JP5106200B2 - 半導体メモリ装置及び半導体メモリシステム - Google Patents
半導体メモリ装置及び半導体メモリシステム Download PDFInfo
- Publication number
- JP5106200B2 JP5106200B2 JP2008083558A JP2008083558A JP5106200B2 JP 5106200 B2 JP5106200 B2 JP 5106200B2 JP 2008083558 A JP2008083558 A JP 2008083558A JP 2008083558 A JP2008083558 A JP 2008083558A JP 5106200 B2 JP5106200 B2 JP 5106200B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cell plate
- memory
- semiconductor memory
- cell
- memory device
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims abstract description 80
- 238000003491 array Methods 0.000 claims abstract description 31
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 claims abstract description 6
- 230000004913 activation Effects 0.000 claims description 23
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 claims description 18
- 230000003321 amplification Effects 0.000 claims description 4
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 claims description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 22
- 239000013256 coordination polymer Substances 0.000 description 18
- 101100351213 Chromobacterium violaceum (strain ATCC 12472 / DSM 30191 / JCM 1249 / NBRC 12614 / NCIMB 9131 / NCTC 9757) pcp gene Proteins 0.000 description 9
- 101100126615 Mus musculus Itpr1 gene Proteins 0.000 description 9
- 101150075058 pcp1 gene Proteins 0.000 description 9
- 101100481702 Arabidopsis thaliana TMK1 gene Proteins 0.000 description 6
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 6
- 101000693367 Homo sapiens SUMO-activating enzyme subunit 1 Proteins 0.000 description 4
- 102100025809 SUMO-activating enzyme subunit 1 Human genes 0.000 description 4
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 4
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 4
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 4
- 239000000872 buffer Substances 0.000 description 2
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
- 229920005591 polysilicon Polymers 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/22—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using ferroelectric elements
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/22—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using ferroelectric elements
- G11C11/225—Auxiliary circuits
- G11C11/2253—Address circuits or decoders
- G11C11/2257—Word-line or row circuits
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Dram (AREA)
Description
図3は、本発明の第1の実施形態に係る半導体メモリ装置の構成を示すブロック図である。図3の半導体メモリ装置は、メモリセルアレイ310,311と、セルプレートドライバ(CPドライバ)320と、ロウデコーダ330と、ワードセレクタ340,341と、センスアンプ370,371とを有している。
図6は、本発明の第2の実施形態に係る半導体メモリ装置の構成を示すブロック図である。図6の半導体メモリ装置は、メモリセルアレイ610,611と、セルプレートドライバ620と、ロウデコーダ630と、ワードセレクタ640,641と、センスアンプ370,371とを有している。メモリセルアレイ610,611、及びロウデコーダ630は、図3のメモリセルアレイ310,311、及びロウデコーダ330とほぼ同様に構成されている。
図8は、本発明の第3の実施形態に係る半導体メモリ装置の構成を示すブロック図である。図8の半導体メモリ装置は、図6の半導体メモリ装置に、更にセルプレートドライバ850,851と、セルプレート線補助駆動バッファ860,861とを有するようにしたものである。図8の半導体メモリ装置は、メモリセルアレイ810,811と、セルプレートドライバ820と、ロウデコーダ830と、ワードセレクタ840,841とを有しているが、これらは図6のメモリセルアレイ610,611、セルプレートドライバ620、ロウデコーダ630、及びワードセレクタ640,641とそれぞれ同様ものである。
図14は、本発明の第4の実施形態に係る半導体メモリシステムの構成を示すブロック図である。図14の半導体メモリシステムは、メモリコントローラ901と、半導体メモリ装置902とを有している。半導体メモリ装置902は、コラムデコーダ903と、セルプレートドライバ904と、ロウデコーダ905と、タイミング発生回路906と、メモリブロック911,912とを有している。
(1)アクセス制御信号EX3がLレベルの場合
AD1=C0: メモリブロック911を活性化
AD1=C1: メモリブロック912を活性化
AD1=C2: メモリブロック913を活性化
AD1=C3: メモリブロック914を活性化
(2)アクセス制御信号EX3がHレベルの場合
AD1=C0: メモリブロック911及び912を活性化
AD1=C1: メモリブロック912及び913を活性化
AD1=C2: メモリブロック913及び914を活性化
AD1=C3: メモリブロック914及び911を活性化
コラムデコーダ1003は、4個のメモリブロック911〜914のうちの1又は2個を選択してアクセスを行う点の他は、図14のコラムデコーダ903と同様に構成されている。
310,311,610,611,810,811 メモリセルアレイ
320A,620A,820A 第1のセルプレート駆動素子
850A,851A 第2のセルプレート駆動素子
903,1003 コラムデコーダ
CP<0> セルプレート線
WL0<0>,WL1<0> ワード線
MWL<0> メインワード線
Claims (14)
- それぞれが、マトリックス状に配置された複数のメモリセルを有する複数のメモリセルアレイと、
それぞれが、前記複数のメモリセルアレイに共通して、前記複数のメモリセルの各行に対応し、対応する行のメモリセルに接続された複数のセルプレート線とを備え、
前記複数のメモリセルアレイは、それぞれ、
当該メモリセルアレイの前記複数のメモリセルの各行にそれぞれ対応し、対応する行のメモリセルに接続された複数のワード線を有し、
前記複数のセルプレート線のそれぞれに接続されたメモリセルの数は、前記複数のワード線のいずれに接続されたメモリセルの数より大きい
ことを特徴とする半導体メモリ装置。 - 請求項1に記載の半導体メモリ装置において、
ロウアドレスに応じたロウデコード信号に従って前記複数のセルプレート線をそれぞれ駆動する複数の第1のセルプレート駆動素子を更に備える
ことを特徴とする半導体メモリ装置。 - 請求項1に記載の半導体メモリ装置において、
前記複数のセルプレート線のそれぞれに複数個ずつ対応し、対応するセルプレート線をロウアドレスに応じたロウデコード信号に従って駆動する複数の第2のセルプレート駆動素子を更に備える
ことを特徴とする半導体メモリ装置。 - 請求項3に記載の半導体メモリ装置において、
前記複数の第2のセルプレート駆動素子の少なくとも一部としてダミーメモリセルを用いる
ことを特徴とする半導体メモリ装置。 - 請求項3に記載の半導体メモリ装置において、
前記複数の第1のセルプレート駆動素子は、それぞれ、
前記ロウデコード信号が入力されたNAND回路と、
前記NAND回路の出力信号が入力されたインバータ回路とを有し、
前記複数の第2のセルプレート駆動素子は、それぞれ、トランスファーゲートである
ことを特徴とする半導体メモリ装置。 - 請求項1に記載の半導体メモリ装置において、
前記複数のメモリセルアレイの複数のメモリセルの各行にそれぞれ対応し、ロウアドレスに従って活性化される複数のメインワード線を更に備え、
前記複数のメインワード線は、それぞれ、
前記複数のメモリセルアレイの複数のワード線のうち、当該メインワード線が対応する行のメモリセルに接続されたワード線に、制御素子を介して接続されている
ことを特徴とする半導体メモリ装置。 - 請求項6に記載の半導体メモリ装置において、
前記複数のセルプレート線をそれぞれ駆動する複数の第1のセルプレート駆動素子を更に備え、
前記複数の第1のセルプレート駆動素子は、それぞれ、
当該第1のセルプレート駆動素子に駆動される前記セルプレート線に接続された前記メモリセルの行に対応する前記メインワード線によって制御される
ことを特徴とする半導体メモリ装置。 - 請求項6に記載の半導体メモリ装置において、
前記複数のセルプレート線のそれぞれに複数個ずつ対応し、対応するセルプレート線を駆動する複数の第2のセルプレート駆動素子を更に備え、
前記第2のセルプレート駆動素子は、それぞれ、
当該第2のセルプレート駆動素子に駆動される前記セルプレート線に接続された前記メモリセルの行に対応する前記メインワード線によって制御される
ことを特徴とする半導体メモリ装置。 - 請求項8に記載の半導体メモリ装置において、
前記複数の第2のセルプレート駆動素子の少なくとも一部としてダミーメモリセルを用いる
ことを特徴とする半導体メモリ装置。 - 請求項8に記載の半導体メモリ装置において、
前記複数の第1のセルプレート駆動素子は、それぞれ、
当該第1のセルプレート駆動素子に駆動される前記セルプレート線に接続された前記メモリセルの行に対応する前記メインワード線の信号が入力されたNAND回路と、
前記NAND回路の出力信号が入力されたインバータ回路とを有し、
前記複数の第2のセルプレート駆動素子は、それぞれ、トランスファーゲートである
ことを特徴とする半導体メモリ装置。 - 請求項1に記載の半導体メモリ装置において、
前記複数のメモリセルは、それぞれ、
トランジスタと、
前記トランジスタに接続された強誘電体キャパシタとを有する
ことを特徴とする半導体メモリ装置。 - 請求項11に記載の半導体メモリ装置において、
前記複数のメモリセルアレイは、それぞれ、
当該メモリセルアレイの前記複数のメモリセルの各列にそれぞれ対応し、対応する列のメモリセルに接続された複数のビット線対を有し、
当該半導体メモリ装置は、
前記複数のビット線対のそれぞれに読み出された電位差を増幅するセンスアンプを更に備え、
前記センスアンプが増幅を開始するときに、読み出しが行われる前記メモリセルのトランジスタが非導通状態である
ことを特徴とする半導体メモリ装置。 - 半導体メモリ装置と、
前記半導体メモリ装置を制御する制御信号を出力するメモリコントローラとを備え、
前記半導体メモリ装置は、
複数のメモリブロックと、
コラムアドレスをデコードし、活性化させるべきコラムを指定するコラム選択信号を生成するコラムデコーダとを有し、
前記複数のメモリブロックのそれぞれは、
それぞれが、マトリックス状に配置された複数のメモリセルを有する複数のメモリセルアレイと、
それぞれが、前記複数のメモリセルアレイに共通して、前記複数のメモリセルの各行に対応し、対応する行のメモリセルに接続された複数のセルプレート線とを有し、
前記複数のメモリセルアレイは、それぞれ、
当該メモリセルアレイの前記複数のメモリセルの各行にそれぞれ対応し、対応する行のメモリセルに接続された複数のワード線を有し、
前記複数のセルプレート線のそれぞれに接続されたメモリセルの数は、前記複数のワード線のいずれに接続されたメモリセルの数より大きく、
前記コラムデコーダは、
前記複数のメモリブロックのうち前記制御信号に応じた数のメモリブロックが、前記複数のセルプレート線のうちの1つが活性化中に活性化するように、前記コラム選択信号を生成する
ことを特徴とする半導体メモリシステム。 - 請求項13に記載の半導体メモリシステムにおいて、
前記コラムデコーダは、
前記制御信号に応じた数が2以上である場合には、前記複数のメモリブロックのうち隣接するメモリブロックを活性化するように、前記コラム選択信号を生成する
ことを特徴とする半導体メモリシステム。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008083558A JP5106200B2 (ja) | 2008-03-27 | 2008-03-27 | 半導体メモリ装置及び半導体メモリシステム |
US12/368,622 US7835169B2 (en) | 2008-03-27 | 2009-02-10 | Semiconductor memory device and semiconductor memory system |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008083558A JP5106200B2 (ja) | 2008-03-27 | 2008-03-27 | 半導体メモリ装置及び半導体メモリシステム |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2009238318A JP2009238318A (ja) | 2009-10-15 |
JP5106200B2 true JP5106200B2 (ja) | 2012-12-26 |
Family
ID=41116949
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008083558A Expired - Fee Related JP5106200B2 (ja) | 2008-03-27 | 2008-03-27 | 半導体メモリ装置及び半導体メモリシステム |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7835169B2 (ja) |
JP (1) | JP5106200B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP5333311B2 (ja) * | 2010-03-26 | 2013-11-06 | ソニー株式会社 | 不揮発性記憶装置 |
JP2012168998A (ja) * | 2011-02-10 | 2012-09-06 | Elpida Memory Inc | 半導体記憶装置 |
US10403389B2 (en) | 2016-06-16 | 2019-09-03 | Micron Technology, Inc. | Array plate short repair |
US9941021B2 (en) | 2016-06-16 | 2018-04-10 | Micron Technology, Inc. | Plate defect mitigation techniques |
US10388360B2 (en) * | 2016-07-19 | 2019-08-20 | Micron Technology, Inc. | Utilization of data stored in an edge section of an array |
US10153022B1 (en) * | 2017-06-09 | 2018-12-11 | Micron Technology, Inc | Time-based access of a memory cell |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3607032B2 (ja) | 1996-06-03 | 2005-01-05 | 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社 | 不揮発性強誘電体メモリ及びその駆動方法 |
KR100434316B1 (ko) * | 2001-06-29 | 2004-06-04 | 주식회사 하이닉스반도체 | 강유전체 메모리의 레퍼런스 장치 및 그의 구동 방법 |
US6667896B2 (en) | 2002-05-24 | 2003-12-23 | Agilent Technologies, Inc. | Grouped plate line drive architecture and method |
JP3597185B2 (ja) | 2002-11-12 | 2004-12-02 | 沖電気工業株式会社 | 強誘電体メモリ |
JP3889728B2 (ja) * | 2003-07-18 | 2007-03-07 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路装置 |
KR100622757B1 (ko) * | 2003-07-30 | 2006-09-13 | 주식회사 하이닉스반도체 | 불휘발성 강유전체 메모리 장치 |
-
2008
- 2008-03-27 JP JP2008083558A patent/JP5106200B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-02-10 US US12/368,622 patent/US7835169B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7835169B2 (en) | 2010-11-16 |
US20090244951A1 (en) | 2009-10-01 |
JP2009238318A (ja) | 2009-10-15 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP4452463B2 (ja) | レイアウト面積を減らし、バンクごとに独立的な動作を実行することができるデコーダを有するフラッシュメモリ装置 | |
US7193925B2 (en) | Low power semiconductor memory device | |
JP5106200B2 (ja) | 半導体メモリ装置及び半導体メモリシステム | |
US8085574B2 (en) | Nonvolatile ferroelectric memory and control device using the same | |
US6240007B1 (en) | Nonvolatile ferroelectric memory device having global and local bitlines and split workline driver | |
JPH09265784A (ja) | 不揮発性半導体記憶装置 | |
JPH11260062A (ja) | 半導体記憶装置 | |
KR20030028827A (ko) | 반도체 기억장치 및 그 리프레싱 방법 | |
JP4490514B2 (ja) | 強誘電体メモリ | |
JP3913451B2 (ja) | 半導体記憶装置 | |
KR100316241B1 (ko) | 비휘발성 강유전체 메모리 | |
US6330202B1 (en) | Semiconductor memory device having write data line | |
JP4348228B2 (ja) | 強誘電体メモリ | |
US6879510B2 (en) | Nonvolatile ferroelectric memory device and method for operating the same | |
US8023303B2 (en) | Semiconductor memory device and memory access method | |
US7298657B2 (en) | Ferroelectric random access memory | |
US7327627B2 (en) | Semiconductor memory | |
US6791861B2 (en) | Ferroelectric memory device and a method for driving the same | |
US6392921B1 (en) | Driving circuit for non destructive non volatile ferroelectric random access memory | |
JP2004234713A (ja) | 間引きリフレッシュ機能を有するダイナミックメモリ | |
JP2001312888A (ja) | 半導体記憶装置 | |
US7554876B2 (en) | Semiconductor memory device | |
JP2007149295A (ja) | 半導体記憶装置 | |
US6404692B1 (en) | Semiconductor memory | |
JP2002216491A (ja) | 半導体メモリ |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20110218 |
|
RD02 | Notification of acceptance of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7422 Effective date: 20120131 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20120918 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20121002 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 5106200 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20151012 Year of fee payment: 3 |
|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |