JP5119072B2 - 半導体集積回路装置 - Google Patents

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Description

本発明は、半導体集積回路装置に関し、特に、その装置のレギュレータ回路部分の構成に適用して有効な技術に関する。
本発明者が検討した技術として、半導体集積回路装置においては、例えば、以下の技術が考えられる。
クレジットカードや公衆電話のプリペイドカード等において、各種情報を記録するのにIC(集積回路)チップを埋め込んだICカードが利用されることがある。ICカードには接触型と非接触型と2つのタイプがあり、接触型ICカードでは電源電圧や情報の入出力がカード表面に形成された端子パッドを介して行われる。接触型ICカードでは、複数世代の読取装置に対応するため入力される外部電源は1.8〜5Vと幅を広くする必要があり、ICチップにはこのような外部電源から内部回路に必要な内部電源電圧を生成するレギュレータ回路を備えるのが一般的である。
ICカード用のレギュレータ回路としては、例えば、外部電源である電源電圧Vccをソース端子に受けて、内部電源として供給される電圧VDDをドレイン端子から出力する出力制御MOSトランジスタと、電圧VDDを分圧した帰還電圧と基準電圧とを比較して出力制御MOSトランジスタのゲートを制御する差動増幅器などを備えた回路が用いられている。
なお、このような半導体集積回路装置に関する技術としては、例えば、下記特許文献1及び特許文献2に記載された技術などが挙げられる。
特許文献1に記載されたレギュレータ回路は、出力電圧の低下を検知して制御信号を出力して過負荷保護動作を行う過負荷検出回路と、レギュレータ回路を起動するイネーブル信号を遅延する遅延回路と、この遅延回路で遅延されたイネーブル信号と過負荷検出回路からの制御信号との論理積をとるAND素子とを備えている。そして、イネーブル信号をオンしてレギュレータ回路を起動するとき、イネーブル信号が遅延回路で遅延されて出力されるまでの期間、出力制限手段への制御信号をブロックして、出力制限手段による過負荷保護動作を中断するものである。このような構成により、低消費電流化の効果を確保しながら、電源の起動特性の良いレギュレータ回路を実現している。
特許文献2に記載されたレギュレータ回路は、電流量の制限される経路に接続された電流制限用MOSと、その電流制限用MOSを出力制御MOSとカレントミラー接続させるスイッチと、電源投入時から一定期間上記スイッチをオン状態とする時定数回路とを備えている。さらに、帰還電圧の出力ノードに、帰還電圧がある電圧幅以上に変動するのを阻止する電圧クランプ手段を設けている。このような構成により、電源投入時の過大な流入電流を抑止し、外部電源や内部回路の負荷が急激に変動した場合でも出力電圧の過大な変動を抑止することの出来るレギュレータ回路を実現している。
特開2002−140122号公報 特開2003−330555号公報
ところで、前記のような半導体集積回路装置の技術について、本発明者が検討した結果、以下のようなことが明らかとなった。
例えば、基準電圧発生回路(以下「BGR」と称する)からレファレンスを受けて内部電圧(以下「VDD」と称する)を生成するレギュレータ(以下「REG」と称する)において、起動時にVDDが安定するまで時間が長くなるとICチップ全体の起動時間も長くなってしまい、起動時間の早さを要求する顧客のニーズを満足させることができなくなる。逆に、VDDを目標電圧まで早く立ち上げ過ぎると突入電流やVDDの跳ね上がり等の問題が生じる。また、BGRからのレファレンスは、精度は高いが起動が遅く、起動時に跳ね上がりが生じ、レファレンスの跳ね上がり時間を見えなくするためのマスク信号も、プロセスばらつき・電圧変動・温度変動によってマスク時間がばらついてレファレンスの跳ね上がり期間をマスクしきれない場合がある。そのため、REGは、突入電流制限をかけつつ、跳ね上がりなどを生じることなく短い起動時間でVDDを目標電圧に安定させることが困難になる。
そこで、これらの問題の影響を受けずに突入電流制限をかけながらVDDを早く安定させる回路構成が必要になった。
また、特許文献1では、レギュレータ回路を起動するイネーブル信号を遅延させた信号と、出力電圧の低下を検知して発行される信号との論理積をとって出力への電流供給を切り替えて起動が早いレギュレータを実現している。しかし、電流供給能力が大きい出力MOSと電流供給能力が小さい出力MOSを切り替えるだけなので、確かに出力電圧の立ち上がり時間は早くなるが、そのときに瞬間的に大きな過電流(突入電流)が流れ、回路の配線のEM(エレクトロ・マイグレーション)を越えてしまう可能性がある。
そこで、本発明の目的は、半導体集積回路装置において、レギュレータ回路の内部電圧VDDの跳ね上がりを生ずることなく、短い起動時間で目標電圧に安定させることができる技術を提供することにある。
本発明の前記並びにその他の目的と新規な特徴は、本明細書の記述及び添付図面から明らかになるであろう。
本願において開示される実施例のうち、代表的なものの概要を簡単に説明すれば、次のとおりである。
すなわち、代表的な実施例による半導体集積回路装置は、電源投入時刻から目標電圧値を超えることなく早く内部電圧VDDを目標電圧に到達させて安定させるために、「電源投入時の起動が早く目標電流を超えない第1電流源」で回路を駆動する。
また、起動時に、内部電圧VDDが安定したら「電源投入時の起動が早く目標電流を超えないが電流源」から、バイアス回路から生成される「電源投入時の起動が遅く目標電流値を超えてから目標電流値に到達するが第1電流源よりも精度の高い第2電流源」によって回路を制御するように切り替えるという2種類の電流源を用いる。
代表的な実施例によれば、レギュレータ回路から出力される内部電圧VDDについて、跳ね上がりを生ずることなく、短い起動時間で目標電圧に安定させることができる。
以下、本発明の実施の形態を図面に基づいて詳細に説明する。なお、実施の形態を説明するための全図において、同一部材には原則として同一の符号を付し、その繰り返しの説明は省略する。また、特にことわらない限り、端子名を表す記号は同時に配線名、信号名も兼ね、電源の場合はその電圧値も兼ねるものとする。
以下の実施の形態においては便宜上その必要があるときは、複数のセクションまたは実施の形態に分割して説明するが、特に明示した場合を除き、それらは互いに無関係なものではなく、一方は他方の一部または全部の変形例、詳細、補足説明等の関係にある。また、以下の実施の形態において、要素の数等(個数、数値、量、範囲等を含む)に言及する場合、特に明示した場合および原理的に明らかに特定の数に限定される場合等を除き、その特定の数に限定されるものではなく、特定の数以上でも以下でもよい。
(実施の形態1)
図1は本発明の実施の形態1による半導体集積回路装置において、レギュレータ回路の概略構成を示す概念図、図2はREG制御回路の構成例を示す回路図、図3はREG(レギュレータ)の構成例を示す回路図、図4はREG制御回路及びREGの詳細な構成例を示す回路図、図5は判定回路内の増幅器(amp11)の構成例を示す図、図6はREG内の増幅器(amp21)の構成例を示す図、図7はレギュレータ回路の動作例を示す波形図である。
まず、図1により、本実施の形態1による半導体集積回路装置の概略構成を説明する。本実施の形態1の半導体集積回路装置は、外部電源である電源電圧Vccから内部電圧VDDを生成するレギュレータ回路を含み、例えば周知の半導体製造技術によって1個の半導体チップ上に形成される。
本実施の形態1による半導体集積回路装置は、例えば、レギュレータ段(REGULATOR)101、基準電圧発生回路(BGR)102、パワーオンリセット回路(POR)103、演算回路(CPU)104、電流源IREF−3などから構成されている。レギュレータ段(REGULATOR)101は、REG制御回路105、REG回路106、電流源IREF−2などから構成されている。REG制御回路105は、判定回路107、スイッチsw1,sw2、電流源IREF−1,IREF−2などから構成されている。
電流源IREF−1は、REG制御回路105内に設けられた電流源であり、電流源IREF−2と比べて目標電流値に対する精度は低いが、IREF−2よりも電源投入時の起動が速くて目標電流を超えずに目標電流に到達する電流源である。電流源IREF−1は図4に示すようにトランジスタmp31〜mp35が直列接続され、これらのトランジスタのゲートに図7中に示す1PORb信号が入力されてONし、電流を生成する。このときトランジスタmp31〜mp35は抵抗と等価であるため、電源電圧Vccが0Vよりも上がれば電流を流し始め、目標電流を超えることなく電源投入時に速い起動時間を実現できる。しかし、トランジスタで抵抗を等価的に実現しているために製造ばらつきに大きく影響されてしまい、目標電流に対する精度が低くなる。ここで目標電流とは、回路が安定に動作しているときの電流値(図7及び図13のREG動作モード期間の電流値)のことをいう。
電流源IREF−2は、BGR102から生成される電流源で、電流源IREF−1と比べて目標電流値に対する精度は高いが、IREF−1よりも電源投入時の目標電流値を超えてから目標電流値に到達する電流源である。電流源IREF−2はBGRによって生成されるため、VccがBGRが動作できる電圧値に到達してから起動し、電流源IREF−1に比べて電源投入時の起動が遅くなる。しかし、電流源IREF−2は図7中に示すBGRが生成する目標電圧に対する精度が高いVREF−1を用いて生成されるために、目標電流に対する精度が高い。
REG制御回路105は、BGR102からbgrmask信号、電圧VREF−1、電流IREF−2を受け、POR103からPOR信号を受け、起動時はIREF−1を用いてREG制御回路105中の判定回路107を駆動し、突入電流制限を行う。REG制御回路105によってbgrmask信号を遅延させ、POR信号が起動する前にREG回路106にSignal信号を与えて突入電流制限モードからREG動作モードに切り替え、内部電圧VDDを起動させる。その後、POR信号によってIREF−1からIREF−2に切り替える。REG回路106は内部電圧VDDを生成する。内部電圧VDDは、半導体集積回路装置内のCPU104等の内部回路に供給される。
BGR102は基準電圧を発生する。BGR102は、レファレンス電圧VREF−1,VREF−2、bgrmask信号、電流源IREF−2,IREF−3を生成する。POR103はPOR信号(パワーオンリセット信号)を生成する。
次に、図2〜図7により、本実施の形態1による半導体集積回路装置の回路構成例を説明する。
図2は、本発明の半導体集積回路装置において、REG制御回路の構成を示す回路図である。図2中のトランジスタmn11は、POR信号起動前(スイッチsw1がオン)はIREF−1を、POR信号起動後(スイッチsw2がオン)はIREF−2を流す電流源であり、トランジスタmn11,mn12,mn13はカレントミラーを構成している。トランジスタmn14,mn15は、それぞれトランジスタmp11のゲート、ノードnet2が電源投入時に中間電位になるのを防止するためのものである。
図7は、本発明の半導体集積回路装置において、REG制御回路の動作例を示す波形である。POR信号が起動する前のPOR期間において、bgrmaskが起動するまでのmask期間では、mp12によってnet2がVccに引き上げられる。bgrmaskが起動してmask期間が終わると、mn14がオフし、C11にIREF−2が注入されてnet1の電位が時間経過と共に上がっていく。mask期間終わってからnet1の電位がVREF−1の電位に到達するまでの期間では、増幅器amp11によってトランジスタmp11のゲート電位が引き下げられてmp11の電流が増加しようと変化するが、mn13には目標電流値を超えないIREF−1をカレントミラーした電流I3が流れるので、mp11を流れる電流がI3よりも大きくならないようにnet2の電位が引きあがり、net2の電位はNOR11の論理スレッショルド以上で安定するため、NOR11の出力SignalにはL(ロウレベル)が出力され、図3のmp22をオンさせて突入電流を制限(突入電流制限モード)。ここで、突入電流とは、電源投入時にチャージ作用によって目標電流値を超える過大電流のことをいう。
net1の電位がVREF−1よりも高くなると、amp11によってmp11のゲート電位が引き上げられ、mp11を流れる電流が絞られてmn13を流れる電流I3よりも小さくなり、net2の電位がNOR11の論理スレッショルド以下に下がる。このとき、NOR11にはbgrmaskbのL信号が入力されているため、NOR11の出力SignalにはH(ハイレベル)が出力され、図3のmp22をオフさせてRGEモードに切り替わる。
POR信号起動後は、PORbがH信号となってmp31〜mp35がオフしてIREF−1がオフし、POR信号起動後にはIREF−2は十分安定しているので、目標電流値に対する精度がIREF−1よりも高いIREF−2に切り替えてIREF−1をオフさせ、REG動作モードを継続する。
図4に示すように、電流源IREF−1はトランジスタmp31〜mp35により構成される。また、トランジスタmp36,mp37,mp38は、BGR102からのレファレンス電流IREF−2をモニタするPMOSトランジスタである。スイッチsw1,sw2はPOR信号のタイミングによってトランジスタmn11に流す電流をIREF−1からIREF−2に切り替える。
図5に、判定回路107内に用いた増幅器amp11の一例を示す。
トランジスタmp81とトランジスタmp82はカレントミラーを構成する。トランジスタmn81とトランジスタmn82は差動対を構成する。トランジスタmn83は増幅器amp11の電流を決めるものである。
図6に、REG回路106に用いた増幅器amp21の一例を示す。
トランジスタmn91とトランジスタmn93、トランジスタmn92とトランジスタmn94、トランジスタmp94とトランジスタmp95は、それぞれカレントミラーを構成する。トランジスタmp91とトランジスタmp92は差動対を構成する。トランジスタmp93は増幅器amp21の電流を決めるものである。
次に、本実施の形態1の特徴を分りやすくするために、前提技術として、電流源IREF−2のみをレファレンスとする場合について、説明する。
図13は、本発明の前提として検討した半導体集積回路装置において、REG制御回路の構成を示す回路図、図14は、その動作例を示す波形図である。なお、図13は、電流源IREF−2のみをレファレンスとする場合におけるREG制御回路の構成、図14は、起動時に電流IREF−2のみをレファレンスとした場合のシーケンスを示す。
図13および図14について、POR(パワーオンリセット)信号が起動する前のPOR期間において目標電流値に対する精度がIREF−1よりも高いが電源投入時の起動が遅く目標電流値を超えてから目標電流値に到達する電流源IREF−2をレファレンス電流としたときに、bgrmask信号が起動するまでのmask期間中でIREF−2が目標電流値を超えている期間をマスクできない場合を考える。bgrmaskが起動するまでのmask期間では、mp12によってnet2がVccに引き上げられる。bgrmaskが起動してmask期間が終わると、mn14がオフし、C11にIREF−2が注入されてnet1の電位が時間経過と共に上がっていく。mask期間終わってからnet1の電位がVREF−1の電位に到達するまでの期間において、増幅器amp11によってトランジスタmp11のゲート電位が引き下げられてmp11の電流が増加しようと変化するが、このとき、mn13には目標電流値を超えてから目標電流値に到達する電流IREF−2をカレントミラーした電流I3が流れるため、IREF−2が目標電流値を超えている期間にmp11を流れる電流よりもmn13の電流I3が大きくなってnet2の電位がNOR11の論理スレッショルド以下に引き下げられる。このときNOR11にはbgrmaskbのL信号が入力されているため、NOR11の出力SignalにはH(ハイレベル)が出力され、図3のmp22をオフしてREGモードへ移行してしまい、VDDに跳ね上がりが生じる。その後、IREF−2が目標電流値に到達すると、mp11を流れる電流よりもmn13の電流I3が小さくなってnet2の電位が引きあがり、再びnet2の電位がNOR11の論理スレッショルド以上になるため、NOR11の出力SignalにはL(ロウレベル)が出力され、再び図3のmp22をオンさせて突入電流制限モードを継続できる。
ノードnet1の電位が電圧VREF−1の電位よりも高くなると、トランジスタmp11のゲート電位が上がってトランジスタmp11のドレイン・ソース間電流が絞られ、ノードnet2の電位がNORゲートNOR11の論理スレッショルド以下となってSignal信号の出力がHとなり、POR信号起動前に図3のトランジスタmp22をオフさせてREG動作モードに切り替わる。
本実施の形態1による半導体集積回路装置の特徴をまとめると以下のようになる。
起動の初期にBGRからのレファレンス電流(精度は高いが起動が遅くて跳ね上がりあり、例えばIREF−2)ではなく、REG制御回路内に設けた電流源(精度は荒いが起動が早くて跳ね上がりなし、例えばIREF−1)を、判定回路などを動作させるための初期バイアスとして利用し、突入電流制限をかけつつVDDを早く立ち上げる。そして、VDDが目標電圧到達後に突入電流制限動作モードからREG動作モードに切り替えてVDDを安定させ、電流源をBGRからのレファレンス電流(例えばIFEF−2)に切り替える。
すなわち、BGR102からのbgrmask信号(bgrmaskb信号)を遅延させる判定回路107内の増幅器amp11の動作電流に対して、起動時にはレファレンス電流(IREF−2)をモニタせず、REG制御回路105内に設けた精度が荒くても起動が早くて跳ね上がらない電流源IREF−1を用いる。これによってbgrmask信号の時間が短くなってレファレンスの跳ね上がりをマスクしきれない場合であっても電流制限モードを継続してVDDの跳ね上がりを防ぐことができる。その後、BGR102からのbgrmask信号を遅延させて生成する切り替え信号によって、外部からパワーオンリセット信号(POR信号)が発行される前に電流制限モードからREG動作モードに切り替えてVDDを起動する。VDD起動後、外部からのパワーオンリセット信号によってレファレンス電流(IREF−2)をモニタすると同時にREG制御回路105内の電流源IREF−1をオフさせる。
したがって、本実施の形態1の半導体集積回路装置によれば、レギュレータ回路の内部電圧VDDの跳ね上がりを生ずることなく、短い起動時間で目標電圧に安定させることができる。
(実施の形態2)
図8は、本発明の実施の形態2による半導体集積回路装置において、電流源IREF−1の他の構成例を示す回路図である。
図8により、電流源IREF−1の生成方法の変形例を説明する。前記実施の形態1の図4では、複数のp型MOSトランジスタで電流源IREF−1を構成していたが、本実施の形態2の図8では、抵抗R41により電流源IREF−1を生成している。本実施の形態2では、この電流源IREF−1をIREF−1aとする。
電源が投入され、電源電圧Vccが上がると抵抗R41に電流が流れる。この構成では、電源電圧Vccが少しでも上がれば抵抗R41に電流が流れるため、非常に起動時間が早い電流源を実現することができる。
(実施の形態3)
図9は、本発明の実施の形態3による半導体集積回路装置において、電流源IREF−1の他の構成例を示す回路図である。
図9により、電流源IREF−1の生成方法の変形例を説明する。前記実施の形態1の図4では、複数のp型MOSトランジスタで電流源IREF−1を構成していたが、本実施の形態3の図9では、トランジスタmp41〜mp43,mn41,mn42及び抵抗R41により電流源IREF−1を生成している。本実施の形態3では、この電流源IREF−1をIREF−1bとする。
図9に示す電流源はワイドラー型電流源である。この電流源は電源電圧Vccが上がれば電流が流れ始め、起動が早い。したがって、前記実施の形態1の電流源IREF−1として使うことができる。トランジスタmn41とトランジスタmn42のゲート幅の比は1:N(Nは2以上の自然数)である。
(実施の形態4)
図10は、本発明の実施の形態4による半導体集積回路装置において、電流源IREF−1の他の構成例を示す回路図である。
図10により、電流源IREF−1の生成方法の変形例を説明する。前記実施の形態1の図4では、複数のp型MOSトランジスタで電流源IREF−1を構成していたが、本実施の形態4の図10では、トランジスタmp61〜mp65,mn61,mn62、トランジスタBip61〜63、増幅器amp61及び抵抗R91,R62により電流源IREF−1を生成している。本実施の形態4では、この電流源IREF−1をIREF−1cとする。
トランジスタmp61〜64、トランジスタmn61〜62、トランジスタBip61〜63、抵抗R91,R62及び増幅器amp61で構成される回路は、基準電圧発生回路(BGR;バンドギャップレファレンス)の一例である。トランジスタBip61,Bip62,Bip63の比は1:N:1である(Nは2以上の自然数)。このような構成により、ノードnet61に温度依存性がない基準電圧が出力される。
図10の構成では、電源電圧Vccが投入されてから上記の基準電圧発生回路が安定するとIREF−1cも安定するため、基準電流として起動に時間がかかる。
(実施の形態5)
図11は、本発明の実施の形態5による半導体集積回路装置において、電流源IREF−2の他の構成例を示す回路図である。
図11により、電流源IREF−2の生成方法の変形例を説明する。本実施の形態5の図11では、トランジスタmp61〜mp64,mp71,mp72,mn61,mn62,mn71,mn72、トランジスタBip61〜63、増幅器amp61,amp71及び抵抗R91,R62,R71により電流源IREF−2を生成している。本実施の形態5では、この電流源IREF−2をIREF−2aとする。
トランジスタmp71〜72、トランジスタmn71〜72、抵抗R71及び増幅器amp71は、図10の基準電圧発生回路がノードnet61に出力する基準電圧をレファレンスとして不帰還を行い、基準電流を生成する回路である。
図11の構成では、電源を投入してから、まず前段の基準電圧発生回路が安定し、次に基準電圧が安定してから後段の基準電流を生成する回路が安定してから基準電流が安定するため、起動に時間がかかる。しかし、図11の構成では、基準電圧をレファレンスとして不帰還を行って基準電流を生成するため、精度は高い。前記実施の形態1の電流源IREF−2に相当する。
最後に、電流源IREF−1(実施の形態1)、電流源IREF−1a(実施の形態2)、電流源IREF−1b(実施の形態3)、電流源IREF−1c(実施の形態4)及び電流源IREF−2a(実施の形態5)の起動時間の関係を、図12に示す。図12に示すように、起動時間の早い順に並べると、IREF−1a(図8)、IREF−1(図4)、IREF−1b(図9)、IREF−1c(図10)、IREF−2a(図11)となる。
以上、本発明者によってなされた発明をその実施の形態に基づき具体的に説明したが、本発明は前記実施の形態に限定されるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能であることはいうまでもない。
本発明は、一般的に起動時間が早いことが要求されるレギュレータ回路を搭載した半導体集積回路に効果的である。
本発明の実施の形態1による半導体集積回路装置において、レギュレータ回路の概略構成を示す概念図である。 本発明の実施の形態1による半導体集積回路装置において、REG制御回路の構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態1による半導体集積回路装置において、REG(レギュレータ)の構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態1による半導体集積回路装置において、REG制御回路及びREGの詳細な構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態1による半導体集積回路装置において、判定回路内の増幅器(amp11)の構成例を示す図である。 本発明の実施の形態1による半導体集積回路装置において、REG内の増幅器(amp21)の構成例を示す図である。 本発明の実施の形態1による半導体集積回路装置において、レギュレータ回路の動作例を示す波形図である。 本発明の実施の形態2による半導体集積回路装置において、電流源IREF−1の他の構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態3による半導体集積回路装置において、電流源IREF−1の他の構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態4による半導体集積回路装置において、電流源IREF−1の他の構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態5による半導体集積回路装置において、電流源IREF−2の他の構成例を示す回路図である。 本発明の実施の形態1〜5による半導体集積回路装置において、電流源IREFの起動時間の関係を示す図である。 本発明の前提として検討した半導体集積回路装置において、REG制御回路の構成を示す回路図である。 本発明の前提として検討した半導体集積回路装置において、REG制御回路の動作例を示す波形図である。
符号の説明
101 レギュレータ段(REGULATOR)
102 基準電圧発生回路(BGR)
103 パワーオンリセット回路(POR)
104 演算回路(CPU)
105 REG制御回路
106 REG回路
107 判定回路
amp11〜amp71 増幅器
IREF−1,IREF−1a,IREF−1b,IREF−1c,IREF−2,IREF−2a,IREF−3 電流源
mn11〜mn94,mp11〜mp95,Bip61〜63 トランジスタ
net1〜net61 ノード
NOR11 NORゲート
R11〜R91 抵抗
sw1〜sw2 スイッチ
VDD 内部電圧
Vcc 電源電圧

Claims (7)

  1. レギュレータ回路を有する半導体集積回路装置であって、
    前記レギュレータ回路は、
    外部電源電圧が供給され、電源投入時に目標電流を超えずに目標電流に到達する第1電流源と、
    バンドギャップリファレンス回路で生成された電圧が供給され、前記第1電流源より電源投入時の起動が遅く出力電流が目標電流を超えてから目標電流に到達し、目標電流に対する精度が前記第1電流源より高い第2電流源と、前記第1及び第2電流源で生成された電流が流れる制御回路と、を備え、
    前記レギュレータ回路の起動時に、まず、前記第1電流源により前記制御回路が制御され、次に、前記第1電流源から前記第2電流源に切り替えられ、前記第2電流源により前記制御回路が制御されることを特徴とする半導体集積回路装置。
  2. 請求項1記載の半導体集積回路装置において、
    前記レギュレータ回路から出力される電圧が目標電圧に到達した後に、突入電流制限モードからレギュレータ動作モードに切り替えられることを特徴とする半導体集積回路装置。
  3. 請求項1記載の半導体集積回路装置において、
    前記制御回路は、
    突入電流を制限するための信号を生成する回路であることを特徴とする半導体集積回路装置。
  4. 請求項1記載の半導体集積回路装置において、
    前記第1電流源は、
    複数のトランジスタを直列接続することにより構成されることを特徴とする半導体集積回路装置。
  5. 請求項1記載の半導体集積回路装置において、
    前記第1電流源は、
    抵抗により構成されることを特徴とする半導体集積回路装置。
  6. 請求項1記載の半導体集積回路装置において、
    前記第1電流源は、
    ワイドラー型電流源であることを特徴とする半導体集積回路装置。
  7. 請求項1記載の半導体集積回路装置において、
    前記第1電流源は、
    パワーオンリセット回路で生成した信号が供給されることを特徴とする半導体集積回路装置。
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