JP5028972B2 - オペアンプ回路 - Google Patents

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Description

この発明は、オペアンプ回路に関するものである。
近年、半導体集積回路装置では低消費電力化及び電源電圧の低電圧化がますます進んでいる。このような半導体集積回路装置に搭載されるオペアンプ回路では、入力信号電圧の許容範囲を電源電圧範囲まで拡大し、かつ安定した動作を確保することが必要となっている。
図3は、従来のオペアンプ回路を示す。このオペアンプ回路は、それぞれ入力信号IN1,IN2が入力される第一及び第二の差動増幅回路1a,1bと、各差動増幅回路1a,1bの出力信号が入力されるレベルシフト部2と、レベルシフト部2で駆動される出力回路3とで構成される。
第一及び第二の差動増幅回路1a,1bは、入力信号IN1,IN2が高電位側電源Vccあるいは低電位側電源Vss付近の電圧となっても、出力回路3からフル振幅の出力信号OUTを出力するために設けられる。
すなわち、入力信号IN1,IN2が電源Vccレベル付近となると、第二の差動増幅回路1bはほぼ動作しなくなるが、第一の差動増幅回路1aが作動してその出力信号をレベルシフト部2に出力する。
また、入力信号IN1,IN2が電源Vssレベル付近となると、第一の差動増幅回路1aはほぼ動作しなくなるが、第二の差動増幅回路1bが作動してその出力信号をレベルシフト部2に出力する。
また、入力信号IN1,IN2が電源Vccと電源Vssの中間レベルであれば、第一及び第二の差動増幅回路1a,1bがともに動作する。
レベルシフト部2では、第一及び第二の差動増幅回路1a,1bの出力信号をレベルシフトしたノードN1,N2が、出力回路3のプルアップ側トランジスタT1とプルダウン側トランジスタT2のゲートに接続される。そして、レベルシフト部2はノードN1,N2間に一定のレベルシフト電圧ΔVを生成する。
そのレベルシフト電圧ΔVは、出力回路3の出力電流の理想値I2としたときのトランジスタT1のゲート・ソース間電圧をVgsp1とし、トランジスタT2のゲート・ソース間電圧をVgsn2とすれば、
とすることが望ましい。
具体的には、レベルシフト部2のトランジスタT3のゲート・ソース間電圧をVgsn3とすると、電流I1は、
となり、レベルシフト電圧ΔVは、
となる。
従って、
となるように設計することが望ましい。
例えば、Vcc=3V、Vgsp1=0.5V、Vgsn2,Vgsn3=0.5Vとすると、
となり、レベルシフト部2の抵抗R1,R2の抵抗値を5:4で設計すると理想的に動作する。
一方、プロセスのばらつきによりトランジスタのしきい値が変化して、Vgsp1=0.8V、Vgsn2,Vgsn3=0.8Vとなったとすると、抵抗R1,R2の抵抗値が5:4の比であると、
となる。
従って、トランジスタのしきい値のずれによりレベルシフト電圧ΔVが理想値から外れ、オフセット電圧誤差の増大あるいは出力電流I2のずれ等が発生する。
特開2002−43871号公報 特開2001−60832号公報 特開平6−85570号公報
上記のようなオペアンプ回路では、抵抗R1,R2の抵抗値の設定により、レベルシフト電圧ΔVをあらかじめ理想値に設定することができるが、プロセスのばらつきによりトランジスタのしきい値がずれると、レベルシフト電圧ΔVが設定値から外れてしまう。
そして、近年のオペアンプ回路の電源電圧が低下している中で、トランジスタのしきい値のずれにともなうレベルシフト電圧ΔVのずれは、オペアンプ回路の出力信号の精度を大幅に低下させてしまうという問題点がある。
特許文献1には、第1及び第2の入力差動対に供給するバイアス電流の電流値の合計を一定とすることでプロセスのばらつきによる特性変動を抑制するようにしたオペアンプ回路が開示されている。しかし、レベルシフト部において、プロセスのばらつきによるレベルシフト電圧ΔVのずれを抑制する構成は開示されていない。
特許文献2には、コンプリメンタリー接続された出力回路の各トランジスタを駆動する前段回路の消費電力を低減する構成が開示されているが、レベルシフト部において、プロセスのばらつきによるレベルシフト電圧ΔVのずれを抑制する構成は開示されていない。
特許文献3には、Pトップ型演算増幅回路とNトップ型演算増幅回路とを備え、入力信号の電圧レベルに応じていずれかの演算増幅回路を動作させる演算増幅回路装置が開示されている。しかし、レベルシフト部において、プロセスのばらつきによるレベルシフト電圧ΔVのずれを抑制する構成は開示されていない。
この発明の目的は、レベルシフト部で生成されるレベルシフト電圧のプロセスのばらつきに起因する理想値からのずれを抑制可能としたオペアンプ回路を提供することにある。
上記目的は、高電位側電源と低電位側電源との間の電圧範囲の入力信号により少なくともいずれか一方が動作する第一及び第二の差動増幅回路と、ソースを前記高電位側電源に接続した第一及び第二PチャネルMOSトランジスタで構成される第一カレントミラー回路と、ソースを前記低電位側電源に接続した第一及び第二NチャネルMOSトランジスタで構成される第二カレントミラー回路と、前記第一及び第二カレントミラー回路の間に接続される抵抗とを有し、前記第一及び第二の差動増幅回路の出力信号をレベルシフトしたレベルシフト信号を出力するレベルシフト部と、前記高電位側電源と前記低電位側電源との間で直列に接続される第三PチャネルMOSトランジスタ及び第三NチャネルMOSトランジスタが前記レベルシフト信号を受けて出力信号を出力する出力回路とを備え、前記第一乃至第三PチャネルMOSトランジスタ、及び前記第一乃至第三NチャネルMOSトランジスタのサイズを、前記第一PチャネルMOSトランジスタのゲート・ソース間電圧と前記第三PチャネルMOSトランジスタのゲート・ソース間電圧とが等しく、且つ、前記第一NチャネルMOSトランジスタのゲート・ソース間電圧と前記第三NチャネルMOSトランジスタのゲート・ソース間電圧とが等しくなるサイズとしたオペアンプ回路により達成される。
また、上記目的は、高電位側電源と低電位側電源との間の電圧範囲の入力信号により少なくともいずれか一方が動作する第一及び第二の差動増幅回路と、エミッタを前記高電位側電源に接続した第一及び第二PNPトランジスタで構成される第一カレントミラー回路と、エミッタを前記低電位側電源に接続した第一及び第二NPNトランジスタで構成される第二カレントミラー回路と、前記第一及び第二カレントミラー回路の間に接続される抵抗とを有し、前記第一及び第二の差動増幅回路の出力信号をレベルシフトしたレベルシフト信号を出力するレベルシフト部と、前記高電位側電源と前記低電位側電源との間で直列に接続される第三PNPトランジスタ及び第三NPNトランジスタが前記レベルシフト信号を受けて出力信号を出力する出力回路とを備え、前記第一乃至第三PNPトランジスタ、及び前記第一乃至第三NPNトランジスタのサイズを、前記第一PNPトランジスタのベース・エミッタ間電圧と前記第三PNPトランジスタのベース・エミッタ間電圧とが等しく、且つ、前記第一NPNトランジスタのベース・エミッタ間電圧と前記第三NPNトランジスタのベース・エミッタ間電圧とが等しくなるサイズとしたオペアンプ回路により達成される。
本発明によれば、レベルシフト部で生成されるレベルシフト電圧のプロセスのばらつきに起因する理想値からのずれを抑制可能としたオペアンプ回路を提供することができる。
(第一の実施の形態)
図1は、この発明を具体化したオペアンプ回路の第一の実施の形態を示す。前記従来例と同一構成部分は、同一符号を付して説明する。
このオペアンプ回路は、第一及び第二の差動増幅回路1a,1bと、レベルシフト部11と、出力回路3とで構成される。第一の差動増幅回路1aは、NチャネルMOSトランジスタT11,T12のゲートに入力信号IN1,IN2が入力され、同トランジスタT11,T12のソースがNチャネルMOSトランジスタT13のドレインに接続されている。また、トランジスタT13のソースは低電位側電源Vssに接続される。
前記トランジスタT11のドレインはPチャネルMOSトランジスタT14のドレインに接続され、前記トランジスタT12のドレインはPチャネルMOSトランジスタT15のドレインに接続され、トランジスタT14,T15のソースは高電位側電源Vccに接続される。また、トランジスタT14,T15のゲートは互いに接続されるとともに、トランジスタT15のドレインに接続されて、カレントミラー回路を構成している。
第二の差動増幅回路1bは、PチャネルMOSトランジスタT16,T17のゲートに前記入力信号IN1,IN2が入力され、同トランジスタT16,T17のソースがPチャネルMOSトランジスタT18のドレインに接続されている。また、トランジスタT18のソースは高電位側電源Vccに接続される。
前記トランジスタT16のドレインはNチャネルMOSトランジスタT19のドレインに接続され、前記トランジスタT17のドレインはNチャネルMOSトランジスタT20のドレインに接続され、トランジスタT19,T20のソースは低電位側電源Vssに接続される。また、トランジスタT19,T20のゲートは互いに接続されるとともに、トランジスタT20のドレインに接続されて、カレントミラー回路を構成している。
前記レベルシフト部11は、PチャネルMOSトランジスタT21,T22のソースが電源Vccに接続され、同トランジスタT21,T22のゲートが互いに接続されるとともに、トランジスタT21のドレインに接続されて、カレントミラー回路が構成される。
NチャネルMOSトランジスタT23,T24のソースは電源Vssに接続され、同トランジスタT23,T24のゲートが互いに接続されるとともに、トランジスタT23のドレインに接続されて、カレントミラー回路が構成される。
前記トランジスタT21,T23のドレインは抵抗R3を介して接続され、前記トランジスタT22,T24のドレインは抵抗R4を介して接続されている。また、抵抗R3の電位側端子は前記トランジスタT13のゲートに接続され、抵抗R3の電位側端子は前記トランジスタT18のゲートに接続されている。なお、抵抗R3,R4の抵抗値は同一値に設定される。
前記第一の差動増幅回路1aの出力端子であるトランジスタT11,T14のドレインは、レベルシフト部11のトランジスタT22のドレイン(ノードN1)に接続されるとともに、出力回路3のプルアップ側トランジスタT1のゲートに接続される。
また、前記第二の差動増幅回路1bの出力端子であるトランジスタT16,T19のドレインは、レベルシフト部11のトランジスタT24のドレイン(ノードN2)に接続されるとともに、出力回路3のプルダウン側トランジスタT2のゲートに接続される。
上記のようなレベルシフト部11では、トランジスタT21,T22及びトランジスタT23,T24はカレントミラー動作を行うので、抵抗R3,R4には同一の電流I3が流れる。
従って、トランジスタT21のゲート・ソース間電圧をVgsp21とし、トランジスタT23のゲート・ソース間電圧をVgsn23とすると、抵抗R4の両端子間電圧であるレベルシフト電圧ΔVすなわちノードN1,N2間の電圧は、
となる。従って、トランジスタT21,T23のゲート・ソース間電圧が電圧調整部として動作する。
また、このオペアンプ回路を理想的に動作させるために、
となるように設定されている。そして、プロセスのばらつきに関わらず、
となるように、出力トランジスタT1,T2と、レベルシフト部11のトランジスタT21〜T24のサイズが決定されている。
次に、上記のように構成されたオペアンプ回路の動作を説明する。入力信号IN1,IN2の入力に基づいて第一及び第二の差動増幅回路1a,1bが作動し、ノードN1,N2の電位が変化し、その電位の変化に基づいて出力信号OUTが出力される。
例えば、入力信号IN1の電位が入力信号IN2に対し相対的に上昇すると、第一の差動増幅回路1aの動作によりノードN1の電位が低下し、第二の差動増幅回路1bの動作によりノードN2の電位が低下する。すると、出力トランジスタT1のドレイン電流が増大し、出力トランジスタT2のドレイン電流が減少して出力信号OUTの電圧が上昇する。
一方、入力信号IN1の電位が入力信号IN2に対し相対的に下降すると、第一の差動増幅回路1aの動作によりノードN1の電位が上昇し、第二の差動増幅回路1bの動作によりノードN2の電位が上昇する。すると、出力トランジスタT1のドレイン電流が減少し、出力トランジスタT2のドレイン電流が増大して出力信号OUTの電圧が低下する。
このように動作しているとき、ノードN1,N2の電位の変化に関わらず、レベルシフト電圧ΔVは一定に維持される。
また、入力信号IN1,IN2と電源Vccレベルとの電位差がPチャネルMOSトランジスタのしきい値以下となると、第二の差動増幅回路1bは動作不能となる。この場合には、入力信号IN1,INの電位差に基づく第一の差動増幅回路1aの出力信号と、レベルシフト部11の動作によりノードN1,N2の電位が設定され、ノードN1,N2の電位に基づいて出力信号OUTが出力される。このとき、レベルシフト電圧ΔVは(6)式で示す値に維持される。
また、入力信号IN1,IN2と電源Vssレベルとの電位差がNチャネルMOSトランジスタのしきい値以下となると、第一の差動増幅回路1aは動作不能となる。この場合には、入力信号IN1,IN2の電位差に基づく第二の差動増幅回路1bの出力信号と、レベルシフト部11の動作によりノードN1,N2の電位が設定され、ノードN1,N2の電位に基づいて出力信号OUTが出力される。
上記のように構成されたオペアンプ回路では、次に示す作用効果を得ることができる。
(1)高電位側電源Vccと低電位側電源Vssとの範囲の入力信号IN1,IN2に対し、出力信号OUTを正常に出力することができる。
(2)プロセスのばらつきにより出力トランジスタT1,T2のしきい値とレベルシフト部11のトランジスタT21〜T24のしきい値が変化しても、常に(8)式を満足させる状態で動作させることができる。
(3)プロセスのばらつきにかかわらず、ノードN1,N2間のレベルシフト電圧ΔVを理想値に保持することができるので、出力信号OUTの精度を確保することができる。
(第二の実施の形態)
図2は、第二の実施の形態を示す。この実施の形態は、前記第一の実施の形態のMOSトランジスタをバイポーラトランジスタに置き換えたものである。すなわち、第一及び第二の差動増幅回路1a,1b、レベルシフト部11及び出力回路3を構成するPチャネルMOSトランジスタをPNPトランジスタに置き換え、NチャネルMOSトランジスタをNPNトランジスタに置き換えている。
このように構成したオペアンプ回路では、第一の実施の形態と同様な作用効果を得ることができるとともに、MOSトランジスタで構成したオペアンプ回路に比して、プロセスのばらつきによるしきい値の変動を抑制し、動作速度の向上を図ることができる。
上記実施の形態は、以下の態様で実施してもよい。
・抵抗R3,R4は必ずしも同一抵抗値とする必要はない。
・トランジスタT1,T21あるいは同T2,T23は、プロセスのばらつきによるしきい値の変動が一致すれば、同サイズとする必要はない。
第一の実施の形態を示す回路図である。 第二の実施の形態を示す回路図である。 従来例を示す回路図である。
符号の説明
1a 第一の差動増幅回路
1b 第二の差動増幅回路
3 出力回路
11 レベルシフト部
Vcc 高電位側電源
Vss 低電位側電源
T1,T2 出力トランジスタ
ΔV レベルシフト電圧

Claims (2)

  1. 高電位側電源と低電位側電源との間の電圧範囲の入力信号により少なくともいずれか一方が動作する第一及び第二の差動増幅回路と、
    ソースを前記高電位側電源に接続した第一及び第二PチャネルMOSトランジスタで構成される第一カレントミラー回路と、ソースを前記低電位側電源に接続した第一及び第二NチャネルMOSトランジスタで構成される第二カレントミラー回路と、前記第一及び第二カレントミラー回路の間に接続される抵抗とを有し、前記第一及び第二の差動増幅回路の出力信号をレベルシフトしたレベルシフト信号を出力するレベルシフト部と、
    前記高電位側電源と前記低電位側電源との間で直列に接続される第三PチャネルMOSトランジスタ及び第三NチャネルMOSトランジスタが前記レベルシフト信号を受けて出力信号を出力する出力回路と
    を備え、
    前記第一乃至第三PチャネルMOSトランジスタ、及び前記第一乃至第三NチャネルMOSトランジスタのサイズを、前記第一PチャネルMOSトランジスタのゲート・ソース間電圧と前記第三PチャネルMOSトランジスタのゲート・ソース間電圧とが等しく、且つ、前記第一NチャネルMOSトランジスタのゲート・ソース間電圧と前記第三NチャネルMOSトランジスタのゲート・ソース間電圧とが等しくなるサイズとしたことを特徴とするオペアンプ回路。
  2. 高電位側電源と低電位側電源との間の電圧範囲の入力信号により少なくともいずれか一方が動作する第一及び第二の差動増幅回路と、
    エミッタを前記高電位側電源に接続した第一及び第二PNPトランジスタで構成される第一カレントミラー回路と、エミッタを前記低電位側電源に接続した第一及び第二NPNトランジスタで構成される第二カレントミラー回路と、前記第一及び第二カレントミラー回路の間に接続される抵抗とを有し、前記第一及び第二の差動増幅回路の出力信号をレベルシフトしたレベルシフト信号を出力するレベルシフト部と、
    前記高電位側電源と前記低電位側電源との間で直列に接続される第三PNPトランジスタ及び第三NPNトランジスタが前記レベルシフト信号を受けて出力信号を出力する出力回路と
    を備え、
    前記第一乃至第三PNPトランジスタ、及び前記第一乃至第三NPNトランジスタのサイズを、前記第一PNPトランジスタのベース・エミッタ間電圧と前記第三PNPトランジスタのベース・エミッタ間電圧とが等しく、且つ、前記第一NPNトランジスタのベース・エミッタ間電圧と前記第三NPNトランジスタのベース・エミッタ間電圧とが等しくなるサイズとしたことを特徴とするオペアンプ回路。
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