터의 기준신호와 비교하여 비교된 단선단락신호를 출력시키는 비교부(24)(25)와, 상기 비교부(24)(25)의 출력신호에 따라 그에 해당하는 신호의 램프를 점등시키는 램프표시부(26)(27)로 구성된다.

상기 표시신호출력부(나)는 상기 단선단락검사부(가)의 플로팅증폭부(15)(16)로부터 소정의 절대값(XA)(YA)과, 플러팅증폭부(17)의 소정의 절대값(XB)의 신호를 소정의 기준전압부(28)로부터의 기준전압으로 바이어스를 조정하는 가산기(29)를 통해서 조정된 절대값(XB)과, 상기 플로팅증폭부(18)로부터의 소정의 절대값(YB)을 스위칭하는 스위칭부(30)와, 상기 스위칭부(30)로부터 스위칭된 신호를 선택하는 모드선택부(31)와, 상기 모드선택부(31)로부터 신호를 증폭하는 증폭부(32)(33)로 구성된다.

상기 양호불량검사부(다)는 상기 단선단락검사부(가)의 단락신호(YA)(YB)만을 입력하여 이 입력된 신호의 차를 구하고 이 구해진 신호를 상기 표시신호출력부(나)의 모드선택부(31)에 입력시키는 차신호 증폭부(34)와, 상기 차신호증폭부(34)로부터 차신호를 소정의 기준비율을 발생시키는 비율 조정기(36)로부터의 비율과 비교하여 비교된 신호를 출력시키는 비교부(35)와, 상기 비교부(35)로부터 비교된 신호를 양호 불량 상태를 표시하는 표시부(37)로 구성된다.

상기 출력모드선택부(라)는 상기 기준전압부(28)로부터의 신호주기를 소정의 시간으로 설정하여 파형을 동기시키는 스캔발생기(38)와, 상기 스캔발생기(38)로부터의 스캔신호의 파형으로부터 액츄성분을 필터링하여 필터링된 신호를 출력시키는 파형정형기(39)와, 표시하고자하는 모드를 선택하는 모드선택기(41)와, 상기 모드선택기(41)로부터 선택된 신호의 노이즈를 필터링하는 노이즈필터회로(42)와, 상기 노이즈필터회로(42)로부터의 신호와 상기 파형정형기(39)로부터의 신호와를 모드 조정하여 이 조정된 모드신호를 상기 표시신호출력부(나)의 스위칭부(30)와 상기 모드선택부(31)를 제어하는 모드조정부(40)로 구성하여서 된 것이다.

제3도는 본 발명에 적용되는 신호발생부의 상세블럭도로서, 발진신호를 출력시키는 발진기(50)와, 상기 발진기(50)로부터 출력되는 발진신호를 카운트하는 카운터(51)와, 상기 카운터(51)로부터 카운트된 신호를 펄스폭변조하는 펄스폭변조기(52)와, 상기 펄스폭변조기(52)로부터 변조된 디지탈 신호를 아날로그신호로 변환하는 디지탈아날로그변환기(53)와, 상기 아날로그신호로부터 전류 신호를 전압신호로 변환하는 전류전압변환기(54)와, 상기 변화된 전압신호를 평활시키는 필터회로(55)와, 상기 필터링된 신호를 증폭하는 증폭기(56)와, 상기 증폭된 신호를 분리 출력시키는 디바이더(57)로 구성하여, 상기 입력보호회로(13)(14)로부터 출력되는 신호를 비교, 감지하도록 한것이다.

상기와 같이 구성하여서된 본 발명의 작용효과를 설명하면 다음과 같다.

먼저 회로검사장치(2)를 오실로스코프(3)와 연결하고, 이어서 회로검사장치(2)의 채널(C)(D)과 연결된 프로우브(A)(B) 각각을 검사하고자 하는 회로기판이나 부품(1)과 양호한 회로기판이나 부품(1')을 접속시키고, 상기 회로검사장치(2)에 전원을 인가시키면, 상기 회로검사장치(2)는 구동하면서 검사를 하게 되는데, 이때 예를들어 검사하고자 하는 것이 회로기판인 경우, 상기 프로우브(A)를 검사하고자 하는 회로기판(1)에 프로우브(B)를 양호한 회로기판(1')에 접속을 한다.

상기와 같이 접속을 하게 되면, 회로검사장치(2)에 채널(C)(D)를 통해서, 회로기판(1)(1')로부터 부하임피던스신호가 입력보호회로(10)(11)에 각각 입력되고, 이 입력된 신호에서 과부하신호 기타 외부잡음신호는 제거되어 신호감지부(13)(14)에 각각 입력되게 된다.

따라서 상기 신호감지부(13)(14)에서는 상기 입력보호회로(10)(11)에서 입력된 신호와 정확한 신호감지를 위하여 소정의 기준파형을 발생시키는 신호발생부(12)로부터의 기준신호와 비교하여 상기 각 채널(C)(D)에 따른 단선단락유무를 감지할 수 있도록 분리하여 신호를 출력시킨다.

상기와 같이 각각 분리된 감지신호는 플로팅증폭기(15)(16)(17)(18) 각각을 통해서 절연분리하면서 소정의 절대값 신호만을 통과시킨 단선단락신호(XA)(YA)(XB)(YB)를 단선단락검출부(19)(20)(21)(22)로 입력시키면서, 상기 단선단락검출부(19)(20)(21)(22)에서는 상기 플로팅증폭기(15)(16)(17)(18)로부터 입력되는 신호에서 회로기판(1)(1')의 단선단락상태를 검출하고 검출된 신호를 비교부(24)(25)에서 기준전압부(23)로부터 입력되는 소정의 기준전압과 비교하여 비교결과에 따른 신호를 램프표시부(26)(27)를 통해서 단선, 단락램프를 점등시켜, 상기 회로기판(1)(1')의 단선, 단락유무를 표시해주게 되는데, 이때 상기 신호감지부(13)(14)에서 감지된 신호가 단락인 경우 감지된 신호는 플로팅증폭기(16)(18), 단락검출부(20)(22)와 비교부(24)(25) 각각을 통해서 램프표시부(26)(27)로 단락상태임을 표시해 주게 된다.

한편, 상기 단선단락검사부(가)의 프로팅증폭기(15)(16)(17)(18)로부터의 단선단락신호(XA)(YA)(XB)(YB)는 표시신호출력부(나)의 스위칭부(30)에 입력되게 되는데, 이때 상기 단선단락신호(XA)(YA)(XB)(YB)중 단선신호(XB)는 기준전압부(28)의 기준전압을 기준하여 상기 오실로스코프(3)의 디스플레이상에 X축 방향을 좌우이동 조정하는 가산기(29)를 통해서 입력시킴과 아울러, 상기 각 채널(C)(D)의 단선단락신호 (XA)(YA)(XB)(YB)중 단락신호(YA)(YB)는 양호불량표시부(다)의 차신호증폭부(34)에 입력시키게 된다.

이와같이 표시신호출력부(나)와 양호불량표시부(다)에 입력된 상기 단선단락신호(XA)(YA)(XB)(YB)와 단락신호(YA)(YB)들은 출력모드선택부(라)의 모드조정기(40)에 의하여 설정된 모드로 상기 스위칭부(30), 모드선택부(31)가 스위칭선택되면서, 증폭부(31)(32)를 통해서 오실로스코프(3)에 선택된 모드에 해당하는 채널(C), 채널(D), 차신호모드(Diff), 이중모드(Dual)로 표시해 주게 되는데, 즉 상기 모드조정기(40)는 모드선택기(41)를 통해서, 상기 각 채널모드(C)(D), 차신호모드(Diff), 2중모드(Dual)중 어느하나가 선택된 채 노이즈필터의 회로(42)를 통해서 노이즈가 제거된 모드신호가 입력되게 되면, 상기 모드조정기(40)에서는 기존전압부(28)로부터 기준전압 파형의 타이밍을 조정하는 스캔발생기(38)와, 파형정형기(39)를 통해서 파형 정형되어 입력되는 신호를 조정하여 조정된 신호로 상기 스위칭부(30), 모드선택부(31) 각각을 제어함으로써 오실로스코프(3)을 통해서 리사쥬파형을 보고 검사될 회로기판과 양호한 회로기판의 검사상태를 표시해주게 되어, 이 리사쥬파형을 보고 검사될 회로기판의 이상유무를 판별할 수 있게 되는 것이다.

이때 상기 양호불량표시부(다)에서는 상기 모드조정부(40)에 관계없이 차신호층폭기(34)가 상기 입력되는 단락신호(YA)(YB)로부터 차신호를 검출 증폭한 후 비교기(35)를 통해서 비율조정기(36)에서 조정된 소정의 비율과를 비교하여 비교결과로서 양호불량표시부(37)를 통해서 검사되는 회로기판(1)의 양호불량상태를 판별하게 되는 것이다.

이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은 검사하고자 하는 회로기판과 양호한 회로기판을 별도의 전원인가없이 동시에 비교검사하고 이 검사되는 상태를 오실로스코프를 이용한 리사쥬파형으로 표시하되, 표시된 파형을 모드선택에 따라 서로 비교해 가면서 차등, 또는 이중 그리고 선택적으로 표시토록 함으로써 검사되는 회로기판의 양호, 불량상태를 신속하고도 간편하게 검사해낼수 있고, 뿐만 아니라 회로부품의 경우 하나의 채널 또는 두개의 채널을 이용하여 단선, 단락유무를 비교판단하면서 간단용이하게 검사해낼 수 있는 장점을 제공하게 되는 것이다.

Claims (1)

1. 회로기판이나 회로부품의 이상유무를 파형으로 검사할 수 있는 회로파형 검사장치에 있어서, 검사하고자 하는 회로기판 또는 부품(1)과 양호한 회로기판 또는 부품(1')을 접속하여 신호 발생부(12)의 신호를 기준으로 부하를 감지, 비교하여 단선단락유무를 검사하는 단선단락검사부(가)와, 상기 단선단락검사부(가)의 단선단락신호를 소정의 선택신호에 의해 선택된 모드로 출력하여 리샤쥬파형으로 표시하는 표시신호출력부(나)와, 상기 단선단락검사부(가)에서 단락신호의 차를 소정의 비율과 비교하여 양호, 불량상태를 표시하는 양호불량검사부(다)와, 상기 표시신호출력부(나)에 출력모드를 선택하는 출력모드선택부(라)로 구성하여서된 것을 특징으로 하는 회로파형검사장치.