JP5071522B2 - トランスインピーダンス増幅器、集積回路、及び、システム - Google Patents

トランスインピーダンス増幅器、集積回路、及び、システム Download PDF

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Description

本発明は、トランスインピーダンス増幅器、集積回路、及び、システムに関するものである。
トランスインピーダンス増幅器は、入力電流を出力電圧に変換するものである。トランスインピーダンス増幅器を用いた電流電圧変換装置としては、特許文献1に記載されたものが知られている。特許文献1に記載の電流電圧変換装置は、複数の周波数の信号に対応したものであり、オペアンプと帰還抵抗とをそれぞれ有する複数のトランスインピーダンス増幅器を備えている。複数のトランスインピーダンス増幅器それぞれの帰還抵抗の抵抗値は、対応の周波数帯域用に最適化されている。
特開平11−88067号公報
上述した電流電圧変換装置では、複数の帰還抵抗の一端が入力ノードに接続されている。したがって、入力ノードの寄生容量が高くなり得る。即ち、複数の帰還抵抗が有する寄生容量、及び、複数の帰還抵抗を接続するための入力ノードの配線長が、寄生容量を増加させ得る。
本発明は、入力ノードの寄生容量を低減可能なトランスインピーダンス増幅器、集積回路、及び、システムを提供することを目的としている。本発明は、寄生容量の影響を受けやすい10Gbps以上の伝送帯域で用いられることが好ましく、10.3Gbpsと1.25Gbpsのように伝送帯域を切り替えて使用するマルチレートPONシステムに用いられることが好適である。
本発明の一側面は、集積回路に関するものである。一実施形態の集積回路は、第1のトランスインピーダンス増幅器、第2のトランスインピーダンス増幅器を備えている。第1のトランスインピーダンス増幅器は、入力トランジスタ、第1のトランジスタ、第1の抵抗、及び、スイッチを含んでいる。入力トランジスタは入力ノードに接続されている。第1のトランジスタは、入力トランジスタにカスコード結合されている。第1の抵抗は、一端及び他端を有している。第1の抵抗の一端は、入力ノードに接続されており、第1の抵抗の他端は、第1のトランスインピーダンス増幅器の帰還ノードに接続されている。一実施形態においては、この帰還ノードは、第1のトランスインピーダンス増幅器の出力ノードである。スイッチは、第1のトランスインピーダンス増幅器を動作状態と非動作状態との間で切り替える。
第2のトランスインピーダンス増幅器は、入力トランジスタ、第2のトランジスタ、第1の抵抗、第2の抵抗、及び、スイッチを備えている。第2のトランスインピーダンス増幅器は、入力トランジスタ、及び、第1の抵抗を、第1のトランスインピーダンス増幅器と共有している。第2のトランジスタは、入力トランジスタにカスコード結合されている。第2の抵抗は一端及び他端を有している。スイッチは、第2のトランスインピーダンス増幅器を動作状態と非動作状態との間で切り替える。第2の抵抗の一端は、第1の抵抗の他端に接続されており、第2の抵抗の他端が、第2のトランスインピーダンス増幅器の帰還ノードに接続されている。
本集積回路では、第1の抵抗と第2の抵抗とが直列接続されることによって、第2のトランスインピーダンス増幅器の帰還抵抗が構成されている。したがって、入力ノードには、第1の抵抗の一端のみが接続されている。故に、本集積回路によれば、帰還抵抗の接続数の増加による寄生容量の増加が防止される。また、入力ノードを含む配線の長さを短くできるので、入力ノードにおける寄生容量及び寄生インダクタンスの増加が防止される。その結果、トランスインピーダンス増幅器の性能が改善される。また、入力ノードの寄生容量が小さいので、トランスインピーダンス増幅器の帯域を広げることができる。さらに、トランスインピーダンス増幅器の帯域が広くなるので、帰還抵抗値を上げて利得の向上及びノイズの低減を図ることも可能である。さらに、寄生インダクタンスを低減することで、トランスインピーダンス増幅器の周波数特性における不要なピーキングを防止することができる。さらに、第2のトランスインピーダンス増幅器の帰還抵抗の抵抗値は、第1の抵抗の抵抗値と第2の抵抗の抵抗値との和であるので、第2の抵抗の抵抗値を小さくすることができる。その結果、第2の抵抗のサイズを小さくし、当該第2の抵抗の実装面積を小さくすることができる。
一実施形態においては、集積回路は、制御ロジックを備え得る。制御ロジックは、第1のトランスインピーダンス増幅器のスイッチと第2のトランスインピーダンス増幅器のスイッチとに制御信号を与える。この制御信号は、第1のトランスインピーダンス増幅器及び第2のトランスインピーダンス増幅器の一方が動作状態のときに、第1のトランスインピーダンス増幅器及び第2のトランスインピーダンス増幅器の他方を非動作状態とする。
一実施形態においては、集積回路は、第1の方向に順に設けられた第1の領域、第2の領域、及び第3の領域、並びに、第1の方向に交差する第2の方向において前記第1〜第3の領域に隣接する第4の領域を含み得る。この集積回路では、第1の領域には、入力ノードを含む配線が設けられており、第2の領域には、入力トランジスタ、第1のトランジスタ、第1のトランスインピーダンス増幅器のスイッチ、第2のトランジスタ、第2のトランスインピーダンス増幅器のスイッチが設けられており、第1の抵抗が、第1の領域又は第4の領域に設けられており、第2の抵抗が、第3の領域又は第4の領域に設けられており、第1の抵抗の他端と第2の抵抗の一端とを接続する配線を、第4の領域に設けてもよい。なお、第2の抵抗が第3の領域に設けられている場合には、第1の抵抗の他端と第2の抵抗の一端とを接続する配線は、第4の領域に加えて第3の領域を通り得る。かかる構成によれば、第2の抵抗、及び、第1の抵抗と第2の抵抗とを接続する配線を、第1の領域以外に設けることができる。したがって、第1の領域の第1の方向における幅を小さくすることができ、その結果、入力ノードの寄生容量を小さくすることができる。
また、本発明の別の一側面は、上述した第1のトランスインピーダンス増幅器と第2のトランスインピーダンス増幅器とを含むトランスインピーダンス増幅器である。また、本発明の更に別の一側面は、上述した何れかの実施形態の集積回路と電流ソースを含むシステムである。
以上説明したように、本発明によれば、入力ノードの寄生容量を低減可能なトランスインピーダンス増幅器、集積回路、及び、システムが提供される。
一実施形態に係るトランスインピーダンス増幅器の回路図である。 一実施形態に係るトランスインピーダンス増幅器のレイアウトを示す図である。 別の一実施形態に係るトランスインピーダンス増幅器を示す回路図である。 別の一実施形態に係るトランスインピーダンス増幅器の回路図である。 一実施形態に係るトランスインピーダンス増幅器のレイアウトを示す図である。 別の一実施形態に係るトランスインピーダンス増幅器を示す回路図である 一実施形態に係る光検出システムを示す図である。
以下、図面を参照して本発明の好適な実施形態について詳細に説明する。
図1は、一実施形態に係るトランスインピーダンス増幅器の回路図である。図1に示すトランスインピーダンス増幅器は、集積回路10として構成されている。この集積回路10は、第1のトランスインピーダンス増幅器12、及び、第2のトランスインピーダンス増幅器14を備えている。一例においては、第1のトランスインピーダンス増幅器12は、10Gb/sec(ギガビット/秒)の信号に対応しており、第2のトランスインピーダンス増幅器14は、1Gb/secの信号に対応している。また、集積回路10は、制御ロジック16を更に備え得る。
第1のトランスインピーダンス増幅器12は、入力トランジスタQ0、第1のトランジスタQ1_1、及び、第1の抵抗RF1を含んでいる。入力トランジスタQ0及び第1のトランジスタQ1_1は、例えば、npnバイポーラ接合トランジスタである。
また、第1のトランスインピーダンス増幅器12は、抵抗R1、キャパシタC1、トランジスタSW1_1、トランジスタSW2_1、トランジスタQ2_1、及び、トランジスタQ3_1を更に含み得る。トランジスタSW1_1及びトランジスタSW2_1は、例えば、MOSスイッチであり、トランジスタQ2_1及びトランジスタQ3_1は、例えば、npnバイポーラ接合トランジスタである。
第1のトランスインピーダンス増幅器12では、入力トランジスタQ0、第1のトランジスタQ1_1、及び、抵抗R1が、第1のカスコード増幅器を構成している。入力トランジスタQ0のベースは、入力端子INに結合されている。入力トランジスタQ0のエミッタは、グランドに結合されている。また、入力トランジスタQ0のコレクタは、第1のトランジスタQ1_1のエミッタに結合されている。第1のトランジスタQ1_1のコレクタは、抵抗R1の一端に接続されている。
抵抗R1の他端は、トランジスタSW1_1に結合されている。具体的には、抵抗R1の他端は、トランジスタSW1_1のドレインに結合される。このトランジスタSW1_1のソースは、電源(例えば、Vdd≦3.3V)、及び、トランジスタQ2_1のコレクタに結合されている。
また、トランジスタQ1_1のコレクタは、トランジスタSW2_1及びトランジスタQ2_1にも結合されている。具体的には、トランジスタQ1_1のコレクタは、トランジスタSW2_1のドレインに結合され、トランジスタQ2_1のベースに結合される。トランジスタSW2_1のソースは、グランドに結合されている。
トランジスタQ2_1のエミッタは、トランジスタQ3_1のコレクタに結合されており、トランジスタQ3_1のエミッタは、グランドに結合されている。一実施形態においては、トランジスタQ3_1のエミッタは、抵抗を介してグランドに結合し得る。
第1のトランスインピーダンス増幅器12においては、トランジスタQ2_1のエミッタとトランジスタQ3_1のコレクタの間のノードに接続されたノードN1が、帰還ノードを構成している。また、ノードN1は、出力端子OUT1にも接続されており、出力ノードでもある。
また、第1のトランスインピーダンス増幅器12では、第1の抵抗RF1の一端が、入力トランジスタQ0のベース及び入力端子INの間に存在する入力ノードN0に接続されている。また、第1の抵抗RF1の他端は、ノードN1に接続されている。したがって、第1の抵抗RF1は、第1のトランスインピーダンス増幅器12の帰還抵抗である。第1のトランスインピーダンス増幅器12では、キャパシタC1が、この第1の抵抗RF1と並列に設けられている。
次に、第2のトランスインピーダンス増幅器14について説明する。第2のトランスインピーダンス増幅器14は、入力トランジスタQ0、第2のトランジスタQ1_2、及び、第2の抵抗RF2を含んでいる。第2のトランジスタQ1_2は、例えば、npnバイポーラ接合トランジスタである。
第2のトランスインピーダンス増幅器14は、抵抗R2、キャパシタC2、トランジスタSW1_2、トランジスタSW2_2、トランジスタQ2_2、及び、トランジスタQ3_2を更に含み得る。トランジスタSW1_2及びトランジスタSW2_2は、例えば、MOSスイッチであり、トランジスタQ2_2及びトランジスタQ3_2は、例えば、npnバイポーラ接合トランジスタである。
第2のトランスインピーダンス増幅器14では、入力トランジスタQ0、第2のトランジスタQ1_2、及び、抵抗R2が、第2のカスコード増幅器を構成している。第2のトランジスタQ1_2のエミッタは、入力トランジスタQ0のコレクタに結合されている。第2のトランジスタQ1_2のコレクタは、抵抗R2の一端に接続されている。
抵抗R2の他端は、トランジスタSW1_2に結合されている。具体的には、抵抗R2の他端は、トランジスタSW1_2のドレインに結合される。このトランジスタSW1_2のソースは、電源(例えば、Vdd≦3.3V)、及び、トランジスタQ2_2のコレクタに結合されている。
また、トランジスタQ1_2のコレクタは、トランジスタSW2_2及びトランジスタQ2_2にも結合されている。具体的には、トランジスタQ1_2のコレクタは、トランジスタSW2_2のドレインに結合され、トランジスタQ2_2のベースに結合される。トランジスタSW2_2のソースは、グランドに結合されている。
トランジスタQ2_2のエミッタは、トランジスタQ3_2のコレクタに結合されており、トランジスタQ3_2のエミッタは、グランドに結合されている。一実施形態においては、トランジスタQ3_2のエミッタは、抵抗を介してグランドに結合し得る。
第2のトランスインピーダンス増幅器14においては、トランジスタQ2_2のエミッタとトランジスタQ3_2のコレクタの間のノードに接続されたノードN2が、帰還ノードを構成している。また、ノードN2は、出力端子OUT2にも接続されており、出力ノードでもある。
第2の抵抗RF2の一端は、第1の抵抗RF1の他端、即ち、帰還ノードN1に接続されている。また、第2の抵抗RF2の他端は、ノードN2に接続されている。また、キャパシタC2が、この第2の抵抗RF2と並列に設けられている。第2のトランスインピーダンス増幅器14では、第1の抵抗R1と第2の抵抗R2の直列接続により、当該第2のトランスインピーダンス増幅器14の帰還抵抗が構成されている。
かかる第1のトランスインピーダンス増幅器12及び第2のトランスインピーダンス増幅器14には、制御ロジック16から制御信号が与えられる。具体的に、制御ロジック16は、第1のトランスインピーダンス増幅器12のトランジスタQ1_1、SW1_1、SW2_1、Q3_1に制御信号を与え、第2のトランスインピーダンス増幅器14のトランジスタQ1_2、SW1_2、SW2_2、Q3_2に制御信号を与える。これにより、制御ロジック16は、第1のトランスインピーダンス増幅器12及び第2のトランスインピーダンス増幅器14の一方を動作状態とし、他方を非動作状態とする。
第1のトランスインピーダンス増幅器12を動作状態とする場合には、トランジスタQ1_1、トランジスタQ3_1、及び、トランジスタSW1_1を動作状態とし、トランジスタSW2_1を非動作状態とする信号が、制御ロジック16から与えられる。
トランジスタQ1_1及びトランジスタQ3_1を動作状態とするために、制御ロジック16は、トランジスタQ1_1のベース及びトランジスタQ3_1のベースに高電圧(例えば、1.2V)を与える。トランジスタSW1_1を動作状態とするために、制御ロジック16は、トランジスタSW1_1を「ON」とするための信号を、トランジスタSW1_1のゲートに与える。トランジスタSW1_1がPMOSスイッチである場合には、トランジスタSW1_1を「ON」とするための信号は、0Vといった低電圧である。また、トランジスタSW2_1を非動作状態とするために、制御ロジック16は、トランジスタSW2_1を「OFF」とするための信号を、トランジスタSW2_1のゲートに与える。トランジスタSW2_1がNMOSスイッチである場合には、トランジスタSW2_1を「OFF」とするための信号は、0Vといった低電圧である。
第1のトランスインピーダンス増幅器12が動作状態になると、当該第1のトランスインピーダンス増幅器12は、ノードN0に受けた入力電流信号を第1の速度で出力端子OUT1における出力電圧信号へと変換する。動作状態においては、抵抗R1とトランジスタQ1_1の間のノードB1とノードN1には電圧が形成される。このノードN1における電圧が、出力電圧信号となる。
一方、第1のトランスインピーダンス増幅器12を非動作状態とする場合には、トランジスタQ1_1、トランジスタQ3_1、及び、トランジスタSW1_1を非動作状態とし、トランジスタSW2_1を動作状態とする信号が、制御ロジック16から与えられる。
トランジスタQ1_1及びトランジスタQ3_1を非動作状態とするために、制御ロジック16は、トランジスタQ1_1のベース及びトランジスタQ3_1のベースに低電圧(例えば、0V)を与える。トランジスタSW1_1を非動作状態とするために、制御ロジック16は、トランジスタSW1_1を「OFF」とするための信号を、トランジスタSW1_1のゲートに与える。トランジスタSW1_1がPMOSスイッチである場合には、トランジスタSW1_1を「OFF」とするための信号は、Vddといった高電圧である。また、トランジスタSW2_1を動作状態とするために、制御ロジック16は、トランジスタSW2_1を「ON」とするための信号を、トランジスタSW2_1のゲートに与える。トランジスタSW2_1がNMOSスイッチである場合には、トランジスタSW2_1を「ON」とするための信号は、Vddといった高電圧である。
第1のトランスインピーダンス増幅器12が非動作状態になると、ノードB1がグランドに結合され、ノードN1では高インピーダンスが得られる。
第2のトランスインピーダンス増幅器14を動作状態とする場合には、トランジスタQ1_2、トランジスタQ3_2、及び、トランジスタSW1_2を動作状態とし、トランジスタSW2_2を非動作状態とする信号が制御ロジック16から与えられる。
トランジスタQ1_2及びトランジスタQ3_2を動作状態とするために、制御ロジック16は、トランジスタQ1_2のベース及びトランジスタQ3_2のベースに高電圧(例えば、1.2V)を与える。トランジスタSW1_2を動作状態とするために、制御ロジック16は、トランジスタSW1_2を「ON」とするための信号を、トランジスタSW1_2のゲートに与える。トランジスタSW1_2がPMOSスイッチである場合には、トランジスタSW1_2を「ON」とするための信号は、0Vといった低電圧である。また、トランジスタSW2_2を非動作状態とするために、制御ロジック16は、トランジスタSW2_2を「OFF」とするための信号を、トランジスタSW2_2のゲートに与える。トランジスタSW2_2がNMOSスイッチである場合には、トランジスタSW2_2を「OFF」とするための信号は、0Vといった低電圧である。
第2のトランスインピーダンス増幅器14が動作状態になると、当該第2のトランスインピーダンス増幅器14は、ノードN0に受けた入力電流信号を第2の速度で出力端子OUT2における出力電圧信号へと変換する。動作状態においては、抵抗R2とトランジスタQ1_2の間のノードB2とノードN2には電圧が形成される。このノードN2における電圧が、出力電圧信号となる。
一方、第2のトランスインピーダンス増幅器14を非動作状態とする場合には、トランジスタQ1_2、トランジスタQ3_2、及び、トランジスタSW1_2を非動作状態とし、トランジスタSW2_2を動作状態とする信号が制御ロジック16から与えられる。
トランジスタQ1_2及びトランジスタQ3_2を非動作状態とするために、制御ロジック16は、トランジスタQ1_2のベース及びトランジスタQ3_2のベースに低電圧(例えば、0V)を与える。トランジスタSW1_2を非動作状態とするために、制御ロジック16は、トランジスタSW1_2を「OFF」とするための信号を、トランジスタSW1_2のゲートに与える。トランジスタSW1_2がPMOSスイッチである場合には、トランジスタSW1_2を「OFF」とするための信号は、Vddといった高電圧である。また、トランジスタSW2_2を動作状態とするために、制御ロジック16は、トランジスタSW2_2を「ON」とするための信号を、トランジスタSW2_2のゲートに与える。トランジスタSW2_2がNMOSスイッチである場合には、トランジスタSW2_2を「ON」とするための信号は、Vddといった高電圧である。
第2のトランスインピーダンス増幅器14が非動作状態になると、ノードB2がグランドに結合され、ノードN2では高インピーダンスが得られる。
以上説明した集積回路10によれば、第1の抵抗RF1と第2の抵抗RF2とが直列接続されることによって、第2のトランスインピーダンス増幅器14の帰還抵抗が構成されている。これにより、入力ノードN0には、第1の抵抗RF1の一端のみが接続されている。その結果、入力ノードN0への帰還抵抗の接続数が少なくなっている。また、入力ノードN0への接続数が少ないので、入力ノードを含む配線の長さを短くすることができる。したがって、入力ノードN0における寄生容量及び寄生インダクタンスの増加が防止される。これにより、トランスインピーダンス増幅器の性能が改善される。さらに、第2のトランスインピーダンス増幅器14の帰還抵抗の抵抗値は、第1の抵抗RF1の抵抗値と第2の抵抗RF2の抵抗値との和であるので、第2の抵抗RF2の抵抗値を小さくすることができる。その結果、第2の抵抗RF2の大きさを小さくし、当該第2の抵抗RF2の実装面積を小さくすることができる。
以下、集積回路10の素子の定数を一応用例に従って説明する。ここでは、IEEE802.3avにおいて規定された10G−EPON対称システムでの局側装置のトランスインピーダンス増幅器を、集積回路10の応用例とする。このシステムでは、10.3125Gb/secの上り信号と1.25Gb/secの上り信号が、同一波長帯にて時分割多重によって多重化され、宅側から局側へと送信される。このため、局側装置用の光受信器は10.3125Gb/secと1.25Gb/secのビットレートの異なる光信号を所望の受信感度特性で受信できる必要がある。具体的に、IEEE802.3avにおいては、受信感度仕様として、10.3125Gb/secのビットレートの信号に対しては、10−3のBER(ビット誤り率)において、−28.0dBmの受信感度が求められている。また、1.25Gb/secのビットレートの信号に対しては、10−12のBER(ビット誤り率)において、−29.78dBmの受信感度が求められている。
一般に、トランスインピーダンス増幅器の受信感度特性は、ビットレートの約70%以上の帯域を保ちながら、雑音特性を最小にすることにより、最適化される。トランスインピーダンス増幅器の帯域BWは、BW=A/(2πRIN)により表すことができる。ここで、Aは、増幅部の利得であり、Rは帰還抵抗の抵抗値であり、CINは入力容量である。
入力容量CINは、入力トランジスタQ0の寄生容量、位相補償コンデンサ(キャパシタC1及び/又はキャパシタC2)の入力ノードへの換算容量(即ち、(1+A)倍))、及び、入力ノードの配線容量が含まれる。
IEEE802.3avでは、受光用光デバイスにAPD(アバランシェフォトダイオード)が想定されており、一般的な10G用のAPDでは、0.2pF程度の寄生容量が見込まれる。そして、初段トランジスタQ0の容量を0.3pF、増幅部の利得Aを50、位相補償コンデンサC1の容量を10fF、配線容量を50fFと仮定すると、入力容量CINは1.0pFとなる。したがって、第1の抵抗RF1の抵抗値を1000Ωとすると、第1のトランスインピーダンス増幅器12は、7.5GHzの帯域幅を得ることができる。
同様に、1.25Gb/secの信号を取り扱う第2のトランスインピーダンス増幅器14には、900MHz以上の帯域が望まれる。ここで、帰還抵抗を5000Ω、位相補償コンデンサの容量を10fFとすると、第2のトランスインピーダンス増幅器14の帯域は1.5GHzとなり、所望の帯域が実現される。したがって、第2の抵抗RF2の抵抗値は、4000Ωとなる。また、キャパシタC2の容量は、例えば、50fFとすることができる。
次に受信感度について考察する。ここで、第1のトランスインピーダンス増幅器12を10.3125Gb/secの信号の受信に対して最適化して、10−3のBERにおいて、−28.0dBmの受信感度が得られているものとする。このとき、第2のトランスインピーダンス増幅器14への切り替えが行われると、帯域が7.5GHzから1.5GHzへと狭くなる。これにより、第2のトランスインピーダンス増幅器14のノイズ帯域も、第1のトランスインピーダンス増幅器12のノイズ帯域より1/5倍狭くなり、その結果、7dBの感度向上が見込まれる。また、第2のトランスインピーダンス増幅器14への切り替えにより、帰還抵抗値が増加して、トランスインピーダンス利得が7dB増加するので、さらに受信感度が向上する。この受信感度の向上は、増幅部のノイズ特性に依存するが、3〜5dB程度の向上である。したがって、第2のトランスインピーダンス増幅器14では、1GHzの信号に対して、10−3のBERにおいて−38dBmの受信感度が見込まれる。光受信デバイスにAPDを使用する場合には、10−3のBERと10−12のBERとでは、受信レベルに約6dBの差がある。したがって、第2のトランスインピーダンス増幅器14では、10−12のBERにおいて−32dBmの受信感度が得られ、IEEE802.3avに規定された上述の受信感度が達成される。
一般的に、トランスインピーダンス増幅器では、マルチレート対応のために入力ノードへの配線数を増加させると、上述した帯域BWの式から明らかなように、入力容量CINが増加し、帯域幅の減少が生じる。例えば、10.3125Gb/secの信号に対して、トランスインピーダンス増幅器の利得Aが50で帰還抵抗値が1000Ωである場合に、入力ノードに接続する配線数がして入力容量が30fF増加すると、帯域BWは7.5GHzから7.3GHzに0.3GHz減少する。この0.2GHzの帯域幅の減少を保証するためには、帰還抵抗値を1000Ωから970Ωに減少させる必要がある。この帰還抵抗値の減少はトランスインピーダンス利得を低下させ、トランスインピーダンス増幅器の受信感度を0.1〜0.2dB低下させる。同様に、入力容量が50fF増加した場合には、0.2〜0.3dBの受信感度の低下が生じる。しかしながら、本実施形態のトランスインピーダンス増幅器によれば、配線数を増加することなくマルチレート対応を実現することができるので、受信感度を維持することが可能である。
以下、集積回路10に採用し得る回路レイアウトについて説明する。図2は、一実施形態に係るトランスインピーダンス増幅器のレイアウトを示す平面図である。図2に示すように、集積回路10は、領域F1、領域F2、領域F3、及び領域F4を含んでいる。領域F1、領域F2、及び、領域F3は、第1の方向に順に設けられている。領域F4は、第1の方向に直交する第2の方向において、領域F1、領域F2、及び、領域F3に隣接している。
領域F1には、ノードN0を含む配線が設けられている。また、本例では、領域F1に、第1の抵抗RF1が設けられている。なお、第1の抵抗RF1は、第4の領域F4に設けられていてもよい。
領域F2には、増幅部A1、増幅部A2、及び、入力トランジスタQ0が設けられている。入力トランジスタQ0は、第2の方向において、増幅部A1と増幅部A2との間に設けられている。増幅部A1は、第1のトランジスタQ1_1、抵抗R1、トランジスタSW1_1、トランジスタSW2_1、トランジスタQ2_1、及び、トランジスタQ3_1を含んでいる。また、増幅部A2は、第2のトランジスタQ1_2、抵抗R2、トランジスタSW1_2、トランジスタSW2_2、トランジスタQ2_2、及び、トランジスタQ3_2を含んでいる。
また、領域F3には、第2の抵抗RF2が設けられている。第2の抵抗RF2と第1の抵抗RF1を接続する配線は、領域F3及び領域F4を通っている。図2に示すレイアウトによれば、第2の抵抗RF2、及び、第1の抵抗RF1と第2の抵抗RF2と接続する配線を、領域F1以外の領域に設けることができる。したがって、領域F1の第1の方向における幅を小さくすることができる。その結果、入力ノードN0の寄生容量を小さくすることができる。なお、第2の抵抗RF2は、第4の領域F4に設けられてもよい。この場合には、第1の抵抗RF1と第2の抵抗RF2と接続する配線は、第4の領域F4のみに設けられる。
以下、集積回路10の変形態様について説明する。図3は、別の一実施形態に係るトランスインピーダンス増幅器を示す回路図である。図3に示す集積回路10Aは、集積回路10の構成要素に加えて、出力副回路18を更に備えている。
出力副回路18は、トランジスタQ4_1、トランジスタQ5_1、トランジスタQ4_2、及び、トランジスタQ5_2を備えている。トランジスタQ4_1、トランジスタQ5_1、トランジスタQ4_2、及び、トランジスタQ5_2は、例えば、npnバイポーラ接合トランジスタである。
トランジスタQ4_1のコレクタは、電源に結合されており、トランジスタQ4_1のベースは、トランジスタQ2_1のベースに結合されている。トランジスタQ4_1のエミッタは、トランジスタQ5_1のコレクタに結合されている。トランジスタQ5_1のベースは、トランジスタQ3_1のベースに結合されており、トランジスタQ5_1のエミッタはグランドに結合されている。トランジスタQ4_1は、トランジスタQ2_1と同様に動作し、トランジスタQ5_1は、トランジスタQ3_1と同様に動作する。
また、トランジスタQ4_2のコレクタは、電源に結合されており、トランジスタQ4_2のベースは、トランジスタQ2_2のベースに結合されている。トランジスタQ4_2のエミッタは、トランジスタQ5_2のコレクタに結合されている。トランジスタQ5_2のベースは、トランジスタQ3_2のベースに結合されており、トランジスタQ5_2のエミッタはグランドに結合されている。トランジスタQ4_2は、トランジスタQ2_2と同様に動作し、トランジスタQ5_2は、トランジスタQ3_2と同様に動作する。
トランジスタQ4_1のエミッタとトランジスタQ5_1のコレクタとの間のノードN1’は、第1のトランスインピーダンス増幅器12の出力ノードを構成しており、共通出力端子OUTに結合されている。また、トランジスタQ4_2のエミッタとトランジスタQ5_2のコレクタとの間のノードN2’は、第2のトランスインピーダンス増幅器14の出力ノードを構成しており、共通出力端子OUTに結合されている。
このように、第1のトランスインピーダンス増幅器12及び第2のトランスインピーダンス増幅器14は、出力ノードを共有することも可能である。
以下、更に別の実施形態に係るトランスインピーダンス増幅器について説明する。図4は、別の一実施形態に係るトランスインピーダンス増幅器の回路図である。図4に示すトランスインピーダンス増幅器も、集積回路10Bとして構成されている。集積回路10Bは、集積回路10の構成要素に加えて、第3のトランスインピーダンス増幅器20を更に備えている。
第3のトランスインピーダンス増幅器20は、入力トランジスタQ0、第3のトランジスタQ1_3、及び、第3の抵抗RF3を含んでいる。第3のトランジスタQ1_3は、例えば、npnバイポーラ接合トランジスタである。
第3のトランスインピーダンス増幅器20は、抵抗R3、キャパシタC3、トランジスタSW1_3、トランジスタSW2_3、トランジスタQ2_3、及び、トランジスタQ3_3を更に含み得る。トランジスタSW1_3及びトランジスタSW2_3は、例えば、MOSスイッチであり、トランジスタQ2_3及びトランジスタQ3_3は、例えば、npnバイポーラ接合トランジスタである。
第3のトランスインピーダンス増幅器20では、入力トランジスタQ0、第3のトランジスタQ1_3、及び、抵抗R3が、第3のカスコード増幅器を構成している。第3のトランジスタQ1_3のエミッタは、入力トランジスタQ0のコレクタに結合されている。第3のトランジスタQ1_3のコレクタは、抵抗R3の一端に接続されている。
抵抗R3の他端は、トランジスタSW1_3に結合されている。具体的には、抵抗R3の他端は、トランジスタSW1_3のドレインに結合される。このトランジスタSW1_3のソースは、電源(例えば、Vdd≦3.3V)、及び、トランジスタQ2_3のコレクタに結合されている。
また、トランジスタQ1_3のコレクタは、トランジスタSW2_3及びトランジスタQ2_3にも結合されている。具体的には、トランジスタQ1_3のコレクタは、トランジスタSW2_3のドレインに結合され、トランジスタQ2_3のベースに結合される。トランジスタSW2_3のソースは、グランドに結合されている。
トランジスタQ2_3のエミッタは、トランジスタQ3_3のコレクタに結合されており、トランジスタQ3_3のエミッタは、グランドに結合されている。一実施形態においては、トランジスタQ3_3のエミッタは、抵抗を介してグランドに結合し得る。
第3のトランスインピーダンス増幅器20においては、トランジスタQ2_3のエミッタとトランジスタQ3_3のコレクタの間のノードに接続されたノードN3が、帰還ノードを構成している。また、ノードN3は、出力端子OUT3にも接続されており、出力ノードでもある。
第3の抵抗RF3の一端は、第2の抵抗RF2の他端、即ち、帰還ノードN2に接続されている。また、第3の抵抗RF3の他端は、ノードN3に接続されている。また、キャパシタC3が、この第3の抵抗RF3と並列に設けられている。したがって、第3のトランスインピーダンス増幅器20では、第1の抵抗RF1、第2の抵抗RF2、及び、第3の抵抗RF3の直列接続により、当該第3のトランスインピーダンス増幅器20の帰還抵抗が構成されている。
集積回路10Bにおいては、制御ロジック16Bが、第1のトランスインピーダンス増幅器12、第2のトランスインピーダンス増幅器14、及び第3のトランスインピーダンス増幅器20に制御信号を与える。これにより、第1のトランスインピーダンス増幅器12、第2のトランスインピーダンス増幅器14、及び、第3トランスインピーダンス増幅器20のうち一つが動作状態となり、他のトランスインピーダンス増幅器が非動作状態となる。
第3のトランスインピーダンス増幅器20を動作状態とする場合には、第1及び第2のトランスインピーダンス増幅器と同様に、トランジスタQ1_3、トランジスタSW1_3、トランジスタQ3_3を動作状態とする信号、及び、トランジスタSW2_2を非動作状態とする信号が、制御ロジック16Bから与えられる。また、第3のトランスインピーダンス増幅器20を非動作状態とする場合には、第1及び第2のトランスインピーダンス増幅器と同様に、トランジスタQ1_3、トランジスタSW1_3、トランジスタQ3_3を非動作状態とする信号、及び、トランジスタSW2_2を動作状態とする信号が、制御ロジック16Bから与えられる。
第3のトランスインピーダンス増幅器20が動作状態になると、当該第3のトランスインピーダンス増幅器12は、ノードN0に受けた入力電流信号を第3の速度で出力端子OUT3における出力電圧信号へと変換する。動作状態においては、抵抗R3とトランジスタQ1_3の間のノードB3とノードN3には電圧が形成される。このノードN3における電圧が、出力電圧信号となる。一方、第3のトランスインピーダンス増幅器20が非動作状態になると、ノードB3がグランドに結合され、ノードN3では高インピーダンスが得られる。
この集積回路10Bのように、本発明のトランスインピーダンス増幅器は、3以上のビットレートに対応した複数のトランスインピーダンス増幅器を備え得る。また前段の抵抗と後段の抵抗との直列接続により、後段のトランスインピーダンス増幅器の帰還抵抗が構成される。これにより、入力ノードN0に接続する配線数を削減することができる。また、帰還抵抗の一部である後段の抵抗の抵抗値を小さくすることができ、当該後段の抵抗のサイズを小さくすることができる。
次に、集積回路10Bの素子の定数を一応用例に従って説明する。ここでは、第1のトランスインピーダンス増幅器12が10Gb/secの信号に対応し、第2のトランスインピーダンス増幅器14が2.48Gb/secの信号に対応し、第3のトランスインピーダンス増幅器20が1.24Gb/secの信号に対応しているものとする。2.48Gb/sec、1.24Gb/secのビットレートは、ITU−T G.984勧告のG−PONとして規定されており、10Gb/secのビットレートは次世代PONとして議論されている。
集積回路10について上述した論議と同様に設計すれば、第1の抵抗RF1の抵抗値を1000Ω、キャパシタC1の容量を10fFとすれば、第1のトランスインピーダンス増幅器12の帯域は7.5GHzとなる。また、第2の抵抗RF2の抵抗値を2000Ω、キャパシタC2の容量を30fFとすれば、第2のトランスインピーダンス増幅器14の帯域は2.5GHzとなる。さらに、第3の抵抗RF3の抵抗値を2000Ω、キャパシタC3の容量を50fFとすれば、第3のトランスインピーダンス増幅器20の帯域は1.5GHzとなる。したがって、第1〜第3のトランスインピーダンス増幅器では、ビットレートの約70%以上の帯域が確保される。
次に受信感度について説明する。ここでは、第1のトランスインピーダンス増幅器12の受信感度を最適化して、10−3のBERにおいて−28dBmの受信感度が得られているものとする。このとき、第2のトランスインピーダンス増幅器14の帰還抵抗の抵抗値は3000Ωであるので、第1のトランスインピーダンス増幅器12の帰還抵抗の抵抗値の3倍の抵抗値である。したがって、第2のトランスインピーダンス増幅器14では、ノイズ帯域が、第1のトランスインピーダンス増幅器12のノイズ帯域より1/3倍となり、トランスインピーダンス利得が3倍になる。これにより、ことから、第2のトランスインピーダンス増幅器14では、7〜9dB程度の感度改善が見込まれ、10−3のBERにおいて−35.0dBmの受信感度が実現される。また、第3のトランスインピーダンス増幅器20においては、10−12のBERにおいて−32.0dBmの受信感度が実現される。
次に、集積回路10Bに採用し得る回路レイアウトについて説明する。図5は、一実施形態に係るトランスインピーダンス増幅器のレイアウトを示す平面図である。ここでは、図5に示す回路レイアウトについて、図2に示すレイアウトと異なる点について説明する。
図5に示すように、第2の領域F2には、増幅部A3が更に設けられている。増幅部A3は、第3のトランジスタQ1_3、抵抗R3、トランジスタSW1_3、トランジスタSW2_3、トランジスタQ2_3、及び、トランジスタQ3_3を含んでいる。
第3の領域F3には、第3の抵抗RF3が更に設けられている。また、第3の抵抗RF3と第2の抵抗RF2とを接続する配線が、第3の領域F3を通っている。したがって、図5に示すレイアウトによれば、第2の抵抗RF2、第3の抵抗RF3、第1の抵抗RF1と第2の抵抗RF2と接続する配線、及び、第2の抵抗RF2と第3の抵抗RF3とを接続する配線を、領域F1以外の領域に設けることができる。したがって、領域F1の第1の方向における幅を小さくすることができる。その結果、入力ノードN0の寄生容量を小さくすることができる。
以下、集積回路10Bの変形態様について説明する。図6は、更に別の一実施形態に係るトランスインピーダンス増幅器を示す回路図である。図6に示す集積回路10Cは、集積回路10Bの構成要素に加えて、出力副回路18Cを更に備えている。ここでは、出力副回路18Cについて、出力副回路18と異なる点について説明する。
出力副回路18Cは、出力副回路18の構成要素に加えて、トランジスタQ4_3及びトランジスタQ5_3を備えている。トランジスタQ4_3のコレクタは、電源に結合されており、トランジスタQ4_3のベースは、トランジスタQ2_3のベースに結合されている。トランジスタQ4_3のエミッタは、トランジスタQ5_3のコレクタに結合されている。トランジスタQ5_3のベースは、トランジスタQ3_3のベースに結合されており、トランジスタQ5_3のエミッタはグランドに結合されている。トランジスタQ4_3は、トランジスタQ2_3と同様に動作し、トランジスタQ5_3は、トランジスタQ3_3と同様に動作する。
トランジスタQ4_3のエミッタとトランジスタQ5_3のコレクタとの間のノードN3’は、第3のトランスインピーダンス増幅器20の出力ノードを構成している。共通出力端子OUTには、ノードN1’及びノードN2’に加えて、ノードN3’も結合されている。このように、3以上のトランスインピーダンス増幅器の出力ノードを共通出力端子に接続することも可能である。
以下、上述したトランスインピーダンス増幅器又は出力回路を適用可能な光検出システムについて説明する。図7は、一実施形態に係る光検出システムを示す図である。図7に示すシステム30は、光通信システムでの種々の用途に使用することができる。システム30は、光検出器32、トランスインピーダンス増幅器34(例えば、集積回路10、10A、10B、又は10C)、及び、リミティング増幅器36を備えている。
光検出器32は、本実施形態における電流ソースであり、例えば、フォトダイオードであってもよい。フォトダイオードは、光子を受けて、これに応じて電流信号(例えば、光電流)を生成することができる。
トランスインピーダンス増幅器34は、光検出器32からの電流信号を受けて、当該電流信号を、例えば、複数のレートのうちの一つで、当該電流信号を電圧信号に変換することができる。リミティング増幅器36は、トランスインピーダンス増幅器34からの電圧信号を受けて、例えば、当該電圧信号を減衰させて、システム30の後続のステージを入力オーバードライブから保護することができる。
好適な実施の形態において本発明の原理を図示し説明してきたが、本発明は、そのような原理から逸脱することなく配置および詳細において変更され得ることができることは、当業者によって認識される。本発明は、本実施の形態に開示された特定の構成に限定されるものではない。したがって、特許請求の範囲およびその精神の範囲から来る全ての修正および変更に権利を請求する。
10,10A,10B,10C…集積回路(トランスインピーダンス増幅器)、12…トランスインピーダンス増幅器、14…第2のトランスインピーダンス増幅器、16,16B…制御ロジック、18,18C…出力副回路、20…第3のトランスインピーダンス増幅器、IN…入力端子、N0…入力ノード、N1〜N3…帰還ノード、OUT…共通出力端子、OUT1,OUT2,OUT3…出力端子、Q0…入力トランジスタ、Q1_1…第1のトランジスタ、Q1_2…第2のトランジスタ、Q1_3…第3のトランジスタ、Q2_1,Q2_2,Q2_3,Q3_1,Q3_2,Q3_3,Q3_3,Q4_1,Q4_2,Q4_3,Q5_1,Q5_2,Q5_3…トランジスタ、R1,R2,R3…抵抗、RF1…第1の抵抗、RF2…第2の抵抗、RF3…第3の抵抗、SW1_1,SW1_2,SW1_3,SW2_1,SW2_2,SW2_3…トランジスタ。

Claims (5)

  1. 入力ノードに接続する入力トランジスタ、該入力トランジスタにカスコード結合された第1のトランジスタ、及び、前記入力ノードに接続された一端と帰還ノードに接続された他端とを有する第1の抵抗を含む第1のトランスインピーダンス増幅器であって、該第1のトランスインピーダンス増幅器を動作状態と非動作状態との間で切り替えるためのスイッチを更に含む、該第1のトランスインピーダンス増幅器と、
    前記入力トランジスタ、該入力トランジスタにカスコード結合された第2のトランジスタ、前記第1の抵抗、及び、一端及び他端を有する第2の抵抗を含む第2のトランスインピーダンス増幅器であって、該第2のトランスインピーダンス増幅器を動作状態と非動作状態との間で切り替えるためのスイッチを更に含む、該第2のトランスインピーダンス増幅器と、
    を備え、
    前記第2の抵抗の前記一端が、前記第1の抵抗の前記他端に接続されており、該第2の抵抗の前記他端が、前記第2のトランスインピーダンス増幅器の帰還ノードに接続されている、集積回路。
  2. 前記第1のトランスインピーダンス増幅器の前記スイッチと前記第2のトランスインピーダンス増幅器の前記スイッチとに制御信号を与えて、前記第1のトランスインピーダンス増幅器及び前記第2のトランスインピーダンス増幅器の一方が動作状態のときに、前記第1のトランスインピーダンス増幅器及び前記第2のトランスインピーダンス増幅器の他方を非動作状態とする制御ロジックを更に備える、請求項1に記載の集積回路。
  3. 第1の方向に順に設けられた第1の領域、第2の領域、及び第3の領域、並びに、前記第1の方向に交差する第2の方向において前記第1〜第3の領域に隣接する第4の領域を含んでおり、
    前記第1の領域には、前記入力ノードを含む配線が設けられており、
    前記第2の領域には、前記入力トランジスタ、前記第1のトランジスタ、第1のトランスインピーダンス増幅器の前記スイッチ、前記第2のトランジスタ、第2のトランスインピーダンス増幅器の前記スイッチが設けられており、
    前記第1の抵抗は、前記第1の領域又は前記第4の領域に設けられており、
    前記第2の抵抗が、前記第3の領域又は前記第4の領域に設けられており、
    前記第1の抵抗の前記他端と前記第2の抵抗の前記一端とを接続する配線が、前記第4の領域を通っている、
    請求項1又は2に記載の集積回路。
  4. 入力ノードに接続する入力トランジスタ、該入力トランジスタにカスコード結合された第1のトランジスタ、及び、前記入力ノードに接続された一端と帰還ノードに接続された他端とを有する第1の抵抗を含む第1のトランスインピーダンス増幅器であって、該第1のトランスインピーダンス増幅器を非動作状態とするスイッチを更に含む、該第1のトランスインピーダンス増幅器と、
    前記入力トランジスタ、該入力トランジスタにカスコード結合された第2のトランジスタ、前記第1の抵抗、及び、一端及び他端を有する第2の抵抗を含む第2のトランスインピーダンス増幅器であって、該第2のトランスインピーダンス増幅器を非動作状態とするスイッチを更に含む、該第2のトランスインピーダンス増幅器と、
    を備え、
    前記第2の抵抗の前記一端が、前記第1の抵抗の前記他端に接続されており、該第2の抵抗の前記他端が、前記第2のトランスインピーダンス増幅器の帰還ノードに接続されている、トランスインピーダンス増幅器。
  5. 電流ソースと、
    前記電流ソースからの電流を電圧に変換する集積回路と、
    を備え、
    前記集積回路は、
    前記電流ソースに接続された入力ノードに接続する入力トランジスタ、該入力トランジスタにカスコード結合された第1のトランジスタ、及び、前記入力ノードに接続された一端と帰還ノードに接続された他端とを有する第1の抵抗を含む第1のトランスインピーダンス増幅器であって、該第1のトランスインピーダンス増幅器を非動作状態とするスイッチを更に含む、該第1のトランスインピーダンス増幅器と、
    前記入力トランジスタ、該入力トランジスタにカスコード結合された第2のトランジスタ、前記第1の抵抗、及び、一端及び他端を有する第2の抵抗を含む第2のトランスインピーダンス増幅器であって、該第2のトランスインピーダンス増幅器を非動作状態とするスイッチを更に含む、該第2のトランスインピーダンス増幅器と、
    を備え、
    前記第2の抵抗の前記一端が、前記第1の抵抗の前記他端に接続されており、該第2の抵抗の前記他端が、前記第2のトランスインピーダンス増幅器の帰還ノードに接続されている、
    システム。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US9124246B2 (en) * 2013-09-25 2015-09-01 Qualcomm Incorporated Baseband processing circuitry
GB2523854B (en) 2014-05-23 2016-06-08 Hilight Semiconductor Ltd Circuitry
CN106249023B (zh) * 2016-07-14 2019-03-29 电子科技大学 一种微电流检测电路
US11309846B2 (en) 2017-08-25 2022-04-19 University Of South Florida Cascode common source transimpedance amplifiers for analyte monitoring systems
KR102375498B1 (ko) * 2017-09-29 2022-03-17 가부시키가이샤 무라타 세이사쿠쇼 반도체 소자, 고주파 회로, 및 통신 장치
US11177775B2 (en) * 2019-12-12 2021-11-16 Applied Materials Israel Ltd. Detection circuit and method for amplifying a photosensor output current
JP2023008550A (ja) * 2021-07-06 2023-01-19 住友電気工業株式会社 受信回路

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63514A (ja) 1986-06-18 1988-01-05 Yasuaki Matsumoto 誘導孔による高汐の波圧を減ずる防波堤
JPH0535619Y2 (ja) * 1986-06-20 1993-09-09
US5202553A (en) 1992-03-24 1993-04-13 Raynet Corporation Enhanced performance optical receiver having means for switching between high and low amplifier configurations
JPH1188067A (ja) * 1997-09-02 1999-03-30 Oki Electric Ind Co Ltd 電流/電圧変換増幅装置
JP3978402B2 (ja) * 2003-03-19 2007-09-19 三菱化学メディア株式会社 光記録媒体の製造方法及び光記録媒体用積層体の製造方法
JP4152784B2 (ja) * 2003-03-19 2008-09-17 シャープ株式会社 受光アンプ回路およびそれを備えた光ピックアップ装置
JP4230391B2 (ja) * 2004-03-16 2009-02-25 シャープ株式会社 受光アンプ素子、光ピックアップ装置、および光ディスク装置
US7151409B2 (en) * 2004-07-26 2006-12-19 Texas Instruments Incorporated Programmable low noise amplifier and method
JP5090318B2 (ja) * 2008-11-21 2012-12-05 日本電信電話株式会社 受信モジュール
US7944290B2 (en) * 2009-01-26 2011-05-17 Sumitomo Electric Industries, Ltd. Trans-impedance amplifier

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