JP5132809B2 - 発光素子、照明装置、発光装置および電子機器 - Google Patents
発光素子、照明装置、発光装置および電子機器 Download PDFInfo
- Publication number
- JP5132809B2 JP5132809B2 JP2011263334A JP2011263334A JP5132809B2 JP 5132809 B2 JP5132809 B2 JP 5132809B2 JP 2011263334 A JP2011263334 A JP 2011263334A JP 2011263334 A JP2011263334 A JP 2011263334A JP 5132809 B2 JP5132809 B2 JP 5132809B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- layer
- light
- electrode
- emitting element
- signal line
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 229910000476 molybdenum oxide Inorganic materials 0.000 claims description 62
- PQQKPALAQIIWST-UHFFFAOYSA-N oxomolybdenum Chemical compound [Mo]=O PQQKPALAQIIWST-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 62
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 51
- 239000011368 organic material Substances 0.000 claims description 31
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 21
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 claims description 13
- 229910044991 metal oxide Inorganic materials 0.000 claims description 9
- 150000004706 metal oxides Chemical class 0.000 claims description 9
- ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N diphenyl Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 ZUOUZKKEUPVFJK-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 8
- 235000010290 biphenyl Nutrition 0.000 claims description 4
- 239000004305 biphenyl Substances 0.000 claims description 4
- 125000001997 phenyl group Chemical group [H]C1=C([H])C([H])=C(*)C([H])=C1[H] 0.000 claims description 4
- 125000002924 primary amino group Chemical group [H]N([H])* 0.000 claims description 3
- 125000000040 m-tolyl group Chemical group [H]C1=C([H])C(*)=C([H])C(=C1[H])C([H])([H])[H] 0.000 claims description 2
- 239000010410 layer Substances 0.000 description 234
- 239000010408 film Substances 0.000 description 65
- 230000004913 activation Effects 0.000 description 62
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 42
- 229910010272 inorganic material Inorganic materials 0.000 description 27
- 239000011147 inorganic material Substances 0.000 description 27
- 239000011229 interlayer Substances 0.000 description 20
- SPDPTFAJSFKAMT-UHFFFAOYSA-N 1-n-[4-[4-(n-[4-(3-methyl-n-(3-methylphenyl)anilino)phenyl]anilino)phenyl]phenyl]-4-n,4-n-bis(3-methylphenyl)-1-n-phenylbenzene-1,4-diamine Chemical compound CC1=CC=CC(N(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=C(C)C=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)=C1 SPDPTFAJSFKAMT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 19
- 239000000463 material Substances 0.000 description 18
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 16
- 238000000034 method Methods 0.000 description 15
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 13
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 13
- 238000010549 co-Evaporation Methods 0.000 description 12
- IBHBKWKFFTZAHE-UHFFFAOYSA-N n-[4-[4-(n-naphthalen-1-ylanilino)phenyl]phenyl]-n-phenylnaphthalen-1-amine Chemical group C1=CC=CC=C1N(C=1C2=CC=CC=C2C=CC=1)C1=CC=C(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C3=CC=CC=C3C=CC=2)C=C1 IBHBKWKFFTZAHE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 11
- XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N Zinc monoxide Chemical compound [Zn]=O XLOMVQKBTHCTTD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 10
- RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N Diethyl ether Chemical compound CCOCC RTZKZFJDLAIYFH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 9
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N nitrogen Substances N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 7
- UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N Benzene Chemical group C1=CC=CC=C1 UHOVQNZJYSORNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N Dichloromethane Chemical compound ClCCl YMWUJEATGCHHMB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N Silicium dioxide Chemical compound O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 6
- AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N indium;oxotin Chemical compound [In].[Sn]=O AMGQUBHHOARCQH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 6
- 239000011777 magnesium Substances 0.000 description 6
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 6
- 229910052814 silicon oxide Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000000243 solution Substances 0.000 description 6
- 230000032258 transport Effects 0.000 description 6
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 5
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 5
- 230000008859 change Effects 0.000 description 5
- VBVAVBCYMYWNOU-UHFFFAOYSA-N coumarin 6 Chemical compound C1=CC=C2SC(C3=CC4=CC=C(C=C4OC3=O)N(CC)CC)=NC2=C1 VBVAVBCYMYWNOU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 5
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 5
- PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M lithium fluoride Chemical compound [Li+].[F-] PQXKHYXIUOZZFA-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 5
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 5
- 239000002356 single layer Substances 0.000 description 5
- 239000011787 zinc oxide Substances 0.000 description 5
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- VUMVABVDHWICAZ-UHFFFAOYSA-N N-phenyl-N-[4-[4-[N-(9,9'-spirobi[fluorene]-2-yl)anilino]phenyl]phenyl]-9,9'-spirobi[fluorene]-2-amine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C=C2C3(C4=CC=CC=C4C4=CC=CC=C43)C3=CC=CC=C3C2=CC=1)C1=CC=C(C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C3C4(C5=CC=CC=C5C5=CC=CC=C54)C4=CC=CC=C4C3=CC=2)C=C1 VUMVABVDHWICAZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 238000000862 absorption spectrum Methods 0.000 description 4
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- XJHCXCQVJFPJIK-UHFFFAOYSA-M caesium fluoride Chemical compound [F-].[Cs+] XJHCXCQVJFPJIK-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- 238000002425 crystallisation Methods 0.000 description 4
- 230000008025 crystallization Effects 0.000 description 4
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 4
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 4
- 230000009477 glass transition Effects 0.000 description 4
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 4
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 4
- QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N nonaoxidotritungsten Chemical compound O=[W]1(=O)O[W](=O)(=O)O[W](=O)(=O)O1 QGLKJKCYBOYXKC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 4
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 4
- 238000001308 synthesis method Methods 0.000 description 4
- 229910001930 tungsten oxide Inorganic materials 0.000 description 4
- 238000001771 vacuum deposition Methods 0.000 description 4
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 4
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- IYZMXHQDXZKNCY-UHFFFAOYSA-N 1-n,1-n-diphenyl-4-n,4-n-bis[4-(n-phenylanilino)phenyl]benzene-1,4-diamine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 IYZMXHQDXZKNCY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000005160 1H NMR spectroscopy Methods 0.000 description 3
- ONCCVJKFWKAZAE-UHFFFAOYSA-N 2-bromo-9,9'-spirobi[fluorene] Chemical compound C12=CC=CC=C2C2=CC=CC=C2C21C1=CC=CC=C1C1=CC=C(Br)C=C12 ONCCVJKFWKAZAE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- -1 9,9′-bifluoren-2-yl Chemical group 0.000 description 3
- XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N Ethyl acetate Chemical compound CCOC(C)=O XEKOWRVHYACXOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N Magnesium Chemical compound [Mg] FYYHWMGAXLPEAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N Palladium Chemical compound [Pd] KDLHZDBZIXYQEI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052581 Si3N4 Inorganic materials 0.000 description 3
- NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N acrylic acid group Chemical group C(C=C)(=O)O NIXOWILDQLNWCW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052783 alkali metal Inorganic materials 0.000 description 3
- 150000001340 alkali metals Chemical class 0.000 description 3
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 3
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- KPUWHANPEXNPJT-UHFFFAOYSA-N disiloxane Chemical class [SiH3]O[SiH3] KPUWHANPEXNPJT-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 3
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 3
- 229910052749 magnesium Inorganic materials 0.000 description 3
- 230000008018 melting Effects 0.000 description 3
- 238000002844 melting Methods 0.000 description 3
- BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N platinum Chemical compound [Pt] BASFCYQUMIYNBI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 229910001925 ruthenium oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- WOCIAKWEIIZHES-UHFFFAOYSA-N ruthenium(iv) oxide Chemical compound O=[Ru]=O WOCIAKWEIIZHES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N silicon nitride Chemical compound N12[Si]34N5[Si]62N3[Si]51N64 HQVNEWCFYHHQES-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 238000000967 suction filtration Methods 0.000 description 3
- 238000003786 synthesis reaction Methods 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 229910001935 vanadium oxide Inorganic materials 0.000 description 3
- XOYZGLGJSAZOAG-UHFFFAOYSA-N 1-n,1-n,4-n-triphenyl-4-n-[4-[4-(n-[4-(n-phenylanilino)phenyl]anilino)phenyl]phenyl]benzene-1,4-diamine Chemical group C1=CC=CC=C1N(C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC(=CC=1)C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 XOYZGLGJSAZOAG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FQJQNLKWTRGIEB-UHFFFAOYSA-N 2-(4-tert-butylphenyl)-5-[3-[5-(4-tert-butylphenyl)-1,3,4-oxadiazol-2-yl]phenyl]-1,3,4-oxadiazole Chemical compound C1=CC(C(C)(C)C)=CC=C1C1=NN=C(C=2C=C(C=CC=2)C=2OC(=NN=2)C=2C=CC(=CC=2)C(C)(C)C)O1 FQJQNLKWTRGIEB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- ZVFQEOPUXVPSLB-UHFFFAOYSA-N 3-(4-tert-butylphenyl)-4-phenyl-5-(4-phenylphenyl)-1,2,4-triazole Chemical compound C1=CC(C(C)(C)C)=CC=C1C(N1C=2C=CC=CC=2)=NN=C1C1=CC=C(C=2C=CC=CC=2)C=C1 ZVFQEOPUXVPSLB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- OGGKVJMNFFSDEV-UHFFFAOYSA-N 3-methyl-n-[4-[4-(n-(3-methylphenyl)anilino)phenyl]phenyl]-n-phenylaniline Chemical compound CC1=CC=CC(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC(=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=C(C)C=CC=2)=C1 OGGKVJMNFFSDEV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- DHDHJYNTEFLIHY-UHFFFAOYSA-N 4,7-diphenyl-1,10-phenanthroline Chemical compound C1=CC=CC=C1C1=CC=NC2=C1C=CC1=C(C=3C=CC=CC=3)C=CN=C21 DHDHJYNTEFLIHY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- FDRNXKXKFNHNCA-UHFFFAOYSA-N 4-(4-anilinophenyl)-n-phenylaniline Chemical compound C=1C=C(C=2C=CC(NC=3C=CC=CC=3)=CC=2)C=CC=1NC1=CC=CC=C1 FDRNXKXKFNHNCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N Acetic acid Chemical compound CC(O)=O QTBSBXVTEAMEQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- NLXLAEXVIDQMFP-UHFFFAOYSA-N Ammonia chloride Chemical compound [NH4+].[Cl-] NLXLAEXVIDQMFP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N Chloroform Chemical compound ClC(Cl)Cl HEDRZPFGACZZDS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000004593 Epoxy Substances 0.000 description 2
- LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N Ethanol Chemical compound CCO LFQSCWFLJHTTHZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000007818 Grignard reagent Substances 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- CSNNHWWHGAXBCP-UHFFFAOYSA-L Magnesium sulfate Chemical compound [Mg+2].[O-][S+2]([O-])([O-])[O-] CSNNHWWHGAXBCP-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 2
- 238000005481 NMR spectroscopy Methods 0.000 description 2
- UIIMBOGNXHQVGW-UHFFFAOYSA-M Sodium bicarbonate Chemical compound [Na+].OC([O-])=O UIIMBOGNXHQVGW-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 2
- 239000007983 Tris buffer Substances 0.000 description 2
- XHCLAFWTIXFWPH-UHFFFAOYSA-N [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[V+5].[V+5] Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[V+5].[V+5] XHCLAFWTIXFWPH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- AZWHFTKIBIQKCA-UHFFFAOYSA-N [Sn+2]=O.[O-2].[In+3] Chemical compound [Sn+2]=O.[O-2].[In+3] AZWHFTKIBIQKCA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 2
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 2
- 229910052784 alkaline earth metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000001342 alkaline earth metals Chemical class 0.000 description 2
- CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N alumanylidynesilicon Chemical compound [Al].[Si] CSDREXVUYHZDNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 150000004982 aromatic amines Chemical class 0.000 description 2
- QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N barium oxide Chemical compound [Ba]=O QVQLCTNNEUAWMS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000011575 calcium Substances 0.000 description 2
- 239000011651 chromium Substances 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 238000001816 cooling Methods 0.000 description 2
- 150000004696 coordination complex Chemical class 0.000 description 2
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 239000002274 desiccant Substances 0.000 description 2
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 description 2
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 2
- 150000004795 grignard reagents Chemical class 0.000 description 2
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 description 2
- 230000005525 hole transport Effects 0.000 description 2
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 2
- 238000009413 insulation Methods 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- VZYZZKOUCVXTOJ-UHFFFAOYSA-N n-[4-[4-(n-(9,9-dimethylfluoren-2-yl)anilino)phenyl]phenyl]-9,9-dimethyl-n-phenylfluoren-2-amine Chemical group C1=C2C(C)(C)C3=CC=CC=C3C2=CC=C1N(C=1C=CC(=CC=1)C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=C2C(C)(C)C3=CC=CC=C3C2=CC=1)C1=CC=CC=C1 VZYZZKOUCVXTOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000012299 nitrogen atmosphere Substances 0.000 description 2
- 230000008569 process Effects 0.000 description 2
- 230000001737 promoting effect Effects 0.000 description 2
- 238000002310 reflectometry Methods 0.000 description 2
- YYMBJDOZVAITBP-UHFFFAOYSA-N rubrene Chemical compound C1=CC=CC=C1C(C1=C(C=2C=CC=CC=2)C2=CC=CC=C2C(C=2C=CC=CC=2)=C11)=C(C=CC=C2)C2=C1C1=CC=CC=C1 YYMBJDOZVAITBP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229920006395 saturated elastomer Polymers 0.000 description 2
- 229910052709 silver Inorganic materials 0.000 description 2
- 125000001424 substituent group Chemical group 0.000 description 2
- 230000002194 synthesizing effect Effects 0.000 description 2
- 239000010936 titanium Substances 0.000 description 2
- TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K tri(quinolin-8-yloxy)alumane Chemical compound [Al+3].C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1.C1=CN=C2C([O-])=CC=CC2=C1 TVIVIEFSHFOWTE-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 2
- OYQCBJZGELKKPM-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O-2].[Zn+2].[O-2].[In+3] OYQCBJZGELKKPM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- UKSZBOKPHAQOMP-SVLSSHOZSA-N (1e,4e)-1,5-diphenylpenta-1,4-dien-3-one;palladium Chemical compound [Pd].C=1C=CC=CC=1\C=C\C(=O)\C=C\C1=CC=CC=C1.C=1C=CC=CC=1\C=C\C(=O)\C=C\C1=CC=CC=C1 UKSZBOKPHAQOMP-SVLSSHOZSA-N 0.000 description 1
- APQIUTYORBAGEZ-UHFFFAOYSA-N 1,1-dibromoethane Chemical compound CC(Br)Br APQIUTYORBAGEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- KTADSLDAUJLZGL-UHFFFAOYSA-N 1-bromo-2-phenylbenzene Chemical group BrC1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 KTADSLDAUJLZGL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WPALONMXAKFWPY-UHFFFAOYSA-N 1-n,1-n,5-n,5-n-tetraphenylnaphthalene-1,5-diamine Chemical compound C1=CC=CC=C1N(C=1C2=CC=CC(=C2C=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC=CC=1)C1=CC=CC=C1 WPALONMXAKFWPY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- STTGYIUESPWXOW-UHFFFAOYSA-N 2,9-dimethyl-4,7-diphenyl-1,10-phenanthroline Chemical compound C=12C=CC3=C(C=4C=CC=CC=4)C=C(C)N=C3C2=NC(C)=CC=1C1=CC=CC=C1 STTGYIUESPWXOW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- UOCMXZLNHQBBOS-UHFFFAOYSA-N 2-(1,3-benzoxazol-2-yl)phenol zinc Chemical compound [Zn].Oc1ccccc1-c1nc2ccccc2o1.Oc1ccccc1-c1nc2ccccc2o1 UOCMXZLNHQBBOS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MPECBEYAWUTHRZ-UHFFFAOYSA-N 2-bromo-9-(2-phenylphenyl)fluoren-9-ol Chemical compound C12=CC=CC=C2C2=CC=C(Br)C=C2C1(O)C1=CC=CC=C1C1=CC=CC=C1 MPECBEYAWUTHRZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WPCMKFZZZZYMJL-UHFFFAOYSA-N 2-bromo-9h-fluoren-9-ol Chemical compound C1=C(Br)C=C2C(O)C3=CC=CC=C3C2=C1 WPCMKFZZZZYMJL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- QFUPJXCUNNWZJQ-UHFFFAOYSA-N 2-bromofluoren-1-one Chemical compound C1=CC=C2C3=CC=C(Br)C(=O)C3=CC2=C1 QFUPJXCUNNWZJQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HONWGFNQCPRRFM-UHFFFAOYSA-N 2-n-(3-methylphenyl)-1-n,1-n,2-n-triphenylbenzene-1,2-diamine Chemical compound CC1=CC=CC(N(C=2C=CC=CC=2)C=2C(=CC=CC=2)N(C=2C=CC=CC=2)C=2C=CC=CC=2)=C1 HONWGFNQCPRRFM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PZLZJGZGJHZQAU-UHFFFAOYSA-N 3-(4-tert-butylphenyl)-4-(4-ethylphenyl)-5-(4-phenylphenyl)-1,2,4-triazole Chemical compound C1=CC(CC)=CC=C1N1C(C=2C=CC(=CC=2)C(C)(C)C)=NN=C1C1=CC=C(C=2C=CC=CC=2)C=C1 PZLZJGZGJHZQAU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- SCZWJXTUYYSKGF-UHFFFAOYSA-N 5,12-dimethylquinolino[2,3-b]acridine-7,14-dione Chemical compound CN1C2=CC=CC=C2C(=O)C2=C1C=C1C(=O)C3=CC=CC=C3N(C)C1=C2 SCZWJXTUYYSKGF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VIZUPBYFLORCRA-UHFFFAOYSA-N 9,10-dinaphthalen-2-ylanthracene Chemical compound C12=CC=CC=C2C(C2=CC3=CC=CC=C3C=C2)=C(C=CC=C2)C2=C1C1=CC=C(C=CC=C2)C2=C1 VIZUPBYFLORCRA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N Calcium Chemical compound [Ca] OYPRJOBELJOOCE-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N Carbon Chemical compound [C] OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N Chromium Chemical compound [Cr] VYZAMTAEIAYCRO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N Iron Chemical compound [Fe] XEEYBQQBJWHFJM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N Lithium Chemical compound [Li] WHXSMMKQMYFTQS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N Molybdenum Chemical compound [Mo] ZOKXTWBITQBERF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ZCQWOFVYLHDMMC-UHFFFAOYSA-N Oxazole Chemical compound C1=COC=N1 ZCQWOFVYLHDMMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000001237 Raman spectrum Methods 0.000 description 1
- 229910003902 SiCl 4 Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000577 Silicon-germanium Inorganic materials 0.000 description 1
- FZWLAAWBMGSTSO-UHFFFAOYSA-N Thiazole Chemical compound C1=CSC=N1 FZWLAAWBMGSTSO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N Titanium Chemical compound [Ti] RTAQQCXQSZGOHL-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000002441 X-ray diffraction Methods 0.000 description 1
- LEVVHYCKPQWKOP-UHFFFAOYSA-N [Si].[Ge] Chemical compound [Si].[Ge] LEVVHYCKPQWKOP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229960000583 acetic acid Drugs 0.000 description 1
- 229910000272 alkali metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000001341 alkaline earth metal compounds Chemical class 0.000 description 1
- 229910000287 alkaline earth metal oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- UQZIWOQVLUASCR-UHFFFAOYSA-N alumane;titanium Chemical compound [AlH3].[Ti] UQZIWOQVLUASCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 235000019270 ammonium chloride Nutrition 0.000 description 1
- 229910021417 amorphous silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000003466 anti-cipated effect Effects 0.000 description 1
- 125000005264 aryl amine group Chemical group 0.000 description 1
- 239000012298 atmosphere Substances 0.000 description 1
- WZJYKHNJTSNBHV-UHFFFAOYSA-N benzo[h]quinoline Chemical group C1=CN=C2C3=CC=CC=C3C=CC2=C1 WZJYKHNJTSNBHV-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GQVWHWAWLPCBHB-UHFFFAOYSA-L beryllium;benzo[h]quinolin-10-olate Chemical compound [Be+2].C1=CC=NC2=C3C([O-])=CC=CC3=CC=C21.C1=CC=NC2=C3C([O-])=CC=CC3=CC=C21 GQVWHWAWLPCBHB-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- UFVXQDWNSAGPHN-UHFFFAOYSA-K bis[(2-methylquinolin-8-yl)oxy]-(4-phenylphenoxy)alumane Chemical compound [Al+3].C1=CC=C([O-])C2=NC(C)=CC=C21.C1=CC=C([O-])C2=NC(C)=CC=C21.C1=CC([O-])=CC=C1C1=CC=CC=C1 UFVXQDWNSAGPHN-UHFFFAOYSA-K 0.000 description 1
- XZCJVWCMJYNSQO-UHFFFAOYSA-N butyl pbd Chemical compound C1=CC(C(C)(C)C)=CC=C1C1=NN=C(C=2C=CC(=CC=2)C=2C=CC=CC=2)O1 XZCJVWCMJYNSQO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052792 caesium Inorganic materials 0.000 description 1
- TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N caesium atom Chemical compound [Cs] TVFDJXOCXUVLDH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052791 calcium Inorganic materials 0.000 description 1
- WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L calcium difluoride Chemical compound [F-].[F-].[Ca+2] WUKWITHWXAAZEY-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Chemical compound [O-2].[Ca+2] BRPQOXSCLDDYGP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000292 calcium oxide Substances 0.000 description 1
- ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N calcium oxide Inorganic materials [Ca]=O ODINCKMPIJJUCX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010406 cathode material Substances 0.000 description 1
- SLLGVCUQYRMELA-UHFFFAOYSA-N chlorosilicon Chemical compound Cl[Si] SLLGVCUQYRMELA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052804 chromium Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017052 cobalt Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010941 cobalt Substances 0.000 description 1
- GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N cobalt atom Chemical compound [Co] GUTLYIVDDKVIGB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000004440 column chromatography Methods 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 238000000354 decomposition reaction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000000113 differential scanning calorimetry Methods 0.000 description 1
- 238000010790 dilution Methods 0.000 description 1
- 239000012895 dilution Substances 0.000 description 1
- 238000001035 drying Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005281 excited state Effects 0.000 description 1
- 238000001914 filtration Methods 0.000 description 1
- 239000012362 glacial acetic acid Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000005283 ground state Effects 0.000 description 1
- 229910052736 halogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000002367 halogens Chemical class 0.000 description 1
- JIMJACVRQFJADR-UHFFFAOYSA-N hexane;tritert-butylphosphane Chemical compound CCCCCC.CC(C)(C)P(C(C)(C)C)C(C)(C)C JIMJACVRQFJADR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 description 1
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910003437 indium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N indium(iii) oxide Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[In+3].[In+3] PJXISJQVUVHSOJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000010365 information processing Effects 0.000 description 1
- 238000005499 laser crystallization Methods 0.000 description 1
- 239000003446 ligand Substances 0.000 description 1
- 229910052744 lithium Inorganic materials 0.000 description 1
- FUJCRWPEOMXPAD-UHFFFAOYSA-N lithium oxide Chemical compound [Li+].[Li+].[O-2] FUJCRWPEOMXPAD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001947 lithium oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052943 magnesium sulfate Inorganic materials 0.000 description 1
- 235000019341 magnesium sulphate Nutrition 0.000 description 1
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 150000002739 metals Chemical class 0.000 description 1
- 239000013081 microcrystal Substances 0.000 description 1
- 229910052750 molybdenum Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011733 molybdenum Substances 0.000 description 1
- 229910021421 monocrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- SDVOZSYGHFDAKX-UHFFFAOYSA-N n,4-diphenyl-n-[4-[4-(n-(4-phenylphenyl)anilino)phenyl]phenyl]aniline Chemical group C1=CC=CC=C1N(C=1C=CC(=CC=1)C=1C=CC(=CC=1)N(C=1C=CC=CC=1)C=1C=CC(=CC=1)C=1C=CC=CC=1)C1=CC=C(C=2C=CC=CC=2)C=C1 SDVOZSYGHFDAKX-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000004767 nitrides Chemical class 0.000 description 1
- 239000012044 organic layer Substances 0.000 description 1
- 229910052763 palladium Inorganic materials 0.000 description 1
- LCCNCVORNKJIRZ-UHFFFAOYSA-N parathion Chemical compound CCOP(=S)(OCC)OC1=CC=C([N+]([O-])=O)C=C1 LCCNCVORNKJIRZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000149 penetrating effect Effects 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 238000005268 plasma chemical vapour deposition Methods 0.000 description 1
- 229910052697 platinum Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002244 precipitate Substances 0.000 description 1
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 1
- 238000010791 quenching Methods 0.000 description 1
- 230000000171 quenching effect Effects 0.000 description 1
- 125000002943 quinolinyl group Chemical group N1=C(C=CC2=CC=CC=C12)* 0.000 description 1
- 230000006798 recombination Effects 0.000 description 1
- 238000005215 recombination Methods 0.000 description 1
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 description 1
- 235000017557 sodium bicarbonate Nutrition 0.000 description 1
- 229910000030 sodium bicarbonate Inorganic materials 0.000 description 1
- MFRIHAYPQRLWNB-UHFFFAOYSA-N sodium tert-butoxide Chemical compound [Na+].CC(C)(C)[O-] MFRIHAYPQRLWNB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HPALAKNZSZLMCH-UHFFFAOYSA-M sodium;chloride;hydrate Chemical class O.[Na+].[Cl-] HPALAKNZSZLMCH-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 1
- 239000007790 solid phase Substances 0.000 description 1
- 238000004528 spin coating Methods 0.000 description 1
- 125000003003 spiro group Chemical group 0.000 description 1
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 1
- 229910052712 strontium Inorganic materials 0.000 description 1
- CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N strontium atom Chemical compound [Sr] CIOAGBVUUVVLOB-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N tin dioxide Chemical compound O=[Sn]=O XOLBLPGZBRYERU-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001887 tin oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052719 titanium Inorganic materials 0.000 description 1
- 150000003613 toluenes Chemical class 0.000 description 1
- WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N tungsten Chemical compound [W] WFKWXMTUELFFGS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052721 tungsten Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010937 tungsten Substances 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
- YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N zinc indium(3+) oxygen(2-) Chemical compound [O--].[Zn++].[In+3] YVTHLONGBIQYBO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- GWDUZCIBPDVBJM-UHFFFAOYSA-L zinc;2-(2-hydroxyphenyl)-3h-1,3-benzothiazole-2-carboxylate Chemical compound [Zn+2].OC1=CC=CC=C1C1(C([O-])=O)SC2=CC=CC=C2N1.OC1=CC=CC=C1C1(C([O-])=O)SC2=CC=CC=C2N1 GWDUZCIBPDVBJM-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
- QEPMORHSGFRDLW-UHFFFAOYSA-L zinc;2-(2-hydroxyphenyl)-3h-1,3-benzoxazole-2-carboxylate Chemical compound [Zn+2].OC1=CC=CC=C1C1(C([O-])=O)OC2=CC=CC=C2N1.OC1=CC=CC=C1C1(C([O-])=O)OC2=CC=CC=C2N1 QEPMORHSGFRDLW-UHFFFAOYSA-L 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/60—Organic compounds having low molecular weight
- H10K85/631—Amine compounds having at least two aryl rest on at least one amine-nitrogen atom, e.g. triphenylamine
- H10K85/633—Amine compounds having at least two aryl rest on at least one amine-nitrogen atom, e.g. triphenylamine comprising polycyclic condensed aromatic hydrocarbons as substituents on the nitrogen atom
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K50/00—Organic light-emitting devices
- H10K50/10—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED]
- H10K50/11—OLEDs or polymer light-emitting diodes [PLED] characterised by the electroluminescent [EL] layers
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K2102/00—Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
- H10K2102/301—Details of OLEDs
- H10K2102/302—Details of OLEDs of OLED structures
- H10K2102/3023—Direction of light emission
- H10K2102/3026—Top emission
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K2102/00—Constructional details relating to the organic devices covered by this subclass
- H10K2102/301—Details of OLEDs
- H10K2102/302—Details of OLEDs of OLED structures
- H10K2102/3023—Direction of light emission
- H10K2102/3031—Two-side emission, e.g. transparent OLEDs [TOLED]
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/10—OLED displays
- H10K59/12—Active-matrix OLED [AMOLED] displays
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/60—Organic compounds having low molecular weight
- H10K85/631—Amine compounds having at least two aryl rest on at least one amine-nitrogen atom, e.g. triphenylamine
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Description
光素子を有する発光装置に関する。
または照明用の装置として注目されている。
れた構成を有するものがよく知られている。
機能し、陽極側から注入された正孔と、陰極側から注入された電子とが再結合して励起状
態の分子を形成し、それが基底状態に戻るときに光を放出する。
いては特に低消費電力化への要求が高く、これを達成するために発光素子の低駆動電圧化
が試みられている。また、商品化を踏まえれば、低駆動電圧化のみならず発光素子の長寿
命化もまた重要であり、これを達成するための発光素子の開発が進められている。
ることで発光素子の低駆動電圧化を達成している(特許文献1参照)。
るとは言えず、さらなる長寿命化を達成するための技術開発を必要としていた。
短絡しやすいという問題を抱えている。特に、発光素子の作製工程で発生するゴミによる
歩留まりの低さが問題となっている。
長い発光素子を提供する。また、製造歩留まりの高い発光素子を提供する。また、該発光
素子を有する発光装置を提供する。
り、上記課題を解決できることを見いだした。
有し、有機材料と無機材料とを含む層の電気伝導度の活性化エネルギーは0.01eV以
上0.3eV未満であることを特徴とする。より好ましくは、有機材料と無機材料とを含
む層の電気伝導度の活性化エネルギーは0.01eV以上0.26eV未満であることを
特徴とする。さらに好ましくは、0.01eV以上0.20eV未満であることを特徴と
する。
し、上記構成において、有機材料と無機材料とを含む層は、可視光領域に吸収ピークがな
く、無機材料の濃度が30〜95wt%であることを特徴とする。
0.01eV以上0.20eV未満であることを特徴とする。
しては、4,4’−ビス(N−{4−[N,N’−ビス(3−メチルフェニル)アミノ]
フェニル}−N−フェニルアミノ)ビフェニル(略称:DNTPD)、4,4’−ビス[
N−(4−ジフェニルアミノフェニル)−N−フェニルアミノ]ビフェニル(略称:DP
AB)などが挙げられる。
し、有機材料と無機材料とを含む層は、可視光領域に吸収ピークがあり、無機材料の濃度
が5〜95wt%であることを特徴とする。
0.01eV以上0.3eV未満であることを特徴とする。より好ましくは、有機材料と
無機材料とを含む層の電気伝導度の活性化エネルギーは0.01eV以上0.26eV未
満であることを特徴とする。さらに好ましくは、0.01eV以上0.20eV未満であ
ることを特徴とする。
は、N,N’−ビス(3−メチルフェニル)−N,N’−ジフェニル−[1,1’−ビフ
ェニル]−4,4’−ジアミン(略称:TPD)、4,4’−ビス[N−(1−ナフチル
)−N−フェニルアミノ]ビフェニル(略称:α−NPD)、N,N’−ビス(スピロ−
9,9’−ビフルオレン−2−イル)−N,N’−ジフェニルベンジジン(略称:BSP
B)、4,4’−ビス[N−(9,9−ジメチルフルオレン−2−イル)−N−フェニル
アミノ]ビフェニル(略称:DFLDPBi)、4,4’−ビス[N−(4−ビフェニリ
ル)−N−フェニルアミノ]ビフェニル(略称:BBPB)などが挙げられる。
は、無機材料として、モリブデン酸化物、バナジウム酸化物、ルテニウム酸化物、タング
ステン酸化物のいずれか一種もしくは複数種であることを用いることができる。
極と接するように設けられていることを特徴とする。
、本明細書中における発光装置とは、画像表示デバイス、発光デバイス、もしくは光源(
照明装置含む)を範疇に含むものとする。また、パネルにコネクター、例えばFPC(F
lexible printed circuit)もしくはTAB(Tape Aut
omated Bonding)テープもしくはTCP(Tape Carrier P
ackage)が取り付けられたモジュール、TABテープやTCPの先にプリント配線
板が設けられたモジュール、または発光素子にCOG(Chip On Glass)方
式によりIC(集積回路)が直接実装されたモジュールも全て発光装置に含むものとする
。
により、駆動電圧を低減することができる。また、素子寿命の長い発光素子を提供するこ
とが可能となる。
できるため、活性化エネルギーが小さい層を厚膜化して上下の電極間の短絡を抑制するこ
とができる。よって、製造工程で発生するゴミによる歩留まりの低下を抑制することがで
きる。
の説明に限定されず、本発明の趣旨及びその範囲から逸脱することなくその形態及び詳細
を様々に変更し得ることは当業者であれば容易に理解される。従って、本発明は以下に示
す実施の形態の記載内容に限定して解釈されるものではない。
本発明の発光素子は、一対の電極間に複数の層を有する。当該複数の層は、電極から離
れたところに発光領域が形成されるように、つまり電極から離れた部位でキャリア(担体
)の再結合が行われるように、キャリア注入性の高い物質やキャリア輸送性の高い物質か
らなる層を組み合わせて積層されたものである。
した第1の層103、第2の層104、第3の層105、第4の層106と、さらにその
上に設けられた第2の電極107とから構成されている。なお、本形態では第1の電極1
02は陽極として機能し、第2の電極107は陰極として機能するものとして以下説明を
する。
ス、またはプラスチックなどを用いることができる。なお、発光素子を作製工程において
支持体として機能するものであれば、これら以外のものでもよい。
できる。例えば、インジウム錫酸化物(ITO:Indium Tin Oxide)、
珪素若しくは酸化珪素を含有したインジウム錫酸化物、酸化インジウム−酸化亜鉛(IZ
O:Indium Zinc Oxide)、酸化タングステン及び酸化亜鉛を含有した
酸化インジウム−酸化スズ(IWZO)等が挙げられる。これらの導電性金属酸化物膜は
、通常スパッタにより成膜される。例えば、酸化インジウム−酸化亜鉛(IZO)は、酸
化インジウムに対し1〜20wt%の酸化亜鉛を加えたターゲットを用いてスパッタリン
グ法により形成することができる。また、酸化タングステン及び酸化亜鉛を含有した酸化
インジウム−酸化スズ(IWZO)は、酸化インジウムに対し酸化タングステンを0.5
〜5wt%、酸化亜鉛を0.1〜1wt%含有したターゲットを用いてスパッタリング法
により形成することができる。この他にも、金(Au)、白金(Pt)、ニッケル(Ni
)、タングステン(W)、クロム(Cr)、モリブデン(Mo)、鉄(Fe)、コバルト
(Co)、チタン(Ti)、銅(Cu)、パラジウム(Pd)、アルミニウム(Al)、
アルミニウム−シリコン(Al−Si)、アルミニウム−チタン(Al−Ti)、アルミ
ニウム−シリコン−銅(Al−Si−Cu)または金属材料の窒化物(TiN)等、を用
いることができるが、第1の電極を陽極として用いる場合には、その中でも、仕事関数の
大きい(仕事関数4.0eV以上)材料で形成されていることが好ましい。
れず、仕事関数の小さい材料を用いることもできる。
ギーが0.01eV以上0.30eV未満である層である。より好ましくは0.01eV
以上0.26eV未満である層である。さらに好ましくは、0.01eV以上0.20e
V未満である層である。以下、本明細書では、電気伝導度の活性化エネルギーが小さい層
と記載する。
キャリア密度が高く、電極とオーム接触することができる。よって、発光素子の駆動電圧
を低減することができる。また、キャリア密度が高いため、キャリア輸送性にも優れてい
る。なお、十分なキャリア密度を得るためには、電気伝導度の活性化エネルギーが0.0
1eV以上0.30eV未満であることが好ましい。また、電気伝導度の活性化エネルギ
ーが0.01eV以上0.26eV未満であると、より好ましい。また、発光素子に用い
た場合、電気伝導度の活性化エネルギーが0.01eV以上0.20eV未満であると、
高電圧側でも電流―電圧特性が変化しないので、より好ましい。
しては、金属酸化物であることが好ましい。具体例としては、モリブデン酸化物(MoO
x)、バナジウム酸化物(VOx)、ルテニウム酸化物(RuOx)、タングステン酸化
物(WOx)等が挙げられる。この他、インジウム錫酸化物(ITO)や亜鉛酸化物(Z
nO)を用いることができる。但し、ここに示したものに限らず、その他の物質を用いて
もよい。また、有機材料としては、アリールアミン骨格を有する有機材料であることが好
ましく、例えば4,4’−ビス(N−{4−[N,N’−ビス(3−メチルフェニル)ア
ミノ]フェニル}−N−フェニルアミノ)ビフェニル(略称:DNTPD)、4,4’−
ビス[N−(4−ジフェニルアミノフェニル)−N−フェニルアミノ]ビフェニル(略称
:DPAB)、N,N’−ビス(3−メチルフェニル)−N,N’−ジフェニル−[1,
1’−ビフェニル]−4,4’−ジアミン(略称:TPD)、4,4’−ビス[N−(1
−ナフチル)−N−フェニルアミノ]ビフェニル(略称:α−NPD)、N,N’−ビス
(スピロ−9,9’−ビフルオレン−2−イル)−N,N’−ジフェニルベンジジン(略
称:BSPB)、4,4’−ビス[N−(9,9−ジメチルフルオレン−2−イル)−N
−フェニルアミノ]ビフェニル(略称:DFLDPBi)、4,4’−ビス[N−(4−
ビフェニリル)−N−フェニルアミノ]ビフェニル(略称:BBPB)、1,5−ビス(
ジフェニルアミノ)ナフタレン(略称:DPAN)、4,4’,4’’−トリス(N,N
−ジフェニルアミノ)トリフェニルアミン(略称:TDATA)、4,4’,4’’−ト
リス[N−(3−メチルフェニル)−N−フェニルアミノ]トリフェニルアミン(略称:
MTDATA)、などの芳香族アミン系(即ち、ベンゼン環−窒素の結合を有する)の化
合物を用いることができる。なお、電子よりも正孔の輸送性の高い物質であれば、これら
以外のものを用いてもよい。
してもよい。
MTDATA、BSPBなどの芳香族アミン系(即ち、ベンゼン環−窒素の結合を有する
)の化合物からなる層である。ここに述べた物質は、主に10−6cm2/Vs以上の正
孔移動度を有する物質である。但し、電子よりも正孔の輸送性の高い物質であれば、これ
ら以外のものを用いてもよい。なお、第2の層104は、単層のものだけでなく、上記物
質からなる層が二層以上積層したものであってもよい。
ナクリドン(略称:DMQd)や3−(2−ベンゾチアゾイル)−7−ジエチルアミノク
マリン(略称:クマリン6)等の発光性の高い物質とトリス(8−キノリノラト)アルミ
ニウム(略称:Alq3)や9,10−ジ(2−ナフチル)アントラセン(略称:DNA
)等のキャリア輸送性が高く成膜したときに膜質がよい(つまり結晶化しにくい)物質と
を自由に組み合わせて構成される。但し、Alq3やDNAは発光性も高い物質であるた
め、これらの物質を単独で用いた構成とし、第3の層105としても構わない。
ニウム(略称:Alq3)、トリス(5−メチル−8−キノリノラト)アルミニウム(略
称:Almq3)、ビス(10−ヒドロキシベンゾ[h]−キノリナト)ベリリウム(略
称:BeBq2)、ビス(2−メチル−8−キノリノラト)−4−フェニルフェノラト−
アルミニウム(略称:BAlq)など、キノリン骨格またはベンゾキノリン骨格を有する
金属錯体等からなる層である。また、この他ビス[2−(2−ヒドロキシフェニル)−ベ
ンゾオキサゾラト]亜鉛(略称:Zn(BOX)2)、ビス[2−(2−ヒドロキシフェ
ニル)−ベンゾチアゾラト]亜鉛(略称:Zn(BTZ)2)などのオキサゾール系、チ
アゾール系配位子を有する金属錯体なども用いることができる。さらに、金属錯体以外に
も、2−(4−ビフェニリル)−5−(4−tert−ブチルフェニル)−1,3,4−
オキサジアゾール(略称:PBD)や、1,3−ビス[5−(p−tert−ブチルフェ
ニル)−1,3,4−オキサジアゾール−2−イル]ベンゼン(略称:OXD−7)、3
−(4−tert−ブチルフェニル)−4−フェニル−5−(4−ビフェニリル)−1,
2,4−トリアゾール(略称:TAZ)、3−(4−tert−ブチルフェニル)−4−
(4−エチルフェニル)−5−(4−ビフェニリル)−1,2,4−トリアゾール(略称
:p−EtTAZ)、バソフェナントロリン(略称:BPhen)、バソキュプロイン(
略称:BCP)なども用いることができる。ここに述べた物質は、主に10−6cm2/
Vs以上の電子移動度を有する物質である。なお、正孔よりも電子の輸送性の高い物質で
あれば、上記以外の物質を第4の層106として用いても構わない。また、第4の層10
6は、単層のものだけでなく、上記物質からなる層が二層以上積層したものとしてもよい
。
下)金属、合金、電気伝導性化合物、およびこれらの混合物などを用いることができる。
このような陰極材料の具体例としては、元素周期表の1族または2族に属する元素、すな
わちリチウム(Li)やセシウム(Cs)等のアルカリ金属、およびマグネシウム(Mg
)、カルシウム(Ca)、ストロンチウム(Sr)等のアルカリ土類金属、およびこれら
を含む合金(Mg:Ag、Al:Li)が挙げられる。しかしながら、第2の電極107
と発光層との間に、電子注入を促す機能を有する層を、当該第2の電極と積層して設ける
ことにより、仕事関数の大小に関わらず、Al、Ag、ITO、珪素を含有したインジウ
ム錫酸化物等様々な導電性材料を第2の電極107として用いることができる。
シウム(CsF)、フッ化カルシウム(CaF2)等のようなアルカリ金属又はアルカリ
土類金属の化合物を用いることができる。また、この他、電子輸送性を有する物質からな
る層中にアルカリ金属又はアルカリ土類金属を含有させたもの、例えばAlq3中にマグ
ネシウム(Mg)を含有させたもの等を用いることができる。
より形成されればよい。上記蒸着法以外にも、例えばインクジェット法またはスピンコー
ト法など用いても構わない。また各電極または各層ごとに異なる成膜方法を用いて形成し
ても構わない。
との間に生じた電位差により電流が流れ、発光性の高い物質を含む層である第3の層10
5において正孔と電子とが再結合し、発光するものである。つまり第3の層105に発光
領域が形成されるような構成となっている。但し、第3の層105の全てが発光領域とし
て機能する必要はなく、例えば、第3の層105のうち第2の層104側または第4の層
106側にのみ発光領域が形成されるようなものであってもよい。
外部に取り出される。従って、第1の電極102または第2の電極107のいずれか一方
または両方は、透光性を有する物質で成る。第1の電極102のみが透光性を有する物質
からなるものである場合、図1(A)に示すように、発光は第1の電極102を通って基
板側から取り出される。また、第2の電極107のみが透光性を有する物質からなるもの
である場合、図1(B)に示すように、発光は第2の電極107を通って基板と逆側から
取り出される。第1の電極102および第2の電極107がいずれも透光性を有する物質
からなるものである場合、図1(C)に示すように、発光は第1の電極102および第2
の電極107を通って、基板側および基板と逆側の両方から取り出される。
には限定されない。発光領域と金属とが近接することによって生じる消光が抑制されるよ
うに、第1の電極102および第2の電極107から離れた部位に正孔と電子とが再結合
する領域を設けた構成であり、且つ、電気伝導度の活性化エネルギーが小さい層を有する
ものであれば、上記以外のものでもよい。
つまり、層の積層構造については特に限定されず、電子輸送性の高い物質または正孔輸送
性の高い物質、電子注入性の高い物質、正孔注入性の高い物質、バイポーラ性(電子及び
正孔の輸送性の高い物質)の物質等から成る層を、電気伝導度の活性化エネルギーが小さ
い層と自由に組み合わせて構成すればよい。また、第1の電極102上には、酸化珪素膜
等からなる層を設けることによってキャリアの再結合部位を制御したものであってもよい
。
物質からなる第1の層303、発光性の高い物質を含む第2の層304、正孔輸送性の高
い物質からなる第3の層305、電気伝導度の活性化エネルギーが小さい層である第4の
層306、陽極として機能する第2の電極307とが順に積層された構成となっている。
なお、301は基板である。
している。一基板上にこのような発光素子を複数作製することで、パッシブ型の発光装置
を作製することができる。また、ガラス、プラスチックなどからなる基板以外に、例えば
薄膜トランジスタ(TFT)アレイ基板上に発光素子を作製してもよい。これにより、T
FTによって発光素子の駆動を制御するアクティブマトリクス型の発光装置を作製できる
。なお、TFTの構造は、特に限定されない。スタガ型のTFTでもよいし逆スタガ型の
TFTでもよい。また、TFTアレイ基板に形成される駆動用回路についても、N型およ
びP型のTFTからなるものでもよいし、若しくはN型またはP型のいずれか一方からの
みなるものであってもよい。
低駆動電圧化が実現する。つまり、本発明の電気伝導度の活性化エネルギーが小さい層は
、キャリア密度が高いため、電極とオーム接触することができる。よって、発光素子の駆
動電圧を低減することができる。また、キャリア密度が高いため、キャリア輸送性にも優
れている。なお、十分なキャリア密度を得るためには、電気伝導度の活性化エネルギーが
0.01eV以上0.30eV未満であることが好ましい。また、電気伝導度の活性化エ
ネルギーが0.01eV以上0.26eV未満であると、より好ましい。また、発光素子
に用いた場合、電気伝導度の活性化エネルギーが0.01eV以上0.20eV未満であ
ると、電流―電圧特性が変化しないので、より好ましい。
しても駆動電圧の上昇を抑制することができるため、電気伝導度の活性化エネルギーが小
さい層を厚膜化して上下の電極間の短絡を抑制することができる。よって、製造工程で発
生するゴミによる欠陥を抑制し、歩留まりを向上させることができる。
る短絡を防止することができるため、信頼性の高い発光素子を得ることができる。例えば
、通常の発光素子の電極間の膜厚が100nm〜150nmであるのに対し、電気伝導度
の活性化エネルギーが小さい層を用いた発光素子の電極間の膜厚は、100〜500nm
、好ましくは、200〜500nmとすることができる。
ア密度が高いため、電極とオーム接触することが可能である。つまり、電極との接触抵抗
が小さい。そのため、仕事関数等を考慮することなく、電極材料を選ぶことができる。つ
まり、電極材料の選択肢が広がる。
ができるため、発光物質を含む層を真空蒸着で形成する場合は、いずれの層も同一の真空
装置内で成膜することが可能であり、大気解放する必要がない。つまり、真空一貫で成膜
することができる。よって、製造工程におけるゴミの付着を防ぐことができ、歩留まりを
向上させることができる。
含んでいるため、電極と、発光物質を含む層との間に生じる応力を緩和させることができ
る。
本実施の形態では、実施の形態1で示した電気伝導度の活性化エネルギーが小さい層(
有機材料と無機材料とを含む層であり、電気伝導度の活性化エネルギーが0.01eV以
上0.30eV未満である層、より好ましくは0.01eV以上0.26eV未満である
層、さらに好ましくは、0.01eV以上0.20eV未満である層)についてより詳し
く説明する。
ない場合について説明する。本実施の形態では、可視光領域に吸収ピークをもたない、D
NTPDと酸化モリブデンとを含む層を用いて説明する。DNTPDと酸化モリブデンと
を重量比が1:1となるよう共蒸着で成膜した層の吸収スペクトルを図11に示す。図1
1より、DNTPDと酸化モリブデンとを含む層は、可視光領域に吸収ピークがないこと
がわかる。DNTPD以外にも、DPAB等の有機材料と酸化モリブデンとを含む層は、
可視光領域に吸収ピークをもたない。なお、本明細書中において、可視光領域とは400
nm〜800nmの波長領域のことを示す。
極を作製した。ITO陽極を有する第一のガラス基板を水洗し、乾燥させた後、蒸着機の
中に第一のガラス基板をセットして、圧力が1×10−3Pa以下となるまで真空チャン
バーを排気した。
た。ここで、酸化モリブデン濃度は、表1の水準となるよう共蒸着を制御した。なお、膜
厚は200nmとなるように成膜を行った。なお、素子1はDNTPDのみで蒸着により
膜厚が200nmとなるように成膜した。
二のガラス基板をエポキシ系の接着剤で第一のガラス基板に貼り合わせて、素子1〜9を
得た。
れている素子2〜9は、酸化モリブデンが含まれていない素子1より低抵抗となっている
ことがわかる。なお、酸化モリブデン濃度が増加するにつれて、低抵抗化しているが、酸
化モリブデン濃度が80wt%を超えると、抵抗が高くなっていくことがわかる。
域における電流―電圧特性は、電圧の一乗から二乗の間で比例していることがわかる。一
方、素子1は、それより大きなべき乗で電圧に比例していることがわかる。これは、素子
1において、ITO陽極との接触がショットキー接触であるのに対し、素子2〜9におい
ては、オーム接触であることに起因するものである。そのため、素子2〜9ではオーム電
流が支配的であると考えられる。
Dと酸化モリブデンを含む層が半導体であるとすると、アレニウスの式で表される。
ギーを求めることができる。
ぼ直線上に乗っていることがわかる。この直線の傾きより、活性化エネルギーを求め、酸
化モリブデン濃度に対する活性化エネルギーの変化を図16に示す。下に凸のグラフとな
っていることがわかる。なお、ITO陽極上に酸化モリブデンのみを50nm蒸着し、A
l陰極とした素子(以下、素子10とする)において、同様の解析を行ったところ、活性
化エネルギーは0.26eVと求められた。素子2は素子10より活性化エネルギーが大
きくなっている。これは、酸化モリブデン濃度が低すぎるためと考えられる。一方、素子
3〜9は素子10の活性化エネルギーの値より低くなっており、一定量の酸化モリブデン
を含有することで、酸化モリブデン単膜では得られない活性化エネルギーを得ることがで
きた。
場合には、活性化エネルギーが0.01eV以上0.30eV未満となるようにすること
が好ましい。より好ましくは、0.01eV以上0.26eV未満であることが好ましい
。さらに好ましくは0.20eV未満であることが好ましい。また、酸化モリブデンの濃
度が30wt%以上95wt%以下である層を用いることが好ましい。
本実施の形態では、実施の形態2とは異なり、有機材料と無機材料とを含む層が、可視
光領域に吸収ピークをもつ場合について説明する。本実施の形態では、可視光領域に吸収
ピークをもつ、BSPBと酸化モリブデンとを含む層を用いて説明する。BSPBと酸化
モリブデンとを重量比が1:1となるよう共蒸着で成膜した層の吸収スペクトルを図12
に示す。図12より、BSPBと酸化モリブデンとを含む層は、可視光領域に吸収ピーク
があることがわかる。また、BSPB以外にも、TPD、α−NPD、DFLDPBi、
BBPB等の有機材料と酸化モリブデンとを含む層は可視光領域に吸収ピークをもつ。
極を作製した。前記ITO陽極を有する第一のガラス基板を水洗し、乾燥させた後、蒸着
機の中に第一のガラス基板をセットして、圧力が1×10−3Pa以下となるまで真空チ
ャンバーを排気した。
。ここで、酸化モリブデン濃度は、下表の水準となるよう共蒸着を制御した。なお、膜厚
は200nmとなるように成膜を行った。なお、素子11はBSPBのみで膜厚が200
nmとなるように蒸着で成膜した。
第二のガラス基板をエポキシ系の接着剤で第一のガラス基板に貼り合わせて、素子11〜
15を得た。
含まれている素子12〜15は、酸化モリブデンが含まれていない素子11より低抵抗と
なっていることがわかる。
圧領域における電流―電圧特性は、電圧の一乗から二乗の間で比例していることがわかる
。一方、素子11は、それより大きなべき乗で電圧に比例していることがわかる。これは
、素子11において、ITO陽極との接触がショットキー接触であるのに対し、素子12
〜15においては、オーム接触であることに起因するものである。そのため、素子12〜
15ではオーム電流が支配的であると考えられる。
がオーム電流とし、BSPBと酸化モリブデンを含む層が半導体であるとして、アレニウ
スプロットから、活性化エネルギーを求めた。素子12〜15における1Vでのアレニウ
スプロットを図19に示す。いずれの素子も、ほぼ直線上に乗っていることがわかる。こ
の直線の傾きより、活性化エネルギーを求め、酸化モリブデン濃度に対する活性化エネル
ギーの変化を図20に示す。なお、酸化モリブデンのみを蒸着した素子10の活性化エネ
ルギー0.26eVであることを考慮すると、図20は下に凸のグラフとなっているとい
える。また、素子12は素子10より活性化エネルギーが大きくなっている。これは、酸
化モリブデン濃度が低すぎるためと考えられる。一方、素子13〜15は素子10の活性
化エネルギーの値より低くなっており、一定量の酸化モリブデンを含有することで、酸化
モリブデン単膜では得られない活性化エネルギーを得ることができた。
には、活性化エネルギーが0.01eV以上0.30eV未満となるようにすることが好
ましい。より好ましくは、0.01eV以上0.26eV未満であることが好ましい。さ
らに好ましくは0.20eV未満であることが好ましい。また、酸化モリブデンの濃度が
5wt%以上95wt%以下である層を用いることが好ましい。
本実施の形態では、実施の形態1に示した構成とは異なる構成を有する発光素子につい
て、図3および図4を用いて説明する。
202との間に、第1の層211、第2の層212、第3の層213、第4の層214が
積層された構成となっている。本実施の形態では、第1の電極201が陽極として機能し
、第2の電極202が陰極として機能する場合について説明する。
きる。また、第1の層211は実施の形態2および実施の形態3で示した活性化エネルギ
ーが小さい層であり、第2の層212は発光性の高い物質を含む層である。第3の層21
3は金属酸化物の中から選ばれた一の化合物と電子輸送性の高い化合物とを含む層であり
、第4の層214は実施の形態2および実施の形態3で示した活性化エネルギーが小さい
層である。第3の層213に含まれる金属酸化物としては、アルカリ金属酸化物またはア
ルカリ土類金属酸化物であることが好ましい。具体的には、リチウム酸化物、カルシウム
酸化物、バリウム酸化物等が挙げられる。
ることにより第3の層213および第4の層214の界面近傍にて電子の授受が行われ、
電子と正孔が発生し、第3の層213は電子を第2の層212に輸送すると同時に、第4
の層214は正孔を第2の電極202に輸送する。すなわち、第3の層213と第4の層
214とを合わせて、キャリア発生層としての役割を果たしている。また、第4の層21
4は、正孔を第2の電極202に輸送する機能を担っていると言える。なお、第4の層2
14と第2の電極202との間に、さらに第2の層および第3の層を再び積層することで
、タンデム型の発光素子とすることも可能である。
。したがって、本実施の形態の発光素子は、発光機能を担う第2の層の両側を非常に厚く
することが可能となり、さらに発光素子の短絡を効果的に防止できる。また、図3(a)
を例に取ると、第2の電極202をスパッタリングにより成膜する場合などは、発光性の
物質が存在する第2の層212へのダメージを低減することもできる。さらに、第1の層
211と第4の層214を同じ材料で構成することにより、発光物質を含む層203の第
1の電極側および発光物質を含む層203の第2の電極側が同じ材料で構成されることに
なるため、応力歪みを抑制する効果も期待できる。
類を変えることで、様々なバリエーションを有する。その模式図を図3(b)、図3(c
)および図4に示す。なお、図3(b)、図3(c)および図4では、図3(a)の符号
を引用する。また、200は、本発明の発光素子を担持する基板である。
層214の順で構成されている場合の例である。この時、第1の電極201を光透過性と
し、第2の電極202を遮光性(特に反射性)とすることで、図3(a)のように基板2
00側から光を射出する構成となる。また、第1の電極201を遮光性(特に反射性)と
し、第2の電極202を光透過性とすることで、図3(b)のように基板200の逆側か
ら光を射出する構成となる。さらに、第1の電極201、第2の電極202の両方を光透
過性とすることで、図3(c)に示すように、基板200側と基板200の逆側の両方に
光を射出する構成も可能となる。
層211の順で構成されている場合の例である。この時、第1の電極201を遮光性(特
に反射性)とし、第2の電極202を光透過性とすることで、図4(a)のように基板2
00側から光を取り出す構成となる。また、第1の電極201を光透過性とし、第2の電
極202を遮光性(特に反射性)とすることで、図4(b)のように基板200と逆側か
ら光を取り出す構成となる。さらに、第1の電極201、第2の電極202の両方を光透
過性とすることで、図4(c)に示すように、基板200側と基板200の逆側の両方に
光を射出する構成も可能となる。
化合物とを含み、第2の層212は発光性の物質を含み、第3の層213が実施の形態2
および実施の形態3で示した活性化エネルギーが小さい層であり、第4の層214が、金
属酸化物の中から選ばれた一の化合物と電子輸送性の高い化合物とを含む構成にすること
も可能である。
公知の方法を用いることができる。
13、第4の層214を順次積層し、第2の電極202を形成してもよいし、第2の電極
202を形成した後、第4の層214、第3の層213、第2の層212、第1の層21
1を順次積層し、第1の電極を形成してもよい。
本形態では、表示機能を有する発光装置の回路構成および駆動方法について図5〜8を
用いて説明する。
500上には、画素部6511と、ソース信号線駆動回路6512と、書込用ゲート信号
線駆動回路6513と、消去用ゲート信号線駆動回路6514とが設けられている。ソー
ス信号線駆動回路6512と、書込用ゲート信号線駆動回路6513と、消去用ゲート信
号線駆動回路6514とは、それぞれ、配線群を介して、外部入力端子であるFPC(フ
レキシブルプリントサーキット)6503と接続している。そして、ソース信号線駆動回
路6512と、書込用ゲート信号線駆動回路6513と、消去用ゲート信号線駆動回路6
514とは、それぞれ、FPC6503からビデオ信号、クロック信号、スタート信号、
リセット信号等を受け取る。またFPC6503にはプリント配線基盤(PWB)650
4が取り付けられている。なお、駆動回路部は、上記のように必ずしも画素部6511と
同一基板上に設けられている必要はなく、例えば、配線パターンが形成されたFPC上に
ICチップを実装したもの(TCP)等を利用し、基板外部に設けられていてもよい。
る。また、電流供給線が行方向に並んで配列している。また、画素部6511には、行方
向に延びた複数のゲート信号線が列方向に並んで配列している。また画素部6511には
、発光素子を含む一組の回路が複数配列している。
トランジスタ901と第2のトランジスタ902と発光素子903とが含まれている。
と、ドレイン領域と、ソース領域とを含む三端子の素子であり、ドレイン領域とソース領
域の間にチャネル領域を有する。ここで、ソース領域とドレイン領域とは、トランジスタ
の構造や動作条件等によって変わるため、いずれがソース領域またはドレイン領域である
かを限定することが困難である。そこで、本形態においては、ソースまたはドレインとし
て機能する領域を、それぞれトランジスタの第1電極、トランジスタの第2電極と表記す
る。
て電気的に接続または非接続の状態になるように設けられている。また、ゲート信号線9
11と、消去用ゲート信号線駆動回路914とはスイッチ919によって電気的に接続ま
たは非接続の状態になるように設けられている。また、ソース信号線912は、スイッチ
920によってソース信号線駆動回路915または電源916のいずれかに電気的に接続
するように設けられている。そして、第1のトランジスタ901のゲートはゲート信号線
911に電気的に接続している。また、第1のトランジスタの第1電極はソース信号線9
12に電気的に接続し、第1のトランジスタの第2電極は第2のトランジスタ902のゲ
ート電極と電気的に接続している。第2のトランジスタ902の第1電極は電流供給線9
17と電気的に接続し、第2のトランジスタの第2電極は発光素子903に含まれる一の
電極と電気的に接続している。なお、スイッチ918は、書込用ゲート信号線駆動回路9
13に含まれていてもよい。またスイッチ919についても消去用ゲート信号線駆動回路
914の中に含まれていてもよい。また、スイッチ920についてもソース信号線駆動回
路915の中に含まれていてもよい。
ば図7の上面図に表すように配置することができる。図7において、第1のトランジスタ
1001の第1電極はソース信号線1004に接続し、第1のトランジスタの第2の電極
は第2のトランジスタ1002のゲート電極に接続している。また第2トランジスタの第
1電極は電流供給線1005に接続し、第2トランジスタの第2電極は発光素子の電極1
006に接続している。ゲート信号線1003の一部は第1のトランジスタ1001のゲ
ート電極として機能する。
ついて説明する図である。図8において、横方向は時間経過を表し、縦方向はゲート信号
線の走査段数を表している。
動作と表示動作とが繰り返し行われる。この書き換え回数について特に限定はないが、画
像をみる人がちらつき(フリッカ)を感じないように少なくとも1秒間に60回程度とす
ることが好ましい。ここで、一画面(1フレーム)の書き換え動作と表示動作を行う期間
を1フレーム期間という。
4aと保持期間501b、502b、503b、504bとを含む4つのサブフレーム5
01、502、503、504に時分割されている。発光するための信号を与えられた発
光素子は、保持期間において発光状態となっている。各々のサブフレームにおける保持期
間の長さの比は、第1のサブフレーム501:第2のサブフレーム502:第3のサブフ
レーム503:第4のサブフレーム504=23:22:21:20=8:4:2:1と
なっている。これによって4ビット階調を表現することができる。但し、ビット数及び階
調数はここに記すものに限定されず、例えば8つのサブフレームを設け8ビット階調を行
えるようにしてもよい。
目から最終行まで順に書き込み動作が行われる。従って、行によって書き込み期間の開始
時間が異なる。書き込み期間501aが終了した行から順に保持期間501bへと移る。
当該保持期間において、発光するための信号を与えられている発光素子は発光状態となっ
ている。また、保持期間501bが終了した行から順に次のサブフレーム502へ移り、
サブフレーム501の場合と同様に1行目から最終行まで順に書き込み動作が行われる。
以上のような動作を繰り返し、サブフレーム504の保持期間504b迄終了する。サブ
フレーム504における動作を終了したら次のフレームへ移る。このように、各サブフレ
ームにおいて発光した時間の積算時間が、1フレームにおける各々の発光素子の発光時間
となる。この発光時間を発光素子ごとに変えて画素部内で様々に組み合わせることによっ
て、明度および色度の異なる様々な表示色を形成することができる。
保持期間に移行した行における保持期間を強制的に終了させたいときは、保持期間504
bの後に消去期間504cを設け、強制的に非発光の状態となるように制御することが好
ましい。そして、強制的に非発光状態にした行については、一定期間、非発光の状態を保
つ(この期間を非発光期間504dとする。)。そして、最終行目の書込期間が終了した
ら直ちに、一行目から順に次のサブフレーム(または次のフレーム)の書込期間に移行す
る。これによって、サブフレーム504の書き込み期間と、その次のサブフレームの書き
込み期間とが重畳することを防ぐことができる。
でいるが、必ずしも本実施例のような並びにする必要はなく、例えば保持期間の短いもの
から順に並べられていてもよいし、または保持期間の長いものと短いものとがランダムに
並んでいてもよい。また、サブフレームは、さらに複数のフレームに分割されていてもよ
い。つまり、同じ映像信号を与えている期間、ゲート信号線の走査を複数回行ってもよい
。
)のゲート信号線911は、スイッチ918を介して書込用ゲート信号線駆動回路913
と電気的に接続し、消去用ゲート信号線駆動回路914とは非接続である。また、ソース
信号線912はスイッチ920を介してソース信号線駆動回路と電気的に接続している。
ここで、n行目(nは自然数)のゲート信号線911に接続した第1のトランジスタ90
1のゲートに信号が入力され、第1のトランジスタ901はオンとなる。そして、この時
、1列目から最終列目迄のソース信号線に同時に映像信号が入力される。なお、各列のソ
ース信号線912から入力される映像信号は互いに独立したものである。ソース信号線9
12から入力された映像信号は、各々のソース信号線に接続した第1のトランジスタ90
1を介して第2のトランジスタ902のゲート電極に入力される。この時第2のトランジ
スタ902に入力された信号によって、電流供給線917と発光素子903との導通又は
非導通が決まり、発光素子903は発光または非発光が決まる。例えば、第2のトランジ
スタ902がPチャネル型である場合は、第2のトランジスタ902のゲート電極にLo
w Levelの信号が入力されることによって発光素子903が発光する。一方、第2
のトランジスタ902がNチャネル型である場合は、第2のトランジスタ902のゲート
電極にHigh Levelの信号が入力されることによって発光素子903が発光する
。
)のゲート信号線911は、スイッチ919を介して消去用ゲート信号線駆動回路914
と電気的に接続し、書込用ゲート信号線駆動回路913とは非接続である。また、ソース
信号線912はスイッチ920を介して電源916と電気的に接続している。ここで、n
行目のゲート信号線911に接続した第1のトランジスタ901のゲートに信号が入力さ
れ、第1のトランジスタ901はオンとなる。そして、この時、1列目から最終列目迄の
ソース信号線に同時に消去信号が入力される。ソース信号線912から入力された消去信
号は、各々のソース信号線に接続した第1のトランジスタ901を介して第2のトランジ
スタ902のゲート電極に入力される。この時第2のトランジスタ902に入力された信
号によって、電流供給線917と発光素子903とが非導通状態になる。そして、発光素
子903は強制的に非発光となる。例えば、第2のトランジスタ902がPチャネル型で
ある場合は、第2のトランジスタ902のゲート電極にHigh Levelの信号が入
力されることによって発光素子903は非発光となる。一方、第2のトランジスタ902
がNチャネル型である場合は、第2のトランジスタ902のゲート電極にLow Lev
elの信号が入力されることによって発光素子903は非発光となる。
よって消去する為の信号を入力する。しかし、前述のように、n行目が消去期間であると
共に、他の行(m行目(mは自然数)とする。)については書込期間となる場合がある。
このような場合、同じ列のソース信号線を利用してn行目には消去の為の信号を、m行目
には書込の為の信号を入力する必要があるため、以下に説明するような動作させることが
好ましい。
た後、直ちに、ゲート信号線と消去用ゲート信号線駆動回路914とを非接続の状態とす
ると共に、スイッチ920を切り替えてソース信号線とソース信号線駆動回路915と接
続させる。そして、ソース信号線とソース信号線駆動回路915とを接続させる共に、ゲ
ート信号線と書込用ゲート信号線駆動回路913とを接続させる。そして、書込用ゲート
信号線駆動回路913からm行目の信号線に選択的に信号が入力され、第1のトランジス
タがオンすると共に、ソース信号線駆動回路915からは、1列目から最終列目迄のソー
ス信号線に書込の為の信号が入力される。この信号によって、m行目の発光素子は、発光
または非発光となる。
に移行する。その為に、ゲート信号線と書込用ゲート信号線駆動回路913を非接続とす
ると共に、スイッチ920を切り替えてソース信号線を電源916と接続する。また、ゲ
ート信号線と書込用ゲート信号線駆動回路913を非接続とすると共に、ゲート信号線に
ついては、消去用ゲート信号線駆動回路914と接続状態にする。そして、消去用ゲート
信号線駆動回路914からn+1行目のゲート信号線に選択的に信号を入力して第1のト
ランジスタに信号をオンする共に、電源916から消去信号が入力される。このようにし
て、n+1行目の消去期間を終えたら、直ちに、m行目の書込期間に移行する。以下、同
様に、消去期間と書込期間とを繰り返し、最終行目の消去期間まで動作させればよい。
間を設ける態様について説明したが、これに限らず、n−1行目の消去期間とn行目の消
去期間との間にm行目の書込期間を設けてもよい。
て、消去用ゲート信号線駆動回路914と或る一のゲート信号線とを非接続状態にすると
共に、書込用ゲート信号線駆動回路913と他のゲート信号線とを接続状態にする動作を
繰り返している。このような動作は、特に非発光期間を設けないフレームにおいて行って
も構わない。
本発明の発光素子を含む発光装置の断面図の一態様について、図9を用いて説明する。
られているトランジスタ11である。発光素子12は、第1の電極13と第2の電極14
との間に発光物質を含む層と電気伝導度の活性化エネルギーが小さい層が積層された層1
5を有する本発明の発光素子である。トランジスタ11のドレインと第1の電極13とは
、第1層間絶縁層16(16a、16b、16c)を貫通している配線17によって電気
的に接続されている。また、発光素子12は、隔壁層18によって、隣接して設けられて
いる別の発光素子と分離されている。このような構成を有する本発明の発光装置は、本形
態において、基板10上に設けられている。
電極が設けられたトップゲート型のものである。但し、トランジスタ11の構造について
は、特に限定はなく、例えばボトムゲート型のものでもよい。またボトムゲートの場合に
は、チャネルを形成する半導体層の上に保護膜が形成されたもの(チャネル保護型)でも
よいし、或いはチャネルを形成する半導体層の一部が凹状になったもの(チャネルエッチ
型)でもよい。
よい。また、セミアモルファス等でもよい。
結晶、多結晶を含む)の中間的な構造を有し、自由エネルギー的に安定な第3の状態を有
する半導体であって、短距離秩序を持ち格子歪みを有する結晶質な領域を含んでいるもの
である。また少なくとも膜中の一部の領域には、0.5〜20nmの結晶粒を含んでいる
。ラマンスペクトルが520cm−1よりも低波数側にシフトしている。X線回折ではS
i結晶格子に由来するとされる(111)、(220)の回折ピークが観測される。未結
合手(ダングリングボンド)を終端化するために水素またはハロゲンを少なくとも1原子
%またはそれ以上含ませている。所謂微結晶半導体(マイクロクリスタル半導体)とも言
われている。珪素を含む気体をグロー放電分解(プラズマCVD)して形成する。珪素を
含む気体としては、SiH4、その他にもSi2H6、SiH2Cl2、SiHCl3、
SiCl4、SiF4などを用いることが可能である。この珪素を含む気体をH2、又は
、H2とHe、Ar、Kr、Neから選ばれた一種または複数種の希ガス元素で希釈して
も良い。希釈率は2〜1000倍の範囲。圧力は概略0.1Pa〜133Paの範囲、電
源周波数は1MHz〜120MHz、好ましくは13MHz〜60MHz。基板加熱温度
は300℃以下でよく、好ましくは100〜250℃。膜中の不純物元素として、酸素、
窒素、炭素などの大気成分の不純物は1×1020/cm3以下とすることが望ましく、
特に、酸素濃度は5×1019/cm3以下、好ましくは1×1019/cm3以下とす
る。なお、セミアモルファスなものを有する半導体を用いたTFT(薄膜トランジスタ)
の移動度はおよそ1〜10m2/Vsecとなる。
はシリコンゲルマニウム等から成るものが挙げられる。これらはレーザー結晶化によって
形成されたものでもよいし、例えばニッケル等を用いた固相成長法による結晶化によって
形成されたものでもよい。
トランジスタ11およびその他のトランジスタ(発光素子を駆動するための回路を構成す
るトランジスタ)は全てNチャネル型トランジスタで構成された回路を有する発光装置で
あることが好ましい。それ以外については、Nチャネル型またはPチャネル型のいずれか
一のトランジスタで構成された回路を有する発光装置でもよいし、両方のトランジスタで
構成された回路を有する発光装置でもよい。
いし、または単層でもよい。なお、第1層間絶縁層16aは酸化珪素や窒化珪素のような
無機物から成り、第1層間絶縁膜16bはアクリルやシロキサン(シリコン(Si)と酸
素(O)との結合で骨格構造が構成され、置換基に少なくとも水素を含む物質)、塗布成
膜可能な酸化珪素等の自己平坦性を有する物質から成る。さらに、第1層間絶縁膜16c
はアルゴン(Ar)を含む窒化珪素膜から成る。なお、各層を構成する物質については、
特に限定はなく、ここに述べたもの以外のものを用いてもよい。また、これら以外の物質
から成る層をさらに組み合わせてもよい。このように、第1層間絶縁膜16は、無機物ま
たは有機物の両方を用いて形成されたものでもよいし、または無機膜と有機膜のいずれか
一で形成されたものでもよい。
しい。また隔壁層18は、アクリルやシロキサン、レジスト、酸化珪素等を用いて形成さ
れる。なお隔壁層18は、無機膜と有機膜のいずれか一で形成されたものでもよいし、ま
たは両方を用いて形成されたものでもよい。
子12の間に設けられた構成であるが、図9(B)のように、第1層間絶縁膜16(第1
層間絶縁膜16a、16b)の他、第2層間絶縁膜19(第2層間絶縁膜19a、19b
)が設けられた構成のものであってもよい。図9(B)に示す発光装置においては、第1
の電極13は第2層間絶縁膜19を貫通し、配線17と接続している。
もよい。19aはアクリルやシロキサン(シリコン(Si)と酸素(O)との結合で骨格
構造が構成され、置換基に少なくとも水素を含む物質)、塗布成膜可能な酸化珪素等の自
己平坦性を有する物質から成る。さらに、19bはアルゴン(Ar)を含む窒化珪素膜か
ら成る。なお、各層を構成する物質については、特に限定はなく、ここに述べたもの以外
のものを用いてもよい。また、これら以外の物質から成る層をさらに組み合わせてもよい
。このように、第2層間絶縁膜19は、無機物または有機物の両方を用いて形成されたも
のでもよいし、または無機膜と有機膜のいずれか一で形成されたものでもよい。
構成されている場合、図9(A)の白抜きの矢印で表されるように、第1の電極13側と
第2の電極14側の両方から発光を取り出すことができる。また、第2の電極14のみが
透光性を有する物質で構成されている場合、図9(B)の白抜きの矢印で表されるように
、第2の電極14側のみから発光を取り出すことができる。この場合、第1の電極13は
反射率の高い材料で構成されているか、または反射率の高い材料から成る膜(反射膜)が
第1の電極13の下方に設けられていることが好ましい。また、第1の電極13のみが透
光性を有する物質で構成されている場合、図9(C)の白抜きの矢印で表されるように、
第1の電極13側のみから発光を取り出すことができる。この場合、第2の電極14は反
射率の高い材料で構成されているか、または反射膜が第2の電極14の上方に設けられて
いることが好ましい。
ように電圧を印加したときに動作するように層15が積層されたものであってもよいし、
或いは、第1の電極13の電位よりも第2の電極14の電位が低くなるように電圧を印加
したときに動作するように層15が積層されたものであってもよい。前者の場合、トラン
ジスタ11はNチャネル型トランジスタであり、後者の場合、トランジスタ11はPチャ
ネル型トランジスタである。
クティブ型の発光装置について説明したが、この他、トランジスタ等の駆動用の素子を特
に設けずに発光素子を駆動させるパッシブ型の発光装置であってもよい。パッシブ型の発
光装置においても、低駆動電圧で動作する本発明の発光素子を含むことによって、低消費
電力で駆動させることができる。
本発明の発光素子を含む発光装置は良好な画像を表示することができるため、本発明の
発光装置を電子機器の表示部に適用することによって、優れた映像を提供できる電子機器
を得ることができる。また、本発明の発光素子を含む発光装置は低消費電力で駆動するた
め、本発明の発光装置を電子機器の表示部に適用することによって、消費電力の少ない電
子機器を得ることができ、例えば、待受時間等の長い電話機等を得ることができる。
5522、表示部5523、キーボード5524などによって構成されている。本発明の
発光素子を有する発光装置を表示部として組み込むことでコンピュータを完成できる。
551と、音声出力部5554、音声入力部5555、操作スイッチ5556、5557
、アンテナ5553等によって構成されている。本発明の発光素子を有する発光装置を表
示部として組み込むことで電話機を完成できる。
体5532、スピーカー5533などによって構成されている。本発明の発光素子を有す
る発光装置を表示部として組み込むことでテレビ受像機を完成できる。
ている。
この他に電話機、ナビゲイション装置、或いは照明機器等に本発明の発光素子を有する発
光装置を実装しても構わない。
本実施例では、実施の形態3で用いた構造式(1)で表されるN,N’−ビス(スピロ
−9,9’−ビフルオレン−2−イル)−N,N’−ジフェニルベンジジン(略称:BS
PB)の合成方法について説明する。
2−ブロモ−スピロ−9,9’−ビフルオレンの合成方法について説明する。
系内を真空下にし、30分加熱撹拌し、活性化した。室温にさましてから系内を窒素気流
下にし、ジエチルエーテル5ml、ジブロモエタン数滴を加え、ジエチルエーテル15m
l中に溶かした2−ブロモビフェニル11.65g(0.050mol)をゆっくり滴下
し、滴下終了後3時間還流してグリニヤール試薬とした。200ml三口フラスコに2−
ブロモフルオレノン11.7g(0.045mol)、ジエチルエーテル40mlを入れ
た。この反応溶液に合成したグリニヤール試薬をゆっくり滴下し、滴下終了後2時間還流
し、さらに室温で一晩撹拌した。反応終了後、反応溶液を飽和塩化アンモニア水溶液で2
回洗浄し、水層を酢酸エチルで2回抽出し、有機層とあわせて飽和食塩水で洗浄した。硫
酸マグネシウムにより乾燥後、吸引濾過、濃縮し、固体状の9−(2−ビフェニリル)−
2−ブロモ−9−フルオレノールを18.76g、収率90%で得た。
−9−フルオレノール18.76g(0.045mol)、氷酢酸100mlを入れ、濃
塩酸数滴を加え2時間還流した。反応終了後、吸引濾過により析出物を回収し、飽和炭酸
水素ナトリウム水溶液および水で濾過洗浄した。得られた褐色固体をエタノールで再結晶
したところ淡褐色粉末状固体を10.24g、収率57%で得た。核磁気共鳴法(1H−
NMR)によって、この淡褐色粉末状固体が2−ブロモ−スピロ−9,9’−ビフルオレ
ンであることを確認した。この化合物の1H−NMRは次のようであった。
1H−NMR(300MHz,CDCl3)δppm:7.86−7.79(m,3H
),7.70(d,1H,J=8.4 Hz),7.47−7.50(m,1H),7.
41−7.34(m,3H),7.12(t,3H,J=7.7Hz),6.85(d,
1H,J=2.1Hz),6.74−6.70(m,3H)
N,N’−ビス(スピロ−9,9’−ビフルオレン−2−イル)−N,N’−ジフェニ
ルベンジジン(略称:BSPB)の合成方法について説明する。
030mol)、ステップ1の合成方法によって合成した2−ブロモ−スピロ−9,9’
−ビフルオレン2.49g(0.0062mol)、ビス(ジベンジリデンアセトン)パ
ラジウム170mg(0.30mmol)、tert−ブトキシナトリウム 1.08g
(0.011mol)を入れ、系内を窒素気流下にした後、脱水トルエン20mlと、ト
リ−tert−ブチルホスフィン10%ヘキサン溶液0.6mlを加え、80℃で6時間
攪拌した。反応終了後、反応溶液を室温まで冷ましてから水を加え、析出した固体を吸引
ろ過により回収し、ジクロロメタンで洗浄した。得られた白色固体をアルミナカラムクロ
マトグラフィー(クロロホルム)により精製し、ジクロロメタンで再結晶したところ、白
色粉末状固体を2.66g、収率93%得た。
化合物は、N,N’−ジフェニルベンジジンと2−ブロモ−スピロ−9,9’−ビフルオ
レンのカップリング反応によって合成することができる。
析装置(DSC:Differential Scanning Calorimetr
y、パーキンエルマー製、型番:Pyris1 DSC)を用いて調べた。ここでDSC
による測定は、次のような手順で行った。先ず、40℃/分の昇温速度で450℃まで試
料(得られた化合物)を加熱した後、40℃/分の降温速度で試料を冷却して試料ををガ
ラス状態にした。そして、ガラス状態になった試料を、10℃/分の昇温速度で加熱し、
図21に示すような測定結果を得た。図21において、横軸は温度(℃)、縦軸は熱流(
上向が吸熱)(mW)を表す。測定結果から、得られた化合物のガラス転移温度は172
℃、結晶化温度は268℃であることが分かった。また、312℃における接線と、32
7℃〜328℃における接線との交点から、融点は323℃〜324℃であることが分か
った。すなわち、本実施例で合成したBSPBは、ガラス転移温度が150℃以上、好ま
しくは160℃〜300℃の範囲を満たし、融点が180℃〜400℃の範囲にあるので
高い耐熱性を有しており、好ましい。
性を有するものである。また、図21において、得られた化合物の結晶化を表すピークは
ブロードなものであり、得られた化合物は結晶化し難い物質であることがわかった。
る。
発明の活性化エネルギーの小さい層を形成した。本実施例では、DNTPDと、酸化モリ
ブデンと、ルブレンとを共蒸着することにより成膜した。ここで、酸化モリブデン濃度は
、表3の水準となるよう共蒸着を制御した。なお、膜厚は120nmとなるように成膜を
行った。
−ナフチル)−N−フェニルアミノ]ビフェニル(略称:α―NPD)を10nmの膜厚
で真空蒸着法によって成膜した。
発光層であり、膜厚は40nmである。また、Alq3とクマリン6とは、重量比で1:
0.015となるよう共蒸着を制御した。
リチウムを1nmの膜厚で成膜し、最後に第2の電極として機能するAlを200nm成
膜して発光素子を作製した。
モリブデンの濃度が高くなるとともに、電流が流れやすくなっていることがわかる。
の濃度が高くなるとともに、高い輝度が得られていることがわかる。つまり、各素子の電
流効率が一定の場合、電流が流れやすくなっていることがわかる。
る。
発明の活性化エネルギーの小さい層を形成した。本実施例では、DNTPDと、酸化モリ
ブデンと、ルブレンとを共蒸着することにより成膜した。ここで、酸化モリブデン濃度は
、表3の水準となるよう共蒸着を制御した。なお、膜厚は120nmとなるように成膜を
行った。
厚で真空蒸着法によって成膜した。
発光層であり、膜厚は37.5nmである。また、Alq3とクマリン6とは、重量比で
1:0.005となるよう共蒸着を制御した。
ッ化リチウムを1nmの膜厚で成膜し、最後に第2の電極として機能するAlを成膜して
発光素子を作製した。
ンの濃度が高くなると、電流が流れやすくなる傾向にあるが、素子32の酸化モリブデン
濃度が40wt%以上では、電流−電圧特性にほとんど変化を生じていないことがわかる
。そのため、活性化エネルギーの小さい層として、DNTPDを用いる場合には、酸化モ
リブデン濃度が40wt%であれば、発光素子の低電圧化として十分効果的であることが
わかる。
おいても輝度−電圧特性にほとんど差はないが、素子31は若干高電圧側にシフトしてい
ることがわかる。
102 第1の電極
103 第1の層
104 第2の層
105 第3の層
106 第4の層
107 第2の電極
200 基板
201 第1の電極
202 第2の電極
203 発光物質を含む層
211 第1の層
212 第2の層
213 第3の層
214 第4の層
302 第1の電極
303 第1の層
304 第2の層
305 第3の層
306 第4の層
307 第2の電極
501 サブフレーム
502 サブフレーム
503 サブフレーム
504 サブフレーム
901 第1のトランジスタ
902 第2のトランジスタ
903 発光素子
911 ゲート信号線
912 ソース信号線
913 書込用ゲート信号線駆動回路
914 消去用ゲート信号線駆動回路
915 ソース信号線駆動回路
916 電源
917 電流供給線
918 スイッチ
919 スイッチ
920 スイッチ
1001 第1のトランジスタ
1002 第2のトランジスタ
1003 ゲート信号線
1004 ソース信号線
1005 電流供給線
1006 電極
501a 期間
501b 保持期間
504b 保持期間
504c 消去期間
504d 非発光期間
5521 本体
5522 筐体
5523 表示部
5524 キーボード
5531 表示部
5532 筐体
5533 スピーカー
5551 表示部
5552 本体
5553 アンテナ
5554 音声出力部
5555 音声入力部
5556 操作スイッチ
6500 基板
6503 FPC(フレキシブルプリントサーキット)
6504 プリント配線基盤(PWB)
6511 画素部
6512 ソース信号線駆動回路
6513 書込用ゲート信号線駆動回路
6514 消去用ゲート信号線駆動回路
10 基板
11 トランジスタ
12 発光素子
13 第1の電極
14 第2の電極
15 層
16a 第1層間絶縁膜
16b 第1層間絶縁膜
16c 第1層間絶縁膜
17 配線
18 隔壁層
19a 第2層間絶縁膜
19b 第2層間絶縁膜
Claims (4)
- 第1の電極と第2の電極との間に、第1の層、第2の層、第3の層および第4の層を有し、
前記第4の層は第3の層と接して設けられ、
前記第4の層は第2の電極と接して設けられ、
前記第1の層は第1の有機材料とモリブデン酸化物とを含む層であり、
前記第2の層は発光性の物質を含む層であり、
前記第3の層は正孔輸送性よりも電子輸送性の高い化合物と金属酸化物とを含む層であり、
前記第4の層は第2の有機材料とモリブデン酸化物とを含む層であり、
前記第1の層における前記モリブデン酸化物の濃度は30wt%以上95wt%以下であり、
前記第4の層における前記モリブデン酸化物の濃度は30wt%以上95wt%以下であり、
前記第1の有機材料および前記第2の有機材料は4,4’−ビス(N−{4−[N,N’−ビス(3−メチルフェニル)アミノ]フェニル}−N−フェニルアミノ)ビフェニルであることを特徴とする発光素子。 - 請求項1に記載の発光素子を有する照明装置。
- 請求項1に記載の発光素子を有する発光装置。
- 請求項3に記載の発光装置を表示部として用いた電子機器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2011263334A JP5132809B2 (ja) | 2005-02-15 | 2011-12-01 | 発光素子、照明装置、発光装置および電子機器 |
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2005037090 | 2005-02-15 | ||
JP2005037090 | 2005-02-15 | ||
JP2011263334A JP5132809B2 (ja) | 2005-02-15 | 2011-12-01 | 発光素子、照明装置、発光装置および電子機器 |
Related Parent Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006036191A Division JP5072233B2 (ja) | 2005-02-15 | 2006-02-14 | 発光素子、照明装置、発光装置および電子機器 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2012069990A JP2012069990A (ja) | 2012-04-05 |
JP5132809B2 true JP5132809B2 (ja) | 2013-01-30 |
Family
ID=36814773
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2011263334A Expired - Fee Related JP5132809B2 (ja) | 2005-02-15 | 2011-12-01 | 発光素子、照明装置、発光装置および電子機器 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US9530968B2 (ja) |
JP (1) | JP5132809B2 (ja) |
CN (2) | CN1832224B (ja) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2006049323A1 (en) * | 2004-11-05 | 2006-05-11 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting element and light emitting device using the same |
CN101073164B (zh) * | 2004-12-06 | 2010-05-05 | 株式会社半导体能源研究所 | 发光元件和使用该元件的发光装置 |
KR101182263B1 (ko) | 2005-04-22 | 2012-09-17 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 유기 트랜지스터용 전극, 유기 트랜지스터, 및 반도체장치 |
US9112170B2 (en) * | 2006-03-21 | 2015-08-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting element, light-emitting device, and electronic device |
WO2009137597A1 (en) * | 2008-05-06 | 2009-11-12 | The Trustees Of Columbia University In The City Of New York | COMPOUNDS THAT INHIBIT PRODUCTION OF sAPPβ AND Aβ AND USES THEREOF |
KR101784400B1 (ko) | 2009-05-29 | 2017-10-11 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 화합물 |
CN102449800A (zh) * | 2009-05-29 | 2012-05-09 | 株式会社半导体能源研究所 | 发光元件、发光装置、照明装置以及电子设备 |
US9741955B2 (en) * | 2009-05-29 | 2017-08-22 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting element, light-emitting device, and method for manufacturing the same |
US8642190B2 (en) * | 2009-10-22 | 2014-02-04 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Fluorene derivative, light-emitting element, light-emitting device, electronic device, and lighting device |
JP2011139044A (ja) | 2009-12-01 | 2011-07-14 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光素子、発光装置、電子機器、および照明装置 |
US10570113B2 (en) | 2010-04-09 | 2020-02-25 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Aromatic amine derivative, light-emitting element, light-emitting device, electronic device, and lighting device |
US8993125B2 (en) | 2010-05-21 | 2015-03-31 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Triazole derivative, and light-emitting element, light-emitting device, electronic device and lighting device using the triazole derivative |
US9142792B2 (en) | 2010-06-18 | 2015-09-22 | Basf Se | Organic electronic devices comprising a layer comprising at least one metal organic compound and at least one metal oxide |
JP5801651B2 (ja) | 2010-08-27 | 2015-10-28 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 化合物、発光素子および発光装置 |
TWI545175B (zh) | 2010-12-17 | 2016-08-11 | 半導體能源研究所股份有限公司 | 有機化合物,發光元件,發光裝置,電子裝置,以及照明裝置 |
JP5889659B2 (ja) | 2011-02-10 | 2016-03-22 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光素子、発光装置、および照明装置 |
JP5969216B2 (ja) | 2011-02-11 | 2016-08-17 | 株式会社半導体エネルギー研究所 | 発光素子、表示装置、照明装置、及びこれらの作製方法 |
JP2012182443A (ja) | 2011-02-11 | 2012-09-20 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光素子及び発光装置 |
KR102126087B1 (ko) | 2011-10-11 | 2020-06-23 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 발광 소자, 발광 장치, 전자 기기, 조명 장치, 및 피렌계 화합물 |
KR102198635B1 (ko) | 2012-04-20 | 2021-01-05 | 가부시키가이샤 한도오따이 에네루기 켄큐쇼 | 유기 화합물, 발광 소자, 발광 장치, 전자 기기, 및 조명 장치 |
JP2015122459A (ja) * | 2013-12-25 | 2015-07-02 | 三星ディスプレイ株式會社Samsung Display Co.,Ltd. | 有機el素子 |
JP6692126B2 (ja) * | 2015-06-03 | 2020-05-13 | 三星ディスプレイ株式會社Samsung Display Co.,Ltd. | 有機エレクトロルミネッセンス素子用材料及びそれを用いた有機エレクトロルミネッセンス素子 |
CN105098087A (zh) | 2015-08-06 | 2015-11-25 | 深圳市华星光电技术有限公司 | 有机发光二极管 |
CN111697146B (zh) * | 2020-06-11 | 2022-04-19 | 云谷(固安)科技有限公司 | 发光器件及显示面板 |
CN114639789B (zh) * | 2020-12-15 | 2024-07-16 | 昆山工研院新型平板显示技术中心有限公司 | 材料筛选方法、发光器件的制作方法及显示面板 |
Family Cites Families (44)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5354997A (en) * | 1989-11-03 | 1994-10-11 | Battelle Memorial Institute | Method for increased sensitivity of radiation detection and measurement |
JP2717454B2 (ja) * | 1990-07-16 | 1998-02-18 | 日本石油株式会社 | 有機薄膜エレクトロルミネッセンス素子 |
JP3300069B2 (ja) * | 1992-11-19 | 2002-07-08 | パイオニア株式会社 | 有機エレクトロルミネッセンス素子 |
JP3249297B2 (ja) * | 1994-07-14 | 2002-01-21 | 三洋電機株式会社 | 有機電界発光素子 |
JPH08102360A (ja) * | 1994-09-29 | 1996-04-16 | Toyota Central Res & Dev Lab Inc | 有機無機複合薄膜型電界発光素子 |
JP3758694B2 (ja) * | 1994-10-13 | 2006-03-22 | 三星エスディアイ株式会社 | 有機薄膜el素子 |
JP2824411B2 (ja) | 1995-08-25 | 1998-11-11 | 株式会社豊田中央研究所 | 有機薄膜発光素子 |
JP3650218B2 (ja) | 1996-05-10 | 2005-05-18 | ケミプロ化成株式会社 | 高分子量芳香族アミン化合物およびそれよりなるホール輸送性材料 |
WO1998005187A1 (en) * | 1996-07-29 | 1998-02-05 | Cambridge Display Technology Limited | Electroluminescent devices with electrode protection |
GB9623204D0 (en) * | 1996-11-07 | 1997-01-08 | Univ Durham | Polymer light emitting diode |
US5989737A (en) | 1997-02-27 | 1999-11-23 | Xerox Corporation | Organic electroluminescent devices |
JPH11251067A (ja) | 1998-03-02 | 1999-09-17 | Junji Kido | 有機エレクトロルミネッセント素子 |
JPH11307259A (ja) | 1998-04-23 | 1999-11-05 | Tdk Corp | 有機el素子 |
JP2000123976A (ja) | 1998-10-09 | 2000-04-28 | Tdk Corp | 有機el素子 |
US6525466B1 (en) * | 1999-04-09 | 2003-02-25 | Arizona Board Of Regents On Behalf Of The University Of Arizona | Cathode including a mixture of a metal and an insulator for organic devices and method of making the same |
TW474114B (en) | 1999-09-29 | 2002-01-21 | Junji Kido | Organic electroluminescent device, organic electroluminescent device assembly and method of controlling the emission spectrum in the device |
TW490714B (en) | 1999-12-27 | 2002-06-11 | Semiconductor Energy Lab | Film formation apparatus and method for forming a film |
JP2002164178A (ja) * | 2000-11-27 | 2002-06-07 | Idemitsu Kosan Co Ltd | 有機エレクトロルミネッセンス素子 |
SG148030A1 (en) * | 2000-12-28 | 2008-12-31 | Semiconductor Energy Lab | Luminescent device |
JP4302914B2 (ja) * | 2001-07-30 | 2009-07-29 | 三星モバイルディスプレイ株式會社 | 発光素子、および表示装置 |
US20030180447A1 (en) * | 2002-01-18 | 2003-09-25 | Meth Jeffery Scott | Process for forming a multicolor display |
JP3933591B2 (ja) | 2002-03-26 | 2007-06-20 | 淳二 城戸 | 有機エレクトロルミネッセント素子 |
US7158161B2 (en) | 2002-09-20 | 2007-01-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Organic electroluminescence element and an exposure unit and image-forming apparatus both using the element |
US6975067B2 (en) * | 2002-12-19 | 2005-12-13 | 3M Innovative Properties Company | Organic electroluminescent device and encapsulation method |
US6875320B2 (en) * | 2003-05-05 | 2005-04-05 | Eastman Kodak Company | Highly transparent top electrode for OLED device |
US20040247933A1 (en) * | 2003-06-03 | 2004-12-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Bipolar asymmetric carbazole-based host materials for electrophosphorescent guest-host OLED systems |
JP2005026121A (ja) | 2003-07-03 | 2005-01-27 | Fujitsu Ltd | 有機el素子及びその製造方法並びに有機elディスプレイ |
KR20050015902A (ko) * | 2003-08-14 | 2005-02-21 | 엘지전자 주식회사 | 유기 el 소자 및 그 제조방법 |
CN101771135B (zh) | 2003-09-26 | 2012-05-23 | 株式会社半导体能源研究所 | 发光元件及其制造方法 |
US7541734B2 (en) | 2003-10-03 | 2009-06-02 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light emitting device having a layer with a metal oxide and a benzoxazole derivative |
JP4476594B2 (ja) | 2003-10-17 | 2010-06-09 | 淳二 城戸 | 有機エレクトロルミネッセント素子 |
JP4243237B2 (ja) * | 2003-11-10 | 2009-03-25 | 淳二 城戸 | 有機素子、有機el素子、有機太陽電池、及び、有機fet構造、並びに、有機素子の製造方法 |
JP4300176B2 (ja) * | 2003-11-13 | 2009-07-22 | ローム株式会社 | 有機エレクトロルミネッセント素子 |
US7785718B2 (en) | 2003-12-16 | 2010-08-31 | Panasonic Corporation | Organic electroluminescent device and method for manufacturing the same |
KR100738219B1 (ko) * | 2003-12-23 | 2007-07-12 | 삼성에스디아이 주식회사 | 유기 전계 발광 소자용 중간층 형성 물질 및 이를 이용한유기 전계 발광 소자 |
US7554121B2 (en) * | 2003-12-26 | 2009-06-30 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Organic semiconductor device |
CN100551187C (zh) | 2003-12-26 | 2009-10-14 | 株式会社半导体能源研究所 | 发光元件 |
US7002293B2 (en) * | 2004-01-27 | 2006-02-21 | Eastman Kodak Company | Organic light emitting diode with improved light emission through the cathode |
US7157156B2 (en) * | 2004-03-19 | 2007-01-02 | Eastman Kodak Company | Organic light emitting device having improved stability |
JP4925569B2 (ja) | 2004-07-08 | 2012-04-25 | ローム株式会社 | 有機エレクトロルミネッセント素子 |
JP2006295104A (ja) | 2004-07-23 | 2006-10-26 | Semiconductor Energy Lab Co Ltd | 発光素子およびそれを用いた発光装置 |
WO2006013990A1 (en) | 2004-08-03 | 2006-02-09 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting element and light-emitting device |
EP1624502B1 (en) | 2004-08-04 | 2015-11-18 | Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. | Light-emitting element, display device, and electronic appliance |
CN101841002B (zh) | 2004-09-24 | 2011-11-16 | 株式会社半导体能源研究所 | 发光器件 |
-
2006
- 2006-02-10 US US11/351,713 patent/US9530968B2/en active Active
- 2006-02-15 CN CN2006100088094A patent/CN1832224B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2006-02-15 CN CN201010165351XA patent/CN101853924B/zh active Active
-
2011
- 2011-12-01 JP JP2011263334A patent/JP5132809B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US9530968B2 (en) | 2016-12-27 |
US20060180812A1 (en) | 2006-08-17 |
CN1832224B (zh) | 2010-06-09 |
CN101853924B (zh) | 2013-08-21 |
CN101853924A (zh) | 2010-10-06 |
CN1832224A (zh) | 2006-09-13 |
JP2012069990A (ja) | 2012-04-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5132809B2 (ja) | 発光素子、照明装置、発光装置および電子機器 | |
JP5036685B2 (ja) | 発光素子、発光装置および電子機器 | |
JP5648101B2 (ja) | アントラセン誘導体及び発光素子 | |
JP5996704B2 (ja) | カルバゾール誘導体の合成方法 | |
WO2006057420A1 (en) | Light-emitting element, light-emitting device, and electronic device | |
JP2012169660A (ja) | 発光素子、発光装置、照明装置および電子機器 | |
JP2007073500A (ja) | 発光素子、発光装置及び電子機器 | |
JP2006114521A (ja) | 発光装置およびそれを用いた電子機器 | |
JP5311712B2 (ja) | アントラセン誘導体とそれを用いた発光素子、発光装置 | |
US7488849B2 (en) | Benzidine derivative, and light-emitting device and electric appliance using the benzidine derivative as the hole transporting material | |
JP5072233B2 (ja) | 発光素子、照明装置、発光装置および電子機器 | |
JP4906048B2 (ja) | 発光素子、発光装置、及び電子機器 | |
JP4879514B2 (ja) | アントラセン誘導体、及びそれを用いた発光素子、発光装置 | |
JP4413577B2 (ja) | ピラン誘導体及びそれを用いた発光素子、発光装置、電子機器 | |
JP4896451B2 (ja) | フェナントロリン誘導体およびそれを用いた発光素子、発光装置 | |
JP5036164B2 (ja) | 発光素子、発光装置および電子機器 | |
JP5244456B2 (ja) | 発光装置、電子機器、携帯電話、照明機器 | |
JP4906037B2 (ja) | ベンジジン誘導体、正孔輸送材料、発光装置、及び照明装置 | |
JP5159042B2 (ja) | 発光素子、発光装置及び電子機器 | |
JP4809666B2 (ja) | 発光素子、発光装置及び電子機器 | |
JP2007157753A (ja) | 発光素子、発光装置及び電子機器 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20121010 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20121030 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121106 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151116 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5132809 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |