JP5012782B2 - 撮像装置 - Google Patents

撮像装置 Download PDF

Info

Publication number
JP5012782B2
JP5012782B2 JP2008316452A JP2008316452A JP5012782B2 JP 5012782 B2 JP5012782 B2 JP 5012782B2 JP 2008316452 A JP2008316452 A JP 2008316452A JP 2008316452 A JP2008316452 A JP 2008316452A JP 5012782 B2 JP5012782 B2 JP 5012782B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pixels
transistor
floating diffusion
reset
potential
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2008316452A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2010141638A (ja
Inventor
宏明 石渡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
Priority to JP2008316452A priority Critical patent/JP5012782B2/ja
Priority to TW98134157A priority patent/TWI433307B/zh
Priority to EP20110006885 priority patent/EP2393117B1/en
Priority to EP13000767.7A priority patent/EP2595191B1/en
Priority to EP09013174.9A priority patent/EP2180514B1/en
Priority to KR20090099594A priority patent/KR20100044708A/ko
Priority to US12/603,059 priority patent/US8570412B2/en
Priority to CN2009102065832A priority patent/CN101729805B/zh
Publication of JP2010141638A publication Critical patent/JP2010141638A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5012782B2 publication Critical patent/JP5012782B2/ja
Priority to US14/031,317 priority patent/US9247172B2/en
Priority to US14/957,278 priority patent/US9781371B2/en
Priority to KR1020160021813A priority patent/KR20160030139A/ko
Priority to KR1020170054158A priority patent/KR101836039B1/ko
Priority to US15/690,572 priority patent/US10136092B2/en
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Landscapes

  • Solid State Image Pick-Up Elements (AREA)
  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Description

本発明は撮像装置に関し、特に、画素サイズを小さくしても、撮像特性の劣化を抑えることができるようにした撮像装置に関する。
近年、デジタルスチルカメラ、デジタルカムコーダ等、固体撮像装置を用いる装置が広く利用されつつある。さらに、携帯電話機等の携帯端末にも、カメラ機能を搭載した製品が一般化してきている。これらの用途には、低消費電力に有利なCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサ(CMOS Image Sensor;CIS)が、CCD(Charge Coupled Device)より用いられる傾向にある。
CISは、各画素に光電変換領域(PD)と、転送トランジスタ(TRF)を搭載している。一般には、この他に、フローティングディフュージョン(FD)、増幅トランジスタ(AMP)、リセットトランジスタ(RST)、選択トランジスタ(SEL)を搭載している。
携帯電話機への用途といえども、近年、より高精細な撮像要求があり、その要求に対応するために、画素サイズが2.5um、2.0um、1.75umと年々微細化し画素数を増やすことが実現されてきた。あるいは、携帯電話機の端末自体のサイズを小さくするために、カメラモジュールのサイズの縮小化要求がある。この要求に応えるため、画素サイズを縮小し、光学サイズを小さくすることで、カメラモジュールのサイズの縮小化を実現することができる。このような、画素の縮小への要求は常にある。
一方、画素サイズが小さくなると、入射光を電気信号に変換するフォトダイオードの面積が小さくなり、感度、飽和信号量等が低下し、撮像特性が劣化する。このような劣化を防ぐために、複数の画素で、フローティングディフュージョン、増幅トランジスタ、リセットトランジスタ、選択トランジスタを共有することが提案されている。共有することで、1画素当たりのトランジスタ数が少なくなり、フォトダイオードの面積の拡大を図ることができると提案されている。
例えば、特許文献1では、縦2画素×横2画素の4画素でフローティングディフュージョンを共有し、フォトダイオードの面積を増やすことが提案されている。また、特許文献2では、リセットトランジスタのドレイン電位と、増幅トランジスタのドレイン電位を個別に設定することが提案されている。
図1は、特許文献2に記載されている撮像装置の一例の構成を示す図である。図1に示した撮像装置は、2つの画素部PD1とPD2で形成されている。画素部PD1は、光電変換機能を有するフォトダイオード1、フォトダイオード1に蓄積された光キャリアをフローティングディフュージョンに伝達する転送トランジスタ2、およびフローティングディフュージョンの電位をリセットするためのリセットトランジスタ3を含む。
画素部PD2は、光電変換機能を有するフォトダイオード4、フォトダイオード4に蓄積された光キャリアをフローティングディフュージョンに伝達する転送トランジスタ5、およびフローティングディフュージョンに伝達された信号を増幅して出力する増幅トランジスタ6を含む。
画素部PD1およびPD2は、フローティングディフュージョンにより互いに電気的に結合されている。フォトダイオード1と転送トランジスタ2とは、固定電位GNDとフローティングディフュージョンとの間に直列に接続されている。転送トランジスタ2のゲートは、制御信号TX1が入力される制御端子7と電気的に接続されている。リセットトランジスタ3は、フローティングディフュージョンFDと制御電位Vref1が与えられる制御端子9との間に配置され、そのゲートは制御信号リセットトランジスタRSTが入力される制御端子8と電気的に接続されている。
フォトダイオード4と転送トランジスタ5とは、固定電位GNDとフローティングディフュージョンとの間に直列に接続されている。転送トランジスタ5のゲートは、制御信号TX2が入力される制御端子10と電気的に接続されている。増幅トランジスタ6は、制御電位Vref2が与えられる制御端子11と、増幅信号を出力する出力端子12との間に配置され、そのゲートはフローティングディフュージョンFDと電気的に接続されている。
特開2007-201863号公報 特開2005-268537号公報
特許文献1では、4画素でフローティングディフュージョンを共有することが提案されているが、そのような4画素を並べて配置することで撮像装置を構成しても、レイアウトとして大きくなってしまう可能性がある。また、小型化ができても、撮像特性が劣化してしまう可能性があった。すなわち、撮像特性を劣化させない良好な状態で、小型化を実現するのは困難である。
特許文献2では、2画素のそれぞれの画素領域に、リセットトランジスタと増幅トランジスタが別々に配置されている。換言すれば、特許文献2では、リセットトランジスタや増幅トランジスタは、画素で共有されていても、配線されることで接続されているため、その配線のための配線数が増加してしまい、結果として、小型化できない可能性がある。
本発明は、このような状況に鑑みてなされたものであり、画素サイズを小さくしても、撮像特性の劣化を抑えることができるようにするものである。
本発明の一側面の撮像装置は、縦2画素×横2画素で構成される4画素の中心に、フローティングディフュージョン領域を設け、前記フローティングディフュージョンの4方向に、前記画素をそれぞれ構成する転送トランジスタを配置することで、前記フローティングディフュージョンを前記転送トランジスタで囲み、前記フローティングディフュージョン、増幅トランジスタ、リセットトランジスタを前記4画素で共有し、前記4画素を1単位とし、縦方向に配置した2単位を基本構成単位とし、前記基本構成単位を構成する8画素の内、縦方向に配置された4画素とほぼ平行であり、前記基本構成単位を構成する8画素の両側にそれぞれ信号出力線を配置し、前記8画素のうち、上部に配置され、前記1単位を構成する縦2画素×横2画素で構成される4画素で共有される前記増幅トランジスタが一方の前記信号出力線に信号を出力し、前記上部の下側に、前記リセットトランジスタのトランジスタ行を配置し、前記8画素のうち、下部に配置され、前記1単位を構成する縦2画素×横2画素で構成される4画素で共有される前記増幅トランジスタが他方の前記信号出力線に信号を出力し、前記下部の下側に、前記増幅トランジスタのトランジスタ行を配置する
リセットトランジスタのドレイン電極と、前記増幅トランジスタのドレイン電極は、別々に配置されるようにすることができる。
前記リセットトランジスタのドレイン電極にパルスを加え、増幅トランジスタのドレイン電極には定電位を加えるようにすることができる。
リセットトランジスタのドレイン電極のHigh電位が、増幅トランジスタのドレイン電位より高いようにすることができる。
前記8画素のうち、上部に配置された4画素のリセットトランジスタのドレイン部と下部に配置された4画素のリセットトランジスタのドレイン部を同じ拡散層で結合するようにすることができる。
本発明の一側面の撮像装置においては、縦2画素×横2画素で構成される4画素の中心に、フローティングディフュージョン領域を、転送トランジスタで囲む構成とされる。また、フローティングディフュージョン、増幅トランジスタ、リセットトランジスタは、4画素で共有される。また、4画素が1単位とされ、縦方向に配置された2単位が基本構成単位とされ、基本構成単位を構成する8画素の内、縦方向に配置された4画素とほぼ平行であり、基本構成単位を構成する8画素の両側にそれぞれ信号出力線が配置され、8画素のうち、上部に配置され、1単位を構成する縦2画素×横2画素で構成される4画素で共有される増幅トランジスタが一方の信号出力線に信号を出力し、上部の下側には、リセットトランジスタのトランジスタ行が配置され、8画素のうち、下部に配置され、1単位を構成する縦2画素×横2画素で構成される4画素で共有される増幅トランジスタが他方の信号出力線に信号を出力し、下部の下側には、増幅トランジスタのトランジスタ行が配置される
本発明の一側面によれば、画素サイズを小さくしても、撮像特性の劣化を抑えることができるようになる。
以下に、本発明の実施の形態について図面を参照して説明する。
以下に説明する実施の形態は、例えば、デジタルビデオカメラやデジタルスチルカメラといった撮像素子を有する装置に適用できる。さらに、以下に説明する撮像装置は、小型化でき、かつ、小型化しても、撮像特性の劣化を防ぐことができるので、携帯端末、例えば、携帯電話機に備えられるカメラに適用することもできる。
本発明を適用した撮像装置は、このように、小型化できることを1つの特徴とする。まず、撮像装置を小型化するときに考慮すべき点を列挙し、その考慮すべき点を考慮した具体的な構成を図2に示し説明する。
撮像装置は、低消費電力に有利なCMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)イメージセンサ(CMOS Image Sensor;CIS)が用いられることが多い。このCISは、各画素に光電変換領域(フォトダイオードPD)と、転送トランジスタTRFを搭載している。一般には、この他に、フローティングディフュージョンFD、増幅トランジスタAMP、リセットトランジスタRST、選択トランジスタSELを搭載している。
デジタルカメラなどに用いられる撮像装置の特性をはかる指針の一つとして、信号/雑音比(S/N)がある。撮像装置のS/N特性を良くするには、信号(S)を増やすか、雑音(N)を減らす必要がある。
信号(S)は、入射光量、量子効率(入射光を光電変換しフォトダイオードに導き信号電荷とする率)、および変換効率(1電子を電位に変換する割合)によって定まる。入射光量は、画素サイズに依存する。量子効率は、フォトダイオードPDの開口率(単位画素面積当たりのフォトダイオードPDの開口面積)に依存する。このような依存関係があるために、画素サイズが小さくなると、画素への入射光量が減少し、信号が減少してしまうということになる。
雑音(N)は、1/fノイズ、ショットノイズ、熱ノイズなどで構成される。ショットノイズは、入射光量に依存する為、入射光量が減少する微細画素での影響は大きくなる。1/fノイズは、トランジスタのゲート長(L)とゲート幅(W)に依存し、トランジスタサイズが小さくなると増大する傾向にある。
上記のように、画素サイズが縮小すると、物理的に1画素当たりの入射光量が減少し、信号(S)が減少する。また、入射光量に依存するショットノイズが増大し、雑音(N)が増大してしまう。また、単位画素に占めるトランジスタ領域が大きくなると、フォトダイオードPD開口率が減少し、量子効率の低下に伴い、信号(S)が減少してしまう。一方、トランジスタ領域が小さくなると、1/fノイズが増大し、雑音(N)が増大してしまう。
このように、撮像装置(撮像装置を構成する画素)の微細化は、S/N特性に関しては不利となる。物理量で決まる入射光量は改善できないため、量子効率と変換効率を改善するか、雑音を減らすかする必要がある。
信号(S)の改善の一つとして、フォトダイオードPDの開口率をあげ、量子効率を増大させる。フォトダイオードPDの開口には、隣接する画素で増幅トランジスタAMP、選択トランジスタSEL、リセットトランジスタRST、フローティングディフュージョンFDを共有する「画素共有」方式が有効である。
例えば、4トランジスタ構成のCISを考える。隣接する2画素で増幅トランジスタAMP、選択トランジスタSEL、リセットトランジスタRST、フローティングディフュージョンFDを共有し、各画素にフォトダイオードPDと転送トランジスタTRFを搭載する。このように構成すると、1画素当たり(1×2+3)/2=2.5トランジスタ領域で済み、フォトダイオードPDの開口に有利となる。
さらに、隣接する4画素で増幅トランジスタAMP、選択トランジスタSEL、リセットトランジスタRST、フローティングディフュージョンFDを共有し、各画素にフォトダイオードPDと転送トランジスタTRFを搭載する構成とする。このような構成とすると、1画素当たり(1×4+)/2=1.75トランジスタ領域で済み、フォトダイオードPDの開口に、より有利となる。
ここで、CISの画素構成を3トランジスタ型に変更し、隣接する4画素で増幅トランジスタAMP、リセットトランジスタRST、フローティングディフュージョンFDを共有し、各画素にフォトダイオードPDと転送トランジスタTRFを搭載する構成を考える。このような構成とすると、1画素当たり(1×4+2)=1.5トランジスタ領域で済む。すなわち、フォトダイオードPDの開口に、さらに有利な構成となる。
そこで、図2に示す撮像装置は、このようなことを考慮し、フォトダイオードPDの開口に有利で、信号(S)の増大に有利な構成である、3トランジスタ型のCISで、隣接する4画素で増幅トランジスタAMP、リセットトランジスタRST、フローティングディフュージョンFDを共有し、各画素にフォトダイオードPDと転送トランジスタTRFを搭載する構成とする。
さらに、信号(S)の改善の一つとして、変換効率の増大が必要である。これは、フローティングディフュージョンFD拡散容量の削減と配線容量の削減することで実現できる。上記した複数の画素で、トランジスタを共有することで、フォトダイオードPDの開口率は拡大できることは説明した。そのような「画素共有」が、縦4画素で共有するように構成すると、フローティングディフュージョンFDの拡散領域が、2乃至5カ所に分かれてしまうような構成となる。このような構成では、フローティングディフュージョンFDの拡散容量の増大を招くことになり、これらのフローティングディフュージョンFDを接続する配線の長さが増大し、配線容量が増大してしまう可能性がある。
そこで「画素共有」を行うのであっても、縦2画素×横2画素で構成される4画素でトランジスタを共有する構成とする。すなわち、そのような4画素の中心に、フローティングディフュージョンFDの領域を形成し、これを囲むように隣接4画素の転送トランジスタTRFが配置されるようにする。このような構成とすることで、フローティングディフュージョンFDの拡散領域を、これら4つの転送トランジスタTRFに隣接した部分(ドレイン側)と、リセットトランジスタRSTのソース側の2カ所で済ますことができる構成となり、拡散容量を削減できる構成とすることが可能となる。
さらに、これら2カ所の領域は、近い位置に配置することができるため、これらの領域を接続するための配線の長さを短くすることができる。よって、そのような構成における、配線容量を削減できる。縦2画素×横2画素で構成される4画素の中心に、フローティングディフュージョンFDの領域を形成し、これを囲むように隣接4画素の転送トランジスタTRFが配置される構成とすることで、フローティングディフュージョンFD拡散容量と配線容量を同時に削減することができ、変換効率を増大でき、信号(S)を改善できるようになる。
さらに、S/N比を維持(向上)するには、雑音(N)を減少させなければならない。雑音(N)のうち、1/fノイズを減少させるには、増幅トランジスタAMPのトランジスタサイズを大きくすることが有益な手段である。
CISの代表的な画素構成として、増幅トランジスタAMP、選択トランジスタSEL、リセットトランジスタRST、転送トランジスタTRF、フローティングディフュージョンFD、フォトダイオードPDで構成する4トランジスタ型と、選択トランジスタSELを搭載しない3トランジスタ型がある。
4トランジスタ型では、増幅トランジスタAMPと選択トランジスタSELが直列接続されている。この増幅トランジスタAMPと選択トランジスタSEL間の拡散領域、選択トランジスタSELのトランジスタ領域が、3トランジスタ型では不要になる。よって、3トランジスタ型を採用することで、これらの領域分だけ、画素ピッチの縮小に充当するか、増幅トランジスタAMPのトランジスタサイズの増大に充当することができる。そこで、この領域分を、増幅トランジスタAMPのトランジスタサイズの増大に充当するようにすれば、上記したように、雑音(N)を低減することが可能となる。
さらに撮像素子の特性の一つとして、飽和信号量(Qs)がある。撮像素子の特性である感度は、上記の信号(S)で定まるが、飽和信号量(Qs)が大きければ、撮像素子のダイナミックレン(DR)特性が向上する。ダイナミックレンジは、撮像素子の階調情報であり、ダイナミックレンジが狭いと、例えば、明るいところの階調がなくなり白くなってしまう、いわゆる「白飛び」状態が生じ、色情報が欠落してしまう。また、飽和信号量(Qs)が少ないと、光電変換したフォトン数が少なくなり、フォトン数で決まるショットノイズ成分の占める割合が増え、撮像特性が劣化する。
飽和信号量(Qs)を拡大する為に、フォトダイオードPDの開口率の増大も有効である。上記の「画素共有」を採用することで、1画素当たりのトランジスタ数を削減し、トランジスタ領域を低減することで、フォトダイオードPDの面積を拡大することができる。このようなことも考慮し、本実施の形態では、「画素共有」方式を採用したときの構成を後述する。
飽和信号量(Qs)は、フォトダイオードPDの面積と空乏電位で定まる。フォトダイオードPDの空乏電位が深くなると、フォトダイオードPDに蓄積できる電子数を増やすことはできるが、転送トランジスタTRFが十分にONしきれないと、残像という画素特性の劣化が生じる可能性がある。フォトダイオードPDからの電荷転送を考えた場合、転送トランジスタTRFに十分な電位勾配がついていないと、熱振動により転送トランジスタTRFからフォトダイオードPDへの電荷(数電子レベル)の逆流や取りこぼしが生じてしまう可能性がある。
このように、実際の電荷転送には、転送トランジスタTRFの電位だけでなく、フォトダイオードPDの電位からの横方向電界も寄与しており、フローティングディフュージョンFDのリセット電位を上げることは、転送に有利に働く。一方、常時電位を上げてしまうと、トランジスタ信頼性の点で不利となる。そのため、本発明においては、図4を参照して後述するように、転送動作期間の近傍のみ、リセットトランジスタRSTのドレイン電位を昇圧し、その他の期間はリセットトランジスタRSTのドレイン電位を下げることで、信頼性が劣化する時間が、昇圧無しで常時ONの場合と同様レベルに抑えることで、信頼性を保てる。
次に、図2、図3に、上記したことを考慮した撮像装置の一実施の形態の構成を示す。図2、図3に示した撮像装置50は、縦4画素×横2画素の8画素を基本構成単位とする撮像装置であり、図2と図3には、その基本構成単位の構成を示している。
画素51は、フォトダイオードPD61と転送トランジスタTRF71が接続されることで構成される。画素52は、フォトダイオードPD62と転送トランジスタTRF72が接続されることで構成される。画素53は、フォトダイオードPD63と転送トランジスタTRF73が接続されることで構成される。画素54は、フォトダイオードPD64と転送トランジスタTRF74が接続されることで構成される。これらの画素51乃至54は、撮像装置50の縦2画素×横2画素を構成する4画素を構成する。
同じく画素55は、フォトダイオードPD65と転送トランジスタTRF75が接続されることで構成される。画素56は、フォトダイオードPD66と転送トランジスタTRF76が接続されることで構成される。画素57は、フォトダイオードPD67と転送トランジスタTRF77が接続されることで構成される。画素58は、フォトダイオードPD68と転送トランジスタTRF78が接続されることで構成される。これらの画素55乃至58は、撮像装置50の縦2画素×横2画素を構成する4画素を構成する。
これらの画素51乃至58の8個の画素は、縦4画素×横2画素から構成される撮像装置50の基本構成単位を構成している。また撮像装置50は、縦2画素×横2画素で、増幅トランジスタAMP、フローティングディフュージョンFD、リセットトランジスタRSTを共有した構成とされている。
すなわち、例えば、画素51乃至画素54から構成される縦2画素×横2画素は、増幅トランジスタAMP81、フローティングディフュージョンFD91、およびリセットトランジスタRST101を共有している。また、画素55乃至画素58から構成される縦2画素×横2画素は、増幅トランジスタAMP82、フローティングディフュージョンFD92、およびリセットトランジスタRST102を共有している。また各画素は、転送トランジスタTRF71乃至78を有している。
このように、撮像装置50は、増幅トランジスタAMP、リセットトランジスタRST、転送トランジスタTRFの3つのトランジスタを有する3トランスジス型のCISである。上記したように、3トランジスタ型のCISであり、隣接する4画素で、増幅トランジスタAMPなどを共有する画素共有型のCISは、フォトダイオードPDの開口に有利で、信号(S)の増大に有利な構成である。さらに、3トランジスタ型は、上記したように、増幅トランジスタAMPをサイズを増大することができるため、雑音(N)を低減させることが可能な構成である。
図2、図3を参照するに、撮像装置50の基本構成単位は、縦2画素×横2画素の中心にフローティングディフュージョンFDを配置し、このフローティングディフュージョンFDを4方に配置した転送トランジスタTRFで囲む構成とされる。
すなわち、例えば、図3を参照するに画素51乃至画素54から構成される縦2画素×横2画素は、フローティングディフュージョンFD91が中心に配置されている。そして、そのフローティングディフュージョンFD91の4方、図3では、フローティングディフュージョンFD91の右上に転送トランジスタTRF71、フローティングディフュージョンFD91の左上に転送トランジスタTRF72、フローティングディフュージョンFD91の右下に転送トランジスタTRF73、フローティングディフュージョンFD91の左下に転送トランジスタTRF74が、それぞれ配置されている。
また同様に、図3を参照するに画素55乃至画素58から構成される縦2画素×横2画素は、フローティングディフュージョンFD92が中心に配置されている。そして、そのフローティングディフュージョンFD92の4方、図3では、フローティングディフュージョンFD92の右上に転送トランジスタTRF75、フローティングディフュージョンFD92の左上に転送トランジスタTRF76、フローティングディフュージョンFD92の右下に転送トランジスタTRF77、フローティングディフュージョンFD92の左下に転送トランジスタTRF78が、それぞれ配置されている。
このように、フローティングディフュージョンFDの4方が転送トランジスタTRFで囲まれている構成とすることで、実効的な接合面積・接合長を縮小することでき、接合容量の低減を図ることができる。
図2および図3に示したように、撮像装置50は、この2画素×横2画素の構成を縦方向に2つ配置された構成とされる。画素51乃至54からなる4画素共有単位を上部(U部と呼称)とし、画素55乃至58からなる4画素共有単位を下部(D部と呼称)とする。
このU部とD部の配置の仕方として、U部とD部のリセットトランジスタRSTのドレイン部を同じ拡散層で結合する。このように配置することで、2行毎に、増幅トランジスタAMPのトランジスタ行と、リセットトランジスタRSTのトランジスタ行が配置された構成とされる。
すなわち図3を参照するに、U部の上側には増幅トランジスタAMP81あるため、この部分は、増幅トランジスタAMPのトランジスタ行となる。U部の下側(D部の上側)には、リセットトランジスタRST101があるため、この部分は、リセットトランジスタRSTのトランジスタ行となる。D部の下側には増幅トランジスタAMP82あるため、この部分は、増幅トランジスタAMPのトランジスタ行となる。このように、増幅トランジスタAMPのトランジスタ行とリセットトランジスタRSTのトランジスタ行が、交互に配置される。
基本構成単位の8画素において、転送トランジスタTRFのゲート電極には、それぞれ別々の制御線(TRF1、TRF2、TRF3、TRF4、TRF5、TRF6、TRF7、TRF8)が接続されている。このようにすると、1画素当たりのトランジスタ数は、(1×4+2)/4=1.5となる。
このように、本発明を適用した撮像装置50は、例えば、フローティングディフュージョンFD91が4方の転送トランジスタTRF71乃至74で囲まれているため、実効的な接合面積・接合長を縮小することができ、P-N接合容量を低減することができる。その結果、変換効率を向上させ信号(S)の増大効果がある。
また、フローティングディフュージョンFD領域とリセットトランジスタRSTソース領域を空間的に近い位置に配置するため、これらの素子を接合する配線長を短くすることができ、その結果、変換効率を向上させ信号(S)を増大させる効果がある。また、撮像装置50は、各画素51乃至58からの信号出力線(垂直信号線)は、図に示したように2列で接合されているため、この構成からも配線長を短くすることができる。
このような構成とすることで、信号(S)を増大させることが可能となり、撮像装置50を小型化したとしても、撮像特性が劣化してしまうようなことを防ぐことが可能となる。
次に撮像装置50の動作について説明する。図4を参照し、RDN102(リセットドレイン電圧)を印加したときの動作について説明する。時刻t1において、リセットドレイン電極RDN102にパルスが印加されると、リセットトランジスタRST101がHighの状態となる。リセットドレイン電極RDN102は、パルス電位が印加されていないときには、例えば、0.6Vとされ、印加されたときには、Vdd(増幅トランジスタAMPのドレイン電位)とされる。
またリセットトランジスタRST101は、Highの状態のときには、Vddとされ、Lowのときには、−1ボルトまたは0ボルトとされる。またリセットトランジスタRST101のドレイン電極にパルスを加え、増幅トランジスタAMP81(82)のドレイン電極には定電位が加えられる。
リセットトランジスタRST101の閾値電位Vthを、フローティングディフュージョンFDの電位がハードリセットされるような電位に設定する場合、フローティングディフュージョンFDの電位は、リセットドレイン電極RDN102の電位か、リセットドレイン電極RDN102の電位からリセットトランジスタRST101のOFF時のカップリングをした電位に設定される。図4ではリセットドレイン電極RDN102の電位と同電位となった場合のパルス状態を記載している。
ここで、再度図2を参照するに、増幅トランジスタAMP81(増幅トランジスタAMP82)とリセットドレイン電極RDN102は、別配線とされているため、より正確には、リセットトランジスタRST101のリセットドレイン電極102と、増幅トランジスタAMP81(82)のドレイン電極は、別々に配置されているため、それぞれ別々に制御することが可能である。
そこで、リセットドレイン電極RDN102にパルスが印加されたときの電位を、Vddにするのではなく、Vddよりも高い電位になるように制御することも可能である。例えば、パルスが印加されたときのリセットドレイン電極RDN102の電位は、Vddよりも昇圧された(Vdd+0.3)ボルトといった電位にされるようにしてもよい。
同様に、リセットトランジスタRST101も、Highの状態のときには、Vddよりも昇圧された(Vdd+0.3)ボルトといった電位にされるようにしてもよい。さらに、リセットドレイン電極RDN102の電位が昇圧された場合、転送トランジスタTRF(例えば、転送トランジスタTRF71)の電位や、フローティングディフュージョンFD(例えば、フローティングディフュージョンFD91)の電位も、その昇圧にあった電位、例えば、Vddよりも昇圧された(Vdd+0.3)ボルトになる。
このように、リセットトランジスタRST101のドレイン電位、すなわち、リセットドレイン電極RDN102の電位を、Vddよりも高電位で印加することで、フローティングディフュージョンFDの電位を、Vddよりも昇圧することが可能となる。そのため、フォトダイオードPDからの電荷転送に余裕ができ、残像の懸念をフォトダイオードPDの飽和電子量(Qs)を増大することができる。
また、図4に示すように、転送動作期間の近傍のみ、リセットトランジスタRSTのドレイン電位を昇圧し、その他の期間はリセットトランジスタRSTのドレイン電位を下げるように制御される。このことにより、上記したように、信頼性が劣化する時間が、昇圧無しで常時ONの場合と同様レベルに抑えることでき、信頼性を保てるようになる。
このように、リセットトランジスタRST101のドレイン電位(リセットドレイン電圧102)が制御されることで、飽和電子量(Qs)を増大することが可能となり、撮像素子のダイナミックレン(DR)特性を向上させることが可能となる。また、ダイナミックレン(DR)特性が向上することにより、いわゆる「白飛び」状態が生じ、色情報が欠落してしまうようなことを防ぐことが可能となる。さらに、飽和信号量(Qs)が増大させることが可能となることで、光電変換したフォトン数が多くなり、フォトン数で決まるショットノイズ成分の占める割合が減少させ、撮像特性が劣化するようなことを防ぐことが可能となる。
本発明を適用した撮像装置50は、図2や図3に示したように、各画素の転送トランジスタTRFは別々に駆動可能な構成とされている。そのため、各画素のトランジスタの駆動を工夫することが可能となる。工夫することで、各画素からの出力信号線を隣接2列毎に結合しても、出力線を排他的に利用することできるようになる。そして、そのような利用が可能となることで、出力信号線に接続する回路(例えば、カラムADC等)を2列毎の配置ですませることができるようになる。そして、そのような配置ですむようになることで、回路規模の縮小が可能となり、チップダイ面積を縮小することでき、理収を上げ製造コスト削減効果を期待することが可能となる。
さらには、各画素の転送トランジスタTRFが別々に駆動可能となることで、各画素からの出力信号線に接続する回路(例えば、カラムADC等)を各列に配置し、同時読み出しが可能なパルスを入力することができる。そのために、高速読み出し(高フレームレート)への対応や、多画素化での読み出し動作に対応できる撮像装置50を構成することが可能となる。さらには、信号パルスの工夫で、高速読み出しにも対応可能となる。
なお、本発明の実施の形態は、上述した実施の形態に限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲において種々の変更が可能である。
従来の撮像装置の一例の構成を示す図である。 本発明を適用した撮像装置の一実施の形態の構成を示す図である。 撮像装置の構成を示す図である。 撮像装置の電位の変化を示す図である。
符号の説明
50 撮像素子, 51乃至58 画素, 61乃至68 フォトダイオードPD, 71乃至78 転送トランジスタTRF, 81,82 増幅トランジスタAMP, 91,92 フローティングディフュージョンFD, 101 リセットトランジスタRST, 102 リセットドレイン電極RDN

Claims (5)

  1. 縦2画素×横2画素で構成される4画素の中心に、フローティングディフュージョン領域を設け、
    前記フローティングディフュージョンの4方向に、前記画素をそれぞれ構成する転送トランジスタを配置することで、前記フローティングディフュージョンを前記転送トランジスタで囲み、
    前記フローティングディフュージョン、増幅トランジスタ、リセットトランジスタを前記4画素で共有し、
    前記4画素を1単位とし、縦方向に配置した2単位を基本構成単位とし、
    前記基本構成単位を構成する8画素の内、縦方向に配置された4画素とほぼ平行であり、前記基本構成単位を構成する8画素の両側にそれぞれ信号出力線を配置し、
    前記8画素のうち、上部に配置され、前記1単位を構成する縦2画素×横2画素で構成される4画素で共有される前記増幅トランジスタが一方の前記信号出力線に信号を出力し、前記上部の下側に、前記リセットトランジスタのトランジスタ行を配置し、
    前記8画素のうち、下部に配置され、前記1単位を構成する縦2画素×横2画素で構成される4画素で共有される前記増幅トランジスタが他方の前記信号出力線に信号を出力し、前記下部の下側に、前記増幅トランジスタのトランジスタ行を配置する
    撮像装置。
  2. 前記リセットトランジスタのドレイン電極と、前記増幅トランジスタのドレイン電極は、別々に配置される
    請求項1に記載の撮像装置。
  3. 前記リセットトランジスタのドレイン電極にパルスを加え、前記増幅トランジスタのドレイン電極には定電位を加える
    請求項1に記載の撮像装置。
  4. 前記リセットトランジスタのドレイン電極のHigh電位が、前記増幅トランジスタのドレイン電位より高い
    請求項1に記載の撮像装置。
  5. 前記8画素のうち、前記上部に配置された4画素のリセットトランジスタのドレイン部と前記下部に配置された4画素のリセットトランジスタのドレイン部を同じ拡散層で結合する
    請求項1に記載の撮像装置。
JP2008316452A 2008-10-22 2008-12-12 撮像装置 Expired - Fee Related JP5012782B2 (ja)

Priority Applications (13)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008316452A JP5012782B2 (ja) 2008-12-12 2008-12-12 撮像装置
TW98134157A TWI433307B (zh) 2008-10-22 2009-10-08 固態影像感測器、其驅動方法、成像裝置及電子器件
EP20110006885 EP2393117B1 (en) 2008-10-22 2009-10-19 Solid state image sensor, imaging apparatus, and electronic device
EP13000767.7A EP2595191B1 (en) 2008-10-22 2009-10-19 Solid state image sensor, method for driving a solid state image sensor, imaging apparatus, and electronic device
EP09013174.9A EP2180514B1 (en) 2008-10-22 2009-10-19 Solid state image sensor, method for driving a solid state image sensor and imaging apparatus
KR20090099594A KR20100044708A (ko) 2008-10-22 2009-10-20 고체 촬상 센서, 고체 촬상 센서의 구동 방법, 촬상 장치 및 전자 기기
US12/603,059 US8570412B2 (en) 2008-10-22 2009-10-21 Solid state image sensor, method for driving a solid state image sensor, imaging apparatus, and electronic device
CN2009102065832A CN101729805B (zh) 2008-10-22 2009-10-22 固态图像传感器及其驱动方法、成像设备和电子装置
US14/031,317 US9247172B2 (en) 2008-10-22 2013-09-19 Solid state image sensor, method for driving a solid state image sensor, imaging apparatus, and electronic device
US14/957,278 US9781371B2 (en) 2008-10-22 2015-12-02 Solid state image sensor, method for driving a solid state image sensor, imaging apparatus, and electronic device
KR1020160021813A KR20160030139A (ko) 2008-10-22 2016-02-24 고체 촬상 센서, 고체 촬상 센서의 구동 방법, 촬상 장치 및 전자 기기
KR1020170054158A KR101836039B1 (ko) 2008-10-22 2017-04-27 고체 촬상 센서, 고체 촬상 센서의 구동 방법, 촬상 장치 및 전자 기기
US15/690,572 US10136092B2 (en) 2008-10-22 2017-08-30 Solid state image sensor, method for driving a solid state image sensor, imaging apparatus, and electronic device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2008316452A JP5012782B2 (ja) 2008-12-12 2008-12-12 撮像装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2010141638A JP2010141638A (ja) 2010-06-24
JP5012782B2 true JP5012782B2 (ja) 2012-08-29

Family

ID=42351365

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2008316452A Expired - Fee Related JP5012782B2 (ja) 2008-10-22 2008-12-12 撮像装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP5012782B2 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5763474B2 (ja) * 2010-08-27 2015-08-12 株式会社半導体エネルギー研究所 光センサ
JP6081694B2 (ja) * 2010-10-07 2017-02-15 株式会社半導体エネルギー研究所 光検出装置
JP5377549B2 (ja) 2011-03-03 2013-12-25 株式会社東芝 固体撮像装置
KR101715141B1 (ko) 2011-11-15 2017-03-13 삼성전자주식회사 깊이 센서의 픽셀 및 상기 픽셀을 포함하는 이미지 센서
CN104160295B (zh) * 2012-03-09 2017-09-15 株式会社半导体能源研究所 半导体装置的驱动方法
US9541386B2 (en) * 2012-03-21 2017-01-10 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Distance measurement device and distance measurement system
JP2015012303A (ja) 2013-06-26 2015-01-19 ソニー株式会社 固体撮像装置および電子機器

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3466886B2 (ja) * 1997-10-06 2003-11-17 キヤノン株式会社 固体撮像装置
JP3854720B2 (ja) * 1998-05-20 2006-12-06 キヤノン株式会社 撮像装置及びそれを用いた撮像システム
US6657665B1 (en) * 1998-12-31 2003-12-02 Eastman Kodak Company Active Pixel Sensor with wired floating diffusions and shared amplifier
JP4248256B2 (ja) * 2003-01-07 2009-04-02 パナソニック株式会社 固体撮像装置
KR100598015B1 (ko) * 2005-02-07 2006-07-06 삼성전자주식회사 공유 구조 상보성 금속 산화막 반도체 액티브 픽셀 센서어레이의 레이 아웃
JP4851164B2 (ja) * 2005-10-31 2012-01-11 シャープ株式会社 増幅型固体撮像装置
JP4777772B2 (ja) * 2005-12-28 2011-09-21 富士通セミコンダクター株式会社 半導体撮像装置
JP5104036B2 (ja) * 2007-05-24 2012-12-19 ソニー株式会社 固体撮像素子とその製造方法及び撮像装置
JP5292787B2 (ja) * 2007-11-30 2013-09-18 ソニー株式会社 固体撮像装置及びカメラ

Also Published As

Publication number Publication date
JP2010141638A (ja) 2010-06-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US10136092B2 (en) Solid state image sensor, method for driving a solid state image sensor, imaging apparatus, and electronic device
JP4455435B2 (ja) 固体撮像装置及び同固体撮像装置を用いたカメラ
US10818707B2 (en) Solid-state imaging device
US20110001861A1 (en) Solid-state imaging device
WO2015194390A1 (ja) 固体撮像装置および電子機器
JP5012782B2 (ja) 撮像装置
JP2010016056A (ja) 光電変換装置
KR20150002593A (ko) 고체 촬상 장치 및 전자 기기
JP4844032B2 (ja) 撮像装置
JP2009026984A (ja) 固体撮像素子
US7859032B2 (en) Solid-state imaging device and method for driving the same
JP4604751B2 (ja) 固体撮像素子
JP4746962B2 (ja) 固体撮像装置及び撮像システム
US20100002121A1 (en) Solid-state imaging device and electronic apparatus
JP4720402B2 (ja) 固体撮像装置
JP7115067B2 (ja) 固体撮像素子及び撮像システム
JP2010063056A (ja) 固体撮像装置、固体撮像装置の駆動方法および撮像装置
JP2010050710A (ja) 固体撮像素子

Legal Events

Date Code Title Description
A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20100824

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100826

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20101015

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110607

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20110801

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20110825

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20111024

A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 20111117

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20120213

A911 Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A911

Effective date: 20120224

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120508

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120521

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150615

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150615

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees