JP4954294B2 - 光記録方法及び光記録装置 - Google Patents

Description

本発明は、光ディスクに対して情報の記録を行うための光記録方法及び光記録装置に関わるもので、特に記録時に用いるライトストラテジの補正方法に関するものである。

光ディスクに対して情報の記録を行うためには、記録時に用いるライトストラテジを光ディスクの特性に合わせて最適に調整する必要があり、一般的に光記録装置は、光ディスクのＩＤ（識別情報）毎に最適なライトストラテジを保持し、記録に用いている。

しかし、この様に光ディスクに対して固有の最適なライトストラテジを用いる場合、光ディスクや、光記録装置の個体差により必ずしも良好な記録品質で記録ができない。また、光ディスクの反りが大きい場合や、記録特性が不均一な場合、さらには記録中の温度変化による影響で、記録品質が悪化する場合があるという問題があった。

この対応策として、温度変化が起きた場合や、記録速度が変わる場合、あるいは一定時間間隔毎に記録を一時中断し、ライトストラテジを補正あるいは最適化するものがある（例えば特許文献１〜４参照）。また、光ディスクに情報を所定量書き込む毎に周辺温度に対応する第１の記録パルスパターン及び周辺温度の近傍に変化させた場合の第２の記録パルスパターンを読み出して光ディスクに情報を書き込み、第１及び第２の記録パルスパターンで書き込んだ情報のエラーレートが低い記録パルスパターンを書き込み用の記録パルスパターンとすることも知られている（特許文献５）。さらに、温度パラメータ毎に複数の調整量を格納しておき、光ヘッド近傍の温度に応じて調整量を選択することも知られている。

特開２００６−３０２３３２号公報（第１−１８頁、第１−１６図） 特開２００７−２００３８９号公報（第１−２０頁、第１−１６図） 特開２００７−２００４３５号公報（第１−９頁、第１−９図） 特開２００７−２１３６７４号公報（第１−９頁、第１−５図） 特開２００７−２３４１８８号公報（第１−１３頁、第１−７図） 特開２００７−２７３０２１号公報（第１−１１頁、第１−１３図）

上記の従来の光記録装置では、記録途中に記録を一時中断し試し書きを繰り返し、ライトストラテジを補正しあるいは最適化するが、この試し書きの繰り返しにより、記録に必要な時間が多く必要となってしまう。その為、放送番組を録画する場合、試し書きに時間が多く必要となった場合に、光記録装置で一時的にメモリバッファに蓄積する放送番組データがメモリバッファ容量以上となり、データが破綻してしまうという問題点があった。

この発明は、上記のような問題点を解決するためになされたもので、ライトストラテジの補正および最適化を効率良く行うことができるようにした光記録方法及び光記録装置を得ることを目的としている。

本発明の光記録方法は、
記録データ長に応じた複数のパラメータから構成されるライトストラテジに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
外部から供給される前記情報を、バッファメモリに書き込んだ後、該バッファメモリから読み出して前記光記録媒体に情報の記録を行なう記録期間と、記録を中断させる中断期間とを交互に繰り返すことで、前記情報を前記光記録媒体に記録し、
前記記録期間の開始及び前記中断期間の開始を、前記バッファメモリ内のデータ量に基づいて制御する工程と、
前記中断期間に、直前の記録期間に記録した情報を再生し、再生信号の品質に基づいて、ライトストラテジのパラメータを補正するライトストラテジ補正工程と、
前記中断期間に、前記ライトストラテジの補正タイミングであることを検出する補正タイミング検出工程と、
前記ライトストラテジ補正工程で補正されたライトストラテジのパラメータを用いて、次の記録期間における上記記録を行う工程とを有し、
前記ライトストラテジ補正工程が、
直前に記録した信号の品質を測定する品質測定工程と、
前記品質測定工程で測定された再生信号の品質に基づいてライトスラテジを変更するライトストラテジ変更工程とを含み、
前記中断期間中における前記ライトストラテジ補正工程の処理は、前記補正タイミング検出工程で前記補正タイミングであることが検出されたことを条件として行なわれ、
前記補正タイミング検出工程は、前記光記録媒体への記録の開始から所定の設定補正間隔が経過したとき、又は最も最近の前記ライトストラテジ補正工程の処理の実施から所定の設定補正間隔が経過したときに前記補正タイミングであることを検出することを特徴とする。

本発明によれば、１回の記録中断期間中にライトストラテジのパラメータを１回だけ変更するようにしている為、中断期間を短くすることができる。一方で、設定補正間隔毎にライトストラテジのパラメータの補正を行なうので、光記録媒体、例えば光ディスクの反りが大きい場合や、記録特性が不均一な場合、さらには記録中の温度変化による影響で、記録品質が悪化することを防ぐことができ、安定した品質の記録を行うことができる。

この発明の実施の形態における光記録再生装置を示すブロック図である。 （ａ）乃至（ｃ）は、この発明の実施の形態における再生特性測定部において、測定される再生信号のアシンメトリの例を示した図である。 この発明の実施の形態における再生特性測定部において、測定される再生信号の変調度の例を示した図である。 （ａ）〜（ｅ）は、この発明の実施の形態における光記録再生装置において、光ディスクへの記録がＥＦＭ＋（８−１６）変調の場合（ＤＶＤの場合）に生成するライトストラテジの一例を示した図である。 この発明の実施の形態における光記録再生装置が保持するライトストラテジのリストの一例を示した図である。 この発明の実施の形態１における光記録再生装置における、記録の手順の一例を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態１における光記録再生装置における、記録の手順の他の例を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態１における光記録再生装置における、ライトストラテジ補正の手順の一例を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態１における光記録再生装置における、ライトストラテジ補正の手順の他の例を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態１における光記録再生装置における、ライトストラテジ補正の手順の他の例を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態１における光記録再生装置における、ライトストラテジ補正の手順のさらに他の例を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態１における光記録再生装置における、ライトストラテジ補正の手順のさらに他の例を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態１における光記録再生装置における、ライトストラテジ補正の手順の他の例を示すフローチャートである。 図１３のステップＳ３８のチルト補正の手順の一例を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態３における光記録再生装置における、ライトストラテジ補正の手順を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態４における光記録再生装置における、ライトストラテジ補正の手順を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態５における光記録再生装置における、記録の手順を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態５における光記録再生装置における、ライトストラテジ補正の手順を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態６における光記録再生装置における、記録の手順を示すフローチャートである。 この発明の実施の形態７における光記録再生装置における、ライトストラテジ補正の手順を示すフローチャートである。

符号の説明

１００ 光記録再生装置、 １１０ プリアンプ、 １２０ 再生信号処理部、 １３０ 記録品質測定部、 １４０ データデコーダー、 １５０ 再生特性測定部、 １６０ データエンコーダー、 １７０ ライトストラテジ制御部、 １８０ サーボ制御部、 １８１ スピンドルモーター、 １８２ スレッドモーター、 １９０ バッファメモリ、 ２００ 中央制御部、 ２１０ ＣＰＵ、 ２２０ ＲＯＭ、 ２３０ ＲＡＭ、 ３００ 光ヘッド、 ３１０ 半導体レーザー、 ３２０ レーザー駆動回路、 ３３０ コリメートレンズ、 ３４０ ビームスプリッタ、 ３５０ 対物レンズ、 ３６０ 検出レンズ、 ３７０ 受光素子、 ４００ 上位コントローラー、 ５００ 光ディスク。

実施の形態１．
以下、この発明の実施の形態を、図面を参照して説明する。
以下に説明する実施の形態における光記録方法は、マークエッジ記録（ＰＷＭ記録）を行うものである。そして、光ディスク上に記録すべきデータに応じて、半導体レーザーをライトストラテジ（記録に用いられるレーザー発光波形規則）に従い発光させて、記録マークを形成することにより情報の記録をおこなっている。

図１は本発明の実施の形態１に係る光記録再生装置１００の基本的な構成例を示す図である。ここで、図１の光記録再生装置１００は、ＥＦＭ＋（８−１６）変調した記録データを光ディスク５００へ記録する場合（例えば光ディスク５００がＤＶＤの場合）を示している。

サーボ制御部１８０は、光ディスク５００を回転させる為のスピンドルモーター１８１、光ヘッド３００の位置を移動させる為のスレッドモーター１８２、光ヘッド３００のアクチュエーター（図示しない）を制御する。

光ヘッド３００からの再生信号がプリアンプ回路１１０にて増幅され、中央制御部２００に入力される。入力された信号は中央制御部２００にてアドレス情報の復号が行われ、光ヘッド３００の現在位置が得られる。

現在位置にて得られたアドレス情報から、アクセスすべき位置（アクセス対象位置）のアドレス情報の差分をサーボ制御部１８０に与えることにより、サーボ制御部１８０がスレッドモーター１８２を制御し、光ヘッド３００をアクセス対象位置へ移動させる。さらに、サーボ制御部１８０は、プリアンプ１１０からのサーボエラー信号に基づき、フォーカス制御、トラッキング制御を行う。また、サーボ制御部１８０は、光ヘッド３００のアクチュエーター（図示しない）を制御し、光ディスク５００に対する光ヘッド３００の角度（光ディスク５００の表面に対する垂線に対する光ヘッド３００の、ディスク５００に入射する光の光軸の角度、すなわちチルト角度）を制御する。

データ再生時は、半導体レーザー３１０から出射された、データ再生に必要な出力値（再生パワー）を有するレーザー光がコリメートレンズ３３０とビームスプリッタ３４０と対物レンズ３５０とを介して光ディスク５００に集光照射される。光ディスク５００からの反射光は、対物レンズ３５０を通った後にビームスプリッタ３４０により入射光と分離され、検出レンズ３６０を介して受光素子３７０で受光される。

上記のうち、半導体レーザー３１０と、コリメートレンズ３３０と、ビームスプリッタ３４０と、対物レンズ３５０、検出レンズ３６０とで光学系が構成され、この光学系と受光素子３７０と、レーザー駆動部３２０と、アクチュエーター（図示しない）とで光ヘッド３００が構成されている。

受光素子３７０は光信号を電気信号に変換する。受光素子３７０において変換された電気信号は、プリアンプ１１０を介して中央制御部２００、再生信号処理部１２０にそれぞれ入力される。
再生信号処理部１２０は、プリアンプ１１０からの電気信号をイコライズ処理（波形整形）し、記録品質測定部１３０と、データデコーダー１４０とに入力する。また、再生信号処理部１２０は、イコライズ処理する前の信号を再生特性測定部１５０に入力する。

再生特性測定部１５０は、記録時に必要な記録パワーの調整用にアシンメトリ値あるいは、変調度値、再生信号振幅等の再生特性を求める。また、記録品質測定部１３０は、再生信号のジッター値やエラーレート等の信号品質を測定する。
データデコーダー１４０は、入力された再生信号を２値化し、復調やエラー訂正などの処理を行うことにより、光ディスク５００に記録されたデータを生成（再生）する。光記録再生装置１００は上位コントローラー４００と接続されており、中央制御部２００は、生成されたデータを、バッファメモリ１９０に格納した後、上位コントローラー４００へ送る。

再生特性測定部１５０がアシンメトリ値を求める場合、再生特性測定部１５０は、入力された電気信号（プリアンプ１１０から出力される信号）をＡＣ（交流）カップリングし、ＡＣカップリングされた電気信号に基づいてアシンメトリ値βを算出する。（図２（ａ）〜（ｃ）上記のＡＣカップリングされた電気信号の例が示されている。再生特性測定部１５０は、図２（ａ）〜（ｃ）に例示される信号のピークレベルＡ１とボトムレベルＡ２を検出する。検出したピークレベルＡ１とボトムレベルＡ２から、以下の式（１）を用いて、アシンメトリ値βを算出する。
β＝（Ａ１＋Ａ２）／（Ａ１−Ａ２）・・・（１）
ここで、ピークレベルＡ１、ボトムレベルＡ２は、最長スペースと最長マークが交互に現れる部分で発生するものであり、それらの値は、最短スペースと最短マークが交互に現れる部分のピークレベルとボトムレベルの平均値をゼロレベルとして表したものである。

上記のように、図２（ａ）乃至（ｃ）は、再生特性測定部１５０において、検出される再生信号（プリアンプ１１０から出力される信号）のアシンメトリの検出例を示すが、そのうち、図２（ａ）はβ＜０の場合を示し、図２（ｂ）はβ＝０の場合を示し、図２（ｃ）はβ＞０の場合を示す。

また、再生特性測定部１５０が変調度値を求める場合、再生特性測定部１５０は、入力された電気信号のピークレベルＰＫとボトムレベルＢＴを検出する。この場合、アシンメトリを求める場合とは異なり、ＡＣカップリングをせずにそのまま（ＤＣカップリングで）得られた信号のピークレベルＰＫと、ボトムレベルＢＴとを検出し、これらから、以下の式（２）を用いて変調度を算出する。
変調度＝（ＰＫ−ＢＴ）／ＰＫ・・・（２）
図３にそのようなＤＣカップリングで得られた信号の一例を示す。図示のように、ピークＰＫ、ボトムＢＴは、ゼロレベル（受光素子３７０への入力がない（光ディスクからの反射光入力がない）ときの出力オフセット値）が基準となる。ピークＰＫ、ボトムＢＴはそれぞれ最長スペース、最長マークのレベルに対応する。

データ記録時には、中央制御部２００は、前記上位コントローラー４００からのデータをバッファメモリ１９０に格納した後、データエンコーダー１６０で誤り訂正符号を付加し、変調規則に従って変調し、記録データを光ディスク５００のフォーマットに従って生成する。ここで、記録するデータが放送番組の場合は、録画レートに従って、上位コントローラー４００から一定間隔で順次データが送付されバッファメモリ１９０に格納される。中央制御部２００は、格納されたデータサイズがバッファメモリ１９０のサイズよりも大きくならないように、適時データをバッファメモリ１９０から吸い出し記録を行う。またバッファメモリ１９０へ格納されたデータサイズが少ない場合は、記録動作を一時停止し、バッファメモリ１９０へ所定量以上のデータが格納されるまで待機し、間欠的な記録を行う。

ライトストラテジ制御部１７０は、記録データに基づきライトストラテジ信号を生成する。即ち、中央制御部２００からライトストラテジが設定された後、データエンコーダー１６０から、マークの長さを表す周期数ｎを指定する記録データが与えられると、ライトストラテジ制御部１７０は、そのような記録データに対応するライトストラテジ信号（ライトストラテジに従って生成された、発光パルス列の波形と略同一の波形を有する信号）を出力する。

レーザー駆動部３２０は、生成されたライトストラテジ信号に応じた駆動電流により半導体レーザー３１０を駆動する。半導体レーザー３１０から出射されたデータ記録に必要な出力値（記録パワー）を有するレーザー光がコリメートレンズ３３０とビームスプリッタ３４０と対物レンズ３５０とを介して光ディスク５００に集光照射される。これにより、マークが形成され、マークとマーク相互間に位置するスペースとから成る記録部が形成される。

図４（ａ）乃至（ｅ）は、図１に示される光記録再生装置１００において、ライトストラテジ制御部１７０で生成されるライトストラテジ信号の例を示したものである。図４（ａ）に、マーク部ＭＡとスペース部ＳＡとからなる記録データの例を示す。図４（ｂ）に、図４（ａ）の記録データを光ディスク５００へ記録した場合に形成された光ディスク上のマークＭＫと、マークＭＫ相互間に位置するスペースＳＰとを示す。ＥＦＭ＋（８−１６）変調された記録データは、最短マークを記録する為の周期数ｎ＝３、即ち３Ｔに対応する長さから、周期数ｎ＝１１、即ち１１Ｔに対応する長さと、最長マークを記録する為の周期数ｎ＝１４、即ち１４Ｔに対応する長さを有する。
図４（ａ）乃至（ｅ）は、最短マーク、即ち３Ｔのマークを記録し、次に２番目に短いマーク、即ち４Ｔのマークを記録し、次に４番目に短いマーク、即ち６Ｔのマークを記録する場合を想定している。

図４（ｃ）は、光ディスク５００が書換可能な記録媒体（例えばＤＶＤ−ＲＷ）へデータを記録する場合に、ライトストラテジ制御部１７０で生成されるライトストラテジ信号の例を示したものである。また、図４（ｄ）及び図４（ｅ）は、光ディスク５００が追記可能な記録媒体（例えばＤＶＤ−Ｒ）へデータを記録する場合に、ライトストラテジ制御部１７０で生成されるライトストラテジ信号の例を示したもので、図４（ｄ）のライトストラテジ信号は、低倍速（例えば１倍速〜４倍速）の記録に用いられ、図４（ｅ）のライトストラテジ信号は、高倍速（例えば４倍速以上）の記録に用いられる。

図４（ｃ）〜（ｅ）の様なライトストラテジ信号をライトストラテジ制御部１７０で生成する為に、中央制御部２００は、複数のライトストラテジパラメータを設定する必要があり、ライトストラテジ信号の形が複雑になる程、その種類は増加する。

中央制御部２００は、光記録再生装置１００の再生、書き込みの際に、装置の全体を制御するもので、記録品質測定部１３０からのジッター等の記録品質、再生特性測定部１５０からのアシンメトリ値や変調度値、データデコーダー１４０からの再生データを受ける一方、データエンコーダー１６０、ライトストラテジ制御部１７０、レーザー駆動部３２０、サーボ制御部１８０に制御信号を与える。

中央制御部２００はまた、後に図６乃至図２０を参照して説明するライトストラテジの補正、特にそのライトストラテジ補正の実施、ライトストラテジの設定補正間隔の設定、アシンメトリ値等の再生特性の計算、信号品質の測定、試し書き、データ記録の停止や再開処理などを行う。

中央制御部２００は例えばＣＰＵ２１０と該ＣＰＵ２１０の動作のためのプログラムを格納したＲＯＭ２２０とデータを記憶するＲＡＭ２３０とを備えている。ＲＯＭ２２０に格納されたプログラムは、後に図８、図９又は図１５及び図１６を参照して説明されるライトストラテジの補正、及びライトストラテジの設定補正間隔を定義する部分を含む。
なお、ＲＯＭ２２０としては、後述の理由で書き換え可能なもの、たとえばＥＥＰＲＯＭを用いるのが好ましい。

また、一般的に光記録再生装置１００は、中央制御部２００内（例えばＲＯＭ２２０内）に光ディスク５００のＩＤにそれぞれ対応したライトストラテジのリストを保持している。ここで、ライトストラテジのリストには、パワー調整を行う場合の目標値となるアシンメトリ値や変調度等も一緒に保持している。図５にライトストラテジのリストの一例を示している。ここで、光ディスク５００のＩＤは、光ディスク５００を作成するメーカーが予め設定したもので、光ディスク５００に（例えばリードインエリア等に）固有情報として記録されている。
光記録再生装置１００は、挿入された光ディスク５００からＩＤを読み取り、図５のライトストラテジのリストのＩＤと一致するライトストラテジ値を読み出し、光ディスク５００への記録に用いる。
尚、光記録再生装置１００によっては、図５に示したライトストラテジのリストを必ず保持しているとは限らず、光ディスク５００の固有情報に含まれるライトストラテジの推奨値（光ディスクメーカが予め設定し、光ディスク５００に記録している値）を用いたり、ライトストラテジの推奨値から予め設定した計算式により計算した値を用いるようにしている場合もある。

一般に、情報を記録する前に試し書きを行うことで記録パワーの最適化が行われる。以下にこの手順について説明する。

最初に、例えばランダムな記録データパターンを用いて、記録パワーを変化させて光ディスク５００への試し書きを行ない、次にこのテストパターンを記録した光ディスク５００上の領域を再生し、再生特性測定部１５０によりアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、中央制御部２００において、目標とするアシンメトリ値と比較して最適の記録パワーを求める。
一般に、記録パワーを大きくすればアシンメトリ値は大きくなり、記録パワーを小さくすればアシンメトリ値は小さくなる。ここで、アシンメトリ値は、追記型の光記録媒体において記録パワーを最適化する場合に用いられる場合が多く、これに対して書換型ディスクにおいては、変調度が用いられる事が多い。変調度も一般に、記録パワーを大きくすれば値は大きくなり、記録パワーを小さくすれば値は小さくなる。
中央制御部２００では、互いに異なる複数の記録パワーに対応するアシンメトリ値の検出値を目標値と比較して、目標値に最も近い検出値を生じさせた記録パワーを最適の記録パワーとして設定する。
なお、このようにする代わりに、一つの記録パワーで光ディスク５００への試し書きを行なった後再生し、再生結果からアシンメトリ値を検出し、検出されたアシンメトリ値を、目標とするアシンメトリ値と比較して比較結果に応じて記録パワーを増減して最適値を求めるようにしても良い。ここで、追記型ディスク（ＤＶＤ−Ｒ等）では一般的にアシンメトリ値が利用される。また、書換型ディスク（ＤＶＤ−ＲＷ等）では、アシンメトリ値の代わりに変調度を利用する場合が多い。

以下、図６を参照して本実施の形態の光記録方法の手順を説明する。
最初に記録に用いられる光ディスク５００が光記録再生装置１００に挿入されると、図示しないセンサによりそのことが検出されて（ステップＳ１０）、中央制御部２００に伝えられ、中央制御部２００は、サーボ制御部１８０を介して光ヘッド３００を駆動して、光ディスク５００とのチルト角度や、サーボ条件を調整する（ステップＳ１１）。

次にステップＳ１２において、光ディスク５００から、予めディスクメーカにより記録されたＩＤ情報（識別情報）や、ライトストラテジの推奨値等のディスクの固有情報を読み出す。

次にステップＳ１３において、中央制御部２００内に（例えばＲＯＭ２２０内に）格納されているライトストラテジのリストから、読み取られたＩＤ情報に対応するライトストラテジの設定値を検索し、記録を行う際のライトストラテジとして、中央制御部２００内に（例えばＲＡＭ２３０内に）設定する。なお、読み取られたＩＤ情報に対応するライトストラテジが無い（中央制御部２００内に格納されていない）場合は、光ディスク５００から読み取ったライトストラテジの推奨値を設定するようにしても良い。
また、光ディスク５００から読み取った値と、光記録再生装置１００に予め設定された関係式により決まるライトストラテジを設定するようにしても良い。ここで、ライトストラテジとして設定するパラメータは、記録パワーの最適化の為の目標値として使用するアシンメトリβ値あるいは変調度の値も含んでいる。

然る後、図示しない手段により記録の指示が与えられると（ステップＳ１４）、ステップＳ１５において、上記のようにして設定されたライトストラテジ及び記録パワーの最適化の為の目標値（アシンメトリβ値あるいは変調度）を用いて前記光ディスク５００への試し書きを行う。即ち、ステップＳ１３において中央制御部２００内に設定されたライトストラテジをライトストラテジ制御部１７０に設定することにより、ライトストラテジ制御部１７０でテストパターンに基づいたライトストラテジを生成し、光ヘッド３００を用いて光ディスク５００への試し書きを行う。そして、テストパターンを記録した光ディスク５００上の領域を光ヘッド３００で再生し、再生特性測定部１５０により検出された再生特性（アシンメトリ値あるいは変調度）とステップＳ１３において設定された記録パワーの最適化の為の目標値とを中央制御部２００で比較して両者が一致するように制御を行うことで、最適な記録パワーを決定する。

最後にステップＳ１６において、ステップＳ１３で設定されたライトストラテジと、ステップＳ１５で決定された記録パワーにより、光ディスク５００への本来のデータの書き込み（本書き込み）を開始する。

上記のうち、ステップＳ１０の処理は、図示しない光ディスクの挿入を検出するセンサと、中央制御部２００とにより行われ、ステップＳ１１の処理は、光ヘッド３００、プリアンプ１１０、サーボ制御部１８０、及び中央制御部２００により行われ、ステップＳ１２の処理は、光ヘッド３００、サーボ制御部１８０、プリアンプ１１０、再生信号処理部１２０、データデコーダー１４０、及び中央制御部２００により行われ、ステップＳ１３の処理は、中央制御部２００により行われ、ステップＳ１４の処理は、図示しない記録の指示を受ける手段（インターフェース）と、中央制御部２００とにより行われ、ステップＳ１５の処理は、サーボ制御部１８０、プリアンプ１１０、再生信号処理部１２０、再生特性測定部１５０、中央制御部２００、ライトストラテジ制御部１７０、及び光ヘッド３００により行われ、ステップＳ１６以降のデータ記録処理は、中央制御部２００、データエンコーダー１６０、ライトストラテジ制御部１７０、サーボ制御部１８０、及び光ヘッド３００により行われる。

図６では、ステップＳ１３で設定したライトストラテジをステップＳ１６以降の記録で使用するようになっていたが、図７に示す様に、ステップＳ１７において、試し書きを繰り返し実行し、ライトストラテジの最適化を行うようにしても良い。また、この時の最適化では、要求されている記録の時間的制約の範囲（記録再生が破綻しない範囲）内で可能な粗い調整にとどめても良い。また、最適化を実施しなくても、予め用意したいくつかのライトストラテジの候補を試し書きし、その中で最良のライトストラテジを採用する様にしても良い。

図８は図６あるいは図７のステップＳ１６以降の処理を詳細に示す。ここで、記録するデータが放送番組の様に、所定の伝送レートで供給される場合を想定している。この場合、メモリバッファ１９０でオーバーフロー、アンダーフローが起きないように、メモリバッファ１９０に蓄えられている記録データの量を管理する必要がある。そのため、所定量のデータをメモリバッファ１９０から読み出して光ディスク５００に書き込み記録期間と、光ディスク５００への記録を中断して、メモリバッファ１９０に所定量以上のデータが蓄積されるのを待つ（メモリバッファ１９０内のデータ量が所定量以上になるのを待つ）待機期間とが交互に繰り返される。このように記録（光ディスク５００への記録）と待機（即ち光ディスクへ５００の記録の中断）とが繰り返されるので、（光ディスク５００への）間欠記録と言うこともできる。そして、以下に詳しく述べるように、このような間欠記録における記録の中断期間のうち、補正タイミングに一致する中断期間（設定期間経過後の最初の中断期間）に、ライトストラテジの補正が行なわれる。

ステップＳ２０は、図示しない手段により記録停止の指示が与えられているか否かの判断を行い、記録停止の指示が与えられている場合（ＹＥＳの場合）はデータの記録を終了する（ステップＳ２１）。また、記録停止の指示が与えられていない場合（ＮＯの場合）は、ステップＳ２２において、中央制御部２００からの記録指示を待つ。中央制御部２００は、バッファメモリ１９０に蓄積されるデータサイズが空になったり（下限設定量）未満になったり）、バッファメモリ１９０のサイズ以上にならないように（上限設定量よりも多くになったりしないように）、記録するデータ量および、記録を開始するタイミングを制御する。中央制御部２００から記録指示が与えられると、ステップＳ２３において、中央制御部２００で指定されたサイズのデータを光ディスク５００へ記録する。

記録完了後、ステップＳ２４において、ライトストラテジ（ＷＳ）の補正のタイミングかどうかの判定を行なう。ここで、ライトストラテジ補正のタイミングかどうかの判定は、記録開始又は前回のライトストラテジの補正から設定補正間隔が経過した否かによりなされる。
ここで「記録開始又は前回のライトストラテジ補正から」とは、「記録開始後一度でもライトストラテジ（後述のステップＳ２５）の処理を行なったことがある場合には、前回（最も最近）ライトストラテジの補正（ステップＳ２５の処理）を行なってから、一方記録開始後未だ一度もライトストラテジの補正（ステップＳ２５の処理）を行なっていない場合には、記録開始から」と言う意味である。

また、設定補正間隔は、例えば、光ディスクに書き込まれるデータの量で定められる。この場合、記録開始又は前回のライトストラテジ補正から、今までに記録したデータのサイズと、補正間隔決定のために設定したデータサイズを比較することで補正タイミングかどうかの判定を行なう。

この判断において、ライトストラテジ補正のタイミングではない場合（ＮＯの場合）は、ステップＳ２０に戻る。また、ライトストラテジ補正のタイミングである場合（ＹＥＳの場合）は、ステップＳ２５のライトストラテジ補正の処理を行なう。
ライトストラテジ補正の処理（Ｓ２５）においては、まずステップＳ２５Ａの処理を行なう。
ステップＳ２５Ａにおいては、ステップＳ２３において直前に記録した信号を再生し、再生した信号の品質（ジッター値やエラーレート等）を測定する。ここで、信号を再生する領域は、少なくとも信号品質の測定に必要なサイズ以上とする必要がある。

次に、ステップＳ２５Ｂにおいて、ステップＳ２５Ａで測定された信号の品質に基づきライトストラテジの変更が必要かどうかの判定を行なう。変更が不要であれば、ステップＳ２８に進む。変更が必要であれば、ステップＳ２５Ｃに進む。

次にステップＳ２５Ｃにおいて、中央制御部２００内に（例えばＲＡＭ２３０内に）設定されたライトストラテジ設定値から１ステップ（設定値がディジタル信号で表される場合、最小桁の数値を１だけ変える幅）のみ変更する。この変更は、ステップＳ２５Ａで測定した信号品質および、過去に変更したライトストラテジのパラメータ及び変更方向等に基づいて行う。

次にステップＳ２８において、ステップＳ２５Ａで測定した信号品質が悪い場合（例えば、信号品質を表す指標が所定値（第１の所定値）よりも悪い場合）は、設定補正間隔を短くし、ステップＳ２５Ａで測定した信号品質が良い場合（例えば、信号品質を表す指標が所定値（第２の所定値）よりも悪い場合）は、設定補正間隔を長くする。

ここで、本例では、設定補正間隔は、光ディスクに書き込まれるデータの量で定義乃至指定されることとしているが、代わりに、光ディスク５００上のデータが記録される部分の半径方向の変位量（前回補正を行った部分の位置からの半径方向の変位量）で定義乃至指定するようにしても良い。

なお、光ディスク５００は、外周部分での反りが大きい場合が多く、また外周部分までは光ディスク５００の記録特性が均一でない場合もありうる為、上記の信号品質による設定補正間隔の設定に加え、ライトストラテジの設定補正間隔を、内周側では長くし、外周側では短くするようにしても良い。この場合、例えば、光ディスクへ情報を記録する部分の半径方向位置を検出する半径位置検出手段乃至工程を付加し、半径位置検出手段乃至工程で検出した半径方向位置が内周側の場合（現在記録を行なっている位置が光ディスク上の所定位置よりも内周側である場合）は品質測定工程（Ｓ２５Ａ）で測定した再生信号の品質を基に決定した設定補正間隔をさらに長くし、外周側の場合（現在記録を行なっている位置が光ディスク上の所定位置よりも外周側である場合）は品質測定工程で測定した再生信号の品質を基に決定した設定補正間隔をさらに短くする。

さらに、記録性能は温度変化によっても影響される可能性があるため、光記録再生装置１００の内部温度を測定し、温度に応じてライトストラテジの設定補正間隔を制御するようにしても良い。この場合、例えば、光ディスクへの記録を開始した時からの温度差を検出する温度検出手段乃至工程を付加し、温度検出手段乃至工程で検出した温度差がある所定値以上となった場合に、品質測定工程（Ｓ２５Ａ）で測定した再生信号の品質を基に決定した前記設定補正間隔をさらに短くする。

また、データの記録開始時には、１回目の記録品質測定を早く実行する為に、記録開始から最初の補正までの設定補正間隔が短くなるように、中央制御部２００内（例えばＲＡＭ２３０内）に初期値（初期設定補正間隔）として格納しておくか、あるいはデータ開始時は強制的に短い設定補正間隔に（例えば、最短の設定補正間隔に）になるように、中央制御部２００で制御するようにしても良い。

ステップＳ２８において、設定補正間隔を更新した後は、再びステップＳ２０に戻り同様の動作を行う。

この様に、ステップＳ２８において設定する補正間隔で、ライトストラテジの補正を繰り返し行う。ライトストラテジの最適化の手法としては、信号品質を表す指標を引数（変数）とする最急降下法を用いても良く、学習により変更するライトストラテジのパラメータと変更方向を決めるようにしても良い。また、予めライトストラテジパラメータを変更する優先度を設定しておき、順々に変更するようにしても良い。ただし、１回の待機期間中にライトストラテジ補正（Ｓ２５の処理）を１回のみ行ない、１回のステップＳ２５Ｃの処理でライトストラテジの変更を複数回行うのではなく、ステップＳ２５Ｃが実行される毎に１回のみ変更を行なう（変更を行なわないか、行なうとしても１回のみ行なう）。

ここで、ステップＳ２５Ｃの処理でライトストラテジの変更を複数回行う場合は、ライトストラテジの変更を行う回数分のテスト記録が必要になる為、随時記録データが蓄積されていくバッファメモリ１９０の管理が複雑になり、さらには記録期間の長さに対する待機期間の長さの割合が少ない場合には、バッファメモリ１９０の管理が破綻してしまう（バッファメモリ１９０のオーバーフロー、アンダーフローが起こる）可能性がある。
これに対し、ステップＳ２５Ｃの処理でライトストラテジの変更を１回に制限することで、テスト記録が不要であり（次の記録が実質のテスト記録に相当することになる）、従来のライトストラテジの補正を行なわない場合と、バッファメモリ１９０を同様に管理することができる。

また、ライトストラテジの変更に当たっては、１ステップのみを変更する（変更しないか、１ステップのみの変更する、即ち１ステップを超える変更を行なわない）ことにより、仮に信号品質が悪化する方向の変更を行なったとしても、記録再生動作が破綻する程に急激に劣化することは無い。
なお、ライトストラテジの変更は１ステップのみとしているが、信号品質への影響が小さいライトストラテジのパラメータについては、変更の最大ステップ幅を中央制御部２００内（例えばＲＡＭ２３０内）に予め設定しておき、この最大ステップ幅の範囲内で、ライトストラテジを変更するようにしても良い。

また、予めライトストラテジの１ステップの変更で信号品質への影響が大きいライトストラテジのパラメータについては、急激に信号品質が悪化するのを防ぐ為に、ステップＳ２５Ｃでは変更しないようにしても良い。例えば、予めライトストラテジの変更と、該変更が再生信号の例えばジッター値に与える影響の関係を調べておき、１ステップの変更で再生信号のジッター値が２％以上変わる様な影響の大きいライトストラテジのパラメータは、ステップＳ２５Ｃでの変更を行わない様にする。その代り、ステップＳ１７において、試し書きによるライトストラテジの最適化を行う場合には、前記影響の大きいライトストラテジのパラメータを優先的に調整するのが望ましい。

上記の様に、ライトストラテジ設定補正間隔毎にライトストラテジを補正するようにしているが、光記録再生装置１００では、一般に記録パワーの補正としてＲＯＰＣ（Ｒｕｎｎｉｎｇ Ｏｐｔｉｍｕｍ Ｐｏｗｅｒ Ｃｏｎｔｒｏｌ）が行われている場合がある。ＲＯＰＣには、記録中の光ディスク５００からの反射光を利用する方法や、記録後の再生信号の例えばアシンメトリ値を利用して制御する方法等がある。記録中の反射光を利用する方法は、記録動作や再生動作と並行して行うことができるが、記録後の再生信号を利用する方法では、ライトストラテジの補正動作と重ならないようタイミングを調整する必要がある。

記録後の再生信号を利用するＲＯＰＣを行なう例を図９に示す。ステップＳ２４でライトストラテジ設定補正間隔が経過しておらす、従って補正タイミングでない場合（ＮＯの場合）に、ステップＳ２９で記録パワー補正処理としてＲＯＰＣを動作させる。
また、ステップＳ２４でライトストラテジ補正タイミングの場合（ＹＥＳの場合）に、ステップＳ２８の設定補正間隔更新時に、次のステップＳ２４におけるストラテジ補正タイミング判定の結果（次にステップＳ２４のストラテジ補正タイミング判定が行われるときの判定結果）が強制的にＮＯとなるように、ステップＳ２４の処理を行う中央制御部２００を設定することとしても良い。例えば、ステップＳ２４における、ライトストラテジ（ＷＳ）の補正タイミングかどうかの判定を、前回ライトストラテジの補正を行ってからこれまでに記録したデータのサイズと、予め設定した設定補正間隔を指定するデータサイズを比較することで行っている場合、設定補正間隔を指定するデータサイズを十分大きい値（例えば、データサイズを表す値の範囲の最大値）と設定して、次のステップＳ２４の判定を行うこととする。この場合、ステップＳ２９の処理を行なった後に、次の設定補正間隔を通常の値に戻すための補正間隔更新（Ｓ３０）を行なう必要がある。このようにすることより、設定補正間隔が短い場合でも、記録パワー補正処理がライトストラテジ補正と交互に実行される（一つの中断期間では、ライトストラテジの補正（Ｓ２５）及び記録パワーの補正（Ｓ２９）の一方を行ない、次の中断期間では、ライトストラテジの補正（Ｓ２５）及び記録パワーの補正（Ｓ２９）の他方が行なわれる）ことになる。

なお、上記の例では、１回の待機期間（中断期間）中に、ライトストラテジの補正（Ｓ２５）と記録パワー補正（Ｓ２９）の一方のみが行なわれるが、ライトストラテジの補正（Ｓ２５）および、記録パワー補正（Ｓ２９）を両方とも行う時間的余裕があれば、両方を行うようにしても良い。

図９に示す例においては、ライトストラテジの補正と記録パワーの補正（ＲＯＰＣ）を交互に実行する様にしているが、ＲＯＰＣによる記録パワーの補正が、一回のみでは十分補正できない場合も考えられる。ライトストラテジの補正は、直前に記録した信号の信号品質を元に行う為、記録パワーが最適に制御された状態で実行する必要がある。

ＲＯＰＣにおける記録パワーの補正により、記録パワーが最適に制御された状態で、ライトストラテジの補正を行う様な例を図１０に示す。ステップＳ２３とステップＳ２４の間で、ステップＳ３５の処理を行う以外の処理は、図９と同様であるのでそれらの説明を省略する。

ステップＳ３５でＲＯＰＣによる記録パワー補正が十分かどうかの判定を行う。ＲＯＰＣによる記録パワー補正が十分かどうかは、直前に記録した信号の再生特性（アシンメトリ値や変調度）と目標値との誤差が予め設定してある許容値に収まっているかどうかで判断し、許容値に収まっている場合は、記録パワーの補正を不要と判断し、許容値に収まっていない場合は、記録パワーの補正を必要と判断する。
ステップＳ３５で記録パワー補正が不十分で、記録パワーの補正が必要と判断された場合（ＮＯの場合）に、ステップＳ２９で記録パワー補正処理としてＲＯＰＣを動作させる。
また、ステップＳ３５でＲＯＰＣによる記録パワー補正が不要と判断された場合（ＹＥＳの場合）に、ステップＳ２４でライトストラテジ補正タイミングかどうかを判断する。

ステップＳ２４でライトストラテジ補正タイミングでない場合（ＮＯの場合）は、ステップＳ２９で記録パワー補正処理としてＲＯＰＣを動作させ、ステップＳ２４でライトストラテジ補正タイミングの場合（ＹＥＳの場合）は、ステップＳ２５でライトストラテジ補正を行う。

ここで、ステップＳ２４において、ライトストラテジ補正タイミングでない場合は、ステップＳ３５で記録パワーの補正不要と判断されている為、ステップＳ２９とステップＳ３０の処理を行わなくても良い。

ステップＳ２０で記録停止と判断された場合（ＹＥＳの場合）、データの記録が終了する（ステップＳ２１）。この時に（終了Ｓ２１に先立って行われる）、ステップＳ２５Ｃのライトストラテジ変更で変更されたライトストラテジの処理について図１１を参照して説明する。図１１は、概して図９と同じであるが以下の点で異なる。

ステップＳ２５Ａで信号を再生し、信号品質を測定したとき、良好な結果が得られた場合、その直前のステップＳ２５Ｃにおけるライトストラテジ変更による変更後のライトストラテジの値（従って、良好な信号品質を生じさせたライトストラテジの値）を光ディスクの記録管理領域の一部に記録する（Ｓ３６）。ここで、例えばＤＶＤディスクでは、光ディスク５００の内周のリードイン（Ｌｅａｄ−ｉｎ）エリアに記録条件等を記録する管理領域があり、この一部に変更後のライトストラテジの値をライトストラテジ補正値として記録する。後に、この光ディスク５００にデータを追記する場合は、ステップＳ１２で、ライトストラテジ推奨値の代わりに記録された変更後のライトストラテジの値（ライトストラテジ補正値）を光ディスク５００から読み出して、ステップＳ１３で、前記読み出したライトストラテジの値を設定する。

この処理（ステップＳ３６の処理）を行う為に、ステップＳ２５Ｃで変更したライトストラテジ値を中央制御部２００内（例えばＲＡＭ２３０内に保持し、次にステップＳ２５Ａが実行された場合に測定された信号品質を中央制御部２００内（例えばＲＡＭ２３０内に保持しておく。以降のステップＳ２５Ａで測定された信号品質が、中央制御部２００内に保持された信号品質よりも良いかどうかの判定を行い（Ｓ２５Ｈ）、「良い」と判定された場合には（Ｓ２５ＨでＹＥＳ）、中央制御部２００のＲＡＭ２３０内に保持された信号品質と、ライトストラテジ値を更新する。即ち、当該ステップＳ２５Ａで測定された信号品質を新たな値として書き込み、当該ステップＳ２５Ａが実行されるより前に実行されたステップＳ２５Ｃで変更されたライトストラテジ値を新たな値として書き込む（Ｓ２５Ｊ）。ステップＳ２５Ａで測定された信号品質が、中央制御部２００内に保持された信号品質よりも悪い場合（Ｓ２５ＨでＮＯ）は、信号品質およびライトストラテジ値は更新しない。（従って、それ以前の値が保持される。）上記のように、ＲＡＭ２３０は変更されたライトストラテジの保持手段として機能する。

そして、ステップＳ２０で記録停止と判断された場合に、中央制御部内に保持されたライトストラテジ値を、光ディスクの記録管理領域の一部に記録する（Ｓ３６）。

ここで、光ディスク５００へのライトストラテジ値の記録は、光ディスク５００の規格に対応して、ライトストラテジの値が記録できる領域に記録すれば良いし、必ずしも記録管理領域に記録する必要はない。また、自動でファイナライズ処理が行われて、これ以上光ディスク５００には追記されないことが予め分かる場合には、光ディスク５００へ変更後のライトストラテジの値を記録しないようにしても良い。

また、記録開始時のライトストラテジが、中央制御部２００内（例えばＥＥＰＲＯＭ２２０内）に保持された、ライトストラテジのリスト（光ディスク５００のＩＤにそれぞれ対応したリスト）から読み出されてステップＳ１３でＲＡＭ２３０内に設定された場合の処理は、図１２に示す如くであり、記録開始時のライトストラテジによる記録品質（ステップＳ２５Ａで記録開始後初めて測定された記録品質）よりも、ステップＳ２５Ｃのライトストラテジ変更で変更されたライトストラテジでの記録品質が良い場合、前記リストのライトストラテジ値を更新する。
この場合にも、ステップＳ２５Ｊで、ＲＡＭ２３０内のライトストラテジを書きかえ、記録停止（Ｓ２０でＹＥＳ）となったときに、ＥＥＰＲＯＭ２２０内のリストを書き換える（Ｓ３７）。

ただし、記録開始時のライトストラテジによる記録品質（記録開始後ステップＳ２５Ａで初めて測定された記録品質）が良好な場合は（例えばジッター値が８％以下の場合）、前記リストの更新は行わなくても良い。言い換えると、リストに記録されたライトストラテジのパラメータを用いて記録された信号の品質が、予め設定した値よりも悪い場合に限って、リストを更新するようにしても良い。

ここで、ステップＳ１７でライトストラテジの最適化が行われた場合は、ステップＳ１７で最適化されたライトストラテジによる記録性能と、ステップＳ２５Ｃで変更されたライトストラテジによる記録性能を比較し、同様に前記リストを更新する。ただし、記録開始時のライトストラテジ（ステップＳ１７で最適化されたライトストラテジ）による記録品質が良好な場合は、前記リストのライトストラテジ値をステップＳ１７で最適化されたライトストラテジ値に更新する。

また、光ディスク５００のＩＤがリストに登録されていない場合で、記録開始時のライトストラテジによる記録品質よりも、ステップＳ２５Ｃのライトストラテジ変更で変更されたライトストラテジの記録品質が良い場合は、前記リストに光ディスク５００のＩＤと共に、変更されたライトストラテジ値を追加する。

尚、以上の様な変更後のライトストラテジ値の光ディスクへの記録又は更新、或いはＥＥＰＲＯＭ２２０内のリストの更新は、光ディスクへの記録が停止と判断された後（ステップＳ２０でＹＥＳと判断された後）にのみ行う事に限定する必要はなく、例えば、記録データ量が所定のデータ量を記録する毎あるいは、光ディスク５００への記録半径位置が所定の位置となった場合等に、変更後のライトストラテジ値の記録或いは更新を行っても良い。

以上の様に本実施の形態１においては、ライトストラテジを指定した設定補正間隔毎に随時（必要に応じて）変更する様にしている為、放送番組を録画する場合の間欠記録において、光ディスクへの記録を中断している待機期間を有効に利用してライトストラテジを変更する事ができる。また、１回の待機期間中にライトストラテジ補正（Ｓ２５の処理）を１回のみ行ない、１回のライトストラテジ変更の処理（Ｓ２５Ｃ）でライトストラテジの変更を１回のみ行なうようにしている為、間欠記録における待機期間が短い場合でも、メモリバッファ１９０でのデータ破綻が起きないように（メモリバッファ１９０のオーバーフロー、アンダーフローが起きないように）ライトストラテジ補正を行なうことができる。さらに、ライトストラテジ補正のタイミングを、信号品質のレベルに応じて変更する様にしている為、必要以上の補正を実施することがなく、光記録装置１００の中央制御部２００の負荷を少なくする事ができる。

実施の形態２．
次に実施の形態２の光記録方法の手順を説明する。実施の形態２では、実施の形態１におけるライトストラテジ補正と記録パワー補正（ＲＯＰＣ）に加えて、チルトの補正を行う様にしている。

光ディスク５００の盤面は、一般的に外周に反りがあり、椀型の形状となっている事が多い。その為、データの記録再生時には、光ディスク５００の半径位置に応じて、光ヘッド３００のチルト角度を調整し、対物レンズ３５０からのレーザー光を光ディスク５００に対して垂直に照射する必要がある。特にデータの再生性能は、チルト角度が最適値からずれる事により、大きく劣化する。
本発明においては、直前に記録した信号の再生性能に応じてライトストラテジの補正を行う為、チルト角度が最適値からずれる事で再生性能が劣化した場合、ライトストラテジの補正が正しく行えない。

ここで、光ヘッド３００に、光ディスク５００との角度を検知する為のチルトセンサーが搭載されている場合は、前記チルトセンサーからの出力に応じて、チルト角度を最適に制御する事ができるが、前記チルトセンサーが搭載されていない場合は、チルト角度を常に最適に調整する事が必要となる。

光ヘッド３００に、前記チルトセンサーが搭載されていない場合は、予めディスクの内周から外周の間の２点以上の半径値でチルトを最適化し、補間する方法が使われていることが多く、光ディスク５００が未記録の場合は、サーボ制御部１８０で生成されるサーボエラー信号振幅が最大となるようにチルト角度を調整する方法が用いられる事が多い。しかし、光ディスク５００によっては、サーボエラー信号振幅が最大となる場合のチルト角度と、再生性能が最良となるチルト角度は、必ずしも等しくない場合や、大きくずれる場合があり、ライトストラテジの補正に悪影響を及ぼしてしまう。
実施の形態２は、この様なチルト角度が最適に調整されていない場合に対応する。

図１３は、実施の形態２におけるライトストラテジの補正方法を示した図である。図１３のステップＳ１６のデータ記録開始までの処理は、図６又は図７と同様であるので省略する。図１３は概して図１０と同様であるが、ステップＳ２４でＮＯとなった場合の処理が異なる。以下、その場合の処理について説明する。

ステップＳ２４でライトストラテジ補正タイミングでない場合（ＮＯの場合）に、ステップＳ３８において、チルト補正を行い、ステップＳ３９で設定補正間隔の更新を行う。このステップＳ３９の処理は、ステップＳ２８およびステップＳ３０と同様であるので、説明を省略する。
尚、設定補正間隔を必ずしも制御する必要はなく、固定のタイミング設定としておいても良い。

図１４は、実施の形態２におけるチルト補正方法の一例を示した図である。まず、ステップＳ１０１において、チルトを変更する方向（プラスするかマイナスするか）を設定する。ここで、記録開始後にステップＳ１０１が初めて実施される場合は、どちらの方向に設定しても良い。

ステップＳ１０２では、現在のチルト設定値Ｔを取得し、基準チルト値Ｔ０として設定する。次に、ステップＳ１０３において、直前に記録した信号の再生特性（基準チルト値Ｔ０における信号振幅Ｒ０）を測定する。ここで、再生信号の信号振幅が最大となるチルト角度と、再生性能が最良となるチルト角度はほぼ等しくなることから、再生信号の信号振幅を利用してチルト角度が最適値に近づく様に補正されたかどうかを判断する。

次に、ステップＳ１０４において、チルト設定値を１ステップ（設定値がディジタル信号で表される場合、最小桁の数値を１だけ変える幅）変更する。ここで、変更方向は、ステップＳ１０１で設定された方向に変更する。また、変更量１ステップは、最適なチルトから３〜５ステップ変化させることで、信号振幅が１ステップ（信号振幅がディジタル信号で表される場合、最小桁の数値を１だけ変える幅）変化する様な量を、予め中央制御部２００内（例えばＲＡＭ２３０内）に格納しておく。
次に、ステップＳ１０５で、直前に記録した信号（ステップＳ１０３で再生した信号と同じ信号）の再生特性（信号振幅Ｒ１）を測定する。

次に、ステップＳ１０６で、チルトを変更したことで信号振幅が増加したかどうかを判断する（Ｒ１−Ｒ０が正ならば、ＹＥＳ、Ｒ１−Ｒ０が負ならば、ＮＯ）。

ステップＳ１０６の判断がＮＯの場合、ステップＳ１０７で、チルト設定を元に戻し、ステップＳ１０８でチルト変更方向を現在設定されている方向と逆の方向に設定する（記録開始後にステップＳ１０８が初めて実施される場合は、ステップＳ１０１で設定された方向と逆方向に変更することになる）。ステップＳ１０８の後は、ステップＳ１１１が実施される。

一方、ステップＳ１０６の判断がＹＥＳの場合、ステップＳ１０９でＲ０の値にＲ１の値を設定する。さらに、ステップＳ１１０で、現在のチルト設定値をＴ０として設定する。次に、ステップＳ１１１で補正処理を継続するかどうかを判断する。
補正処理判断がＮＯの場合（補正処理を終了する場合）は、ステップＳ３８の処理を終了し、ステップＳ３９を実施する。
補正処理判断がＹＥＳの場合（補正処理を継続する場合）は、ステップＳ１０４の処理に戻り、ステップＳ１０９、ステップＳ１１１で更新されたチルト基準値Ｔ０、チルト基準値Ｔ０における信号振幅値Ｒ０を基準として、同様の処理を繰り返し行う。

ここで、ステップＳ１１０のチルト補正処理は、一回の中断期間内に行う必要があるため、ステップＳ１１１の補正処理を継続するかどうかの判断は、残りの中断期間に応じて決められる（残りの中断期間で、一回のチルト変更と信号品質測定が不可能と判断した場合に、補正処理を終了する）。

なお、ステップＳ１１１での補正処理の継続判断は、残りの中断期間に応じて決めるだけでなく、ステップＳ１０６で計算した信号振幅の増加量が小さければ、チルト角度が最適値に近いものとして、終了する様にしても良い。
また、図１４においては、ステップＳ１０２、ステップＳ１０５において測定する信号品質として、信号振幅を用いたが、再生性能（ジッター値やエラーレート）を測定する様にしても良い。この場合、ステップＳ１０６の判断においては、チルト変更で再生性能が良くなった場合をＹＥＳ、悪くなった場合をＮＯとする。

また、ステップＳ３８のチルト補正処理は、予め決められたステップ数のチルト角度を変化させてそれぞれの信号品質を測定し、測定する信号品質が信号振幅の場合は、最大値となるチルト角度を、測定する信号品質が再生性能の場合は最良値となるチルト角度を補正後のチルト角度として設定することとしても良い。

また、ステップＳ１０４ではチルト設定を固定の１ステップ（ここでの１ステップは、予め設予め中央制御部２００内（例えばＲＡＭ２３０内）に格納された値）にする必要はなく、ステップＳ１０６の比較時に、差が大きければ、チルト変更ステップを大きくし、差が小さければ、チルト変更ステップを小さくする等、変更されるようにしても良い。

以上の様に、実施の形態２においては、光ディスクと光ヘッドとのチルト角度をも補正する様にしている為、チルト角度が最適値からずれることによって生じる再生性能劣化の影響がライトストラテジの補正に悪影響を及ぼす事を防ぐ事ができる。

実施の形態３．
次に実施の形態３の光記録方法の手順を説明する。実施の形態３では、ここで、データを他の記録媒体から光ディスク５００にコピーする場合等、光ディスク５００へ全データを一気に、即ち連続的に記録する場合を想定している。このような場合には、放送を録画するときとは異なり、外部の情報供給源とは独立して記録を行なうことができ、外部の情報供給源のデータ伝送のビットレートによる制約を受けない。

図１５は、本実施の形態３におけるライトストラテジの補正方法を示した図である。図１５のステップＳ１６のデータ記録開始までの処理は、図６、図７と同様であるので省略する。図１５において、図８、図９と同一の符号は同様のステップを示す。

データを他の記録媒体から光ディスク５００にコピーする場合等、上位コントローラー４００ですでにデータが用意されている場合、従って、放送番組の記録のように、外部の情報供給源から供給されるデータ伝送のビットレートによる制約がない場合は、中央制御部２００は本来は、記録タイミングを細かく制御する必要はなく、光ディスク５００へ一気に即ち連続的に記録を行うことができるが、本発明では、連続的記録の間に所定の設定補正間隔で、記録を中断し、再生信号の品質を測定し、必要に応じて記録条件の変更を行う。

ステップＳ１６でデータ記録が開始された後、ステップＳ２４において、ライトストラテジの補正タイミングかどうか、即ち記録開始又は前回のライトストラテジの補正から、設定補正間隔が経過したかどうかを判断する。

ここで、設定補正間隔は、例えば、光ディスクに書き込まれるデータの量で定められ、記録開始又は前回のライトストラテジ補正から、今までに記録したデータのサイズと、補正間隔決定のために設定したデータサイズを比較することで補正タイミングかどうかの判定を行なう。

ステップＳ２４で、ライトストラテジの補正タイミングでない場合（ＮＯの場合）は、ステップＳ３１で全ての記録が完了したか（コピー対象となっているデータがすべて記録されたか）どうかを判断する。ステップＳ３１における判断で、全てのデータを記録完了している場合（ＹＥＳの場合）は、ステップＳ２１において記録動作を終了する。また、ステップＳ３１における判断で全てのデータを記録完了していない場合（ＮＯの場合）は、ステップＳ２４の処理に戻る。尚、この間は、全てのデータを記録完了していない限り、記録動作は継続して実行される。

一方、ステップＳ２４で、ライトストラテジの補正タイミングの場合（ＹＥＳの場合）、ステップＳ３２において、実行している記録を一時停止する。
次に、ステップＳ２５のライトストラテジ補正の処理を行なう。
ライトストラテジ補正の処理（Ｓ２５）においては、まずステップＳ２５Ａの処理を行なう。
ステップＳ２５Ａにおいては、直前に（ステップＳ３２の記録一時停止の直前に）記録したデータを再生し、再生した信号の品質（ジッター値やエラーレート等）を測定する。ここで、信号を再生する領域は、少なくとも信号品質の測定に必要なサイズ以上とする必要がある。

次に、ステップＳ２５Ｂにおいて、ステップＳ２５Ａで測定された信号の品質に基づきライトストラテジの変更が必要かどうかの判定を行なう。変更が不要であれば、ステップＳ２８に進む。変更が必要であれば、ステップＳ２５Ｃに進む。

次にステップＳ２５Ｃにおいて、中央制御部２００内に（例えばＲＡＭ２３０内に）設定されたライトストラテジ設定値から１ステップのみ変更する。この変更は、ステップＳ２５Ａで測定した信号品質および、過去に変更したライトストラテジのパラメータ及び変更方向等に基づいて行う。

次にステップＳ２８において、ステップＳ２５Ａで測定した信号品質が悪い場合（例えば、信号品質を表す指標が所定値（第１の所定値）よりも悪い場合）は、設定補正間隔を短くし、ステップＳ２５Ａで測定した信号品質が良い場合（例えば、信号品質を表す指標が所定値（第２の所定値）よりも悪い場合）は、設定補正間隔を長くする。

ここで、本例では、設定補正間隔は、光ディスクに書き込まれるデータの量で定義乃至指定されることとしているが、代わりに、光ディスク５００上のデータが記録される部分の半径方向の変位量（前回補正を行った部分の位置からの半径方向の変位量）で定義乃至指定するようにしても良い。

なお、光ディスク５００は、外周部分での反りが大きい場合が多く、また外周部分までは光ディスク５００の記録特性が均一でない場合もありうる為、上記の信号品質による設定補正間隔の設定に加え、ライトストラテジの設定補正間隔を、内周側では長く、外周側では短くするようにしても良い。
さらに、記録性能は温度変化によっても影響される可能性があるため、光記録再生装置１００の内部温度を測定し、温度に応じてライトストラテジの設定補正間隔を制御するようにしても良い。
また、データの記録開始時には、１回目の記録品質測定を早く実行する為に、記録開始から最初の補正までの設定補正間隔が短くなるように、中央制御部２００内（例えばＲＡＭ２３０内）に初期値（初期設定補正間隔）として格納しておくか、あるいはデータ開始時は強制的に短い設定補正間隔に（例えば、最短の設定補正間隔に）になるように、中央制御部２００で制御するようにしても良い。

ステップＳ２８において、設定補正間隔を更新した後は、ステップＳ３３において、記録を再開し、再びステップＳ２４に戻り同様の動作を行う。

この様に、ステップ３６において設定する補正間隔で、ライトストラテジの補正を繰り返し行う。ライトストラテジの最適化手法としては、信号品質を表す指標を引数（変数）とする最急降下法を用いても良く、学習により変更するライトストラテジのパラメータと変更方向を決めるようにしても良い。また、予めライトストラテジパラメータを変更する優先度を設定しておき、順々に変更するようにしても良い。ただし、１回の中断期間中にライトストラテジ補正（Ｓ２５の処理）を１回のみ行ない、１回のステップＳ２５Ｃの処理でライトストラテジの変更を複数回行うのではなく、ステップＳ２５Ｃが実行される毎に１回のみの変更を行なう（変更を行なわないか、行なうとしても１回のみ行なう）。

実施の形態３においては、ライトストラテジの補正のみを行っているが、実施の形態１や実施の形態２と同様に、記録パワーの補正処理や、チルトの補正処理を行っても良い。
また、実施の形態１と同様に、補正されたライトストラテジ値を、光ディスク５００への記録したり、ライトストラテジのリストを更新する様にしても良い。

以上の様に本実施の形態３においては、本来連続的に行ない得るコピーなどの記録の際に、設定補正間隔毎に記録品質を測定し、必要に応じてライトストラテジのパラメータを変更することとしているので、ディスクの半径方向に対して効率よくライトストラテジを補正することができ、光ディスクの反りが大きい場合や、記録特性が不均一な場合、さらには記録中の温度変化による影響で、記録品質が悪化することを防ぎ、安定した品質の記録を行うことができる。
また、１回の一時停止中（中断期間中）にライトストラテジの補正（Ｓ２５の処理）を１回のみ行ない、１回のライトストラテジの変更処理（Ｓ２５Ｃ）中に、ライトストラテジの変更を１回のみ行なうようにしているため、記録の中断による影響を少なくすることができる。さらに、ライトストラテジ補正のタイミングを、信号品質のレベルに応じて変更可能として為、必要以上の補正を実施することがなく、光記録装置１００の中央制御部２００の負荷を少なくする事ができる。

実施の形態４．
次に実施の形態４の光記録方法の手順を説明する。実施の形態４では、実施の形態３と同様に、データを他の記録媒体から光ディスク５００にコピーする場合等、光ディスク５００へ全データを一気に、即ち連続的に記録する場合を想定している。

図１６は、本実施の形態４におけるライトストラテジの補正方法を示した図である。図１６のステップＳ１６のデータ記録開始までの処理は、図６、図７と同様であるので省略する。図１６において、図８、図９、図１５と同一の符号は同様のステップを示す。

ステップＳ１６でデータ記録が開始された後、ステップＳ２４において、ライトストラテジの補正タイミングかどうか、即ち記録開始又は前回のライトストラテジの補正から、設定補正間隔が経過したかどうかを判断する。

ここで、設定補正間隔は、例えば、光ディスクに書き込まれるデータの量で定められ、記録開始又は前回のライトストラテジ補正から、今までに記録したデータのサイズと、補正間隔決定のために設定したデータサイズを比較することで補正タイミングかどうかの判定を行なう。

ステップＳ２４で、ライトストラテジの補正タイミングでない場合（ＮＯの場合）は、ステップＳ３１で全ての記録が完了したか（コピー対象となっているデータがすべて記録されたか）どうかを判断する。ステップＳ３１における判断で、全てのデータを記録完了している場合（ＹＥＳの場合）は、ステップＳ２１において記録動作を終了する。また、ステップＳ３１における判断で全てのデータを記録完了していない場合（ＮＯの場合）は、ステップＳ２４の処理に戻る。尚、この間は、全てのデータを記録完了していない限り、記録動作は継続して実行される。

一方、ステップＳ２４で、ライトストラテジの補正タイミングの場合（ＹＥＳの場合）、ステップＳ３２において、実行している記録を一時停止する。
次に、ステップＳ２５のライトストラテジ補正の処理を行なう。
ライトストラテジ補正の処理（Ｓ２５）においては、まずステップＳ２５Ａの処理を行なう。
ステップＳ２５Ａにおいては、直前にステップＳ３２の記録一時停止の直前に）記録したデータを再生し、再生した信号の品質（ジッター値やエラーレート等）を測定する。ここで、信号を再生する領域は、少なくとも信号品質の測定に必要なサイズ以上とする必要がある。

次に、ステップＳ２５Ｂにおいて、ステップＳ２５Ａで測定された信号の品質に基づきライトストラテジの変更が必要かどうかの判定を行なう。変更が不要であれば、ステップＳ２８に進む。変更が必要であれば、ステップＳ２５Ｃに進む。

次にステップＳ２５Ｃにおいて、中央制御部２００内に（例えばＲＡＭ２３０内に）設定されたライトストラテジ設定値から１ステップのみ変更する。この変更は、ステップＳ２５で測定した信号品質および、過去に変更したライトストラテジのパラメータ及び変更方向等に基づいて行う。

次に、ステップＳ４１において、ステップＳ２５Ｃで変更したライトストラテジを用いて所定のデータサイズのテスト記録を行う。このテスト記録は、次にデータの記録を行う領域で行い、記録する信号も次に記録を行うデータを用いる（例えば、ステップＳ３２で記録を一時停止した領域の直後のデータ領域に、ステップＳ３２で記録を一時停止したデータからの続きのデータを記録する）。また、この時のテスト記録する記録データサイズは、少なくとも信号品質の測定に必要なサイズ以上で、また少なくともデータデコーダー１４０でデコードする事が可能なデータサイズ以上とする。また、このテスト記録する記録データサイズは、予め中央制御部２００内に（例えばＲＡＭ２３０内に）設定しておいても良い。
次に、ステップＳ４２において、ステップＳ４１でテスト記録した信号を再生し、再生した信号の品質（ジッター値やエラーレート等）を測定する。

次に、ステップＳ４３において、ステップＳ４２で測定した記録品質が、ステップＳ２５Ａで測定した記録品質よりも悪化していないかどうかを判断する。
ステップＳ４３の判断において、ステップＳ４２で測定した記録品質が悪い場合（ＹＥＳの場合）は、ステップＳ４４において、ステップＳ２５Ｃで変更したライトストラテジを変更前のライトストラテジに戻す。

ここで、ステップＳ４４の処理においては、変更前のライトストラテジ（元の値）に戻すとしているが、この限りではない。例えば、過去に変更したライトストラテジとそのライトストラテジで記録した場合の記録品質の履歴を、中央制御部２００内に（例えばＲＡＭ２３０内に）記録しておき、過去の状況から、ライトストラテジを選択するようにしても良い。

次に、ステップＳ４５において、次に変更すべきライトストラテジのパラメータ及び方向を設定する。ここで設定したライトストラテジパラメータの設定は、次にステップＳ２５Ｃでライトストラテジ変更が行われる際に変更の対象とされる。次いで、ステップＳ２８の処理を行う。

一方ステップＳ４３の判断において、ステップＳ４２で測定した記録品質が良い場合、即ち悪化していない場合（ＮＯの場合）は、ステップＳ２８の処理を行う。

次にステップＳ２８において、設定補正間隔を更新する。
ここで、ステップＳ４３において、信号品質が悪化していると判断された場合（ＹＥＳの場合）は、ステップＳ２５で測定した信号品質により設定補正間隔を変更する。即ち、ステップＳ２５で測定した信号品質が悪い場合（例えば、信号品質を表す指標が所定値（第１の所定値）よりも悪い場合）は、設定補正間隔を短くし、信号品質が良い場合（例えば、信号品質を表す指標が所定値（第２の所定値）よりも悪い場合）は、設定補正間隔を長くする。
一方、ステップＳ４３において、信号品質が悪化していないと判断された場合（ＮＯの場合）は、ステップＳ４２で測定した信号品質により設定補正間隔を変更する。

ここで、本例では、設定補正間隔は、光ディスクに書き込まれるデータの量で定義乃至指定されることとしているが、代わりに、光ディスク５００上のデータが記録される部分の半径方向の変位量（前回補正を行った部分の位置からの半径方向の変位量）で定義乃至指定するようにしても良い。

次に、ステップＳ３３において、設定されたライトストラテジを用いて、記録を再開する。その後、再びステップＳ２４に戻り同様の動作を行う。

この様に、ステップＳ２８において設定する補正間隔で、ライトストラテジの補正を繰り返し行う。ライトストラテジの最適化手法としては、信号品質を表す指標を引数（変数）とする最急降下法を用いても良く、学習により変更するライトストラテジのパラメータと変更方向を決めるようにしても良い。また、予めライトストラテジパラメータを変更する優先度を設定しておき、順々に変更するようにしても良い。ただし、１回の中断期間中にライトストラテジ補正（Ｓ２５の処理）を１回のみ行ない、１回のステップＳ２５Ｃの処理でライトストラテジの変更を複数回行うのではなく、ステップＳ２５Ｃが実行される毎に１回のみの変更を行なう（変更を行なわないか、行なうとしても１回のみ行なう）。

実施の形態４でも実施の形態３と同様の効果が得られる。それに加えて、ライトストラテジを変更した後に、テスト記録を１回のみ実施し、変更の効果を確認する為、信号品質が悪化した状態の記録領域を少なくすることができる。

なお、実施の形態４では、全データを一気に記録する場合、言い換えると、外部の情報供給源のデータレートとは独立に記録を行う場合について、ライトストラテジ補正後に、データ領域で一度テスト記録を行う様にしているが、実施の形態１の様な、所定の情報量の記録と、記録を中断した待機とが繰り返される場合においても、バッファメモリ１９０の状況に応じて、バッファメモリ１９０が空になったり、データがバッファメモリ１９０のサイズ以上となったりしなければ、実施の形態４と同様にテスト記録を行っても良い。

なお、情報の記録が停止される場合に、ライトストラテジ補正手段乃至工程（Ｓ２５）で補正されたライトストラテジとして、品質が良好となった最後のライトストラテジのパラメータを記憶手段（例えば図１のＲＡＭ２３０或いは図示しない不揮発性のメモリ）に記憶しておき、次に同じ光記録媒体に情報の記録が行われる場合に、記憶したライトストラテジのパラメータを用いることとしても良い。

実施の形態４においては、ライトストラテジの補正のみを行っているが、実施の形態１や実施の形態２と同様に、記録パワーの補正処理や、チルトの補正処理を行っても良い。
また、実施の形態１と同様に、補正されたライトストラテジ値を、光ディスク５００への記録したり、ライトストラテジのリストを更新する様にしても良い。

実施の形態５．
次に実施の形態５の光記録方法の手順を説明する。実施の形態５では、実施の形態１から実施の形態４におけるライトストラテジの補正に加え、補正するライトストラテジのパラメータとその変化量に応じて、記録パワーの変更を行なう様にしている。

図１７は、本実施の形態５における光記録方法の手順を示した図である。図１７の光記録方法の手順のうち、ステップＳ１５までの手順は、図６、図７と同様であるのでその説明を省略する。図１７において、図６、図７と同一の符号は同様のステップを示す。

ステップＳ１５により最適パワーが決定された後、ステップＳ５１において、ライトストラテジと記録パワーの関係 （例えば、ライトストラテジ（の各パラメータ）の変化量に対する記録パワーの変化量で決まる係数、例えば前者に対する後者の比）を算出する。

中央制御部２００は、ライトストラテジのパラメータ毎に、ライトストラテジと再生特性（アシンメトリ値や変調度）の関係（例えば、ライトストラテジの当該パラメータの変化量に対する再生特性値の変化量で決まる係数、例えば前者に対する後者の比）ＫＷ０ｉ（ＫＷ０ｉ＝再生特性の変化量／ライトストラテジの変化量、ｉはライトストラテジのパラメータの種類を特定する為の添え字）と、このライトストラテジと再生特性の関係ＫＷ０ｉを決定した時の記録パワーと再生特性（アシンメトリ値や変調度）の関係（記録パワーの変化量に対すると再生特性（値）の変化量で決まる係数、例えば前者に対する後者の比）ＫＲ０（ＫＲ０＝記録パワーの変化量／再生特性の変化量）を保持しており（この関係ＫＲ０を「基準となるライトストラテジと再生特性の関係」と言う）、ステップＳ１５における試し書きの結果から求めた、記録パワーと再生特性の関係（記録パワーの変化量に対する再生特性の変化量の関係で決まる係数、例えば前者に対する後者の比）ＫＲ１を用いて、ライトストラテジと記録パワーの関係（ライトストラテジの変化量に対する記録パワーの変化量の関係で決まる係数、例えば前者に対する後者の比）ＫＰｉ（ＫＰｉ＝記録パワーの変化量／ライトストラテジの変化量、ｉはライトストラテジのパラメータの種類を特定する為の添え字）を以下の計算式（３）により算出する。
ＫＰｉ＝ＫＲ１×ＫＲ１／ＫＲ０×ＫＷ０ｉ …（３）

前記計算式を用いる理由を以下に説明する。
ライトストラテジと再生特性の関係ＫＷ０ｉと、記録パワーと再生特性の関係ＫＲ０を求めた条件においては、ライトストラテジと記録パワーの関係（ライトストラテジの変化量に対する記録パワーの変化量で決まる係数、例えば前者に対する後者の比）ＫＰ０ｉは、下記の式（４）で与えられる。
ＫＰ０ｉ＝ＫＷ０ｉ×ＫＲ０ …（４）

しかしながら、光記録再生装置１００に挿入される光ディスク５００は、メディアメーカーや対応記録速度によって、記録感度が異なる為、中央制御部２００内に保持している係数から算出したライトストラテジと記録パワーの関係ＫＰ０ｉを用いても適切に記録パワーを変更できない可能性がある。そこで、光記録再生装置１００に挿入された光ディスク５００の記録感度に応じた補正を行う為に、ステップＳ１５の試し書きによる結果から求まる記録パワーと再生特性の関係ＫＲ１と、中央制御部２００内に保持している記録パワーと再生特性の関係（基準となる関係）ＫＲ０の比を用いてライトストラテジと再生特性の関係を補正する。光記録再生装置１００に挿入された光ディスク５００に対するライトストラテジと再生特性の関係ＫＷ１ｉ（ライトストラテジの変化量に対する再生特性の変化量で決まる係数、例えば前者に対する後者の比）を以下の式（５）により計算し、中央制御部２００内に記憶する。
ＫＷ１ｉ＝ＫＲ１／ＫＲ０×ＫＷ０ｉ …（５）

さらに、光記録再生装置１００に挿入された光ディスク５００に対するライトストラテジと記録パワーの関係ＫＰｉを以下の式（６）により計算し、中央制御部２００内に記憶することとしている。
ＫＰｉ＝ＫＲ１×ＫＷ１ｉ
＝ＫＲ１×ＫＲ１／ＫＲ０×ＫＷ０ｉ …（６）
式（６）は、式（３）と同じ内容のものである。

ここで、前記補正の為に、ステップＳ１５の試し書きによる結果から求まる記録パワーと再生特性の関係ＫＲ１と、中央制御部２００内に保持している記録パワーと再生特性の関係ＫＲ０の比を中央制御部２００内に保持しているライトストラテジと再生特性の関係ＫＷ０ｉに掛けることにより、ライトストラテジと再生特性の関係を補正しているが、記録パワーと再生特性の関係（記録パワーの変化量に対する再生特性の変化量の比率）と、ライトストラテジと再生特性の関係（ライトストラテジの変化量に対する再生特性の変化量の比率）が異なる事が予め明らかとなっている場合は、各々の比率を校正するための係数を更に掛ける事としても良い。この場合、例えば、下記の式（７）で表される関係が用いられる。
ＫＷ１ｉ＝ＣＲ×ＫＲ１／ＫＲ０×ＫＷ０ｉ …（７）
式（７）で、ＣＲが比率校正用の係数となる。
また、ＫＷ１ｉおよび、ＫＰｉを中央制御部２００内に記憶するとしているが、どちらか一方のみを記憶する様にしても良く、ＫＷ１ｉを記憶する場合には、後述の記録パワー変更時に、ＫＰｉを計算する様にしても良い。

また、ＫＰｉ、ＫＷ１ｉ、ＫＷ０ｉは、ライトストラテジのパラメータによって異なるため、ライトストラテジのパラメータ毎に中央制御部２００内に（例えばＲＡＭ２３０内に）記憶しておく。

最後にステップＳ１６において、ステップＳ１３で設定されたライトストラテジと、ステップＳ１５で決定された記録パワーにより、光ディスク５００への本来のデータの書き込み（本書き込み）を開始する。

ここで、図１７の光記録方法の手順においては、ステップＳ５１のライトストラテジの変化量と記録パワーの変化量の関係算出処理を、ステップＳ１５の試し書きの後、ステップＳ１６でデータの記録が開始されるまでの間で処理しているが、ステップＳ１６のデータの記録を開始した後にステップＳ５１の処理を実行する様にしても良い。

また、図１７においては、ステップＳ１３で設定したライトストラテジをステップＳ１６以降の記録で使用するようになっていたが、図７のステップＳ１７と同様に、ステップＳ１６の前に、試し書きを繰り返し実行し、ライトストラテジの最適化を行うようにしても良い。また、この時の最適化では、要求されている記録の時間的制約の範囲（記録再生が破綻しない範囲）内で可能な粗い調整にとどめても良い。また、最適化を実施しなくても、予め用意したいくつかのライトストラテジの候補を試し書きし、その中で最良のライトストラテジを採用するようにしても良い。

実施の形態５におけるステップＳ１６以降の処理は、概して図８、図９、図１０、図１５、図１６、図１３と同様である。実施の形態５では、ライトストラテジ補正の処理が、図８と異なる。図１８は、実施の形態５のライトストラテジ補正（ステップＳ２５）の手順を示す。図１８において、図８、図９、図１０、図１５、図１６、図１３と同一の符号は同様のステップを示す。

実施の形態５では、ライトストラテジ補正の処理（Ｓ２５）においては、まずステップＳ２５Ａの処理を行なう。
ステップＳ２５Ａにおいては、ステップＳ２３において直前に記録した信号を再生し、再生した信号の品質（ジッター値やエラーレート等）を測定する。ここで、信号を再生する領域は、少なくとも信号品質の測定に必要なサイズ以上とする必要がある。

次に、ステップＳ２５Ｂにおいて、ステップＳ２５Ａで測定された信号の品質に基づきライトストラテジの変更が必要かどうかの判定を行なう。変更が不要であれば、ステップＳ２５の処理を終了する。変更が必要であれば、ステップＳ２５Ｃに進む。

次にステップＳ２５Ｃにおいて、中央制御部２００内に（例えばＲＡＭ２３０内に）設定されたライトストラテジ設定値から１ステップ（設定値がディジタル信号で表される場合、最小桁の数値を１だけ変える幅）のみ変更する。この変更は、ステップＳ２５Ａで測定した信号品質および、過去に変更したライトストラテジのパラメータ及び変更方向等に基づいて行う。

次にステップＳ２５Ｄにおいて、変更したライトストラテジのパラメータ及び変更量と、ステップＳ５１のライトストラテジと記録パワーの関係算出処理で算出したライトストラテジの変更量と記録パワーの変更量の関係ＫＰｉを用いて、記録パワーを変更し、次にステップＳ２３でデータを記録する時に使用する。記録パワーは、下記の式（８）により計算する。
ＰＷｎ＝ＰＷｂ−ＫＰｉ×（ｄＷＳｉ） …（８）
ここで、ＰＷｎは、次の記録に用いるべき記録パワー、ＰＷｂは、前回の記録に用いられた記録パワー、ｄＷＳｉはステップＳ２５Ｃで変更したライトストラテジの変更量で（変更後のライトストラテジから、変更前のライトストラテジを引いた値である）。また、ｉは、ライトストラテジのパラメータを特定する添え字である。

次に、ライトストラテジの補正に応じて、記録パワーを変更する理由について説明する。ライトストラテジを変更した場合、光ディスク５００に与えられる熱量が変化するために同一の記録パワーで記録したとしても、再生特性（アシンメトリ値や変調度）が変化してしまう。ライトストラテジの変更に対して再生特性の変化が著しい場合は、ライトストラテジが変更された位置、つまり記録のつなぎ目部分において、信号が不連続となり、再生信号を復号化する際の波形等化特性や２値化性能に影響し、再生性能の劣化を引き起こす場合がある。その為、ライトストラテジの補正による、再生特性の急激な変化を防ぐ為に、ライトストラテジの補正量に応じて記録パワーを変更する様にしている。

実施の形態６．
次に実施の形態６の光記録方法の手順を説明する。実施の形態６では、実施の形態５と同様に、ライトストラテジの補正に応じて、記録パワーを変更する。

図１９は、本実施の形態６における光記録方法の手順を示した図である。図１９の光記録方法の手順のうち、ステップＳ１５までの手順は図６、図７、図１７と同様であるので省略する。図１９において、図６、図７、図１７と同一の符号は同様のステップを示す。

ステップＳ１５により最適パワーが決定された後、ステップＳ５２において、ステップＳ１５で決定された最適パワーと、ステップＳ１３で設定されたライトストラテジの各々のパラメータを予め指定したステップ数分変更したライトストラテジで、ライトストラテジと再生特性（アシンメトリ値や変調度）との関係を調査する試し書きを行う。即ち、ステップＳ１３において中央制御部２００内に設定されたライトストラテジに中央制御部２００内に設定された指定ステップ数を加算あるいは減算したライトストラテジをライトストラテジ制御部１７０に設定することにより、ライトストラテジ制御部１７０でテストパターンに基づいたライトストラテジを生成し、光ヘッド３００を用いて光ディスク５００への試し書きを行う。そして、テストパターンを記録した光ディスク５００上の領域を光ヘッド３００で再生し、再生特性測定部１５０により検出された再生特性（アシンメトリ値や変調度）を測定し、ライトストラテジの変化量と、再生特性の変化量の関係を求める。

次に、ステップＳ５１においては、ステップＳ１５の試し書きの結果から、
記録パワーの変化量と再生特性の変化量の関係ＫＲ（ＫＲ＝記録パワーの変化量／再生特性の変化量）を求め、さらにステップＳ５２で求めたライトストラテジの変化量と再生特性の変化量の関係ＫＷ２ｉ（ＫＷ２ｉ＝再生特性の変化量／ライトストラテジの変化量、ｉはライトストラテジのパラメータの種類を特定する為の添え字）から、ライトストラテジの変化量と記録パワーの変化量の関係
ＫＰ２ｉ＝ＫＲ×ＫＷ２ｉ …（９）
を求め、中央制御部２００内に記憶する。

最後にステップＳ１６において、ステップＳ１３で設定されたライトストラテジと、ステップＳ１５で決定された記録パワーにより、光ディスク５００への本来のデータの書き込み（本書き込み）を開始する。

ここで、図１９の光記録方法の手順においては、記録の指示が与えられた後（ステップＳ１４）にステップＳ１５の最適パワー決定の為の試し書きが実施され、ステップＳ５２において、試し書きによりライトストラテジと再生特性の関係調査をする様にしているが、ステップＳ１３でライトストラテジが設定された後、記録の指示が与えられる前（ステップＳ１４よりも前）の待機時にステップＳ１５の試し書きおよび、ステップＳ３５の試し書きを行うこととしても良い。
また、ステップＳ５２においては、ライトストラテジのパラメータ全てについて試し書きを行うのではなく、予め再生特性に大きな変化を与えるパラメータに限定して試し書きを行う事としてよい。この場合、試し書きを行わないライトストラテジのパラメータについては、中央制御部２００に記憶されたデフォルトのライトストラテジのパラメータの変化量と再生特性の変化量の関係を用いたり、ステップＳ２５Ｄにおける記録パワーの変更を行わないようにしても良い。

図２０は、本実施の形態７におけるライトストラテジ補正（ステップＳ２５）の手順を示した図である。ライトストラテジ補正（ステップＳ２５）以外の処理は、図８、図９、図１０、図１３、図１５、図１６と同様であるので省略する。図２０において、図１８と同一の符号は同様のステップを示す。

ライトストラテジ補正の処理（Ｓ２５）においては、まずステップＳ２５Ａの処理を行なう。
ステップＳ２５Ａにおいては、ステップＳ２３において直前に記録した信号を再生し、再生した信号の品質（ジッター値やエラーレート等）を測定する。ここで、信号を再生する領域は、少なくとも信号品質の測定に必要なサイズ以上とする必要がある。

その後、ステップＳ２５Ｅにおいては、直前に記録した信号を再生し、再生した信号の再生特性（アシンメトリ値や変調度）を測定する。ここで、ステップＳ２５Ａで測定する信号品質とステップＳ２５Ｅで測定する再生特性は、別々に測定する必要はなく、可能であれば同時に測定を行うのが望ましい。

次にステップＳ２５Ｇにおいては、ステップＳ２５の処理が、初めて実施されたかどうかの判定を行なう。初めて実施された場合は（ステップＳ２５ＧでＹＥＳ）、ライトストラテジの変化量と再生特性の変化量の関係補正を行わず、実施の形態５で用いたＫＷ１ｉまたは、実施の形態６で用いたＫＷ２ｉをライトストラテジの変化量と再生特性の変化量の関係ＫＷ３ｉとして、設定する。

ステップＳ２５の処理がすでに１回以上実施されている場合は（ステップＳ２５ＧでＮＯ）、ステップＳ２５Ｆにおいて、ステップＳ２５Ｅで測定した再生特性（Ｒ２）と、前回ステップＳ２５Ｃにおいてライトストラテジを補正する前に測定した再生特性（Ｒ１）と、前回ステップＳ２５Ｃにおいて変更されたライトストラテジの変更量（ｄＷＳｉ）から、ライトストラテジと再生特性の関係を
ＫＷ４ｉ＝（Ｒ２−Ｒ１）／ｄＷＳｉ …（１０）
として算出する。

ここで、ＫＷ４ｉは、前回ステップＳ２５が実施された際に、ステップＳ２５Ｄで実施された記録パワー変更の影響が含まれた結果で、前回ステップＳ２５Ｄで実施された記録パワー変更の不足分に相当する。その為、ステップＳ２５Ｆでは、前回使用したライトストラテジと再生特性の関係ＫＷ３ｉに、前回の不足分として現れたライトストラテジと再生特性の関係ＫＷ４ｉを加算し、
ＫＷ３ｉ＝ＫＷ３ｉ＋ＫＷ４ｉ …（１１）
として、ライトストラテジと再生特性の関係を補正する。

ここで、ステップＳ２５のライトストラテジ補正処理が実施される条件としては、前回のステップＳ２５のライトストラテジ補正処理による記録パワー変更不足分が、ＲＯＰＣにより最適に調整されていることが望ましい。

次に、ステップＳ２５Ｂにおいて、ステップＳ２５Ａで測定された信号の品質に基づきライトストラテジの変更が必要かどうかの判定を行なう。変更が不要であれば、ステップＳ２５の処理を終了する。変更が必要であれば、ステップＳ２５Ｃに進む。

次にステップＳ２５Ｃにおいて、中央制御部２００内に（例えばＲＡＭ２３０内に）設定されたライトストラテジ設定値から１ステップ（設定値がディジタル信号で表される場合、最小桁の数値を１だけ変える幅）のみ変更する。この変更は、ステップＳ２５Ａで測定した信号品質および、過去に変更したライトストラテジのパラメータ及び変更方向等に基づいて行う。

次にステップＳ２５Ｄにおいて、変更したライトストラテジのパラメータ及び変更量と、ステップＳ２５Ｆで補正したライトストラテジと再生特性の関係ＫＷ３ｉと、ステップＳ１５で求めた記録パワーと再生特性の関係ＫＲ１から、記録パワーを下記の式（１２）により、変更する。
ＰＷ２ｎ＝ＰＷ２ｂ−ＫＲ１×ＫＷ３ｉ×（ｄＷＳ２ｉ） …（１２）
ここで、ＰＷ２ｎは、次の記録に用いるべき記録パワー、ＰＷ２ｂは、前回の記録に用いられた記録パワー、ｄＷＳ２ｉはステップＳ２５Ｃで変更したライトストラテジの変更量で（変更後のライトストラテジから、変更前のライトストラテジを引いた値である）。また、ｉは、ライトストラテジのパラメータを特定する添え字である。

上記の実施の形態１から実施の形態７においては、光ディスク５００がＥＦＭ＋変調されたデータを記録する場合（例えばＤＶＤの場合）について示しているが、これに特化している訳ではなく、光ディスク５００の種類に応じたライトストラテジパラメータが中央制御部２００により設定でき、所望のライトストラテジ信号が出力される光記録再生装置１００であれば良い。すなわち、例えば光ディスク５００が１−７変調したデータを記録する場合（例えばＢｌｕ−ｒａｙディスク（ＢＤ）の場合）には、ＢＤに対応したライトストラテジパラメータが中央制御部２００で設定でき、ＢＤに対応したライトストラテジ信号がライトストラテジ制御部１７０で生成され、実施の形態１から実施の形態７を同様に適用できる。ただし、光ディスク５００がＢＤの場合には、光記録再生装置１００の光ヘッド３００の構成が部分的に異なる場合があるが、この構成には特に影響されない。つまりどの様な光ディスク５００、あるいはどの様な変調方式においても、ライトストラテジを用いて光ディスク５００へ記録する場合には実施の形態１から実施の形態７を同様に適用できる。
また、実施の形態１から実施の形態７においては、上記のチルト角度の制御は、光ヘッドのアクチュエーターで制御しているが、チルト角度を制御できる装置および手段であれば、何でも良い。例えば、チルト角度を液晶素子により制御する場合は、前記液晶素子を制御してチルト角度を補正するようにすれば良い。

以上の様に本発明においては、所定量の情報の光ディスクへの記録と、光ディスクへの記録を中断し、バッファにデータが貯まるのを待つ待機とを繰り返しながら光ディスクへの情報の記録を行う場合には、待機中に直前に記録した信号の再生品質を測定し、ライトストラテジパラメータを随時（必要に応じて）変更するようにし、光ディスクの反りが大きい場合や、記録特性が不均一な場合、さらには記録中の温度変化による影響で、記録品質が悪化することを防ぎ、安定した品質の記録を実現できる。また、ライトストラテジパラメータの変更は１ステップのみとしている為、過度の変更を防ぎ、信号品質の急激な劣化を引き起こさないようにライトストラテジの補正を行なうことができる。
また、全ての情報を、外部の情報供給源とは独立に光記録媒体に記録する場合（従って、本来連続的に記録を行える場合）には、記録を所定の間隔（補正間隔）で一時停止し、停止している間に直前に記録した信号の再生品質を測定し、ライトストラテジパラメータを随時（必要に応じて）変更するようにし、記録品質が悪化することを防ぎ、安定した品質の記録を実現できる。また、記録品質に基づいて、ライトストラテジを補正する間隔を制御することで、ライトストラテジの余分な補正を排除できる。
また、初期に設定されて記録に用いるライトストラテジが、最適でない場合には、ライトストラテジを随時（必要に応じて）変更する為、記録品質を改善する事ができる。

また、ライトストラテジの補正量に応じて、記録パワーを変更するようにしたので、ライトストラテジを変更した事による、再生特性（アシンメトリ値や変調度）の変動を小さく抑えることができ、安定した品質の記録を実現できる。

Claims (42)

1. 記録データ長に応じた複数のパラメータから構成されるライトストラテジに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録方法であって、
   外部から供給される前記情報を、バッファメモリに書き込んだ後、該バッファメモリから読み出して前記光記録媒体に記録を行なう記録期間と、記録を中断させる中断期間とを交互に繰り返すことで、前記情報を前記光記録媒体に記録し、
   前記記録期間の開始及び前記中断期間の開始を、前記バッファメモリ内のデータ量に基づいて制御する工程と、
   前記中断期間に、直前の記録期間に記録した情報を再生し、再生信号の品質に基づいて、ライトストラテジのパラメータを補正するライトストラテジ補正工程と、
   前記中断期間に、前記ライトストラテジの補正タイミングであることを検出する補正タイミング検出工程と、
   前記ライトストラテジ補正工程で補正されたライトストラテジのパラメータを用いて、次の記録期間における上記記録を行う工程とを有し、
   前記ライトストラテジ補正工程が、
   直前に記録した信号の品質を測定する品質測定工程と、
   前記品質測定工程で測定された再生信号の品質に基づいてライトスラテジを変更するライトストラテジ変更工程とを含み、
   前記中断期間中における前記ライトストラテジ補正工程の処理は、前記補正タイミング検出工程で前記補正タイミングであることが検出されたことを条件として行なわれ、
   前記補正タイミング検出工程は、前記光記録媒体への記録の開始から所定の設定補正間隔が経過したとき、又は最も最近の前記ライトストラテジ補正工程の処理の実施から所定の設定補正間隔が経過したときに前記補正タイミングであることを検出する
   ことを特徴とする光記録方法。
2. 前記設定補正間隔が、前記記録媒体に記録される情報の量により指定されることを特徴とする請求項１に記載の光記録方法。
3. 前記設定補正間隔が、前記記録媒体上の記録される部分の半径方向の変位量により定められることを特徴とする請求項１に記載の光記録方法。
4. 前記ライトストラテジ補正工程は、前記１回の中断期間に、ライトストラテジのパラメータを１ステップ分だけ変更することを特徴とする請求項１乃至３のいずれかに記載の光記録方法。
5. 前記ライトストラテジ変更工程でライトストラテジパラメータを変更した場合、変更されたライトストラテジパラメータを用いて、データをテスト記録するテスト記録工程と、
   前記テスト記録工程において、テスト記録した信号の品質を測定するテスト記録品質測定工程と、
   前記テスト記録品質測定工程で測定された信号の品質が、前記品質測定工程で測定された再生信号の品質よりも、悪化している場合に、前記ライトストラテジ変更工程で変更されたライトストラテジのパラメータを元に戻す工程とを有する
   ことを特徴とする請求項１に記載の光記録方法。
6. 前記ライトストラテジ補正工程が、
   前記設定補正間隔を、前記品質測定工程で測定された再生信号の品質に基づき変更する設定補正間隔更新工程をさらに有することを特徴とする請求項１乃至５のいずれかに記載の光記録方法。
7. 前記設定補正間隔更新工程は、前記品質測定工程で測定された再生信号の品質が所定値よりも良い場合は前記設定補正間隔を長くし、前記品質測定工程で測定された再生信号の品質が所定値よりも悪い場合は前記設定補正間隔を短くすることを特徴とする請求項６に記載の光記録方法。
8. 光記録媒体へ情報を記録する部分の半径方向位置を検出する半径位置検出工程をさらに有し、
   前記設定補正間隔更新工程は、前記半径位置検出工程で検出した半径方向位置が光記録媒体の内周側の場合は前記品質測定工程で測定した再生信号の品質を基に決定した前記設定補正間隔を長くし、光記録媒体の外周側の場合は前記品質測定工程で測定した再生信号の品質を基に決定した前記設定補正間隔を短くすることを特徴とする請求項６又は７に記載の光記録方法。
9. 記録を開始した時からの温度差を検出する温度検出工程をさらに有し、
   前記設定補正間隔更新工程は、前記温度検出工程で検出した温度差が所定値以上となった場合に、前記品質測定工程で測定した再生信号の品質を基に決定した前記設定補正間隔を短くすることを特徴とする請求項６乃至８のいずれかに記載の光記録方法。
10. 前記中断期間において、直前に記録した信号の再生特性を測定し、測定した再生信号の特性を基に、記録パワーの補正を行う、記録パワー補正工程をさらに有し、
    前記ライトストラテジ補正工程と、前記記録パワー補正工程のどちらか一方のみが、１回の前記中断期間に実行されることを特徴とする請求項１及至９のいずれかに記載の光記録方法。
11. 前記記録パワー補正工程と、前記ライトストラテジ補正工程は、交互に行われることを特徴とする請求項１０に記載の光記録方法。
12. 記録パワーの補正が必要かどうかを判断する記録パワーチェック工程をさらに有し、
    前記ライトストラテジ補正工程は、前記記録パワーチェック工程において、記録パワーの補正が不要と判断された場合に、当該記録パワーチェック工程が行われたのと同じ中断期間内に実行される
    ことを特徴とする請求項１０に記載の光記録方法。
13. 前記中断期間において、直前に記録した信号の再生特性を測定し、測定した再生信号の特性を基に、チルトの補正を行う、チルト補正工程とをさらに有し、
    前記ライトストラテジ補正工程と、前記記録パワー補正工程と、前記チルト補正工程のいずれか一つのみが、１回の前記中断期間に実行されることを特徴とする請求項１０乃至１２のいずれかに記載の光記録方法。
14. 前記中断期間において、直前に記録した信号の再生特性を測定し、測定した再生信号の特性を基に、記録パワーの補正を行う、記録パワー補正工程をさらに有し、
    前記記録パワー補正工程において補正された記録パワーに対し、さらに記録パワーの補正が必要かどうかを判断する記録パワーチェック工程をさらに有し、
    前記ライトストラテジ補正工程および、前記チルト補正工程は、前記記録パワーチェック工程において、記録パワーの補正が不要と判断された場合に、当該記録パワーチェック工程が行われたのと同じ中断期間内に実行される
    ことを特徴とする請求項１３に記載の光記録方法。
15. 前記ライトストラテジ補正工程は、補正したライトストラテジの変化量に応じて、記録パワーを変更する、記録パワー変更工程を有し、
    前記記録パワー変更工程は、前記ライトストラテジ補正工程において補正されたライトストラテジの変更量と、予め定められたライトストラテジと変更前の記録パワーの関係から、次の記録期間において使用する記録パワーを決定することを特徴とする請求項１乃至１４のいずれかに記載の光記録方法。
16. 記録パワーと再生特性の関係を求める、記録パワーと再生特性の関係測定工程と、
    基準のライトストラテジと再生特性の関係と、基準の記録パワーと再生特性の関係と、前記記録パワーと再生特性の関係測定工程で求めた記録パワーと再生特性の関係を用いて、ライトストラテジと再生特性の関係を算出する、ライトストラテジと再生特性の関係算出工程とを更に有し、
    前記ライトストラテジと再生特性の関係算出工程は、前記記録パワーと再生特性の関係測定工程で求めた記録パワーと再生特性の関係と、前記基準のライトストラテジと再生特性の関係との比と、前記基準のライトストラテジと再生特性の関係から、前記記録パワー変更工程で用いられるライトストラテジと再生特性の関係を算出し、
    前記記録パワー変更工程は、前記ライトストラテジ補正工程において補正されたライトストラテジの変更量と、前記記録パワーと再生特性の関係測定工程で求めた記録パワーと再生特性の関係と、前記ライトストラテジと再生特性の関係算出工程で算出した補正後のライトストラテジと再生特性の関係から、次の記録期間において使用する記録パワーを決定する
    ことを特徴とする請求項１５に記載の光記録方法。
17. 記録パワーと再生特性の関係を求める、記録パワーと再生特性の関係測定工程と、
    ライトストラテジと再生特性の関係を測定する為の試し書き工程を更に有し、
    前記試し書き工程は、ライトストラテジを変更して情報の試し書きを行い、前記試し書きした情報を再生し、測定した再生信号から、ライトストラテジと再生特性の関係を測定し、
    前記記録パワー変更工程は、前記記録パワーと再生特性の関係測定工程で求めた記録パワーと再生特性の関係と、前記試し書き工程で測定した補正後のライトストラテジと再生特性の関係から、次の記録期間において使用する記録パワーを決定する
    ことを特徴とする請求項１５に記載の光記録方法。
18. 前記ライトストラテジ補正工程は、
    前記中断期間に、直前の記録期間に記録した情報を再生し、再生信号の再生特性に基づいてライトストラテジと再生特性の関係を補正するライトストラテジと再生特性の関係補正工程を更に有し、
    前記ライトストラテジと再生特性の関係補正工程は、直前の記録期間に記録した信号の再生特性と、前回ライトストラテジが補正される前の再生特性と、前回ライトストラテジが補正された時のライトストラテジの変化量から、ライトストラテジと再生特性の関係の補正分を求め、前回使用したライトストラテジと再生特性の関係に、前記補正分を加算したライトストラテジと再生特性の関係を、次の記録パワー変更工程における記録パワーの変更に用いることを特徴とする請求項１５乃至１７のいずれかに記載の光記録方法。
19. 前記ライトストラテジと再生特性の関係は、ライトストラテジの変更量に対する再生特性の変化量で決まる係数であり、
    前記記録パワーと再生特性の関係は、再生特性の変化量に対する記録パワーの変更量で決まる係数であり、
    前記記録パワー変更工程は、
    前記ライトストラテジと再生特性の関係係数と前記記録パワーと再生特性の関係係数を掛けることで得られるライトストラテジと記録パワーの関係係数を用いて、記録パワーを変更する
    ことを特徴とする請求項１６乃至１８のいずれかに記載の光記録方法。
20. 記録データ長に応じた複数のパラメータから構成されるライトストラテジに従って、光記録媒体上にレーザー光を照射することにより光記録媒体に情報を記録する光記録装置であって、
    外部から供給される前記情報を、バッファメモリに書き込んだ後、該バッファメモリから読み出して前記光記録媒体に記録を行なう記録期間と、記録を中断させる中断期間とを交互に繰り返すことで、前記情報を前記光記録媒体に記録し、
    前記記録期間の開始及び前記中断期間の開始を、前記バッファメモリ内のデータ量に基づいて制御する手段と、
    前記中断期間に、直前の記録期間に記録した情報を再生し、再生信号の品質に基づいて、ライトストラテジのパラメータを補正するライトストラテジ補正手段と、
    前記中断期間に、前記ライトストラテジの補正タイミングであることを検出する補正タイミング検出手段と、
    前記ライトストラテジ補正手段で補正されたライトストラテジのパラメータを用いて、次の記録期間における上記記録を行う手段とを有し、
    前記ライトストラテジ補正手段が、
    直前に記録した信号の品質を測定する品質測定手段と、
    前記品質測定手段で測定された再生信号の品質に基づいてライトスラテジを変更するライトストラテジ変更手段とを含み、
    前記中断期間中における前記ライトストラテジ補正手段の処理は、前記補正タイミング検出手段で前記補正タイミングであることが検出されたことを条件として行なわれ、
    前記補正タイミング検出手段は、前記光記録媒体への記録の開始から所定の設定補正間隔が経過したとき、又は最も最近の前記ライトストラテジ補正手段の処理の実施から所定の設定補正間隔が経過したときに前記補正タイミングであることを検出する
    ことを特徴とする光記録装置。
21. 前記設定補正間隔が、前記記録媒体に記録される情報の量により指定されることを特徴とする請求項２０に記載の光記録装置。
22. 前記設定補正間隔が、前記記録媒体上の記録される部分の半径方向の変位量により定められることを特徴とする請求項２０に記載の光記録装置。
23. 前記ライトストラテジ補正手段は、前記１回の中断期間に、ライトストラテジのパラメータを１ステップ分だけ変更することを特徴とする請求項２０乃至２２のいずれかに記載の光記録装置。
24. 前記ライトストラテジ変更手段でライトストラテジパラメータを変更した場合、変更されたライトストラテジパラメータを用いて、データをテスト記録するテスト記録手段と、
    前記テスト記録手段において、テスト記録した信号の品質を測定するテスト記録品質測定手段と、
    前記テスト記録品質測定手段で測定された信号の品質が、前記品質測定手段で測定された再生信号の品質よりも、悪化している場合に、前記ライトストラテジ変更手段で変更されたライトストラテジのパラメータを元に戻す手段とを有する
    ことを特徴とする請求項２０に記載の光記録装置。
25. 前記ライトストラテジ補正手段が、
    前記設定補正間隔を、前記品質測定手段で測定された再生信号の品質に基づき変更する設定補正間隔更新手段をさらに有することを特徴とする請求項２０乃至２４のいずれかに記載の光記録装置。
26. 前記設定補正間隔更新手段は、前記品質測定手段で測定された再生信号の品質が所定値よりも良い場合は前記設定補正間隔を長くし、前記品質測定手段で測定された再生信号の品質が所定値よりも悪い場合は前記設定補正間隔を短くすることを特徴とする請求項２５に記載の光記録装置。
27. 光記録媒体へ情報を記録する部分の半径方向位置を検出する半径位置検出手段をさらに有し、
    前記設定補正間隔更新手段は、前記半径位置検出手段で検出した半径方向位置が光記録媒体の内周側の場合は前記品質測定手段で測定した再生信号の品質を基に決定した前記設定補正間隔を長くし、光記録媒体の外周側の場合は前記品質測定手段で測定した再生信号の品質を基に決定した前記設定補正間隔を短くすることを特徴とする請求項２５又は２６に記載の光記録装置。
28. 記録を開始した時からの温度差を検出する温度検出手段をさらに有し、
    前記設定補正間隔更新手段は、前記温度検出手段で検出した温度差が所定値以上となった場合に、前記品質測定手段で測定した再生信号の品質を基に決定した前記設定補正間隔を短くすることを特徴とする請求項２５乃至２７のいずれかに記載の光記録装置。
29. 前記中断期間において、直前に記録した信号の再生特性を測定し、測定した再生信号の特性を基に、記録パワーの補正を行う、記録パワー補正手段をさらに有し、
    前記ライトストラテジ補正手段による処理と、前記記録パワー補正手段による処理のどちらか一方のみが、１回の前記中断期間に実行されることを特徴とする請求項２０乃至２８のいずれかに記載の光記録装置。
30. 前記記録パワー補正手段による処理と、前記ライトストラテジ補正手段による処理は、交互に行われることを特徴とする請求項２９に記載の光記録装置。
31. 記録パワーの補正が必要かどうかを判断する記録パワーチェック手段をさらに有し、
    前記ライトストラテジ補正手段による処理は、前記記録パワーチェック手段において、記録パワーの補正が不要と判断された場合に、当該記録パワーチェック手段による記録パワーの補正が不要との判断が行われたのと同じ中断期間内に実行されることを特徴とする請求項２９に記載の光記録装置。
32. 前記中断期間において、直前に記録した信号の再生特性を測定し、測定した再生信号の特性を基に、チルトの補正を行う、チルト補正手段とをさらに有し、
    前記ライトストラテジ補正手段による処理と、前記記録パワー補正手段による処理と、前記チルト補正手段による処理のいずれか一つのみが、１回の前記中断期間に実行されることを特徴とする請求項２９乃至３１のいずれかに記載の光記録装置。
33. 前記中断期間において、直前に記録した信号の再生特性を測定し、測定した再生信号の特性を基に、記録パワーの補正を行う、記録パワー補正手段をさらに有し、
    前記記録パワー補正手段において補正された記録パワーに対し、さらに記録パワーの補正が必要かどうかを判断する記録パワーチェック手段をさらに有し、
    前記ライトストラテジ補正手段による処理および、前記チルト補正手段による処理は、前記記録パワーチェック手段において、記録パワーの補正が不要と判断された場合に、当該記録パワーチェック手段による記録パワーの補正が不要との判断が行われたのと同じ中断期間内に実行されることを特徴とする請求項３２に記載の光記録装置。
34. 情報の記録が停止される場合に、前記ライトストラテジ補正手段で補正されたライトストラテジとして、品質が良好となった最後のライトストラテジのパラメータを記憶する手段を有し、
    次に同じ光記録媒体に情報の記録が行われる場合に、前記記憶したライトストラテジのパラメータを用いることを特徴とする請求項２０乃至３３のいずれかに記載の光記録装置。
35. 前記ライトストラテジ補正手段は、補正したライトストラテジの変化量に応じて、記録パワーを変更する、記録パワー変更手段を有し、
    前記記録パワー変更手段は、前記ライトストラテジ補正手段において補正されたライトストラテジの変更量と、予め定められたライトストラテジと変更前の記録パワーの関係から、次の記録期間において使用する記録パワーを決定することを特徴とする請求項２０乃至３３のいずれかに記載の光記録装置。
36. 記録パワーと再生特性の関係を求める、記録パワーと再生特性の関係測定手段と、
    基準のライトストラテジと再生特性の関係と、基準の記録パワーと再生特性の関係と、前記記録パワーと再生特性の関係測定手段で求めた記録パワーと再生特性の関係を用いて、ライトストラテジと再生特性の関係を算出する、ライトストラテジと再生特性の関係算出手段とを更に有し、
    前記ライトストラテジと再生特性の関係算出手段は、前記記録パワーと再生特性の関係測定手段で求めた記録パワーと再生特性の関係と、前記基準のライトストラテジと再生特性の関係との比と、前記基準のライトストラテジと再生特性の関係から、前記記録パワー変更手段で用いられるライトストラテジと再生特性の関係を算出し、
    前記記録パワー変更手段は、前記ライトストラテジ補正手段において補正されたライトストラテジの変更量と、前記記録パワーと再生特性の関係測定手段で求めた記録パワーと再生特性の関係と、前記ライトストラテジと再生特性の関係算出手段で算出した補正後のライトストラテジと再生特性の関係から、次の記録期間において使用する記録パワーを決定する
    ことを特徴とする請求項３５に記載の光記録装置。
37. 記録パワーと再生特性の関係を求める、記録パワーと再生特性の関係測定手段と、
    ライトストラテジと再生特性の関係を測定する為の試し書き手段を更に有し、
    前記試し書き手段は、ライトストラテジを変更して情報の試し書きを行い、前記試し書きした情報を再生し、測定した再生信号から、ライトストラテジと再生特性の関係を測定し、
    前記記録パワー変更手段は、前記記録パワーと再生特性の関係測定手段で求めた記録パワーと再生特性の関係と、前記試し書き手段で測定した補正後のライトストラテジと再生特性の関係から、次の記録期間において使用する記録パワーを決定する
    ことを特徴とする請求項３５に記載の光記録装置。
38. 前記ライトストラテジ補正手段は、前記中断期間に、直前の記録期間に記録した情報を再生し、再生信号の再生特性に基づいてライトストラテジと再生特性の関係を補正するライトストラテジと再生特性の関係補正手段を更に有し、
    前記ライトストラテジと再生特性の関係補正手段は、直前の記録期間に記録した信号の再生特性と、前回ライトストラテジが補正される前の再生特性と、前回ライトストラテジが補正された時のライトストラテジの変化量から、ライトストラテジと再生特性の関係の補正分を求め、前回使用したライトストラテジと再生特性の関係に、前記補正分を加算したライトストラテジと再生特性の関係を、次の記録パワー変更手段における記録パワーの変更に用いる
    ことを特徴とする請求項３５乃至３７のいずれかに記載の光記録装置。
39. 前記ライトストラテジと再生特性の関係は、ライトストラテジの変更量に対する再生特性の変化量で決まる係数であり、
    前記記録パワーと再生特性の関係は、再生特性の変化量に対する記録パワーの変更量で決まる係数であり、
    前記記録パワー変更手段は、
    前記ライトストラテジと再生特性の関係係数と前記記録パワーと再生特性の関係係数を掛けるライトストラテジと記録パワーの関係係数を用いて、記録パワーを変更する
    ことを特徴とする請求項３６乃至３８のいずれかに記載の光記録装置。
40. ライトストラテジのパラメータと、前記ライトストラテジのパラメータで記録された信号の品質を保持する、パラメータ保持手段をさらに有し、
    前記ライトストラテジ変更手段で変更されたライトストラテジのパラメーターを用いて記録された信号の品質が、前記パラメータ保持手段で保持された信号の品質よりも良い場合に、
    前記パラメータ保持手段で保持された値を、前記変更されたライトストラテジのパラメーターと、前記変更されたライトストラテジのパラメーターを用いて記録された信号の品質の値に更新する、品質パラメータ更新手段と、
    前記パラメータ保持手段で、保持されているライトストラテジのパラメータ値を前記光記録媒体へ記録する記録手段と
    をさらに有することを特徴とする請求項２０乃至３９のいずれかに記載の光記録装置。
41. 前記光記録媒体に対応したライトストラテジのリストを備えた前記光記録装置において、
    前記ライトストラテジ変更手段で変更されたライトストラテジのパラメータを用いて記録された信号の品質が、前記リストに記録されたライトストラテジのパラメータを用いて記録された信号の品質よりも良い場合に、
    前記リストのライトストラテジのパラメータを更新するリスト更新手段を備えることを特徴とする請求項２０乃至３９のいずれかに記載の光記録装置。
42. 前記リスト更新手段が、
    前記リストに記録されたライトストラテジのパラメータを用いて記録された信号の品質が、予め設定した値よりも悪い場合にリストを更新する事を特徴とする請求項４１に記載の光記録装置。

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