CN103954854B - 一种对pogo pin电气性能进行测试的方法及装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种对pogo pin电气性能进行测试的方法及装置，本发明的装置包括上PCB夹板、下PCB夹板、pogo pin、测试设备以及用于消除上PCB夹板和下PCB夹板影响的PCB校验板，所述上PCB夹板通过pogo pin与下PCB夹板连接，所述上PCB夹板和下PCB夹板均还与测试设备连接。本发明的装置解决了现有技术无法准确对pogo pin进行电气性能测试的问题，可以很方便地对pogo pin的电气性能参数进行测试，使我们更加准确和快速地知道pogo pin本身的电气性能，从而能使pogo pin更好应用于IC的测试。本发明可广泛应用于集成电路测试领域。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路测试领域，尤其是一种对pogo pin电气性能进行测试的方法及装置。
背景技术
pogo pin（探针式连接器）是一种应用于手机等电子产品中的精密连接器，广泛应用于半导体设备中，起连接作用。
随着电子行业的发展，各种电路都趋于采用集成化的方式，IC的封装也越来越小。在集成电路行业，经常需要进行IC电气性能的测试，以判断IC的好坏，这时为了测试方便就会用到pogo pin。然而，pogo pin的性能在一定程度上会影响到IC测试结果的正确性，因此在测试前需要清楚而准确地知道pogo pin本身的性能参数（包括结构、使用性能和电气性能参数）。目前，业内仅能对pogo pin进行结构和使用性能方面进行测试，而无法对pogopin进行电气性能测试（因为pogo pin的体积小，很少有电气测试设备能直接接到pogo pin的针脚上）。因此，在对IC进行电气性能测试时，有时候可能是由于pogo pin的电气性能不好而导致测试结果不准确，使好的IC测试出来的电性能却是不好的。
综上所述，业界亟需一种能准确对pogo pin进行电气性能测试的方法及装置。
发明内容
为了解决上述技术问题，本发明的目的是：提供一种准确、方便和快速的，对pogopin电气性能进行测试的方法。
本发明的另一目的是：提供一种准确、方便和快速的，对pogo pin电气性能进行测试的装置。
本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：一种对pogo pin电气性能进行测试的方法，包括：
A、设计与上PCB夹板和下PCB夹板相对应的PCB校验板；
B、对PCB校验板进行TRL校准，从而将上PCB夹板和下PCB夹板的电气性能参数归零；
C、对由pogo pin、上PCB夹板和下PCB夹板组成的待测试模块进行电气性能测试，从而得到pogo pin的电气性能参数，所述上PCB夹板通过pogo pin与下PCB夹板连接。
进一步，所述步骤B，其具体为：
通过网络分析仪的TRL设置对PCB校验板的每一项电气性能参数进行校验，从而将上PCB夹板和下PCB夹板的电气性能参数归零。
进一步，所述电气性能参数包括频率、相位、阻抗、时延和损耗。
本发明解决其技术问题所采用的另一技术方案是：
一种对pogo pin电气性能进行测试的装置，包括上PCB夹板、下PCB夹板、pogopin、测试设备以及用于消除上PCB夹板和下PCB夹板影响的PCB校验板，所述上PCB夹板通过pogo pin与下PCB夹板连接，所述上PCB夹板和下PCB夹板均还与测试设备连接。
进一步，所述上PCB夹板和下PCB夹板均设置有与测试设备连接的SAM头。
进一步，所述PCB校验板还连接有用于进行TRL校验设置的网络分析仪。
进一步，所述PCB校验板上设置有一根Thru线、两根Load线、四根match线和一根Open线。
本发明的方法的有益效果是：基于高精度的TRL去嵌技术，解决了现有技术无法准确对pogo pin进行电气性能测试的问题，可以很方便地对pogo pin的电气性能参数进行测试，使我们更加准确和快速地知道pogo pin本身的电气性能，从而能使pogo pin更好应用于IC的测试。
本发明的装置的有益效果是：包括上PCB夹板、下PCB夹板、pogo pin、测试设备以及用于消除上PCB夹板和下PCB夹板影响的PCB校验板，解决了现有技术无法准确对pogopin进行电气性能测试的问题，可以很方便地对pogo pin的电气性能参数进行测试，使我们更加准确和快速地知道pogo pin本身的电气性能，从而能使pogo pin更好应用于IC的测试。
附图说明
下面结合附图和实施例对本发明作进一步说明。
图1为本发明一种对pogo pin电气性能进行测试的方法的步骤流程图；
图2为本发明一种对pogo pin电气性能进行测试的装置的结构示意图。
附图标记：1、上PCB夹板；2、下PCB夹板；3、pogo pin；4、SAM头。
具体实施方式
参照图1，一种对pogo pin电气性能进行测试的方法，包括：
A、设计与上PCB夹板和下PCB夹板相对应的PCB校验板；
B、对PCB校验板进行TRL校准，从而将上PCB夹板和下PCB夹板的电气性能参数归零；
C、对由pogo pin、上PCB夹板和下PCB夹板组成的待测试模块进行电气性能测试，从而得到pogo pin的电气性能参数，所述上PCB夹板通过pogo pin与下PCB夹板连接。
本发明将现有的高精度TRL去嵌技术应用到pogo pin的电气性能测试参数上，通过对PCB校验板进行TRL校验，将上PCB夹板和下PCB夹板的电气性能参数归零。TRL校验校准后，再通过测试设备对测试待测模块进行电气性能参数进行测试，就相当于直接从pogopin的位置开始算起，此时，测试设备得到的值即为pogo pin的电气性能参数（因上PCB夹板和下PCB夹板的电气性能参数已归零）。
进一步作为优选的实施方式，所述步骤B，其具体为：
通过网络分析仪的TRL设置对PCB校验板的每一项电气性能参数进行校验，从而将上PCB夹板和下PCB夹板的电气性能参数归零。
参照图2，进一步作为优选的实施方式，所述步骤C，其包括：
C1、采用网络分析仪对PCB校验板进行TRL校准，从而得到上PCB夹板和下PCB夹板的电气性能测试参数以及测量误差；
C2、根据上PCB夹板和下PCB夹板的电气性能测试参数、测量误差与待测模块的电气性能测试结果计算出pogo pin的电气性能参数。
其中，网络分析仪，用于对PCB校验板进行TRL设置，从而对PCB校验板的每一项参数进行TRL校验。而PCB校验板是根据上PCB夹板和下PCB夹板而设计的，因此，TRL校准完成后，PCB校验板的每一项参数归零即上PCB夹板和下PCB夹板的电气性能参数归零。
进一步作为优选的实施方式，所述电气性能参数包括频率、相位、阻抗、时延和损耗。
参照图2，一种对pogo pin电气性能进行测试的装置，包括上PCB夹板1、下PCB夹板2、pogo pin 3、测试设备以及用于消除上PCB夹板1和下PCB夹板2影响的PCB校验板，所述上PCB夹板1通过pogo pin3与下PCB夹板2连接，所述上PCB夹板1和下PCB夹板2均还与测试设备连接。
其中，上PCB夹板和下PCB夹板，用于将pogo pin夹在块夹板的中间。
测试设备，用于对由上PCB夹板、pogo pin和下PCB夹板构成的待测试模块的电气性能进行测试，从而得到待测试模块的电气性能参数。
经过PCB校验板消除上PCB夹板和下PCB夹板影响（即对上PCB夹板和下PCB夹板的电气性能参数进行归零）后，再通过测试设备对待测试模块进行测试，测试得到的结果即为pogo pin的电气性能参数。
参照图2，进一步作为优选的实施方式，所述上PCB夹板1和下PCB夹板2均设置有与测试设备连接的SAM头4。
参照图2，进一步作为优选的实施方式，所述PCB校验板还连接有用于进行TRL校验设置的网络分析仪。
其中，网络分析仪，用于通过其上的TRL设置按钮对PCB校验板进行TRL设置，对PCB校验板的每一项参数进行TRL校验，从而上PCB夹板和下PCB夹板的电气性能参数进行归零。
进一步作为优选的实施方式，所述PCB校验板上设置有一根Thru线、两根Load线、四根match线和一根Open线。
其中，PCB校验板会经过TRL校准而把测试的误差项（即上PCB夹板和下PCB夹板的电气性能参数）计算掉，TRL校准的过程中会测算三组数据，THRU、REFLECT和Match。THRU就是Thru线的数据，REFLECT指的是open线的数据，Match指的是load、line1、line2和line3线的数据。load针对的是低频段的校验，而高频段则用line1、line2、line3来校验，只需保证每一段的最高频率与最低频率之比小于8即可。具体的TRL校准处理过程为：通过网络分析仪中的TRL校验设置按钮，对PCB校验板上的每一项进行测试校验。因为PCB校验板是按照上PCB夹板和下PCB夹板进行设计的，所以通过对校验板的每项参数的校验之后，再通过测试设备测试待测模块时，就相当于测试设备的测试探头直接连接在pogo pin上，这样得到的值就是pogo pin的电气性能参数。
本发明与现有技术相比，通过采用高精度的TRL去嵌技术和PCB校验板，消除上PCB夹板和下PCB夹板影响，从而能准确、快速和方便地得到pogo pin的电气性能参数，解决了现有技术无法准确对pogo pin进行电气性能测试的问题，更方便了pogo pin在IC电气性能测试上的应用。使用本发明的测试装置和测试方法后，相关工作人员能够很方便、快速、准确和直观地得到pogo pin本身的电气性能参数。
以上是对本发明的较佳实施进行了具体说明，但本发明创造并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本发明精神的前提下还可做作出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。
Claims (7)
1.一种对pogo pin电气性能进行测试的方法，其特征在于：包括：
A、设计与上PCB夹板和下PCB夹板相对应的PCB校验板；
B、对PCB校验板进行TRL校准，从而将上PCB夹板和下PCB夹板的电气性能参数归零；
C、对由pogo pin、上PCB夹板和下PCB夹板组成的待测试模块进行电气性能测试，从而得到pogo pin的电气性能参数，所述上PCB夹板通过pogo pin与下PCB夹板连接。
2.根据权利要求1所述的一种对pogo pin电气性能进行测试的方法，其特征在于：所述步骤B，其具体为：
通过网络分析仪的TRL设置对PCB校验板的每一项电气性能参数进行校验，从而将上PCB夹板和下PCB夹板的电气性能参数归零。
3.根据权利要求1或2所述的一种对pogo pin电气性能进行测试的方法，其特征在于：所述电气性能参数包括频率、相位、阻抗、时延和损耗。
4.一种对pogo pin电气性能进行测试的装置，其特征在于：包括上PCB夹板（1）、下PCB夹板（2）、pogo pin（3）、测试设备以及用于消除上PCB夹板（1）和下PCB夹板（2）影响的PCB校验板，所述上PCB夹板（1）通过pogo pin（3）与下PCB夹板（2）连接，所述上PCB夹板（1）和下PCB夹板（2）均还与测试设备连接。
5.根据权利要求4所述的一种对pogo pin电气性能进行测试的装置，其特征在于：所述上PCB夹板（1）和下PCB夹板（2）均设置有与测试设备连接的SAM头（4）。
6.根据权利要求4所述的一种对pogo pin电气性能进行测试的装置，其特征在于：所述PCB校验板还连接有用于进行TRL校验设置的网络分析仪。
7.根据权利要求4-6任一项所述的一种对pogo pin电气性能进行测试的装置，其特征在于：所述PCB校验板上设置有一根Thru线、两根Load线、四根match线和一根Open线。
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