JP5071803B2 - 感光性樹脂組成物 - Google Patents

感光性樹脂組成物 Download PDF

Info

Publication number
JP5071803B2
JP5071803B2 JP2008112835A JP2008112835A JP5071803B2 JP 5071803 B2 JP5071803 B2 JP 5071803B2 JP 2008112835 A JP2008112835 A JP 2008112835A JP 2008112835 A JP2008112835 A JP 2008112835A JP 5071803 B2 JP5071803 B2 JP 5071803B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
group
general formula
photobase generator
resin composition
photosensitive resin
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2008112835A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2009080452A5 (ja
JP2009080452A (ja
Inventor
晃二 有光
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo University of Science
Original Assignee
Tokyo University of Science
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo University of Science filed Critical Tokyo University of Science
Priority to JP2008112835A priority Critical patent/JP5071803B2/ja
Publication of JP2009080452A publication Critical patent/JP2009080452A/ja
Publication of JP2009080452A5 publication Critical patent/JP2009080452A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5071803B2 publication Critical patent/JP5071803B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Landscapes

  • Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Materials For Photolithography (AREA)

Description

本発明は、活性エネルギー線の照射により、塩基を発生する光塩基発生剤を含む感光性樹脂組成物に関する。
光、赤外線、遠赤外線、電子線、又はX線等の活性エネルギー線の照射により、化学的な構造変化を起こす感光性樹脂組成物は、レジスト材料や光硬化材料として、多方面で用いられている。活性エネルギー線のうち、特に広く利用されているものが光である。以下、活性エネルギー線を単に光として説明するが、本発明における活性エネルギー線は光に限定されるものではない。
例えば、活性エネルギー線の照射により強酸を発生する光酸発生剤を配合した化学増幅型レジスト材料が知られている。この化学増幅型レジスト材料では、活性エネルギー線の照射により発生する強酸を触媒として樹脂成分を化学変性し、現像液に対する溶解性を変化させることでパターン形成が行われる。高感度・高解像性を目指して様々なレジスト材料の開発が進められてきたが、光酸発生剤と樹脂との組み合わせの種類は限定されてきており、新たな感光システムの開発が求められている。
また、活性エネルギー線の照射によるモノマーやプレポリマーの光硬化を利用した表面被覆材料が知られている。このような表面被覆材料の開発にあたり、モノマー、オリゴマー、さらにはポリマーの光硬化速度を向上させるべく、様々な試みがなされてきた。最も広く開発の対象となっているのが、光の作用で発生するラジカル種を開始剤として、多数のビニルモノマーを重合させるラジカル重合系の材料である。また、光の作用で酸を発生させ、この酸を触媒とするカチオン重合系の材料も盛んに研究が進められている。
しかしながら、ラジカル重合系の場合には、空気中の酸素により重合反応が限害される。このため、酸素を遮断するための特別な工夫が必要とされる。カチオン重合系の場合には、このような酸素による阻害が無い点で有利であるものの、光酸発生剤から発生した強酸が硬化後も残存するため、その腐食性や樹脂の変性のおそれが指摘されている。このため、強酸のような腐食性物質を含まず、空気中の酸素による阻害を受けることなく、高効率で迅速に反応が進行する感光性樹脂組成物の開発が強く望まれていた。
そこで、光の作用により発生した塩基を、重合反応や化学反応に利用した感光性樹脂組成物が提案されている。例えば特許文献1では、光の作用により塩基を発生する光塩基発生剤と、ポリイミド前駆体と、溶媒とを含有する感光性樹脂組成物が開示されている。この感光性樹脂組成物によれば、先ず、光を照射することにより塩基のアミン化合物が発生し、次いで加熱処理を施すことにより、発生したアミン化合物とポリイミド前駆体とが反応して硬化膜が得られる。
特開2006−189591号公報
しかしながら、特許文献1で用いられているような従来の光塩基発生剤では、光の照射により塩基を発生する際に、脱炭酸反応を伴うため炭酸ガスも同時に発生する。発生した炭酸ガスが気泡として硬化膜中に残存した場合には、硬化膜強度の低下を招く。特に、硬化膜の膜厚が厚い場合には、炭酸ガスが硬化膜中に残存する可能性が高い。
さらには、特許文献1で用いられているような従来の光塩基発生剤は、エステル結合を有するため高温耐性に難があり、高温条件下では光を照射しなくても塩基が発生してしまう。このため、特に、高温での反応を必要とするポリイミド前駆体等を配合した感光性樹脂組成物をレジスト材料として用いた場合には、未露光部分においても加熱により塩基が発生してしまい、パターン形成が困難である。
本発明は以上のような課題に鑑みてなされたものであり、その目的は、光の照射により塩基を発生させる際に脱炭酸反応を伴うことがなく、膜強度の高い硬化膜が得られるうえ、高温耐性に優れた感光性樹脂組成物を提供することにある。
本発明者は、上記課題を解決するために鋭意研究を重ねた。その結果、光の照射により、脱炭酸反応を伴うことなくアミン化合物を発生する光環化型の光塩基発生剤を用いることにより、膜強度の高い硬化膜が得られるとともに、高温耐性に優れた感光性樹脂組成物が得られることを見出し、本発明を完成するに至った。より具体的には、本発明は以下のようなものを提供する。
(1) 塩基反応性樹脂と、下記一般式(1)で表される光塩基発生剤と、を含むことを特徴とする感光性樹脂組成物。
[一般式(1)中、Zはアミノ基を表す。]
(2) 前記一般式(1)において、Zが下記一般式(z1)で表される基であることを特徴とする(1)記載の感光性樹脂組成物。
[一般式(z1)中、R及びRは、同一でも異なっていてもよく、水素、若しくは置換基を有していてもよい炭素数が1〜18の有機基を表すか、又はR 及びR が互いに連結して、構成原子数が3〜12の含窒素環を形成するものを表す。有機基は、アルキル基、シクロアルキル基、アリール基、及びアリールアルキル基よりなる群から選ばれる。]
(3) 前記一般式(1)において、Zが下記一般式(z2)で表される基であることを特徴とする(1)記載の感光性樹脂組成物。
[一般式(z2)中、n及びmはそれぞれ独立した1〜6の整数であり、Rは水素、炭化水素基、炭化水素オキシ基、又はアシル基を表す。]
(4) 前記一般式(1)で表される光塩基発生剤が、下記化学式(II)、下記化学式(III)、又は下記化学式(IV)で表されるものであることを特徴とする(1)記載の感光性樹脂組成物。
) 前記塩基反応性樹脂が、エポキシ樹脂、含ケイ素樹脂、及びポリアミド酸樹脂よりなる群から選ばれる少なくとも一種であることを特徴とする(1)から()いずれか記載の感光性樹脂組成物。
) (1)から()いずれか記載の感光性樹脂組成物を支持体上に塗布し、乾燥させてから所定のパターン露光をした後、加熱処理して現像することにより、所定形状の硬化樹脂パターンを得ることを特徴とするパターン形成方法。
本発明によれば、光の照射により塩基を発生させる際に脱炭酸反応を伴うことがなく、膜強度の高い硬化膜が得られるうえ、高温耐性に優れた感光性樹脂組成物を提供できる。
以下、本発明の実施形態について詳細に説明する。
[光塩基発生剤]
本発明の感光性樹脂組成物で用いられる光塩基発生剤は、光の照射により、脱炭酸反応を伴うことなく塩基のアミン化合物を発生することを特徴とする。具体的には、本発明の感光性樹脂組成物で用いられる光塩基発生剤は、下記一般式(1)で表される。
上記一般式(1)中、Zはアミノ基を表す。アミノ基には、未置換アミノ基及び置換アミノ基が含まれる。置換アミノ基には、モノ置換アミノ基及びジ置換アミノ基が含まれる。
上記一般式(1)において、Zが下記一般式(z1)で表される基である光塩基発生剤が好ましく用いられる。
上記一般式(z1)中、R及びRは、同一でも異なっていてもよく、水素、又は置換基を有していてもよい炭素数が1〜18の有機基を表す。有機基の炭素数は、好ましくは6〜12である。有機基は、アルキル基、シクロアルキル基、アリール基、及びアリールアルキル基よりなる群から選ばれる。
アルキル基としては、炭素数1〜12、特に2〜6のものが好ましく用いられ、例えば、エチル、プロピル、ブチル、ヘキシル等が挙げられる。シクロアルキル基としては、炭素数5〜10、特に6〜8のものが好ましく用いられ、例えば、シクロヘキシル、シクロオクチル等が挙げられる。アリール基としては、炭素数6〜14、特に6〜10のものが好ましく用いられ、例えば、フェニル、トリル、ナフチル等が挙げられる。アリールアルキル基としては、炭素数が7〜15、特に7〜11のものが好ましく用いられ、例えば、ベンジル、フェネチル、ナフチルメチル等が挙げられる。これら有機基は、アミノ基、アルコキシ基、アルコキシカルボニル基、アシル基、アシルオキシ基、ヒドロキシ基等の置換基を有していてもよい。
上記一般式(z1)中、R及びRは、互いに連結して含窒素環を形成するものであってもよい。この場合の含窒素環を構成する原子の数は3〜12、好ましくは5〜8である。また、この含窒素環を構成する原子に、複数のヘテロ原子(N、O、S等)が含まれていてもよい。
また、上記一般式(1)において、Zが下記一般式(z2)で表される基である光塩基発生剤が好ましく用いられる。
上記一般式(z2)中、n及びmはそれぞれ独立した1〜6の整数であり、好ましくは2〜4の整数である。n+mは4〜12であることが好ましく、より好ましくは4〜8である。Rは水素、炭化水素基、炭化水素オキシ基、又はアシル基を表し、上記一般式(1)で表される光塩基発生剤からアミノ基が脱離した残基であってもよい。炭化水素基、炭化水素オキシ基における炭化水素基、及びアシル基における炭化水素基の炭素数は1〜12であることが好ましく、より好ましくは1〜8である。この炭化水素基には、アルキル、シクロアルキル、アリール、アリールアルキルが含まれる。
本発明で用いられる光塩基発生剤においては、光の照射により、下記化学反応式(1)で示されるような光環化反応が進行する。この光環化反応では、脱炭酸反応を伴うことがなく、1級又は2級のアミン化合物が発生する。このため、下記化学反応式(2)で示されるような脱炭酸反応を伴う従来の光塩基発生剤と異なり、炭酸ガスの発生による硬化膜の強度低下を抑制できる。
また、本発明で用いられる光塩基発生剤は、その骨格中にエステル結合を有さないため、従来の光塩基発生剤に比して優れた高温耐性を有する。従って、この光塩基発生剤と、高温で反応が進行するポリイミド前駆体(ポリアミド酸)等と、を含む感光性樹脂組成物をレジスト材料として用いた場合であっても、加熱により未露光部分において塩基が発生してしまうことがなく、良好なパターン形成が可能である。
具体的には、本発明で用いられる光塩基発生剤としては、以下のものが好ましく例示される。
[塩基反応性樹脂]
本発明で用いられる塩基反応性樹脂としては、上記光塩基発生剤から生ずるアミン化合物と反応するものであればよく、特に限定されない。従来公知のレジスト組成物や光硬化樹脂に利用されている塩基反応性樹脂が用いられる。以下、本発明の感光性樹脂組成物に用いられる塩基反応性樹脂の例を、化学式(a1)〜(a10)に示す。
化学式(a1)〜(a6)で表される塩基反応性樹脂のうち、化学式(a1)〜(a4)で表される塩基反応性樹脂は、塩基の作用により、脱離及び脱炭酸反応を生じる。また、化学式(a5)〜(a6)で表される塩基反応性樹脂は、塩基の作用により脱離反応を生じる。
化学式(a7)〜(a10)で表される塩基反応性樹脂のうち、化学式(a7)、(a8)で表される塩基反応性樹脂(混合物)は、塩基の作用により、脱水縮合及び架橋反応を生じる。化学式(a9)で表される塩基反応性樹脂(ポリマー)は、塩基の作用により、脱炭酸反応を生じる。化学式(a10)で表される塩基反応性樹脂は、塩基の作用により、ポリイミド形成反応を生じる。
また、本発明の感光性樹脂組成物では、塩基反応性樹脂として、エポキシ樹脂、含ケイ素樹脂、及びポリアミド酸樹脂よりなる群から選ばれる少なくとも一種であることが好ましい。ポリアミド酸樹脂については上述した通りである。例えば、少なくとも2つのエポキシ基を有する樹脂に、光の照射により生じた塩基(アミン)を作用させることにより、エポキシ基の開環重合を起こすことができる。また、光の照射により生じたアミンをエポキシ樹脂に付加させることにより、エポキシ樹脂を化学変性させることができる。エポキシ基を有する塩基反応性樹脂の具体例を、化学式(a11)〜(a22)に示す。
また、含ケイ素樹脂として、例えば、シラノール基又はアルコキシシリル基を有する樹脂が用いられる。少なくとも2つのシラノール基又はアルコキシシリル基を有する樹脂に、光の照射により生じた塩基(アミン)を作用させることにより、シラノール基又はアルコキシシリル基の縮重合を起こすことができる。シラノール基又はアルコキシシリル基を有する塩基反応性樹脂の具体例を、化学式(a23)〜(a26)に示す。
本発明の感光性樹脂組成物では、上記光塩基発生剤の含有量は、上記塩基反応性樹脂に対して、1質量%〜60質量%であることが好ましく、より好ましくは2質量%〜30質量%である。光塩基発生剤の含有量が1質量%未満であると、反応が不十分となり、60質量%を超えると、光塩基発生剤自体が塩基反応性樹脂の溶解性に大きな影響を与えるうえ、価格的に不利である。
なお、本発明で用いられる塩基反応性樹脂は、光により重合反応を開始する樹脂であることが好ましい。従って、本発明の感光性樹脂組成物は、重合性エポキシ樹脂、重合性含ケイ素化合物(樹脂)、又はポリアミド酸樹脂と、上記光塩基発生剤と、を含む組成物であることが好ましい。また、必要に応じて、溶媒や硬化促進剤、その他の充填剤等の補助成分を配合することができる。上記光塩基発生剤の感光波長領域を拡大するために、適宜、光増感剤を共存させることもできる。
[パターン形成方法]
本発明のパターン形成方法は、上述した光塩基発生剤と、塩基反応性樹脂と、を含む感光性樹脂組成物を用いることを特徴とする。例えば、この感光性樹脂組成物を有機溶媒に溶解して塗布液を作製し、この塗布液を基板等の支持体上に塗布し、乾燥して塗膜を形成する。次いで、この塗膜に対してパターン露光を行い、塩基を発生させる。続いて、加熱処理を行い、塩基反応性樹脂の反応を進行させる。反応終了後、露光部と未露光部とで溶解度に差が生じる溶媒(現像液)中に浸漬して現像を行うことにより、所定形状の硬化樹脂パターンが得られる。
なお、加熱処理の条件は、露光エネルギー、用いた光塩基発生剤の種類、塩基反応性樹脂の種類に応じて適宜設定される。加熱温度は50℃〜250℃が好ましく、より好ましくは60℃〜130℃である。加熱時間は10秒〜60分が好ましく、より好ましくは60秒〜30分である。
以下、本発明の実施例について説明するが、本発明はこれら実施例に限定されるものではない。
<合成例1>
o−ヒドロキシ−trans−桂皮酸1.8g、シクロヘキシルアミン0.99g、縮合剤の1−エチル−3−(3−ジメチルアミノプロピル)カルボジイミド塩酸塩(以下、EDC)2.1gを、溶媒のTHF中に溶解させ、室温で15時間、反応させた。反応終了後、クロロホルムで希釈し、有機層を希塩酸、水、飽和炭酸水素ナトリウム水溶液の順で洗浄し、無水硫酸マグネシウムで乾燥後、溶媒除去し、クロロホルムで再結晶することにより、白色結晶を得た。収率は46%であり、得られた白色結晶の融点(分解点)はDSC測定の結果、240〜241℃で非常に高温であったことから、高温耐性に優れたものであると考えられた。得られた白色結晶の同定は、H−NMR、IR、UV、元素分析により行った。
H−NMR(300MHz,acetone−d)δ(ppm)=8.96(s,1H,OH)、7.85(d,1H,J=16Hz,C=CHCO)、7.46(dd,1H,J=7.7Hz,1.5Hz,−NH−)、7.20〜6.82(m,4H,Ar−H)、6.71(d,1H,J=16Hz,CH=CCO)、3.80(m,1H,−N−CH−)、2.09〜1.71(m,10H,Ar−H)。
IR(KBr,cm−1):3300(νO−H)、3100,2900,2850(νC−H)、1650(νCO−NH)、1550(νC−H)。
λmax(nm):270(methanol)。
1519NOとしての計算値=C:73.4%,H:7.81%,N:5.71%、分析値=C:73.5%,H:8.00%,N:5.70%。
上記分析結果から、合成例1で得られた白色結晶は、下記化学式(I)で表される光塩基発生剤Iであることが確認された。
<合成例2>
o−ヒドロキシ−trans−桂皮酸3.6g、1,3−ジ−4−ピペリジルプロパン2.0g、縮合剤のEDC2.1gを、THF/ジクロロメタン混合溶媒中に溶解させ、室温で15時間、反応させた。反応終了後、クロロホルムで希釈し、有機層を希塩酸、水、飽和炭酸水素ナトリウム水溶液の順で洗浄し、無水硫酸マグネシウムで乾燥後、溶媒除去し、クロロホルムで再結晶することにより、白色結晶を得た。収率は11%であった。得られた白色結晶の融点(分解点)はDSC測定の結果、241℃で非常に高温であったことから、高温耐性に優れたものであると考えられた。得られた白色結晶の同定は、H−NMR、IRにより行った。
H−NMR(300MHz,DMSO−d)δ(ppm)=10.0(s,2H,OH)、7.4(d,2H,J=15Hz,C=CHCO)、7.2(d,2H,J=15Hz,CH=CCO)、7.7〜6.8(m,8H,Ar−H)、4.5(d,2H,Ar−H)、4.2(d,2H,Ar−H)、3.0(m,2H)、1.7〜1.0(m,18H,Ar−H)。
13C−NMR(75MHz,DMSO−d)δ(ppm)=27.86,30.40,39.34,40.40(CH)、116.97(CH)、120.69,121.76,123.16,129.73,131.79,137.44(ArH)、157.84(CH)、169.25(C=O)。
IR(KBr,cm−1):3400(νO−H)、2900,2850(νC−H)、1630(νCO−NH)、1560(νC−H)。
3138としての計算値=C:74.07%,H:7.62%,N:5.57%、分析値=C:74.13%,H:7.58%,N:5.30%。
上記分析結果から、合成例2で得られた白色結晶は、下記化学式(II)で表される光塩基発生剤IIであることが確認された。
<合成例3>
o−ヒドロキシ−trans−桂皮酸2.1g、ヘキサメチレンジアミン1.2g、縮合剤のEDC4.3gを、溶媒のDMF中に溶解させ、室温で24時間、反応させた。反応終了後、クロロホルムで希釈し、有機層を希塩酸、水、飽和炭酸水素ナトリウム水溶液の順で洗浄し、無水硫酸マグネシウムで乾燥後、溶媒除去し、クロロホルムで再結晶することにより、白色結晶を得た。収率は16%であり、得られた白色結晶の融点(分解点)はDSC測定の結果、220℃で非常に高温であったことから、高温耐性に優れたものであると考えられた。得られた白色結晶の同定は、H−NMR、13C−NMR、IR、元素分析により行った。
H−NMR(300MHz,DMSO−d)δ(ppm)=1.18〜1.45(m,8H,C )、3.16(d,4H,J=5.8Hz,NH−C )、6.68(d,1H,J=16Hz,C=CHCO)、6.78〜7.59(m,10H,ArH)、7.87(d,1H,J=16Hz,CH=CCO)、8.12(t,2H,J=5.8Hz,N)、10.12(s,2H,OH)。
13C−NMR(75MHz,DMSO−d)δ(ppm)=27.86,30.40,39.34,40.40(CH)、116.97(CH)、120.69,121.76,123.16,129.73,131.79,137.44(ArH)、157.84(CH)、169.25(C=O)。
IR(KBr,cm−1):3330(νN−H)、3080(νO−H)、2940(νC−H)、2880(νC−H)、1650(νC=O)、860(νC−N)。
2428としての計算値=C:70.58%,H:6.91%,N:6.86%、分析値=C:69.87%,H:6.75%,N:7.04%。
上記分析結果から、合成例3で得られた白色結晶は、下記化学式(III)で表される光塩基発生剤IIIであることが確認された。
<合成例4>
o−ヒドロキシ−trans−桂皮酸2.1g、1,3−ビス(3−アミノプロピル)テトラメチルジシロキサン1.7mL、縮合剤のEDC4.3gを、溶媒のDMF中に溶解させ、室温で24時間、反応させた。反応終了後、クロロホルムで希釈し、有機層を希塩酸、水、飽和炭酸水素ナトリウム水溶液の順で洗浄し、無水硫酸マグネシウムで乾燥後、溶媒除去し、クロロホルムで再結晶することにより、白色結晶を得た。収率は31%であり、得られた白色結晶の融点(分解点)はDSC測定の結果、226℃で非常に高温であったことから、高温耐性に優れたものであると考えられた。得られた白色結晶の同定は、H−NMR、29Si−NMR、IR、元素分析により行った。
H−NMR(300MHz,DMSO−d)δ(ppm)=0.0(s,12H,−C )、0.44〜0.47(t,4H,J=6.6Hz,Si−C −)、1.37〜1.44(dt,4H,J=6.6Hz,J=8.2Hz,CH−C −CH)、3.07〜3.32(q,1H,J=16Hz,CH=CCO)、8.04(t,2H,J=5.8Hz,−N−)、9.94(s,2H,O)。
29Si−NMR(99MHz,DMSO−d)δ(ppm)=−8.44。
IR(KBr,cm−1):3330(νN−H)、3080(νO−H)、2950(νC−H)、2870(νC−H)、1650(νC=O)、1400(νSi−CH3)、1100(νSi−O−Si)、880(νC−N)。
2428としての計算値=C:61.89%,H:7.64%,N:5.25%、分析値=C:62.19%,H:7.46%,N:5.18%。
上記分析結果から、合成例4で得られた白色結晶は、下記化学式(IV)で表される光塩基発生剤IVであることが確認された。
<試験例1>
合成例1で得られた光塩基発生剤について、溶液中における光分解挙動に関する検討を行った。具体的には、先ず、合成例1で得られた光塩基発生剤を、濃度が3.7×10−5mol/lとなるようにメタノール中に溶解させた溶液を調製した。次いで、調製した溶液に対して、254nmの光を照射した後、溶液のUVスペクトル測定を実施した。光の照射量を段階的に変化させたときのUVスペクトルの変化を図1に示した。
図1に示されるように、光の照射量が増大するにつれて、270nm付近の吸収と320nm付近の吸収が減少している一方で、210nm付近の吸収が増加していることが分かった。270nm付近の吸収と320nm付近の吸収は、いずれも合成例1で得られた光塩基発生剤由来の吸収であり、210nm付近の吸収は、光塩基発生剤の光環化反応により生じたクマリン由来の吸収である。このことから、光の照射により、合成例1で得られた光塩基発生剤の光環化反応が起こり、シクロヘキシルアミンが発生していることが確認された。
<試験例2>
合成例1で得られた光塩基発生剤について、固体中における光分解挙動に関する検討を行った。具体的には、ポリグリシジルメタクリレート(PGMA)に対して、合成例1で得られた光塩基発生剤を20質量%含むTHF溶液を調製し、Siウエハ上にキャストした。これを、100℃のホットプレートで1分、プリベークすることにより、厚さ0.8μmの膜を得た。得られた膜に対して、254nmの光を照射した後、膜のUVスペクトル測定を実施した。光の照射量を段階的に変化させたときのUVスペクトルの変化を図2に示した。
図2に示される通り、合成例1で得られた光塩基発生剤の固体中における光分解挙動は、溶液中における光分解挙動とほぼ同様の結果であった。この結果から、合成例1で得られた光塩基発生剤は、エポキシ樹脂等の塩基反応性樹脂を含む感光性樹脂組成物中において、光塩基発生剤として有効に機能することが確認された。
<試験例3>
合成例1、3、及び4で得られた各光塩基発生剤について、各種溶剤に対する溶解性を調べた。具体的には、光塩基発生剤0.01gに対して、1ml未満の溶剤で容易に溶解できるものを++、1〜5mlの溶剤で溶解できるものを+、5〜10mlの溶剤にわずかに溶解するものを−、10mlを超える溶剤量でも溶解できないものを−−として評価した。その結果を表1に示す。表1に示されるように、合成例1、3、及び4で得られた各光塩基発生剤のうち、合成例4で得られた光塩基発生剤IVが特に溶解性に優れており、様々なアプリケーションへの応用が可能であることが分かった。
<実施例1>
PGMAに対して、合成例1で得られた光塩基発生剤を20質量%含むTHF溶液を調製し、Siウエハ上に3000rpmで30秒、スピンキャストした。これを、100℃のホットプレートで1分、プリベークすることにより、厚さ0.8μm〜1.0μmの未硬化膜を得た。得られた未硬化膜の一部にマスクを配置し、マスク上から254nmの光を60J/cm照射した。照射後、マスクを除去し、140℃で所定時間、加熱処理を行った。加熱時間は、2.5分、5分、7.5分の3水準とした。このときの露光部分のIRスペクトル(800〜1100cm−1)を図3に示した。また、900cm−1付近におけるエポキシ基由来のピーク面積比と加熱時間との関係を図4に示した。
図3、4から明らかであるように、加熱処理により、露光部分のエポキシ基が減少していることが分かった。この結果から、合成例1で得られた光塩基発生剤は、エポキシ樹脂等の塩基反応性樹脂を含む感光性樹脂組成物中において、光塩基発生剤として有効に機能し、発生した塩基とエポキシ基との架橋反応が進行して、目的とする硬化膜が得られることが確認された。即ち、合成例1で得られた光塩基発生剤と、塩基反応性樹脂と、を含む感光性樹脂組成物は、ネガ型レジストとして有効に機能することが確認された。
<実施例2>
実施例1と同様の操作を行い、実施例1と同様の未硬化膜を得た。得られた未硬化膜の一部にマスクを配置し、マスク上から254nmの光を所定量、照射した。次いで、THFで30秒、現像処理して得られた膜の厚さを測定し、感度評価を行った。感度評価は、加熱温度依存性と加熱時間依存性の観点から行った。加熱温度依存性については、加熱時間を10分に固定し、加熱温度を100℃、120℃、140℃の3水準で行った。また、加熱時間依存性については、加熱温度を120℃に固定し、5分、10分、15分の3水準で行った。その結果を図5、6に示した。
感度評価は、残膜率(露光、現像後の膜厚/未硬化膜の膜厚を表し、本明細書では正規化膜厚と同義)が0.5以上となるのに必要な光の照射量を比較することにより行った。図5に示される通り、加熱時間を10分に固定して加熱温度を100℃としたときには、照射量が610mJ/cm必要であったのに対して、加熱温度が120℃のときに必要な照射量は270mJ/cm、140℃のときは220mJ/cmと大きく減少していた。この結果から、加熱時間を10分としたときには、加熱温度は120℃以上が好ましいことが分かった。
また、図6に示される通り、加熱温度を120℃に固定して加熱時間を5分としたときには、10000mJ/cmもの照射量が必要であったのに対して、加熱時間を10分としたときには上述の通りであり、15分としたときには80mJ/cmと大きく減少していた。この結果から、加熱温度を120℃としたときには、加熱時間は10分以上が好ましいことが分かった。
<実施例3>
合成例1で得られた光塩基発生剤の代わりに合成例2で得られた光塩基発生剤を用い、THF溶液の代わりに1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロ−2−プロパノール(以下、HFIPという)を用いた以外は、実施例2と同様の操作を行い、未硬化膜を得た。得られた未硬化膜に対して、実施例2と同様に、一部にマスクを介した露光、現像処理を行い、感度評価を行った。その結果を図7、8に示した。
図7に示される通り、加熱時間を10分に固定して加熱温度を120℃としたときには、わずか6.8mJ/cmの照射量で残膜率0.5が得られた。なお、加熱温度を100℃としたときには、照射量をいくら増加させても残膜率0.5以上は得られず、加熱温度を140℃としたときには、極微量の照射量でも残膜率0.5以上が得られることが分かった。この結果から、加熱時間を10分としたときには、加熱温度は120℃以上が好ましいことが分かった。
また、図8に示される通り、加熱温度を120℃に固定して加熱時間を5分としたときには、20mJ/cmの照射量で残膜率0.5が得られ、加熱時間を10分としたときには上述の通りであった。なお、加熱時間を15分としたときには、極微量の照射量でも残膜率0.5以上が得られることが分かった。この結果から、加熱温度を120℃としたときには、加熱時間は5分以上が好ましいことが分かった。
実施例3の結果から、合成例2で得られた光塩基発生剤についても、合成例1で得られた光塩基発生剤と同様に、光塩基発生剤として有効に機能することが確認された。また、実施例2と実施例3との結果を比較すると、合成例1で得られた光塩基発生剤に比して、合成例2で得られた光塩基発生剤は格段に感度が高いことも分かった。
<実施例4>
PGMA(Mw=28000、Mw/Mn=3.4)モノマーユニットに対して、合成例1〜4で得られた各光塩基発生剤I〜IVを各6.3mol%配合したHFIP溶液をそれぞれ調製し、Siウエハ上に3000rpmで30秒、スピンキャストした。これらを、100℃のホットプレートで1分、プリベークすることにより、厚さ0.7μmの未硬化膜を得た。得られた未硬化膜の一部にマスクを配置し、マスク上から254nm又は365nmの光を照射した。次いで、マスクを除去し、100℃で15分間、加熱処理を行った後、THFによる30秒間の現像処理を実施した。
また、上記で調製した溶液を利用して、石英ガラス板上に未硬化膜を作製した。作製した未硬化膜について、紫外可視分光光度計(島津製作所製「MultiSpec−1500」)を用いて254nm光及び365nm光の透過率測定を実施した。
露光波長254nm及び365nmそれぞれにおける露光エネルギーと、露光部分の残膜率との関係を図9及び図10に示した。また、残膜率が0.3となる露光量を感度と定義し、各光塩基発生剤の感度評価結果を表2に示した。
透過率測定の結果、254nm光の透過率は30%であり、365nm光の透過率は80%であった。図9、図10、及び表2に示されるように、1官能の光塩基発生剤Iに比して、2官能の光塩基発生剤II、III、及びIVの方が高感度であることが分かった。また、2官能の光塩基発生剤II、III、及びIVでは、露光波長365nmにおいて、露光エネルギーを大きくするとより高い残膜率が得られることが分かった。
ここで、光塩基発生剤IVを配合した未硬化膜に、365nmの光を1000mJ/cm照射したとき、及び照射後に100℃で15分間加熱したときのIRスペクトルを図11に示した。図11において見られる、900cm−1付近におけるエポキシ基由来のピーク面積比と加熱時間との関係を、加熱前を1として図12に示した。
図11及び図12に示されるように、加熱を進めていくことにより、エポキシ基由来のピーク面積が減少していくことが分かり、下記化学反応式(3)に示される化学反応が進行していると考えられた。
<実施例5>
PGMA(Mw=28000、Mw/Mn=3.4)モノマーユニットに対して、合成例4で得られた光塩基発生剤IVを6.3mol%、塩基増殖剤(BA)の1,3−ビス[1−(9−フルオレニルメトキシカルボニル)−4−ピペリジル]プロパンを所定量配合したHFIP溶液を調製し、Siウエハ上に3000rpmで30秒、スピンキャストした。これを、100℃のホットプレートで1分、プリベークすることにより、厚さ0.6μmの未硬化膜を得た。得られた未硬化膜の一部にマスクを配置し、マスク上から365nmの光を照射した。次いで、マスクを除去し、100℃で所定時間、加熱処理を行った後、THFによる30秒間の現像処理を実施した。
塩基増殖剤の配合量を0質量%、10質量%、20質量%と変化させたときの露光エネルギーと残膜率との関係を図13に示した。また、塩基増殖剤の配合量を20質量%とし、加熱時間を10分、15分、20分と変化させたときの露光エネルギーと残膜率との関係を図14に示した。ここで、塩基増殖反応を組み込んだ本実施例では、下記化学反応式(4)に示される化学反応が進行していると考えられた。また、図13より、塩基増殖剤を20質量%配合することにより高い残膜率が得られ、また、図14より、加熱時間を10分、15分、20分を長くするにつれて高い残膜率が得られることが分かった。これらの結果から、塩基増殖剤を配合することにより、さらなる高感度化が可能であると考えられた。
<実施例6>
ポリメタクリロキシプロピルトリメトキシシラン(以下、PMASという)0.1gと、PMASに対して30質量%の光塩基発生剤IV(2.5×10−4mol)、又は従来型の光塩基発生剤であるオルトニトロベンジルエステル(2.5×10−4mol)をTHF1.5gに溶解させた。この溶液をそれぞれガラス基板上に2滴滴下し、60℃のホットプレートで1分間プリベークし、ガラス基板で蓋をし、隙間をテフロン(登録商標)シートで塞いで膜を作製した。それぞれの膜に、Hg−Xeランプを用いて400秒間、光照射し、気泡発生の有無を調べた。光照射後の外観を図15(従来型)及び図16(光塩基発生材IV)に示した。
下記化学反応式(5)に示すように、従来型では化学反応の進行により炭酸ガスが発生するのに対して、光塩基発生剤IVを配合したものでは、下記化学反応式(6)に示されるように、化学反応が進行しても炭酸ガスが生ずることがない。このため、図15及び図16に示されるように、従来型では光照射により気泡が多数発生していたのが確認されたのに対して、光塩基発生剤IVを配合したものでは気泡の発生がほとんど見られなかった。この結果から、光塩基発生剤IVを配合した系であれば、膜強度のより高い硬化膜が得られることが分かった。
光塩基発生剤Iの溶液中における光分解挙動を説明するための図である。 光塩基発生剤Iの固体中における光分解挙動を説明するための図である。 光塩基発生剤I/PGMA膜のエポキシ基由来のIRピーク変化を示す図である。 図3のエポキシ基由来のピーク面積比と加熱時間との関係を示す図である。 光塩基発生剤I/PGMA膜の加熱温度依存性を説明するための図である。 光塩基発生剤I/PGMA膜の加熱時間依存性を説明するための図である。 光塩基発生剤II/PGMA膜の加熱温度依存性を説明するための図である。 光塩基発生剤II/PGMA膜の加熱時間依存性を説明するための図である。 254nmにおける露光エネルギーと残膜率との関係を示す図である。 365nmにおける露光エネルギーと残膜率との関係を示す図である。 光塩基発生剤IV/PGMA膜におけるIRスペクトル変化図である。 図11のエポキシ基由来のピーク面積比と加熱時間との関係を示す図である。 塩基増殖剤の添加効果を説明するための図である。 塩基増殖剤の加熱時間依存性を説明するための図である。 従来型の光塩基発生剤を配合した系の外観(a)、光塩基発生剤IVを配合した系の外観(b)を示す図である。

Claims (6)

  1. 塩基反応性樹脂と、下記一般式(1)で表される光塩基発生剤と、を含むことを特徴とする感光性樹脂組成物。
    [一般式(1)中、Zはアミノ基を表す。]
  2. 前記一般式(1)において、Zが下記一般式(z1)で表される基であることを特徴とする請求項1記載の感光性樹脂組成物。
    [一般式(z1)中、R及びRは、同一でも異なっていてもよく、水素、若しくは置換基を有していてもよい炭素数が1〜18の有機基を表すか、又はR 及びR が互いに連結して、構成原子数が3〜12の含窒素環を形成するものを表す。有機基は、アルキル基、シクロアルキル基、アリール基、及びアリールアルキル基よりなる群から選ばれる。]
  3. 前記一般式(1)において、Zが下記一般式(z2)で表される基であることを特徴とする請求項1記載の感光性樹脂組成物。
    [一般式(z2)中、n及びmはそれぞれ独立した1〜6の整数であり、Rは水素、炭化水素基、炭化水素オキシ基、又はアシル基を表す。]
  4. 前記一般式(1)で表される光塩基発生剤が、下記化学式(II)、下記化学式(III)、又は下記化学式(IV)で表されるものであることを特徴とする請求項1記載の感光性樹脂組成物。
  5. 前記塩基反応性樹脂が、エポキシ樹脂、含ケイ素樹脂、及びポリアミド酸樹脂よりなる群から選ばれる少なくとも一種であることを特徴とする請求項1からいずれか記載の感光性樹脂組成物。
  6. 請求項1からいずれか記載の感光性樹脂組成物を支持体上に塗布し、乾燥させてから所定のパターン露光をした後、加熱処理して現像することにより、所定形状の硬化樹脂パターンを得ることを特徴とするパターン形成方法。
JP2008112835A 2007-09-03 2008-04-23 感光性樹脂組成物 Active JP5071803B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008112835A JP5071803B2 (ja) 2007-09-03 2008-04-23 感光性樹脂組成物

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007228154 2007-09-03
JP2007228154 2007-09-03
JP2008112835A JP5071803B2 (ja) 2007-09-03 2008-04-23 感光性樹脂組成物

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2009080452A JP2009080452A (ja) 2009-04-16
JP2009080452A5 JP2009080452A5 (ja) 2011-05-19
JP5071803B2 true JP5071803B2 (ja) 2012-11-14

Family

ID=40655213

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008112835A Active JP5071803B2 (ja) 2007-09-03 2008-04-23 感光性樹脂組成物

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5071803B2 (ja)

Families Citing this family (28)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5747431B2 (ja) * 2008-03-31 2015-07-15 大日本印刷株式会社 感光性樹脂組成物、当該感光性樹脂組成物からなるパターン形成用材料、パターン形成方法、及び当該感光性樹脂組成物を用いた物品、並びに塩基発生剤
KR101552371B1 (ko) 2008-03-31 2015-09-10 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 염기 발생제, 감광성 수지 조성물, 당해 감광성 수지 조성물을 포함하는 패턴 형성용 재료, 당해 감광성 수지 조성물을 사용한 패턴 형성 방법 및 물품
JP5515560B2 (ja) * 2008-09-30 2014-06-11 大日本印刷株式会社 感光性樹脂組成物、当該感光性樹脂組成物からなるパターン形成用材料、パターン形成方法、及び当該感光性樹脂組成物を用いた物品、並びに光潜在性樹脂硬化促進剤
JP5598031B2 (ja) * 2009-03-11 2014-10-01 大日本印刷株式会社 塩基発生剤、感光性樹脂組成物、当該感光性樹脂組成物からなるパターン形成用材料、当該感光性樹脂組成物を用いたパターン形成方法並びに物品
US8697332B2 (en) 2009-03-31 2014-04-15 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Base generator, photosensitive resin composition, pattern forming material comprising the photosensitive resin composition, pattern forming method using the photosensitive resin composition and products comprising the same
JP5505036B2 (ja) * 2009-03-31 2014-05-28 大日本印刷株式会社 塩基発生剤、樹脂組成物、当該樹脂組成物からなるパターン形成用材料、当該樹脂組成物を用いたパターン形成方法並びに物品
JP5644274B2 (ja) * 2009-08-31 2014-12-24 大日本印刷株式会社 塩基発生剤、感光性樹脂組成物、当該感光性樹脂組成物からなるパターン形成用材料、当該感光性樹脂組成物を用いたパターン形成方法並びに物品
JP5768348B2 (ja) * 2009-09-17 2015-08-26 大日本印刷株式会社 熱塩基発生剤、高分子前駆体組成物、当該組成物を用いた物品
JP5712926B2 (ja) * 2009-09-30 2015-05-07 大日本印刷株式会社 塩基発生剤、感光性樹脂組成物、当該感光性樹脂組成物からなるパターン形成用材料、当該感光性樹脂組成物を用いたパターン形成方法並びに物品
JP5581775B2 (ja) * 2010-03-31 2014-09-03 大日本印刷株式会社 塩基発生剤、感光性樹脂組成物、当該感光性樹脂組成物からなるパターン形成用材料、当該感光性樹脂組成物を用いたレリーフパターンの製造方法並びに物品
WO2011126076A1 (ja) * 2010-04-09 2011-10-13 大日本印刷株式会社 薄膜トランジスタ基板
JP5681942B2 (ja) * 2010-04-15 2015-03-11 学校法人東京理科大学 水系エポキシ樹脂硬化用微粒子及び水系エポキシ樹脂硬化用微粒子の製造方法
JP5924885B2 (ja) * 2010-08-24 2016-05-25 Hoya株式会社 レジスト付き基体の製造方法、レジストパターン付き基体の製造方法、パターン付き基体の製造方法及びレジスト処理方法
JP5750855B2 (ja) * 2010-09-30 2015-07-22 大日本印刷株式会社 硬化性樹脂組成物及びその硬化物
JP6151475B2 (ja) * 2010-09-30 2017-06-21 大日本印刷株式会社 感光性樹脂組成物、パターン形成用材料及びパターン形成方法
JP5617564B2 (ja) * 2010-11-26 2014-11-05 和光純薬工業株式会社 感光性樹脂組成物
JP5898985B2 (ja) * 2011-05-11 2016-04-06 東京応化工業株式会社 レジストパターン形成方法
EP2725423B1 (en) * 2011-06-24 2021-09-01 Tokyo Ohka Kogyo Co., Ltd. Negative-type photosensitive resin composition, pattern forming method, cured film, insulating film, and color filter
KR101936435B1 (ko) 2011-09-22 2019-01-08 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 레지스트 조성물, 레지스트 패턴 형성 방법
KR101913865B1 (ko) 2011-09-22 2018-10-31 도오꾜오까고오교 가부시끼가이샤 레지스트 조성물 및 레지스트 패턴 형성 방법
JP5974446B2 (ja) * 2011-10-14 2016-08-23 大日本印刷株式会社 感光性樹脂組成物及び粘接着シート
JP2013087154A (ja) * 2011-10-14 2013-05-13 Dainippon Printing Co Ltd 塩基発生剤、及び感光性樹脂組成物
JP5965129B2 (ja) * 2011-11-01 2016-08-03 旭化成株式会社 光塩基発生剤及びこれを含有する感光性樹脂組成物
TWI634135B (zh) 2015-12-25 2018-09-01 日商富士軟片股份有限公司 樹脂、組成物、硬化膜、硬化膜的製造方法及半導體元件
JP6808829B2 (ja) 2017-05-31 2021-01-06 富士フイルム株式会社 感光性樹脂組成物、ポリマー前駆体、硬化膜、積層体、硬化膜の製造方法および半導体デバイス
WO2020170997A1 (ja) * 2019-02-22 2020-08-27 富士フイルム株式会社 硬化性樹脂組成物、硬化膜、積層体、硬化膜の製造方法、半導体デバイス、及び、熱塩基発生剤
US11873354B2 (en) * 2019-09-10 2024-01-16 Tokyo University Of Science Foundation Photobase generator, compound, photoreactive composition, and reaction product
TW202128839A (zh) 2019-11-21 2021-08-01 日商富士軟片股份有限公司 圖案形成方法、光硬化性樹脂組成物、積層體的製造方法及電子元件的製造方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004250650A (ja) * 2003-02-19 2004-09-09 Kunihiro Ichimura 塩基増殖性シロキサン樹脂及び感光性樹脂組成物
JP5747431B2 (ja) * 2008-03-31 2015-07-15 大日本印刷株式会社 感光性樹脂組成物、当該感光性樹脂組成物からなるパターン形成用材料、パターン形成方法、及び当該感光性樹脂組成物を用いた物品、並びに塩基発生剤

Also Published As

Publication number Publication date
JP2009080452A (ja) 2009-04-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5071803B2 (ja) 感光性樹脂組成物
JP2009080452A5 (ja)
JP5516574B2 (ja) 塩基発生剤、感光性樹脂組成物、当該感光性樹脂組成物からなるパターン形成用材料、当該感光性樹脂組成物を用いたパターン形成方法並びに物品
US8778596B2 (en) Photosensitive resin composition, pattern forming material comprising the photosensitive resin composition, and pattern forming method and article using the photosensitive resin composition
JP5386789B2 (ja) 光塩基発生剤、感光性樹脂組成物、及びネガ型パターン形成方法
JP4853594B2 (ja) 感光性樹脂組成物、当該感光性樹脂組成物からなるパターン形成用材料、パターン形成方法、及び当該感光性樹脂組成物を用いた物品、並びに塩基発生剤
JP5505036B2 (ja) 塩基発生剤、樹脂組成物、当該樹脂組成物からなるパターン形成用材料、当該樹脂組成物を用いたパターン形成方法並びに物品
JP5644274B2 (ja) 塩基発生剤、感光性樹脂組成物、当該感光性樹脂組成物からなるパターン形成用材料、当該感光性樹脂組成物を用いたパターン形成方法並びに物品
JP5446793B2 (ja) 感光性樹脂組成物、およびこれを用いた物品、及びネガ型パターン形成方法
JP7232241B2 (ja) 新規化合物、該化合物を含んでなる光重合開始剤及び該光重合開始剤を含有する感光性樹脂組成物
JP5224016B2 (ja) 感活性エネルギー線塩基発生剤、感活性エネルギー線塩基発生剤組成物、塩基反応性組成物及びパターン形成方法
JP5515560B2 (ja) 感光性樹脂組成物、当該感光性樹脂組成物からなるパターン形成用材料、パターン形成方法、及び当該感光性樹脂組成物を用いた物品、並びに光潜在性樹脂硬化促進剤
JP2011089119A (ja) 塩基発生剤、感光性樹脂組成物、当該感光性樹脂組成物からなるパターン形成用材料、当該感光性樹脂組成物を用いたパターン形成方法並びに物品
TW201629630A (zh) 感光性樹脂組成物、其乾膜及硬化物、含有硬化物之電子零件或光學製品、以及含有感光性樹脂組成物之接著劑
JP5581775B2 (ja) 塩基発生剤、感光性樹脂組成物、当該感光性樹脂組成物からなるパターン形成用材料、当該感光性樹脂組成物を用いたレリーフパターンの製造方法並びに物品
JP2012092328A (ja) 塩基発生剤、感光性樹脂組成物、当該感光性樹脂組成物からなるパターン形成用材料、当該感光性樹脂組成物を用いたレリーフパターンの製造方法並びに物品
JP2012093744A (ja) 感光性樹脂組成物、当該感光性樹脂組成物からなるパターン形成用材料、当該感光性樹脂組成物を用いたレリーフパターンの製造方法並びに物品
JP5598031B2 (ja) 塩基発生剤、感光性樹脂組成物、当該感光性樹脂組成物からなるパターン形成用材料、当該感光性樹脂組成物を用いたパターン形成方法並びに物品
TW201920359A (zh) 感光性樹脂組成物、乾膜、硬化物、半導體元件、印刷配線板以及電子零件
JP6138943B2 (ja) 感光性樹脂組成物、そのレリーフパターン膜、レリーフパターン膜の製造方法、レリーフパターン膜を含む電子部品又は光学製品、及び感光性樹脂組成物を含む接着剤
JP2012241064A (ja) 塩基発生剤、感光性樹脂組成物、当該感光性樹脂組成物からなるパターン形成用材料、当該感光性樹脂組成物を用いたレリーフパターンの製造方法並びに物品
JP5994235B2 (ja) 光塩基発生剤、感光性ポリイミド樹脂組成物、レリーフパターンの製造方法並びに物品
TW201938532A (zh) 新穎化合物、含有該化合物的光聚合起始劑及含有該光聚合起始劑的感光性樹脂組成物
JP2012211276A (ja) 塩基発生剤、感光性樹脂組成物、当該感光性樹脂組成物からなるパターン形成用材料、当該感光性樹脂組成物を用いたレリーフパターンの製造方法並びに物品
WO2017141734A1 (ja) 感光性樹脂組成物、ドライフィルム、硬化物、プリント配線板および光塩基発生剤

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110404

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20110404

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20120719

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120724

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120809

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5071803

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150831

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250