JP5090289B2 - Fbgセンサの計測方法及びその計測装置 - Google Patents
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Description
前記二つのFBGセンサの二点で計測する際には、前記二つのFBGセンサからの反射光を光スプリッタにより反射波長ごとに区分けするように反射光を分岐し、分岐した反射光を前記二つのWDMフィルタに個別に入射させて、一方のWDMフィルタからの透過光と反射光を夫々電圧に変換すると共に、他方のWDMフィルタからの透過光と反射光を夫々電圧に変換し、夫々の電圧を介して前記二つのFBGセンサの2点によるひずみまたは温度変化を計測し、
前記二つのFBGセンサのうち一点で計測する際には、前記二つのFBGセンサからの反射光を光カプラを介して分割し、分割した反射光を前記二つのWDMフィルタに個別に入射させて、一方のWDMフィルタからの透過光と他方のWDMフィルタからの透過光を足し合わせて電圧VTに変換すると共に、一方のWDMフィルタからの反射光と他方のWDMフィルタからの反射光を足し合わせて電圧VRに変換し、夫々の電圧を介して前記二つのFBGセンサの1点によるひずみまたは温度変化を、前記二つのWDMフィルタの波長帯域で計測し、
前記二つのFBGセンサの二点で計測する場合や、前記二つのFBGセンサのうち一点で計測する場合を同一のFBGセンサの計測装置で計測するものである。
二つのFBGセンサを配置する光ファイバと、波長帯域が連続する二つのWDMフィルタとを用い、前記FBGセンサからの反射光を前記WDMフィルタに入射させ、前記WDMフィルタからの透過光を電圧VTに変換すると共に、前記WDMフィルタからの反射光を電圧VRに変換し、無次元量R=(VR−VT)/(VT+VR)を算出し、予め測定したR値と波長特性の関係から波長を求め、ひずみまたは温度変化を計測するFBGセンサの計測装置であって、
前記光ファイバへ光を連続的に出力する光源と、
前記二つのFBGセンサのブラッグ波長で発生した反射光を分離する光サーキュレータと、
前記二つのFBGセンサからの反射光を反射波長ごとに区分けして個別に前記二つのWDMフィルタに入射させる光スプリッタと、
前記二つのFBGセンサからの反射光を分割して個別に前記二つのWDMフィルタに入射させる第一の光カプラと、
前記光スプリッタと前記第一の光カプラを切り替える切替手段と、
前記光スプリッタを選択した際に前記WDMフィルタからの透過光及び反射光を処理する光電変換部と、
前記第一の光カプラを選択した際に一方のWDMフィルタからの透過光と他方のWDMフィルタからの透過光とを足し合わせる第二の光カプラと、
前記第二の光カプラからの透過光を電圧VTに変換する他の光電変換部と、
前記第一の光カプラを選択した際に一方のWDMフィルタからの反射光と他方のWDMフィルタからの反射光とを足し合わせる第三の光カプラと、
前記第三の光カプラからの反射光を電圧VRに変換する別の光電変換部と、
前記光スプリッタを選択した際には前記二つのFBGセンサの2点によるひずみまたは温度変化を計測し、前記第一の光カプラを選択した際には前記二つのFBGセンサの1点によるひずみまたは温度変化を、前記二つのWDMフィルタの波長帯域で計測するひずみ演算部と、
を備えたものである。
3 光源
4 光サーキュレータ
8 光ファイバ
9 第一の光カプラ
10 第一のWDMフィルタ(一方のWDMフィルタ)
11 第二のWDMフィルタ(他方のWDMフィルタ)
12 第二の光カプラ
13 第三の光カプラ
14 第一の光電変換部(一方の光電変換部)
15 第二の光電変換部(他方の光電変換部)
16 ひずみ演算部
21 光ファイバ
22 光スプリッタ
23 第一の光スイッチ(切替手段)
24 第二の光スイッチ(切替手段)
25 第三の光スイッチ(切替手段)
26 第四の光スイッチ(切替手段)
27 第五の光スイッチ(切替手段)
28 第六の光スイッチ(切替手段)
29 第七の光スイッチ(切替手段)
30 第八の光スイッチ(切替手段)
31 第九の光スイッチ(切替手段)
32 第一の光電変換部
33 第二の光電変換部
34 第三の光電変換部(他の光電変換部)
35 第四の光電変換部(別の光電変換部)
36 ひずみ演算部
Claims (4)
- 二つのFBGセンサと、波長帯域が連続する二つのWDMフィルタとを用い、前記FBGセンサからの反射光を前記WDMフィルタに入射させ、前記WDMフィルタからの透過光を電圧VTに変換すると共に、前記WDMフィルタからの反射光を電圧VRに変換し、無次元量R=(VR−VT)/(VT+VR)を算出し、予め測定したR値と波長特性の関係から波長を求め、ひずみまたは温度変化を計測するFBGセンサの計測方法であって、
前記二つのFBGセンサの二点で計測する際には、前記二つのFBGセンサからの反射光を光スプリッタにより反射波長ごとに区分けするように反射光を分岐し、分岐した反射光を前記二つのWDMフィルタに個別に入射させて、一方のWDMフィルタからの透過光と反射光を夫々電圧に変換すると共に、他方のWDMフィルタからの透過光と反射光を夫々電圧に変換し、夫々の電圧を介して前記二つのFBGセンサの2点によるひずみまたは温度変化を計測し、
前記二つのFBGセンサのうち一点で計測する際には、前記二つのFBGセンサからの反射光を光カプラを介して分割し、分割した反射光を前記二つのWDMフィルタに個別に入射させて、一方のWDMフィルタからの透過光と他方のWDMフィルタからの透過光を足し合わせて電圧VTに変換すると共に、一方のWDMフィルタからの反射光と他方のWDMフィルタからの反射光を足し合わせて電圧VRに変換し、夫々の電圧を介して前記二つのFBGセンサの1点によるひずみまたは温度変化を、前記二つのWDMフィルタの波長帯域で計測し、
前記二つのFBGセンサの二点で計測する場合や、前記二つのFBGセンサのうち一点で計測する場合を同一のFBGセンサの計測装置で計測することを特徴するFBGセンサの計測方法。 - R値の範囲を−0.8以上0.8以下としたことを特徴する請求項2記載のFBGセンサの計測方法。
- 二つのFBGセンサを配置する光ファイバと、波長帯域が連続する二つのWDMフィルタとを用い、前記FBGセンサからの反射光を前記WDMフィルタに入射させ、前記WDMフィルタからの透過光を電圧VTに変換すると共に、前記WDMフィルタからの反射光を電圧VRに変換し、無次元量R=(VR−VT)/(VT+VR)を算出し、予め測定したR値と波長特性の関係から波長を求め、ひずみまたは温度変化を計測するFBGセンサの計測装置であって、
前記光ファイバへ光を連続的に出力する光源と、
前記二つのFBGセンサのブラッグ波長で発生した反射光を分離する光サーキュレータと、
前記二つのFBGセンサからの反射光を反射波長ごとに区分けして個別に前記二つのWDMフィルタに入射させる光スプリッタと、
前記二つのFBGセンサからの反射光を分割して個別に前記二つのWDMフィルタに入射させる第一の光カプラと、
前記光スプリッタと前記第一の光カプラを切り替える切替手段と、
前記光スプリッタを選択した際に前記WDMフィルタからの透過光及び反射光を処理する光電変換部と、
前記第一の光カプラを選択した際に一方のWDMフィルタからの透過光と他方のWDMフィルタからの透過光とを足し合わせる第二の光カプラと、
前記第二の光カプラからの透過光を電圧VTに変換する他の光電変換部と、
前記第一の光カプラを選択した際に一方のWDMフィルタからの反射光と他方のWDMフィルタからの反射光とを足し合わせる第三の光カプラと、
前記第三の光カプラからの反射光を電圧VRに変換する別の光電変換部と、
前記光スプリッタを選択した際には前記二つのFBGセンサの2点によるひずみまたは温度変化を計測し、前記第一の光カプラを選択した際には前記二つのFBGセンサの1点によるひずみまたは温度変化を、前記二つのWDMフィルタの波長帯域で計測するひずみ演算部と、
を備えたことを特徴するFBGセンサの計測装置。 - 前記ひずみ演算部は、R値の範囲を−0.8以上0.8以下としたことを特徴する請求項3記載のFBGセンサの計測装置。
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JP2008206843A JP5090289B2 (ja) | 2008-08-11 | 2008-08-11 | Fbgセンサの計測方法及びその計測装置 |
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JP2008206843A JP5090289B2 (ja) | 2008-08-11 | 2008-08-11 | Fbgセンサの計測方法及びその計測装置 |
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JP2010043892A JP2010043892A (ja) | 2010-02-25 |
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Family Applications (1)
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JP2008206843A Active JP5090289B2 (ja) | 2008-08-11 | 2008-08-11 | Fbgセンサの計測方法及びその計測装置 |
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2008
- 2008-08-11 JP JP2008206843A patent/JP5090289B2/ja active Active
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