JP5024864B2 - コンフォーカル顕微鏡、及びコンフォーカル画像の撮像方法 - Google Patents

コンフォーカル顕微鏡、及びコンフォーカル画像の撮像方法 Download PDF

Info

Publication number
JP5024864B2
JP5024864B2 JP2006339836A JP2006339836A JP5024864B2 JP 5024864 B2 JP5024864 B2 JP 5024864B2 JP 2006339836 A JP2006339836 A JP 2006339836A JP 2006339836 A JP2006339836 A JP 2006339836A JP 5024864 B2 JP5024864 B2 JP 5024864B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
sample
scanning
focus
confocal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2006339836A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2008152011A (ja
Inventor
宏之 實川
米澤  良
秀明 山口
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Lasertec Corp
Original Assignee
Lasertec Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Lasertec Corp filed Critical Lasertec Corp
Priority to JP2006339836A priority Critical patent/JP5024864B2/ja
Publication of JP2008152011A publication Critical patent/JP2008152011A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5024864B2 publication Critical patent/JP5024864B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Microscoopes, Condenser (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Description

本発明は、コンフォーカル顕微鏡、及びコンフォーカル画像の撮像方法に関する。
従来のコンフォーカル顕微鏡では、1本のスリットを透過した光が試料に対して照明され、試料からの反射光は、1次元CCD(Charge−Coupled Device)により検出される構成を採用している(例えば、特許文献1)。このような従来のスリットコンフォーカル顕微鏡においては、マニュアル操作による焦点合わせを行うことが一般的であった。すなわち、1次元CCDカメラで検出される光量に応じて焦点合わせを行なっている。従来のコンフォーカル顕微鏡では、例えば、画像のコントラストや鮮鋭度から焦点合わせを行なっている。あるいは、観察光学系と別に設置したフォーカス光学系を用いてオートフォーカスを行なっている。
特開平10−104523号公報
しかしながら、昨今の顕微鏡の使用において、所定の線幅や段差、粗さを自動で測定する必要性がでてきている。そのようなシステムを組む上で、低コストの焦点合わせ機構は、必要不可欠の機構となってきている。そして、焦点を合わせた状態で、観察や測定を行なう必要がある。しかしながら、従来のスリットコンフォーカル顕微鏡では、簡便な構成で焦点合わせを行なうことができないという問題点がある。
このように、従来のコンフォーカル顕微鏡では、簡便に焦点を調整することができないという問題点があった。
本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであって、簡便な構成で焦点を調整することができるコンフォーカル顕微鏡、及びコンフォーカル画像の撮像方法を提供することを目的とする。
本発明の第1の態様に係るコンフォーカル顕微鏡は、照明光を出射する光源と、前記光源からの照明光を線状の光に変換する光変換手段と、前記線状の光を走査する走査手段と、前記光変換手段と共役な位置に配置された試料上に前記線状の光を結像し、前記試料からの透過光又は反射光を結像面に結像する結像手段と、前記透過光又は前記反射光を受光するよう前記結像面に配置され、前記線状の光に対応する画素列を有する観察用検出器と、前記光源からの光の光路上に配置され、前記光源からの光の一部を遮光する遮光部材と、前記走査手段によって前記線状の光とともに走査される光のうち前記試料で反射した光を検出する焦点位置用センサと、前記遮光部材を前記光路上に配置している状態における焦点位置用センサからの出力に基づいて、前記線状の光の焦点位置を調整する焦点調整手段と、を備えるものである。これにより、簡便な構成で焦点を調整することができる。
本発明の第2の態様に係るコンフォーカル顕微鏡は、上記のコンフォーカル顕微鏡であって、前記位置検出用センサからの出力を積分する積分回路をさらに備え、前記積分回路での積分値に基づいて、前記焦点調整手段が焦点を調整することを特徴とするものである。これにより、正確に焦点を調製することができる。
本発明の第3の態様に係るコンフォーカル顕微鏡は、上記のコンフォーカル顕微鏡であって、前記走査手段の走査端に配置された走査位置検出用検出器と、前記走査位置検出用検出器からの出力に基づいて、前記積分回路の積分値を増減させないクランプ動作を行なうクランプ回路と、をさらに備えるものである。これにより、正確に焦点を調製することができる。
本発明の第4の態様に係るコンフォーカル顕微鏡は、上記のコンフォーカル顕微鏡であって、前記走査位置検出用検出器からの出力に基づいて、前記積分回路の積分値をリセットすることを特徴とするものである。これにより、正確に焦点を調製することができる。
本発明の第5の態様に係るコンフォーカル顕微鏡は、上記のコンフォーカル顕微鏡であって、前記光変換手段がライン状の照明用開口部を有するスリット板であって、前記スリット板に焦点位置用センサに受光される光を透過する焦点位置用開口部が設けられていることを特徴とするものである。これにより、簡便な構成で焦点を調製することができる。
本発明の第6の態様に係るコンフォーカル顕微鏡は、上記のコンフォーカル顕微鏡であって、前記焦点調整手段によって焦点が調整されている状態で、前記観察用検出器で線状の光を受光して観察を行なう場合に、前記遮光部材が前記光源からの光の一部を遮光しないことを特徴とするものである。これにより、正確に焦点を調製した状態で観察することができる。
本発明の第7の態様に係るコンフォーカル画像の撮像方法は、コンフォーカル光学系を介して光を検出して、コンフォーカル画像を撮像するコンフォーカル画像の撮像方法であって、光路上に配置された遮光部材によって光の一部を遮光するステップと、前記遮光された光を走査手段によって走査するステップと、前記走査された光を前記試料に集光して照射するステップと、前記試料で反射した反射光を焦点位置用センサで検出するステップと、前記焦点位置用センサからの出力に基づいて、前記試料の焦点を調整するステップと、前記試料の焦点が調整された状態で、ライン状の光を前記走査手段によって走査するステップと、前記走査手段によって走査されたライン状の光を前記試料に集光して照射するステップと、前記試料に照射されたライン状の光のうち前記試料で反射した反射光、又は前記試料を透過した透過光を、前記線状の光に対応する画素列を有する観察用検出器でコンフォーカル光学系を介して受光するステップとを有するものである。これにより、簡便に焦点を調製することができる。
本発明の第8の態様に係るコンフォーカル画像の撮像方法は、上述の撮像方法であって、前記試料の焦点を調整するステップでは、前記焦点位置用センサからの出力を積分した積分値に基づいて、前記焦点を調整することを特徴とするものである。これにより、正確に焦点を調製することができる。
本発明の第9の態様に係るコンフォーカル画像の撮像方法は、上述の撮像方法であって、前記走査手段に走査端では、前記積分値を増減させないクランプ動作を行なうことを特徴とするものである。これにより、正確に焦点を調製することができる。
本発明の第10の態様に係るコンフォーカル画像の撮像方法は、上述の撮像方法であって、前記走査手段の走査の一端において、前記積分値がリセットされることを特徴とするものである。これにより、正確に焦点を調製することができる。
本発明の第11の態様に係るコンフォーカル画像の撮像方法は、上述の撮像方法であって、前記線状の光をライン状の照明用開口部を有するスリット板によって生成し、前記スリット板に設けられた焦点位置用開口部を通過して、前記試料で反射した反射光を前記焦点位置用センサで検出することを特徴とするものである。これにより、簡便に焦点を調製することができる。
本発明の第12の態様に係るコンフォーカル画像の撮像方法は、上述の撮像方法であって、前記ライン状の光を前記走査手段によって走査するステップでは、前記光の一部が遮光されていないことを特徴とするものである。
本発明によれば、簡便な構成で焦点を調整することができるコンフォーカル顕微鏡、及びコンフォーカル画像の撮像方法を提供することができる。これにより、正確に焦点を調製した状態で観察することができる。
本実施の形態に係るコンフォーカル顕微鏡においては、二つの領域を有する光センサからなる二分割センサとスリットの近傍に設けられた遮光板とを有するフォーカス機構を有している。このフォーカス機構によって、コンフォーカル顕微鏡における焦点合わせを自動で行うことができ、かつ低コストで行うことができる。以下に、本発明を適用可能な実施の形態が説明される。以下の説明は、本発明の実施形態を説明するものであり、本発明が以下の実施形態に限定されるものではない。説明の明確化のため、以下の記載は、適宜、省略及び簡略化がなされている。又、当業者であれば、以下の実施形態の各要素を、本発明の範囲において容易に変更、追加、変換することが可能である。
本発明にかかるコンフォーカル顕微鏡の構成について図1を用いて説明する。図1はコンフォーカル顕微鏡1の構成概略図である。本実施の形態に係るコンフォーカル顕微鏡1は、光学系100と、回路部200とを有している。光学系100は、光源101、レンズ102、103、106、107、108、ビームスプリッタ104、ガルバノミラー105、二分割光センサ109、CCDラインセンサ110、及び試料ホルダ111を備えている。また、本実施の形態に係るコンフォーカル顕微鏡1の光学系100は、遮光板120及びスリット板130を有している。さらに、この光学系100からの光は、試料ホルダ111上に載置された試料300に集光される。このように、本実施の形態にかかる顕微鏡は、スリットコンフォーカル顕微鏡である。
本実施の形態では、試料300のコンフォーカル画像を撮像するCCDラインセンサ110を備えている。光源101からスリット板130を透過した光が試料300を反射して、CCDラインセンサ110により検出される。また、ガルバノミラー105を用いることによって、試料300上を光が走査できるようにしている。すなわち、試料300上を走査するために、ガルバノミラー105を用いる、このことによって、光源101からの光の焦点位置が対物レンズ107の軸と垂直な方向に変化する。ガルバノミラー105は、例えば、30Hzで光を走査する。ガルバノミラー105は、スリット板130を通過した線状の光を走査する。これにより、スリットコンフォーカル画像が撮像される。
光源101は、例えば白色光源、蛍光励起光源等であり、さらに具体的には、水銀ランプ、ハロゲンランプ等種々の光源を用いることができる。また、発振位相の異なるレーザダイオードを2次元に配列して光源を構成してもよい。発振位相の異なるレーザダイオードを発振させることにより、スペックル(光の干渉により発生する小さな斑点)の発生を抑制することができる。さらに、光源101に複数の光ファイバが束ねられたバンドルファイバを設けても良い。すなわち、バンドルファイバから出射された光を照明光として利用してもよい。
二分割光センサ109は、二つの領域である領域Aと領域Bに分割された二分割PD(Photo diode)である。本実施の形態に係るコンフォーカル顕微鏡においては、この二分割光センサ109の二つの領域において検知された光量によって、試料面が焦点位置に対してずれているか否かを判定することができる。また、試料面が焦点位置に対してずれている場合、試料面がレンズ107側にずれているか、レンズ107から遠ざかる側にずれているかを判定することができる。すなわち、二分割光センサ109は焦点合わせに用いられる。
試料ホルダ111は、Z軸駆動モータ208を有し、試料300を図1における上下に移動できるようになっている。この試料ホルダ111は、後述するZ軸駆動モータ208によって上下移動しており、この上下移動によって、試料面が焦点位置にくるように制御されている。すなわち、試料ホルダ111の上下移動によって、焦点調整が行なわれる。具体的には、二分割光センサ109からの出力に応じてZ軸駆動モータ208を駆動する。そして、Z軸駆動モータ208の駆動によって試料ホルダ111を上下移動させて、試料300を合焦点位置に移動させる。なお、試料ホルダ111を移動して焦点位置を調整する構成に限らず、レンズ107などを移動して焦点位置を調整してもよい。
遮光板120はスリット板130の近傍に設けられており、図1における左右に動かすことが可能になっている。遮光板120は、スリット板130とレンズ103の間に配置される。焦点位置検出時においては、遮光板120が光路上に移動して光源101からの光を半分だけ遮断するようになっている。それに対して、通常のマスク検査時には、遮光板120は、図1における左に動いて光源101からの光を試料300に全て照射されるようになっている。すなわち、コンフォーカル顕微鏡で観察する際には、遮光板120が光路上から外れる。このように遮光板120は光路上に移動可能に設けられている。そして、通常の観察時には、遮光板120は、光路上から取り除かれ、焦点位置検出時には、光路上に配置される。遮光板120は、ソレノイドやモータやシリンダなどのアクチュエータによって、精度よく移動される。この遮光板120を光路上に配置すると、瞳に対して非対称に照明することができる。具体的には、瞳の片側半分が遮光され、もう片側半分のみから照明される。
また、スリット板130は、光源101の近傍の光路上に配設される。スリット板130によって、光源101からの光が線状の光に変換される。このスリット板130の位置は、一次像面の位置、CCDラインセンサ110の位置、及び試料面の位置に共役である。スリット板130からの光を走査することによって、試料300におけるコンフォーカル画像を撮像する領域を変化させることができる。すなわち、ガルバノミラー105を駆動させて、撮像領域を変化させる。ガルバノミラー105は、線状の光と垂直な方向に光を走査する。これにより、試料300上における光の入射位置が変化して、線状の光が走査される。そして、試料300で反射した反射光をCCDラインセンサ110によって検出する。CCDラインセンサ110の画素は線状の光に対応して配列されている。すなわち、CCDラインセンサ110は線状の光に対応する画素列を有する。これにより、コンフォーカル画像を撮像することができる。このように、CCDラインセンサ110からの出力によって、コンフォーカル画像を観察することができる。
スリット板130の概略構造図とそれに対応するセンサ配置を図2に示す。図2(a)、及び図2(b)には、それぞれ上側にスリット板130の概略構造図が示され、下側にラインセンサ110、及び二分割光センサ109の配置が示されている。図2に示されるように、スリット板130は、焦点位置用開口部131と画像照明用開口部132とを有している。画像照明用開口部132は横長のライン状の開口部である。この画像照明用開口部132を通過することによって、光源101からの光が線状の光に変換される。なお、焦点位置用開口部131と画像照明用開口部132とは、図2(a)に示したように画像照明用開口部132の長手方向と垂直な方向に配置されていてもよい。この場合、ラインセンサ110と二分割光センサ109とは、ラインセンサ110の画素の配列方向と垂直に配置される。あるいは、図2(b)に示すように、焦点位置用開口部131と画像照明用開口部132とをスリットの長手方向と平行な方向に配置しても良い。この場合、ラインセンサ110と二分割光センサ109とは、ラインセンサ110の画素の配列方向と平行方向に配置される。また、図2(b)に示す構成では、焦点位置用開口部131と画像照明用開口部132とをつなげてもよい。すなわち、ライン状の開口部の端部を画像照明用開口部132として用い、残りの開口部を焦点位置用開口部131として用いればよい。このように、焦点位置用開口部131と画像照明用開口部132との位置関係に応じて、二分割光センサ109とCCDラインセンサ110の位置が決定される。したがって、二分割光センサ109とCCDラインセンサ110の物理的な大きさによる制約を緩和することができる。よって、二分割光センサの横方向を大きくすることができ、焦点位置をより正確に検出することができる。
画像照明用開口部132は、光源101からの光をライン状の光に変換する。すなわち、画像照明用開口部132は、ライン状の光を生成する。試料300を反射した光をCCDラインセンサ110によって観測することによってこの試料300におけるコンフォーカル画像が撮像される。また、焦点位置用開口部131を通過した光は、二分割光センサ109に照射されることによって、焦点合わせを行っている。焦点位置用開口部131は、二分割光センサ109の形状に応じた形状を有している。ここでは、焦点位置用開口部131を矩形状にしている。
ここで、光源101から出射された光の経路について図1を用いて説明する。光源101から出射された光は、レンズ102によって集光されスリット板130に入射される。このスリット板130に入射された光は、画像照明用開口部132を通過した部分はライン状の光に変換されてレンズ103に入射される。また、焦点位置用開口部131を通過した光も同様にレンズ103に入射する。レンズ103に入射された光は、レンズ103によって平行光に変換され、ビームスプリッタ104によって反射し、ガルバノミラー105に入射される。ガルバノミラー105を反射した光は、レンズ106に入射する。レンズ106は、光を1次像面に集光する。そして、レンズ106で屈折された光はレンズ107に入射する。その後、光はレンズ107で屈折され、試料300を照明する。レンズ107は対物レンズであり、照明光を試料300上に集光する。そして、ガルバノミラー105を回転させることによって、試料300上の所定の撮像位置に照明することが可能になる。
試料300を反射した反射光は、レンズ107に入射する。レンズ107は反射光を1次像面に集光する。このようにレンズ107は光を試料上、及び1次像面上に結像する。この反射光はレンズ106に入射する。そして、反射光は、レンズ106で屈折され平行光束となる。平行光束となった反射光は、ガルバノミラー105で反射する。このガルバノミラー105で反射された反射光は、デスキャンされ、ビームスプリッタ104に入射する。そして、反射光の一部は、ビームスプリッタ104を通過して、レンズ108によってCCDラインセンサ110上に集光される。また、光源101からスリット板130内の焦点位置用開口部131を通過した光は、画像照明用開口部132を通過した光と同様の光路を通って、二分割光センサ109上に集光される。すなわち、焦点位置用開口部131を通過した光は、ビームスプリッタ104、ガルバノミラー105、レンズ106、レンズ107を介して試料300に入射する。そして、試料300で反射した焦点位置用開口部131からの光は、レンズ107、レンズ106、ガルバノミラー105、ビームスプリッタ104、及びレンズ108を介して二分割光センサ109に入射する。これにより、二分割光センサ109によって、試料300で反射した反射光を受光することができる。
次に、本実施の形態に係るコンフォーカル顕微鏡における焦点の合わせ方について説明する。まず、瞳に対称に照明した場合の二分割光センサ109の照明箇所について図3を用いて説明する。二分割光センサ109はA、Bの二つの領域に分けられている。図3(a)は試料面が焦点位置に位置する場合、図3(b)は試料面が焦点位置よりも前に位置する場合、図3(c)は試料面が焦点位置よりも後ろに位置する場合である。
図3(a)に示すように、試料面が焦点位置に位置する場合には、二分割光センサ109上に焦点が位置するようになっている。このような状態においては、領域Aと領域Bともに光の照射量は変わらず略等しくなる。また、試料面が焦点位置よりも前に位置する場合(図3(b)参照)においても、試料面が焦点位置よりも後ろに位置する場合(図3(c)参照)においても、領域Aと領域Bともに光の照射量が変わらない。すなわち、二分割光センサ109上での光がぼやけるが、その中心位置は変わらない。そのため、瞳に対称に照明した場合には、焦点位置によって、領域Aと領域Bとで検出される光量の差が変化しない。よって、試料面が焦点位置に対してどこにあるかを判定することが困難である。
それに対して、瞳に対して非対称に照明した場合には、焦点位置によって、領域Aと領域Bとで検出される光量の差が変化する。これにより、試料面の焦点位置に対する位置を判定することができる。ここで、瞳に対して非対称に照明した場合の二分割光センサ109の照明箇所について図4を用いて説明する。図4(a)〜図4(c)は、試料に入射する入射光と試料で反射する反射光とを模式的に示す図である。なお、図4において実線が試料に入射する入射光を示し、点線が試料で反射した反射光を示し、一点鎖線が光軸を示している。また、図4(a)は試料面が焦点位置に位置する場合、図4(b)は試料面が焦点位置よりも前に位置する場合、図4(c)は試料面が焦点位置よりも後ろに位置する場合である。この場合においては、瞳に対して半分だけを遮光板120によってカットした状態である。すなわち、図4では、左側の光のみで照明した状態が示されている。従って、試料面で反射した反射光は、主に、図4の右側を通って二分割光センサ109に入射する。
図4(a)に示されるように、試料面が焦点位置に位置する場合には、領域Aと領域Bともに照明される領域が同じであり、領域Aと領域Bともに略同じレベルの信号を出力する。それに対して、試料面が焦点位置よりも前に位置する場合においては、領域B側にだけ照明されることになる(図4(b)参照)。また、試料面が焦点位置よりも後ろに位置する場合においては、領域A側にだけ照明されることになる(図4(c)参照)。すなわち、焦点位置に応じて、反射光の入射位置が変化する。以上のことから、領域Aと領域Bの照射量を測定することによって、試料面が焦点位置に対して前と後ろのどちら側にいるのかを判定することができる。すなわち、焦点位置によって、領域Aと領域Bとで受光される光が異なる。従って、領域Aに照射された光量と領域Bに照射された光量との差に応じて、焦点合わせを行なうことができる。このように瞳位置において、片側半分のみを遮光して、片側半分で照明することによって、簡便に焦点位置を検出することができる。
この判定においては、一般的に、領域Aに照射された光量aと領域Bに照射された光量bとを加算した(a+b)を分母にして、(a−b)を分子にした信号が用いられる。すなわち、(a−b)を(a+b)で割った信号が用いられる。そして、(a−b)/(a+b)の大きさによって、試料ホルダ111をZ軸駆動モータ208によって移動させる。これによって、試料300に焦点を合わせることができる。すなわち、(a−b)/(a+b)の大きさが略ゼロとなったとき、試料面が合焦点位置であると判定する。さらに、(a−b)/(a+b)の値が正であるか負であるかによって、焦点が前後どちらにずれているかが判別できる。例えば、(a−b)/(a+b)の値が正である場合、すなわち焦点位置が試料300よりも前方になっている状態と判別される(図4(c)参照)。そして、(a−b)/(a+b)の値の大きさによって、焦点位置のずれ量が分る。
次に、回路部200は、クランプ回路201a、201b、引算回路202、加算回路203、除算回路204、積分回路205、サンプルホールド回路206、ドライブアンプ207、Z軸駆動モータ208、PD(Photo diode)209a、209b、及びタイミング回路210を備えている。この回路部200によって、コンフォーカル顕微鏡で観察するときの焦点位置が試料300に合わせられる。なお、回路部200として、デジタル回路を用いてもよく、アナログ回路を用いてもよい。もちろん、回路部200として、アナログ回路とデジタル回路とを組み合わせた回路を用いてもよい。
クランプ回路201a、201bは、二分割光センサ109に接続されている。上記のように、二分割光センサ109は領域Aと領域Bに二分割されている。そして、クランプ回路201aは二分割光センサ109の領域Aに、クランプ回路201bは二分割光センサ109の領域Bに接続されている。また、クランプ回路201a、201bは、タイミング回路210とも接続されている。クランプ回路201a、201bは、タイミング回路210からのタイミング信号を受信している間の二分割光センサ109からの信号を、試料面から反射してきた光以外の光と判定し、このときの信号レベルがゼロとなるよう二分割光センサ109からの出力信号をオフセットさせている。これにより、定常的な迷光等によるノイズを低減することができる。
また、二分割光センサ109は、クランプ回路201a、201bを通して引算回路202と加算回路203に接続されている。すなわち、上記のようにオフセットが調整された二分割光センサ109からの信号が、引算回路202、及び加算回路203に入力される。引算回路202においては、二分割光センサ109の領域Aで検知した光量aから二分割光センサ109の領域Bで検知した光量bを引いた値(a−b)を信号として除算回路204に出力する。また、加算回路203においては、二分割光センサ109の領域Aで検知した光量aと二分割光センサ109の領域Bで検知した光量bとを加算した値(a+b)を信号として除算回路204に出力する。除算回路204は、この引算回路202からの信号(a+b)を分母とし、加算回路203からの信号(a−b)を分子として、(a−b)/(a+b)の信号を算出する。上記のように、(a−b)/(a+b)の信号に基づいて焦点位置が調整される。
この除算回路204によって算出された値(a−b)/(a+b)は、積分回路205に出力される。積分回路205においては、除算回路204からの(a−b)/(a+b)を時間に対して積分していく。この積分時間は、タイミング回路210からのリセット信号によって制御されている。この積分回路205は、サンプルホールド回路206に接続されている。タイミング回路210からのサンプル信号がサンプルホールド回路206に出力されると、サンプルホールド回路206は積分回路205から(a−b)/(a+b)の時間に対する積分値を取り出す。このサンプルホールド回路206に取り出された値は、ドライブアンプ207に出力され、ドライブアンプ207によってZ軸駆動モータ208に応じた電流値に変換されて出力される。すなわち、ドライブアンプ207は、サンプルホールド回路206に取り出された値から求められる焦点位置からのずれ量分Z軸駆動モータ208が移動するだけの電流量に変換している。ドライブアンプ207から入力された電流量によって、Z軸駆動モータ208は試料ホルダ111を図1における上下に移動させる。このことによって、焦点位置に試料300を移動させることができる。
さらに、試料300の端部の上部にPD209a、209bを配置している。すなわち、ガルバノミラー105によって、試料300の端部を照射するときになると、このPD209a、209b上に光が照射されるようになる。従って、ガルバノミラー105の回転方向が反転するタイミングでPD209a、209bに光が照射される。このPD209a、209bに光が照射されたときには、PD209a、209bからタイミング回路210に信号が出力される。すなわち、ガルバノミラー105によって試料面を光が走査している間において、試料の端部を照射する位置に光が照明されたときには、PD209a、209bからタイミング回路210に信号が出力されるようになる。PD209a、209bは1次像面上に配置されている。また、PD209a、209bは、視野の外側に配置される。PD209a、209bは、焦点位置用開口部131を通過した光を受光する。
試料300上を光が走査する際に、試料300の端部で方向転換を行う。すなわち、試料300の端部において、ガルバノミラー105の走査方向が、例えば、180°反転する。そのときに行う方向転換は急激に行うことができないため、この試料300の端部に照射される光は、所定の時間照射されることになる。このため、積分回路205によって時間に対する積分を行う場合、試料300の端部にノイズの原因が存在すると、この部分におけるノイズが所定時間分積分されてしまう。従って、この部分のノイズが積分回路205によって積分された値に大きな影響を及ぼす。すなわち、方向転換を行なっている間の影響が大きくなってしまう。本実施の形態に係るコンフォーカル顕微鏡においては、試料300の端部に光が照射されないように、PD209a、209bを配置している。換言すると、ガルバノミラー105の走査の両端にPD209a、209bを配置している。
このように、PD209a、209bは照射される光の光量を検出すると同時に、走査端におけるマスクの役割も果たしていることになる。これにより、走査端において走査方向の方向転換を行う際に、焦点位置用開口部131を通過した光が試料300に入射するのを防ぐことができる。よって、方向転換を行なっている間のノイズの影響を低減することができ、焦点合わせを正確に行なうことができる。このように、走査端に配置されたPD209a、209bを用いることによって、走査位置を検出することができる。すなわち、PD209a、209bの出力によって、ガルバノミラー105の走査が走査端になっているタイミングか否かを判別することができる。走査端において光の走査方向が反転している間の光が二分割光センサ109に入射するのを防ぐことができる。
次に、上述の積分回路205とサンプルホールド回路206とクランプ回路201a、201bにおけるタイミングチャートを図5に示す。タイミング回路210は、PD209a及びPD209bから出力される信号から、クランプ回路201a、201bに出力されるクランプ信号を作成する。このクランプ信号とPD209a、209bから出力される信号のタイミングを示したのが図5(b)〜図5(d)である。すなわち、クランプ信号は、PD209aとPD209bに照射されている間、タイミング回路210から出力されることになる。また、ガルバノミラー105の振れ角を図5(a)に示している。ここでは、ガルバノミラー105の振れ角の基準角度を0として、基準角度からの振れ角を±で示している。ガルバノミラー105の振れ角は、一定の周期で変化している。そして、+方向の振れ角の速度と、−方向の振れ角速度が異なっている。
図5(c)、(d)で示したPD1、PD2は、PD209a、PD209bからの信号である。また、PD1、PD2は、走査する方向によって、PD209a、PD209bのどちらかになる。すなわち、PD1及びPD2のうちの一方がPD209aからの信号に対応し、他方がPD209bからの信号に対応する。ここで、PD209aからPD209bに向かって走査しているときに観察する場合、PD209bからPD209aに向かう速度は、PD209aからPD209bに向かう速度より早くなることが一般的である。例えば、光の走査による画像信号の生成には、一定の信号量レベルが必要となるため、一方向の走査は比較的低速で行う。すなわち、一方向のみ低速で走査を行い、ラインセンサ110からの出力を所定の信号量レベルまで到達させる。一方、反対方向の走査は、ロスタイムを低減するため、高速で行う。このような場合においては、PD1がPD209bに相当し、PD2がPD209aに相当する。なお、これは、本実施の形態における例として示したものであり、走査方向が逆であってもよいし、どちらの方向における走査速度を一定にして行っても本発明の趣旨に影響はない。図5(c)、及び図5(d)に示すように、PD1、及びPD2は、走査周期に応じた時間間隔でパルスが出力されるパルス波形となる。ここで、PD1、及びPD2のそれぞれは、1走査周期毎に1パルス出力される。ここで、走査周期とは、走査の一端から他端まで行った後、一端に戻るまでの時間とする。従って、1走査周期において、光が往復することになるため、走査の中心を2回通過する。PD1とPD2とパルスのタイミングは、走査速度に応じてずれている。また、PD209a、209bは走査の両端に配置されているため、PD1とPD2とのパルスは交互に出力される。
クランプ信号は、例えば、PD1とPD2とのOR出力となる。従って、PD209aに光が入射するタイミング、及びPD209bに光が入射するタイミングでクランプ信号が出力される。よって、クランプ信号では、1走査周期毎に2パルス出力される。このクランプ信号がクランプ回路201a、201bに出力されている間は、クランプ回路201a、201bはクランプ動作を行う。このクランプ動作は、二分割光センサ109からの信号の値を基準として、クランプ回路201aとクランプ回路201bとから出力される値を略ゼロとする動作である。このようにすることによって、除算回路204によって積分回路205に出力される値がゼロとなるために、積分回路205における積分値が一定の値をとるようになる。すなわち、クランプ信号がパルスを出力して、クランプ動作を行なっている間は、積分値が増減しない。したがって、試料300の端部における信号を積分回路205で積算されないようにすることができる。これにより、正確に焦点位置を合わせることができる。
また、タイミング回路210は、PD1からの信号に基づいてサンプル信号とリセット信号とを生成する。サンプル信号とリセット信号のタイミングは、図5(e)、(f)に示されている。サンプル信号はPD1の立ち上がりのときに出力され、PD1の信号よりも短いパルス幅を有するパルス信号である。また、リセット信号はPD1の立下りのときに出力され、PD1よりも短いパルス幅を有するパルス信号である。サンプル信号はサンプルホールド回路206に出力される。サンプル信号に応じて、サンプルホールド回路206は、積分回路205に蓄積されている値を取り出しホールドする。そして、サンプルホールド回路206は、この値をドライブアンプ207に出力する。また、リセット信号は積分回路205に出力される。積分回路205はリセット信号に応じて積分していた値をゼロにリセットする。すなわち、積分回路205はリセット信号と次に入力されるリセット信号との間だけ、除算回路204から出力される(a−b)/(a+b)信号を積分することになる。すなわち、走査端を除いた1走査周期だけ、(a−b)/(a+b)信号を積分する。そして、1走査周期経過後、積分値をリセットしてゼロにする。
以上のようにすることによって、積分回路205によって積分された値は、図5(g)に示すような値となる。まず、光が走査の第1の端部に来ると、リセット信号が出力されて積分回路205内の値はゼロとなる。次に、ガルバノミラー105によって光の走査位置が試料300の第1の端部から第2の端部に移動する。第1の端部から第2の端部に移動するしている間、(a−b)/(a+b)信号が積分される。ここでは、焦点位置が試料300の後ろ側にあり、(a−b)/(a+b)の値が正であるとする(図4(c)参照)。この場合、図5(g)に示すように、積分回路205内の積分値は徐々に増加していく。すなわち、位置ずれ量と走査速度に応じた傾きで、積分値が変化して行く。そして、第2の端部に光の走査位置が移動したときに、タイミング回路210からクランプ回路201a、201bにクランプ信号が出力される。すなわち、PD2に光が入射するため、PD2の出力に基づくクランプ信号のパルスが出力される。クランプ信号のパルスが出力されている間、積分値がクランプされるため、積分値は一定になる。よって、クランプ信号のパルスが出力されている間、積分回路205内の積分値は正の値で一定となっている。
そして、ガルバノミラー105で方向転換を行い、走査方向を反転させる。これにより、光の走査位置が試料300の第2の端部から第1の端部まで移動する。第2の端部から第1の端部まで走査している間、積分回路205は積分をする。ここでは、試料300上の略同じ位置を操作しているため、上記のように焦点位置が試料300の後ろ側にある。よって、(a−b)/(a+b)の値が正である。従って、走査位置が試料300の第2の端部から第1の端部に移動している間でも、積分値が徐々に増加していく。ここで、走査方向を反転させたときに、走査速度を変化させている。これにより、積分値の増加の傾きも変化している。しかしながら、第1の端部から第2の端部までに移動する間の積分値の増加量と、第2の端部から第1の端部までに移動する間の積分値の増加量とは、略同じ値となる。これは、走査方向だけ反転させて、同じ領域を走査しているからである。
そして、第1の端部に光が走査されると、タイミング回路210からクランプ信号がクランプ回路201a、201bに出力される。すなわち、PD1に光が入射するため、PD1の出力に基づくクランプ信号のパルスが出力される。クランプ信号のパルスが出力されている間、積分値がクランプされるため、積分値は一定になる。このときに、タイミング回路210からサンプルホールド回路206にサンプル信号が出力され、(a−b)/(a+b)信号の積分値が取り出される。その後、リセット信号によって、積分回路205内の積分値はゼロに戻る。そして、次の走査でも同様に積分値を算出する。このように、第1の端部から第2の端部に移動している間、及び第2の端部から第1の端部まで移動している間において、(a−b)/(a+b)信号の積分を継続的に行なう。すなわち、ガルバノミラー105による走査が1往復する間、クランプ信号のパルスが出力されているときを除いて、積分を行い続ける。そして、走査が1往復する間の積分値によって焦点を調整する。これにより、試料面における取り込みノイズがキャンセルすることができる。すなわち、試料300面のパターンなどにより生じるノイズを低減することができる。
例えば、試料面にパターンが形成されている場合、形成されているパターンによって反射率が異なる。従って、パターンの境界近傍では、反射光の光量に差が生じる。この場合、焦点位置が試料面に一致していても、PD209aで検出される光とPD209bで検出される光が異なってしまう。例えば、PD209aで検出される光の光量がPD209bで検出される光よりも高くなってしまう。この場合、パターンの反射率の違いによって、積分信号にノイズが生じてしまう。しかしながら、本実施の形態ではガルバノミラーによる走査が1往復する間、(a−b)/(a+b)信号を積分している。これにより、上記のノイズを低減することができる。すなわち、1往復期間に、光が同じパターンの境界を2回通過することになるため、上記のノイズがキャンセルされる。さらには、パターンの端部の傾斜面や段差で生じるノイズなどもキャンセルされる。このように、積分値を用いることで、正確に焦点合わせを行なうことができる。従って、様々なパターンが形成されている試料300に対しても、正確に焦点合わせを行なうことができる。もちろん、走査が1往復する間に限らず、走査が複数回往復する間積分を行ってもよい。
以上のように、PD209a、209bからの信号に基づいて、タイミング回路210がクランプ信号、リセット信号、及びサンプル信号を出力して制御している。これによって、二分割光センサ109の信号から、自動的に焦点合わせを行うことができる。すなわち、走査を1往復している間の積分値によって、その領域の焦点位置のずれを検出することができる。このときの焦点位置の位置ずれ量は、走査を1往復している間に照明した領域における平均値となる。そして、実際に観察を行う場合、上記の位置ずれ量に応じて、Z軸駆動モータ208を動作させる。これにより、焦点位置が試料面と略一致した状態で観察することができる。例えば、試料ホルダ111を移動させている間に合焦点位置を求める。そして、実際の観察を行う際に、その照明された領域での積分値に応じた焦点位置にする。さらに、積分値に応じた焦点位置からオートフォーカスを行ってもよい。こにょうに、本実施の形態に係るコンフォーカル顕微鏡においては、二分割光センサ109と遮光板120、回路部200を用いることによって、簡便に焦点を合わせることができる。
上記のように焦点が調製された状態で、各種の測定を行なう。例えば、3次元形状測定、パターンの段差や線幅の測定を行なう。このとき、焦点が合わせられているため、容易に測定を行なうことができる。
なお、上記の説明では、ガルバノミラー105によって光を走査したが、これに限るものではない。例えば、スリット板130を移動させて光を走査してもよい。この場合、スリット板130は、画像照明用開口部132の長手方向と垂直な方向に移動する。例えば、スリット板130は、図1における紙面と垂直な方向とに移動することが可能である。このように移動することによって、画像照明用開口部132を通過した線状の光とともに、焦点位置用開口部を通過した光を走査することができる。すなわち、撮像用の光と、焦点位置検出用の光とが、同じ走査手段によって走査されればよい。従って、撮像用の光と、焦点合わせ用の光とは、別の光源からの光であってもよい。さらに、スリット板130に限らず、シリンドリカルレンズや液晶パネルによって線状の光に変換することも可能である。さらには、スリット板130を複数の画像照明用開口部132を設けたマルチスリットとしても良い。
なお、上記の説明では、焦点合わせを行なうために光の一部を遮光する遮光部材を遮光板120として説明したが、これに限るものではない。例えば、光路上に配置された液晶パネルを遮光部材として用いた場合でも、光の一部を遮光することができる。この場合、電気的な切替のみで、遮光を切り替えることができる。すなわち、光路上から遮光部材から出し入りさせる必要がなくなる。さらに、コンフォーカル顕微鏡1におけるコンフォーカル画像の撮像は、遮光部材によって光の一部を遮光したままでも可能である。すなわち、光の一部を遮光したままでは、視野が半分の状態となるが、この場合でも観察することができる。また、上記のコンフォーカル顕微鏡1を試料300で反射した光を用いて観察する落射照明型顕微鏡として説明したが、これに限るものではない。試料300を透過した光を用いて観察する透過照明型顕微鏡であってもよい。
本実施の形態のコンフォーカル顕微鏡の構成概略図である。 コンフォーカル顕微鏡内のスリットにおける概略構造図である。 コンフォーカル顕微鏡内のスリットにおける焦点位置用開口部と画像照明用開口部の位置関係の一例である。 瞳に対称に照明した場合の二分割光センサの照明箇所を示す図である。 瞳に非対称に照明した場合の二分割光センサの照明箇所を示す図である。
符号の説明
1 コンフォーカル顕微鏡
100 光学系、
101 光源 104 ビームスプリッタ 105 ガルバノミラー
102、103、106、107、108 レンズ 109 二分割光センサ
110 ラインセンサ 111 試料ホルダ
120 遮光板 130 スリット
131 焦点位置用開口部 132 画像照明用開口部
200 回路部
201a、201b クランプ回路 202 引算回路 203 加算回路
204 除算回路 205 積分回路 206 サンプルホールド回路
207 ドライブアンプ 208 軸駆動モータ 209a、209b PD
210 タイミング回路
300 試料

Claims (10)

  1. 照明光を出射する光源と、
    前記光源からの照明光を線状の光に変換する光変換手段と、
    前記線状の光を走査する走査手段と、
    前記光変換手段と共役な位置に配置された試料上に前記線状の光を結像し、前記試料からの透過光又は反射光を結像面に結像する結像手段と、
    前記透過光又は前記反射光を受光するよう前記結像面に配置され、前記線状の光に対応する画素列を有する観察用検出器と、
    前記光源からの光の光路上に配置され、前記光源からの光の一部を遮光する遮光部材と、
    前記走査手段によって前記線状の光とともに走査される光のうち前記試料で反射した光を検出する焦点位置用センサと、
    前記遮光部材を前記光路上に配置している状態における焦点位置用センサからの出力に基づいて、前記線状の光の焦点位置を調整する焦点調整手段と、
    前記走査手段の走査端に配置された走査位置検出用検出器と、
    前記走査位置検出用検出器からの出力に基づいて、前記積分回路の積分値を増減させないクランプ動作を行なうクランプ回路と、を備えるコンフォーカル顕微鏡。
  2. 前記位置検出用センサからの出力を積分する積分回路をさらに備え、
    前記積分回路での積分値に基づいて、前記焦点調整手段が焦点を調整することを特徴とする請求項1に記載のコンフォーカル顕微鏡。
  3. 前記走査位置検出用検出器からの出力に基づいて、前記積分回路の積分値をリセットすることを特徴とする請求項1又は2に記載のコンフォーカル顕微鏡。
  4. 前記光変換手段がライン状の照明用開口部を有するスリット板であって、
    前記スリット板に焦点位置用センサに受光される光を透過する焦点位置用開口部が設けられていることを特徴とする請求項1乃至のいずれかに記載のコンフォーカル顕微鏡。
  5. 前記焦点調整手段によって焦点が調整されている状態で、前記観察用検出器で線状の光を受光して観察を行なう場合に、前記遮光部材が前記光源からの光の一部を遮光しないことを特徴とする請求項1乃至のいずれかに記載のコンフォーカル顕微鏡。
  6. コンフォーカル光学系を介して光を検出して、コンフォーカル画像を撮像するコンフォーカル画像の撮像方法であって、
    光路上に配置された遮光部材によって光の一部を遮光するステップと、
    前記遮光された光を走査手段によって走査するステップと、
    前記走査された光を前記試料に集光して照射するステップと、
    前記試料で反射した反射光を焦点位置用センサで検出するステップと、
    前記焦点位置用センサからの出力に基づいて、前記試料の焦点を調整するステップと、
    前記試料の焦点が調整された状態で、ライン状の光を前記走査手段によって走査するステップと、
    前記走査手段によって走査されたライン状の光を前記試料に集光して照射するステップと、
    前記試料に照射されたライン状の光のうち前記試料で反射した反射光、又は前記試料を透過した透過光を、前記線状の光に対応する画素列を有する観察用検出器でコンフォーカル光学系を介して受光するステップとを有し、
    前記走査手段に走査端では、前記積分値を増減させないクランプ動作を行なうことを特徴とするコンフォーカル画像の撮像方法。
  7. 前記試料の焦点を調整するステップでは、前記焦点位置用センサからの出力を積分した積分値に基づいて、前記焦点を調整することを特徴とする請求項に記載のコンフォーカル画像の撮像方法。
  8. 前記走査手段の走査の一端において、前記積分値がリセットされることを特徴とする請求項6又は7に記載のコンフォーカル画像の撮像方法。
  9. 前記線状の光をライン状の照明用開口部を有するスリット板によって生成し、
    前記スリット板に設けられた焦点位置用開口部を通過して、前記試料で反射した反射光を前記焦点位置用センサで検出することを特徴とする請求項6乃至8のいずれかに記載のコンフォーカル画像の撮像方法。
  10. 前記ライン状の光を前記走査手段によって走査するステップでは、前記光の一部が遮光されていないことを特徴とする請求項6乃至9のいずれかに記載のコンフォーカル画像の撮像方法。
JP2006339836A 2006-12-18 2006-12-18 コンフォーカル顕微鏡、及びコンフォーカル画像の撮像方法 Expired - Fee Related JP5024864B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006339836A JP5024864B2 (ja) 2006-12-18 2006-12-18 コンフォーカル顕微鏡、及びコンフォーカル画像の撮像方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2006339836A JP5024864B2 (ja) 2006-12-18 2006-12-18 コンフォーカル顕微鏡、及びコンフォーカル画像の撮像方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2008152011A JP2008152011A (ja) 2008-07-03
JP5024864B2 true JP5024864B2 (ja) 2012-09-12

Family

ID=39654241

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006339836A Expired - Fee Related JP5024864B2 (ja) 2006-12-18 2006-12-18 コンフォーカル顕微鏡、及びコンフォーカル画像の撮像方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5024864B2 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101080382B1 (ko) 2009-09-15 2011-11-04 광주과학기술원 공초점 레이저 주사 현미경
JP5827064B2 (ja) * 2011-08-05 2015-12-02 株式会社日立ハイテクサイエンス 透過x線分析装置及び方法
JP6355961B2 (ja) * 2014-04-30 2018-07-11 オリンパス株式会社 標本観察装置
JP7145030B2 (ja) * 2018-10-16 2022-09-30 レーザーテック株式会社 測定方法及び測定装置
WO2020171173A1 (ja) * 2019-02-20 2020-08-27 ソニー株式会社 顕微鏡システム、焦点調整プログラム、および焦点調整システム
WO2020179068A1 (ja) * 2019-03-07 2020-09-10 株式会社ニコン 顕微鏡
CN111665227B (zh) * 2020-06-05 2023-02-03 哈工大机器人(中山)无人装备与人工智能研究院 基于虚拟调制成像的激光扫描显微成像方法、装置和系统

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0476512A (ja) * 1990-07-18 1992-03-11 Fuji Photo Film Co Ltd 走査型顕微鏡の撮像方法
JP2633718B2 (ja) * 1990-10-03 1997-07-23 株式会社東芝 形状認識装置
JP2989330B2 (ja) * 1991-07-17 1999-12-13 レーザーテック株式会社 顕微鏡観察装置
JP3376680B2 (ja) * 1994-03-15 2003-02-10 株式会社ニコン 顕微鏡装置
JP3628741B2 (ja) * 1995-02-13 2005-03-16 オリンパス株式会社 オートフォーカス顕微鏡
JPH1164735A (ja) * 1997-08-25 1999-03-05 Mitsui Mining & Smelting Co Ltd 顕微鏡
JP2002048978A (ja) * 2000-08-01 2002-02-15 Olympus Optical Co Ltd 対物レンズユニット、対物レンズユニットを有する光学装置及びその光学装置を用いた観察方法
JP3616999B2 (ja) * 2001-12-04 2005-02-02 レーザーテック株式会社 コンフォーカル顕微鏡
JP4635145B2 (ja) * 2004-03-17 2011-02-16 レーザーテック株式会社 コンフォーカル顕微鏡及び膜厚測定装置

Also Published As

Publication number Publication date
JP2008152011A (ja) 2008-07-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5601539B2 (ja) 3次元方向ドリフト制御装置および顕微鏡装置
JP5024864B2 (ja) コンフォーカル顕微鏡、及びコンフォーカル画像の撮像方法
US10007100B2 (en) Light sheet illumination microscope and light sheet illumination method
US20150177506A1 (en) Microscope device and microscope system
EP2993463B1 (en) Fluorescence imaging autofocus systems and methods
JP2010101959A (ja) 顕微鏡装置
JP2013113650A (ja) トレンチ深さ測定装置及びトレンチ深さ測定方法並びに共焦点顕微鏡
JPH10161195A (ja) オートフォーカス方法及びオートフォーカス装置
JP2007506146A (ja) 共焦点レーザ走査顕微鏡
JP2007212305A (ja) 微小高さ測定装置及び変位計ユニット
JP2012141233A (ja) 検出装置
JP2010014837A (ja) 光走査顕微鏡
JP4963567B2 (ja) 微小高さ測定装置
JP2008180851A (ja) 走査型顕微鏡
JP2004102032A (ja) 走査型共焦点顕微鏡装置
JP4635145B2 (ja) コンフォーカル顕微鏡及び膜厚測定装置
JP2018194634A (ja) ライトフィールド顕微鏡
JP4409390B2 (ja) 光走査型共焦点観察装置
JP5101867B2 (ja) 焦点検出装置
JP2007310202A (ja) 共焦点顕微鏡
JPH09297269A (ja) 走査型画像入力装置及び走査型プローブ顕微鏡
JP5268115B2 (ja) 膜厚測定装置、及び膜厚測定方法
JP2010181493A (ja) 顕微鏡のオートフォーカス装置
JP2013054102A (ja) 顕微鏡装置
KR100758837B1 (ko) 자동 초점조정이 가능한 현미경

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20091104

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110913

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20111108

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111228

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20120306

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120424

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120522

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120614

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150629

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 5024864

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees