JP4977101B2 - 積層型半導体装置 - Google Patents
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 8
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 claims description 303
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 80
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 28
- 230000008054 signal transmission Effects 0.000 description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 4
- 125000006850 spacer group Chemical group 0.000 description 3
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000005674 electromagnetic induction Effects 0.000 description 2
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000009467 reduction Effects 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
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- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32135—Disposition the layer connector connecting between different semiconductor or solid-state bodies, i.e. chip-to-chip
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- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
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- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
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- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
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- H01L2224/491—Disposition
- H01L2224/4912—Layout
- H01L2224/49175—Parallel arrangements
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- H01L2225/03—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00
- H01L2225/04—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers
- H01L2225/065—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
- H01L2225/06503—Stacked arrangements of devices
- H01L2225/06513—Bump or bump-like direct electrical connections between devices, e.g. flip-chip connection, solder bumps
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- H01L2225/065—All the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/648 and H10K99/00 the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L27/00
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- H01L24/49—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of a plurality of wire connectors
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Description
プと、前記第一のインダクティブチップ上に積み重ねられ、前記第一の機能とは異なる第
二の機能を有する第二のインダクティブチップと、前記第二のインダクティブチップ上に
積み重ねられ、前記第二の機能を有する第三のインダクティブチップとを備え、前記第一
、第二及び第三のインダクティブチップは、それぞれ、複数の送信インダクタ及び複数の
受信インダクタを有し、前記複数の送信インダクタ及び前記複数の受信インダクタは、対
称軸に対して線対称に配置され、前記第一、第二及び第三のインダクティブチップの前記
対称軸は、一致し、前記第一のインダクティブチップは、前記第二及び第三のインダクテ
ィブチップを制御する制御チップであり、前記第二及び第三のインダクティブチップは、
メモリチップであり、前記第一のインダクティブチップは、第1の領域に前記複数の送信
インダクタを設け、前記第一の領域と異なる第二の領域に同数の前記複数の送信インダク
タ及び前記複数の受信インダクタを混載して設け、前記第二及び第三のインダクティブチ
ップは、第三の領域に前記複数の受信インダクタを設け、前記第三の領域と異なる第四の
領域に同数の前記複数の送信インダクタ及び前記複数の受信インダクタを混載して設け、
前記第一の領域の前記複数の送信インダクタと前記第三の領域の前記複数の受信インダク
タのレイアウトは一致し、前記第二の領域と前記第四の領域の前記複数の送信インダクタ
及び前記複数の受信インダクタはそれぞれ同一のレイアウトに配置され、前記第二及び第
三のインダクティブチップは、前記第一のインダクティブチップに対して、表裏逆向き、
又は、上下逆向きに配置される。
ップと、前記第一のインダクティブチップ上に積み重ねられ、前記第一の機能とは異なる
第二の機能を有する第二のインダクティブチップと、前記第二のインダクティブチップ上
に積み重ねられ、前記第二の機能を有する第三のインダクティブチップとを備え、前記第
一、第二及び第三のインダクティブチップは、それぞれ、複数の送信インダクタ及び複数
の受信インダクタを有し、前記複数の送信インダクタ及び前記複数の受信インダクタは、
対称軸に対して線対称に配置され、前記第一、第二及び第三のインダクティブチップの前
記対称軸は、一致し、前記第一のインダクティブチップは、前記第二及び第三のインダク
ティブチップを制御する制御チップであり、前記第二及び第三のインダクティブチップは
、メモリチップであり、前記第一のインダクティブチップは、第1の領域に前記複数の送
信インダクタを設け、前記第一の領域と異なる第二の領域に同数の前記複数の送信インダ
クタ及び前記複数の受信インダクタを混載して設け、前記第二及び第三のインダクティブ
チップは、第三の領域に前記複数の受信インダクタを設け、前記第三の領域と異なる第四
の領域に同数の前記複数の送信インダクタ及び前記複数の受信インダクタを混載して設け
、前記第一の領域の前記複数の送信インダクタと前記第三の領域の前記複数の受信インダ
クタのレイアウトは一致し、前記第二の領域と前記第四の領域の前記複数の送信インダク
タ及び前記複数の受信インダクタはそれぞれ同一のレイアウトに配置され、前記第二のイ
ンダクティブチップは、前記第一及び第三のインダクティブチップに対して、表裏逆向き
、又は、上下逆向きに配置される。
インダクティブチップリンクを実用化するにあたっては、汎用制御チップ(汎用ロジックチップ)及び汎用メモリチップの構成を大きく変更しない、ということが低コスト化のために必要である。そのためには、これらチップに搭載する複数の送信/受信インダクタを同一にレイアウトすることが有効になる。
まず、本発明の前提となるインダクティブチップリンクについて説明する。
パッケージ11内には、異なる機能を有する二つのチップ12,13が搭載される。パッケージ11は、例えば、BGA(Ball Grid Array)パッケージである。
(1) 第一の実施形態
図2は、第一の実施形態に係わるインダクティブチップリンクを示している。
図6乃至図8は、第二の実施形態に係わるインダクティブチップリンクを示している。
第二の実施形態では、インダクティブチップL1を制御チップ(ロジックチップ)とし、インダクティブチップM1〜M4をメモリチップとする。
図9は、第三の実施形態に係わるインダクティブチップリンクを示している。
図13乃至図15は、第四の実施形態に係わるインダクティブチップリンクを示している。
第四の実施形態では、インダクティブチップL1を制御チップ(ロジックチップ)とし、インダクティブチップM1〜M4をメモリチップとする。
第五の実施形態は、上述の第一乃至第四の実施形態における送信/受信インダクタの対称軸の位置に関する。
第六の実施形態は、上述の第一乃至第四の実施形態のインダクティブチップリンクにおいて、チップイネーブル信号を送受信するための技術を提案する。
上述の第一乃至第六の実施形態の共通の特徴は、インダクティブチップを回転させてその向きを表裏逆向き又は上下逆向きとしていることにある。この場合、インダクティブチップごとにアドレスマップを変更する。この変更は、本発明に係わる送信/受信インダクタを利用した制御信号の送受信とチップIDとに基づいて行われる。
本発明は、三つ以上のチップからなるインダクティブチップリンクに有効である。
本発明によれば、インダクティブチップリンクの汎用性と製造コストの低減とを図ることが可能になる。
Claims (4)
- 第一の機能を有する第一のインダクティブチップと、前記第一のインダクティブチップ上
に積み重ねられ、前記第一の機能とは異なる第二の機能を有する第二のインダクティブチ
ップと、前記第二のインダクティブチップ上に積み重ねられ、前記第二の機能を有する第
三のインダクティブチップとを具備し、
前記第一、第二及び第三のインダクティブチップは、それぞれ、複数の送信インダクタ
及び複数の受信インダクタを有し、前記複数の送信インダクタ及び前記複数の受信インダ
クタは、対称軸に対して線対称に配置され、
前記第一、第二及び第三のインダクティブチップの前記対称軸は、一致し、
前記第一のインダクティブチップは、前記第二及び第三のインダクティブチップを制御
する制御チップであり、前記第二及び第三のインダクティブチップは、メモリチップであ
り、
前記第一のインダクティブチップは、第1の領域に前記複数の送信インダクタを設け、
前記第一の領域と異なる第二の領域に同数の前記複数の送信インダクタ及び前記複数の受
信インダクタを混載して設け、
前記第二及び第三のインダクティブチップは、第三の領域に前記複数の受信インダクタ
を設け、前記第三の領域と異なる第四の領域に同数の前記複数の送信インダクタ及び前記
複数の受信インダクタを混載して設け、
前記第一の領域の前記複数の送信インダクタと前記第三の領域の前記複数の受信インダ
クタのレイアウトは一致し、前記第二の領域と前記第四の領域の前記複数の送信インダク
タ及び前記複数の受信インダクタはそれぞれ同一のレイアウトに配置され、
前記第二及び第三のインダクティブチップは、前記第一のインダクティブチップに対し
て、表裏逆向き、又は、上下逆向きに配置されることを特徴とする積層型半導体装置。 - 第一の機能を有する第一のインダクティブチップと、前記第一のインダクティブチップ上
に積み重ねられ、前記第一の機能とは異なる第二の機能を有する第二のインダクティブチ
ップと、前記第二のインダクティブチップ上に積み重ねられ、前記第二の機能を有する第
三のインダクティブチップとを具備し、
前記第一、第二及び第三のインダクティブチップは、それぞれ、複数の送信インダクタ
及び複数の受信インダクタを有し、前記複数の送信インダクタ及び前記複数の受信インダ
クタは、対称軸に対して線対称に配置され、
前記第一、第二及び第三のインダクティブチップの前記対称軸は、一致し、
前記第一のインダクティブチップは、前記第二及び第三のインダクティブチップを制御
する制御チップであり、前記第二及び第三のインダクティブチップは、メモリチップであ
り、
前記第一のインダクティブチップは、第1の領域に前記複数の送信インダクタを設け、
前記第一の領域と異なる第二の領域に同数の前記複数の送信インダクタ及び前記複数の受
信インダクタを混載して設け、
前記第二及び第三のインダクティブチップは、第三の領域に前記複数の受信インダクタ
を設け、前記第三の領域と異なる第四の領域に同数の前記複数の送信インダクタ及び前記
複数の受信インダクタを混載して設け、
前記第一の領域の前記複数の送信インダクタと前記第三の領域の前記複数の受信インダ
クタのレイアウトは一致し、前記第二の領域と前記第四の領域の前記複数の送信インダク
タ及び前記複数の受信インダクタはそれぞれ同一のレイアウトに配置され、
前記第二のインダクティブチップは、前記第一及び第三のインダクティブチップに対し
て、表裏逆向き、又は、上下逆向きに配置されることを特徴とする積層型半導体装置。 - 第一の機能を有する第一のインダクティブチップと、前記第一のインダクティブチップ上
に積み重ねられ、前記第一の機能とは異なる第二の機能を有する第二のインダクティブチ
ップと、前記第二のインダクティブチップ上に積み重ねられ、前記第二の機能を有する第
三のインダクティブチップとを具備し、
前記第一、第二及び第三のインダクティブチップは、それぞれ、同一にレイアウトされ
た複数の送信インダクタ及び複数の受信インダクタを有し、前記複数の送信インダクタ及
び前記複数の受信インダクタは、対称軸に対して線対称に配置され、
前記第一、第二及び第三のインダクティブチップの前記対称軸は、一致し、
前記第二のインダクティブチップは、前記第一及び第三のインダクティブチップに対し
て、表裏逆向き、又は、上下逆向きに配置され、
前記第一のインダクティブチップは、点対称に配置される第一及び第二の送信インダク
タを有し、前記第二のインダクティブチップは、前記第一の送信インダクタから送信され
る第一のチップイネーブル信号を受信するための受信インダクタを有し、前記第三のイン
ダクティブチップは、前記第二の送信インダクタから送信される第二のチップイネーブル
信号を受信するための受信インダクタを有することを特徴とする積層型半導体装置。 - 前記第一のインダクティブチップは、前記第二及び第三のインダクティブチップを制御す
る制御チップであり、前記第二及び第三のインダクティブチップは、メモリチップである
ことを特徴とする請求項3に記載の積層型半導体装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008216823A JP4977101B2 (ja) | 2008-08-26 | 2008-08-26 | 積層型半導体装置 |
US12/546,806 US8232622B2 (en) | 2008-08-26 | 2009-08-25 | Stacked-chip device |
US13/419,100 US8338964B2 (en) | 2008-08-26 | 2012-03-13 | Stacked-chip device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2008216823A JP4977101B2 (ja) | 2008-08-26 | 2008-08-26 | 積層型半導体装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2010056140A JP2010056140A (ja) | 2010-03-11 |
JP4977101B2 true JP4977101B2 (ja) | 2012-07-18 |
Family
ID=41724055
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2008216823A Expired - Fee Related JP4977101B2 (ja) | 2008-08-26 | 2008-08-26 | 積層型半導体装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US8232622B2 (ja) |
JP (1) | JP4977101B2 (ja) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8399973B2 (en) | 2007-12-20 | 2013-03-19 | Mosaid Technologies Incorporated | Data storage and stackable configurations |
JP5160396B2 (ja) * | 2008-12-18 | 2013-03-13 | 株式会社日立製作所 | 半導体装置 |
JP5578797B2 (ja) * | 2009-03-13 | 2014-08-27 | ルネサスエレクトロニクス株式会社 | 半導体装置 |
KR101423133B1 (ko) | 2010-06-10 | 2014-07-28 | 에스티에스반도체통신 주식회사 | 무선 신호 전달 및 무선 전원 구동 기능을 갖는 반도체 패키지 |
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KR101843184B1 (ko) * | 2011-06-16 | 2018-03-29 | 삼성전기주식회사 | 적층형 칩 소자 및 그 제조방법 |
JP2015069658A (ja) * | 2013-09-26 | 2015-04-13 | 富士通株式会社 | メモリ |
US10304806B2 (en) | 2015-07-16 | 2019-05-28 | Pezy Computing K.K. | Semiconductor device |
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-
2008
- 2008-08-26 JP JP2008216823A patent/JP4977101B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-08-25 US US12/546,806 patent/US8232622B2/en active Active
-
2012
- 2012-03-13 US US13/419,100 patent/US8338964B2/en active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2010056140A (ja) | 2010-03-11 |
US8338964B2 (en) | 2012-12-25 |
US8232622B2 (en) | 2012-07-31 |
US20120168966A1 (en) | 2012-07-05 |
US20100052096A1 (en) | 2010-03-04 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20100802 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20101126 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20101207 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20110207 |
|
A02 | Decision of refusal |
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|
A521 | Request for written amendment filed |
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|
A911 | Transfer to examiner for re-examination before appeal (zenchi) |
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|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
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|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |