JP5149090B2 - 加工装置 - Google Patents

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本発明は、半導体ウエーハ等のウエーハに研削加工及び研磨加工を施す加工装置に関するものである。
半導体ウエーハは、近年の各種電子機器の小型化・薄型化に伴い、より一層の薄型化が求められている。そのため、半導体ウエーハの厚さが例えば100μm以下と薄くなった場合、チップ化した後の強度維持が問題になっている。そこで、研削加工を行った後に加工面をポリッシュやエッチングすることで、研削加工による機械的ダメージを除去する技術が用いられ、研削加工と研磨加工との両方の加工を行えるようにした加工装置も提案されている(例えば、特許文献1参照)。
ここで、研削加工を行う雰囲気中では、加工点を冷却し加工屑を排出する研削水が使用されるために噴霧が発生し、研磨加工を行う雰囲気中では加工を行う研磨パッドの研磨屑が発生する。
特開2001−252853号公報
しかしながら、加工雰囲気中で発生するこれら噴霧と研磨屑は、一体になると濃くて粘り気の強い物体となるため、共通な1つのダクトで排気を行うとダクト内壁にこの物体がこびり付いてダクトに詰りが生じたりしてしまう。よって、噴霧用と研磨屑用との2つの排気装置を用いて排気を行う必要があり、装置構造が複雑化、大型化、高コスト化する等の弊害がある。
本発明は、上記に鑑みてなされたものであって、複数の排気装置を用いることなく研削加工を行う雰囲気中と研磨加工を行う雰囲気中の排気を支障なく行うことができる加工装置を提供することを目的とする。
上述した課題を解決し、目的を達成するために、本発明にかかる加工装置は、ウエーハを保持する保持手段と、該保持手段に対向して配設されて研削液を供給しながらウエーハを研削する研削砥石を有する研削手段と、前記保持手段に対向して配設されて乾式でウエーハを研磨する研磨パッドを有する研磨手段とを備え、前記保持手段に保持されたウエーハに研削加工及び研磨加工を施す加工装置であって、研削を行う研削領域及び研磨を行う研磨領域の排気を行う排気手段を備え、該排気手段は、吸引力を発生させる吸引口と、前記研削領域に設けられた第1の排出口に連通する第1のダクトと、前記研磨領域に設けられた第2の排出口に連通する第2のダクトと、前記第1のダクトに結合される第1の結合口と前記第2のダクトに結合される第2の結合口と前記吸引口に結合される第3の結合口とを有する連結ダクトと、を備え、前記第1の結合口及び前記第2の結合口は、前記第3の結合口の近傍に配置されていることを特徴とする。
また、本発明にかかる加工装置は、上記発明において、前記第2の結合口と前記第3の結合口は、一直線上に配置されていることを特徴とする。
本発明にかかる加工装置によれば、排気手段が、研削領域側に連通する第1のダクトに結合される第1の結合口と研磨領域側に連通する第2のダクトに結合される第2の結合口と吸引用の吸引口に結合される第3の結合口とを有する連結ダクトを備え、第1の結合口及び第2の結合口が第3の結合口の近傍に配置されているので、吸引口の直前位置まで研削による噴霧と研磨による研磨屑が第1,第2のダクトなる別のダクトで吸引されるため、一体とならずダクト内壁へのこびり付きが発生しにくくなり、よって、複数の排気手段を用いることなく研削加工を行う雰囲気中と研磨加工を行う雰囲気中の排気を支障なく行うことができるという効果を奏する。
以下、本発明を実施するための最良の形態である加工装置について図面を参照して説明する。図1は、本実施の形態にかかる加工装置の構成例を示す斜視図であり、図2は、加工領域カバーを省略して示す加工装置の構成例を示す斜視図であり、図3は、各部の位置関係等を示すレイアウト図である。
本実施の形態の加工装置1は、半導体ウエーハ等の円盤状のウエーハWの裏面を薄型化のために研削加工するとともに、研削加工されたウエーハWの研削面を高精度に平坦化するために研磨加工するものである。本実施の形態の加工装置1は、例えば、ハウジング2と、第1の研削手段3と、第2の研削手段4と、研磨手段5と、ターンテーブル6上に設置された例えば4つの保持手段7a〜7dと、カセット8,9と、位置合わせ手段10と、搬入手段11と、搬出手段12と、洗浄手段13と、搬出入手段14と、排気手段15とを主に備えている。
第1の研削手段3は、スピンドル3aの下端に装着された研削砥石3bを有する研削ホイール3cを回転させながら保持手段7bに保持されたウエーハWの裏面(上面)に押圧することによって、ウエーハWの裏面を粗研削加工するためのものである。このような粗研削に際しては、加工点を冷却し加工屑を排出させるために研削水が使用される。同様に、第2の研削手段4は、スピンドル4aの下端に装着された研削砥石4bを有する研削ホイール4cを回転させながら保持手段7cに保持された粗研削済みのウエーハWの裏面に押圧することによって、ウエーハWの裏面を仕上げ研削加工するためのものである。このような仕上げ研削に際しては、加工点を冷却し加工屑を排出させるために研削水が使用される。
また、研磨手段5は、スピンドル5aの下端に装着された研削パッド5bを回転させながら保持手段7dに保持された仕上げ研削済みのウエーハWの裏面に押圧することによって、ウエーハWの裏面を研磨加工するためのものである。
ターンテーブル6は、ハウジング2の上面に設けられた円盤状のテーブルであり、水平面内で回転可能に設けられ、適宜タイミングで回転駆動される。このターンテーブル6上には、例えば4つの保持手段7a〜7dが、例えば90度の位相角で等間隔に配設されている。これら保持手段7a〜7dは、上面に真空チャックを備えたチャックテーブル構造のものであり、載置されたウエーハWを真空吸着して保持する。これら保持手段7a〜7dは、研削加工時及び研磨加工時には、回転駆動機構によって水平面内で回転駆動される。このような保持手段7a〜7dは、ターンテーブル6の回転によって、搬入搬出位置A、粗研削位置B、仕上げ研削位置C、研磨位置D、搬入搬出位置Aに順次移動される。
カセット8,9は、複数のスロットを有するウエーハ用の収容器である。一方のカセット8は、研削加工前のウエーハWを収容し、他方のカセット9は、研磨加工後のウエーハWを収容する。また、位置合わせ手段10は、カセット8から取り出されたウエーハWが仮置きされて、その中心位置合わせを行うためのテーブルである。
また、搬入手段11は、吸着パッドを有して水平面内で回転駆動される搬送アームからなり、位置合わせ手段10で位置合わせされた研削加工前のウエーハWを吸着保持して搬入搬出位置Aに位置する保持手段7a上に搬入する。搬出手段12は、吸着パッドを有して水平面内で回転駆動される搬送アームからなり、搬入搬出位置Aに位置する保持手段7a上に保持された研磨加工後のウエーハWを吸着保持して洗浄手段13に搬出する。
また、搬出入手段14は、例えばU字型ハンド14aを備えるロボットピックであり、U字型ハンド14aによってウエーハWを吸着保持して搬送する。具体的には、搬出入手段14は、研削加工前のウエーハWをカセット8から位置合わせ手段10へ搬出するとともに、研磨加工後のウエーハWを洗浄手段13からカセット9へ搬入する。洗浄手段13は、研磨加工後のウエーハWを洗浄し、研削及び研磨された加工面に付着している研削屑や研磨屑等のコンタミネーションを除去する。
さらに、排気手段15は、研削を行う研削領域E1に発生する噴霧と研磨を行う研磨領域E2に発生する研磨パッド5bの研磨屑を除去するための排気を行うためのものである。ここで、本実施の形態では、第1,第2の研削手段3,4によりウエーハWに対して研削を行うターンテーブル6上の保持手段7b,7c周りの領域が研削領域E1として設定され、研磨手段5によりウエーハWに対して研磨を行うターンテーブル6上の保持手段7d周りの領域が研磨領域E2として設定されている。そして、研削領域E1及び研磨領域E2に対応して少しでも閉塞的となる研削雰囲気及び研磨雰囲気を形成するようにターンテーブル6上を覆う平面的に略L字状に形成された加工領域カバー16がハウジング2上に設けられている。なお、加工領域カバー16には、第1,第2の研削手段3,4や研磨手段5のウエーハWに対する加工動作に支障を来たさないように上下方向の進退を許容する開口部が形成されている。
そして、排気手段15は、吸引口151と、第1のダクト152と、第2のダクト153と、連結ダクト154とを備えている。吸引口151は、図示しない負圧吸引源に連結された箱状の吸引部155の一部に開口形成されて、吸引力を発生させるためのものである。第1のダクト152は、研削領域E1の雰囲気中に臨ませて設けられた第1の排出口156に連通させてハウジング2周りに配設されたダクトである。ここで、第1の排出口156は、第1の研削手段3側と第2の研削手段4側との2箇所に設けられ、ともに第1のダクト152に連通している。また、第2のダクト153は、研磨領域E2の雰囲気中に臨ませて設けられた第2の排出口157に連通させて配設されたダクトである。
また、連結ダクト154は、第1のダクト152に結合される第1の結合口154aと第2のダクト153に結合される第2の結合口154bと吸引口151に結合される第3の結合口154cとを有する。ここで、連結ダクト154は、第1の結合口154a及び第2の結合口154bが第3の結合口154cの近傍に配置されるように短めに形成されている。この際、連結ダクト154は、第1の結合口154aと第3の結合口154cとは直交する向きとなるが、第2の結合口154bと第3の結合口154cとが一直線上に配置されるように形成されている。さらには、吸引口151(吸引部155)は、研磨領域E2の近傍に配置され、第2のダクト153の長さが極力短くなるように設定されている。
このような構成において、第1の研削手段3や第2の研削手段4によるウエーハWの研削加工時には、加工点を冷却し研削に伴う加工屑を排出させる研削水が使用されるため、研削領域E1に対応する研削雰囲気中には液体の噴霧が発生する。このような噴霧は、吸引口151に発生している吸引力に従い研削領域E1の第1の排出口156に連通する第1のダクト152及び連結ダクト154を介して吸引部155内に吸引され排気される。
一方、このようなウエーハWの研削加工に並行して、研磨領域E2では、保持手段7dに保持された研削済みのウエーハWに対して研磨手段5によって研磨加工が行われる。このような研磨加工時においては、研磨領域E2に対応する研磨雰囲気中には研磨パッド5bの研磨屑が発生する。このような研磨屑は、吸引口151に発生している吸引力に従い研磨領域E2の第2の排出口157に連通する第2のダクト153及び連結ダクト154を介して吸引部155内に吸引され排気される。
このようにして、研削に伴い発生する液体の噴霧と研磨に伴い発生する研磨屑は、ともに吸引口151から吸引部155内に吸引されることとなるが、本実施の形態では、連結ダクト154は短めに形成されて第1,第2の結合口154a,154bが第3の結合口154cの近傍に配置されるように構成されているので、吸引口151の直前まで、液体の噴霧と研磨屑は、それぞれ別の第1,第2のダクト152,153で吸引され、最後に連結ダクト154内で合流するだけである。よって、これら第1,第2のダクト152,153内では噴霧と研磨屑が一体となって濃くて粘り気の強い物体になることはなく、ダクト内壁へのこびり付きが発生しにくくなる。よって、複数の排気手段を用いることなく1つの排気手段15のみで、研削加工を行う雰囲気中と研磨加工を行う雰囲気中の排気を支障なく行うことができる。
特に、本実施の形態では、連結ダクト154において第2,第3の結合口154b,154cを一直線上に配置させているので、ダクト内壁に付着しやすい方の研磨パッド5bの研磨屑が連結ダクト154内においても内壁に殆ど触れることなく排気させることができ、その付着を防止することができ、ダクト詰りの発生を防止することができる。
本発明は、上述した実施の形態に限らず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲であれば、種々の変形が可能である。例えば、連結ダクト154に関して、本実施の形態では略T字状に形成したが、図4に示すように、第3の結合口154cを第1,第2の結合口154a,154bに対して均等の角度となるように略Y字状に形成してもよい。これによれば、吸引口151に対する噴霧と研磨屑の流れは略均等となり、双方ともスムーズに吸引排気される。特に、第3の結合口154c部分の径が第1,第2の結合口154a,154b部分の径に比べて大きければ、第1,第3の結合口154a,154cと第2,第3の結合口154b,154cとを、共に一直線上の配置に近づけることができる。
本発明の実施の形態にかかる加工装置の構成例を示す斜視図である。 加工領域カバーを省略して示す加工装置の構成例を示す斜視図である。 各部の位置関係等を示すレイアウト図である。 変形例として連結ダクト付近を示す平面図である。
符号の説明
1 加工装置
3,4 研削手段
3b,4b 研削砥石
5 研磨手段
5b 研磨パッド
7a〜7d 保持手段
15 排気手段
151 吸引口
152 第1のダクト
153 第2のダクト
154 連結ダクト
154a 第1の結合口
154b 第2の結合口
154c 第3の結合口
156 第1の排出口
157 第2の排出口
E1 研削領域
E2 研磨領域
W ウエーハ

Claims (2)

  1. ウエーハを保持する保持手段と、該保持手段に対向して配設されて研削液を供給しながらウエーハを研削する研削砥石を有する研削手段と、前記保持手段に対向して配設されて乾式でウエーハを研磨する研磨パッドを有する研磨手段とを備え、前記保持手段に保持されたウエーハに研削加工及び研磨加工を施す加工装置であって、
    研削を行う研削領域及び研磨を行う研磨領域の排気を行う排気手段を備え、
    該排気手段は、
    吸引力を発生させる吸引口と、
    前記研削領域に設けられた第1の排出口に連通する第1のダクトと、
    前記研磨領域に設けられた第2の排出口に連通する第2のダクトと、
    前記第1のダクトに結合される第1の結合口と前記第2のダクトに結合される第2の結合口と前記吸引口に結合される第3の結合口とを有する連結ダクトと、
    を備え、前記第1の結合口及び前記第2の結合口は、前記第3の結合口の近傍に配置されていることを特徴とする加工装置。
  2. 前記第2の結合口と前記第3の結合口は、一直線上に配置されていることを特徴とする請求項1に記載の加工装置。
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JP2001252853A (ja) * 2000-03-10 2001-09-18 Tokyo Seimitsu Co Ltd 平面加工装置
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