JP5127127B2 - 塗膜形成方法 - Google Patents

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本発明はガラス基板や半導体ウェーハ等の基板に対し、現像液、洗浄液、SOG溶液、レジスト液等を塗布する際の塗膜形成方法に関する。
液晶(LCD)、PDP(プラズマディスプレイ)、半導体素子等の製造プロセスにおいては、基板上に各種被膜を形成したり、洗浄液や現像液を塗布するために塗布装置が使用される。
近来、基板寸法が大型化する傾向にあわせ、基板を回転させながら塗布する従来のスピンコーティングに代えて、幅広のスリットノズルを基板と相対的に一方向に移動させながら塗布を行うスピンレスタイプの塗布装置が特許文献1に提案されている。
このようなスリットノズルを備えた塗布装置は、大型基板であっても、その表面に均一な厚膜を形成することができる点で有利である。しかし、他方いくつかの課題も抱えている。例えば、塗布開始時に塗膜不良領域が発生することもその一つである。すなわち、スリットノズルへの塗布液の供給は定容量ポンプによって行われるが、塗布開始時には、液不足による塗膜ムラを防止するためにスリットノズル下端と基板表面の間に十分な塗布液溜り(以下、「ビード」という。)を形成させる必要がある。
しかし、塗布開始時のビードが大き過ぎると、塗布作業によりスリットノズルが移動を開始しても、塗布開始点周辺のみが他の部分よりも盛り上がった状態で残ってしまい、これが塗膜不良領域となる。この問題点を解決するために、例えば特許文献2では、塗布供給量を塗布器と被塗布材の相対移動量に応じて段階的に増減させている。
米国特許第4,938,994号公報 特開2002−86044号公報
しかしながら、特許文献1に開示される初期のスピンレスタイプの塗布装置では、ビードのコントロールが難しく、塗布液の不足や過多が生じ易い。また、特許文献2に開示される塗布装置にあっては、ポンプからの供給量を制御し、なおかつ塗布器の移動速度をも制御しなければならないため、操作が煩雑となり、制御自体も困難となる。
上述した点に鑑み本発明は、基板に対し、例えば現像液、洗浄液、SOG溶液、レジスト液等の塗布液を塗布する際に、塗布開始点周辺の塗膜の盛り上がりを低減でき、且つ塗膜全体の波打ちをも低減できる塗膜形成方法を提供するものである。
本発明に係る塗膜形成方法は、被塗物面上を相対的に移動するスリットノズルから供給される塗布液によって、被塗物面に均一な塗膜を形成する方法であって、塗布開始時に、スリットノズルの塗布液吐出口を被塗物面に接近させ、次に、塗布液送液ポンプを駆動することによって、塗布液吐出口と被塗物面との間を塗布液で連結させ、次に、塗布液の連結状態を所定時間維持した後、塗布を開始するようにする。
本発明に係る塗膜形成方法によれば、塗布開始時に、スリットノズルの塗布液吐出口を被塗物面に接近させ、次に、塗布液送液ポンプを駆動することによって、塗布液吐出口と被塗物面との間を塗布液で連結させ、次に、塗布液の連結状態を所定時間維持した後、塗布を開始するようにしたので、塗布液の連結状態、すなわち、塗布液吐出口と被塗物面との間に形成された充分な塗布液溜り(ビード)を所定時間維持することでこのビードが安定する。つまり、被塗物面及びスリットノズル吐出口周辺が塗布液によって十分に濡らされることでビードの大きさが安定する。これにより、塗布が開始されると安定した大きさのビードが維持されたまま被塗物が塗布されるため、塗布開始点周辺の塗布液の盛り上がりを低減できる。
また、塗布面全般に亘って安定した塗膜を形成させることができるので塗膜の波打ちも低減できる。
なお、連結状態を維持させる間は、塗布液送液ポンプを停止することが好ましい。
また、本発明に係る塗膜形成方法は、被塗物面上を相対的に移動するスリットノズルから供給される塗布液によって、被塗物面に均一な塗膜を形成する方法であって、塗布開始時に、スリットノズルの塗布液吐出口を被塗物面に接近させ、次に、塗布液送液ポンプを駆動することによって、塗布液吐出口と被塗物面との間を塗布液で連結させ、次に、塗布液の連結状態を維持した状態でスリットノズルを被塗物面から僅かに上方に離間させ、この状態を所定時間維持した後、塗布を開始するようにする。
上述した本発明に係る塗膜形成方法によれば、塗布開始時に、スリットノズルの塗布液吐出口を被塗物面に接近させ、次に、塗布液送液ポンプを駆動することによって、塗布液吐出口と被塗物面との間を塗布液で連結させ、次に、塗布液の連結状態を維持した状態でスリットノズルを被塗物面から僅かに上方に離間させ、この状態を所定時間維持した後、塗布を開始するようにしたので、上述した塗膜形成方法による作用に加えて、塗布液が被塗物面に吐出された際のスリットノズルへの反作用がスリットノズルを離間させることにより希釈化され、塗膜の波打ちを更に低減することができる。
なお、この場合も連結状態を維持させる間は、塗布液送液ポンプを停止することが好ましい。
本発明によれば、基板に対し塗布液を塗布する際に、塗布開始点周辺の塗膜の盛り上がりを低減でき、且つ塗膜全体の波打ちをも低減できる塗膜形成方法を提供することが可能になる。
従って、製造過程における塗膜に対する信頼性を向上することができると共に、良好な特性の塗膜を形成する際に好適な塗膜形成方法を実現できる。
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
図1は本発明に係る塗膜形成方法の一実施の形態を示す断面図である。
なお、本発明に係る塗膜形成方法は、基板等の被塗物を塗布するための一般的な塗布装置であって、ダイヤフラム等の一般的な定量ポンプを備えるものであれば制限なく使用可能である。
図1において、ガラス基板1等の板状被処理物は基板載置ステージ上に置かれている。また、スリットノズル2は基板1の長さ方向に走行する図示しない走行体に昇降自在に取り付けられている。一方、スリットノズル2の塗布液供給路2aには、ダイヤフラムポンプ等の定量ポンプである送液ポンプ3から塗布液が供給される構造となっている。
次に、このような状態において、実際に基板1上に塗膜を形成する場合を説明する。
先ず、図1(a)に示すように、塗布開始時には、ガラス基板1の塗布開始位置A上に、スリットノズル2を、その吐出口2bがガラス基板1の面から数十μm〜数百μm、好ましくは30〜150μmの間隔を置いた状態で停止させる。
次に、図1(b)に示すように、送液ポンプ3より塗布液をスリットノズル2の塗布液供給路2aに供給し、吐出口2bから吐出させる。この操作により、吐出口2bとガラス基板1との間隙にビードが張られ、吐出口2bとガラス基板1表面との間が塗布液で連結された状態となる。
次に、このようにビードが張られた後、この状態を所定の時間維持させる。この時間は数秒間であり、好ましくは2秒〜10秒以内である。
後述する図3に示すように、所定時間が2秒よりも短い場合は、本発明の効果を発揮できずに塗膜が不均一になることがある。また、所定時間が10秒を超えても均一な塗膜を得ることは可能であるが処理スピードとの兼ね合いが困難となる。従って、上記したように、2秒〜10秒が好ましい。
なお、所定時間ビードを維持させている間、この所定時間が短い場合は送液ポンプ3を運転したままであっても構わない。しかし、所定時間が長い場合には停止しておくことが好ましい。送液ポンプ3を減速運転させることも可能であるが、ポンプの制御が複雑となるため望ましくない。
上記所定時間の経過後、図1(c)に示すように、送液ポンプ3を停止させていた場合は送液を再開し、スリットノズル2を水平方向に移動させながら被塗物1上に塗膜4を形成させる。そして、ガラス基板1上の塗膜終了位置Bに到達した時点で送液ポンプ3を停止させ、スリットノズル2をガラス基板1から離間させる。
本実施の形態の塗膜形成方法によれば、このように、スリットノズル2の吐出口2bを基板1表面に接近させ、次に、送液ポンプ3を駆動することによって、吐出口2bと基板1表面との間を塗布液で連結させ、次に、塗布液の連結状態を所定時間維持した後、塗布を開始するようにしたので、塗布液の連結状態、すなわち、塗布液吐出口と被塗物面との間に形成された充分な塗布液溜り(ビード)を所定時間維持することでこのビードが安定する。つまり、被塗物面及びスリットノズル吐出口周辺が塗布液によって十分に濡らされることでビードの大きさが安定する。これにより、塗布が開始されると安定した大きさのビードが維持されたまま被塗物が塗布されるため、塗布開始点周辺の塗布液の盛り上がりを低減できる。
また、塗布面全般に亘って安定した塗膜を形成させることができるので塗膜の波打ちも低減できる。
次に、本発明に係る塗膜形成方法の他の実施の形態を説明する。
図2は本発明の塗膜形成方法の他の実施の形態を示す断面図である。
図2(a)及び図2(b)は、図1(a)及び図1(b)に示した場合とそれぞれ同様の状態を示したものである。すなわち、図2(a)に示すように、塗布開始時には、ガラス基板1の塗布開始位置A上に、スリットノズル2を、その吐出孔2bがガラス基板1の面から数十μm〜数百μm、好ましくは30〜150μmの間隔を置いた状態で停止させている
次に、図2(b)に示すように、送液ポンプ3より塗布液をスリットノズル2の塗布液供給路2aに供給し、吐出口2bから吐出させることで吐出口2bとガラス基板1との間隙にビードが張られ連結状態となる。
本実施の形態においては、図2(c)に示すように、ビードが切れない範囲でスリットノズル2を僅かに上方に離間させることが特徴である。離間距離は100〜300μm、好ましくは120〜200μmである。
次に、図1で説明した場合と同様に、この状態を所定の時間維持させる。なお、所定時間ビードを維持させている間の送液ポンプ3の運転については、図1で説明したと同様である。
次に、所定時間の経過後、図2(d)に示すように、送液ポンプ3を停止していた場合は送液を再開し、スリットノズル2を水平方向に移動させながら被塗物1上に塗膜4を形成させる。そして、被塗物1上の塗膜終了位置Bに到達した時点で送液ポンプ3を停止させ、スリットノズル2を被塗物1から離して塗布作業を終了する。
本実施の形態に係る塗膜形成方法によれば、このようにスリットノズル2を基板1表面から離間させるようにしたので、上述した実施の形態の塗膜形成方法の作用に加えて、塗布液がガラス基板1面に吐出された際のスリットノズル2への反作用が、距離が離れることにより希釈化され、塗膜の波打ちをさらに低減することができる。
図3は、本発明に係る塗膜形成方法を実施した際のガラス基板1の膜厚(Y軸:単位μm)と塗膜測定点(X軸:単位mm)との相関の例を示すグラフである。本図において、塗布開始位置(測定点が0mmの点)から1800mmを超える長さの塗布を行っているが、ビードが張られた後の所定時間(本図ではウェイトタイムと表示)が1.5秒〔線分(1)〕、5.0秒〔線分(2)〕および9.0秒〔線分(3)〕の3種類について測定した。
この結果、線分(2)および線分(3)は、スタート10mmまでの均一性はそれぞれ±2.98%、±2.34%と安定していた。一方、線分(1)は、所定時間が1.5秒と短いため均一性は±11.81%と不安定であった。このことから、ウェイトタイムが塗布開始端の盛り上がりに大きく影響していることが分かる。
なお、本発明は上述の実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲でその他様々な構成が取り得る。
本発明の塗膜形成方法の一例を示す断面図。 本発明の塗膜形成方法の他の一例を示す断面図。 本発明の塗膜形成方法を実施した際のガラス基板1の膜厚(Y軸:単位μm)と塗膜測定点(X軸:単位mm)との相関の例を示すグラフ。
符号の説明
1…ガラス基板、2…スリットノズル、2a…塗布液供給路、2b…吐出口、3…送液ポンプ、4…塗膜、A…塗布開始位置、B…塗膜終了位置

Claims (1)

  1. 被塗物面上を相対的に移動するスリットノズルから供給される塗布液によって、前記被塗物面に均一な塗膜を形成する方法であって、
    塗布開始時に、前記スリットノズルの塗布液吐出口を被塗物面に接近させ、次に、塗布液送液ポンプを駆動することによって、前記塗布液吐出口と前記被塗物面との間を塗布液で連結させ、次に、前記塗布液の連結状態を維持した状態で前記スリットノズルを前記被塗物面から僅かに上方に離間させ、この僅かに上方に離間した状態を5秒以上維持し、これらの状態を維持している間は、前記塗布液送液ポンプを停止してビードの安定化を図り、この後、塗布液送液ポンプの運転を再開し、スリットノズルを水平方向に移動することを特徴とする塗膜形成方法。
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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5212277B2 (ja) * 2009-07-02 2013-06-19 コニカミノルタホールディングス株式会社 配線パターンの形成方法
KR20120053319A (ko) 2010-11-17 2012-05-25 삼성모바일디스플레이주식회사 기판 세정 시스템 및 세정 방법
JP5766990B2 (ja) * 2011-03-23 2015-08-19 東レエンジニアリング株式会社 塗布装置
TWI511795B (zh) * 2014-03-26 2015-12-11 Premtek Int Inc 噴塗方法及裝置
JP6931849B2 (ja) * 2018-02-01 2021-09-08 パナソニックIpマネジメント株式会社 塗工方法および塗工装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000157908A (ja) * 1998-11-25 2000-06-13 Canon Inc 枚葉塗工方法及び枚葉塗工装置、カラーフィルタの製造方法
JP4130058B2 (ja) * 2000-10-10 2008-08-06 東京応化工業株式会社 塗布方法
JP4736177B2 (ja) * 2000-11-16 2011-07-27 大日本印刷株式会社 枚葉基板の製造方法
JP4218376B2 (ja) * 2003-03-12 2009-02-04 東レ株式会社 塗布方法およびディスプレイ用部材の製造方法
JP4447331B2 (ja) * 2004-01-08 2010-04-07 大日本スクリーン製造株式会社 基板処理装置および基板処理方法

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