JP4970545B2 - アクティブマトリクス基板、液晶パネル、液晶表示ユニット、液晶表示装置、テレビジョン受像機、および、アクティブマトリクス基板の製造方法 - Google Patents

アクティブマトリクス基板、液晶パネル、液晶表示ユニット、液晶表示装置、テレビジョン受像機、および、アクティブマトリクス基板の製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4970545B2
JP4970545B2 JP2009533077A JP2009533077A JP4970545B2 JP 4970545 B2 JP4970545 B2 JP 4970545B2 JP 2009533077 A JP2009533077 A JP 2009533077A JP 2009533077 A JP2009533077 A JP 2009533077A JP 4970545 B2 JP4970545 B2 JP 4970545B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
storage capacitor
region
wiring
electrode
active matrix
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2009533077A
Other languages
English (en)
Other versions
JPWO2009037892A1 (ja
Inventor
英俊 中川
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP2009533077A priority Critical patent/JP4970545B2/ja
Publication of JPWO2009037892A1 publication Critical patent/JPWO2009037892A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4970545B2 publication Critical patent/JP4970545B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136213Storage capacitors associated with the pixel electrode
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136259Repairing; Defects
    • G02F1/136268Switch defects
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2201/00Constructional arrangements not provided for in groups G02F1/00 - G02F7/00
    • G02F2201/40Arrangements for improving the aperture ratio

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Description

本発明は、トランジスタ素子、画素電極、走査信号線、データ信号線、および保持容量配線が基板上に形成されたアクティブマトリクス基板、液晶パネル、液晶表示ユニット、液晶表示装置、テレビジョン受像機、および、アクティブマトリクス基板の製造方法に関するものである。
液晶表示装置は、高精細、薄型、軽量および低消費電力等の優れた特長を有する平面表示装置である。近年、表示性能の向上、生産能力の向上および他の表示装置に対する価格競争力の向上に伴い、液晶表示装置の市場規模が急速に拡大している。
この液晶表示装置の駆動方式としては、アクティブマトリクス駆動方式が知られている。アクティブマトリクス駆動方式によって駆動される液晶表示装置は、図17に示すようなアクティブマトリクス基板100を備えている。アクティブマトリクス基板100には、交差配置された複数の走査信号線116および複数のデータ信号線115と、各信号線(115・116)の交点近傍に形成されたTFT112(Thin Film Transistor:薄膜トランジスタ)と、画素電極117とを備える。TFT112は、そのソース電極119がデータ信号線115に接続され、そのドレイン電極108がドレイン引き出し電極107を介して画素電極117に接続される。なお、走査信号線116は、TFT112のゲート電極を兼ねている。
ドレイン引き出し電極107と画素電極117との間に配される絶縁膜には穴が開けられており、これによってドレイン引き出し電極107と画素電極117とを接続するコンタクトホール110が形成されている。画素電極117はITO等の透明電極であり、アクティブマトリクス基板下からの光(バックライト光)を透過させる。
このアクティブマトリクス基板100においては、走査信号線116に送られる走査信号(ゲートON電圧)によってTFT112がON(ソース電極119とドレイン電極108とが導通状態)状態となり、この状態においてデータ信号線115に送られるデータ信号(信号電圧)が、ソース電極119、ドレイン電極108およびドレイン引き出し電極107を介して画素電極117に書き込まれる。なお、保持容量(Cs)配線118は、TFT112のオフ期間中における液晶層の自己放電を回避する等の機能を有する。
このようなアクティブマトリクス基板100の製造プロセスにおいては、異物や膜残り等によってTFT112のソース電極119とドレイン電極108との間で短絡(リーク)が生じることがある。このようなTFT不良が発生すると、画素電極117に正常な電圧(ドレイン電圧)が印加されなくなる。
ここで、例えば垂直配向方式(VA(Vertical Alignment)方式)の液晶表示装置の場合、基本的には、電圧無印加時に黒表示、電圧印加時に白表示となるノーマリブラック表示が行われる。この場合、上記のようなソース・ドレイン間の短絡が生じると、該当画素には常に電圧が印加されることになり、輝点としての画素欠陥が生じることになり、欠陥が目立つことになる。
このような画素欠陥を修復する修正工程として、次のような方法がある。すなわち、図17においてX1で示すように、TFT112においてソース電極119とドレイン電極108との間で短絡が生じた場合、まず、例えばX2に示す箇所においてドレイン引き出し電極107を切断する。これによって、画素電極117とTFT112とが電気的に切り離される。また、X3に示す箇所において、保持容量配線118とドレイン引き出し電極107とをメルトさせて短絡させる。これによって、画素電極117と保持容量配線118とが電気的に接続される。
以上の修正工程が行われると、欠陥が生じた画素の画素電極117には、保持容量配線118と同電位の電圧が印加されることになる。よって、ノーマリブラックモードの表示方式の場合には、該当画素を黒点にすることができ、輝点の場合よりも欠陥を目立たなくすることができる。
日本国公開特許公報「特開2000-347217号公報(2000年12月15日公開)」 日本国公開特許公報「特開2004-347891公報(2004年12月9日公開)」 日本国公開特許公報「特開2000-284320公報(2000年10月13日公開)」 国際公開番号WO 2006/064832 A1(2006年6月22日公開)
上記の従来の修正工程によれば、欠陥画素を黒点化することにより、輝点であるよりも欠陥を目立たなくしているが、昨今では表示画面の大型化に伴い、各画素の大きさが大型化しているので、黒点であっても欠陥画素が視認されるようになっている。すなわち、上記のような修正では、欠陥の修正としては不十分なものとなってきている。
本発明は、上記の問題点に鑑みてなされたものであり、その目的は、画素の開口率を低減することなく、欠陥を目立たなくすることができる修正を実現することができるアクティブマトリクス基板、液晶パネル、液晶表示ユニット、液晶表示装置、テレビジョン受像機、および、アクティブマトリクス基板の製造方法を提供することにある。
本発明に係るアクティブマトリクス基板は、上記課題を解決するために、トランジスタ素子、画素電極、走査信号線、データ信号線、および保持容量配線が基板上に形成されたアクティブマトリクス基板であって、上記保持容量配線に対して絶縁膜を介して対向して配置されることによって保持容量を形成する保持容量電極と、上記保持容量電極と上記画素電極とを接続する接続配線とを備え、上記保持容量配線に、上記基板の面に垂直な方向で該保持容量配線を貫通した開口部が形成されており、1つの保持容量配線に対して2つ以上の上記保持容量電極が配置されるとともに、上記開口部が、少なくとも2つの上記保持容量電極が配置される領域に対向する領域を含むように形成されている構成である。
上記の構成では、まず保持容量配線に開口部が形成されている。この開口部は、少なくとも2つの保持容量電極が配置される領域に対向する領域を含むように形成されている。このような構成であることによって、次のような修正工程を行うことが可能となる。まず、保持容量配線の領域のうち、開口部と保持容量配線の延伸方向に対する側面とで囲われる領域、または、複数の開口部が設けられる場合には該開口部で囲われる領域を、配線切断処理を行うことによって保持容量配線から電気的に分離し、分離領域を形成する。また、この分離領域と、該分離領域上に存在する少なくとも2つの保持容量電極とを短絡させる。このような修正工程が行われると、短絡させた保持容量電極同士を分離領域を介して電気的に接続することができる。
すなわち、開口部を利用することによって、保持容量配線の一部を保持容量配線自体から分離した分離領域を容易に作成することが可能であり、この分離領域を修正時に利用する配線として用いることが可能となる。よって、1つの保持容量電極に接続された画素電極に対する電圧印加が正常に行われなくなった欠陥が発生した場合などに、該画素電極と保持容量配線を電気的に接続する修正手法を用いずに、該画素電極と、該画素電極に隣接する画素電極とを電気的に接続する修正手法を実現することができる。これにより、欠陥画素の電位を、正常な隣接画素とほぼ同じ電位とすることが可能となるので、欠陥を目立たなくすることができる修正を行うことが可能となる。
また、上記のような修正を実現するための配線は、保持容量配線の一部を電気的に分離することによって容易に形成することができるので、予め冗長配線を基板上に設けておくなどの処理が不要となる。よって、画素の開口率を低減することなく、上記のような効果的な修正方法を実現することができるアクティブマトリクス基板を提供することができる。
また、本発明に係るアクティブマトリクス基板は、上記の構成において、上記基板に垂直な方向から見た場合の上記開口部が直線状のスリット形状となっており、その長手方向が保持容量配線の延伸方向に平行となっている構成としてもよい。
上記の構成によれば、開口部は、直線状のスリット形状であり、その長手方向が保持容量配線の延伸方向に平行となっているので、開口部を設けることによる保持容量配線の抵抗値の増大を低く抑えることができる。よって、大画面の液晶表示装置に対応するために保持容量配線が長くなり、画素数も多くなったとしても、開口部を設けることによる保持容量配線の抵抗値の増大、およびこれに起因する信号遅延の問題などの発生を抑えることができる。
また、本発明に係るアクティブマトリクス基板は、上記の構成において、少なくとも2つの上記保持容量電極が配置される領域に対向する領域には、1つの上記開口部が設けられている構成としてもよい。
上記の構成によれば、1つの開口部が、少なくとも2つの保持容量電極が配置される領域に対向する領域に形成されるので、形成すべき開口部の数を必要最小限にすることができる。よって、開口部を設けることによる保持容量配線の抵抗値の増大、およびこれに起因する信号遅延の問題などの発生を最小限に抑えることができる。
また、本発明に係るアクティブマトリクス基板は、上記の構成において、上記開口部が形成される位置が、上記保持容量配線の延伸方向に対する2つの側面である第1および第2の側面のうち、第1の側面に近いとともに、上記開口部が形成される領域に対向する領域を含む位置に形成された上記保持容量電極において、上記開口部が形成される領域に対向する領域から上記第1の側面側に存在する領域の面積よりも、上記開口部が形成される領域に対向する領域から上記第2の側面側に存在する領域の面積の方が広くなっている構成としてもよい。
上記の構成によれば、開口部が形成される位置が第1の側面に近くなっているので、上記の修正工程において、開口部と第1の側面とをつなぐように保持容量配線を切断することによって、上記の切断領域を形成するために必要とされる切断の長さをより短くすることができる。
また、保持容量電極において、開口部が形成される領域に対向する領域から第1の側面側に存在する領域の面積よりも、開口部が形成される領域に対向する領域から第2の側面側に存在する領域の面積の方が広くなっているので、上記の修正工程の後に、上記の切断領域に対向する保持容量電極の面積よりも、保持容量配線に対向する保持容量電極の面積を大きくすることができる。よって、上記の修正工程が行われる前後での保持容量の変化をより小さくすることができるので、修正工程後の他の信号配線からの影響をより小さくすることができる。
また、本発明に係るアクティブマトリクス基板は、上記の構成において、少なくとも2つの上記保持容量電極が配置される領域に対向する領域には、2つの上記開口部が設けられている構成としてもよい。
上記の構成によれば、2つの開口部が、少なくとも2つの保持容量電極が配置される領域に対向する領域に形成されるので、上記の修正工程を行う際には、これら2つの開口部同士をつなぐように保持容量配線を切断することによって上記の切断領域を形成することができる。
また、本発明に係るアクティブマトリクス基板は、上記の構成において、上記開口部が形成される領域に対向する領域を含む位置に、上記保持容量配線に対して絶縁膜を介して対向して配置される補助電極が、上記保持容量配線と電気的に接続された状態で設けられる構成としてもよい。
上記の構成によれば、開口部が形成される領域に対向する領域を含む位置に、保持容量配線に対して絶縁膜を介して対向して配置される補助電極が設けられている。この補助電極は、保持容量配線と電気的に接続されているので、正常時には何も効果を奏さない構成である。しかしながら、上記の修正工程によって形成される切断領域以外の部分で補助電極と保持容量配線とが電気的に接続されていれば、修正工程後に、切断領域と補助電極との間で保持容量を形成することが可能となる。よって、上記の修正工程が行われる前後での保持容量の変化をより小さくすることができるので、修正工程後の他の信号配線からの影響をより小さくすることができる。
また、本発明に係るアクティブマトリクス基板は、上記の構成において、複数の画素電極によって1つの画素が構成されている構成としてもよい。
上記の構成によれば、ある画素電極に対する電圧印加が正常に行われなくなった欠陥が発生した場合にも、その画素電極が構成する画素を構成する他の画素電極による正常な表示が行われるので、上記のような結果が生じた場合の表示状態への影響を小さくすることができる。
また、本発明に係るアクティブマトリクス基板は、上記の構成において、同じ上記開口部に対向する領域に配置される複数の上記保持容量電極がそれぞれ接続している画素電極が、同じ1つの画素を構成する画素電極である構成としてもよい。
上記の構成によれば、上記の修正工程を行った場合に、切断領域によって電気的に接続される保持容量電極は、同じ1つの画素を構成する画素電極に接続されている保持容量電極となる。よって、修正工程が行われた場合の画素の表示状態への影響を非常に小さくすることができる。
また、本発明に係るアクティブマトリクス基板は、上記の構成において、同じ上記開口部に対向する領域に配置される複数の上記保持容量電極がそれぞれ接続している画素電極が、互いに隣接する画素を構成する画素電極である構成としてもよい。
上記の構成によれば、上記の修正工程を行った場合に、切断領域によって電気的に接続される保持容量電極は、互いに隣接する画素を構成する画素電極に接続されている保持容量電極となる。隣接する画素同士は、表示すべき画像データの値に大きな違いは生じないことが多いので、欠陥としてほとんど視認できないレベルに修正することが可能となる。
また、本発明に係る液晶パネルは、上記アクティブマトリクス基板を備える構成とすることができる。
また、本発明に係る液晶表示ユニットは、上記液晶パネルとドライバとを備える構成とすることができる。
また、本発明に係る液晶表示装置は、上記液晶表示ユニットと照明装置とを備える構成とすることができる。
また、本発明に係るテレビジョン受像機は、上記液晶表示装置と、テレビジョン放送を受信するチューナ部とを備える構成とすることができる。
また、本発明に係るアクティブマトリクス基板の製造方法は、上記課題を解決するために、トランジスタ素子、画素電極、走査信号線、データ信号線、および保持容量配線が基板上に形成されたアクティブマトリクス基板であって、上記保持容量配線に対して絶縁膜を介して対向して配置されることによって保持容量を形成する保持容量電極と、上記保持容量電極と上記画素電極とを接続する接続配線とを備え、上記保持容量配線に、上記基板の面に垂直な方向で該保持容量配線を貫通した開口部が形成されており、1つの保持容量配線に対して2つ以上の上記保持容量電極が配置されるとともに、上記開口部が、少なくとも2つの上記保持容量電極が配置される領域に対向する領域を含むように形成されているアクティブマトリクス基板の製造方法であって、上記保持容量配線の領域のうち、上記開口部と上記保持容量配線の延伸方向に対する側面とで囲われる領域、または、複数の上記開口部同士で囲われる領域を、配線切断処理を行うことによって上記保持容量配線から電気的に分離し、分離領域を形成するステップと、上記分離領域と、該分離領域上に存在する少なくとも2つの保持容量電極とを短絡させるステップとを有する方法である。
上記の方法によれば、短絡させた保持容量電極同士を分離領域を介して電気的に接続することができる。よって、1つの保持容量電極に接続された画素電極に対する電圧印加が正常に行われなくなった欠陥が発生した場合などに、該画素電極と保持容量配線を電気的に接続する修正手法を用いずに、該画素電極と、該画素電極に隣接する画素電極とを電気的に接続する修正手法を実現することができる。これにより、欠陥画素の電位を、正常な隣接画素とほぼ同じ電位とすることが可能となるので、欠陥を目立たなくすることができる修正を行うことが可能となる。
また、本発明に係るアクティブマトリクス基板の製造方法は、上記の方法において、電圧印加が正常に行われなくなった欠陥が発生した上記画素電極と、上記トランジスタ素子とを電気的に接続する接続配線に対して、配線切断処理を行うステップをさらに有している方法としてもよい。
上記の方法によれば、欠陥が生じた画素電極と、該画素電極に接続されるトランジスタ素子とが電気的に切断される。これにより、トランジスタ素子における欠陥によって画素電極に対する電圧印加が正常に行われなくなった場合に、該トランジスタ素子から該画素電極に不要な電圧が印加されることを防止することが可能となる。
本発明の一実施形態に係るアクティブマトリクス基板の第1の構成例の一部を示す(透視)平面図である。 図1のB−B線における断面図である。 保持容量上部電極が形成されている領域、および、その近傍の保持容量配線の状態を示す平面図である。 本発明の一実施形態に係るアクティブマトリクス基板の第2の構成例の一部を示す(透視)平面図である。 保持容量上部電極が形成されている領域、および、その近傍の保持容量配線の状態を示す平面図である。 本発明の一実施形態に係るアクティブマトリクス基板の第3の構成例の一部を示す(透視)平面図である。 保持容量上部電極が形成されている領域、および、その近傍の保持容量配線の状態を示す平面図である。 (a)は、修正工程が行われる前の保持容量配線およびドレイン引き出し配線の状態の一例を示す平面図であり、(b)は、修正工程が行われた後の保持容量配線およびドレイン引き出し配線の状態の一例を示す平面図である。 (a)は、修正工程が行われる前の保持容量配線およびドレイン引き出し配線の状態の別の例を示す平面図であり、(b)は、修正工程が行われた後の保持容量配線およびドレイン引き出し配線の状態の別の例を示す平面図である。 (a)は、修正工程が行われる前の保持容量配線およびドレイン引き出し配線の状態のさらに別の例を示す平面図であり、(b)は、修正工程が行われた後の保持容量配線およびドレイン引き出し配線の状態のさらに別の例を示す平面図である。 (a)は、補助電極およびその周辺の構成を示す平面図であり、(b)は、補助電極およびその周辺の構成を示す断面図である。 (a)は、修正工程が行われる前の保持容量配線およびドレイン引き出し配線の状態のさらに別の例を示す平面図であり、(b)は、修正工程が行われた後の保持容量配線およびドレイン引き出し配線の状態のさらに別の例を示す平面図である。 (a)は、修正工程が行われる前の保持容量配線およびドレイン引き出し配線の状態のさらに別の例を示す平面図であり、(b)は、修正工程が行われた後の保持容量配線およびドレイン引き出し配線の状態のさらに別の例を示す平面図であり、(c)は、別の修正工程が行われた後の保持容量配線およびドレイン引き出し配線の状態のさらに別の例を示す平面図である。 テレビジョン受像機用の表示装置の構成を示すブロック図である。 チューナ部と表示装置との接続関係を示すブロック図である。 表示装置をテレビジョン受像機とするときの機械的構成の一例を示す分解斜視図である。 従来のアクティブマトリクス基板の構成例の一部を示す(透視)平面図である。
符号の説明
1 アクティブマトリクス基板
11 データ信号線
12・12A・12B 走査信号線
13 保持容量配線
14・14A・14B TFT
15A・15B ゲート電極
16・16A・16B ドレイン電極
17・17A・17B・17C ドレイン引き出し配線
18A・18B・18C 保持容量上部電極
19A・19B・19C コンタクトホール
21・21A・21B ソース電極
22 半導体層
23 層間絶縁膜
24 ゲート絶縁膜
25 基板
26 補助電極
27 コンタクトホール
31 画素電極
31A・31B 副画素電極
35A・35B コンタクトホール
80 Y/C分離回路
81 ビデオクロマ回路
82 A/Dコンバータ
83 液晶コントローラ
84 液晶パネル
85 バックライト駆動回路
86 バックライト
78 マイコン
88 階調回路
90 チューナ部
800 表示装置
801 第1筐体
801a 開口部
805 操作用回路
806 第2筐体
808 支持用部材
本発明の一実施形態について図面に基づいて説明すると以下の通りである。
(アクティブマトリクス基板の第1の構成例)
図1は、本実施形態に係るアクティブマトリクス基板の第1の構成例の一部を示す(透視)平面図である。同図に示すアクティブマトリクス基板1は、1つの画素に2つの副画素電極31A・31Bを備える画素分割(マルチ画素駆動)方式のものとなっている。本アクティブマトリクス基板1を用いて液晶パネルを構成した場合、副画素電極31Aとカラーフィルタ基板に形成される対向電極(共通電極)と両電極間の液晶層とによって第1の副画素容量が形成され、副画素電極31Bと上記対向電極と両電極間の液晶層とによって第2の副画素容量が形成されることになる。
なお、本実施形態では、液晶層が負の誘電異方性を有するネマティック液晶材料を含む垂直配向型液晶層であることを想定している。すなわち、アクティブマトリクス基板1の液晶層側の面、および、カラーフィルタ基板の液晶層側の面には、液晶を基板面に対して垂直に配向させる配向膜が設けられている。以上の構成により、本実施形態における液晶表示装置は、VA方式の液晶表示装置として機能することになる。すなわち、液晶層における液晶は、電圧が印加されていない状態で基板面に対してほぼ垂直となるように配向する。この状態では、液晶パネル部に入射した光の偏光面は液晶層中でほぼ回転されない。一方、電圧が印加されると、液晶は電圧値に応じて基板面に対して垂直となる方向から角度がついた状態で配向する。この状態では、液晶パネル部に入射した光の偏光面は液晶層中で回転される。よって、液晶表示装置の光入射側および光出射側に配置される2枚の偏光板が、その偏光軸が互いにクロスニコルの関係となるように配置されることによって、電圧無印加時に黒表示、電圧印加時に白表示となるノーマリブラック表示が実現される。また、副画素電極31Aと副画素電極31Bとによって、電圧印加時の液晶の配向方向がそれぞれ異なる領域が複数形成される。よって、各画素内に複数の領域を設定し、各領域における液晶の配向方向をそれぞれ異ならせるVA方式の液晶表示装置が実現されている。
なお、本発明は、上記のような垂直配向型の液晶表示装置に限定されるものではなく、液晶層が正の誘電異方性を有するネマティック液晶材料を含むツイスト配向型の液晶表示装置にも適用可能である。
アクティブマトリクス基板1は、互いに平行となるように配置された複数のデータ信号線11…、該データ信号線11…に直交する方向で互いに平行となるように配置された複数の走査信号線12A…・12B…、および、同じくデータ信号線11…に直交する方向で互いに平行となるように配置された複数の保持容量配線(CS配線)13…を備えている。同図に示す例では、データ信号線11…は列方向(上下方向)に延伸するように形成され、走査信号線12A…・12B…および保持容量配線13…は行方向(左右方向)に延伸するように形成される。
また、1つの画素は、隣り合う2本のデータ信号線11・11と、走査信号線12Aと、走査信号線12Bとで囲われた領域(画素領域)によって構成され、この画素領域内に、副画素電極31Aと副画素電極31Bとが互いに入り組んだ形状で形成されている。また、画素領域内の中心近傍を通過するように、保持容量配線13が設けられる。すなわち、走査信号線12A、保持容量配線13、および走査信号線12Bがこの順で互いに平行となるように配置され、この組み合わせが列方向に順次繰り返されている。
データ信号線11と走査信号線12Aとの交差部近傍にはTFT14Aが設けられ、データ信号線11と走査信号線12Bとの交差部近傍にはTFT14Bが設けられる。TFT14Aは、ゲート電極15A、ドレイン電極16A、およびソース電極を備えており、TFT14Bは、ゲート電極15B、ドレイン電極16B、およびソース電極を備えている。
ゲート電極15A・15Bは、走査信号線12A・12Bから引き出された部分によって構成されており、ソース電極は、データ信号線11の一部によって構成されている。ドレイン電極16A・16Bからは、画素領域内を通過して保持容量配線13が形成されている領域まで延伸するドレイン引き出し配線17A・17Bが形成されている。そして、ドレイン引き出し配線17A・17Bは、保持容量配線13と重なる部分に設けられる保持容量上部電極18A・18Bと接続されている。この保持容量上部電極18A・18Bと保持容量配線13との間で保持容量が形成される。
保持容量上部電極18A・18Bには、コンタクトホール19A・19Bが設けられており、コンタクトホール19Aを介して、保持容量上部電極18Aと副画素電極31Aとが電気的に接続され、コンタクトホール19Bを介して、保持容量上部電極18Bと副画素電極31Bとが電気的に接続される。
図2は、図1のB−B線における断面図を示している。同図に示すように、アクティブマトリクス基板1は、透光性を有する基板25上に、まず、ゲート電極15Aおよび保持容量配線13が形成され、その上層にゲート絶縁膜24が形成されている。ゲート電極15Aが形成されている領域において、ゲート絶縁膜24の上層には、半導体層22が形成され、さらにその上層にソース電極21およびドレイン電極16Aが形成される。これにより、TFT14Aが形成される。ソース電極21にはデータ信号線11が電気的に接続された状態で積層され、ドレイン電極16Aにはドレイン引き出し配線17Aが電気的に接続された状態で積層される。
保持容量配線13が形成されている領域において、ゲート絶縁膜24の上層には、保持容量上部電極18Aが形成される。この保持容量上部電極18Aと保持容量配線13との間で、上記したように保持容量が形成される。
そして、データ信号線11、TFT14A、ドレイン引き出し配線17A、および保持容量上部電極18Aの上層に、層間絶縁膜23が形成され、層間絶縁膜23上に副画素電極31Aが形成される。また、保持容量上部電極18A上には、副画素電極31Aと保持容量上部電極18Aとを電気的に接続するコンタクトホール19Aが、層間絶縁膜23を貫通するように形成されている。なお、図示はしていないが、副画素電極31Aは配向膜に覆われている。
また、図示はしていないが、これと同様の積層構造で、ゲート電極15B、ドレイン電極16B、TFT14B、ドレイン引き出し配線17B、保持容量上部電極18B、副画素電極31B、および、コンタクトホール19Bが形成されている。
上記の構成によれば、データ信号線11から副画素電極31Aと副画素電極31Bとに同じ信号電位が供給されるが、走査信号線12Aに印加されるゲート信号と、走査信号線12Bに印加されるゲート信号とで、そのON時間を異ならせることによって、副画素電極31Aによる表示状態と、副画素電極31Bによる表示状態とを異ならせることが可能となる。すなわち、1つの画素に、互いに異なる電圧印加状態となる領域を2つ形成することが可能となるので、中間調表示における視野角特性を良好にすることができる。
次に、保持容量配線13に形成されるスリットSLについて説明する。図3は、保持容量上部電極18A・18Bが形成されている領域、および、その近傍の保持容量配線13の状態を示す平面図である。同図に示すように、保持容量配線13には、該保持容量配線13の延伸方向に平行な方向を長手方向とするスリットSLが形成されている。
スリットSLは、保持容量配線13の厚み方向(積層方向、基板に垂直な方向)で該保持容量配線13を貫通した開口形状となっている。また、基板に垂直な方向から見た場合のスリットSLの開口形状は長方形であり、その長手方向が保持容量配線13の延伸方向に平行となっている。なお、基板に垂直な方向から見た場合のスリットSLの開口形状は、長方形に限らず、長方形の角部が斜めに欠けた形状や、丸みを帯びた形状となっていても構わない。
また、スリットSLは、基板に垂直な方向から見て、保持容量上部電極18Aおよびドレイン引き出し配線17Aの少なくともいずれか一方が形成されている領域、および、保持容量上部電極18Bおよびドレイン引き出し配線17Bの少なくともいずれか一方が形成されている領域の両方を含むように設けられている。
(第1の構成例における画素の修正方法)
以上の構成において、異物や膜残り等によってTFT14Aのソース電極とドレイン電極16Aとの間で短絡(リーク)が生じた場合を想定する。このようなTFT不良が発生すると、ゲートパルス信号の印加状態によらずに副画素電極31Aにデータ信号線11に印加されている電圧が常に印加されるようになり、液晶表示装置において画素欠陥となって現れる。このような欠陥が生じた場合の修正方法について以下に説明する。
修正工程としては、次の3つの工程が挙げられる。これらの3つの工程が行われる順番は特に限定されるものではなく、どの順番で行われても良い。
第1の工程は、短絡が生じたドレイン電極16Aと副画素電極31Aとの導通を遮断するために、ドレイン引き出し配線17Aの一部を切断する工程である。図3に示す例では、ドレイン引き出し配線17AのCP2で示される位置が切断される。なお、ドレイン引き出し配線17Aの切断位置は、ドレイン電極16Aと副画素電極31Aとの導通が遮断される位置であればどの位置であってもよい。すなわち、ドレイン電極16Aからコンタクトホール19Aが形成されている位置の間のどの位置が切断されてもよいことになる。
上記の電極の切断(破壊分離)は、アクティブマトリクス基板1の表面からレーザを照射することによって行われる。使用されるレーザ光は特に限定されないが、例えば、YAG(イットリウムアルミニウムガーネット)レーザを用いることができ、使用する波長としてはYAGレーザの第4高調波(波長266nm)等が挙げられる。
第2の工程は、保持容量配線13の領域のうち、スリットSLと保持容量配線13の延伸方向に対する側面とで囲われる領域を、保持容量配線13から電気的に分離する工程である。図3に示す例では、スリットSLの長手方向の両端部と、保持容量配線13の側面との間の領域であるCP1で示される領域が切断される。これにより、保持容量配線13の領域の一部を、保持容量配線13から電気的に分離された分離領域として形成することが可能となる。なお、保持容量配線13の切断によって生成される分離領域上に、保持容量上部電極18Aおよびドレイン引き出し配線17Aの少なくともいずれか一方が形成されている領域、および、保持容量上部電極18Bおよびドレイン引き出し配線17Bの少なくともいずれか一方が形成されている領域が存在するように、保持容量配線13の切断が行われればよい。図3に示す例では、分離領域上には、ドレイン引き出し配線17Aの一部およびドレイン引き出し配線17Bの一部が存在している。この保持容量配線13の切断も、上記と同様にレーザによる切断によって実現される。
第3の工程は、第2の工程において形成される、または形成される予定の分離領域と、該分離領域上に存在する保持容量上部電極18Aおよびドレイン引き出し配線17Aの少なくともいずれか一方、および、保持容量上部電極18Bおよびドレイン引き出し配線17Bの少なくともいずれか一方とを短絡させる工程である。図3に示す例では、ドレイン引き出し配線17Aと分離領域とが重なっている領域MP1、および、ドレイン引き出し配線17Bと分離領域とが重なっている領域MP1において、短絡処理が行われる。
上記の電極の短絡処理は、アクティブマトリクス基板1の表面からレーザを照射することによって行われる。使用されるレーザ光は特に限定されないが、例えば、YAGレーザを用いることができ、使用する波長としてはYAGレーザの第2高調波(波長532nm)等が挙げられる。
以上の修正工程を行うことによって、画素における導電状態は次のようになる。まず、第1の工程によって、短絡欠陥が生じたドレイン電極16Aと副画素電極31Aとが電気的に切断される。これにより、副画素電極31Aにデータ信号線11に印加されている電圧が常に印加される状態が解消される。
また、第2の工程によって分離領域が形成され、第3の工程によって、ドレイン引き出し配線17Aとドレイン引き出し配線17Bとが、分離領域を介して電気的に接続されることになる。これにより、正常に機能しているTFT14Bからドレイン引き出し配線17Bを介して副画素電極31Bに印加されている電圧とほぼ同じ電圧が、分離領域およびドレイン引き出し配線17Aを介して副画素電極31Aに印加されることになる。
ここで、上記したように、正常な状態では、副画素電極31Aと副画素電極31Bとでは、同じ信号電位が供給されるとともに、ゲート信号のON時間が異なることによって、副画素電極31Aによる表示状態と、副画素電極31Bによる表示状態とを異ならせている。これに対して、上記の修正工程が行われた後は、副画素電極31Aと副画素電極31Bとでは、同じ信号電位が供給されるとともに、ゲート信号のON時間も同じとなり、両者は完全に同じ表示状態となる。すなわち、修正工程後は、1つの画素に、互いに異なる電圧印加状態となる領域を2つ形成することはできなくなるが、その画素において表示すべき画像データに対応した表示が、修正された副画素電極31Aにおいても行われるようになる。よって、欠陥としてほとんど視認できないレベルに修正することが可能となる。
(アクティブマトリクス基板の第2の構成例)
図4は、本実施形態に係るアクティブマトリクス基板の第2の構成例の一部を示す(透視)平面図である。第2の構成例としてのアクティブマトリクス基板1は、第1の構成例と同様に、1つの画素に2つの副画素電極31A・31Bを備える画素分割方式のものとなっている。本アクティブマトリクス基板1を用いて液晶パネルを構成した場合、副画素電極31Aとカラーフィルタ基板に形成される対向電極(共通電極)と両電極間の液晶層とによって第1の副画素容量が形成され、副画素電極31Bと上記対向電極と両電極間の液晶層とによって第2の副画素容量が形成されることになる。
アクティブマトリクス基板1は、互いに平行となるように配置された複数のデータ信号線11…、該データ信号線11…に直交する方向で互いに平行となるように配置された複数の走査信号線12…、および、同じくデータ信号線11…に直交する方向で互いに平行となるように配置された複数の保持容量配線(CS配線)13…を備えている。同図に示す例では、データ信号線11…は列方向(上下方向)に延伸するように形成され、走査信号線12…および保持容量配線13…は行方向(左右方向)に延伸するように形成される。
また、1つの画素は、隣り合う2本のデータ信号線11・11と、隣り合う2本の保持容量配線13・13とで囲われた領域(画素領域)によって構成され、この画素領域内に、副画素電極31Aと副画素電極31Bとが上下方向に並んで形成されている。また、画素領域内の中心近傍を通過するように、走査信号線12が設けられる。
データ信号線11と走査信号線12との交差部近傍にはTFT14A・14Bが設けられる。TFT14Aは、ゲート電極、ドレイン電極16A、およびソース電極21Aを備えており、TFT14Bは、ゲート電極、ドレイン電極16B、およびソース電極21Bを備えている。
ゲート電極は、走査信号線12の一部によって構成されており、ソース電極21A・21Bは、データ信号線11から引き出された部分によって構成されている。
ドレイン電極16Aからは、副画素電極31Aが形成されている領域まで延伸するドレイン引き出し配線17Aが形成されている。そして、ドレイン引き出し配線17Aには、コンタクトホール19Aが設けられており、コンタクトホール19Aを介して、ドレイン引き出し配線17Aと副画素電極31Aとが電気的に接続される。同様に、ドレイン電極16Bからは、副画素電極31Bが形成されている領域まで延伸するドレイン引き出し配線17Bが形成されている。そして、ドレイン引き出し配線17Bには、コンタクトホール19Bが設けられており、コンタクトホール19Bを介して、ドレイン引き出し配線17Bと副画素電極31Bとが電気的に接続される。
また、保持容量配線13が形成されている領域の上層に、保持容量上部電極18A・18Bが形成されている。保持容量上部電極18Aは、副画素電極31Aが形成されている領域まで延伸しており、この領域においてコンタクトホール35Aが設けられている。このコンタクトホール35Aを介して、保持容量上部電極18Aと副画素電極31Aとが電気的に接続される。同様に、保持容量上部電極18Bは、副画素電極31Bが形成されている領域まで延伸しており、この領域においてコンタクトホール35Bが設けられている。このコンタクトホール35Bを介して、保持容量上部電極18Bと副画素電極31Bとが電気的に接続される。
本構成例2におけるアクティブマトリクス基板1は、基本的には図2に示した断面構成と同様となっている。異なる部分としては、構成例1では、ドレイン引き出し配線17Aと保持容量上部電極18Aとが直接電気的に接続されていたが、本構成例2では、ドレイン引き出し配線17Aと保持容量上部電極18Aとが、コンタクトホール19A、副画素電極31A、およびコンタクトホール35Aを介して電気的に接続されている点である。
上記の構成によれば、データ信号線11から副画素電極31Aと副画素電極31Bとに同じ信号電位が供給される一方、保持容量配線13に印加されるCS信号を、ゲート信号のONタイミングと同期して変化させることによって、副画素電極31Aによる表示状態と、副画素電極31Bによる表示状態とを異ならせることが可能となる。すなわち、本アクティブマトリクス基板1を備えた液晶表示装置においては、1つの画素に、互いに異なる電圧印加状態となる領域を2つ形成することが可能となるので、中間調表示における視野角特性を良好にすることができる。
次に、保持容量配線13に形成されるスリットSLについて説明する。図5は、保持容量上部電極18A・18Bが形成されている領域、および、その近傍の保持容量配線13の状態を示す平面図である。同図に示すように、保持容量配線13には、該保持容量配線13の延伸方向に平行な方向を長手方向とするスリットSLが形成されている。
スリットSLは、保持容量配線13の厚み方向(積層方向、基板に垂直な方向)で該保持容量配線13を貫通した開口形状となっている。また、基板に垂直な方向から見た場合のスリットSLの開口形状は長方形であり、その長手方向が保持容量配線13の延伸方向に平行となっている。なお、基板に垂直な方向から見た場合のスリットSLの開口形状は、長方形に限らず、長方形の角部が斜めに欠けた形状や、丸みを帯びた形状となっていても構わない。
また、スリットSLは、基板に垂直な方向から見て、保持容量上部電極18Aが形成されている領域、および、保持容量上部電極18Bが形成されている領域の両方にまたがるように設けられている。
(第2の構成例における画素の修正方法)
以上の構成において、異物や膜残り等によってTFT14Aのソース電極21Aとドレイン電極16Aとの間で短絡(リーク)が生じた場合を想定する。このようなTFT不良が発生すると、ゲートパルス信号の印加状態によらずに副画素電極31Aにデータ信号線11に印加されている電圧が常に印加されるようになり、液晶表示装置において画素欠陥となって現れる。このような欠陥が生じた場合の修正方法について以下に説明する。
修正工程としては、次の3つの工程が挙げられる。これらの3つの工程が行われる順番は特に限定されるものではなく、どの順番で行われても良い。
第1の工程は、短絡が生じたドレイン電極16Aと副画素電極31Aとの導通を遮断するために、ドレイン引き出し配線17Aの一部を切断する工程である。図4に示す例では、ドレイン引き出し配線17AのCP2で示される位置が切断される。なお、ドレイン引き出し配線17Aの切断位置は、ドレイン電極16Aと副画素電極31Aとの導通が遮断される位置であればどの位置であってもよい。すなわち、ドレイン電極16Aからコンタクトホール19Aが形成されている位置の間のどの位置が切断されてもよいことになる。上記の電極の切断(破壊分離)は、上記と同様に、レーザを照射することによって行われる。
第2の工程は、保持容量配線13の領域のうち、スリットSLと保持容量配線13の延伸方向に対する側面とで囲われる領域を、保持容量配線13から電気的に分離する工程である。図5に示す例では、スリットSLの長手方向の両端部と、保持容量配線13の側面との間の領域であるCP1で示される領域が切断される。これにより、保持容量配線13の領域の一部を、保持容量配線13から電気的に分離された分離領域として形成することが可能となる。なお、保持容量配線13の切断によって生成される分離領域上に、保持容量上部電極18Aが形成されている領域、および、保持容量上部電極18Bが形成されている領域が存在するように、保持容量配線13の切断が行われればよい。この保持容量配線13の切断も、上記と同様にレーザによる切断によって実現される。
第3の工程は、第2の工程において形成される、または形成される予定の分離領域と、該分離領域上に存在する保持容量上部電極18Aおよび保持容量上部電極18Bとを短絡させる工程である。図5に示す例では、保持容量上部電極18Aと分離領域とが重なっている領域MP1、および、保持容量上部電極18Bと分離領域とが重なっている領域MP1において、短絡処理が行われる。上記の電極の短絡処理は、上記と同様に、アクティブマトリクス基板1の表面からレーザを照射することによって行われる。
以上の修正工程を行うことによって、画素における導電状態は次のようになる。まず、第1の工程によって、短絡欠陥が生じたドレイン電極16Aと副画素電極31Aとが電気的に切断される。これにより、副画素電極31Aにデータ信号線11に印加されている電圧が常に印加される状態が解消される。
また、第2の工程によって分離領域が形成され、第3の工程によって、保持容量上部電極18Aと保持容量上部電極18Bとが、分離領域を介して電気的に接続されることになる。これにより、正常に機能しているTFT14Bからドレイン引き出し配線17Bを介して副画素電極31Bに印加されている電圧とほぼ同じ電圧が、分離領域および保持容量上部電極18Aを介して副画素電極31Aに印加されることになる。
ここで、注意すべきは、修正工程後の副画素電極31Aに印加される電圧は、正常な状態において該当副画素電極31Aが属する画素に隣接する画素の副画素電極31Bに印加される電圧となる。したがって、修正工程後の表示状態としては、修正対象画素に隣接する画素(隣接画素)の一方の副画素電極の面積がほぼ2倍になることにより、該隣接画素の面積がほぼ1.5倍になる一方、修正対象画素における一方の副画素電極がなくなることにより、該修正対象画素の面積がほぼ0.5倍になる。しかしながら、隣接する画素同士は、表示すべき画像データの値に大きな違いは生じないことが多いので、欠陥としてほとんど視認できないレベルに修正することが可能となる。
(アクティブマトリクス基板の第3の構成例)
図6は、本実施形態に係るアクティブマトリクス基板の第3の構成例の一部を示す(透視)平面図である。第3の構成例としてのアクティブマトリクス基板1は、1つの画素に1つの画素電極31を備える画素分割が行われていない方式のものとなっている。本アクティブマトリクス基板1を用いて液晶パネルを構成した場合、画素電極31とカラーフィルタ基板に形成される対向電極(共通電極)と両電極間の液晶層とによって画素容量が形成されることになる。
アクティブマトリクス基板1は、互いに平行となるように配置された複数のデータ信号線11…、該データ信号線11…に直交する方向で互いに平行となるように配置された複数の走査信号線12…、および、同じくデータ信号線11…に直交する方向で互いに平行となるように配置された複数の保持容量配線(CS配線)13…を備えている。同図に示す例では、データ信号線11…は列方向(上下方向)に延伸するように形成され、走査信号線12…および保持容量配線13…は行方向(左右方向)に延伸するように形成される。
また、1つの画素は、隣り合う2本のデータ信号線11・11と、隣り合う2本の走査信号線12・12とで囲われた領域(画素領域)によって構成され、この画素領域内に、画素電極31が形成されている。また、画素領域内の中心近傍を通過するように、保持容量配線13が設けられる。
データ信号線11と走査信号線12との交差部近傍にはTFT14が設けられる。TFT14は、ゲート電極、ドレイン電極16、およびソース電極を備えている。
ゲート電極は、走査信号線12の一部によって構成されており、ソース電極は、データ信号線11の一部によって構成されている。
ドレイン電極16からは、画素領域内を通過して保持容量配線13が形成されている領域まで延伸するドレイン引き出し配線17が形成されている。このドレイン引き出し配線17は、途中で2つに分かれてドレイン引き出し配線17A・17Bとなっている。そして、ドレイン引き出し配線17A・17Bは、保持容量配線13と重なる部分に設けられる保持容量上部電極18A・18Bと接続されている。この保持容量上部電極18A・18Bと保持容量配線13との間で保持容量が形成される。
保持容量上部電極18A・18Bには、コンタクトホール19A・19Bが設けられており、コンタクトホール19Aを介して、保持容量上部電極18Aと画素電極31とが電気的に接続され、コンタクトホール19Bを介して、保持容量上部電極18Bと画素電極31とが電気的に接続される。本構成例3におけるアクティブマトリクス基板1は、基本的には図2に示した断面構成と同様となっている。
なお、保持容量上部電極18Aと接続される画素電極31と、保持容量上部電極18Bと接続される画素電極31とは、電気的に分離している構成となっている。これは、基本的には、ドレイン引き出し配線17Aおよび17Bのどちらかに欠陥が生じた場合や、保持容量上部電極18Aおよび18Bのどちらかに欠陥が生じた場合などに、欠陥が生じた箇所に接続されている画素電極31の部分のみが表示不良とすることによって、画素領域全体が表示不良となることを防止することを目的としている。
次に、保持容量配線13に形成されるスリットSLについて説明する。図7は、保持容量上部電極18A・18Bが形成されている領域、および、その近傍の保持容量配線13の状態を示す平面図である。同図に示すように、保持容量配線13には、該保持容量配線13の延伸方向に平行な方向を長手方向とするスリットSLが形成されている。
スリットSLは、保持容量配線13の厚み方向(積層方向、基板に垂直な方向)で該保持容量配線13を貫通した開口形状となっている。また、基板に垂直な方向から見た場合のスリットSLの開口形状は長方形であり、その長手方向が保持容量配線13の延伸方向に平行となっている。なお、基板に垂直な方向から見た場合のスリットSLの開口形状は、長方形に限らず、長方形の角部が斜めに欠けた形状や、丸みを帯びた形状となっていても構わない。
また、スリットSLは、基板に垂直な方向から見て、ドレイン引き出し配線17Aが形成されている領域、および、ドレイン引き出し配線17Bが形成されている領域の両方にまたがるように設けられている。
(第3の構成例における画素の修正方法)
以上の構成において、異物・膜形成不良などによりドレイン引き出し配線17Aに断線が生じた場合を想定する。このような断線が発生すると、該ドレイン引き出し配線17Aと導通している画素電極31の部分に電圧が印加されないことになり、液晶表示装置において画素欠陥となって現れる。このような欠陥が生じた場合の修正方法について以下に説明する。
修正工程としては、次の2つの工程が挙げられる。これらの2つの工程が行われる順番は特に限定されるものではなく、どの順番で行われても良い。
第1の工程は、保持容量配線13の領域のうち、スリットSLと保持容量配線13の延伸方向に対する側面とで囲われる領域を、保持容量配線13から電気的に分離する工程である。図7に示す例では、スリットSLの長手方向の両端部と、保持容量配線13の側面との間の領域であるCP1で示される2つの領域が切断される。これにより、保持容量配線13の領域の一部を、保持容量配線13から電気的に分離された分離領域として形成することが可能となる。なお、保持容量配線13の切断によって生成される分離領域上に、ドレイン引き出し配線17Aが形成されている領域、および、ドレイン引き出し配線17Bが形成されている領域が存在するように、保持容量配線13の切断が行われればよい。この保持容量配線13の切断は、上記と同様にレーザによる切断によって実現される。
第2の工程は、第1の工程において形成される、または形成される予定の分離領域と、該分離領域上に存在するドレイン引き出し配線17Aおよびドレイン引き出し配線17Bとを短絡させる工程である。図7に示す例では、ドレイン引き出し配線17Aと分離領域とが重なっている領域MP1、および、ドレイン引き出し配線17Bと分離領域とが重なっている領域MP1において、短絡処理が行われる。上記の電極の短絡処理は、上記と同様に、アクティブマトリクス基板1の表面からレーザを照射することによって行われる。
以上の修正工程を行うことによって、第1の工程によって分離領域が形成され、第2の工程によって、ドレイン引き出し配線17Aとドレイン引き出し配線17Bとが、分離領域を介して電気的に接続されることになる。これにより、保持容量上部電極18Aへは、ドレイン引き出し配線17Bから分離領域を介して電圧が印加されることになる。よって、表示状態としては、正常な状態とほぼ同じとすることが可能となる。
(修正工程による保持容量の変化)
次に、修正工程が行われる前後における保持容量の変化について説明する。図8の(a)は、修正工程が行われる前の保持容量配線13およびドレイン引き出し配線17A・17Bの状態の一例を示している。
なお、前記した構成例では、ドレイン引き出し配線17A・17Bと、保持容量上部電極18A・18Bとを別の部材として考慮し、保持容量上部電極18A・18Bと保持容量配線13との間で保持容量が形成される旨の説明をした。しかしながら、実際には、ドレイン引き出し配線17A・17Bおよび保持容量上部電極18A・18Bは連続的に形成されており、また、保持容量は、保持容量配線13に重なる領域に存在するドレイン引き出し配線17A・17Bおよび保持容量上部電極18A・18Bと、保持容量配線13との間で形成されるものである。よって、以降の説明では、ドレイン引き出し配線17A・17Bと、保持容量上部電極18A・18Bとを区別することなく、ドレイン引き出し配線17A・17Bとして説明する。
図8の(a)に示す状態では、ハッチングが施されている領域、すなわち、保持容量配線13とドレイン引き出し配線17A・17Bとが重なっている領域において保持容量が形成される。その後、修正工程が行われることによって図8の(b)に示す状態となる。すなわち、ドレイン引き出し配線17BにおけるCP2の位置において配線の切断処理が行われ、保持容量配線13におけるCP1の位置において配線の切断処理が行われ、切断領域とドレイン引き出し配線17A・17Bとが重なっている領域である2つのMP1の位置において配線の短絡処理が行われる。
この修正工程が行われた後の状態では、保持容量が形成されている領域としては、ドレイン引き出し配線17Aと、切断領域を除く保持容量配線13とが重なっている領域となる。したがって、修正工程前後において、保持容量が大きく変化することになる。
ここで、1つの画素における全ての容量の和を画素総容量Cpixelとすると、Cpixel=Clc+Ccs+Cgd+Csd+…と表すことができる。なお、Clcは液晶容量に相当し、Ccsは上記の保持容量に相当し、Cgdは、ドレイン接続配線−走査信号線間の寄生容量に相当し、Csdは、ドレイン接続配線−データ信号線間の寄生容量に相当する。
上記のClc、Ccs、Cgd、Csd…のいずれかによる1つの画素に対する負荷を負荷Xとすると、ある負荷Xの影響はX/Cpixelと表することができる。ここで、画素に書き込まれた信号電圧を保持する目的により、Ccsの画素総容量に対する占有比率は高く設定される。よって、Ccsが修正工程後に減少する場合には、負荷Xの変動(例えば、Cgd、CsdであればITOのアライメントのズレによる変動)による表示品位への影響が大きくなる。また、Ccsが減少すると、当然画素に書き込まれた信号電圧の保持能力が低下し、表示状態に影響を与えることになる。よって、修正工程前後の保持容量の変化は小さい方が好ましいことになる。
修正工程前後の保持容量の変化を小さくするためには、分離領域に重なる位置に存在するドレイン引き出し配線17A・17Bの面積を小さくするとともに、分離領域外の保持容量配線13に重なる位置に存在するドレイン引き出し配線17A・17Bの面積を大きくすればよいことになる。例えば、分離領域に重なる位置に存在するドレイン引き出し配線17A・17Bの面積よりも、分離領域外の保持容量配線13に重なる位置に存在するドレイン引き出し配線17A・17Bの面積を大きくすれば、修正工程前後の保持容量の変化を50%未満にすることができる。
図9の(a)に示す例では、図8の(a)に示す例と比較して、ドレイン引き出し配線17Bに関して、分離領域外の保持容量配線13に重なる位置に存在する面積をより大きくしている。この場合、修正工程が行われると、図9の(b)に示す状態となり、図8の(b)に示す状態と比較して、修正工程前後での保持容量の変化量を小さくすることができている。
また、修正工程前後での保持容量の変化量を小さくする構成として、図10の(a)に示すような構成が挙げられる。同図に示す例では、保持容量配線13に重なる位置に補助電極26が形成されている。図11の(a)は、この補助電極26が形成されている領域近傍を拡大して示す平面図であり、図11の(b)は、図11の(a)におけるA−A線における断面図を示している。これらの図に示すように、積層構造としては、保持容量配線13上にゲート絶縁膜24が形成され、その上層に補助電極26が積層される。そして、保持容量配線13と補助電極26とはコンタクトホール27に形成されたITOなどからなる導電材料膜を介して電気的に接続される。
また、補助電極26は、分離領域に重なる領域、および、分離領域外の保持容量配線13に重なる領域にまたがって形成される。そして、コンタクトホール27は、分離領域外の保持容量配線13上に設けられる。
図10の(a)に示す状態から、修正工程が行われることによって図10の(b)に示す状態となる。すなわち、ドレイン引き出し配線17BにおけるCP2の位置において配線の切断処理が行われ、保持容量配線13におけるCP1の位置において配線の切断処理が行われ、切断領域とドレイン引き出し配線17A・17Bとが重なっている領域である2つのMP1の位置において配線の短絡処理が行われる。
この修正工程が行われた後の状態では、保持容量が形成されている領域としては、ドレイン引き出し配線17Aと、切断領域外の保持容量配線13とが重なっている領域に加えて、切断領域と補助電極26とが重なっている領域となる。つまり、切断領域は、ドレイン引き出し配線17Aから印加される電位になっている一方、補助電極26は、保持容量配線13の電位となっているので、両者が重なっている領域において保持容量が形成されることになる。
上記の構成によれば、修正工程によって、ドレイン引き出し配線17A・17Bによって形成される保持容量は減少するが、補助電極26によって形成される保持容量が新たに形成されることになるので、修正工程前後での保持容量の変化量を小さくすることができる。
(スリットの構成例のバリエーション)
次に、保持容量配線13に形成するスリットSLのバリエーションについて説明する。上記の例では、スリットSLは、その長手方向が保持容量配線13の延伸方向に平行となる状態で1本形成されていた。これに対して、図12の(a)に示すように、スリットSLを保持容量配線13に2本形成する構成としてもよい。
この場合、2本のスリットSLは、ともにその長手方向が保持容量配線13の延伸方向に平行となる状態で形成されるとともに、一方のスリットSLから見て、長手方向に垂直な方向に他方のスリットが存在する位置関係で形成される。そして、これらの2本のスリットSLに囲まれる領域が切断領域として設定される。
図12の(a)に示す例では、2本のスリットSLに囲まれる切断領域内に、ドレイン引き出し配線17A・17Bの端部、および、補助電極26の端部が形成されている。このような状態において、TFT14Bにおいてソース−ドレイン間の短絡欠陥が生じた場合、次のような修正工程が行われて図12の(b)に示す状態となる。すなわち、ドレイン引き出し配線17BにおけるCP2の位置において配線の切断処理が行われ、保持容量配線13におけるCP1の位置において配線の切断処理が行われ、切断領域とドレイン引き出し配線17A・17Bとが重なっている領域である2つのMP1の位置において配線の短絡処理が行われる。
このように、切断領域は、1本のスリットSLと保持容量配線13の側面との間の領域によって形成されてもよいし、2本のスリットSLに挟まれた領域によって形成されてもよい。どちらの構成であっても、修正工程後の表示性能としては同等となる。
(第1の構成例と第2の構成例との組み合わせ)
次に、前記した第1の構成例と第2の構成例とを組み合わせた構成例について説明する。第1の構成例では、1つの画素内に2つの副画素領域を設け、各副画素領域で異なる表示状態としており、第2の構成例では、1つの画素内に、同じ表示状態の画素領域を2つ設定したものとなっている。これらを組み合わせることによって、1つの画素内に3つの画素領域を設定し、2つの画素領域で同じ表示状態の第1の副画素領域とし、この2つの画素領域と、残る1つの画素領域(第2の副画素領域)とで、異なる表示状態とする構成が考えられる。これを実現する構成を図13の(a)に示す。
図13の(a)は、保持容量上部電極18A・18B・18Cが形成されている領域、および、その近傍の保持容量配線13の状態を示す平面図である。同図に示すように、保持容量配線13には、該保持容量配線13の延伸方向に平行な方向を長手方向とするスリットSLが形成されている。また、スリットSLは、基板に垂直な方向から見て、保持容量上部電極18A・18B・18Cが形成されている領域の全てにまたがるように設けられている。
ドレイン引き出し配線17は、途中で2つに分かれてドレイン引き出し配線17A・17Bとなっている。そして、ドレイン引き出し配線17A・17Bは、保持容量配線13と重なる部分に設けられる保持容量上部電極18A・18Bと接続されている。この保持容量上部電極18A・18Bと保持容量配線13との間で第1の副画素領域に対する保持容量が形成される。
保持容量上部電極18A・18Bには、コンタクトホール19A・19Bが設けられており、コンタクトホール19Aを介して、保持容量上部電極18Aと、第1の副画素領域を形成する一方の画素電極とが電気的に接続され、コンタクトホール19Bを介して、保持容量上部電極18Bと、同じく第1の副画素領域を形成する他方の画素電極とが電気的に接続される。
また、ドレイン引き出し配線17Cは、保持容量配線13と重なる部分に設けられる保持容量上部電極18Cと接続されている。この保持容量上部電極18Cと保持容量配線13との間で第2の副画素領域に対する保持容量が形成される。
保持容量上部電極18Cには、コンタクトホール19Cが設けられており、コンタクトホール19Cを介して、保持容量上部電極18Cと、第2の副画素領域を形成する画素電極とが電気的に接続される。
なお、保持容量上部電極18Aと接続される画素電極と、保持容量上部電極18Bと接続される画素電極とは、第3の構成例で示したものと同様に、電気的に分離している構成となっている。
以上の構成において、異物・膜形成不良などによりドレイン引き出し配線17Aに断線が生じた場合を想定する。このような断線が発生すると、該ドレイン引き出し配線17Aと導通している画素電極の部分に電圧が印加されないことになり、液晶表示装置において画素欠陥となって現れる。このような欠陥が生じた場合の修正方法について以下に説明する。
修正工程としては、次の2つの工程が挙げられる。これらの2つの工程が行われる順番は特に限定されるものではなく、どの順番で行われても良い。
第1の工程は、保持容量配線13の領域のうち、スリットSLと保持容量配線13の延伸方向に対する側面とで囲われる領域を、保持容量配線13から電気的に分離する工程である。図13の(b)に示す例では、スリットSLの長手方向の両端部と、保持容量配線13の側面との間の領域であるCP1で示される2つの領域が切断される。これにより、保持容量配線13の領域の一部を、保持容量配線13から電気的に分離された分離領域として形成することが可能となる。なお、保持容量配線13の切断によって生成される分離領域上に、保持容量上部電極18A・18B・18Cが形成されている領域が全て存在するように、保持容量配線13の切断が行われる。この保持容量配線13の切断は、上記と同様にレーザによる切断によって実現される。
第2の工程は、第1の工程において形成される、または形成される予定の分離領域と、該分離領域上に存在する保持容量上部電極18Aおよび保持容量上部電極18Bとを短絡させる工程である。図13の(b)に示す例では、保持容量上部電極18Aと分離領域とが重なっている領域MP1、および、保持容量上部電極18Bと分離領域とが重なっている領域MP1において、短絡処理が行われる。上記の電極の短絡処理は、上記と同様に、アクティブマトリクス基板1の表面からレーザを照射することによって行われる。
以上の修正工程を行うことによって、第1の工程によって分離領域が形成され、第2の工程によって、保持容量上部電極18Aと保持容量上部電極18Bとが、分離領域を介して電気的に接続されることになる。これにより、保持容量上部電極18Aへは、ドレイン引き出し配線17Bから分離領域を介して電圧が印加されることになる。よって、表示状態としては、正常な状態とほぼ同じとすることが可能となる。
また、別の修正の手法として、図13の(c)に示す方法が挙げられる。この修正工程としては、次の2つの工程が挙げられる。これらの2つの工程が行われる順番は特に限定されるものではなく、どの順番で行われても良い。
第1の工程は、上記と同様に分離領域を形成する工程であるが、保持容量配線13の切断によって生成される分離領域上に、保持容量上部電極18Aおよび保持容量上部電極18Cが形成されている領域のみが存在し、保持容量上部電極18Bが形成されている領域が存在しないように、保持容量配線13の切断が行われる。この保持容量配線13の切断は、上記と同様にレーザによる切断によって実現される。
第2の工程は、第1の工程において形成される、または形成される予定の分離領域と、該分離領域上に存在する保持容量上部電極18Aおよび保持容量上部電極18Cとを短絡させる工程である。図13の(c)に示す例では、保持容量上部電極18Aと分離領域とが重なっている領域MP1、および、保持容量上部電極18Cと分離領域とが重なっている領域MP1において、短絡処理が行われる。上記の電極の短絡処理は、上記と同様に、アクティブマトリクス基板1の表面からレーザを照射することによって行われる。
以上の修正工程を行うことによって、第1の工程によって分離領域が形成され、第2の工程によって、保持容量上部電極18Aと保持容量上部電極18Cとが、分離領域を介して電気的に接続されることになる。これにより、保持容量上部電極18Aへは、ドレイン引き出し配線17Cから分離領域を介して電圧が印加されることになる。
ここで、上記したように、正常な状態では、第1の副画素領域と第2の副画素領域とでは、同じ信号電位が供給されるとともに、ゲート信号のON時間が異なることによって、表示状態を異ならせている。これに対して、上記の修正工程が行われた後は、第1の副画素領域と第2の副画素領域とでは、同じ信号電位が供給されるとともに、ゲート信号のON時間も同じとなり、両者は完全に同じ表示状態となる。すなわち、修正工程後は、1つの画素に、互いに異なる電圧印加状態となる領域を2つ形成することはできなくなるが、その画素において表示すべき画像データに対応した表示が、修正された第2の副画素領域においても行われるようになる。よって、欠陥としてほとんど視認できないレベルに修正することが可能となる。
(テレビジョン受像機の構成)
次に、本発明に係る液晶表示装置をテレビジョン受像機に使用した例について説明する。図14は、このテレビジョン受像機用の表示装置800の構成を示すブロック図である。この表示装置800は、Y/C分離回路80と、ビデオクロマ回路81と、A/Dコンバータ82と、液晶コントローラ83と、液晶パネル84と、バックライト駆動回路85と、バックライト86と、マイコン(マイクロコンピュータ)78と、階調回路88とを備えている。なお、上記液晶パネル84は、本発明に係る液晶表示装置に対応するものであり、アクティブマトリクス型の画素アレイからなる表示部と、その表示部を駆動するためのソースドライバおよびゲートドライバを含んでいる。
上記構成の表示装置800では、まず、テレビジョン信号としての複合カラー映像信号Scvが外部からY/C分離回路80に入力され、そこで輝度信号と色信号に分離される。これらの輝度信号と色信号は、ビデオクロマ回路81にて光の3原色に対応するアナログRGB信号に変換され、さらに、このアナログRGB信号はA/Dコンバータ82により、デジタルRGB信号に変換される。このデジタルRGB信号は液晶コントローラ83に入力される。また、Y/C分離回路80では、外部から入力された複合カラー映像信号Scvから水平および垂直同期信号も取り出され、これらの同期信号もマイコン78を介して液晶コントローラ83に入力される。
液晶コントローラ83は、A/Dコンバータ82からのデジタルRGB信号(前記したデジタルビデオ信号Dvに相当)に基づきドライバ用データ信号を出力する。また、液晶コントローラ83は、液晶パネル84内のソースドライバおよびゲートドライバを上記実施形態と同様に動作させるためのタイミング制御信号を、上記同期信号に基づいて生成し、それらのタイミング制御信号をソースドライバおよびゲートドライバに与える。また、階調回路88では、カラー表示の3原色R,G,Bそれぞれの階調電圧が生成され、それらの階調電圧も液晶パネル84に供給される。
液晶パネル84では、これらのドライバ用データ信号、タイミング制御信号および階調電圧に基づき内部のソースドライバやゲートドライバ等により駆動用信号(データ信号、走査信号等)が生成され、それらの駆動用信号に基づき内部の表示部にカラー画像が表示される。なお、この液晶パネル84によって画像を表示するには、液晶パネル84の後方から光を照射する必要がある。この表示装置800では、マイコン78の制御の下にバックライト駆動回路85がバックライト86を駆動することにより、液晶パネル84の裏面に光が照射される。
上記の処理を含め、システム全体の制御はマイコン78が行う。なお、外部から入力される映像信号(複合カラー映像信号)としては、テレビジョン放送に基づく映像信号のみならず、カメラにより撮像された映像信号や、インターネット回線を介して供給される映像信号等も使用可能であり、この表示装置800では、様々な映像信号に基づいた画像表示が可能である。
上記構成の表示装置800でテレビジョン放送に基づく画像を表示する場合には、図15に示すように、当該表示装置800にチューナ部90が接続される。このチューナ部90は、アンテナ(不図示)で受信した受信波(高周波信号)の中から受信すべきチャンネルの信号を抜き出して中間周波信号に変換し、この中間周波数信号を検波することによってテレビジョン信号としての複合カラー映像信号Scvを取り出す。この複合カラー映像信号Scvは、既述のように表示装置800に入力され、この複合カラー映像信号Scvに基づく画像が当該表示装置800によって表示される。
図16は、上記構成の表示装置をテレビジョン受像機とするときの機械的構成の一例を示す分解斜視図である。図16に示した例では、テレビジョン受像機は、その構成要素として、上記表示装置800の他に第1筐体801および第2筐体806を有しており、表示装置800を第1筐体801と第2筐体806とで包み込むようにして挟持した構成となっている。第1筐体801には、表示装置800で表示される画像を透過させる開口部801aが形成されている。また、第2筐体806は、表示装置800の背面側を覆うものであり、当該表示装置800を操作するための操作用回路805が設けられると共に、下方に支持用部材808が取り付けられている。
本発明は上述した各実施形態に限定されるものではなく、請求項に示した範囲で種々の変更が可能であり、異なる実施形態にそれぞれ開示された技術的手段を適宜組み合わせて得られる実施形態についても本発明の技術的範囲に含まれる。
本発明に係る液晶表示装置は、例えばパーソナルコンピュータのモニターやテレビジョン受像機など、各種の表示装置に適用できる。

Claims (15)

  1. トランジスタ素子、画素電極、走査信号線、データ信号線、および保持容量配線が基板上に形成されたアクティブマトリクス基板であって、
    上記保持容量配線に対して絶縁膜を介して対向して配置されることによって保持容量を形成する保持容量電極と、
    上記保持容量電極と上記画素電極とを接続する接続配線とを備え、
    上記保持容量配線に、上記基板の面に垂直な方向で該保持容量配線を貫通した開口部が形成されており、
    1つの保持容量配線に対して2つ以上の上記保持容量電極が配置されるとともに、上記開口部が、少なくとも2つの上記保持容量電極が配置される領域に対向する領域を含むように形成されていることを特徴とするアクティブマトリクス基板。
  2. 上記基板に垂直な方向から見た場合の上記開口部が直線状のスリット形状となっており、その長手方向が保持容量配線の延伸方向に平行となっていることを特徴とする請求項1記載のアクティブマトリクス基板。
  3. 少なくとも2つの上記保持容量電極が配置される領域に対向する領域には、1つの上記開口部が設けられていることを特徴とする請求項1記載のアクティブマトリクス基板。
  4. 上記開口部が形成される位置が、上記保持容量配線の延伸方向に対する2つの側面である第1および第2の側面のうち、第1の側面に近いとともに、
    上記開口部が形成される領域に対向する領域を含む位置に形成された上記保持容量電極において、上記開口部が形成される領域に対向する領域から上記第1の側面側に存在する領域の面積よりも、上記開口部が形成される領域に対向する領域から上記第2の側面側に存在する領域の面積の方が広くなっていることを特徴とする請求項3記載のアクティブマトリクス基板。
  5. 少なくとも2つの上記保持容量電極が配置される領域に対向する領域には、2つの上記開口部が設けられていることを特徴とする請求項1記載のアクティブマトリクス基板。
  6. 上記開口部が形成される領域に対向する領域を含む位置に、上記保持容量配線に対して絶縁膜を介して対向して配置される補助電極が、上記保持容量配線と電気的に接続された状態で設けられることを特徴とする請求項1記載のアクティブマトリクス基板。
  7. 複数の画素電極によって1つの画素が構成されていることを特徴とする請求項1記載のアクティブマトリクス基板。
  8. 同じ上記開口部に対向する領域に配置される複数の上記保持容量電極がそれぞれ接続している画素電極が、同じ1つの画素を構成する画素電極であることを特徴とする請求項7記載のアクティブマトリクス基板。
  9. 同じ上記開口部に対向する領域に配置される複数の上記保持容量電極がそれぞれ接続している画素電極が、互いに隣接する画素を構成する画素電極であることを特徴とする請求項7記載のアクティブマトリクス基板。
  10. トランジスタ素子、画素電極、走査信号線、データ信号線、および保持容量配線が基板上に形成されたアクティブマトリクス基板であって、上記保持容量配線に対して絶縁膜を介して対向して配置されることによって保持容量を形成する保持容量電極と、上記保持容量電極と上記画素電極とを接続する接続配線とを備え、上記保持容量配線に、上記基板の面に垂直な方向で該保持容量配線を貫通した開口部が形成されており、1つの保持容量配線に対して2つ以上の上記保持容量電極が配置されるとともに、上記開口部が、少なくとも2つの上記保持容量電極が配置される領域に対向する領域を含むように形成されているアクティブマトリクス基板を備えることを特徴とする液晶パネル。
  11. トランジスタ素子、画素電極、走査信号線、データ信号線、および保持容量配線が基板上に形成されたアクティブマトリクス基板であって、上記保持容量配線に対して絶縁膜を介して対向して配置されることによって保持容量を形成する保持容量電極と、上記保持容量電極と上記画素電極とを接続する接続配線とを備え、上記保持容量配線に、上記基板の面に垂直な方向で該保持容量配線を貫通した開口部が形成されており、1つの保持容量配線に対して2つ以上の上記保持容量電極が配置されるとともに、上記開口部が、少なくとも2つの上記保持容量電極が配置される領域に対向する領域を含むように形成されているアクティブマトリクス基板を備える液晶パネルと、そのドライバとを備えることを特徴とする液晶表示ユニット。
  12. トランジスタ素子、画素電極、走査信号線、データ信号線、および保持容量配線が基板上に形成されたアクティブマトリクス基板であって、上記保持容量配線に対して絶縁膜を介して対向して配置されることによって保持容量を形成する保持容量電極と、上記保持容量電極と上記画素電極とを接続する接続配線とを備え、上記保持容量配線に、上記基板の面に垂直な方向で該保持容量配線を貫通した開口部が形成されており、1つの保持容量配線に対して2つ以上の上記保持容量電極が配置されるとともに、上記開口部が、少なくとも2つの上記保持容量電極が配置される領域に対向する領域を含むように形成されているアクティブマトリクス基板を備える液晶パネルと、そのドライバとを備える液晶表示ユニットと、
    照明装置とを備えることを特徴とする液晶表示装置。
  13. トランジスタ素子、画素電極、走査信号線、データ信号線、および保持容量配線が基板上に形成されたアクティブマトリクス基板であって、上記保持容量配線に対して絶縁膜を介して対向して配置されることによって保持容量を形成する保持容量電極と、上記保持容量電極と上記画素電極とを接続する接続配線とを備え、上記保持容量配線に、上記基板の面に垂直な方向で該保持容量配線を貫通した開口部が形成されており、1つの保持容量配線に対して2つ以上の上記保持容量電極が配置されるとともに、上記開口部が、少なくとも2つの上記保持容量電極が配置される領域に対向する領域を含むように形成されているアクティブマトリクス基板を備える液晶パネルと、そのドライバとを備える液晶表示ユニットと、照明装置とを備える液晶表示装置と、
    テレビジョン放送を受信するチューナ部とを備えることを特徴とするテレビジョン受像機。
  14. トランジスタ素子、画素電極、走査信号線、データ信号線、および保持容量配線が基板上に形成されたアクティブマトリクス基板であって、上記保持容量配線に対して絶縁膜を介して対向して配置されることによって保持容量を形成する保持容量電極と、上記保持容量電極と上記画素電極とを接続する接続配線とを備え、上記保持容量配線に、上記基板の面に垂直な方向で該保持容量配線を貫通した開口部が形成されており、1つの保持容量配線に対して2つ以上の上記保持容量電極が配置されるとともに、上記開口部が、少なくとも2つの上記保持容量電極が配置される領域に対向する領域を含むように形成されているアクティブマトリクス基板の製造方法であって、
    上記保持容量配線の領域のうち、上記開口部と上記保持容量配線の延伸方向に対する側面とで囲われる領域、または、複数の上記開口部同士で囲われる領域を、配線切断処理を行うことによって上記保持容量配線から電気的に分離し、分離領域を形成するステップと、
    上記分離領域と、該分離領域上に存在する少なくとも2つの保持容量電極とを短絡させるステップとを有することを特徴とするアクティブマトリクス基板の製造方法。
  15. 電圧印加が正常に行われなくなった欠陥が発生した上記画素電極と、上記トランジスタ素子とを電気的に接続する接続配線に対して、配線切断処理を行うステップをさらに有していることを特徴とする請求項14記載のアクティブマトリクス基板の製造方法。
JP2009533077A 2007-09-20 2008-05-12 アクティブマトリクス基板、液晶パネル、液晶表示ユニット、液晶表示装置、テレビジョン受像機、および、アクティブマトリクス基板の製造方法 Active JP4970545B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2009533077A JP4970545B2 (ja) 2007-09-20 2008-05-12 アクティブマトリクス基板、液晶パネル、液晶表示ユニット、液晶表示装置、テレビジョン受像機、および、アクティブマトリクス基板の製造方法

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007244227 2007-09-20
JP2007244227 2007-09-20
PCT/JP2008/058741 WO2009037892A1 (ja) 2007-09-20 2008-05-12 アクティブマトリクス基板、液晶パネル、液晶表示ユニット、液晶表示装置、テレビジョン受像機、および、アクティブマトリクス基板の製造方法
JP2009533077A JP4970545B2 (ja) 2007-09-20 2008-05-12 アクティブマトリクス基板、液晶パネル、液晶表示ユニット、液晶表示装置、テレビジョン受像機、および、アクティブマトリクス基板の製造方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2009037892A1 JPWO2009037892A1 (ja) 2011-01-06
JP4970545B2 true JP4970545B2 (ja) 2012-07-11

Family

ID=40467717

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2009533077A Active JP4970545B2 (ja) 2007-09-20 2008-05-12 アクティブマトリクス基板、液晶パネル、液晶表示ユニット、液晶表示装置、テレビジョン受像機、および、アクティブマトリクス基板の製造方法

Country Status (4)

Country Link
US (1) US8411215B2 (ja)
JP (1) JP4970545B2 (ja)
CN (1) CN101681070B (ja)
WO (1) WO2009037892A1 (ja)

Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102365668A (zh) * 2009-04-10 2012-02-29 夏普株式会社 有源矩阵基板、显示面板、显示装置和激光照射方法
WO2011055474A1 (ja) * 2009-11-09 2011-05-12 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板及びそれを備えた液晶表示パネル、並びにアクティブマトリクス基板の製造方法
JP5766481B2 (ja) * 2011-03-29 2015-08-19 株式会社Joled 表示装置および電子機器
JP5720025B2 (ja) * 2011-06-27 2015-05-20 株式会社Joled 表示装置及びその製造方法
CN102959605B (zh) * 2011-06-27 2015-11-25 株式会社日本有机雷特显示器 显示装置及其制造方法
US20130105800A1 (en) * 2011-11-01 2013-05-02 Shenzhen China Star Optoelectronics Technology Co.,Ltd. Thin film transistor array substrate and manufacture method thereof
CN111880346B (zh) * 2020-08-19 2022-11-29 成都中电熊猫显示科技有限公司 阵列基板、显示面板及配线断线的修复方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004198718A (ja) * 2002-12-18 2004-07-15 Fujitsu Ltd 表示装置及びその欠陥修正方法
JP2005114932A (ja) * 2003-10-06 2005-04-28 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 液晶表示装置
JP2007003709A (ja) * 2005-06-22 2007-01-11 Sharp Corp アクティブマトリクス基板、表示装置およびその欠陥修正方法
JP2007052286A (ja) * 2005-08-18 2007-03-01 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 半導体素子、液晶表示装置およびそれらの修復方法
JP2007328356A (ja) * 2004-05-28 2007-12-20 Sharp Corp 表示装置用基板、その修正方法、表示装置の修正方法及び液晶表示装置

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3304272B2 (ja) * 1996-05-09 2002-07-22 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板およびその構造欠陥処置方法
JP4010698B2 (ja) 1999-03-30 2007-11-21 三洋電機株式会社 液晶表示装置及びその欠陥修正方法
JP3778407B2 (ja) 1999-06-07 2006-05-24 シャープ株式会社 アクティブマトリクス基板の欠陥修正方法および液晶パネルの製造方法
JP2002040480A (ja) * 2000-07-24 2002-02-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 液晶表示装置
JP2002357835A (ja) * 2001-03-28 2002-12-13 Toshiba Corp 液晶表示モジュール
JP2004347891A (ja) 2003-05-22 2004-12-09 Sharp Corp アクティブマトリクス型表示装置
KR100845667B1 (ko) 2004-05-28 2008-07-11 샤프 가부시키가이샤 액티브 매트릭스 기판, 액티브 매트릭스 기판의 수정 방법, 대향 기판, 액정 표시 장치, 표시장치 및 표시 장치의 수정 방법
US7714948B2 (en) 2004-12-16 2010-05-11 Sharp Kabushiki Kaisha Active matrix substrate, method for fabricating active matrix substrate, display device, liquid crystal display device, and television device

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004198718A (ja) * 2002-12-18 2004-07-15 Fujitsu Ltd 表示装置及びその欠陥修正方法
JP2005114932A (ja) * 2003-10-06 2005-04-28 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 液晶表示装置
JP2007328356A (ja) * 2004-05-28 2007-12-20 Sharp Corp 表示装置用基板、その修正方法、表示装置の修正方法及び液晶表示装置
JP2007003709A (ja) * 2005-06-22 2007-01-11 Sharp Corp アクティブマトリクス基板、表示装置およびその欠陥修正方法
JP2007052286A (ja) * 2005-08-18 2007-03-01 Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd 半導体素子、液晶表示装置およびそれらの修復方法

Also Published As

Publication number Publication date
WO2009037892A1 (ja) 2009-03-26
CN101681070A (zh) 2010-03-24
US8411215B2 (en) 2013-04-02
US20100165225A1 (en) 2010-07-01
JPWO2009037892A1 (ja) 2011-01-06
CN101681070B (zh) 2011-08-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US7777825B2 (en) Liquid crystal display and a defect correcting method for the same
JP4927063B2 (ja) アクティブマトリクス基板、液晶パネル、液晶表示装置、テレビジョン受像機
US8031282B2 (en) Active matrix substrate and display device
JP4405557B2 (ja) アクティブマトリクス基板、表示装置、テレビジョン装置、アクティブマトリクス基板の製造方法、及び表示装置の製造方法
US8319906B2 (en) Active matrix substrate, liquid crystal panel, liquid crystal display unit, liquid crystal display device, television receiver, active matrix substrate manufacturing method, and liquid crystal panel manufacturing method
JP4970545B2 (ja) アクティブマトリクス基板、液晶パネル、液晶表示ユニット、液晶表示装置、テレビジョン受像機、および、アクティブマトリクス基板の製造方法
JP5220863B2 (ja) アクティブマトリクス基板、液晶パネル、液晶表示ユニット、液晶表示装置、テレビジョン受像機
JPWO2009001578A1 (ja) アクティブマトリクス基板、液晶パネル、液晶表示ユニット、液晶表示装置、テレビジョン受像機、液晶パネルの製造方法
WO2010089820A1 (ja) アクティブマトリクス基板、液晶パネル、液晶表示ユニット、液晶表示装置、テレビジョン受像機
US8223284B2 (en) Liquid crystal device and television receiver
US10741135B2 (en) Liquid crystal display device
JPH0961852A (ja) 液晶画像表示装置およびその断線不良救済方法

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20120306

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20120404

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150413

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4970545

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150