JP5144492B2 - 乾燥装置 - Google Patents

乾燥装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5144492B2
JP5144492B2 JP2008334532A JP2008334532A JP5144492B2 JP 5144492 B2 JP5144492 B2 JP 5144492B2 JP 2008334532 A JP2008334532 A JP 2008334532A JP 2008334532 A JP2008334532 A JP 2008334532A JP 5144492 B2 JP5144492 B2 JP 5144492B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
substrate
drying
drying apparatus
heating furnace
station
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008334532A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010157586A (ja
JP2010157586A5 (ja
Inventor
健司 岡田
雅文 平林
修司 山崎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shinko Electric Industries Co Ltd
Original Assignee
Shinko Electric Industries Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Shinko Electric Industries Co Ltd filed Critical Shinko Electric Industries Co Ltd
Priority to JP2008334532A priority Critical patent/JP5144492B2/ja
Publication of JP2010157586A publication Critical patent/JP2010157586A/ja
Publication of JP2010157586A5 publication Critical patent/JP2010157586A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5144492B2 publication Critical patent/JP5144492B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Drying Of Solid Materials (AREA)
  • Non-Metallic Protective Coatings For Printed Circuits (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)

Description

本発明は、配線基板等の基板に塗布されたソルダーレジスト等の塗膜を乾燥する乾燥装置に関する。
配線基板の最表層に形成された配線パターンは、通常、端子部を除いてソルダーレジスト層で被覆される。ソルダーレジスト層で被覆するのは、はんだ不要部分のはんだ付着の防止、配線パターンの保護、絶縁性の維持等のためである。
ソルダーレジスト層を形成するには、スクリーン印刷等によって基板の必要箇所にソルダーレジストを塗布し、次いで基板を加熱炉に搬入して、形成された塗膜を乾燥させ、その後露光工程へ移る。
また、ソルダーレジスト層を形成する場合、レジストを一度塗りする場合には厚みが不足したりピンホールが生じるため、レジストの二度塗りが行われる場合がある。この場合、基板表面側への1回めの塗布、乾燥を行い、次いで反転させ、基板の裏面側への1回目の塗布、乾燥を行い、次に基板裏面側への2回目の塗布、乾燥を行い、最後に再反転し、基板表面側への2回目の塗布、乾燥を行うという手順で、ソルダーレジストの塗布、乾燥が行われる。
そして、通常、バッチ式、すなわち、多段の載置棚を用意し、印刷装置にてレジストの印刷が終了した基板を人手により載置棚の各棚段に搬入し、載置棚ごと加熱炉に搬入して加熱、乾燥する方式である。しかし、このバッチ式の場合には、多大な人手を要するという課題がある。
特許文献1には、表面塗布装置、搬送コンベア、塗装乾燥装置、基板反転機、搬送コンベア、裏面塗布装置、搬送コンベア、乾燥・固化装置を一連に配置した全自動塗布・乾燥装置が開示されている。
この全自動機における上記の塗装乾燥装置および乾燥・固化装置は、搬送コンベアから基板を掬い上げて担持しつつ間欠的に上昇してから下降を行い、所定時間をかけて乾燥を行う構成のものとなっている。
特開平9−30622号公報
特許文献1のものでは、全自動でレジストの塗布、乾燥まで行える利点がある。
しかしながら、この特許文献1のものでは、全ラインを直線的に配置しているので、全体装置がきわめて大型化するという課題がある。
また、基板を搬送コンベアで搬送し、さらには塗装乾燥装置では、搬送コンベアから基板を掬い上げて担持しつつ間欠的に上昇してから下降を行うようにしているので、搬送時に基板に衝撃が加わりやすく、したがって、撓みが生じやすい薄物の基板へのレジストの塗布、乾燥には不向きであるという課題がある。
そこで、本発明は上記課題を解決すべくなされ、その目的とするところは、装置の小型化が可能で、また薄物の基板にも好適に適用できる乾燥装置を提供することにある。
本発明に係る乾燥装置は、基板に塗布された塗膜を乾燥する乾燥装置において、基板ホルダに基板を保持する基板保持ステーションと、基板受け渡しステーションと、該基板受け渡しステーションを挟んで前記基板保持ステーションの反対側に位置して、水平で直線的に配置された加熱炉と、前記基板ホルダを、前記基板保持ステーションから前記基板受け渡しステーションを経て前記加熱炉内に搬出入する搬送手段と、前記受け渡しステーションの上方に配置された冷却装置と、前記基板受け渡しステーションで基板を前記基板ホルダから受け取り、前記冷却装置に移動する移載装置と、前記移載装置から基板を側方の取り出し位置まで移動する取り出しテーブルとを具備することを特徴とする。
また、前記基板ホルダは、基台に水平に設けられたレールに沿って前記基板保持ステーションおよび前記基板受け渡しステーションおよび前記加熱炉を移動するシャトルアームと、基板の周縁部をクランプすることで保持するクリップと、を備え、前記クリップは、前記基台に固定された支持台上に配設されたクリップ開閉用シリンダにより自動開閉されることを特徴とする。
また、前記加熱炉は、前記基板受け渡しステーション側に搬送口を備え、前記搬送口は、前記基板ホルダが前記加熱炉に進入できる最小の大きさに形成されていることを特徴とする。
また、前記取り出しテーブルは、回転軸と、前記回転軸を中心に水平面内で回動する回動アームとを備え、前記冷却装置の下方位置と該下方位置の側方となる側方位置との間を移動することを特徴とする。
また、前記加熱炉は、前記基板を加熱する加熱装置を備え、前記加熱装置は、熱風吹き出しノズルと赤外線ヒータとからなることを特徴とする。
また、前記冷却装置は、前記移載装置を兼ねる可動部と、冷却空気が導入される固定部からなることを特徴とする。
また、上記いずれかの乾燥装置において、前記乾燥装置と隣接して配設される塗布装置をさらに具備し、前記塗布装置における基板入出口と前記乾燥装置における基板投入口とが隣接して位置するように、かつ、前記乾燥装置における基板取り出し位置と前記塗布装置における基板入出口とが隣接して位置するように複数の前記乾燥装置および前記塗布装置が併設されていることを特徴とする。
請求項1によれば、基板の乾燥と冷却とを並行して行えるので、基板の乾燥を効率よく行える。また薄物の基板にも好適に適用できる乾燥装置を提供できる。
また、請求項7によれば、ラインが直線的にならないので装置の小型化が図れ、また塗布機と乾燥装置との間の基板の移動が容易で作業効率の向上が図れる。
以下本発明の好適な実施の形態を添付図面を参照しつつ詳細に説明する。
図1は乾燥装置10の概略的な平面図、図2はその正面図である。図3は基板ホルダの平面図、図4は基板ホルダにて基板が保持された状態の説明図、図5は基板ホルダの投入テーブル上に基板が搬入された状態の説明図である。図6は加熱炉の説明図である。
図1、図2において、12は基板保持ステーション、14は基板受け渡しステーション、16は加熱炉であり、これらは水平面内で直線的にこの順に並ぶように配置されている。加熱炉16は基台18上に配置されている(図2)。
20は基板ホルダである。
基板ホルダ20は、基板21が水平に進入可能な大きさの空間を有する枠状をなしている。そして、基板ホルダ20は、正面形状がコの字状をなす(図2参照)2本のシャトルアーム22に取付板23(図3)を介して取り付けられている。シャトルアーム22は、基台18に水平に設けられたレール24に沿って移動可能に設けられている。シャトルアーム22は、モータと、ボールねじ等からなる自走装置(図示せず)に連携されて駆動される。自走装置はシリンダ機構等であってもよく、特には限定されない。
基板ホルダ20には、各辺に数個づつのクリップ28が取り付けられている。基板ホルダ20は、このクリップ28によって、ソルダーレジスト等の塗膜が形成された基板21の周縁部をクランプすることによって、その枠内に基板21を水平に保持可能となっている。このように、基板21の周縁部をクリップ28によってクランプするので、薄物の基板21であっても撓むことなく保持できる。クリップ28の基板と接触する部分には断熱材が用いられており、加熱された基板の熱が基板ホルダ20へ逃げないようになっている。
クリップ28は、基台18に固定された支持台29上に配設されたクリップ開閉用のシリンダ30によって自動開閉される。
図4、図5に示すように、シリンダ30のロッド31がリンク32に連結され、リンク32がシャフト33に連結されていて、ロッド31が突出入することによってシャフト33が軸線を中心として回動される。シャフト33には、各クリップ28に対応する位置にクリップ開閉用のレバー34が固定されている。
ロッド31が突出して、レバー34がシャフト33の回転によってクリップ28方向に回転され、これによってレバー34がクリップ28をそのスプリング(クリップを閉じるスプリング:図示せず)の付勢力に抗して押し開き、クリップを開の状態とする(図5)。
ロッド31が縮退されると、レバー34によるクリップ28の押圧が解除され、クリップ28はスプリングの付勢力によって閉じる(図4)。すなわち、常時閉のクリップとなっている。
基板ホルダ20内には、塗膜が形成された基板21を人手によって乗せられる投入テーブル38が、支持台29上に固定されたシリンダ39によって上下動可能に設けられている。投入テーブル38は、乗せられる基板21との接触部ができるだけ少なくなるように、複数本の桟が平行に配設された構造のものとなっている。
図5は、シリンダ39によって、投入テーブル38が上昇されている状態を示している。このとき、クリップ28は、シリンダ30のロッド31が突出されて開状態となっている。この状態で、塗膜が形成された基板21が人手により投入テーブル38上に搬入される。次いで、シリンダ30のロッド31が縮退され、これによりクランプ28が閉状態となって、基板21はクランプ28によって周縁部がクランプされ、保持される。次いで投入テーブル38が下降される(図4)。
基板ホルダ20への基板21の保持は、基板保持ステーション12にて行われる。
このように、基板保持ステーション12で基板21が保持された基板ホルダ20は、シャトルアーム22が自走することによって、基板保持ステーション12から基板受け渡しステーション14を経て加熱炉16内に搬入される。この一連の動作は図示しない制御部によって制御される。
シャトルアーム22、自走機構等によって搬送手段が構成される。
次に加熱炉16の構造について説明する。
加熱炉16は密閉されたボックス構造をなす。なお、加熱炉16の、基板受け渡しステーション14側には、搬入口17(図6)が開口されていて、この搬入口17は、シリンダ40によって駆動されるシャッタ41(図2)によって開閉される。搬入口17は、シャトルアーム22の移動によって、基板ホルダ20が加熱炉16内に進入できる最小の大きさに形成されている。
基板ホルダ20が加熱炉16内に進入すると、搬入口17の部位は2本のシャトルアーム22のみが存在する。次いでシャッタ41がシリンダ40によって下降されるが、シャッタ41は、シャトルアーム22が進入する部位だけ切り欠かれていて(図示せず)、搬入口17のその他の部位は全て閉塞可能となっている。
加熱炉16内には、基板21を加熱する加熱装置が配設されている。本実施の形態では、加熱装置は、熱風吹き出しノズル45と、赤外線ヒータ46とからなっている。
熱風吹き出しノズル45は、搬入された基板21の上方に位置して4列に配設され、各列の熱風吹き出しノズル45から、熱風を基板21に向けて帯状に噴き出し可能となっている。
また、熱風吹き出しノズル45と基板21との間には、3枚で1列を構成する赤外線ヒータ46が所定間隔をおいて5列配設されている。これら赤外線ヒータ46は板状をなし、基板21上方を基板21と平行に覆っている。
そして、熱風吹き出しノズル45から帯状に吹き出される熱風は、各列の赤外線ヒータ46の間の隙間から、赤外線ヒータ45と基板21との間の空間に吹き出される。これにより、熱風は上方に舞い上がることなく、有効に基板21を加熱することとなる。また、板状をなす赤外線ヒータ46が基板21上方を覆うことから、基板21は赤外線ヒータ46からも満遍なく加熱される。
このように、基板21は、熱風吹き出しノズル45からの熱風および赤外線ヒータ46の両者で加熱されることによって、基板21に塗布された塗膜は瞬間的に加熱され、短時間で乾燥(仮キュア)される。
また、基板ホルダ20は、シャトルアーム22が前後方向(図2の左右方向)に、例えば5cmほどのストロークで、1秒に1回程度往復動されることで、加熱炉16内でオシレート動作を行う。これにより、基板21はより均一に加熱される。
次に、図6に示すように、熱風ノズル45から吹き出された熱風を回収して外部に排気する排気口48が、搬入される基板21の両側方に位置するように加熱炉16に設けられている。
排気口48からはブロワ49によって配管50を通じて熱風が排気される。このように加熱炉16内の熱風が排気されることによって、加熱炉16内、特に基板21の塗布面と赤外線ヒータとの間に蒸発した溶剤成分を含む熱風が滞ることがなく、短時間での乾燥(仮キュア)が可能となる。
ブロワ49によって回収された排気は、その一部が配管51から廃棄処理され、一部は配管52により、配管53により導入された一部の外気と共に熱風発生機54に導入され、熱風発生機54にて加熱され、HEPAフィルタ55を通過して配管56を通じて4つの熱風吹き出しノズル45に分配される。このように、排気熱風は一部を循環して用いることが可能であり、廃棄と循環の比率は調整可能である。
また、配管53には、後記する冷却装置から回収された冷却空気の一部が導入される。
さらに、加熱炉16の上部には、加熱炉16内の上部空気を外部に排出する排気口57が設けられている。
次に、図2、および図7〜図11により冷却装置60について説明する。
冷却装置60は、基板受け渡しステーション14の上方に位置して配置されている。
冷却装置60は、加熱炉16内で加熱されて後、シャトルアーム22移動することによって基板受け渡しステーション14にまで搬出された基板21を、基板ホルダ20から受け取って基板21の冷却を行うものである。
以下詳細に説明する。
図7は、基板受け渡しステーション14に位置する基板ホルダ20から基板21を受け取る状態の説明図である。
本実施の形態の冷却装置60は、固定部62と可動部64に分かれる。
可動部64は、シリンダ65のロッド66に連結されて上下動可能となっている。
すなわち、図11に示すように、ロッド66の下端部には、支持板67が水平に固定され、この支持板67上には4つのシリンダ68(2個のみ図示)が水平に固定されている。70はチャックであり、各シリンダ68のロッドに連結されている。チャック70は、図10に示すように、2個ずつ対向して4個配設され、支持板67が下動した際に、基板ホルダ20の内縁とこの基板ホルダ20に保持されている基板21の外縁との間の空間に進入可能となっている。
そして、各チャック70の下端には、内方に水平に突出する爪片71が設けられている。
シリンダ68が駆動されて各ロッドが縮退すると、各チャック70の爪片71が基板21の下面側に側方から進入し、これにより基板21は両側方からチャック70によって保持される。
この段階で、シリンダ30が駆動され、ロッド31が縮退し、レバー34が回動されてクリップ28による基板21のクランプが解除される。
これにより基板21は、基板ホルダ20から可動部64側に受け渡される。
なお、支持板67の下方には、中央部に孔の開いた仕切り板73が支持板67と所要の間隙Pをおいて固定されている(図11)。
チャック70に保持された基板21と仕切り板73との間には、空間Qが形成される。
また、支持板67上には、間隙P、仕切り板73の孔、および空間Qに連通する筒体75が立設されている。
冷却装置60の固定部62側には、可動部64が上昇位置している場合において、空間Qの周縁部に通じるリング状の通路Rを有する空間Sが形成されている。この空間S内にはHEPAフィルタ77を通じて冷却空気が導入される。なお、HEPAフィルタ77内には送風ファン(図示せず)が内設されている。
また、固定部62内には、可動部64が上昇位置した際、可動部64側の筒体75と連通、接続する筒体78が配設されている。筒体78は熱風発生機54の吸気配管53に接続されており、筒体75と筒体78が接続されると、熱風発生機54のブロワにより仕切り板73の孔を通じ、空間Qに冷却空気の流れが生じる。
可動部64は、冷却装置60の一部を構成するとともに、基板21を基板ホルダ20から受け取り、冷却装置60に移動する移載装置を兼ねるものである。
なお、冷却装置60と移載装置とは別のものに構成してもよい。この場合、移載装置により、基板21を、冷却装置60と基板ホルダ20との間の受け渡し、および冷却装置60と取り出しテーブル80との間の受け渡しを行うようにする。
次に、取り出しテーブル80について説明する。
取り出しテーブル80は、冷却装置60の下方位置と、該下方位置の側方となる側方位置との間を移動装置(図示せず)によって移動可能で、冷却装置60の下方位置で、移載装置(可動部64)により冷却装置60によって冷却された基板21が移載され、側方の取り出し位置まで移動するものである。
具体的には、取り出しテーブル80は、その上面で、基板21をできるだけ接触面積が少ないように受け取るために、複数本の桟が平行に配された構造のものに形成されている。
そして、取り出しテーブル80は、図1に示すように、回転軸81を中心に水平面内で回動する回動アーム82に取り付けられて、基板受け渡しステーション14の上方位置と、その側方位置となる、基板保持ステーション12と隣接する位置との間に亙って移動するようになっている。この場合の取り出しテーブル80の移動装置は、回転軸81をその軸線を中心として回転させる装置(図示せず)となる。なお、取り出しテーブル80は、公知の姿勢制御機構を介して、図1に示すように、同一の向きを保ったまま移動するようになっている。
図1、図2、図7〜図11により、冷却装置60による基板21の冷却、取り出しテーブル80による基板21の取り出しについて説明する。
前記したように、加熱炉16内での加熱が終了すると、基板21は、シャトルアーム22の移動によって、加熱炉16内から基板受け渡しステーション14の位置まで搬出される。
次いで、図7に示すように、冷却装置60における可動部64が下動し、チャック70によって基板21が可動部64側に受け渡される。
次いで、図8に示すように、可動部64が冷却装置60の本来の位置まで上昇する。そして、筒体75と筒体78が接続され、筒体78に接続された熱風発生機54によって空間P、仕切り板73の孔から基板21の上方空間となる空間Q内の冷却用空気が吸引される。空間Qには、HEPAフィルタ77内の送風ファンより空間S、リング状の通路Rを通じ、冷却用空気が供給される。以上により、基板21は冷却される。
上記のように基板21が冷却装置60で冷却されている間に、取り出しテーブル80は冷却装置60の下方の位置まで回動されている(図8)。
そして、冷却装置60による基板21の冷却が終了すると、可動部64が取り出しテーブル80の位置まで下降し、そしてチャック70による基板21のチャックが解除(シリンダ68が駆動されてチャック70が外方に移動)され、基板21は取り出しテーブル80上に受け渡される(図9)。
次いで、可動部64が上昇し、取り出しテーブル80が基板保持ステーション12に隣接する位置まで回動される。この基板ステーション12に隣接する位置は、次段の、塗布・加熱部の塗布装置への基板搬入位置に隣接する位置となる。
上記のように、基板21が冷却装置60で冷却され、次いで取り出しテーブル80に受け渡されて、取り出し位置まで回動される一連の工程の間に、空となった基板ホルダ20は、基板保持ステーション12位置まで戻され、次の、塗膜が形成された基板21が投入テーブル38上に搬入され、クリップ28で基板ホルダ20に保持され、次いでシャトルアーム22の移動により加熱炉16内に搬入されて、次の基板21の乾燥工程がなされている。
すなわち、加熱装置10には、加熱工程に1枚、冷却工程に1枚の合計2枚の基板21が同時に仕掛っている。
加熱工程における時間と、冷却工程における時間とが、ほぼ同一であり、効率よく、加熱と冷却とが行える。
配線基板におけるソルダーレジスト層の形成は、前記のように、レジストの二度塗りが行われる場合がある。この場合、基板表面側への1回めの塗布、乾燥を行い、次いで反転させ、基板の裏面側への1回目の塗布、乾燥を行い、次に基板裏面側への2回目の塗布、乾燥を行い、最後に再反転し、基板表面側への2回目の塗布、乾燥を行うという手順で、ソルダーレジストの塗布、乾燥が行われる。
図12は、このような、塗布、乾燥を複数段(図12では2段)に亙って連続的に行う場合の、塗布機と乾燥装置との配置例を示す。
すなわち、上流側から下流側に向けて複数段(2段)の塗布・加熱を順次行うべく、上記乾燥装置10を複数台(2台:10-1、10-2)、直線的に並ぶ基板保持ステーション12、基板受け渡しステーション14および加熱炉16の並び方向が各平行となるように併設する。
そして、各乾燥装置10-1、10-2に隣接して、塗膜の塗布装置90-1、90-2を配設する。
そして、各段の塗布装置90-1、90-2における基板入出口91-1、91-2と同一段の乾燥装置10-1、10-2における基板投入口12-1、12-2とがそれぞれ隣接して位置するように、かつ、直近上流段の乾燥装置10-1における基板取り出し位置80-1と直近下流段の塗布装置90-2における基板入口位置91-2とが隣接して位置するように各塗布装置および乾燥装置が配設されている。
上記のように、上記乾燥装置10を複数台(2台:10-1、10-2)、直線的に並ぶ基板保持ステーション12、基板受け渡しステーション14および加熱炉16の並び方向が各平行となるように併設するようにすることで、乾燥ラインが並列状態となり、装置の長さが長くならず、小型化が図れる。
また、各段の塗布機と乾燥装置における基板入出口位置、上段の乾燥装置における基板取り出し位置と下段の塗布機における基板入口位置とを隣接するようにしたので、作業者による基板の搬送が最短距離ですみ、作業効率がよくなる。
図13は乾燥装置10の他の実施の形態を示す正面図である。
本実施の形態では、加熱炉16において、熱風吹き出しノズル45および赤外線ヒータ46からなる加熱装置を、基板ホルダ20を挟んで上下に配設している。その他の構成は図2に示すものと同一である。
本実施の形態の乾燥装置10によれば、さらに効率よく基板21の加熱が行える。
乾燥装置の平面図である。 乾燥装置の正面図である。 基板ホルダの平面図である。 基板ホルダにて基板が保持された状態を示す説明図である。 基板ホルダの投入テーブル上に基板が搬入された状態を示す説明図である。 加熱炉の説明図である。 基板ホルダから可動部へ基板を受け渡す状態を示す説明図である。 冷却装置における基板冷却時の状態を示す説明図である。 可動部から取り出しテーブルへの基板の受け渡し状態を示す説明図である。 冷却装置の平面図である。 冷却装置の拡大説明図である。 塗布機、乾燥装置を併設した状態の説明図である。 加熱炉において加熱装置を基板ホルダを挟んで上下に配設した実施の形態を示す正面図である。
符号の説明
10 乾燥装置
12 基板保持ステーション
14 基板受け渡しステーション
16 加熱炉
18 基台
20 基板ホルダ
22 シャトルアーム
24 レール
28 クリップ
30 シリンダ
31 ロッド
32 リンク
33 シャフト
34 レバー
38 投入テーブル
39 シリンダ
41 シャッタ
45 熱風吹き出しノズル
46 赤外線ヒータ
48 排気口
49 ブロワ
50、51、52、53、56 配管
54 熱風発生機
55 HEPAフィルタ
60 冷却装置
62 固定部
64 可動部
65 シリンダ
66 ロッド
67 支持板
68 シリンダ
70 チャック
71 爪片
73 仕切り板
75 筒体
77 HEPAフィルタ
78 筒体
80 取り出しテーブル
81 回動軸
82 回動アーム
90 塗布機

Claims (7)

  1. 基板に塗布された塗膜を乾燥する乾燥装置において、
    基板ホルダに基板を保持する基板保持ステーションと、
    基板受け渡しステーションと、
    該基板受け渡しステーションを挟んで前記基板保持ステーションの反対側に位置して、水平で直線的に配置された加熱炉と、
    前記基板ホルダを、前記基板保持ステーションから前記基板受け渡しステーションを経て前記加熱炉内に搬出入する搬送手段と、
    前記受け渡しステーションの上方に配置された冷却装置と、
    前記基板受け渡しステーションで基板を前記基板ホルダから受け取り、前記冷却装置に移動する移載装置と、
    前記移載装置から基板を側方の取り出し位置まで移動する取り出しテーブルとを具備することを特徴とする乾燥装置。
  2. 前記基板ホルダは、基台に水平に設けられたレールに沿って前記基板保持ステーションおよび前記基板受け渡しステーションおよび前記加熱炉を移動するシャトルアームと、
    基板の周縁部をクランプすることで保持するクリップと、を備え、
    前記クリップは、前記基台に固定された支持台上に配設されたクリップ開閉用シリンダにより自動開閉されることを特徴とする請求項1に記載の乾燥装置。
  3. 前記加熱炉は、前記基板受け渡しステーション側に搬送口を備え、
    前記搬送口は、前記基板ホルダが前記加熱炉に進入できる最小の大きさに形成されていることを特徴とする請求項1〜2いずれか1項に記載の乾燥装置。
  4. 前記取り出しテーブルは、回転軸と、前記回転軸を中心に水平面内で回動する回動アームとを備え、前記冷却装置の下方位置と該下方位置の側方となる側方位置との間を移動することを特徴とする請求項1〜3いずれか1項に記載の乾燥装置。
  5. 前記加熱炉は、前記基板を加熱する加熱装置を備え、前記加熱装置は、熱風吹き出しノズルと赤外線ヒータとからなることを特徴とする請求項1〜4いずれか1項に記載の乾燥装置。
  6. 前記冷却装置は、前記移載装置を兼ねる可動部と、冷却空気が導入される固定部からなることを特徴とする請求項1〜5いずれか1項に記載の乾燥装置。
  7. 請求項1〜6いずれか1項に記載の乾燥装置において、
    前記乾燥装置と隣接して配設される塗布装置をさらに具備し、
    前記塗布装置における基板入出口と前記乾燥装置における基板投入口とが隣接して位置するように、かつ、前記乾燥装置における基板取り出し位置と前記塗布装置における基板入出口とが隣接して位置するように複数の前記乾燥装置および前記塗布装置が併設されていることを特徴とする乾燥装置。
JP2008334532A 2008-12-26 2008-12-26 乾燥装置 Active JP5144492B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008334532A JP5144492B2 (ja) 2008-12-26 2008-12-26 乾燥装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008334532A JP5144492B2 (ja) 2008-12-26 2008-12-26 乾燥装置

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2010157586A JP2010157586A (ja) 2010-07-15
JP2010157586A5 JP2010157586A5 (ja) 2011-11-10
JP5144492B2 true JP5144492B2 (ja) 2013-02-13

Family

ID=42575286

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008334532A Active JP5144492B2 (ja) 2008-12-26 2008-12-26 乾燥装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5144492B2 (ja)

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101353247B1 (ko) * 2011-03-25 2014-01-24 삼성전기주식회사 원적외선 건조기를 이용한 인쇄회로기판의 포토솔더 레지스트 공정방법
BR112020008662A2 (pt) * 2017-12-06 2020-10-06 Qualicaps Co., Ltd. dispositivo de secagem para estrutura colunar, e método para manufatura de estrutura colunar
CN115479456B (zh) * 2022-09-20 2023-09-12 常州光迅工业设备有限公司 一种无尘无氧pi烘箱水冷循环系统
CN117685754A (zh) * 2024-02-04 2024-03-12 江西农业大学 一种过热蒸汽热泵中药材蒸晒装置

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3517121B2 (ja) * 1998-08-12 2004-04-05 東京エレクトロン株式会社 処理装置
JP2001110793A (ja) * 1999-10-12 2001-04-20 Dainippon Screen Mfg Co Ltd 熱処理装置および基板処理装置
JP4274736B2 (ja) * 2002-03-28 2009-06-10 大日本スクリーン製造株式会社 基板処理装置
JP3963846B2 (ja) * 2003-01-30 2007-08-22 東京エレクトロン株式会社 熱的処理方法および熱的処理装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010157586A (ja) 2010-07-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5138108B1 (ja) 乾燥装置
JP4341978B2 (ja) 基板処理装置
JP5144492B2 (ja) 乾燥装置
TW449840B (en) Compact reflow and cleaning apparatus
JP4877075B2 (ja) 塗布、現像装置及び塗布、現像装置の運転方法並びに記憶媒体
JP4721289B2 (ja) 基板処理装置
JP2022514137A (ja) 複数のモジュールチップ製造構成
JP5371605B2 (ja) 減圧乾燥装置及び減圧乾燥方法
CN102901335B (zh) 干燥装置
JP5199792B2 (ja) 基板処理ユニット、基板処理装置および基板処理方法
JP4291393B2 (ja) 電子部品実装装置
WO2007094229A1 (ja) 基板の処理方法及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体
JP2004304003A (ja) 処理システム
US5632813A (en) Electrode forming apparatus for chip type electronic components
WO2006107089A1 (ja) 冷却方法及び冷却装置
JP4045008B2 (ja) 基板処理装置
JP3531054B2 (ja) 基板乾燥装置
JP2006186296A (ja) ワーク支持枠体、ワーク洗浄乾燥装置及び切断装置
JP3862197B2 (ja) 縦型熱処理装置
KR100562839B1 (ko) 기판처리장치
JP7070313B2 (ja) 半導体ウエハ基板の熱処理装置及び熱処理方法
JP5108834B2 (ja) テンプレート処理装置、インプリントシステム、離型剤処理方法、プログラム及びコンピュータ記憶媒体
TWI695742B (zh) 具有夾具清潔裝置的烘烤設備
KR100257141B1 (ko) 반도체칩의분리및세정장치
JP4112095B2 (ja) 電子部品実装方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110915

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110915

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120911

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20121009

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20121022

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20121113

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20121122

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151130

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5144492

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150